JP3687787B2 - 中空状物体の特性値測定方法およびそれを用いた特性値測定装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、中空状物体の特性値を測定する方法およびその装置に関し、特にブローンフィルムの厚さ、色、地合、透過率等の測定に用いて好適な中空状物体の特性値測定方法およびそれを用いた特性値測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図7に基づいてブローンフィルム(インフレーションフィルム)の厚さ測定方法を説明する。図7において、押出機61から押し出されたプラスティックはリングダイ63で円筒状のフィルムに成形される。62は給排気装置である。
【0003】
この円筒状のフィルムはピンチロール64で折り畳まれてロール65を経由して巻取り機66に巻取られる。71は円筒状のフィルム、72,73は折り畳まれたフィルムである。
【0004】
このような円筒状のフィルムの厚さを均一に制御するためには、フィルムの厚さを測定しなければならない。厚さ測定はフィルムの長さ方向だけでなく、幅方向、すなわち円筒の円周方向に対しても行わなければならない。
【0005】
厚さを測定するために、厚さを測定するセンサを測定位置に設置する。従来は、ピンチロール64で折り畳まれてロール65を経由して巻取り機66に巻取られる間、即ち、折り畳まれた後のフィルムを部分Pにセンサを設置して測定していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このようなブローンフィルムの厚さ測定方法には、折り畳まれた後のPの部分にセンサを設置すると、折り畳まれた状態でのフィルムの厚さしか測定することができないために、センサの出力だけでは円周方向の厚さのプロファイルを得ることができないという課題があった。
【0007】
円周方向の厚さのプロファイルを求めるためには、フィルムを裁断して広げた状態で測定しなければならず、オンラインで測定することができないという課題もあった。
【0008】
従って本発明が解決しようとする課題は、折り畳まれた状態で厚さなどの特性値を測定するだけで、折り畳まれる前の特性値のプロファイルを得ることができる中空状物体の特性値の測定方法およびそれを用いた特性値測定装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
このような課題を解決するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、ブローンフィルム等の中空状物体の周縁を形成する物質の特性値を測定する中空状物体の特性値測定方法において、前記中空状物体の周縁を形成する物質をこの中空状物体の断面と垂直方向に複数の領域に分割して折り畳み、複数の前記領域について前記分割した領域の特性値とこの領域に対向した領域の特性値とが合成された特性値を前記中空状物体を折り畳んだ状態で測定し、この測定値および前記合成された特性値と前記分割した領域の特性値および前記対向した領域の特性値との関係からこれらの領域の特性値を求めるようにしたものである。
【0010】
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記特性値は、中空状の物体の周縁を形成する物質の厚さ、色、地合、透過率等であることを特徴としたものである。応用範囲が広い。
【0011】
請求項3記載の発明は、請求項1または請求項2記載の発明において、中空状物体の周縁を形成する物質はプラスティックフィルムであることを特徴としたものである。大量生産するプラスティックフィルムに用いて効果が大きい。
【0012】
請求項4記載の発明は、中空状物体の周縁を形成する物質をこの中空状物体の断面に垂直な方向に複数の領域に分割した領域を重ね合わせ前記中空状物体を折り畳んだ状態で特性値を測定するセンサと、このセンサの出力および前記重ね合わせた領域の重ね合わせ情報が入力される演算器とを有し、この演算器は前記測定値と前記重ね合わせの情報および重ね合わせる前の個々の領域の特性値と重ね合わせた後の特性値との関係から、前記重ね合わせる前の領域の特性値を求めるようにしたものである。
【0013】
請求項5記載の発明は、請求項4記載の発明において、前記特性値は、前記周縁を形成する物質の厚さ、色、地合、透過率等であることを特徴としたものである。応用範囲が広い。
【0015】
請求項7記載の発明は、請求項4ないし請求項6記載の発明において、周縁を形成する物質は中空部分がなくなるように折り畳まれ、センサ21はこの折り畳まれた物質の特性値を測定するようにしたものである。製造工程を変えないで測定できる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下に、図に基づいて本発明を詳細に説明する。
