JP3667081B2 - 固体撮像装置とその駆動方法 - Google Patents

固体撮像装置とその駆動方法 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、固体撮像装置及びその駆動方法に関し、特徴的には画素アンプの最大取り扱い電荷量(Qsat)を増加する固体撮像装置及びその駆動方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、光電変換信号をCCD(電荷結合素子)ではなく、MOSトランジスタによって読み出すCMOSイメージセンサと呼ばれるイメージセンサの研究開発が活発となっている。このCMOSイメージセンサはCMOSロジックLSIプロセスによって作成可能で、周辺回路のオンチップ化が容易であること、低電圧駆動、低消費電力などの点から、とくに携帯用途向けのイメージセンサとして期待されている。このCMOSイメージセンサの光電変換素子はフォトダイオードから成り、これらは全体的にCMOSロジックLSIプロセスにより製造されることから、周辺回路を含めて、CMOSセンサ又はCMOSイメージセンサと称している。
【0003】
CMOSイメージセンサは画素内に1個以上のMOSFETを持つ。このうち、光電変換信号をゲート電極の入力とする増幅用MOSFETを画素内に設けたものは、光電変換素子で発生したキャリアを一定時間蓄積して信号として読み出すことができるため、高感度タイプの撮像装置に用いられている。
【0004】
CMOSイメージセンサの研究開発初期においては、画素内に形成されるトランジスタの特性ばらつきによる固定パターンノイズが大きく、良好なS/N比を得ることができないと思われてきたが、その後固定パターンノイズを効果的に解消する方式がいくつか提案されている。例えば特開平4−61573号公報では、図14に示すように容量クランプ回路を用いた読み出し回路が提案されている。この固体撮像装置の動作を、図13に示す駆動タイミング・チャートを用いて説明する。なお、回路要素および印加パルス、印加電圧の名称は特開平4−61573号公報と同様である。
【0005】
まずフォトダイオードD1からの信号読み出しに先立って、端子CR1,CR2,CS1にパルスを印加することによって、MOSスイッチQ16をオンして、垂直信号線VL3はGNDレベルに、容量C1,C3はともにVSSにリセットされる。その後、端子CR1のパルスをローレベルにし、端子RSにパルスを印加することによって、増幅用MOSFETQ2のゲートは電圧VRSにリセットされる。そしてリセットパルスRSをローレベルにした後、端子V3にハイレベルのパルスを印加すると、選択MOSFETQ3をオンして、増幅MOSFETQ2のドレインに動作電圧VDDが供給され、これにより、Q2のゲート電圧に対応した電圧VNが垂直出力線VL3に読み出される(ノイズ信号)。次に、CR2のパルスを立ち下げ、容量C1の出力側とC3の一方の電極がフローティングになる。この時、端子V3はローレベルにし、選択MOSFETQ3はオフ状態にする。そして、端子CR1にパルスを入力し、垂直出力線VL3をリセットすると、容量C1の出力側とC3の一方の電極の電位は上記バイアス電圧VSSから容量C1とC3の容量比に応じて分割された電圧だけ低下した電圧(VSS−VN′)になる。ここでVN′は次式で表される。
【0006】
VN′=C1×VN/(C1+C3) (1)
次にCR1の端子のパルスを立ち下げ、端子V3とVGのパルスをハイレベルにし、電荷転送スイッチであるQ1をオンしてフォトダイオードD1に蓄積された信号電荷を、入力容量CPに転送すると同時に、選択MOSFETQ3がオンし、増幅MOSFETQ2のドレインに動作電圧VDDが供給され、これにより、Q2のゲート電圧に対応した電圧VSが垂直信号線VL3に読み出される(光信号)。この動作により、容量C1の電位はVSが容量C1とC3の容量比に応じて分割された電圧分だけ上昇し、(VSS−VN′+VS′)になる。
【0007】
ここでVS′はVN′と同様に以下の式で表される。
