JP3646252B2 - 高感度変位測定装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明が属する技術分野】
本発明は変位を測定するために多く使用される線形変形差動変圧器(Linear Variable Differential Transformer;以下では‘LVDT’という)に関するものであって、特に周囲環境及び雑音などの影響を少なく受け、分解能を向上させてマイクロメータ以下の精密測定が可能なLVDTを用いた高感度変位測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
LVDTを用いた変位測定装置において、測定しようとする入力変位に対するアナログ出力電圧の比を感度というが、感度が高いということは入力変位に対して生じる出力値が大きいことを意味する。このような通常的なアナログ出力発生装置の場合、その分解能は雑音及び感度と密接な関係がある。
分解能(Resolution)=雑音(Noise)/感度(Sensitivity)
【0003】
実際の状況において、分解能は雑音、即ち、周囲環境や様々な他の要因によって激しく変化する。このような外部要因にあまり敏感でなく、高い分解能、即ち、最小測定可能な変位量が小さいため、マイクロメータ以下の領域でも使用できるためには感度が高いのが有利である。
【0004】
図6は従来の技術に従うLVDTを用いた変位測定装置の概略図である。
図6に図示されたように、従来の技術に従う変位測定装置は円筒形状を有しており、内部には主コイル巻き2が円筒形状に配置され、主コイル巻き2の上下部に2次コイル巻き3H、3Lが位置する。そして、このような主コイル巻き2と上下部2次コイル巻き3H、3Lとの中心部には磁性体コア4が位置し、磁性体コア4の下段にはロッド5が連結され、ロッド5の端部には接触プローブ6が配置される。そして、下部2次コイル巻き3Lの下部にはロッド5の上下移動が自在なようにボールベアリング8がロッド5の周りに設けられ、ボールベアリング8の下部にはスプリング9が設けられてロッド5の上下移動に従って伸縮されるように設けられる。また、ハウジング7が主コイル巻き2と、上下部2次コイル巻き3H、3Lと、ボールベアリング8及びスプリング9とを受け入れており、ハウジング7の下端部には接触プローブ6の下段部が突出されている。
【0005】
従って、ハウジング7の下端部に突出された接触プローブ6が変位に従って上下に移動するようになるとロッド5に連結された磁性体コア4もやはり上下に接触プローブ6が移動した変位だけ移動するようになる。
【0006】
一方、主コイル巻き2に電圧を印加すると変位測定装置1の内部には磁気場が形成され、入力された変位に従って磁性体コア4が動くようになる。これによって変位測定装置1の内で其々の2次コイル巻き3H、3Lの磁気場分布が変わるようになり、このような磁気場分布の変化によって其々の2次コイル巻き3H、3Lに誘導される電圧の差である差動電圧の大きさが変化するようになり、このような差動電圧の大きさは入力変位に比例する。
【0007】
このような従来のLVDTを用いた変位測定装置は、主コイル巻きのコイル巻線数に対する2次コイル巻きのコイル巻線数の比が大きい場合に、感度の向上を招くことができる。従って、感度向上のためには2次コイル巻きのコイル巻線数を増加させなければならず、そのために変位測定装置のサイズが大きくなるしかないという短所がある
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は先に説明したような従来の技術の問題点を解決するために提供されたものであって、超精密測定が容易なように構造を改善し、入力変位を増幅するガイド手段を使用してもっと感度を高めてマイクロメータ以下の分解能を有する超精密な高感度変位測定装置を提供するのにその目的がある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
先に説明したような目的を達成するための本発明によると、位置分解能を有する変位測定装置において、磁性体を用いて閉ループを形成し、前記磁性体の閉ループ内に磁気場を形成する主コイルと2次コイルとを受け入れる電磁気システムと;、変位入力部と前記2次コイルに固定された変位出力部とを備え、前記変位入力部に入力された変位に対して前記変位出力部が比例的に増幅された変位を出力するように案内するガイド手段と;、前記入力される変位が一軸方向にのみ入力されるように前記ガイド手段の変位入力部を支持する支持手段を含む変位測定装置が提供される。
【0012】
