JP3644247B2 - 定電圧制御回路、半導体装置、及びこれらを具備した携帯用電子機器 - Google Patents
定電圧制御回路、半導体装置、及びこれらを具備した携帯用電子機器 Download PDFInfo
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【発明の属する技術分野】
本発明は、定電圧制御回路、半導体装置及びこれらを具備した携帯用電子機器に関するものであり、特に、発振回路に供給する定電圧を制御する定電圧制御回路を含む時計用ICに関するものである。
【0002】
【背景技術及び発明が解決しようとする課題】
この種の定電圧回路として例えば図18に示すものが挙げられる。図18には、一般的な水晶発振回路410及び定電圧発生回路400の一例が示されている。
【0003】
水晶発振回路410は、水晶振動子X’talと、発振用インバータINV100と、フィードバック回路を構成する高抵抗Rfとを有する。フィードバック回路は、抵抗Rf以外に、位相補償用のコンデンサCD,CGを含んで構成され、発振用インバータINV100のドレイン出力を、180度位相反転されたゲート入力として発振用インバータINV100のゲートへフィードバック入力するものである。
【0004】
発振用インバータINV100は、一対のP型電界効果トランジスタ(以下PMOSと記す)QP100,N型電界効果トランジスタ(以下NMOSと記す)QN100を含み、各PMOSQP100,NMOSQN100のゲートが入力側、ドレインが出力側として機能するように構成されている。そして、各トランジスタQP100,QN100は、そのドレイン側が互いに接続され、そのソース側がそれぞれ接地電圧Vdd側,負の定電圧Vreg側に接続されている。
【0005】
上記水晶発振回路410では、発振用インバータINV100に定電圧Vreg を印加すると、発振用インバータINV100の出力が180度位相反転されてゲートにフィードバック入力される。これにより、発振用インバータINV100を構成するPMOSQP100,NMOSQN100が交互にオンオフ駆動され、水晶発振回路410の発振出力が次第に増加し、水晶振動子X’talが安定発振動作する。
【0006】
この水晶発振回路では、発振停止電圧の絶対値|Vsto| は、NMOSQN100の閾値電圧をVthn0,PMOSQP100の閾値電圧をVthp0とすると、式1のように表わすことができる。
【0007】
式1;|Vsto|=K・(|Vthp0|+Vthn0)
ここで、定数Kは0.8〜0.9であり、|Vthp0|はVthp0の絶対値を示す。このように、発振停止電圧Vstoは、NMOSの閾値電圧Vthn0,PMOSの閾値電圧Vthp0に依存する。
【0008】
一方、定電圧発生回路400は、オペアンプOP100と、マイナス(以下−と記す)入力端子の制御用PMOSQP101と、プラス(以下+と記す)入力端子の制御用NMOSQN101と、出力用NMOSQN102とを有する。
【0009】
この回路の動作について説明すると、制御用PMOSQP101に定電流が流れることで、信号線401に制御用PMOSQP101の閾値電圧|Vthp1| に依存した電圧α|Vthp1|(α:定数)が生じる。そして、オペアンプOP100と出力用NMOSQN102により、信号線402は、信号線401と同一の電位α|Vthp1 |に制御される。さらに、制御用NMOSQN101に定電流源TNからの電流が流れることで、信号線402と出力ライン403との間に、制御用NMOSQN101の閾値電圧Vthn1に依存したαVthn1の電位差が生じる。よって、出力ライン403と接地電位Vddの間には、|Vthp1|+Vthn1に依存した定電圧α(|Vthp1|+Vthn1)が生じる。
【0010】
従って、定電圧発生回路400の出力電圧Vreg は、制御用PMOSQP101の閾値電圧Vthp1及び制御用NMOSQN101の閾値電圧Vthn1の影響を各々受ける。即ち、定電圧|Vreg| は|Vthp1|+Vthn1に比例し、動作回路としての水晶発振回路410は、|Vthp1|+Vthn1に依存した定電圧Vreg が供給される。
【0011】
そして、発振回路の低消費電力動作のために、従来は、定電圧発生回路を動作させる定電流源TN,TPの電流値を、定電圧発生回路が動作可能な範囲で、できるだけ少なくしていた。このため、発振用インバータの低消費電力化を図るために、発振動作確保(|Vreg|>|Vsto|)を満足しつつ、定電圧|Vreg|をできるだけ下げるということが必要となってきた。
【0012】
しかし、定電圧発生回路を動作させる定電流源からの定電流を少なくしていくと、温度変化により定電流が変動した場合の定電圧Vregの変化量が大きくなるという問題点が生じる。
【0013】
ここで、制御用NMOSQN101,制御用PMOSQP101を動作させる定電流源TN,TPの電流値には温度依存性がある。即ち、定電流源TN,TPは、例えば図17に示されるように、デプリーションタイプのPMOS(DPMOS)にて構成される場合、ドレイン電流(定電流)ID は、温度変化により変動する。
【0014】
また、定電圧Vregの温度変化に対する変化量は、定電流値IDの変化量と、制御用NMOSQN101の閾値電圧Vthn1,制御用PMOSQP101の閾値電圧Vthp1の絶対値の夫々の変化量との和となる。発振停止電圧Vstoの温度に対する変化量については、発振停止電圧Vstoは、前記式1に依存するので、NMOSQN100,PMOSQP100の閾値電圧の変化分になる。ここで、定電圧Vregの温度係数は、定電流源TN,TPにおける定電流の変化量と、閾値電圧(|Vthp1|+Vthn1)の変化量に依存し、発振停止電圧Vsto の温度係数は閾値電圧(|Vthp0|+Vthn0)の変化量に依存する。
【0015】
一例として、定電圧|Vreg| の方が温度に対して負の傾きが絶対値で大きい場合に、定電圧|Vreg|と発振停止電圧|Vsto|に関する温度と電圧の関係を図19に示す。
【0016】
図19においては、横軸を温度、縦軸を電圧とし、定電圧Vreg,発振停止電圧Vsto についてのグラフを示す。発振動作を確保するためには、動作保証温度範囲における高温時(図19に示すA点)においても、|Vreg|>|Vsto|を確保しなければならない。ここで、動作保証温度範囲は、一般に−10℃〜60℃であり、A点は、腕時計の耐熱温度等である。
【0017】
よって、他の低い温度領域では、定電圧|Vreg|を必要以上に高くしなければならなくなる。つまり、従来は定電圧Vregと発振停止電圧Vstoの温度勾配の差が大きくなり、高温側(あるいは低温側)の発振動作を保証するために、|Vreg|>|Vsto|を常に成り立たせなければならず、低温側(あるいは高温側)では、|Vreg|を発振動作を保証する以上に高くしなければならなかったため、結果として無駄な電力を消費していた。
【0018】
このため、定電圧Vregと発振停止電圧Vstoにおける|Vreg|>|Vsto|の関係を保ちつつ、定電圧|Vreg|をできるだけ低くする、ということは困難であり、発振回路のさらなる低消費電力化が図れなかった。
【0019】
また、従来定電圧Vreg は、図18における制御用PMOSQP1の閾値電圧の絶対値|Vthp1|,制御用NMOSQN1の閾値電圧Vthn1を夫々低くする等、NMOS、PMOSのサイズや閾値を変えることで、2又は3種類作り込み、ICのテストパット上で選択して用いる場合も考えられる。
【0020】
しかし、これでも定電圧Vreg は、PMOSQP101、NMOSQN101の閾値に非常に依存している為、半導体製造プロセス上で閾値電圧Vthp1及びVthn1の値がばらついて、|Vthp1|もしくはVthn1の値が変動し、ICの量産時にVreg の値も大きく変動するという問題点があった。
【0021】
また、閾値電圧による定電圧Vregの調整は、プロセス能力上0.1Vが限界であって、この調整により定電圧Vregを閾値電圧に依存させて変更した場合は、発振用インバータINV100のショート電流Isの値が大幅に変化してしまうという問題があった。
【0022】
さらに、半導体装置においては、低消費電力化の観点から、低電圧仕様のものが主流となりつつあるため、発振回路とともに使用される定電圧発生回路およびこれらを搭載した半導体装置においても、微小な電力の変動が、発振動作に大きな影響を与えることになるため、特に発振回路に供給される定電圧の微調整を可能とした定電圧発生回路が要求されるようになってきた。
【0023】
本発明は、上記した技術の課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、定電圧発生回路内のNMOS及びPMOSの製造時における閾値のバラツキと、温度特性とに依存する定電圧Vreg が変動しても、この定電圧の変動による動作回路の動作停止を防止して、定電圧Vreg の微調整により、さらなる低消費電力化を可能とした定電圧制御回路、半導体装置及びこれらを具備した携帯用電子機器を提供することにある。
