JP3641524B2 - カメラ用シャッタ及びその異常検出方法 - Google Patents

カメラ用シャッタ及びその異常検出方法 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の技術分野】
本発明はカメラ用シャッタ及びその異常検出方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来のカメラ用フォーカルプレーンシャッタの構成を図6に示している。シャッタ基板101には開口101cが設けられ、シャッタ基板101上の軸101aには開放レバー111が回転可能に嵌入され、開放バネ(図示せず)により反時計方向に付勢される。同様に、シャッタ基板101上の軸101bには閉鎖レバー121が回転可能に嵌入され、閉鎖バネ(図示せず)により反時計方向に付勢される。開放レバー111と閉鎖レバー121とのそれぞれの先端に設けた開放レバーピン111b、閉鎖レバーピン121bには先幕ユニット113、後幕ユニット123がそれぞれ連結されている。
【0003】
シャッタ基板101の軸101dにはチャージレバー130が回転可能に嵌入され、チャージバネ(図示せず)により時計方向に付勢される。
【0004】
シャッタ基板101の軸101a,101bの上端には、プリント基板160が支持されており、下面側にはプリント基板160にはんだ付けによって導通接続される先幕電磁石112と後幕電磁石122とが固定される。先幕電磁石112及び後幕電磁石122は、図示しない演算回路(CPU)に接続されて制御される。プリント基板160には、先幕接片押161a及び先幕接片受161bと、後幕接片押162a及び後幕接片受162bとがリベットにより固定される。
【0005】
通常、このような従来のシャッタは、撮影待機状態においてシャッタチャージ状態となるように設定されている。まず、撮影者がレリーズボタンを押しレリーズ操作を行うと、CPUが、チャージ位置にある先幕電磁石112及び後幕電磁石122に通電を開始し、開放レバー111及び閉鎖レバー121を吸着保持させる。この状態では先幕ユニット113のみが開口101cを閉鎖している。
【0006】
次に、図示しないカメラ側チャージ部材が退避することによって、チャージ位置に保持されていたチャージレバー130がチャージバネのバネ力によって時計方向に回転し静止位置に復帰する。
【0007】
そこでCPUが先幕電磁石112への通電をオフにすると、先幕電磁石112は消磁し、吸着を解除された開放レバー111は開放バネに付勢されて反時計方向に回転し、先幕ユニット113は開口101cを開放し始め露出作動が開始する。開口101cが全開近くなると、開放レバー111は作動終了位置付近に達し、開放レバーボス111aが先幕接片押161aに当接して押圧し、先幕接片押161aは先幕接片受161bに接触し導通する。
【0008】
開放レバー111が作動終了位置に到達し、所望の露出時間が完了すると、CPUは後幕電磁石122への通電をオフにし、後幕電磁石122は消磁し、吸着を解除された閉鎖レバー121は閉鎖バネに付勢されて反時計方向に回転し、後幕ユニット123は開口101cを閉鎖し始める。開口101cが全閉近くなると、閉鎖レバー121は作動終了位置付近に達し、閉鎖レバーボス121aが後幕接片押162aに当接して押圧し、閉鎖レバー121が作動終了位置に到達し露出作動が完了する頃に、後幕接片押162aは後幕接片受162bに接触し導通する。なお、この後、CPUからフィルム巻き上げ信号が出力されフィルム巻き上げ動作が行われるとともに、シャッタチャージ信号が出力され、図示しないカメラ側チャージ部材がチャージレバー130をチャージバネのバネ力に抗して反時計方向に回転し、チャージレバー130は開放レバー111及び閉鎖レバー121を押圧して時計方向に回転させる。そしてシャッタチャージ位置に達すると、図示しない係止手段により係止される。こうして、先幕が開口を閉鎖するシャッタチャージ状態に復帰し、一連の動作が完了する。
【0009】
このカメラ用シャッタの異常検出は、先幕の場合は先幕電磁石112への通電をオフにするタイミングと先幕接片161a,161bが接触導通するタイミングとの前後関係によって行う。すなわち、先幕電磁石112への通電をオフにするよりも前に両先幕接片161a,161bが接触して導通すると、CPUが先幕動作異常を検知する。後幕の場合は後幕電磁石122への通電をオフにするタイミングと後幕接片162a,162bが接触導通するタイミングとの前後関係によって行う。すなわち、後幕電磁石122への通電をオフにするよりも前に両後幕接片162a,162bが接触して導通すると、CPUが後幕動作異常を検知する。