【0008】
VS′=C1×VS/(C1+C3) (2)
従って、上記容量C3の電位は最終的に
VC3=VSS−C1×(VN−VS)/(C1+C3) (3)
となり、(3)式の第2項より、リセットMOSFETや増幅MOSFETのしきい値Vthのバラツキ等が除去されたS/Nの高い信号が得られる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
CMOSイメージセンサのS/N比を向上させる上で、前記した従来例1の固体撮像装置およびその駆動方法のように、固定パターンノイズに対する対策をする一方で、動画表示時のランダムノイズに対するS/N比を高めるため、最大取扱い電荷量(以下、Qsatと略す)を増加させる必要がある。
【0010】
画素部に光電変換素子、転送スイッチおよび光電変換信号をゲート入力とする電界効果トランジスタを有する固体撮像装置において、光電変換素子からゲート電極への光電変換信号の読み出しの際のゲート電極に並列な容量C(前述の従来例ではCpにあたる)の大きさは、転送可能な最大電荷量、すなわち最大取扱い電荷量Qsatに影響する。
【0011】
なぜなら、転送電荷が電子の場合、電荷が転送されるためには、Vg(ゲート電圧)>Vpd(フォトダイオード電圧)の関係が成り立たなければいけないが、単位電荷が転送されたときのVgの低下は、容量Cに反比例するため、容量Cが小さくなれば、より少ない転送電荷でVgが低下してしまうためである。電界効果トランジスタがMOSFETであるときは、増幅用MOSFETのゲート容量はCに含まれている。MOSFETのゲート容量は動作状態によって変化するので、電荷転送時の増幅用MOSFETの動作状態によって、最大取扱い電荷量Qsatが変化する。
【0012】
従来技術の駆動方法においてはこの点に対して、配慮が為されていない。例えば図13に示した従来技術の駆動方法では、転送ゲートパルスVGにパルスを印加し、電荷転送を行う際に、垂直出力線VL3につながるソース電極はフローティングになっており、増幅用MOSFETQ2の動作は不定である。仮に、増幅用MOSFETQ2がオンになっていたとしても、電荷転送時に選択スイッチQ3がオンになっているため、増幅用MOSFETQ3のドレイン電極には、VDDが印加され、増幅用MOSFETQ2は5極管動作領域にあり、ゲート容量は3極管動作時より減少している。従って、光電変換素子の読み出し動作のフローティング状態の不定性や増幅用MOSFETQ2の直線動作領域の変動などに問題点を有していた。
【0013】
本発明は、固体撮像装置の駆動方法を更に向上して、S/Nを高め、画質に優れた高品質の読み取り画像信号を得ることにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記課題を解決するもので、画素部に光電変換素子と、前記光電変換素子で発生する光電変換信号をゲート電極に入力する電界効果トランジスタと、前記光電変換素子と前記電界効果トランジスタのゲート電極との導通を制御する転送スイッチを有する固体撮像装置の駆動方法において、前記光電変換素子から前記電界効果トランジスタのゲート電極への光電変換信号の読み出し時点に、前記電界効果トランジスタのゲート電圧が、前記電界効果トランジスタのソース電圧と前記電界効果トランジスタのしきい値の和よりも高く、かつ前記電界効果トランジスタのゲート電圧が、前記電界効果トランジスタのドレイン電圧と前記電界効果トランジスタのしきい値の和よりも高く設定することを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。
【0021】
〔実施形態1〕
本発明の実施形態として、図1で示す駆動タイミングで図14の固体撮像装置を駆動した例を示す。この固体撮像装置は、フォトダイオードD1に蓄積される光量に応じた光電荷を転送スイッチQ1を介して増幅用MOSトランジスタに供給して、選択スイッチをオンして垂直出力線に読み出すものである。
【0022】