【0024】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明に係る定電圧制御回路は、定電圧で動作する動作回路に接続され、前記動作回路の動作停止電圧に至らないように、変動する前記定電圧を制御する定電圧制御回路であって、前記動作回路に供給される少なくとも一つの第1の電圧と、前記第1の電圧と共に変動し前記第1の電圧の絶対値より低い第2の電圧と、を各々生成出力する定電圧発生手段と、前記第2の電圧の変動をモニタし、前記動作回路よりも先に動作停止する動作停止電圧に至るモニタ手段と、前記第2の電圧が前記モニタ手段の動作停止電圧に至ったことを、前記モニタ手段が検出すると、前記第1の電圧が前記動作回路の動作停止電圧に至らないように、前記定電圧発生手段の第1の電圧を変更制御する制御手段と、を有することを特徴とする。
【0025】
請求項1に記載の発明によれば、第2の電位は、第1の電位の絶対値より低いので、モニタ手段により第2の電圧の変動をモニタし、第1の電圧が動作回路の動作停止電圧付近にまで下降すると、第1の電圧が動作回路の動作停止電圧に至る前に、第2の電圧はモニタ手段の動作停止電圧に至る。従って、第1の電圧が動作停止電圧に至り動作回路が停止するのを防止でき、動作回路の動作を保証しつつ、最も低い定電圧で動作できるので、超低消費電力化が可能となる。
【0026】
請求項2に記載の発明に係る定電圧制御回路は、定電圧で動作する動作回路に接続され、変動する前記定電圧を制御する定電圧制御回路であって、前記動作回路に供給される第1の電圧を生成出力する定電圧発生手段と、前記第1の電圧をモニタするモニタ手段と、前記モニタ手段の検出結果に基づいて、前記定電圧発生手段の第1の電圧を変更制御する制御手段と、を有し、前記モニタ手段は、前記動作回路が停止する前に動作停止する構成としたことを特徴とする。
【0027】
請求項2に記載の発明によれば、第1の電圧をモニタ手段及び動作回路に供給しても、モニタ手段は、動作回路が停止する前に動作停止できる。従って、制御手段による第1の電圧の変更も、動作回路が動作停止する前になされるので、動作停止電圧より高い範囲内において、最低の電圧を定電圧とすることができ、低消費電力化に寄与できる。
【0028】
請求項3に記載の発明に係る定電圧制御回路は、請求項2において、前記動作回路は、第1のトランジスタを有し、前記モニタ手段は、前記第1のトランジスタの閾値の絶対値よりも高い値の閾値の絶対値を有する第2のトランジスタを有することを特徴とする。
【0029】
請求項3に記載の発明によれば、閾値の高いトランジスタほど低い電圧で止まりやすい。ここで、動作回路の第1のトランジスタの閾値の絶対値は、モニタ手段の第2のトランジスタの閾値の絶対値よりも高く設定されている。このため、動作回路が停止する前にモニタ手段の動作が停止し、動作停止電圧より高い範囲内において、最低の電圧を定電圧とすることができ、低消費電力化に寄与できる。
【0030】
請求項4に記載の発明に係る定電圧制御回路は、請求項2において、前記動作回路は、第1のトランジスタを有し、前記モニタ手段は、前記第1のトランジスタの電流増幅率よりも小さい電流増幅率を有する第2のトランジスタを有することを特徴とする。
【0031】
請求項4に記載の発明によれば、電流増幅率の小さいトランジスタは早く停止し易い。ここで、動作回路の第1のトランジスタの電流増幅率は、前記モニタ手段の第2のトランジスタのを電流増幅率よりも小さい。このため、同じ第1の電圧を入れたとしても、モニタ手段の電流増幅率が低いので、動作回路が停止する前にモニタ手段の動作が停止し、動作停止電圧より高い範囲内において、最低の電圧を定電圧とすることができ、低消費電力化に寄与できる。
【0032】
請求項5に記載の発明に係る定電圧制御回路は、請求項2において、前記モニタ手段は、前記動作回路に形成される論理素子よりも入力段数の多い論理素子を有することを特徴とする。
【0033】
請求項5に記載の発明によれば、同一電圧でも入力段数の多い論理素子の方が先に停止しやすい。このため、同じ第1の電圧を、モニタ手段及び動作回路に入力しても、モニタ手段の方が入力段数の多い論理素子を含んでいるので、動作回路が停止する前にモニタ手段の動作が停止し、動作停止電圧より高い範囲内において、最低の電圧を定電圧とすることができ、低消費電力化に寄与できる。
【0034】
請求項6に記載の発明に係る定電圧制御回路は、請求項1において、前記モニタ手段は、基準信号と、モニタしている前記第2の電圧に基づいて、動作停止時に動作停止信号を出力するモニタ回路を有することを特徴とする。
【0035】
請求項6に記載の発明によれば、第2の電圧が動作停止電圧に至ると、動作停止信号を出力することで、モニタ回路の動作停止を検出することができる。
【0036】
請求項7に記載の発明に係る定電圧制御回路は、請求項2〜請求項5のいずれかにおいて、前記モニタ手段は、基準信号と、モニタしている前記第1の電圧に基づいて、動作停止時に動作停止信号を出力するモニタ回路を有することを特徴とする。
【0037】
請求項7に記載の発明によれば、第1の電圧が動作停止電圧に至ると、動作停止信号を出力することで、モニタ回路の動作停止を検出することができる。
【0038】
請求項8に記載の発明に係る定電圧制御回路は、請求項6において、前記制御手段は、前記モニタ回路より出力される前記動作停止信号に基づいて、少なくとも一発の第1のパルスを出力するための第1のパルス生成手段と、所定の周期の第2のパルスを生成する第2のパルス生成手段と、一発の前記第1のパルスに基づいて、前記第1の電圧を上昇させる信号を前記定電圧発生手段に出力し、一定周期の前記第2のパルスに基づいて、前記第1の電圧を順次下降させる信号を前記定電圧発生手段に出力するためのパルス制御手段と、を有し、前記第1の電圧を、一定周期で順次下降させると共に前記モニタ回路の動作停止により上昇させるように制御することを特徴とする。
【0039】
請求項8に記載の発明によれば、温度変動に追従するように、モニターし、1回ある一定値にまで下げたら、温度変動のためのモニタを行なう。これにより、第1の電圧を、電源投入時は一番高い定電圧を供給するように設定し、通常動作時は第2のパルス生成手段により一定周期で順次下降させると共にモニタ手段の動作停止信号、第1のパルス生成手段により上昇させるようにパルス制御手段にて設定できる。よって、動作停止電圧に至らないように動作保証をしつつ、動作停止電圧に限りなく近い、最低の電圧を確保できる。従って、定電圧が供給される動作回路においても、定電圧と、動作発振停止電圧に関し、動作保証を満たしつつ、最低の定電圧を選択でき、動作回路が動作マージンを確保しつつできるだけ低い定電圧にて動作回路の動作を行うことができる。
【0040】
請求項9に記載の発明に係る定電圧制御回路は、 請求項1、6、8のいずれかにおいて、前記動作回路と前記モニタ手段とは、製造プロセスが同一に形成された回路であることを特徴とする。
【0041】
請求項9に記載の発明によれば、動作回路とモニタ手段とで製造プロセスが同一であることにより、各回路内部の素子の例えば温度特性等もほぼ同じとなり、第1の電圧の変動とそれより低い第2の電圧の変動とをほぼ同じにすることができ、第1の電圧の代わりに第2の電圧をモニタできる。
【0042】
請求項10に記載の発明に係る定電圧制御回路は、請求項1〜請求項9のいずれかにおいて、前記制御手段は、電源投入時は、第1の周期にて前記第1の電圧を可変し、通常動作時は、前記第1の周期より長い第2の周期にて前記第1の電圧を可変するように、前記第1、第2の周期を切換制御するモニタ周期制御部を有することを特徴とする。
【0043】
請求項10に記載の発明によれば、電源投入時は、一番高い定電圧を供給し、スタートさせ、動作を開始して、通常動作時は、一定周期で順次定電圧値を1ステップずつ下げていく。そして、モニタ手段が動作停止を検出すると、この検出後に、定電圧を上げ定常状態に至る。ここで、電源投入時から定常状態に至る期間は、通常の第2の周期より短い第1の周期で第1の電圧で供給することにより、上記期間を短縮してイニシャライズに係る時間を短縮しスループットの向上が図れる。
【0044】
請求項11に記載の発明に係る定電圧制御回路は、定電圧で動作する動作回路に接続され、前記動作回路に電圧を供給する定電圧発生手段と、前記動作回路よりも先に動作停止する動作停止電圧に至るモニタ手段と、前記モニタ手段の動作停止に基づいて、前記動作回路が前記動作停止電圧に至らないように制御する制御手段と、を有することを特徴とする。
【0045】
請求項11に記載の発明によれば、動作回路よりも先にモニタ手段が動作停止するので、動作回路が動作停止するのを未然に防止して、動作回路の動作を保証できる。
【0046】
請求項12に記載の発明に係る半導体装置は、動作回路と、前記動作回路への供給電圧を形成する請求項1〜請求項11のいずれかの定電圧制御回路と、を同一基板上に形成したことを特徴とする。