図1は本発明に係る中空状物体の厚さ測定方法の一実施例を示すフローチャートである。この実施例は円筒状フィルムの単層の厚さを折り畳んだ状態で測定することができる方法を示したものである。
【0017】
図1において、最初に円筒状フィルムの断面を複数の領域に分割する。すなわち、円筒の周辺を構成するフィルムを複数の断片に分割する。この分割に際しては、1つの領域内のフィルム厚さがほぼ同じになるように分割する。
【0018】
次に、分割した各領域について、フィルム単層の厚さと折り畳まれた状態における厚さの関係式を求める。円筒状のフィルムが折り畳まれると2つの領域が重なり合うため、この状態でフィルムの厚さを測定するとこれらの領域のフィルム厚が加算された厚さが測定される。そこで、これらの関係を予め求めておく。
【0019】
次に、折り畳まれた状態で複数の方向からフィルムの厚さを求める。そして、この厚さの測定値と上で求めたフィルム単層の厚さと折り畳まれた状態の厚さの関係式から、各領域のフィルム単層の厚さを演算する。
【0020】
次に、図2を用いてこの実施例を詳細に説明する。図2は円筒状のフィルムの断面を示したものであり、1はその周縁を形成するフィルムである。この図では断面をZ1〜Z4の4つの領域に分割している。各領域のフィルム単層の厚さを同じ符号のZ1〜Z4で表すこととする。
【0021】
この円筒を上下の方向に折り畳んでAの方向から厚さを測定してその測定値をZ14とすると、
Z14=Z1+Z4 ・・・・・・ (1)
の関係が成立する。同様にBの方向から測定した厚さをZ23とすると、
Z23=Z2+Z3 ・・・・・・ (2)
の関係が成立する。
【0022】
次に、左右の方向に円筒を折り畳んでCの方向から厚さを測定してその測定値をZ12とすると、
Z12=Z1+Z2 ・・・・・・ (3)
が成立し、Dの方向から測定した厚さをZ43とすると、
Z43=Z4+Z3 ・・・・・・ (4)
となる。
【0023】
また、Eの方向から折り畳んでその中央の測定値をZ13とすると、
Z13=Z1+Z3 ・・・・・・ (5)
になり、Fの方向から折り畳んだときの中央の測定値Z24は、
Z24=Z2+Z4 ・・・・・・ (6)
になる。
【0024】
上記(5)、(2)、(3)式から、
Z1=Z13−Z3 ・・・・・・ (7)
Z3=Z23−Z2 ・・・・・・ (8)
Z2=Z12−Z1 ・・・・・・ (9)
が得られる。
【0025】
この(9)式を(8)式に代入して、この式をさらに(7)式に代入すると、
Z1=Z13−Z23+Z12−Z1 ・・・・ (10)
になり、この(10)式から
Z1=(Z13−Z23+Z12)/2
が得られ、領域Z1のフィルム厚さZ1が求められる。同様にして、Z2〜Z4の厚さを折り畳まれた状態の測定値から演算することができる。
【0026】
なお、この方法では4つの変数Z1〜Z4に対して、(1)〜(6)の6つの式が成立するため、1つの変数に対して複数の演算式が得られる。これらの演算式から得られた値を比較することにより、測定値の検証や精度を補償することができる。
【0027】
重なった領域の測定方法は他の方法も考えられる。図3は図2のEのA寄りの方向から折り畳んだときの各領域の重なり状態を示したものである。なお、図2と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。
【0028】
図3からわかるように、位置Gの測定値はZ4の2倍になり、位置Hでの測定値はZ4+Z3になる。同様に位置JではZ1+Z3,位置KではZ2の2倍になる。従って、位置G、Kの測定値から直ちにZ4,Z2が確定でき、このZ4と位置Hの測定値からZ3を求めることができる。
【0029】
また、このZ3と位置Jの測定値からZ1が得られる。このように、折り畳み方向と測定位置を適切に選ぶことにより、折り畳み方向を変えなくても各領域のフィルム単層の厚さを確定することができる。
【0030】
なお、これらの実施例では4つの領域に分割するようにしたが、分割数は任意に設定することができる。フィルム単層の厚さが均一であることが期待できる場合は分割数を少なくし、均一でないと分割数を多くするようにすればよい。折り畳み方向および測定位置を適切に選択して、全ての領域のフィルム単層の厚さを確定できるだけの演算式が得られるようにする。
【0031】
図4に本発明の他の実施例を示す。この実施例は厚さを測定する装置に関するものである。図4において、1は折り畳まれたフィルムであり、図の左から右に移動している。このフィルム1は図2、図3のフィルム1と同じものである。2は厚さを測定するセンサ部であり、センサ21およびガイド22から構成されている。
【0032】
ガイド22はフィルム1の流れ方向とは直角方向に配置され、センサ21はこのガイド22に沿って矢印のように移動する。すなわち、センサ21はフィルム1の流れとは直角方向の任意位置の厚さを測定することができるようになっている。
