JP3749190B2 - 液面レベル検出装置の抵抗板加工方法 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、自動車の燃料タンクの液面を検出するのに適した液面レベル検出装置の抵抗板加工方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
この種の従来の液面レベル検出装置の一例を図５を用いて説明する。図５に示すように、液面レベル検出装置１００は、抵抗板１０１と、この抵抗板１０１上をフロートアーム（図示せず）の回転に連動してスライドする摺動アーム１０２とを備えている。抵抗板１０１上には摺動部１０３が設けられている。摺動部１０３は、摺動アーム１０２の摺動方向に間隔を置いて複数の導電セグメント１０４が配置され、互いに隣接する導電セグメント１０４間が抵抗体１０５を介して接続されている。
【０００３】
摺動部１０３の一端側にはそれぞれ端部ランド１０６が設けられており、この端部ランド１０６と摺動アーム１０２との間より検出出力を得るように構成される。
【０００４】
上記構成において、液面レベルに応じて摺動アーム１０２がスライドすると、摺動アーム１０２の接点部１０２ａが摺動部１０３上を摺動し、接点部１０２ａが摺動部１０３のある導電セグメント１０４に接触する。そして、摺動部１０３と摺動アーム１０２によって構成される電気回路の主な抵抗は、摺動部１０３の端部ランド１０６と接点部１０２ａが接触する導電セグメント１０４との間に配置される抵抗体１０５の抵抗となるので、摺動アーム１０２の摺動位置、つまり液面レベルの位置に応じた電気量が端部ランド１０６と摺動アーム１０２との間より得られる。
【０００５】
ここで、摺動アーム１０２の接点部１０２ａが任意の導電セグメント１０４に接触する状態からその隣接する導電セグメント１０４に接触する状態に移行すると、隣接する導電セグメント１０４間の抵抗体１０５の抵抗量がステップ的に増減されるため、液面レベルの変動が細かなステップ状の変化として検出できるものである。
【０００６】
そして、液面レベル検出装置１００は、摺動アーム１０２が接触する各導電セグメント１０４の位置に応じて所望の電気量を出力するように各導電セグメント１０４間の抵抗体１０５の抵抗値が調整される。抵抗板１０５の抵抗値を所定量とするべく行われる抵抗板加工方法の従来例を以下に説明する。
【０００７】
図６に示すように、端部ランド１０６と調整基準とする導電セグメント１０４との間を一対のプローブ用ピン１０７で接続し、この一対のプローブ用ピン１０７間に現れる抵抗値を測定する抵抗測定器（図示せず）と、抵抗体１０５に傷ａを付けるべくレーザを照射するレーザ照射手段（図示せず）と、このレーザ照射手段を制御すると共に抵抗測定器（図示せず）の測定結果が入力されている制御部（図示せず）と、データ入力部（図示せず）とを備えている。制御部（図示せず）は、図７に示すフローを実行することによって抵抗板加工を行う。ここで、端部ランド１０６をＰＶ、調整基準とする導電セグメント１０４をＳＧNo.３とし、目的区間抵抗値を６Ωとして説明する。
【０００８】
図７に示すように、端部ランド１０２ａと調整基準の導電セグメント１０４との間の配置される導体セグメント１０４の数を分割数とし、この分割数（３個）を入力する（ステップＳ１）。調整基準の導電セグメント１０４に摺動アーム１０２が位置する際に、摺動アーム１０２と端部ランド１０６との間に構成される閉回路について目的とする抵抗値を目的区間抵抗値とし、この目的区間抵抗値（６Ω）を入力する（ステップＳ１）。
【０００９】
次に、端部ランド１０２ａと調整基準の導電セグメント１０４との間におけるトリミング前区間抵抗値を測定する（ステップＳ２）。測定したトリミング前区間抵抗値は、３Ωであったとする。次に、端部ランド１０２ａから調整基準の導電セグメント１０４までに位置する導体セグメント１０４に対して順番にそれぞれ付けたナンバーをセグメントナンバー（ＳＧNo.）とすると、（トリミング前区間抵抗値／分割数）×（分割数−セグメントナンバー）＋（目的区間抵抗値／分割数）×セグメントナンバーの演算式▲１▼より、セグメントナンバーに対応する導電セグメント１０４の端部ランド１０６側に位置する抵抗体１０５をそれぞれトリミングする際に目的とする各トリミング後抵抗目的値をそれぞれ算出する（ステップＳ３）。