【0010】
【解決しようとする課題】
上記従来の構成では、先幕または後幕の動作異常を検出するために、先幕接片及び後幕接片を検出用部品として設ける必要があった。しかし、接片の設置スペースがカメラの小型化の妨げとなっている。また、接片は金属板の導電性及びバネ性を利用しているので、表面の経時変化により導通抵抗が上昇しついには絶縁性となって出力不可能となったり、経時劣化によりバネ性が失われ接片の接離が不確実になるなど信頼性に乏しい。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明では、電磁石の電圧波形に基づいて羽根部材の動作異常を検出するようにして、経時的な劣化のない信頼性の高いシャッタ動作の異常検出を可能にする。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明に係るカメラ用シャッタは、シャッタ開口を開放・閉鎖する羽根部材と、羽根部材の作動開始時期を制御する電磁石と、電磁石をオン・オフするスイッチング手段とを有するものであり、スイッチング手段によるスイッチング時に電磁石における電圧がマイナスの値に低下してから再び0Vにて安定する逆起電圧に関して、前記マイナスの値と0Vとの間の所定の電圧値を基準電圧とし、前記電圧が前記マイナスの値に低下して前記マイナスの値から復帰するときに、前記電圧が前記基準電圧に1回目に到達してから前記電圧が前記基準電圧に2回目に到達するまでの復帰時間を検出する復帰時間検出手段と、復帰時間と基準時間とを比較してその比較結果により電磁石の動作異常を検出する異常検出手段とを有する。
【0013】
具体的には、羽根部材は先幕ユニットと後幕ユニットとからなり、電磁石は、先幕ユニットを制御する先幕電磁石と後幕ユニットを制御する後幕電磁石とからなり、1対のスイッチング手段によりそれぞれ独立してスイッチングされるものである。
【0014】
また、本発明のカメラ用シャッタの異常検出方法は、スイッチング手段により電磁石をスイッチングした時に発生する前記電磁石における電圧がマイナスの値に低下してから再び0Vにて安定する逆起電圧に関して、前記マイナスの値と0Vとの間の所定の電圧値を基準電圧とし、前記電圧が前記マイナスの値に低下して前記マイナスの値から復帰するときに、前記電圧が前記基準電圧に1回目に到達してから前記電圧が前記基準電圧に2回目に到達するまでの復帰時間を検出し、復帰時間と基準時間とを比較してその比較結果により電磁石の動作異常を検出するものである。
【0015】
【実施例】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。図1はシャッタ要部の構成を示す斜視図である。
【0016】
シャッタ基板1には軸1a,1b及び開口1cが設けられている。軸1aには開放レバー11が回転可能に嵌入され、図示しない開放バネにより反時計方向に付勢されている。開放レバー11は、開放レバーボス11aと開放レバーピン11bとを有し、開放レバーピン11bは先幕ユニット(羽根部材)13に連結され、後述する先幕電磁石12により制御される。軸1bには閉鎖レバー21が回転可能に嵌入され、図示しない閉鎖バネにより反時計方向に付勢されている。閉鎖レバー21は、閉鎖レバーボス21aと閉鎖レバーピン21bとを有し、閉鎖レバーピン21bは後幕ユニット23(羽根部材)に連結され、後述する後幕電磁石22により制御される。
【0017】
軸1dにはチャージレバー30が回転可能に嵌入され、図示しないチャージバネにより時計方向に付勢されている。軸1a,1bの上端にはプリント基板60がねじ止め固定され、下面側には、プリント基板にはんだ付けにて導通接続される先幕電磁石12及び後幕電磁石22が固定される。
【0018】
図2にはシャッタ要部の制御回路を示している。カメラのシステム全体を制御する制御回路であるCPU(異常検出手段)50は、プログラムやデータを半永久的に保持するリード・オンリー・メモリ(ROM)50a、データの演算や一時的な記憶に使われるランダム・アクセス・メモリ(RAM)50b、デジタル/アナログ・コンバータ(D/Aコンバータ)50c、セット,クリア,スタート,ストップの各動作が可能なタイマー(復帰時間検出手段)50dを内蔵している。D/Aコンバータ50cの出力はコンパレータ51及びコンパレータ52の反転入力端子にそれぞれ導かれている。 また、CPU50は電子的スイッチング手段の一例としてのトランジスタ12aを制御して先幕電磁石12を駆動する。先幕電磁石12の作る逆起電力を吸収するためコンデンサ12bが並列に接続されている。同様に、CPU50はトランジスタ(スイッチング手段)22aを制御して後幕電磁石22を駆動し、後幕電磁石22と並列にコンデンサ22bが接続されている。