【0047】
請求項12に記載の発明によれば、動作回路に供給される電圧は、外部要因例えば温度特性や製造時の素子のバラツキ等に起因して変動するが、定電圧制御回路と共に形成することで、このような変動が生じる可能性があっても、電圧を制御することができる。尚、動作回路が例えば発振回路である場合には、加えて、定電圧の絶対値が、動作停止電圧の絶対値よりも大きいという状態を常に成り立たせることが可能となり、低い温度領域においても、定電圧を必要以上に高くする必要がなくなり、無駄な電力の消費をなくして、半導体装置の低消費電力化が可能となる。
【0048】
請求項13の発明は、請求項1〜請求項11のいずれかの定電圧制御回路を含む携帯用電子機器を定義している。
【0049】
この携帯用電子機器によれば、定電圧の微調整を行うことが可能となり、0.1V以下の微調整が容易に可能となり、使用電池の長寿命化をも図れ、携帯用の電子機器の使い勝手を向上することができると共に、最適な低消費電力,低電源電圧の携帯用電子機器を実現できる。
【0050】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を発振回路に適用した実施の形態について、図面を参照して具体的に説明する。
【0051】
[実施の形態1]
(システムの全体構成)
図1は、本例の定電圧制御回路を示している。本例の定電圧制御回路1は、図1に示すように、定電圧Vreg を出力する出力端子Aに動作回路を接続し、この動作回路に供給される定電圧Vreg が、種々の要因により変動する場合でも、定電圧Vreg を所望の定電圧値に制御するための回路である。尚、本例では、この制御対象となる動作回路の一例として図5に示すような水晶発振回路90を用いているが、動作回路としては、このような水晶発振回路に限定されるものではない。
【0052】
図1において、定電圧制御回路1は、定電圧Vreg 及び該電圧Vreg よりやや低い電圧Vregmを各々生成する定電圧発生手段としての定電圧発生回路10と、電圧Vregmの変動をモニタするモニタ手段20と、このモニタ手段20の検出結果に基づいて、定電圧発生回路10の電圧Vreg を変更制御する制御手段22と、を有する。
【0053】
定電圧発生回路10は、水晶発振回路90に供給される第1の電圧である定電圧Vreg と、定電圧Vreg と共に変動し|Vreg| >|Vregm|となる第2の電圧である電圧Vregmと、を各々生成出力する。尚、電圧|Vreg| と、電圧|Vregm|との差は、動作モニタ回路30の停止時であって、Vreg が切換わる以前に、発振回路90が停止しない範囲例えば10〜数10mvであることが好ましい。この差が小さすぎると、モニタがある周期で検出するから、この間に停止する恐れがある。
【0054】
モニタ手段20は、電圧Vreg と共に変動する電圧Vregmの変動をモニタするものである。このモニタ手段20は、動作位置検出タイミング信号(基準クロック)CKと、電圧Vregmのモニタ結果とに基づいて、電圧Vreg が水晶発振回路90の動作停止電圧に至る前に、電圧Vregmが動作停止電圧に至った場合に動作停止し、動作停止信号Xを出力する動作モニタ回路30を有する。ここで、動作モニタ回路30は、水晶発振回路90と同一の製造プロセスにて形成されることが好ましい。
【0055】
制御手段22は、動作モニタ回路30より出力される動作停止信号Xに基づいて、少なくとも一発の第1のパルス(up)を出力するための第1のパルス生成手段である微分回路50と、所定の周期φnの第2のパルス(down)を生成する第2のパルス生成手段24と、第1のパルスに基づいて電圧Vreg を上昇させる信号を定電圧発生回路10に出力し、第2のパルスに基づいて、電圧Vreg を順次下降させる信号を定電圧発生回路10に出力するためのパルス制御手段26と、有する。
【0056】
微分回路50は、動作停止信号XがHからLに切り換わる時に、カウントアップできる第1のパルスを、例えば1発だけアップダウンカウンター60に向けて出力する機能を有する。
【0057】
第2のパルス生成手段は24は、所定のタイミング信号生成するためのタイミング信号発生部80と、タイミング信号発生部80にて生成出力された所定の周期タイミング信号を、電源84に係る電源投入時のオンタイミングに基づいて、周期φnを変更制御するモニター周期制御部82と、を有する。
【0058】
パルス制御手段26は、第1のパルス(up)、周期φnの第2のパルス(down)をカウントするアップ−ダウンカウンター60と、このアップ−ダウンカウンター60の出力を、n本例えば8、16本等のシリアル信号を出力するように変換するためのデコーダ70を有する。
【0059】
アップ−ダウンカウンター60は、アップ用の入力信号である第1のパルス(up)と、ダウン用の入力信号である第2のパルス(down)が各々入力される。これにより、例えば4ビットであるとすると、第1のパルス(up)が入力すると「0000」がくると、「0001」になり、その次に、第2のパルス(down)が入力すると、「0000」に戻る。尚、位相をずらす等の工夫により、第1のパルス(up)と第2のパルス(down)が同時に入力するのを防止している。
【0060】
次に、定電圧制御回路の動作について説明する。
【0061】
電源投入時は、定電圧発生回路10は、一番高い定電圧Vreg を水晶発振回路90に供給するようにして、モニターを開始させる。
【0062】
動作を開始して通常動作時は、タイミング信号発生部80及びモニター周期制御部82から、一定周期φnの第2のパルス(down)をアップ−ダウンカウンター60に向けて出力する。すると、アップ−ダウンカウンター60のカウンタ値に基づいて、デコーダ70は、例えば8本の出力線を有する場合には、いずれか1本の出力線を所定の周期φn毎に選択状態とするように、信号を定電圧発生回路10に向けて出力する。これにより、定電圧発生回路10より出力される電圧Vreg は、所定の周期φn毎に、順次8段(or16段)の定電圧値を1ステップずつ下げていく。
【0063】
なお、デコーダ70の出力を例えば8本とした場合には、電圧Vreg の定電圧値を8種類用意でき、8段階の可変が可能であり、16本とした場合には、電圧Vreg の定電圧値を16種類用意でき、16段階の可変が可能である。また、この8又は16の分割数は、定電圧発生回路10内のMOSトランジスタのVthの製造バラツキの観点から、8、16等が特に好ましいが、それ以上であってもかまわない。
【0064】
動作モニタ回路30では、水晶発振回路90の図18に示す温度変動等に伴う定電圧Vreg に追従するように、水晶発振回路90に供給する定電圧Vreg より数十mv低い電圧Vregmをモニターしている。
【0065】
ここで、温度変動等の外部要因等により、例えば電圧Vreg が徐々に下がると、これと連動して電圧Vregmも下がる。そうして、電圧Vregmは電圧Vreg よりも数十mv低い電圧であるので、電圧Vreg が水晶発振回路90の動作停止電圧に至る前に、動作モニタ回路30は動作停止電圧に至る。尚、動作モニタ回路30は、水晶発振回路90と同一の製造プロセスにて形成するのが望ましい。また、動作モニタ回路30は、電源電圧低下により、水晶発振回路90よりも先に動作停止する回路構成とすることが望ましい。
【0066】
動作モニタ回路30が停止すると、動作モニタ回路30は動作停止信号Xを出力し、微分回路50は、この動作停止信号Xに基づいて、第1のパルス(up)をアップ−ダウンカウンター60に向けて出力する。すると、アップ−ダウンカウンター60のカウンタ値に基づいて、デコーダ70は、例えば8本の出力線を有する場合には、いずれか1本の出力線をHレベルとするように、信号を定電圧発生回路10に向けて出力する。
【0067】
これにより、定電圧発生回路10より出力される電圧Vreg は、1段上昇することとなる。その後、電圧Vreg を下降させるステップと、電圧Vreg を上昇させるステップと、を繰り返し行なうことで定電圧Vreg を制御し、その結果、定電圧Vreg は、定常状態に落ち着く。
【0068】
このように、水晶発振回路90が停止する前に、動作モニタ回路30が先に停止するので、水晶発振回路90の動作を停止させることなく動作を保証しつつ、定電圧Vreg を最も低い電圧(定電圧)で動作させることができるので、超低消費電力化が可能となる。
【0069】
(動作モニタ回路)
この動作モニタ回路30の一例を図2に示す。同図において、動作モニタ回路30は、所定のタイミング信号である基準クロックCKを分周する分周部32と、分周されたタイミング信号の電圧を変換する電圧変換部としてのレベルシフタ34と、電圧変換された信号を互いに相反転する信号とするためのインバータINV2、INV3と、動作停止時の動作停止信号Xを出力するクロック検出回路40と、を有する。
【0070】