まず、フォトダイオードD1からの信号読み出しに先立って、端子CR1,CR2,CS1にパルスを印加することによって(t1)、リセットMOSスイッチQ16をオンして、垂直信号線VL3はGNDレベルに、容量C1,C3はともにVSSにリセットされる。その後端子CR1のパルスをローレベルにし(t2)、端子RSにパルスを印加することによって、増幅用MOSFETQ2のゲートは電圧VRSにリセットされる(t3)。そしてリセットパルスRSをローレベルにした後、端子V3にハイレベルのパルスを印加すると(t3)、増幅MOSFETQ2のドレインに動作電圧VDDが供給され、これにより、増幅MOSFETQ2のゲート電圧に対応した電圧VNが垂直出力線VL3に読み出される(ノイズ信号)。
【0023】
次に、CR2のパルスを立ち下げ(t4)、容量C1の出力側とC3の一方の電極がフローティングになる。この時、端子V3はローレベルにし、選択MOSFETQ3はオフ状態にする。そして、端子CR1にパルスを入力し、垂直出力線VL3をリセットすると、容量C1の出力側とC3の一方の電極の電位は上記バイアス電圧VSSから容量C1とC3の容量比に応じて分割された電圧だけ低下した電圧(VSS−VN′)になる。次に、転送スイッチのゲート電圧VGにハイレベルのパルスを印加し(t5)、フォトダイオードD1から電荷転送を行う。このとき、CR1をハイレベルにして、増幅用MOSFETQ2のソース電極を接地電圧に固定し、V3をローレベルにして、ドレイン電極へのVDDの供給を遮断することで、増幅用MOSFETQ2の動作を3極管領域に規定することができる。即ち、V3をローレベルにした時刻t4から、VGにハイレベルを印加する時刻t5までの間に増幅用MOSFETQ2のドレイン電位が接地電位近傍まで下がることにより、増幅用MOSFETQ2のゲート・ドレイン間電位差がしきい値以上であるというバイアス関係が満たされる。
【0024】
3極管動作に規定された増幅用MOSFETQ2のゲートはゲート幅×ゲート長で決まる面積の大きな酸化膜容量が付加されることになる。このため、最大取扱い電荷量は増加する。
【0025】
つづいてVGをローレベルに(t6)、CR1をローレベルに、V3をハイレベルにすると(t7)、転送された電荷量に対応する信号電圧VSが垂直出力線VL3に発生する。これに伴って、容量C1の出力側とC3の一方の電極の電位は、(VSS−VN′+VS′)になる。
【0026】
図13に示した従来技術の駆動方法と本実施形態を比較したところ、固定パターンノイズの除去率は変わらなかったが、電荷転送時の増幅用MOSFETのゲート容量が増加したため、線形動作領域で扱うことのできる電荷量が増大し、最大取扱い電荷量は15%増加した。
【0027】
上記駆動方法では、光電変換素子の画素から画素アンプの電界効果トランジスタのゲート電極への光電変換信号の読み出しを、転送されてきた画素電荷を電界効果トランジスタのゲートレベルを下げた状態、即ち反転層が形成されている状態で読み出している。
【0028】
また、光電変換素子の画素から画素アンプの電界効果トランジスタのゲート電極への光電変換信号の読み出し時に、電界効果トランジスタのゲート電圧が、電界効果トランジスタのソース電圧と電界効果トランジスタのしきい値の和よりも大きい状態であるともいえる。
【0029】
〔実施形態2〕
本発明の実施形態2として図3の固体撮像装置を図2の駆動タイミングで駆動させた例を示す。
【0030】
まず図3の固体撮像装置の回路構成を説明する。2×2画素の各画素内にはフォトダイオード1、転送スイッチ2、リセットスイッチ3、画素アンプ4、行選択スイッチ5が設けてあり、図3のように接続されている。行選択スイッチ5がオンになると、負荷電流源7と画素アンプ4で構成されるソース・フォロワー回路が動作状態になり、選択行の出力が垂直出力線6上に発生する。この出力は転送ゲート8を介して、信号蓄積部11に蓄積される。信号蓄積部11に一時記憶された出力は水平走査回路12によって順次出力部へ読み出される。
【0031】
