JP3635466B2 - レベルシフト回路 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、2値信号の信号レベルをシフトする技術に係り、特に複数種類の入力信号レベルを一定の信号レベルにシフトするレベルシフト回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
電子機器システムでは、IC(集積回路)の低消費電力化に伴なって従来一般の5Vから3.3Vや2.5V等へと電源電圧の低電圧化が進んでおり、動作電圧の異なるICの間で信号レベルのインタフェースをとる場面が増えてきている。たとえば、PCIバスを搭載するシステムでは、コア側のICが3.3V系であるのに対して、拡張ボード側のICが3.3V系であったり、5V系であったりすることがある。この場合、拡張ボード側からコア側に与えられる信号の電圧レベルが3.3Vもしくは5Vのいずれであっても、コア側には3.3Vの電圧レベルで信号を受け取らせるようなレベルシフト回路が使用される。
【0003】
図11に、この種の機能を有する従来のレベルシフト回路を示す。このレベルシフト回路は、NチャネルMOSトランジスタ(以下、「NMOSトランジスタ」と称する。)100をトランスファゲート・トランジスタとして用いる。NMOSトランジスタ100は、ドレイン端子がポートAを介して送信側のディジタルIC(図示せず)に接続され、ソース端子がポートBを介して受信側のディジタルIC(図示せず)に接続され、ゲート端子はバイアス回路102のノードs0に接続されている。バイアス回路102は、電源電圧VCCの電源端子Cとアース電位との間で直列接続されるダイオード104と抵抗106とからなり、ダイオード104と抵抗106との接続点またはノードs0に得られる一定の電圧VCC−VFをバイアス電圧VgとしてNMOSトランジスタ100のゲートに与える。ここで、VFはダイオード104の順方向降下電圧である。
【0004】
たとえば、受信側のICが3.3V系で、送信側のICよりポートAに5VのHighレベルが入力されたときにポートBに3.3VのHighレベルを得るには、NMOSトランジスタ100の閾値電圧をVtnとすると、Vg−Vtn=3.3Vとなるようにバイアス電圧Vgを設定すればよい。つまり、ポートBからみて受信側ICは一般に容量性の負荷であり、NMOSトランジスタ100においては、ドレイン電圧(ポートAの電位)にかかわらずソース電圧(ポートBの電位)がゲート電圧Vgから閾値電圧Vtnだけ降下したレベル(Vg−Vtn)に制限され、かつこのレベルで飽和領域のオン状態が安定する。したがって、電源電圧VCCが5Vで、NMOSトランジスタ100の閾値電圧Vtnが0.9Vの場合、ポートBに3.3VのHレベルを得るためには、バイアス電圧Vgを4.2Vに設定し、ダイオード104の順方向降下電圧VFを0.8Vに選べばよい。
【0005】
送信側のICより3.3VのHighレベルが入力されたときは、NMOSトランジスタ100が線形領域でオンしてドレインの電圧をスルーでソースに出力するため、ポートBに3.3VのHレベルが得られる。また、ポートAに入力される信号がLowレベル(通常は0V)のときも同様であり、ポートBに0VのLowレベルが得られる。
【0006】
このレベルシフト回路では、NMOSトランジスタ100のオン抵抗を小さくすることで、信号伝播遅延時間を殆ど零に近い値まで小さくし、送信側ICから与えられる信号のレベルが3.3Vもしくは5Vのいずれであっても瞬時に3.3Vの信号レベルに統一して受信側ICに受け取らせることができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のレベルシフト回路には、次のような欠点あるいは制限がある。
【0008】
(1)電源電圧Vcc以下のバイアス電圧VgよりNMOSトランジスタ100の閾値電圧Vtnだけ低いレベルにしかレベルシフトすることができない。このため、上記のように3.3Vの電源電圧で動作する受信側ICまたはシステムが5V系または3.3V系のどちらからの信号でも受けられるようにするためには、5Vの電源電圧VCCを用意しないと、上記従来のレベルシフト回路は使えない。
【0009】
(2)NMOSトランジスタ100においては、信号伝播遅延時間を短くするためにオン抵抗を下げようとすれば、サイズが大きくなり、それによってソースおよびドレインとゲートとの間に大きな寄生容量が付加される。この寄生容量は、入力信号がLowレベルからHighレベルに遷移した時に、容量結合によってゲートの電位を過渡的に上昇させて出力電圧にオーバーシュートを生じさせ、正確なレベルシフトを妨げる。
【0010】
(3)バイアス回路102を定常的にDC電流が流れるため、消費電力が大きい。特に、上記のようなLowレベルからHighレベルへ遷移する際のオーバーシュートを抑制するために抵抗106の抵抗値を下げると、抑制効果が小さいにもかわらず、消費電力は一層増大する。
【0011】
本発明は、上記のような従来技術の問題点に鑑みてなされたもので、使用する電源電圧以上の任意の入力信号レベルを電源電圧で規定される出力信号レベルに高速かつ安定精確にレベルシフトできるレベルシフト回路を提供することを目的とする。
【0012】