また、本発明によると、前記電磁気システムは‘E’の形状を有する複数の閉ループ磁性体と、閉ループが形成されるように前記複数の閉ループ磁性体の上下の両端部を連結するビーム磁性体と、前記閉ループ磁性体の内側突出部に巻かれた複数の主コイルと、前記複数の主コイルの間で前記ビーム磁性体と平行なように位置し、前記主コイルが囲んでいる閉ループ磁性体の内側突出部及びmm以下の所定の間隔で離れて位置する複数のコアと、前記コアに巻かれる複数の2次コイルとを含み、前記ガイド手段の変位出力部に前記複数のコアの両端部が固定される。
【0013】
また、本発明によると、前記コアと前記ビーム磁性体との材質は同一である。
【0014】
また、本発明によると、前記ガイド手段は数百マイクロメータの厚さを有する板スプリングであって、前記板スプリングの下段には前記変位入力部が突出されており、前記変位入力部の上部には前記ビーム磁性体に固定される固定部が位置し、前記固定部の両側には回転部が連結され、前記固定部と前記回転部とは前記板スプリングの上下段に対称的に形成され、前記変位出力部が前記上下段の回転部を連結する構造であり、前記固定部と前記回転部と前記変位入力部及び前記変位出力部とは連結部によって連結され、前記変位入力部に変位が入力されると前記回転部が前記固定部と連結された部分を中心として回転し、前記変位出力部を下記数学式1のように変位出力をする。
【0015】
また、本発明によると、前記板スプリングはベリリウム銅板で、2枚の前記板スプリングが前記電磁気システムの閉ループと平行なように前記電磁気システムの両側面に設けられる。
【0016】
また、本発明によると、前記支持手段は前記電磁気システムに固定される固定ブロックと、接触プローブとが設けられ、前記ガイド手段の変位入力部に固定される移動ブロック及び、前記固定ブロックと前記移動ブロックとを連結する支持台を含む。
【0017】
また、本発明によると、前記移動ブロックの両側面は前記電磁気システムの両側面に位置した2枚の板スプリングの変位入力部に両側面が固定される。また、前記移動ブロックに設けられた前記接触プローブは、前記移動ブロックの前記ビーム磁性体面とは反対の裏面側に取り付けてあり、前記ビーム磁性体側と逆方向に向いている。
【0018】
また、本発明によると、前記支持台は平面バーの形状を有し、前記電磁気システムの底面に固定された前記固定ブロックと前記移動ブロックの上下面とを連結する。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明による高感度変位測定装置の良好な実施例を添付した図面を参照して詳細に説明する。
【0020】
図面で、図1は本発明の一実施例による高感度変位測定装置の斜視図であり、図2は図1に図示された高感度変位測定装置の組立図であり、図3は図1に図示された高感度変位測定装置の電磁気システムの正面図であり、図4は図1に図示された高感度変位測定装置のガイド手段の正面図であり、図5は図1に図示された高感度変位測定装置の支持手段を示した斜視図である。
【0021】
図1及び図2に図示されたように、本発明による変位測定装置は大きく3部分に分けられるが、強磁性体とコイルなどからなって磁束が生じる電磁気システム10と、変位が入力される接触プローブを支持する支持手段30及び、電磁気システム10の磁性体コアと支持手段30とが固定され、入力変位に対して増幅された出力変位で磁性体コアを動かすガイド手段である板スプリング20とに区分する。
【0022】
図2及び図3に示すように、この電磁気システム10は、上下に長尺梁部を形成し中央に短尺梁部を形成したE字形の磁性体コアと、この磁性体コアの前記短尺梁部に主コイル巻き11a、11bを位置させ、さらに後述のビーム磁性体19a、19bを前記長尺梁部に接続し、これらを左右上下対象に配置すると共に、主コイル巻き11a、11bのある左右2つの短尺梁部の間に2次コイル巻き13a、13bを有する2つの磁性体コア14a、14bを位置した構成であり、この主コイル巻き11a、11bを有するE字形をなした複数の閉ループ磁性体17a、17bで励磁した磁束は、2つの磁性体コア14a、14bとビーム磁性体19a、19bを磁路として形成する。そして、主コイル巻き11a、11bのある短尺梁部と、この磁性体コア14a、14b両端面は、エアギャップ18を介して対抗し、その間隙は通常1mm以下に設定する。さらに、この2つの磁性体コア14a、14bは互いに平行を成している。
【0023】