分周部32は、フリップフロップFF1と、この出力に接続されたNANDゲートNAND1と、及びNANDゲートNAND1の2本に分岐する一方の出力に接続されたインバータINV1と、を有する。この分周部32では、例えば図3(A)に示すように、動作モニタ回路30が動作しているモニタONの時は、基準クロックCKが周波数2Kで入力されると、1/2分周してフリップフロップFF1の出力は、周波数1Kにて出力される。また、この分周部32には、電圧Vregmが供給され、動作モニタ回路30が動作停止したモニタOFFの時には、フリップフロップFF1の出力は、Hレベル(又はLレベル)状態が維持される。即ち、フリップフロップFF1の出力QがHである時に停止すると、Hが出力され、出力QがLである時に停止すると、Lが出力される。尚、分周部32は、フリップフロップFF1のみの構成であっても良い。
【0071】
ここにおいて、フリップフロップFF1は、半導体素子の中で一番停止し易く、電源電圧の依存を受けて動作し難い素子であるため、動作モニタ回路30の中にはフリップフロップを用いている。また、電流を絞り、駆動能力を抑える効果もある。なお、この動作停止しやすい論理素子としては、フリップフロップの他、基本的にはトランジスタが直列になる論理素子例えば複数入力、多入力のNANDゲート等が好ましい。この場合、NchTrが複数個直列にならんでいるので、動きづらく、トランジスタの直列の段数が多いほど好ましい。
【0072】
分周部32から出力された信号は、レベルシフタ34により電圧が上昇し、インバータINV2、INV3を介して、クロック検出回路40の入力A1、A2に互いに相反転した信号として入力される。
【0073】
(クロック検出回路)
ここで、クロック検出回路40の詳細について、図2を用いて説明する。クロック検出回路40は、図2に示すように、2つの入力A1、A2にある周期で互いに相反転する入力信号が供給され続けることで、出力XOより例えばHレベルの信号を出し続け、周期に拘らず一定の信号が入力A1、A2に入力される(クロックがこなくなる)と、出力XOより例えばLレベルの信号を出力する、という検出を行なう機能を有する。このクロック検出回路40の具体例を図4に示す。
【0074】
同図において、クロック検出回路40は、入力A1がゲートに接続されたNMOSQN50と、このNMOSQN50と直列に接続されて入力A2がゲートに接続されたNMOSQN51と、NMOSQN51のドレインに接続されたインバータINV4と、NMOSQN51のドレインと接地電位に維持されたグランドVDDとの間に接続されたコンデンサC2及び高抵抗R1と、NMOSQN50のドレイン及びNMOSQN51のソースの接続点とグランドVDDとに介在されたコンデンザC1と、を有する。
【0075】
このようなクロック検出回路40の動作は、以下のように行われる。即ち、順次電圧Vregが降下していくと、それと連動して電圧Vregmも下がっていく(この理由は後述する)。このような通常動作であれば、動作しづらいフリップフロップFF1は、分周動作を行なうので、FF1の出力は、HLHL・・と出力している。従って、動作モニタ回路30の動作中は、A1にH(L)、A2にL(H)が各々入力される。
【0076】
そして、A1にH、A2にLが各々入力されると、NMOSQN50がオン、NMOSQN51がオフする。この時、コンデンサC1に電圧VSSからの電荷を充電する。次に、A1にL、A2にHが各々入力されると、NMOSQN50がオフ、NMOSQN51がオンとなり、電圧VSSからの電荷をコンデンサC2に貯える。
【0077】
このように、クロックが入力すると、電圧VSSによる電位は、常にコンデンサC1、又はC2に充電されてしまうので、インバータINV4の入力電位は常にLレベルとなり、結果インバータINV4の出力は、Hに一定に保たれ、出力XO信号は例えばHを継続して出力する。このように、A1とA2との入力信号が互いに反転していれば、出力XOはHである。
【0078】
次に、電圧Vregmがさらに下がり、フリップフロップFF1の動作停止電圧(動作回路の動作停止電圧)に至ると、フリップフロップFF1は、分周動作を停止し、フリップフロップFF1の出力は、一定電位例えばLを出力し続ける。このため、クロック検出回路40の入力A1、A2には、クロックが入力されなくなる。そして、クロックが入力されないと、いずれか一方例えばNMOSQN51がオフする。すると、コンデンサC2に貯えられたVSSの電荷が、インバータINV4の入力側に放電する経路が与えられるので、コンデンサC2の電荷が保持できなくなり、時定数CRに基づいて電荷が放出する。従って、時間経過後に、高抵抗R1により、電位は常時Hレベル側に維持され、出力XOはLになる。
【0079】
このようにして、クロック検出回路40の出力XOは、クロックがきた時にHとなり、クロックがこないことを検出すると、最初例えばHを出力していたら、Lに切換えることにより、動作モニタ回路30の動作、動作停止の区別を検出できる。
【0080】
従って、クロック検出回路40は、動作モニタ回路30が停止したという動作停止信号を図1の微分回路50に向けて出力することとなる。
【0081】
(モニター周期制御部)
さらに、図1のモニター周期制御部82について簡単に説明する。モニター周期制御部82は、タイミング信号発生部80にて生成出力された所定の周期タイミング信号を、電源84に係る電源投入時のオンタイミングに基づいて、周期を変更制御する機能を有する。図7には、電源投入時から定常状態に至るまでの時間Tに対する定電圧Vregの変化の様子が示されている。
【0082】
即ち、図7に示すように、電源投入時t1から定常状態t2に至るイニシャル時には、周期をφn2(第1の周期)にて出力し、所定の時間経過後定常状態に至った場合には、周期をφn1(第2の周期)にて出力するよう、変更制御する。この場合、φn1の周期は、φn2より長い周期であることが好ましい。こうすると、電源投入から定常状態に至る期間t1〜t2短縮でき、スループットを向上させることができる。
【0083】
尚、本発明者が鋭意検討した結果、通常時のモニター周期φn1の最大値φn1maxは、100〜200[sec]、通常時のモニター周期φn1のmin値φn1minは、10[sec](100nA以下の消費電流で動作するICの場合)、イニシャル時のモニター周期φn2のmax値φn2maxは、速やかに適正Vreg値に落ち着く程度の周期、イニシャル時のモニター周期φn2のmin値φn2min は、1〜2sec[sec]程度とすることが好ましいことが判明した。
【0084】
従って、モニター周期制御部82は、φn1max、φn1min、φn2max、φn2minを必要に応じて自在に変更することが好ましい。
【0085】
尚、モニター周期φn2とφn1との切り換えタイミングは、図示しないタイマーをモニター周期制御部82内に内蔵し、所定の時間経過後に切り換える構成としてもよいし、電圧Vreg をモニタして定常状態に至ると切り換える構成としてもよい。
【0086】
(定電圧発生回路)
図5には、定電圧発生回路10および水晶発振回路90が示されている。この水晶発振回路90はクォーツタイプの腕時計に使用される水晶発振回路である。図5を用いて定電圧発生回路10について説明する。
【0087】
定電圧発生回路10は、水晶発振回路90へ供給する定電圧Vreg 、及び上記動作モニタ回路30でのモニタ用の電圧Vregmを形成するための回路であって、水晶発振回路の発振動作を保証する全温度範囲で定電圧Vreg を発振可能な最低の電圧まで下げることを可能とするものであり、オペアンプOP1と、オペアンプOP2と、選択回路10Pと、オペアンプOP1の出力用NMOSQN2と、オペアンプOP2の出力用NMOSQN4と、定電流源TN1・TN2・TPと、NMOSQN1及びNMOSQN3と、を含んで構成されている。
【0088】
図5の定電圧発生回路では、選択回路10Pにより、オペアンプOP2への一方の入力電圧、つまり、定電圧Vreg を制御する定電圧制御用PMOSを、複数かつ夫々電流増幅率β(ゲート長、ゲート幅)を異ならせて形成し、複数構成された定電圧制御用PMOSのうち最適な定電圧制御用PMOSを選択できる。
【0089】
また、NMOSQN3の例えばゲート幅を、NMOSQN1のゲート幅より大きくして、サイズを変えて形成することにより、上記電圧Vreg と電圧Vregmとの数十mVの電圧幅を形成している。
【0090】
オペアンプOP1は、+入力端子は定電圧制御用NMOSQN3により形成される電圧を受け、−入力端子は選択回路10Pにより形成される電圧を受ける。NMOSQN4は、オペアンプOP1の出力を受けてゲート入力電圧が制御される。
【0091】
オペアンプOP2は、+入力端子と−入力端子とを有し、+入力端子は定電圧制御用NMOSQN1により形成される電圧を受ける。そして、前記−入力端子は複数のPMOSQP10〜17により、オンオフ制御されるPMOSQP30〜37を含む選択回路10Pにより形成される電圧を受ける。そして、+入力端子に印加された電圧と、−入力端子に印加された電圧との電位差を増幅して出力する、所謂差動増幅器である。