図2の駆動タイミングで、図3の固体撮像装置を動作させると次のようになる。まず、ΦRESがハイレベルとなり(t21)、画素アンプ4のゲート電位がリセット電位(ΦRESのパルス電位−しきい値電位)にリセットされる。つづいてΦSELがハイレベルとなり(t22)、画素アンプ4と負荷電流源7で構成されるソース・フォロワー回路が動作状態になり、垂直出力線6上にリセット電位に対応したノイズ出力が発生し、信号蓄積部に読み出され、ΦTNをハイとして転送ゲート13をオンとして、ノイズ信号を信号蓄積部11に一時的に蓄積する。ノイズ信号の読み出し後、ΦSELおよびΦTNはふたたびローレベルになると(t23)、垂直出力線6の電位は負荷電流源7によって降下する。接地電圧近傍まで達した状態で、転送パルスΦTXがハイレベルとなり(t24)、フォトダイオードD1から画素アンプ4のゲート電極への電荷転送が行われる。
【0032】
このとき、画素アンプ4のドレイン電極には電源電圧が供給されていないため、画素アンプは3極管領域で動作している。したがって、画素アンプ4のゲート容量は最大値をとる。しかる後にΦTXはローレベルにし(t25)、ΦSELおよびΦTSをハイレベルにすることで(t26)、光電変換出力の読み出しを行う。また、ΦTXをローレベルにして、読み出しのために、ΦSELおよびΦTSをハイレベルにする時間t25からt26の時間を管理することで、直線動作領域として、ダイナミックレンジの広い光電荷を得ることができる。
【0033】
本実施形態では、フォトダイオードD1から画素アンプ4のゲート電極への電荷転送時に、画素アンプ4が3極管動作領域に規定されるため、従来技術の駆動方法と比較して、最大取扱い電荷量は11%増加した。
【0034】
〔実施形態3〕
本発明の実施形態3として図4の駆動タイミングで図5の固体撮像装置を動作させた例を示す。
【0035】
まず図5の固体撮像装置の回路構成を説明する。2×2画素の各画素内にはフォトダイオード1、転送スイッチ2、リセットスイッチ3、画素アンプ4、行選択スイッチ5が設けてあり、図5のように接続されている。行選択スイッチ5がオンになると、負荷電流源7と画素アンプ4で構成されるソース・フォロワー回路が動作状態になり、選択行の出力が垂直出力線6上に発生する。この出力は転送ゲート8を介して、信号蓄積部11に蓄積される。信号蓄積部11に一時記憶された出力は水平走査回路12によって順次出力部へ読み出される。また、垂直出力線6を定電位にリセットする垂直出力線リセットスイッチ9が設けられている。図3との違いは、この垂直出力線リセットスイッチ9とこのゲート電極にリセットパルスΦVRを供給する点である。
【0036】
図4の駆動タイミングで図5の固体撮像装置を駆動させると、次のようになる。まずΦVRがハイレベルとなり(t31)、垂直出力線6は定電位(本実施形態では接地電位)にリセットされる。ΦVRがローレベルになった後(t32)、ΦRESがハイレベルになり(t33)、画素アンプ4のゲート電位がリセットされる。つづいてΦRESをローレベルとし、ΦSEL,ΦTNがハイレベルとなり(t34)、画素アンプ4と負荷電流源7で構成されるソース・フォロワー回路が動作状態になり、垂直出力線6上にリセット電位に対応したノイズ信号出力が発生し、転送ゲート13をオンとして、信号蓄積部11に読み出される。
【0037】
ノイズ信号出力読み出し後(t35)、ΦVRがハイレベルとなり(t36)、垂直出力線6はふたたび接地電位にリセットされる。垂直出力線6がリセットされている期間中に、転送パルスΦTXにハイレベルのパルスが印加されて(t37)、フォトダイオードD1から画素アンプ4のゲート電極への電荷転送が行われる。このとき、画素アンプMOSFET4はソース電極が垂直出力線6と同電圧の接地電位に固定され、またドレイン電極に電源電圧が供給されていないため、その動作は3極管領域に規定される。
【0038】