【００１０】
上記の演算式▲１▼より、１回目のセグメントNo.１におけるトリミング後抵抗目的値は、（３Ω／３）×（３−１）＋（６Ω／３）×１＝４Ωとなる。２回目のセグメントNo.２におけるトリミング後抵抗目的値は、（３Ω／３）×（３−２）＋（６Ω／３）×２＝５Ωとなる。３回目のセグメントNo.３におけるトリミング後抵抗目的値は、（３Ω／３）×（３−３）＋（６Ω／３）×３＝６Ωとなる。
【００１１】
そして、演算式▲１▼より、セグメントNo.Ｎ〜セグメントNo.３間のトリミング前区間抵抗値を想定し（ステップＳ４）、その後、トリミング後抵抗目的値になるよう導電セグメント１０４間に配置された抵抗体１０５の箇所をレーザ照射手段（図示せず）で傷ａ１、ａ２、ａ３を付けてトリミングする（ステップＳ５、Ｓ６）。
【００１２】
この従来の抵抗板加工方法では、抵抗板１０１に摺動アーム１０２を組み付ける前に、つまり、抵抗板単体で抵抗板加工ができ構造上の制約を受けず、かつ、抵抗調整で使用するプローブ用ピン１０７が２本と少なく、プローブ用ピン１０７の位置管理が容易であるという利点がある。
【００１３】
ところで、上記した液面レベル検出装置の抵抗板１０１では、摺動アーム１０２が単一の摺動部１０３を摺動する構成であったが、摺動アーム１０２が第１摺動部および第２摺動部の２箇所を摺動する構成のものが提案されている。この種の液面レベル検出装置を図８を用いて簡単に説明する。
【００１４】
図８に示すように、液面レベル検出装置１１０は、抵抗板１１１と、この抵抗板１１１上をフロートアーム（図示せず）の回転に連動してスライドする摺動アーム１１２とを備えている。抵抗板１１１上には、第１摺動部１１３と第２摺動部１１４とが設けられている。第１摺動部１１３は、摺動アーム１１２の摺動方向に間隔を置いて複数の第１導電セグメント１１５が配置され、互いに隣接する第１導電セグメント１１５間が抵抗体１１６を介して接続されている。第２摺動部１１４は、摺動アーム１１２の摺動方向に間隔を置いて複数の第２導電セグメント１１７が配置され、互いに隣接する第２導電セグメント１１７間が第２導電セグメント１１７と同じ導電部材によって導通されている。第１摺動部１１３および第２摺動部１１４の各一端側にはそれぞれ第１端部ランド１２０ａおよび第２端部ランド１２０ｂが設けられており、この第１および第２端部ランド１２０ａ、１２０ｂ間より検出出力を得るように構成される。
【００１５】
摺動アーム１１２は、導電性部材にて構成され、第１摺動部１１３上を摺動する第１接点部１１２ａと第２摺動部１１４上を摺動する第２接点部１１２ｂとを有する。この摺動アーム１１２を介して第１摺動部１１３と第２摺動部１１４とが電気的に接続される。
【００１６】
上記構成において、液面レベルに応じて摺動アーム１１２がスライドすると、第１接点部１１２ａおよび第２接点部１１２ｂが第１摺動部１１３上および第２摺動部１１４上をそれぞれ摺動し、第１接点部１１２ａが第１摺動部１１３のある第１導電セグメント１１５に、第２接点部１１２ｂが第２摺動部１１４のある第２導電セグメント１１７にそれぞれ接触する。そして、第１摺動部１１３と摺動アーム１１２と第２摺動部１１４とによって構成される電気回路の主な抵抗は、第１摺動部１１３の端部ランド１２０ａと第１接点部１１２ａが接触する第１導電セグメント１１５との間に配置される抵抗体１１６の抵抗となるので、摺動アーム１１２の摺動位置、つまり液面レベルの位置に応じた電気量が第１および第２端部ランド１２０ａ、１２０ｂ間より得られる。
【００１７】