そして、各々主コイル巻き11a、11bは‘E’形状を有する2つの閉ループ磁性体17a、17bの内側突出部に巻かれており、2つの閉ループ磁性体17a、17bの開放部の上下段部をビーム磁性体19a、19bが連結する。従って、2つの閉ループ磁性体17a、17bと2つのビーム磁性体19a、19bとの連結によって閉ループが形成され、このような閉ループの構造内に2つの2次コイル巻き13a、13bと2つの主コイル巻き11a、11bとが位置する。従って、閉ループ磁性体17a、17bとビーム磁性体19a、19b及び主コイル巻き11とは固定されてあり、2次コイル巻き13a、13b及び磁性体コア14a、14bとは自在に移動できるようになる。
【0024】
一方、ビーム磁性体19a、19bの長さは2次コイル巻き13a、13bの磁性体コア14a、14bと同一な長さであり、磁性体コア14a、14bとビーム磁性体19a、19bとは同一な材質で製作され、熱膨脹係数が同一である。従って、磁性体コア14a、14bの熱による膨脹及び収縮と、ビーム磁性体19a、19bの熱による膨脹及び収縮とが同一をなしてエアギャップ18は温度の変化に無関係でいつも一定に維持される。
【0025】
一方、主コイル巻き11a、11bに電圧が印加されると電磁気システム10の内では磁気場が形成される。この時、基準位置に対して入力変位発生に従って2つの2次コイル巻き13a、13bの磁性体コア14a、14bが動くようになり、磁性体コア14a、14bの周りに囲まれている2次コイル巻き13a、13bのコイルを貫通する磁束が其々変位に比例して差を表す。其々の2次コイル13a、13bには誘導電圧が生じ、この電圧の差によって差動電圧が発生する。
【0026】
一方、図2及び図4に図示したガイド手段である板スプリング20は厚さが数百マイクロメータのベリリウム銅(Be−Cu)板である。このような板スプリング20はエッチング技法を用いて図4に図示されように板スプリング20の一部をスリット状に蝕刻する。このように蝕刻された板スプリング20は各区域別(後述する‘イ’‘ロ’‘ハ’)に形成されるが、このような板スプリング20の特徴は各区域などが全て連結されているため、板スプリング20の1つの区域を変位させると板スプリング20の全区域が比例的に変位するということである。
【0027】
図4に図示されたように板スプリング20は上下部が対称的で各区域が形成されるが、便宜上、板スプリング20の各区域を定義すると、板スプリング20の中間下端に突出された区域を‘イ’区域21とし、中間下段に‘⊥’形状で区分された区域を‘ロ’区域22とし、‘ロ’区域22の左右に位置した区域を‘ハ’区域23とし、板スプリング20の中間部の縦方向に形成された区域を‘ニ’区域24とする。そして、‘イ’区域21と‘ハ’区域23とを連結する部分を第1の連結部25とし、‘ロ’区域22と‘ハ’区域23とを連結する部分を第2の連結部26とし、‘ハ’区域23と‘ニ’区域24とを連結する部分を第3の連結部27とする。
【0028】
そして、このような板スプリング20の作動関係は以下で詳細に説明する。
このように形成された2つの板スプリング20を前記電磁気システム10の前後面に付着する。この時、板スプリング20を電磁気システム10の前後面に付着することにおいて、付着部位は図2に図示されたように、上下部のビーム磁性体19a、19bと板スプリング20の上下部‘ロ’区域22とを付着固定させ、2つの2次コイル巻き13a、13bの磁性体コア14a、14bの両端部と板スプリング20の中間部の‘ニ’区域24とを付着固定することによって、2つの磁性体コア14a、14bは互いに所定の間隔を維持しながら‘E’字形閉ループ磁性体の内側突出部とのエアギャップ18もやはり一定に維持される。一方、図2で橢円形にエッチングされた部分は接着剤を用いて板スプリング20と電磁気システム10とを付着固定する部分である。
【0029】
そして、図5に図示されたように支持手段30は閉ループ磁性体17a、17bの底面の一側面に固定される固定ブロック34と、ビーム磁性体19bの底面の中間部に位置する移動ブロック32及び、固定ブロック34と移動ブロック32とを連結する4つの支持台36を含む。従って、固定された固定ブロック34に支持台36で連結された移動ブロック32はビーム磁性体19bの底面に位置し、移動ブロック32の前後面は板スプリング20の‘イ’区域21に付着固定される。
【0030】
それゆえに、移動ブロック32は支持台36と板スプリング20とによって上下方向にのみ変位し、移動ブロック32の変位と共に板スプリング20の‘イ’区域21も同一に変位するようになり、これは板スプリング20の‘ニ’区域24を変位させる。一方、移動ブロック32の底面にはロッド38が固定されており、ロッド38の端部には接触プローブ39が設けられる。
【0031】
次では板スプリングの作動関係について詳細に説明する。