画素アンプ4のゲート電極に光電荷を転送後(t38)、ΦSEL,ΦTSがハイレベルとなり(t39)、垂直出力線6に発生した光電変換出力は、転送ゲート8をオンとして、信号蓄積部11へと読み出される。前記した実施形態2の場合、電荷転送時に画素アンプ4のソース電極の電位を接地電位近傍まで降下させるために、負荷電流源の電流量をある程度以上大きくするか、もしくはノイズ出力読み出しから電荷転送までのブランクを大きくする必要がある。本実施形態3では垂直出力線リセット動作が可能なため、そのような制約がない。
【0039】
また、画素アンプ4のゲート電位がフローティング状態のとき垂直出力線6の電位が変化すると、ゲート・ソース間容量を介してフィードバック現象が起こるが、本実施形態3では垂直出力線6の電位が常に接地電位から立ち上がるため、光電変換出力に対するフィードバック量の比は常に一定に保たれ、光電変換出力が線形に保たれるという付加的効果がある。
【0040】
従来技術の駆動方法に対して、本実施形態の駆動方法では電荷転送時に画素アンプ4のゲート容量が最大となるため、Qsatは13%増加した。
【0041】
〔実施形態4〕
本発明の実施形態4として、図7の固体撮像装置を、図6の駆動タイミングで駆動させた例を示す。
【0042】
まず図7の回路構成について説明する。2×2画素の各画素内にはフォトダイオード1、転送スイッチ2、リセットスイッチ3、画素アンプ4、行選択スイッチ5が設けてあり、図7のように接続されている。画素アンプ4は垂直出力線6と行選択スイッチ5を介して接続されており、画素アンプ4と行選択スイッチ5がオンになると、負荷抵抗7によって、反転アンプとして動作する。また、垂直出力線6には垂直出力線リセットスイッチ9が設けられ、定電位(本実施形態では接地電位)にリセットすることができる。画素アンプ4は、図5の固体撮像装置の回路とは、負荷抵抗7による反転アンプとしている点が異なる。
【0043】
図6の駆動タイミングで図7の固体撮像装置を駆動させると、次のような動作をする。まずΦRESにハイレベルのパルスが印加され(t41)、画素アンプ4のゲート電位がリセットされる。つづいてΦSEL,ΦTNがハイレベルとなり(t42)、転送ゲート13をオンして、ノイズ信号出力が読み出される。ノイズ信号出力の読み出しが終了した時点で(t43)、ΦSELをハイレベルに保った状態で、ΦVRがハイレベルとなり(t44)、垂直出力線6および画素アンプ4のドレイン電極が接地電位にリセットされる。ΦSEL及びΦVRはふたたびローレベルとなり(t45)、ドレイン電極は接地電位を保持しながら、フローティング状態となる。このとき、画素アンプ4のソース電極は接地されているため、画素アンプ4は3極管領域の動作に規定される。
【0044】
この状態で、ΦTXがハイレベルとなり(t46)、フォトダイオードD1から画素アンプ4のゲート電極への電荷転送が行われる。引き続いて、ΦTXをローレベルとして(t47)、行選択パルスΦSEL及びΦTSをハイとして、転送ゲート8をオンして、光電変換信号出力の読み出しが行われる。その後、水平走査回路12の走査信号ΦH(1,2)によって、信号蓄積部11のノイズ信号と光電変換信号とを順次出力する。
【0045】
本実施形態では電荷転送時に画素アンプが3極管領域にあり、従来の駆動方法に対して、Qsatは25%増加した。
【0046】
〔実施形態5〕
本発明の実施形態5として、図8の駆動タイミングで図9の固体撮像装置を動作させた例を示す。
【0047】
まず図9の固体撮像装置の回路構成を説明する。2×2画素の各画素内にはフォトダイオード1、転送スイッチ2、リセットスイッチ3、画素アンプ4、行選択スイッチ5が設けてあり、図9のように接続されている。行選択スイッチ5がオンになると、負荷電流源7と画素アンプ4で構成されるソース・フォロワー回路が動作状態になり、選択行の出力が垂直出力線6上に発生する。この出力は転送ゲート8を介して、信号蓄積部11に蓄積される。信号蓄積部11に一時記憶された出力は水平走査回路12によって順次出力部へ読み出される。また、垂直出力線6を定電位にリセットする垂直出力線リセットスイッチ9が設けられている。本図9に示す固体撮像装置と図5に示す固体撮像装置とは、各画素において、画素アンプのソース側に行選択スイッチ5が接続されており、行選択スイッチ5を介して垂直出力線6にノイズ信号及び光電変換信号とを読み出す点である。