ここで、摺動アーム１１２の第１接点部１１２ａが任意の第１導電セグメント１１５に接触する状態からその隣接する第１導電セグメント１１５に接触する状態に移行すると、隣接する第１導電セグメント１１５間の抵抗体１１６の抵抗量がステップ的に増減されるため、液面レベルの変動が細かなステップ状の変化として検出できるものである。
【００１８】
ところで、第１および第２摺動部１１３、１１４を有する抵抗板１１１の液面レベル検出装置１１０にあって、前記した抵抗板加工方法の演算式▲１▼を採用すると、第２摺動部１１４の導体抵抗値を無視した抵抗板加工しかできないため、精度の低い装置しか作製できない。
【００１９】
そこで、前記した抵抗板加工方法の演算式▲１▼を利用すると共に、第２摺動部１１４の導体抵抗を加味した抵抗値調整を行う加工方法として次のような加工方法が考えられる。つまり、第２摺動部１１４の導体抵抗特性は、図９に示すようなリニア特性を示すため、第２摺動部１１４の各第２導電セグメント１１７の位置における導体抵抗値を、過去測定データを基に計算式で導き出す。そして、（第１端部ランド〜第２端部ランド間の目的区間抵抗値）−（セグメントNo.Ｎ番目の第２摺動部導体抵抗値）＝セグメントNo.Ｎ番目の第１摺動部の目的区間抵抗値となる式より第１摺動部１１３の目的区間抵抗値を選定する。図１０に示すように、
第１端部ランド１２０ａと調整基準とする第１導電セグメント１５との間を一対のプローブ用ピン１０７で接続し、選定した目的区間抵抗値を用い、前記した抵抗板加工方法の演算式▲１▼による抵抗板加工方法を行う。
【００２０】
しかし、第２摺動部１１４は印刷によって形成され、その導体抵抗値は印刷状態によって導体膜厚が厚くなったり、薄くなったりするため、図９に示すように、その印刷膜厚によって導体抵抗値が異なる。従って、各抵抗板１１１毎に第２摺動部導体抵抗値にバラツキがあるため、精度の高い抵抗板加工ができない。
【００２１】
次に、第１摺動部１１３と第２摺動部１１４を有する抵抗板１１１における他の抵抗板加工方法を次に説明する。
【００２２】
図１１に示すように、抵抗体１１６を予め低い抵抗値で形成した抵抗板１１１と摺動アーム１１２とを組み付ける。摺動アーム１１２を利用して第１端部ランド１２０ａに最も近い第１導電セグメント１１５より順に、第１摺動部１１３と第２摺動部１１４の第１および第２の端部ランド１２０ａ、１２０ｂ間に閉回路を形成し、第１導電セグメント１１５間の抵抗体１１６の箇所にレーザで傷ａ１、ａ２、ａ３を入れて抵抗値を調整するトリミングを行い、各第１導電セグメント１１５間の抵抗体１１６を所望の抵抗値に加工する。
【００２３】
また、図１２に示すように、抵抗体１１６を予め低い抵抗値で形成した抵抗板１１１を作製し、この抵抗板１１１の全ての第１導電セグメント１１５と全ての第２導電セグメント１１７と第１端部ランド１２０ａと第２端部ランド１２０ｂとにプローブ用ピン１０７を立て、これらプローブ用ピン１０７を選択的に利用して第１導電セグメント１１５間に配置された抵抗体１１６の箇所にレーザで傷を入れて抵抗値を調整するトリミングを行い、各第１導電セグメント１１５間の抵抗体１１６の箇所を所望の抵抗値に加工する。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】
前者の加工方法では、第１摺動部１１３と第２摺動部１１４との第１および第２端部ランド１２０ａ、１２０ｂ間に構成される閉回路について所望の抵抗値に調整できるため、第２摺動部１１４の抵抗値、および、摺動アーム１１２の各接点部１１２ａ、１１２ｂが関係する接点抵抗値等を加味した調整ができ、精度の高い液面レベル検出装置が得られる。しかし、抵抗板１１１と摺動アーム１１２とを組み付けた後で抵抗体１１６を加工するため、作業性が悪く、加工時間が長くなるという問題がある。特に、抵抗板１１１が１枚の原基板から多数を取るような場合にあっては、この方法では全ての抵抗板１１１について摺動アーム１１２との組み付けを行い、その後に抵抗加工をそれぞれ行う必要があるため、同じように加工時間を要する。また、抵抗板１１１と摺動アーム１１２とを組み付けした状態でレーザを抵抗体１１６に照射できるような構造としなければならず、構造に制限が加わる。