本発明の別の目的は、DC的な消費電流を少なくした低消費電力型のレベルシフト回路を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明のレベルシフト回路は、第1の端子が第1のポートに接続され、第2の端子が第2のポートに接続される第1のMOSトランジスタと、第1の端子が基準の論理レベルに対応する電源電圧を与える電源電圧端子に接続され、第2の端子とゲート端子とが前記第1のMOSトランジスのゲート端子に共通接続される前記第1のMOSトランジスタと同じ導電型の第2のMOSトランジスタと、前記第1のMOSトランジスタのゲート端子に前記電源電圧よりも低い所定のバイアス電圧を供給するためのバイアス手段とを有する。
【0014】
本発明のレベルシフト回路では、たとえば第1のポートより入力される信号が第1の論理レベルたとえばLowレベルから第2の論理レベルたとえばHighレベルに遷移すると、第1のMOSトランジスタにおいて第1の端子とゲート端子間の容量結合によりゲート電位が入力信号レベルの変化分に相当する電位だけ持ち上げられ、第2のMOSトランジスタが第1のMOSトランジスタのゲート端子側から電源電圧端子側に放電電流を流すようにオンする。これによって、第1のMOSトランジスタのゲート電位が、電源電圧のレベルよりも第2のMOSトランジスタの閾値電圧だけ高い電位にクランプされる。その結果、第1のMOSトランジスタの第2の端子にはゲート電位よりも閾値電圧だけ低い出力電圧が得られる。第1および第2のMOSトランジスタの閾値電圧を実質的に等しい値に設定することで、第1のMOSトランジスタの第2の端子に電源電圧のレベルに等しいHighレベルが得られる。
【0015】
本発明のレベルシフト回路において、好ましい一態様は、第1または第2のポートの電位を基準論理レベル付近に保持するために電源電圧端子と第1または第2のポートとの間に接続される第1または第2のクランプ回路を有する構成である。好ましくは、第1または第2のクランプ回路で消費する電力を少なくするために、第1および第2のポートの電位のいずれも基準の論理レベルと論理的に異なるレベルであるときはオフし、第1および第2のポートの電位の少なくとも一方が基準論理レベルと論理的に同じレベルであるときはオンする第1または第2のスイッチを有してよい。この場合、第1または第2のクランプ回路は、必要時のみ動作するように、好ましくは、電源電圧端子から第1または第2のポートに向って順方向の電流を流すための第1または第2のダイオードを有してよい。また、安定したレベルクランプを行えるように、好ましくは、第1または第2のクランプ回路が、電源電圧端子から第1または第2のポートに向って一定の電流を流すための第1または第2の定電流源回路を有してよい。
【0016】
また、本発明の好ましい一態様は、アノードが第1のポートに接続され、カソードが第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続される第3のダイオードを有する構成、あるいはアノードが第2のポートに接続され、カソードが第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続される第4のダイオードを有する構成である。第1または第2のポートに入力される信号のHighレベルが第1のMOSトランジスタのゲート電位よりも高いときは、そのHighレベルの信号から第3または第4のダイオードを介して第1のMOSトランジスタのゲートに電流を流し込むことにより、リーク電流によるバイアス電圧の低下を効果的に阻止することができる。この場合、第1のMOSトランジスタのゲートに流し込む電流を安定化するために、第1または第2のポートと第1のMOSトランジスタのゲート端子との間で第3または第4のダイオードと直列に、第1または第2の抵抗を接続する構成、あるいは第3または第4の定電流源回路を接続する構成が好ましい。
【0017】
また、本発明の好ましい一態様は、バイアス手段が、アノードが電源電圧端子に接続され、カソードが第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続される第5のダイオードを有する構成である。第2のMOSトランジスタを働かせないとき、つまりオフ状態にしている間は、電源電圧端子より第5のダイオードを介して電源電圧よりも低い所定のバイアス電圧を第1のMOSトランジスタのゲートに与えることにより、オン状態の第1のMOSトランジスタを介して入力側のLowレベルをそのままスルーで出力側に伝えることができる。
【0018】
また、本発明の好ましい一態様は、電源電圧端子と第1のMOSトランジスタのゲート端子との間で第5のダイオードと直列に接続される第3のスイッチと、第1のMOSトランジスタのゲート端子と基準の論理レベルと論理的に異なるレベルの基準電位との間に接続される第4のスイッチと、第3のスイッチと第4のスイッチとを相補的にオン・オフ制御するスイッチ制御手段とを有する構成である。かかる構成によれば、第3のスイッチをオンにして第4のスイッチをオフにすることにより、バイアス回路をアクティブ状態にして第1のポートと第2のポート間の信号伝送を可能とし、第3のスイッチをオフにして第4のスイッチをオンにすることにより、バイアス回路を実質的にディセーブル状態にして第1のポートと第2のポート間を遮断することができる。