【0048】
図8の駆動タイミングで本固体撮像装置を動作させると次のようになる。まず、ΦRESにハイレベルのパルスが印加され(t51)、画素アンプ4のゲート電位がリセット電位にリセットされる。つづいてΦSELおよびΦTNがハイレベルとなり(t52)、ノイズ出力が信号蓄積部11へ読み出される。ノイズ出力読み出し後、ΦTNはローレベルにされ(t53)、ΦVRはハイレベルとなって(t54)、垂直出力線6のリセットが行われる。このときΦSELはハイレベルにあるため、画素アンプ4のソース電位も同時にリセットされ、接地電位に固定される。この状態でΦTXにハイレベルのパルスが印加され(t55)、フォトダイオードD1から画素アンプ4のゲート電極への電荷転送が行われる。電荷転送に伴って、画素アンプ4のゲート電位は降下するが、行選択スイッチ5を介して、ソース電極が接地電位に固定されているため、画素アンプ4は電荷転送期間中、常にオン状態に規定される。電荷転送後ΦVRおよびΦTXはローレベルに(t56)、ΦTSはハイレベルにされ(t57)、光電変換出力の信号蓄積部11への読み出しが行われる。その後、ΦSEL及びΦTSをローレベルとして、一行分の画素の読み出し動作を終了し、その次の行の画素の読み出し動作に移行する。
【0049】
本実施形態5ではフォトダイオードD1から画素アンプ4のゲート電極への電荷転送時に、画素アンプ4が常にオン状態に規定されているため、従来の駆動方法と比較して、最大取扱い電荷量Qsatは43%増加した。
【0050】
本実施形態では垂直出力線リセットスイッチ9を有する固体撮像装置を駆動させたが、負荷電流源7の電流量が十分に大きく、電荷転送時に画素アンプ4のソース電位が接地電位まで速やかに降下されるならば、垂直出力線リセットスイッチ9はなくともよい。
【0051】
〔実施形態6〕
本発明の実施形態6として、図10の駆動タイミングで図11の固体撮像装置を駆動させた例を示す。
【0052】
まず図11の固体撮像装置の回路構成を説明する。2×2画素の各画素内にはフォトダイオード1、転送スイッチ2、リセットスイッチ3、画素アンプ4、行選択スイッチ5が設けてあり、図9と同様に、図11のように接続されている。行選択スイッチ5がオンになると、行選択スイッチ5を介して、負荷電流源7と画素アンプ4で構成されるソース・フォロワー回路が動作状態になり、選択行の出力が垂直出力線6上に発生する。この出力は転送ゲート8及び転送ゲート14,15、更に転送ゲート16を介して、信号蓄積部11に蓄積される。信号蓄積部11に一時記憶された出力は水平走査回路12によって順次出力部へ読み出される。また、垂直出力線を定電位にリセットする垂直出力線リセットスイッチ9が設けられている。また、この固体撮像装置は転送ゲート8,14〜16の転送を奇数行及び偶数行に分けて信号蓄積部11に転送するので、水平ブランキング期間中に2行分の出力を読み出すことが可能である。
【0053】
図12は図11の固体撮像装置の垂直走査回路の構成を示す概念図である。奇数行の選択に対応するΦSEL1と偶数行の選択に対応するΦSEL2が独立に与えられることで、同一水平期間中に2行分の出力を信号蓄積部11に読み出すように構成されている。垂直走査回路10内に構成された垂直シフトレジスタ17から垂直クロックパルスΦV(n)をNOR回路18〜21の一端に入力し、NOR回路18〜21の他端には、それぞれ垂直走査回路10で生成した奇数と偶数行の選択のための行選択パルスΦSEL1,ΦSEL2と、リセットパルスΦRESと、転送パルスΦTXとが入力され、その出力に各行の選択パルスと、リセットパルスと、転送スイッチとして供給され、各画素を駆動する。
【0054】