【００２５】
また、後者の加工方法では、抵抗板１１１単体で抵抗体１１６のトリミングが可能であるため、作業性が良く加工時間が短くでき、また、構造に制限が加わることがない。しかし、全ての第１および第２導電セグメント１１５、１１７に対してプローブ用ピン１０７を立てなければならないため、プローブ用ピン１０７の位置管理が難しいという問題がある。
【００２６】
そこで、本発明は、前記した課題を解決すべくなされたものであり、作業性が良く加工時間が短く、しかも、精度の良い抵抗体の抵抗調整ができると共に、プローブ用ピンの位置管理が容易である液面レベル検出装置の抵抗板加工方法を提供することを目的とする。
【００２７】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明は、摺動アームのほぼ摺動方向に間隔を置いて複数の第１導電セグメントが配置され、互いに隣接する第１導電セグメント間が抵抗体を介して接続された第１摺動部と、前記摺動アームのほぼ摺動方向に間隔を置いて複数の第２導電セグメントが配置され、互いに隣接する第２導電セグメント間が電気的に短絡接続された第２摺動部を有する抵抗板と、この抵抗板上を液面レベルに応じて移動し、前記第１摺動部上を摺動する第１接点部と前記第２摺動部上を摺動する第２接点部とが互いに対応する前記第１導電セグメントと前記第２導電セグメントにそれぞれ接触する摺動アームとを備え、この摺動アームが接触する前記第１導電セグメントと前記第２導電セグメントの位置に応じて前記第１摺動部の第１端部ランドと前記第２摺動部の第２端部ランドとの間に現れる電気量を検出出力とする液面レベル検出装置において、前記第１端部ランドと前記第２端部ランドと調整基準とされ、互いに対応する前記第１導電セグメントおよび前記第２導電セグメントとにそれぞれプローブ用ピンを立て、前記第１端部ランドと調整基準とする前記第１導電セグメントとの間における抵抗トリミング前の第１摺動部トリミング前区間抵抗値を測定し、前記第２端部ランドと調整基準とする前記第２導電セグメントとの間における第２摺動部導体抵抗値を測定し、前記第１端部ランドと調整基準の前記第１導電セグメントとの間に配置される前記第１導体セグメントの数を分割数とし、前記第１端部ランドから調整基準の前記第１導電セグメントまでに位置する前記第１導体セグメントに対して順番にそれぞれ付けたナンバーをセグメントナンバーとし、前記第１摺動部６と前記第２摺動部７とが調整基準である前記第１導電セグメントおよび前記第２導電セグメントを介して導通された際に、前記第１端部ランドと前記第２端部ランドとの間に形成される閉回路について目的とする抵抗値を目的区間抵抗値とすると、（第１摺動部トリミング前区間抵抗値／分割数）×（分割数−セグメントナンバー）＋｛（目的区間抵抗値−第２摺動部導体抵抗値）／分割数｝×セグメントナンバーの演算式より、セグメントナンバーに対応する前記各第１導電セグメントの前記第１端部ランド側に位置する前記抵抗体をそれぞれトリミングする際に目的とする各トリミング後抵抗目的値をそれぞれ算出し、このトリミング後抵抗目的値になるよう前記第１導電セグメント間に配置された前記抵抗体をトリミングすることにより前記抵抗板を作製したことを特徴とする。
【００２８】
この液面レベル検出装置の抵抗板加工方法では、摺動アームを使用しないことから抵抗板単体で加工ができ、また、第２摺動部の実際の導体抵抗値を測定し、これを基にトリミング後抵抗目的値を計算し、このトリミング後抵抗目的値によって抵抗体の抵抗値調整を行うものであり、この加工工程で必要な測定値の測定や所定の閉回路の形成には第１および第２端部ランドと調整基準とする第１および第２導電セグメントにのみプローブ用ピンを立てれば足りる。
【００２９】
請求項２の発明は、請求項１記載の液面レベル検出装置の抵抗板加工方法であって、目的区間抵抗値は、前記摺動アームの接点抵抗値を考慮した値としたことを特徴とする。