【0019】
次にこのカメラ用シャッタの動作について説明する。図1には撮影待機状態を示している。チャージレバー30は開放レバー11及び閉鎖レバー21をチャージ状態に保持し、先幕ユニット13は開口1cを完全に閉鎖し、後幕ユニット23は開口1cの対向位置から完全に退避している。
【0020】
まず、先幕、後幕ともに正常に動作した場合について説明する。撮影者がレリーズ操作を行うと、CPU50が、タイマー50dをクリアしてからスタートし、チャージ位置にある先幕電磁石12及び後幕電磁石22に通電し、開放レバー11及び閉鎖レバー21を吸着保持させる。そこでチャージレバー30が係止を解かれバネ力によって時計方向に回転する。
【0021】
次にCPUがトランジスタ12aをオフにして先幕電磁石12への通電を停止する。先幕電磁石12から吸着を解除された開放レバー11は開放バネに付勢されて反時計方向に回転し、開放レバーボス11aに連結されている先幕ユニット13は開口1cを開放する。
【0022】
露出時間が設定値に到達すると、CPU50はトランジスタ22aをオフにして後幕電磁石22への通電を停止する。後幕電磁石22の吸着を解除された閉鎖レバー21は閉鎖バネに付勢されて反時計方向に回転し、閉鎖レバーボス21aに連結されている後幕ユニット23は開口1cを閉鎖する。
【0023】
この一連の動作において、先幕と後幕を制御する電磁石がともに正常に作動する場合の電磁石の電圧波形を図3に示しており、先幕電磁石12の電圧波形をVmg1、後幕電磁石22の電圧波形をVmg2とする。電磁石への通電が停止された後、一旦大きくマイナスの値に低下してから再び上昇して0Vにて安定するものであり、その過程である所定の電圧Vとなる時点が2回存在する。そこでVmg1が1回目に電圧Vに到達してから2回目に到達するまでの時間T1を、予め記憶されている基準値Tと比較して、誤差が許容範囲内(例えば5%以下)であれば先幕ユニット13の動作が正常であると判断する。同様に、Vmg2が1回目に電圧Vに到達してから2回目に到達するまでの時間T2を、基準値Tと比較して、誤差が許容範囲内であれば後幕ユニット23の動作が正常であると判断する。
【0024】
その後、CPUからの信号によりフィルム巻き上げ動作が行われるとともに、チャージレバー30が開放レバー11及び閉鎖レバー21を押圧しシャッタチャージ位置にて係止される。こうして、先幕ユニット13が開口を閉鎖するシャッタチャージ状態に復帰し、一連の動作が完了する。
【0025】
次に、先幕ユニット13の動作が異常である場合の電圧波形を図4に示している。撮影者がレリーズ操作を行って先幕電磁石12及び後幕電磁石22に通電し、開放レバー11及び閉鎖レバー21を保持しているチャージレバー30を退避させる。本来は、先幕電磁石12により開放レバー11を、後幕電磁石22により閉鎖レバー21をそれぞれ吸着するが、何らかの理由で先幕電磁石12が開放レバー11を吸着保持できないと、チャージレバー30に連動して開放レバー11が作動して、所定のタイミングより前に先幕ユニット13が開口1cを開放してしまう。その後、後幕電磁石22がオフとなり後幕ユニット23が開口1cを閉鎖する。
【0026】
この場合、先幕電磁石12の電圧波形は図4のVmg1のようになり、所定の電圧Vに1回目に到達してから2回目に到達するまでの時間T3は、基準値Tよりも非常に小さく許容範囲を越えるため、CPU50は先幕動作異常と判断する。なお、このような電圧波形となる理由は、開放レバー11を吸着保持している状態と吸着保持していない状態とでは先幕電磁石12のインダクタンスが異なるため、図4の状態(チャージレバー30退避時に開放レバー11を吸着保持できない状態)は、正常な状態(チャージレバー30退避時に開放レバー11を吸着保持した状態)と比べて、先幕電磁石12とコンデンサ12bとの作る時定数が異なることによるものである。なお、後幕ユニット23には動作異常は生じていないため、後幕電磁石22の電圧波形Vmg2は正常な状態(図3)と同様であり、時間T4は基準値Tの許容範囲内に入る。
【0027】