次に、図10の駆動タイミングで図11の固体撮像装置を駆動させたときの動作を説明する。ΦSELおよびΦTS、ΦTNが2系統になっている他はすべてのパルスは奇数行、偶数行に同時に印加される。奇数行側の動作に着目すると、まずΦRESにハイレベルのパルスが印加され(t60)、画素アンプ4のゲート電位がリセット電位(ΦRESのパルス電位−しきい値電位)にリセットされる。つづいてΦSEL1およびΦTN1がハイレベルとなり(t61)、奇数行のノイズ信号出力が信号蓄積部11へ読み出される。奇数行のノイズ信号出力の読み出し終了後、いったんΦSEL1およびΦTN1はローレベルになり(t62)、次に、ΦSEL2およびΦTN2がハイレベルとなり(t63)、偶数行のノイズ信号出力が信号蓄積部11へ読み出される。
【0055】
偶数行のノイズ信号出力の読み出しを行った後(t64)、ΦSEL1、ΦSEL2およびΦVRはハイレベルとなり(t65)、垂直出力線6及び画素アンプ4のソース電極のリセットが行われる(本実施形態では、リセット電位は接地電位としている)。この状態でΦTXにハイレベルのパルスが印加され、フォトダイオードD1から画素アンプ4のゲート電極への電荷転送が行われる。電荷転送に伴って、画素アンプ4のゲート電位は降下するが、ΦSEL1とΦSEL2とがハイの状態なので、行選択スイッチ5がオンとなり、ソース電極が接地電位に固定されているため、画素アンプ4は常にオン状態に規定される。奇数行、偶数行の光電変換出力は、それぞれΦSEL1とΦTS1、ΦSEL2とΦTS2をハイレベルとすることで(t67,t68,t69,t70)、信号蓄積部11へと読み出される。
【0056】
以下、この駆動方法を繰り返して、エリアセンサとして順次フレーム画像を読み出す。本実施形態では、隣接する奇数行、偶数行の出力を加算するなどして、動画表示に必要なスキャンが可能である。
【0057】
従来技術の駆動方法においては、電荷転送時に画素アンプ4のソース電極がフローティングであるため、電荷転送に伴って画素アンプ4はオフ状態になっていたが、本実施形態では、画素アンプ4がオン状態に規定されるため、最大取扱い電荷量は従来駆動方法と比較して45%増加した。
【0058】
上記各実施形態で説明したように、画素アンプ4の動作を駆動パルスの加えかたにより、画素アンプ4のMOSトランジスタのアナログにおける最適な動作領域で光電変換電荷を読み出しているので、画素電荷の直線性のある3極管領域で動作させることができ、結果的に画素アンプのダイナミックレンジを最大に広げた状態で読み出すこととなる。
【0059】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明の固体撮像装置の駆動方法は、回路構成を変えることなく、最大取扱い電荷量Qsatを増加することが可能である。また実施形態においてNMOSを主体とした回路構成を示したが、PMOSを主体とした回路構成においても同様な効果を持つことは明らかである。また電界効果トランジスタはMOS型でなくともよい。
【0060】
したがって本発明は、画素部に光電変換素子と、光電変換出力をゲート入力とする電界効果トランジスタと、前記光電変換素子と前記電界効果トランジスタのゲート電極との導通を制御する転送スイッチを有する固体撮像装置全般に適用されるものであり、ソースフォロワ型増幅用及び抵抗負荷の反転増幅用の電界効果トランジスタの最大取扱い電荷量Qsatを増加することで、ダイナミックレンジを広げ、S/Nの高い、高画質の画像信号を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1の駆動タイミング図である。
【図2】本発明の実施形態2の駆動タイミング図である。
【図3】本発明の実施形態2で使用した固体撮像装置である。
【図4】本発明の実施形態3の駆動タイミング図である。
【図5】本発明の実施形態3で使用した固体撮像装置である。
【図6】本発明の実施形態4の駆動タイミング図である。
【図7】本発明の実施形態4で使用した固体撮像装置である。
【図8】本発明の実施形態5の駆動タイミング図である。
【図9】本発明の実施形態5で使用した固体撮像装置である。
【図10】本発明の実施形態6の駆動タイミング図である。
【図11】本発明の実施形態6で使用した固体撮像装置である。
【図12】図11の固体撮像装置の垂直走査回路を示す図である。