【0092】
出力用NMOSQN2は、オペアンプOP2の出力をゲートに受けるものであって、且つ、ドレインが定電圧発生回路のVreg の出力ラインと接続されている。また、出力用NMOSQN2のソース及びバックゲートに電源電圧Vssが印加されている。
【0093】
PMOSQP30〜37を含む選択回路10Pは、定電圧発生回路により形成される定電圧Vregを、オペアンプOP1、2の−入力端子への入力電圧を制御することにより制御する回路である。そして、定電圧制御用PMOSQP30〜37の夫々のゲートとドレインが共通にオペアンプOP1、2の−入力端子に接続されている。即ち、定電圧制御用PMOSQP30〜37の各ドレイン及びゲートは電源電圧Vssと電気的に接続されているとともに、ソース側が選択制御用PMOSQP10〜12に夫々接続されている。
【0094】
ここで、定電圧制御用PMOSQP30〜37は、夫々異なる電流増幅率βにて形成されているものであって、PMOSQP30の電流増幅率β30、PMOSQP31の電流増幅率β31、・・・、PMOSQP37の電流増幅率β37は、例えば、β37>β36>・・・>β30の関係となるよう形成される。この電流増幅率の制御については、設計時に、ゲート幅,ゲート長をそれぞれ変えてレイアウトを行い、それに基づいて素子を形成することで行える。このレイアウトについては、特に、レイアウトルールにおいても問題なく形成でき、半導体製造プロセス上も何ら問題なく定電圧制御用PMOSを形成できる。
【0095】
そして、定電圧制御用PMOSQP30,QP31,・・・、QP37の夫々のソースと直列に接続され、かつ各ゲートにて選択信号SEL0〜7を受ける選択制御用PMOSQP10〜17が夫々対応して設けられる。また、選択制御用PMOSQP10〜17の各ソースには接地電圧Vddが印加されている。
【0096】
選択信号SEL0〜7は、上述した図1に示すデコーダ70より出力され、夫々異なる電流増幅率β30、β32、・・・、β37の定電圧制御用PMOSQP30〜37の中から1つのPMOSを選択するための信号である。選択信号SEL0〜7を形成するには、上述したアップ−ダウンカウンター60等を用いて行なうことができる。このアップダウンカウンター60は、定電圧発生回路10内の定電圧制御用PMOSQP30〜37のうち、最適な定電圧制御用PMOSを選択する選択信号SEL0〜7を形成するための回路である。よって、選択信号SEL0がロウレベルでPMOSQP30を選択状態、SEL1がロウレベルでPMOSQP31を選択状態、・・・・、SEL7がロウレベルでPMOSQP37を選択状態にできる。また、選択信号SEL0〜SEL7が夫々ハイレベルとされることによりPMOSQP30〜QP37を夫々非選択状態にできる。
【0097】
定電圧制御用PMOSQP30〜37は、定電圧Vreg を最適な状態で形成するために、いずれか一つの定電圧制御用PMOSに電流を流すものである。
【0098】
そして、+入力端子への入力電圧が固定されているため、オペアンプOP1、2への−入力端子への入力電圧、すなわち+入力端子と−入力端子における差電圧を選択することにより、オペアンプOP1、2からの出力信号すなわち定電圧Vregm、Vreg の大きさを制御できる。即ち、選択信号SEL0〜SEL7の入力により、定電圧制御用PMOSQP30〜37のオンオフを夫々制御し、最適な電流増幅率にて形成された定電圧制御用PMOSを1つ選択する。
【0099】
定電流源TN1、TN2、TPは、例えば、図17に示すようなデプリーションタイプのPMOS(DPMOS)により形成されている。尚、素子製造工程において、ゲート幅,ゲート長等のサイズ,不純物打ち込み濃度等に関して同一となるように、レイアウト設計,製造装置の制御を行うことによってMOSの製造条件を同一として、定電流源TN1、TN2、TPを形成することが好ましい。これにより、定電流源TN,TPは同一の温度特性をもつこととなる。
【0100】
次に、定電圧制御用PMOSの選択方法について説明する。
【0101】
選択信号SEL0がロウレベルとされ、選択制御用PMOSQP10のゲートにロウレベルの電圧が印加されるため、選択制御用PMOSQP10はオンする。従って、定電圧制御用PMOSQP30のソースがハイレベルとされる。このようにして、ゲートおよびドレインが電源Vssと電気的に接続された定電圧制御用PMOSQP30がオンするため、定電圧制御用PMOSQP30を選択できる。
【0102】
一方、この時、選択信号SEL2,・・・、SEL7はハイレベルとされるので、選択制御用PMOSQP11,・・・、QP17のゲートには夫々選択信号SEL2,・・・SEL7、すなわちハイレベルの信号が印加され、選択制御用PMOSQP32,・・・QP37はオフする。よって、選択制御用PMOSQP31,・・・QP37は接地電圧源Vdd,電源電圧源Vssの両電源と電気的に切り離され選択されない。
【0103】
異なる電流増幅率を有する定電圧制御用PMOS8個の中から、所望の定電圧制御用PMOSを1個選択することができる。例えば、電流増幅率の高いβ37を有する定電圧制御用PMOSQP37を選択した場合には、次のようにオペアンプOP2の出力電圧の定電圧Vregが形成される。
【0104】
即ち、定電圧制御用PMOSQP37に定電流が流れることによって、信号線100に定電圧制御用PMOSQP37の閾値電圧の絶対値|Vthp37|に依存した電圧α|Vthp37|が与えられる。そして、オペアンプOP2と出力用NMOSQN2の働きによって信号線101は、信号線100と同じ電位α|Vthp37|となる。
【0105】
そして、定電圧制御用NMOSQN1に定電流が流れることによって、信号線101と信号線102の間に、定電圧制御用NMOSQN1の閾値電圧Vthn1に依存したαVthn1の電位差が生じる。よって、信号線102の電位、すなわち定電圧Vreg 出力と接地電圧Vddの間には電位|Vthp37|+Vthn1に依存したα(|Vthp37|+Vthn1)の定電圧Vregが生じる。同様にして、信号線104にも定電圧Vregmが生じる。
【0106】
定電圧制御用NMOSQN1,定電圧制御用PMOSQP30〜37は飽和領域の電流にて動作するものである。そして、定電圧制御用NMOSQN1,夫々の閾値電圧については変動がないため、定電圧制御用PMOSQP30〜37のみに着目してみると、電流増幅率が大きくなるほど定電圧の絶対値|Vreg|は小さくなり、電流増幅率が小さくなるほど定電圧の絶対値|Vreg|は大きくなる。
【0107】
従って、定電圧制御用PMOSQP37を選択すると、定電圧の絶対値|Vreg|は最低となり、定電圧制御用PMOSQP30を選択すると、定電圧の絶対値|Vreg|は最高となる。ここで、例えば、電流増幅率β30とβ31,・・・・、β36とβ37との差は各々、1.2〜1.5倍程度に設定することができる。
【0108】
そして、定電圧Vregと、発振停止電圧Vstoとの関係において、|Vreg|>|Vsto|を満たす範囲で、定電圧の絶対値|Vreg|をできるだけ低下するように選択することで、発振回路及び定電圧発生回路の消費電力を大幅に小さくできる。
【0109】
このように、選択回路10Pを備えているため、最適な定電圧Vregを形成することができるので、定電圧Vregの微調整を行うことが可能となり、消費電力を極力小さくでき、さらには、半導体装置の低電源電圧に対応できる。
【0110】
従って、定電圧発生回路におけるオペアンプへの一方の端子への入力電圧を調整することにより、定電圧Vregの微調整を行うことが可能となる。このため、0.1V以下の微調整が可能となり、半導体装置を低電源電圧化においても悪影響を及ぼすことなく、携帯用電子機器,時計等に適用するのに最適な低消費電力、低電源電圧の半導体装置を実現することができる。
【0111】
また、上記説明では、選択信号SEL0〜SEL7のうち、一つだけを選択状態とする手法を採用したが、電流増幅率β30、β32、・・・、β37を変化させる事によっても定電圧|Vreg| を制御できるので、選択信号SEL0〜SEL7のうち、複数を選択状態とする手法を用いても良い。
【0112】
以上のように本実施の形態においては、異なる電流増幅率を有する定電圧制御用PMOSを8種類であるとして説明したが、この数は特に限定されることなく自由に設定でき、同様に選択信号の数も定電圧制御用PMOSの数と対応させて設けることができる。また、定電圧制御用PMOSの電流増幅率の設定をβ37>・・・>β36>β30として記載したが、これに限定されることなく、電流増幅率の設定を自由に設定できる。さらに、動作モニタ回路の停止を水晶発振回路よりも速くするための手法としては、上記に限定されず、動作モニタ回路内のトランジスタのしきい値を、水晶発振回路内のトランンジスタのしきい値よりも高く設定する構成、動作モニタ回路内のトランジスタの電流増幅率を、水晶発振回路内のトランンジスタの電流増幅率よりも小さく設定する構成、等であっても良い。