【００３０】
この液面レベル検出装置の抵抗板加工方法では、請求項１の発明の作用に加え、摺動アームの各接点部が関係する接点抵抗値についてほぼ同一抵抗値を加味した調整ができる。
【００３１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。
【００３２】
図１〜図４は本発明の一実施形態を示し、図１は液面レベル検出装置の概略構成図、図２は抵抗板の平面図、図３は抵抗板の加工工程の具体例を説明するための平面図、図４は抵抗板加工方法の概略フローチャートである。
【００３３】
図１に示すように、液面に浮かぶフロート１がフロートアーム２の先端に支持され、このフロートアーム２の基端側が検出装置本体３に回転自在に支持されている。検出装置本体３には抵抗板４と、この抵抗板４上をフロートアーム２の回転に連動してスライドする摺動アーム５とが設けられている。
【００３４】
図２に示すように、抵抗板４は、前記従来例（図８等）とほぼ同様であり、その一面上には第１摺動部６と第２摺動部７とが設けられている。第１摺動部６は、摺動アーム５（図１に示す）の摺動方向に間隔を置いて複数の第１導電セグメント８が配置され、互いに隣接する第１導電セグメント８間が抵抗体９を介して接続されている。抵抗体９は、第１摺動部６上に抵抗材を印刷することにより形成されている。
【００３５】
第２摺動部７は、摺動アーム５の摺動方向に間隔を置いて複数の第２導電セグメント１０が配置され、互いに隣接する第２導電セグメント１０間が導電連結部１１によって電気的に短絡接続されている。また、第１摺動部６および第２摺動部７の各一端側には第１端部ランド１２ａおよび第２端部ランド１２ｂがそれぞれ設けられており、この第１および第２端部ランド１２ａ、１２ｂ間より検出出力を得るように構成される。
【００３６】
摺動アーム５（図１に示す）も、前記従来例（図８等）と同様であり、導電性部材にて構成され、第１摺動部６上を摺動する第１接点部（図示せず）と第２摺動部７上を摺動する第２接点部（図示せず）とを有する。摺動アーム５の第１接点部と第２接点部とは、互いに対応する第１導電セグメント８および第２導電セグメント１０に共に接触され、摺動アーム５を介して第１摺動部６と第２摺動部７とが電気的に接続される。
【００３７】
次に、抵抗板加工装置について説明する。抵抗板加工装置は、第１端部ランド１２ａと第２端部ランド１２ｂと調整基準とされ、互いに対応する第１導電セグメント８および第２導電セグメント１０とにそれぞれ立てられる４本のプローブ用ピン２０ａ〜２０ｄと、これらプローブ用ピン２０ａ〜０ｄの電線の他端側が導かれ、任意のペアとしたプローブ用ピン２０ａ〜２０ｄ間に現れる抵抗値を選択的に測定可能な抵抗測定器（図示せず）と、抵抗体９に傷ａ１〜ａ３を付けるためにレーザを照射するレーザ照射手段（図示せず）と、このレーザ照射手段（図示せず）や前記抵抗測定器を制御する制御部（図示せず）と、制御部（図示せず）にデータを入力するデータ入力手段（図示せず）とから構成されている。
【００３８】
次に、抵抗板４の加工方法を図３および図４を用いて説明する。セグメントナンバーは、第１および第２端部ランド（ＰＶ、ＰＧ）１２ａ、１２ｂに近いものから順に数え、第１および第２端部ランド（ＰＶ、ＰＧ）１２ａ、１２ｂに最も近い第１および第２導電セグメント８、１０は、各第１および第２端部ランド（ＰＶ、ＰＧ）１２ａ、１２ｂに短絡されているため、セグメントナンバーを「０」とする。そして、調整基準とされ、互いに対応する第１導電セグメント８および第２導電セグメント１０は、セグメントナンバーが「３」のもの（Ｐ１、Ｐ｀１）として説明する。つまり、第１および第２端部ランド（ＰＶ、ＰＧ）１２ａ、１２ｂからセグメントナンバー３の第１および第２導電セグメント８、１０までの区間が第１摺動部６および第２摺動部７のトリミング区間（ＰＶ〜Ｐ１、Ｐ｀１〜ＰＧ）となり、この間に配置される抵抗体９の箇所がトリミング対象とされる。そして、第１摺動部６と第２摺動部７とが調整基準である第１導電セグメント８および第２導電セグメント１０を介して導通された際に、第１端部ランド１２ａと第２端部ランド１２ｂとの間に形成される閉回路について目的とする抵抗値を目的区間抵抗値とし、この目的区間抵抗値を６Ωとする。目的区間抵抗値は、摺動アーム（５）の接点抵抗値を考慮した値とされている。以下、順に説明する。