【図13】従来技術による固体撮像装置の駆動タイミングの一例を示す図である。
【図14】従来技術による固体撮像装置の一例である。
【符号の説明】
1 フォトダイオード
2 転送スイッチ
3 リセットスイッチ
4 画素アンプ
5 選択スイッチ
6 垂直出力線
7 負荷定電流源
7′ 負荷抵抗
8,13〜16 転送ゲート
9 垂直出力線リセットスイッチ
10 垂直走査回路
11 信号蓄積部
12 水平走査回路
ΦSEL 行選択パルス
ΦSEL1 奇数行選択パルス
ΦSEL2 偶数行選択パルス
ΦRES リセットパルス
ΦTX 画素部転送スイッチに印加する転送パルス
ΦTS 光電変換出力の転送パルス
ΦTS1 奇数行の光電変換出力の転送パルス
ΦTS2 偶数行の光電変換出力の転送パルス
ΦTN ノイズ出力の転送パルス
ΦTN1 奇数行のノイズ出力の転送パルス
ΦTN2 偶数行のノイズ出力の転送パルス
ΦVR 垂直出力線リセットパルス
ΦV(n) n行目の垂直走査パルス
ΦH(n) n列目の水平走査パルス

Claims (6)

  1. 画素部に光電変換素子と、
    前記光電変換素子で発生する光電変換信号をゲート電極に入力する電界効果トランジスタと、
    前記光電変換素子と前記電界効果トランジスタのゲート電極との導通を制御する転送スイッチを有する固体撮像装置において、
    前記光電変換素子から前記電界効果トランジスタのゲート電極への光電変換信号の読み出し時に、前記電界効果トランジスタのゲート電圧が、前記電界効果トランジスタのソース電圧と前記電界効果トランジスタのしきい値の和よりも高く、かつ前記電界効果トランジスタのゲート電圧が、前記電界効果トランジスタのドレイン電圧と前記電界効果トランジスタのしきい値の和よりも高く設定する電圧制御手段を有することを特徴とする固体撮像装置。
  2. 画素部に光電変換素子と、
    前記光電変換素子で発生する光電変換信号をゲート電極に入力する電界効果トランジスタと、
    前記光電変換素子と前記電界効果トランジスタのゲート電極との導通を制御する転送スイッチを有する固体撮像装置の駆動方法において、
    前記光電変換素子から前記電界効果トランジスタのゲート電極への光電変換信号の読み出し時に、前記電界効果トランジスタのゲート電圧が、前記電界効果トランジスタのソース電圧と前記電界効果トランジスタのしきい値の和よりも高く、かつ前記電界効果トランジスタのゲート電圧が、前記電界効果トランジスタのドレイン電圧と前記電界効果トランジスタのしきい値の和よりも高く設定することを特徴とする固体撮像装置の駆動方法。
  3. 前記電界効果トランジスタのドレイン電極と定電圧源または出力線との間の導通を制御する選択スイッチがあり、前記光電変換素子から前記電界効果トランジスタのゲート電極への光電変換信号の読み出し時に、前記選択スイッチが非導通状態にあることを特徴とする請求項に記載の固体撮像装置の駆動方法。
  4. 前記電界効果トランジスタのソース電極と出力線との導通を制御する選択スイッチがあり、前記光電変換素子から前記電界効果トランジスタのゲート電極への光電変換信号の読み出し時に前記選択スイッチが導通状態にあることを特徴とする請求項に記載の固体撮像装置の駆動方法。
  5. 前記光電変換素子から前記電界効果トランジスタのゲート電極への光電変換信号の読み出し時に、前記電界効果トランジスタのソース電極が定電流源と導通状態にあることを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の固体撮像装置の駆動方法。
  6. 前記光電変換素子から前記電界効果トランジスタのゲート電極への光電変換信号の読み出し時に、前記電界効果トランジスタのソース電極が定電圧源と導通状態にあることを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の固体撮像装置の駆動方法。
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