【0033】
三角形3は領域の境界であり、例えば図3に示したような測定位置G、H、J、Kが中央になるように設定する。4は演算器であり、前述したように折り畳まれたフィルム1の厚さ測定値から各領域のフィルム単層の厚さを演算する。5は折り畳み位置情報部であり、円筒状のフィルムがどのように折り畳まれてるかの情報を演算器4に提供する。
【0034】
次に、この実施例の動作を説明する。センサ21はガイド22に沿って移動し、折り畳まれたフィルム1の厚さを測定する。各領域の厚さ測定値は演算器4に入力される。演算器4は折り畳み位置情報部5が出力する、フィルムがどのように折り畳まれているかの情報を参照して、前記(1)〜(10)式で説明した演算を行って、各領域のフィルム単層の厚さを演算して出力する。
【0035】
図5に本発明をブローフィルム製造装置(インフレーション装置)に適用した例を示す。なお、図7と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。リングダイ63から押し出された円筒状のフィルム71はピンチロール64で折り畳まれて巻取り機66で巻き取られる。72,73は折り畳まれたフィルムである。
【0036】
図4で説明したセンサ部2はフィルム72のLの位置、あるいはフィルム73のMの位置、すなわちフィルムが折り畳まれている位置に設置される。センサ部2はフィルム1の幅方向の厚さプロファイルを測定し、演算器4(図示せず)に出力する。演算器4はこの厚さプロファイルおよび折り畳み位置情報からフィルム単層の厚さを演算する。
【0037】
なお、前述したように、フィルム単層の厚さを演算するためにはフィルムを折り畳む方向を調整しなければならないが、ピンチロール64を矢印641の方向に回転させることによって、又は、リングダイ63を回転させることによって、折り畳み方向を調整することができる。
【0038】
図6にセンサ部2の設置位置の他の実施例を示す。なお、図5と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。この実施例ではフィルムが折り畳まれる前に測定する方法であって、円筒状になっている部分71にセンサ部2を設置する。N1,N2はセンサ部2が設置される位置を示す。
【0039】
この実施例では、透過型のセンサを用いる。N1,N2はそれぞれ投光部、受光部である。これらのセンサ部は円筒状のフィルム71に対して互いに反対側に設置され、その厚さを測定する。このようにしても同様に測定することができる。なお、測定すべき位置が3つ以上の場合は、それぞれの測定位置にセンサ部2を設置するか、センサ部2を移動させるようにする。
【0040】
なお、これらの実施例ではフィルムの厚さを測定することとしたが、厚さだけでなく色、地合、透過率等フィルムの他の特性値をも同様な方法で測定することもできる。また、フィルムだけでなくもっと厚みのある物体の測定にも応用することができる。
【0041】
【発明の効果】
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば、次の効果が期待できる。
請求項1記載の発明によれば、ブローンフィルム等の中空状物体の周縁を形成する物質の特性値を測定する中空状物体の特性値測定方法において、前記中空状物体の周縁を形成する物質をこの中空状物体の断面と垂直方向に複数の領域に分割し、複数の前記領域について前記分割した領域の特性値とこの領域に対向した領域の特性値とが合成された特性値を測定し、この測定値および前記合成された特性値と前記分割した領域の特性値および前記対向した領域の特性値との関係からこれらの領域の特性値を求めるようにした。
【0042】
周縁を形成する物質を重ね合わせた状態で測定した特性値から個々の領域の特性値を求めることができるので、精度良い測定を行うことが出きる。
【0043】
また、重ね合わせた物質を再展開して測定する必要がなくなるので、オンライン測定が可能になるという効果がある。そのため、特性値の制御へのフィードバックを早くすることができ、製品品質を高めることができ、かつ製品の歩留まりを向上させることができるという効果もある。
【0044】
さらに、特殊なセンサが必要でなく、従来からあるキャストマシン用の測定器が使用できるという効果もある。
【0045】
請求項2記載の発明によれば、請求項1記載の発明において、前記特性値は、中空状の物体の周縁を形成する物質の厚さ、色、地合、透過率等であることを特徴とした。製造装置で厚さ、色、地合、透過率等を一定に制御しなければならない用途は多いので、応用範囲が広いという効果がある。また、製品の品質、歩留まりの向上を図ることができるという効果もある。
【0046】
請求項3記載の発明によれば、請求項1または請求項2記載の発明において、中空状物体の周縁を形成する物質はプラスティックフィルムであることを特徴とした。連続生産が多いプラスティックフィルムの製造において、オンライン測定が可能になるので生産性の向上に大きな効果がある。