【００３９】
図３に示すように、抵抗板４は、その抵抗体９が目的の抵抗値より予め低い抵抗値で形成されており、この抵抗板４の第１端部ランド１２ａと、第２端部ランド１２ｂと、調整基準とされ、互いに対応する第１導電セグメント８および第２導電セグメント１０とにそれぞれプローブ用ピン２０ａ〜２０ｄを立てる。
【００４０】
次に、第１端部ランド１２ａと調整基準の第１導電セグメント８との間に配置される第１導体セグメント８の数を分割数とし、この分割数のデータ：３を入力する。また、トリミング区間の目的区間抵抗値：６Ωを入力する（ステップＳ１０）。
【００４１】
次に、プローブ用ピン２０ａとプローブ用ピン２０ｃ間の抵抗値を測定することにより、第１端部ランド１２ａと調整基準とする第１導電セグメント８との間における抵抗トリミング前の第１摺動部トリミング前区間抵抗値を測定する（ステップＳ１１）。測定した第１摺動部トリミング前区間抵抗値は、例えば３Ωであったとする。また、プローブ用ピン２０ｂとプローブ用ピン２０ｄ間の抵抗値を測定することにより、第２端部ランド１２ｂと調整基準とする第２導電セグメント８との間における第２摺動部導体抵抗値を測定する（ステップＳ１２）。測定した第２摺動部導体抵抗値は、例えば０．３Ωであったとする。
【００４２】
次に、（第１摺動部トリミング前区間抵抗値／分割数）×（分割数−セグメントナンバー）＋｛（目的区間抵抗値−第２摺動部導体抵抗値）／分割数｝×セグメントナンバー…の演算式▲２▼より、セグメントNo.Ｎ〜ＰＧ間の第２摺動部導体抵抗値を設定すると共に（ステップＳ１３）、セグメントナンバーに対応する各第１導電セグメント８の第１端部ランド１２ａ側に位置する抵抗体９ａ、９ｂ、９ｃをそれぞれトリミングする際に目的とする各トリミング後抵抗目的値をそれぞれ算出する（ステップＳ１４）。
【００４３】
ここで、セグメントNo.１に対応する第１導電セグメント８の第１端部ランド１２ａ側に位置する抵抗体９をトリミングする１回目のトリミング後抵抗目的値は、上記演算式▲２▼より、（３Ω／３）×（３−１）＋｛（６Ω−０．３）／３｝×１＝３．９Ωとなる。セグメントNo.２に対応する第１導電セグメント８の第１端部ランド１２ａ側に位置する抵抗体９をトリミングする２回目のトリミング後抵抗目的値は、上記演算式▲２▼より、（３Ω／３）×（３−２）＋｛（６Ω−０．３）／３｝×２＝４．８Ωとなる。セグメントNo.３に対応する第１導電セグメント８の第１端部ランド１２ａ側に位置する抵抗体９をトリミングする３回目のトリミング後抵抗目的値は、上記演算式▲２▼より、（３Ω／３）×（３−３）＋｛（６Ω−０．３）／３｝×３＝５．７Ωとなる。
【００４４】
次に、セグメントNo.Ｎ〜セグメントNo.３間のトリミング前抵抗値を想定し（ステップＳ１５）、レーザ照射手段（図示せず）によるトリミングを開始する（ステップＳ１６）。１回目のトリミングは、セグメントNo.０とセグメントNo.１の第１導電セグメント８間に配置された抵抗体９の箇所に傷ａ１を付け、トリミング後目的抵抗値：３．９Ωになれば終了する。２回目のトリミングは、セグメントNo.１とセグメントNo.２の第１導電セグメント８間に配置された抵抗体９の箇所に傷ａ２を付け、トリミング後目的抵抗値：４．８Ωになれば終了する。３回目のトリミングは、セグメントNo.２とセグメントNo.３の第１導電セグメント８間に配置された抵抗体９の箇所に傷ａ３を付け、トリミング後目的抵抗値：５．７Ωになれば終了する（ステップＳ１７）。このようにＰＶ〜セグメントNo.３までのトリミングが終了すれば、ＰＶ〜ＰＧ間の区間抵抗値が６Ωとなり、これで上記トリミング区間（ＰＶ〜Ｐ１、Ｐ｀１〜ＰＧ）のトリミングが全て終了する。