【0113】
[実施の形態2]
図6には、図5に示す定電圧発生回路10において、選択回路10P−1は、上段の定電圧制御用PMOSを8段、下段の選択制御用NMOSを8段の計16個を使用した構成としている。即ち、上記実施の形態1と異なり、下段の選択制御用MOSをPMOSに代えてNMOSを使用している。この場合でも上記同様の作用効果が得られる。
【0114】
[実施の形態3]
図8には、図5に示す定電圧発生回路10において、選択信号をSEL0〜15の16段とし、選択回路20Pは、定電圧制御用PMOSを16段、選択制御用PMOSを16段の計32個を使用した構成としている。また、上記デコーダ70の出力も16段とする必要がある。この場合には、異なる電流増幅率を有する定電圧制御用PMOSを16種類用いているので、定電圧Vreg の微調整をより細かく行うことが可能である。
【0115】
また、図9に示すように、選択回路30Pを、定電圧制御用NMOSを16段、選択制御用PMOSを16段の計32個を使用した構成としても良い。
【0116】
[実施の形態4]
図10に、オペアンプOP2の+入力端子に供給する電圧を制御した定電圧発生回路が示されている。図10の定電圧発生回路110は、オペアンプへの+入力端子への入力電圧を制御する定電圧制御用NMOSを複数、かつ夫々電流増幅率を異ならせて形成し、複数の定電圧制御用NMOSのうちから最適な定電圧制御用NMOSを選択することができるようにしたものである。
【0117】
図10の定電圧発生回路では、オペアンプOP2は、+入力端子は選択制御用NMOSQN10〜25によりオンオフ制御される定電圧制御用NMOSQN30〜45を含む選択回路10Nによって形成される電圧を受ける。ここで、定電圧制御用NMOSQN10〜25は、夫々異なる電流増幅率にて形成されているものであって、定電圧制御用NMOSQN25の電流増幅率βn25,定電圧制御用NMOSQN24の電流増幅率βn 24、・・・、定電圧制御用NMOSQN10の電流増幅率βn10は、例えば、βn25>βn24>・・・>βn10の関係となるように形成されている。
【0118】
そして、定電圧制御用NMOSQN10、QN11、・・・、QN25のソースと夫々直列に接続され、かつ各ゲートにて選択信号SEL0N〜15Nを受ける選択制御用NMOSQN30〜45が夫々対応して設けられている。いずれかの選択信号SEL0Nがハイレベルで定電圧制御用NMOSQN10を選択状態とすることができる。
【0119】
このように、オペアンプの+入力側の定電圧制御用NMOS16個のうちから、所望の定電圧制御用NMOSを1個選択することができ、定電圧Vreg と、発振停止電圧の関係において、|Vreg|>|Vsto|の条件を満たしつつ、最低の|Vreg|を選択することができるので、動作マージンを確保しつつできるだけ低い定電圧Vregにて発振動作を行うことを可能とする。
【0120】
尚、異なる電流増幅率を有する定電圧制御用NMOSが夫々16種類であるとして説明したが、この数は特に限定されることなく自由に設定できる。また、定電圧制御用NMOSの電流増幅率の設定をβn25>βn24>・・>βn10として記載したが、これに限定されることなく、電流増幅率の設定を自由に設定できる。
【0121】
[実施の形態5]
図11の定電圧発生回路は、オペアンプへの−入力端子への入力電圧を制御する定電圧制御用PMOSおよび+入力端子への入力電圧を制御する定電圧制御用NMOSを夫々複数、かつ夫々電流増幅率を異ならせて形成し、前記複数の定電圧制御用PMOSおよびNMOSから最適な定電圧制御用NMOSおよびPMOSを夫々選択することができるようにしたものである。
【0122】
この定電圧発生回路120は、選択回路10N,30Pを具備するものである。
【0123】
選択回路10Nにおける定電圧制御用NMOSQN10〜25は、夫々異なる電流増幅率にて形成され、選択信号SEL0N〜15Nは、定電圧制御用NMOSQN10〜25の中から1つの定電圧制御用NMOSを選択する。なお、これらのNMOSQN10〜25の配列を示したのが図12である。
【0124】
選択回路30Pにおける定電圧制御用PMOSQP30〜45は、夫々異なる電流増幅率にて形成され、選択信号SEL0P〜15Pは、定電圧制御用PMOSQP30〜45の中から1つの定電圧制御用PMOSを選択する。
【0125】
選択回路30P,10Nに含まれる定電圧制御用NMOS,PMOSの中から各々1つずつ選択し、選択された定電圧制御用NMOS,PMOSに夫々電流を流し、定電圧Vregの大きさを制御することを可能とするものである。
【0126】
ここで、選択回路10N,30Pにより、オペアンプOP2に印加する両端子の電圧を制御しているため、定電圧制御用NMOSとPMOSの組み合わせでオペアンプOPの出力電圧を選択することになる。
【0127】
即ち、オペアンプOP2の+入力側の定電圧制御用NMOS16個の中から、所望の定電圧制御用NMOSを1個選択でき、−入力側の定電圧制御用PMOS16個の中から、所望の定電圧制御用PMOSを1個選択できる。
【0128】
この時、定電圧Vregの選択幅を広げることができる。即ち、定電圧制御用NMOS,PMOSの組み合わせは16×16通り存在するため、発振停止電圧の絶対値|Vsto|の値によって、最適な前記定電圧制御用NMOS,PMOSの組み合わせを実現できる。即ち、2系統備えているため、オペアンプの両入力端子に供給される電圧を各々制御でき、最適な定電圧Vregを形成することができる。従って、定電圧Vregの微調整を行うことが可能となり、消費電力を極力小さくでき、半導体装置の低電源電圧に対応できる。
【0129】
定電圧制御用PMOSは16種類、NMOSは16種類存在するため、パターンは16×16通りとなり、このうち最適なものを選択できる。よって、この定電圧発生回路は、実施の形態1,2の定電圧発生回路よりも素子数は増加するが、定電圧Vregの選択幅は広がるため、定電圧Vregの微調整をより精密に行うことが可能になり、近年の電源の低電圧化に対応できる定電圧Vregを選択できる。
【0130】
以上、異なる電流増幅率を有する定電圧制御用PMOS,NMOSが夫々16種類であるとして説明したが、この数は特に限定されることなく自由に設定できる。また、定電圧制御用NMOSの電流増幅率の設定を自由に設定できる。
【0131】
[実施の形態6]
図13には、モニタ手段131に電圧Vreg を入力するタイプの定電圧制御回路131が図示されている。この場合には、定電圧制御回路131は、モニタ手段131と、モニタ手段131のモニタ検出結果に基づいて、定電圧発生回路134のVreg 値を制御する制御手段132と、電圧Vreg のみを出力する定電圧発生回路134とを有する。そして、定電圧発生回路134には動作回路135が接続され、電圧Vreg は、この動作回路135に供給されると共に、モニタ手段131内に形成された動作モニタ回路133へも供給されるよう構成される。
【0132】
そして、本例において重要なことは、動作モニタ回路133内に形成された図示しない第2のトランジスタの閾値の絶対値|Vth1 |を、動作回路135内に形成された図示しない第1のトランジスタの閾値の絶対値|Vth2 |よりも若干高く設定する。こうすると、閾値の高い第2のトランジスタほど低い電圧で止まりやすいので、動作モニタ回路133は第1の動作停止電圧で停止し、動作回路135は第1の動作停止電圧より低い第2の動作停止電圧で停止することとなる。
【0133】
これにより、上述した実施の形態1〜4に示すように、定電圧発生回路134にて低電圧Vregmを生成せずに済む。即ち、直接電圧Vreg をモニタし、同じ電圧を動作回路135と動作モニタ回路133とに各々供給したとしても、動作回路135が第2の動作停止電圧にて停止する前に、動作モニタ回路133が第1の動作停止電圧にて停止するため、動作モニタ回路133の方が先に停止することができる。
【0134】
尚、第1及び第2のトランジスタは、NMOS、PMOSのいずれであっても良い。
【0135】
また、動作モニタ回路及び動作回路に各々電圧Vreg を供給しつつも、動作モニタ回路の方を動作回路よりも先に停止させる手法として、上記のようにトランジスタの閾値を変更する手法の他、以下の手法が挙げられる。
【0136】
先ず、動作モニタ回路内の第2のトランジスタの電流増幅率を、動作回路内の第1のトランジスタの電流増幅率よりも小さく設定する手法が挙げられる。この場合にも、電流増幅率の小さい第2のトランジスタは早く止まるので、同じ電圧Vreg を入れたとしても、動作モニタ回路の第2のトランジスタの電流増幅率が低いので、動作モニタ回路の方がはやく停止することとなる。尚、電流増幅率は、(チャネル幅W/チャネル長L)=電流増幅率で表されることから、各トランジスタのチャネル幅W、又はチャネル長Lを所望に設定してやれば良い。
【0137】