‘イ’区域21は移動ブロック32に固定されており、‘ロ’区域22はビーム磁性体19bに固定されており、‘ニ’区域24は2次コイル巻き13a、13bの磁性体コア14a、14bに固定されている。このような状態で移動ブロック32が入力変位だけ移動すると、移動ブロック32の移動変位は第1の連結部25を介して‘ハ’区域23に伝達される。この時、‘ハ’区域23の先端部は固定された‘ロ’区域22の第2の連結部26によって連結されているため、移動変位は‘ハ’区域23の後端部の第3の連結部27を介して‘ニ’区域24に伝達される。言い換えると、入力変位が与えられると、‘ハ’区域23は梃子の原理によって第1、第2の連結部25、26の距離と第2、第3の連結部26、27との距離に比例して入力変位を増幅させ、‘ニ’区域24に伝達する。
【0032】
従って、移動ブロック32に加えられる入力変位は板スプリング20を介して増幅され、2次コイル巻き13a、13bの磁性体コア14a、14bを増幅された出力変位だけ移動させる。これは下記数学式1のように表現される。
この数学式1の誘導について説明する。図4において、板スプリング20の‘ロ’区域22はビーム磁性体19に付着固定されている。そこで、‘ロ’区域22に連結されている第2の連結部26は固定されており、第1の連結部25と第3の連結部27とは‘ハ’区域23と共に入力変位によって動くことになる。‘変位入力部21を通じて入ってくる入力変位ΔZは第1の連結部25を動かすので、第3の連結部27を介して出力変位ΔZ´に増幅され、変位出力部24に伝達される。すなわち、入力変位ΔZは第1の連結部25とビーム磁性体19に固定された第2の連結部26の間の距離Lbと、第1の連結部25と第3の連結部27との間の距離Laとに対して数学式1によって表現された通り、出力変位ΔZ´に増幅される。
【数1】
Figure 0003646252
ここで、ΔZ′は出力変位であり、ΔZは入力変位であり、Laは第1の連結部から第3の連結部までの距離であり、Lbは第1の連結部から第2の連結部までの距離である。
【0033】
以上のように構成された高感度変位測定装置の作動について詳細に説明する。接触プローブ39に変位が感知されると、変位量だけロッド38は上下に移動するようになる。ロッド38の上下移動だけ移動ブロック32も移動し、移動ブロック32に固定付着された板スプリング20の‘イ’区域21もやはり変位量だけ移動するようになる。‘イ’区域21の移動は‘ハ’区域23に伝達され、‘ハ’区域23の第3の連結部27では数学式1のような出力変位量で増幅され、‘ニ’区域24を移動させる。
【0034】
‘ニ’区域24の移動に従って、‘ニ’区域24に固定付着された2つの2次コイル巻き13a、13b及び磁性体コア14a、14bも増幅された出力変位量だけ上下移動する。
【0035】
一方、主コイル巻き11a、11bに電圧を印加すると、高感度変位測定装置100の内部には磁気場が形成され、2つの磁性体コア14a、14bの移動に従って磁気場分布が変わるようになる。このような磁気場分布の変化によって其々の2次コイル巻き13a、13bに誘導される電圧の差である差動電圧の大きさが変化するようになる。従って、差動電圧の大きさは初期入力変位に対して数学式1のように増幅された出力変位と比例して出力される。
【0036】
【発明の効果】
先で詳細に説明したように、本発明の高感度変位測定装置はコイルの再配置、閉ループ構造と磁性体コアの両端の狭い間隙を通じた構造的改善を介して出力感度を向上させ、また、磁性体コアの変位を板スプリングの変位増幅機構を用いて増幅させることによって、感度を向上させ、マイクロ領域以下の測定が容易であり、板スプリングの弾性係数及び板スプリングの連結部の距離を調節してプローブの接触力の調節が可能であるという長所がある。
【0037】
また、移動ブロックが支持台によって支持されながら一方向にのみ移動可能であり、ビーム磁性体と磁性体コアとを同じ材質を使用して外部環境変化、即ち、雑音及び温度変化にあまり敏感でない構造を有するという長所がある。
【0038】
以上で本発明の高感度変位測定装置に対する技術思想を添付図面と共に叙述したが、これは本発明の最も良好な実施例を例示的に説明したものに過ぎず、本発明を限定するものではない。なお、この技術分野で通常の知識を持つ者であれば誰にも本発明の技術思想の範疇を離脱しない範囲内で多様な変形及び模倣が可能であるのは明らかな事実である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による高感度変位測定装置の斜視図である。
【図2】図1に図示された高感度変位測定装置の組立図である。