【００４５】
次に、セグメントNo.３より大きいセグメントナンバーにトリミング区間を移行して上記動作を繰り返し、第１導電セグメント８間に配置された抵抗体９の全ての箇所をトリミングすれば、完了する。
【００４６】
以上、液面レベル検出装置の抵抗板加工方法では、摺動アーム５を使用しないことから抵抗板４単体で加工ができ、また、第２摺動部７の実際の導体抵抗値を測定し、これを基にトリミング後抵抗目的値を計算し、このトリミング後抵抗目的値によって抵抗体９の抵抗値調整を行うものであり、この加工工程で必要な測定値の測定や所定の閉回路の形成には第１および第２端部ランド１２ａ、１２ｂと調整基準とする第１および第２導電セグメント８、１０にのみプローブ用ピン２０ａ〜２０ｄを立てれば足りる。従って、作業性が良く加工時間が短く、しかも、精度の良い抵抗体の抵抗調整ができると共に、プローブ用ピン２０ａ〜２０ｄの位置管理が容易である。尚、調整基準とされる第１および第２導電セグメント８、１０の数は、調整が要求される複数箇所とされるのが一般的である。
【００４７】
前記実施形態では、目的区間抵抗値は、摺動アーム５の接点抵抗値を考慮した値としたので、摺動アーム５の各接点部（図示せず）が関係する接点抵抗値についてほぼ同一抵抗値を加味した調整ができるため、更に精度の良い抵抗体９の抵抗調整ができる。
【００４８】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１の発明によれば、第１端部ランドと第２端部ランドと調整基準とされ、互いに対応する第１導電セグメントおよび第２導電セグメントとにそれぞれプローブ用ピンを立て、第１端部ランドと調整基準とする第１導電セグメントとの間における抵抗トリミング前の第１摺動部トリミング前区間抵抗値を測定し、第２端部ランドと調整基準とする第２導電セグメントとの間における第２摺動部導体抵抗値を測定し、第１端部ランドと調整基準の第１導電セグメントとの間に配置される第１導体セグメントの数を分割数とし、第１端部ランドから調整基準の第１導電セグメントまでに位置する第１導体セグメントに対して順番にそれぞれ付けたナンバーをセグメントナンバーとし、第１摺動部６と第２摺動部７とが調整基準である第１導電セグメントおよび第２導電セグメントを介して導通された際に、第１端部ランドと第２端部ランドとの間に形成される閉回路について目的とする抵抗値を目的区間抵抗値とすると、（第１摺動部トリミング前区間抵抗値／分割数）×（分割数−セグメントナンバー）＋｛（目的区間抵抗値−第２摺動部導体抵抗値）／分割数｝×セグメントナンバーの演算式より、セグメントナンバーに対応する各第１導電セグメントの前記第１端部ランド側に位置する抵抗体をそれぞれトリミングする際に目的とする各トリミング後抵抗目的値をそれぞれ算出し、このトリミング後抵抗目的値になるよう第１導電セグメント間に配置された抵抗体をトリミングすることにより抵抗板を作製したので、摺動アームを使用しないことから抵抗板単体で加工ができ、また、第２摺動部の実際の導体抵抗値を測定し、これを基にトリミング後抵抗目的値を計算し、このトリミング後抵抗目的値によって抵抗体の抵抗値調整を行うものであり、この加工工程で必要な測定値の測定や所定の閉回路の形成には第１および第２端部ランドと調整基準とする第１および第２導電セグメントにのみプローブ用ピンを立てれば足りる。従って、作業性が良く加工時間が短く、しかも、精度の良い抵抗体の抵抗調整ができると共に、プローブ用ピンの位置管理が容易である。
【００４９】
請求項２の発明によれば、請求項１記載の液面レベル検出装置の抵抗板加工方法であって、目的区間抵抗値は摺動アームの接点抵抗値を考慮した値としたので、請求項１の発明の効果に加え、摺動アームの各接点部が関係する接点抵抗値についてほぼ同一抵抗値を加味した調整ができるため、更に精度の良い抵抗体の抵抗調整ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態を示し、液面レベル検出装置の概略構成図である。