さらに、動作モニタ回路に、動作回路に形成される論理素子よりも入力段数の多い論理素子を形成する構成であっても良い。この入力段数の多い論理素子の中でもとりわりフリップフロップが好ましい。この場合にも、動作モニタ回路の方が動作回路よりも先に停止することとなる。
【0138】
このように、動作モニタ回路には、動作回路よりもある電源で先に停止するような回路、同じ電源を入れても先に止まるような機能をもった回路、等を設ければ、どのような構成であっても良い。
【0139】
以上のように、本例によれば、Vregmの生成回路が不要となり、また動作モニタ回路を、動作回路と同じ電源供給条件であっても、先に停止させることができる。
【0140】
[実施の形態7]
次に、上述の定電圧制御回路を用いた携帯用電子機器の実施の形態について図14及び図15を用いて説明する。
【0141】
図14に腕時計に用いられる電子回路の一例が示されている。この腕時計は、図示しない発電機構を内蔵している。使用者が腕時計を装着し腕を動かすと、発電機構の回転錘が回転し、そのときの運動エネルギーにより発電ロータが高速回転され、発電ステータス側に設けられた発電コイル300から交流電圧が出力される。この交流電圧が、ダイオード302で整流され、二次電池301を充電する。この二次電池301は、昇圧回路303および補助コンデンサ304と共に主電源を構成する。
【0142】
本例では、二次電池の電圧が低くて時計の駆動電圧に満たないときには、昇圧回路303により二次電池の電圧を時計駆動可能な高電圧に変換し、補助コンデンサ304に蓄電する。そして、この補助コンデンサ304の電圧を電源として時計回路が動作する。
【0143】
この時計回路は、実施の形態1〜5のいずれかの定電圧発生回路およびそれと接続された水晶発振回路を含む半導体装置として構成されており、この半導体装置に端子を介して接続された水晶振動子X’talを用いて予め設定された発振周波数、ここで32768Hzの周波数の発振出力を生成し、この発振出力を分周することにより、一秒ごとに極性の異なる駆動パルスを出力するように構成されている。この駆動パルスは、時計回路に接続されたステップモータの駆動コイル306へ入力される。これにより、図示しないステップモータは、駆動パルスが通電されるごとにロータを回転駆動し、図示しない時計の秒針、分針、時針を駆動し、時刻を表示板にアナログ表示することになる。
【0144】
ここで、本例の時計回路330は、主電源から供給される電圧により駆動される電源電圧回路部220と、この電源電圧からこの値よりも低い所定の一定電圧Vregを生成する実施の形態1〜4のいずれかに記載した定電圧発生回路210と、この定電圧Vregにより駆動される定電圧動作回路部240とを含む。
【0145】
図15には、時計回路330のより詳細な機能ブロック図が示されている。定電圧動作回路部230は、外部接続された水晶振動子X’talを一部に含んで構成された水晶発振回路200と、波形整形ゲート201と、高周波分周回路202とを含んで構成される。
【0146】
電源電圧回路部220は、レベルシフタ203と、中低周波分周回路204と、その他の回路205とを含む。なお、本例の時計回路では、電源電圧回路部220と、定電圧発生回路210とは、主電源から供給される電圧により駆動される電源電圧動作回路部240を構成している。
【0147】
水晶発振回路200は、水晶振動子X’talを用いて基準周波数fs=32768Hzの正弦波出力を波形整形ゲート201に出力する。波形整形ゲート201は、この正弦波出力を矩形波に整形した後、高周波分周回路202へ出力する。高周波分周回路202は、基準周波数32768Hzを2048Hzまで分周し、その分周出力をレベルシフタ203を介して中低周波数分周回路204へ出力する。中低周波数分周回路204は、2048Hzまで分周された信号を、さらに1Hzまで分周し、その他の回路205へ入力する。その他の回路205は、1Hzの分周信号に同期してコイルを通電駆動するドライバ回路を含んで構成され、この1Hzの分周信号に同期して時計用駆動用ステップモータを駆動する。
【0148】
本例の時計回路において、主電源から供給される電源電圧Vssにより回路全体が駆動される電源電圧動作回路部240以外に、これにより低い定電圧Vregで駆動される定電圧動作回路部230を設けたのは以下の理由による。
【0149】
すなわち、このような時計回路では、長期間安定した動作を確保するために、その消費電力を低減することが必要となる。通常、回路の消費電力は、信号の周波数、回路の容量に比例し、さらに供給電源電圧の二乗に比例して増大する。ここで、時計回路に着目してみると、回路全体の消費電力を低減するためには、回路各部に供給する電源電圧を低い値、たとえばVregに設定すれば良い。この定電圧発生回路210は、水晶発振回路200の発振動作を補償する範囲で最小の定電圧Vregを形成することができる。
【0150】
次に、信号周波数に着目してみると、時計回路は、信号周波数が高い水晶発振回路200、波形整形ゲート201、高周波分周回路202と、それ以外の回路205とに大別することができる。この信号の周波数は、前述したように回路の消費電力と比例関係がある。
【0151】
そこで、本例の定電圧発生回路210は、主電源から供給される電源電圧Vssから、それより低い定電圧Vregを生成し、これを高周波信号を扱う回路部230、すなわち水晶発振回路200、波形整形ゲート201、高周波分周回路202へ供給している。このように、前記高周波信号を扱う回路230に対して供給する駆動電圧を低くすることにより、定電圧発生回路210の負担をさほど増加させることなく、時計回路全体の消費電力を効果的に低減することができる。尚、本実施の形態において、高周波分周回路202と中低周波分周回路204との間にレベルシフタ203を設けたのは、以下の理由による。
【0152】
高周波分周回路202の出力波高値は、定電圧Vregレベルであり、主電源の電圧Vssの波高値より小さい。このため、電源電圧Vssで駆動されている中低周波分周回路204に、高周波分周回路202の定電圧Vregレベルの出力をそのまま入力しても、この入力値が中低周波分周回路202の初段のロジックレベルの電圧を超えないため、中低周波分周回路204が正常に動作しない。よって、前記中低周波分周回路204が正常に動作するように、前記レベルシフタ203を使い、前記高周波分周回路202の出力波高値を定電圧レベルから電源電圧レベルまで引き上げている。
【0153】
以上述べたように、本例の時計回路及びこれを含む電子回路は、実施の形態1〜5の定電圧発生回路を含んでいるために、製造ばらつきによらず、発振用インバータの動作がマージンを確保しつつ、最小の定電圧を前記水晶発振回路に供給することができるため、電子回路、時計回路の低消費電力化が図れる。したがって、前述したような、時計または携帯用の電子機器において、発振動作を安定して行なうことができるだけでなく、使用電池の長寿命化を図ることができ、時計又は携帯用の電子機器の使い勝手を向上することができる。
【0154】
さらに、上記定電圧発生回路を適用することにより、定電圧発生回路におけるオペアンプへの端子への入力電圧を調整することにより、前記定電圧Vreg の微調整を行うことが可能となり、0.1V以下の微調整が容易に可能となり、最適な低消費電力,低電源電圧の携帯用電子機器,時計等を実現することができる。
【0155】
尚、実施の形態6のVreg のみを発生する定電圧制御回路を含む電子機器を構成する場合にも、図14、図15に各々示すVregmに相当する箇所をVreg と置き換え、定電圧発生回路も図18に示すオペアンプOPが1つのタイプの回路を使用すれば足りる。
【0156】
尚、本発明に係る装置と方法は、そのいくつかの特定の実施の形態に従って説明してきたが、当業者は本発明の主旨及び範囲から逸脱することなく本発明の本文に記述した実施の形態に対して種々の変形が可能である。例えば、動作回路と、定電圧制御回路とが一体的に形成されたIC、半導体素子であっても良い。また、動作回路専用のICと、定電圧制御回路専用のICとのを同一基板上に形成した装置であっても良い。
【0157】
さらに、動作回路としては、発振回路に限らず、他の高周波部分を含む回路等でも良く、要は、ある電圧以下に電圧が低くなるとその動作が停止する特性を有する回路であれば良い。また、動作回路として発振回路を用いて説明した都合上、発振回路の動作保証と定電圧Vreg の温度変動の特性の関係上、動作回路としては、定電圧を動作回路の動作停止電圧よりも高くするという条件を満たす範囲内で、変動する定電圧を制御するもの、即ち、定電圧が徐々に降下して動作停止電圧に至るのを防止する手法を採用したが、これに限定されるものではない。すなわち、動作回路として、ある電位以下になると動作停止するのではなく、ある電位以上になると動作停止をするもの、定電圧が徐々に上昇して動作停止電圧に至るのを防止するような構成、特性をもった回路等であっても良い。この場合には、定電圧制御回路は、その定電圧発生手段に電圧Vreg よりも若干高い電圧Vregnを形成することで、動作モニタ回路を動作回路よりも先に停止できる。