次に、後幕ユニット23の動作が異常である場合の電圧波形を図5に示している。撮影者がレリーズ操作を行って先幕電磁石12及び後幕電磁石22に通電し、チャージレバー30を退避させる。何らかの理由で後幕電磁石22が閉鎖レバー21を吸着保持できない場合、チャージレバー30に連動して開放レバー21が作動して、先幕ユニット13が開口1cを開放するよりも前に、後幕ユニット23が開口1cを閉鎖する。その後で先幕ユニット13は開口1cから退避するが、後幕ユニット23が開口1cを閉鎖した状態にあるので、露出は行われない。
【0028】
この場合、後幕電磁石22の電圧波形は図5のVmg2のようになり、所定の電圧Vに1回目に到達してから2回目に到達するまでの時間T6は、基準値Tよりも非常に小さく許容範囲を越えるため、CPU50は後幕動作異常と判断する。これは、前記と同様に、後幕電磁石22のインダクタンスの変化に伴う後幕電磁石22とコンデンサ22bとの作る時定数の変化によるものである。なお、先幕ユニット13には動作異常は生じておらず、先幕電磁石の電圧波形Vmg1は正常である。
【0029】
図4,5に示すようにCPU50が動作異常と判断した場合は、図示しない警告手段が使用者に対する警告表示を行う。さらに、この警告表示がなされた場合に次回のシャッタ動作を禁止する構成、または警告表示が複数回繰り返された場合にシャッタ動作を禁止する構成とすることもできる。
【0030】
なお本発明は、フォーカルプレーンシャッタに限られず、レンズシャッタに採用することも可能である。
【0031】
【発明の効果】
本発明によると、異常検出のための接片を用いた機械的な検出手段が不要となるので、経時的な劣化を生じることなく常に確実な異常検出が可能であり、信頼性が向上する。また、機械的検出手段を設けるスペースが必要ではないため、カメラをより小型化できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のカメラ用シャッタの要部斜視図
【図2】 本発明のカメラ用シャッタの制御回路ブロック図
【図3】 正常動作時の電圧波形図
【図4】 先幕動作異常時の電圧波形図
【図5】 後幕動作異常時の電圧波形図
【図6】 従来のカメラ用シャッタの要部斜視図
【符号の説明】
1c 開口
12 先幕電磁石
12a,22a トランジスタ(スイッチング手段)
13 先幕ユニット(羽根部材)
22 後幕電磁石
23 後幕ユニット(羽根部材)
50 CPU(異常検出手段)

Claims (3)

  1. シャッタ開口を開放・閉鎖する羽根部材と、前記羽根部材の作動開始時期を制御する電磁石と、前記電磁石をオン・オフするスイッチング手段とを有するカメラ用シャッタにおいて、
    前記スイッチング手段によるスイッチング時に前記電磁石における電圧がマイナスの値に低下してから再び0Vにて安定する逆起電圧に関して、前記マイナスの値と0Vとの間の所定の電圧値を基準電圧とし、
    前記電圧が前記マイナスの値に低下して前記マイナスの値から復帰するときに、前記電圧が前記基準電圧に1回目に到達してから前記電圧が前記基準電圧に2回目に到達するまでの復帰時間を検出する復帰時間検出手段と、前記復帰時間と基準時間とを比較してその比較結果により電磁石の動作異常を検出する異常検出手段とを有することを特徴とするカメラ用シャッタ。
  2. 前記羽根部材は、先幕ユニットと後幕ユニットとからなり、
    前記電磁石は、前記先幕ユニットを制御する先幕電磁石と前記後幕ユニットを制御する後幕電磁石とからなり、1対の前記スイッチング手段によりそれぞれ独立してスイッチングされるものであることを特徴とする請求項1記載のカメラ用シャッタ。
  3. シャッタ開口を開放・閉鎖する羽根部材と、前記羽根部材の作動開始時期を制御する電磁石と、前記電磁石をオン・オフするスイッチング手段とを有するカメラ用シャッタの異常検出方法であって、
    前記スイッチング手段により前記電磁石をスイッチングした時に発生する前記電磁石における電圧がマイナスの値に低下してから再び0Vにて安定する逆起電圧に関して、前記マイナスの値と0Vとの間の所定の電圧値を基準電圧とし、
    前記電圧が前記マイナスの値に低下して前記マイナスの値から復帰するときに、前記電圧が前記基準電圧に1回目に到達してから前記電圧が前記基準電圧に2回目に到達するまでの復帰時間を検出し、前記復帰時間と基準時間とを比較してその比較結果により前記電磁石の動作異常を検出することを特徴とするカメラ用シャッタの異常検出方法。
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