【図２】本発明の一実施形態を示し、抵抗板の平面図である。
【図３】本発明の一実施形態を示し、抵抗板の加工工程の具体例を説明するための平面図である。
【図４】本発明の一実施形態を示し、抵抗板加工方法の概略フローチャートである。
【図５】液面レベル検出装置の抵抗板の平面図である。
【図６】従来例を示し、抵抗板の加工方法を説明する平面図である。
【図７】従来例を示し、加工方法のフローチャートである。
【図８】別の従来例を示し、抵抗板の加工方法を説明する平面図である。
【図９】第２摺動部の導体膜厚によって導体抵抗値が異なることを示す特性線図である。
【図１０】更に別の従来例を示し、抵抗板の加工方法を説明する平面図である。
【図１１】更に別の従来例を示し、抵抗板の加工方法を説明する平面図である。
【図１２】更に別の従来例を示し、抵抗板の加工方法を説明する平面図である。
【符号の説明】
４ 抵抗板
６ 第１摺動部
７ 第２摺動部
８ 第１導電セグメント
９ 抵抗体
１０ 第２導電セグメント
１２ａ 第１端部ランド
１２ｂ 第２端部ランド
２０ａ〜２０ｄ プローブ用ピン

Claims (2)

1. 摺動アームのほぼ摺動方向に間隔を置いて複数の第１導電セグメントが配置され、互いに隣接する第１導電セグメント間が抵抗体を介して接続された第１摺動部と、前記摺動アームのほぼ摺動方向に間隔を置いて複数の第２導電セグメントが配置され、互いに隣接する第２導電セグメント間が電気的に短絡接続された第２摺動部を有する抵抗板と、この抵抗板上を液面レベルに応じて移動し、前記第１摺動部上を摺動する第１接点部と前記第２摺動部上を摺動する第２接点部とが互いに対応する前記第１導電セグメントと前記第２導電セグメントにそれぞれ接触する摺動アームとを備え、この摺動アームが接触する前記第１導電セグメントと前記第２導電セグメントの位置に応じて前記第１摺動部の第１端部ランドと前記第２摺動部の第２端部ランドとの間に現れる電気量を検出出力とする液面レベル検出装置であって、
   前記第１端部ランドと前記第２端部ランドと調整基準とされ、互いに対応する前記第１導電セグメントおよび前記第２導電セグメントとにそれぞれプローブ用ピンを立て、
   前記第１端部ランドと調整基準とする前記第１導電セグメントとの間における抵抗トリミング前の第１摺動部トリミング前区間抵抗値を測定し、
   前記第２端部ランドと調整基準とする前記第２導電セグメントとの間における第２摺動部導体抵抗値を測定し、
   前記第１端部ランドと調整基準の前記第１導電セグメントとの間に配置される前記第１導体セグメントの数を分割数とし、前記第１端部ランドから調整基準の前記第１導電セグメントまでに位置する前記第１導体セグメントに対して順番にそれぞれ付けたナンバーをセグメントナンバーとし、前記第１摺動部と前記第２摺動部とが調整基準である前記第１導電セグメントおよび前記第２導電セグメントを介して導通された際に、前記第１端部ランドと前記第２端部ランドとの間に形成される閉回路について目的とする抵抗値を目的区間抵抗値とすると、（第１摺動部トリミング前区間抵抗値／分割数）×（分割数−セグメントナンバー）＋｛（目的区間抵抗値−第２摺動部導体抵抗値）／分割数｝×セグメントナンバーの演算式より、セグメントナンバーに対応する前記各第１導電セグメントの前記第１端部ランド側に位置する前記抵抗体をそれぞれトリミングする際に目的とする各トリミング後抵抗目的値をそれぞれ算出し、
   このトリミング後抵抗目的値になるよう前記第１導電セグメント間に配置された前記抵抗体をトリミングすることにより前記抵抗板を作製したことを特徴とする液面レベル検出装置の抵抗板加工方法。
2. 請求項１記載の液面レベル検出装置の抵抗板加工方法であって、
   目的区間抵抗値は、前記摺動アームの接点抵抗値を考慮した値としたことを特徴とする液面レベル検出装置の抵抗板加工方法。

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