【0158】
また、定電圧発生回路は、水晶発振回路の発振用インバータに供給する一方の電源を形成する回路であるという観点から、定電圧発生回路へ電流を供給する定電流源と、水晶発振回路へ電流を供給する定電流源とにおいて温度特性を一致させることにより、定電圧Vregと発振停止電圧Vstoの温度特性を一致させる手法を用いても良い。
【0159】
さらに、定電圧発生回路における定電圧制御用NMOSQN1,PMOSQP1をともに飽和領域における電流範囲にて動作させることで、定電圧Vreg と発振停止電圧Vsto との温度特性を一致させる構成としても良い。
【0160】
さらにまた、定電流源TN,TPとして図16(a),(b)のような負の温度特性をもつ定電流源を用いることができる。
【0161】
図16(a)の定電流源は、負荷抵抗R,NMOSQN60〜62により構成される。すなわち、定電流源は、NMOSQN60と、NMOSQN60のソースとドレインが接続されたNMOSQN61と、NMOSQN60のドレインおよびゲートとそのゲートが接続されたNMOSQN62とを含む。そして、NMOSQN60,NMOSQN61は夫々ゲートとドレインが接続されており、NMOSQN62のドレインは負荷抵抗Rと接続されている。
【0162】
ここで、NMOSQN60,NMOSQN61,NMOSQN62は、夫々同一の製造条件および同一のレイアウトルールにて形成されたものである。すなわち、前記NMOSQN60〜62の電流増幅率は夫々、例えばβであり、ゲート幅,ゲート長は夫々同一であって、閾値電圧は夫々、例えばVthnとなる。よって、NMOSQN62のゲート−ソース間電圧VGSN62は、前記NMOSQN60とNMOSQN61の直列接続分の電圧となるため、閾値電圧Vthnの2倍の2Vthnとなる。
【0163】
このような定電流源を使用することにより、定電圧制御用NMOSQN1,PMOSQP1を飽和領域において動作させることができるので、定電圧Vregと発振停止電圧Vstoとの温度特性を同一とすることができるだけでなく、定電圧発生回路の製造工程においても、デプリーションPMOS(DPMOS)をわざわざ形成する必要がなくなるために、不純物打ち込み工程を削減することが可能となり、製造プロセス上も有利となる。
【0164】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る定電圧制御回路の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図2】図1の定電圧制御回路の動作停止モニタ回路の詳細を示すブロック図である。
【図3】同図(A)は、図2の動作モニタ回路の分周部における出力波形を示したタイミングチャートであり、同図(B)は、図2のクロック検出回路の入力と出力との関係を示したタイミングチャートである。
【図4】図2の動作停止モニタ回路のクロック検出回路の詳細を示す回路図である。
【図5】図1の定電圧制御回路の定電圧発生回路の詳細を示す回路図である。
【図6】図5の回路図のさらに詳細を示す回路図である。
【図7】図1の定電圧制御回路の周波数制御部の出力φn1、φn2の経時変化を示すタイミングチャートである。
【図8】本発明に係る定電圧制御回路の他の実施の形態の一例を示す回路図である。
【図9】本発明に係る定電圧制御回路の他の実施の形態の一例を示す回路図である。
【図10】本発明に係る定電圧制御回路の他の実施の形態の一例を示す回路図である。
【図11】本発明に係る定電圧制御回路の他の実施の形態の一例を示す回路図である。
【図12】本発明に係る定電圧制御回路の他の実施の形態の一例を示す回路図である。
【図13】本発明に係る定電圧制御回路の他の実施の形態の一例を示すブロック図である。
【図14】本発明に係る定電圧制御回路を含む時計回路を示すブロック図である。
【図15】本発明に係る定電圧制御回路を含む電子機器を示すブロック図である。
【図16】本発明に係る定電圧制御回路の定電圧発生回路内の定電流源の一例を示す概略図であり、(a)は定電流源TN、(b)は定電流源TPを各々示す。
【図17】本発明に係る定電圧制御回路の定電圧発生回路内の定電流源TNの一例を示す概略図である。
【図18】従来の定電圧発生回路の概略を示す回路図である。
【図19】従来の定電圧発生回路のVregと発振停止電圧Vstoの温度特性において、|Vreg |の方が温度に対して負の傾きが絶対値で大きい場合の、|Vsto |に関する温度と電圧との関係について示すグラフである。
【符号の説明】
1 定電圧制御回路
10 定電圧発生回路
20 モニタ手段
22 制御手段
30 動作モニタ回路
36 レベルシフタ
40 クロック検出回路
50 微分回路
60 アップダウンカウンター
90 水晶発振回路
330 時計回路
Claims (13)
- 定電圧で動作する動作回路に接続され、前記動作回路の動作停止電圧に至らないように、変動する前記定電圧を制御する定電圧制御回路であって、
前記動作回路に供給される少なくとも一つの第1の電圧と、前記第1の電圧と共に変動し前記第1の電圧の絶対値より低い第2の電圧と、を各々生成出力する定電圧発生手段と、
前記第2の電圧の変動をモニタし、前記動作回路よりも先に動作停止する動作停止電圧に至るモニタ手段と、
前記第2の電圧が前記モニタ手段の前記動作停止電圧に至ったことを、前記モニタ手段が検出すると、前記第1の電圧が前記動作回路の動作停止電圧に至らないように、前記定電圧発生手段の第1の電圧を変更制御する制御手段と、
を有することを特徴とする定電圧制御回路。 - 定電圧で動作する動作回路に接続され、変動する前記定電圧を制御する定電圧制御回路であって、
前記動作回路に供給される第1の電圧を生成出力する定電圧発生手段と、
前記第1の電圧をモニタするモニタ手段と、
前記モニタ手段の検出結果に基づいて、前記定電圧発生手段の第1の電圧を変更制御する制御手段と、
を有し、
前記モニタ手段は、前記動作回路が停止する前に動作停止する構成としたことを特徴とする定電圧制御回路。 - 請求項2において、
前記動作回路は、第1のトランジスタを有し、
前記モニタ手段は、前記第1のトランジスタの閾値の絶対値よりも高い値の閾値の絶対値を有する第2のトランジスタを有することを特徴とする定電圧制御回路。 - 請求項2において、
前記動作回路は、第1のトランジスタを有し、
前記モニタ手段は、前記第1のトランジスタの電流増幅率よりも小さい電流増幅率を有する第2のトランジスタを有することを特徴とする定電圧制御回路。 - 請求項2において、
前記モニタ手段は、前記動作回路に形成される論理素子よりも入力段数の多い論理素子を有することを特徴とする定電圧制御回路。 - 請求項1において、
前記モニタ手段は、基準信号と、モニタしている前記第2の電圧に基づいて、動作停止時に動作停止信号を出力するモニタ回路を有することを特徴とする定電圧制御回路。 - 請求項2〜請求項5のいずれかにおいて、
前記モニタ手段は、基準信号と、モニタしている前記第1の電圧に基づいて、動作停止時に動作停止信号を出力するモニタ回路を有することを特徴とする定電圧制御回路。 - 請求項6において、
前記制御手段は、
前記モニタ回路より出力される前記動作停止信号に基づいて、少なくとも一発の第1のパルスを出力するための第1のパルス生成手段と、
所定の周期の第2のパルスを生成する第2のパルス生成手段と、
一発の前記第1のパルスに基づいて、前記第1の電圧を上昇させる信号を前記定電圧発生手段に出力し、一定周期の前記第2のパルスに基づいて、前記第1の電圧を順次下降させる信号を前記定電圧発生手段に出力するためのパルス制御手段と、
を有し、
前記第1の電圧を、一定周期で順次下降させると共に前記モニタ回路の動作停止により上昇させるように制御することを特徴とする定電圧制御回路。 - 請求項1、6、8のいずれかにおいて、
前記動作回路と前記モニタ手段とは、製造プロセスが同一に形成された回路であること特徴とする定電圧制御回路。 - 請求項1〜請求項9のいずれかにおいて、
前記制御手段は、電源投入時は、第1の周期にて前記第1の電圧を可変し、通常動作時は、前記第1の周期より長い第2の周期にて前記第1の電圧を可変するように、前記第1、第2の周期を切換制御するモニタ周期制御部を有することを特徴とする定電圧制御回路。 - 定電圧で動作する動作回路に接続され、前記動作回路に電圧を供給する定電圧発生手段と、
前記動作回路よりも先に動作停止する動作停止電圧に至るモニタ手段と、
前記モニタ手段の動作停止に基づいて、前記動作回路が前記動作停止電圧に至らないように制御する制御手段と、
を有することを特徴とする定電圧制御回路。 - 動作回路と、前記動作回路への供給電圧を形成する請求項1〜請求項11のいずれかの定電圧制御回路と、を同一基板上に形成したことを特徴とする半導体装置。
- 請求項1〜請求項11のいずれかに記載の定電圧制御回路を含む携帯用電子機器。
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