【図3】図1に図示された高感度変位測定装置の電磁気システムの正面図である。
【図4】図1に図示された高感度変位測定装置のガイド手段の正面図である。
【図5】図1に図示された高感度変位測定装置の支持手段を示した斜視図である。
【図6】従来の技術による線形変形差動変圧器(LVDT; Linear Variable Differential Transformer)を用いた変位測定装置の概略図である。
【符号の説明】
1、100:変位測定装置
2、11a、11b :主コイル巻き
3H、3L、13a、13b:2次コイル巻き
4、14a、14b:磁性体コア
6、39:接触プローブ
10:電磁気システム
17a、17b:閉ループ磁性体
19a、19b:ビーム磁性体
20:板スプリング
30:支持手段
32:移動ブロック
34:固定ブロック
36:支持台

Claims (7)

  1. 位置分解能を有する変位測定装置において、
    中空部を有す直方体の磁性体を用いて閉ループを形成し、前記磁性体の閉ループ内に磁気場を形成する主コイルと、前記中空部に配置した2次コイルとを受け入れる電磁気システムと;
    ここで、前記電磁気システムは‘E’の形状を有する複数の閉ループ磁性体と、閉ループが形成されるように前記複数の閉ループ磁性体の上下の両端部を連結するビーム磁性体と、
    前記閉ループ磁性体の内側突出部に巻かれた複数の主コイルと、
    前記複数の主コイルの間で前記ビーム磁性体と平行なように位置し、前記主コイルが囲んでいる閉ループ磁性体の内側突出部に離れて位置する複数のコアと、前記コアに巻かれる複数の2次コイルとを含み、
    第1の変位を入力する変位入力部と前記第1の変位に比例して増幅された第2の変位を出力する変位出力部を含むガイド手段と;を具備し、
    前記磁性体の閉ループの両面を挟むように複数の前記ガイド手段を配置し、
    前記ガイド手段の変位出力部に前記複数のコアの両端部が固定され、
    前記第1の変位が一軸方向にのみ入力されるように前記ガイド手段の変位入力部支持する変位検出部支持手段を含むことを特徴とする変位測定装置。
  2. 前記コアと前記ビーム磁性体の材質は同一であ請求項記載の変位測定装置。
  3. 前記ガイド手段は数百マイクロメータの厚さを有する板スプリングを成し、前記板スプリングの一部には前記変位入力部が突出されており、前記変位入力部の上側に前記ビーム磁性体に固定する固定部を配置し、前記板スプリングは複数の連結部以外をスリットで切断すると共に、前記変位入力部に接続する連結部を第1の連結部とし、前記固定部に接続する連結部を第2の連結部とし、前記変位出力部に接続する連結部を第3の連結部とするとき、
    前記第2の連結部から順次第1の連結部、第3の連結部の順番で前記固定部より離れる構成であり、前記第2の連結部を前記板スプリングの成す平面において回転する回転部とする構造であって、
    前記変位出力部を下記式のように変位出力す請求項記載の変位測定装置。
    Figure 0003646252
    ここで、ΔZ′は出力変位であり、ΔZは入力変位であり、Laは前記第1の連結部と第3の連結部間の距離であり、Lbは第1の連結部と第2の連結部間の距離である。
  4. 前記板スプリングはベリリウム銅板であって、2枚の前記板スプリングが前記電磁気システムの閉ループと平行なように前記電磁気システムの両側面に設けられ請求項記載の変位測定装置。
  5. 前記支持手段は前記電磁気システムに固定される固定ブロックと、接触プローブが設けられ、前記ガイド手段の変位入力部に固定される移動ブロック及び、前記固定ブロックと前記移動ブロックとを連結する支持台を含請求項記載の変位測定装置。
  6. 前記移動ブロックの両側面は前記電磁気システムの両側面に位置した2枚の板スプリングの変位入力部に両側面が固定され、前記移動ブロックに設けられた前記接触プローブは、前記移動ブロックの前記ビーム磁性体側面に対して裏面となる面に取り付けられて請求項記載の変位測定装置。
  7. 前記支持台は平面バーの形状を有し、前記電磁気システムの底面に固定された前記固定ブロックと前記移動ブロックの上下面とを連結す請求項又は請求項記載の変位測定装置。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6803758B1 (en) 2003-04-25 2004-10-12 Delphi Technologies, Inc. Non-contact magnetically variable differential transformer