【0047】
請求項4記載の発明によれば、中空状物体の周縁を形成する物質をこの中空状物体の断面に垂直な方向に複数の領域に分割して、この分割した領域を重ね合わせた領域の特性値を測定するセンサと、このセンサの出力および前記重ね合わせた領域の重ね合わせ情報が入力される演算器とを有し、この演算器は前記測定値と前記重ね合わせの情報および重ね合わせる前の個々の領域の特性値と重ね合わせた後の特性値との関係から、前記重ね合わせる前の領域の特性値を求めるようにした。
【0048】
周縁を形成する物質を重ね合わせた状態で測定した特性値から個々の領域の特性値を求めることができるので、精度良い測定を行うことが出きる。
【0049】
また、重ね合わせた物質を再展開して測定する必要がなくなるので、オンライン測定が可能になるという効果がある。そのため、特性値の制御へのフィードバックを早くすることができ、製品品質を高めることができ、かつ製品の歩留まりを向上させることができるという効果もある。
【0050】
さらに、特殊なセンサが必要でなく、従来からあるキャストマシン用の測定器が使用できるという効果もある。
【0051】
請求項5記載の発明によれば、請求項4記載の発明において、前記特性値は、前記周縁を形成する物質の厚さ、色、地合、透過率であることを特徴とした。製造装置で厚さ、色、地合、透過率を一定に制御しなければならない用途は多いので、応用範囲が広いという効果がある。また、製品の品質、歩留まりの向上を図ることができるという効果もある。
【0052】
請求項6記載の発明によれば、請求項4または請求項5記載の発明において、前記周縁を形成する物質は、プラスティックフィルムであることを特徴とした。連続生産が多いプラスティックにおいて、オンライン測定ができるので生産性の向上の大きく寄与できるという効果がある。
【0053】
請求項7記載の発明によれば、請求項4ないし請求項6記載の発明において、周縁を形成する物質は中空部分がなくなるように折り畳まれ、センサ21はこの折り畳まれた物質の特性値を測定するようにした。製造工程を変えることなくオンライン測定ができるので、生産性の向上に大きく寄与するという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すフローチャートである。
【図2】本発明の測定方法を説明するための図である。
【図3】重ね合わせの例を示す図である。
【図4】本発明の他の実施例を示す図である。
【図5】本発明の応用を説明する図である。
【図6】本発明の応用を説明する図である。
【図7】従来の測定方法を説明するための図である。
【符号の説明】
1 フィルム
2 センサ部
21 センサ
22 ガイド
4 演算器
5 折り畳み位置情報部
61 押出機
63 リングダイ
64 ピンチロール
71 円筒状フィルム
72,73 折り畳まれたフィルム
Claims (6)
- 中空状物体の周縁を形成する物質の特性値を測定する中空状物体の特性値測定方法において、
前記中空状物体の周縁を形成する物質をこの中空状物体の断面と垂直方向に複数の領域に分割して折り畳み、複数の前記領域について前記分割した領域の特性値とこの領域に対向した領域の特性値とが合成された特性値を前記中空状物体を折り畳んだ状態で測定し、この測定値および前記合成された特性値と前記分割した領域の特性値および前記対向した領域の特性値との関係からこれらの領域の特性値を求めるようにしたことを特徴とする中空状物体の特性値測定方法。 - 前記特性値は、前記中空状の物体の周縁を形成する物質の厚さ、色、地合、透過率のいずれかであることを特徴とする請求項1記載の中空状物体の特性値測定方法。
- 前記中空状物体の周縁を形成する物質はプラスティックフィルムであることを特徴とする請求項1または請求項2記載の中空状物体の特性値測定方法。
- 中空状物体の周縁を形成する物質をこの中空状物体の断面に垂直な方向に複数の領域に分割した領域を重ね合わせ前記中空状物体を折り畳んだ状態で特性値を測定するセンサと、このセンサの出力および前記重ね合わせた領域の重ね合わせ情報が入力される演算器とを有し、この演算器は前記測定値と前記重ね合わせの情報および重ね合わせる前の個々の領域の特性値と重ね合わせた後の特性値との関係から、前記重ね合わせる前の領域の特性値を求めるようにしたことを特徴とする中空状物体の特性値測定装置。
- 前記特性値は、前記周縁を形成する物質の厚さ、色、地合、透過率のいずれかであることを特徴とする請求項4記載の中空状物体の特性値測定装置。
- 前記周縁を形成する物質は、プラスティックフィルムであることを特徴とする請求項4または請求項5記載の中空状物体の特性値測定装置。
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