US7946023B2 (en) * 2005-11-22 2011-05-24 Siemens Energy, Inc. Method and apparatus for measuring compression in a stator core
US8123704B2 (en) * 2008-02-07 2012-02-28 Richards Thomas J Calibration and measurement system
US9757053B2 (en) * 2008-02-07 2017-09-12 Thomas J. Richards Photo scaling guide configured to scale wounds or objects
US8558408B2 (en) 2010-09-29 2013-10-15 General Electric Company System and method for providing redundant power to a device
US8278779B2 (en) 2011-02-07 2012-10-02 General Electric Company System and method for providing redundant power to a device
US10247579B2 (en) * 2017-03-01 2019-04-02 Honeywell International Inc. Linear variable differential transformer (LVDT) calibration mechanism for precision rigging with vibration and accuracy tracking robustness
DE102018210704A1 (de) * 2018-06-29 2020-01-02 Robert Bosch Gmbh Wegaufnehmer
CN113188437B (zh) * 2019-07-17 2022-12-23 伟志股份公司 一种高精度城市建筑基坑常规变形监测系统及其监测方法
CN114427824B (zh) * 2021-12-16 2023-07-25 洛阳轴承研究所有限公司 一种磁轴承转子轴向位移测量方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1032931A (en) * 1961-10-10 1966-06-15 Lucas Industries Ltd Displacement measuring apparatus
US4121049A (en) * 1977-04-01 1978-10-17 Raytheon Company Position and force measuring system
US4487079A (en) * 1983-02-22 1984-12-11 Comptrol, Incorporated Dual range force transducer
JPS63309801A (ja) * 1987-06-12 1988-12-16 Canon Electronics Inc 可動部の位置検出装置
FR2656087B1 (fr) * 1989-12-14 1992-03-13 Commissariat Energie Atomique Capteur inductif et dispositifs de mesure du deplacement d'un organe mobile.
DE4031931A1 (de) * 1990-10-06 1992-04-09 Perthen Feinpruef Gmbh Induktiver laengenmesstaster
JPH0737881B2 (ja) * 1991-10-16 1995-04-26 株式会社荏原製作所 電磁誘導型センサのセンサ回路
JP3213041B2 (ja) * 1992-01-27 2001-09-25 株式会社荏原製作所 電磁誘導型センサのセンサ回路
US5469053A (en) 1992-11-02 1995-11-21 A - Tech Corporation E/U core linear variable differential transformer for precise displacement measurement
JPH09170905A (ja) * 1995-12-20 1997-06-30 Fuji Koki:Kk 変位検出装置

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