【0019】
上記のようなスイッチ機能を有する場合、好ましくは、第3のスイッチをオンさせ、かつ第4のスイッチをオフさせるためにスイッチ制御手段より与えられる制御信号に応動して、第1のMOSトランジスタのゲート端子の電位を電源電圧よりも高いレベルまで昇圧する昇圧回路を有するのが好ましい。この昇圧回路により、入力信号の論理的なレベル変化の代わりに制御信号の論理的なレベル変化を利用して第1のMOSトランジスタのゲート電位を電源電圧よりも閾値電圧だけ高い電位にクランプし、第1のMOSトランジスタの第2の端子に電源電圧レベルの論理レベルを得ることができる。この昇圧回路の好ましい一形態は、制御信号を入力してから所定の遅延時間の経過後に基準の論理レベルと論理的に異なるレベルから基準の論理レベルと論理的に同じレベルまで出力電圧を立ち上げる遅延電圧出力回路と、この遅延電圧出力回路の出力端子と第1のMOSトランジスタのゲート端子との間に接続されたコンデンサとを有する構成である。かかる構成によれば、制御信号の論理的なレベル変化に応動してチャージポンピングにより第1のMOSトランジスタのゲート電位を所望のレベルまで昇圧することができる。
【0020】
また、別の好ましい一態様は、第1の端子が第1のポートに接続され、第2の端子が第2のポートに接続される第3のMOSトランジスタと、第1の端子が電源電圧端子に接続され、第2の端子とゲート端子とが第3のMOSトランジスのゲート端子に共通接続される第3のMOSトランジスタと同じ導電型の第4のMOSトランジスタと、アノードが電源電圧端子に接続され、カソードが第3のMOSトランジスタのゲート端子に接続される第6のダイオードと、電源電圧端子と第3のMOSトランジスタのゲート端子との間で第6のダイオードと直列に接続される第5のスイッチと、第3のMOSトランジスタのゲート端子と基準の論理レベルと論理的に異なるレベルの基準電位との間に接続される第6のスイッチと、第5のスイッチと第6のスイッチとを相補的にオン・オフ制御するスイッチ制御手段と、第5のスイッチをオンさせ、かつ第6のスイッチをオフさせるためにスイッチ制御手段より与えられる制御信号に応動して、第3のMOSトランジスタのゲート端子の電位を電源電圧よりも高いレベルまで昇圧する昇圧回路を有する構成である。
【0021】
かかる構成においては、スイッチ制御手段からの制御信号に対して、昇圧回路が上記と同様の動作を行い、第3のMOSトランジスタが第1のMOSトランジスタに相当する動作を行い、第4のMOSトランジスタが第2のMOSトランジスタに相当する動作を行う。昇圧回路の好適な一形態は、制御信号を入力してから所定の遅延時間の経過後に基準の論理レベルと論理的に異なるレベルから基準の論理レベルと論理的に同じレベルまで出力電圧を立ち上げる遅延電圧出力回路と、この遅延電圧出力回路の出力端子と第3のMOSトランジスタのゲート端子との間に接続されるコンデンサとを有する構成である。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、図1〜図10を参照して本発明の好適な実施形態を説明する。
【0023】
図1に、本発明の一実施形態によるレベルシフト回路の回路構成を示す。この実施形態のレベルシフト回路は、NMOSトランジスタ10をトランスファゲート・トランジスタとして用いる。NMOSトランジスタ10のソース端子およびドレイン端子のうち、一方はポートAに接続され、他方はポートBに接続される。説明の便宜上、ポートAに接続される方をドレイン端子、ポートBに接続される方をソース端子とする。両ポートA,BはそれぞれディジタルIC(図示せず)に接続されてよい。
【0024】
NMOSトランジスタ10は、十分低い(たとえば5Ω以下の)オン抵抗が得られるようにサイズ(特にチャネル幅サイズ)の大きなMOSトランジスタに設計されてよい。この大サイズ化に伴なって、ドレインおよびソースとゲートとの間に大きな容量が付加され、容量結合効果も大きくなる。しかし、後述するように、この実施形態では、NMOSトランジスタ10におけるドレイン(ソース)・ゲート間の容量結合効果が従来技術のような支障を来すどころか、むしろ有用な技術要素として積極的に利用される。
【0025】
NMOSトランジスタ10のゲート端子はノードS1を介してバイアス回路12に接続されている。このバイアス回路12は、NMOSトランジスタ14とダイオード16とを有している。NMOSトランジスタ14は、ソース端子が電源電圧VCCの端子Cに接続され、ドレイン端子とゲート端子とがノードS1を介してNMOSトランジスタ10のゲート端子に共通接続されている。ダイオード16は、アノード端子が電源電圧VCCの端子Cに接続され、カソード端子がノードS1を介してNMOSトランジスタ10のゲート端子に接続されている。
【0026】
このバイアス回路12は、NMOSトランジスタ14がオフでダイオード16が導通した状態でバイアス電圧を与える第1のバイアスモードと、ダイオード16が非導通でNMOSトランジスタ14がオンした状態でバイアス電圧を与える第2のバイアスモードとを有している。第1のバイアスモードでは、電源電圧VCCよりダイオード16の順方向降下電圧VF16だけ低いバイアス電圧がノードS1からNMOSトランジスタ10のゲートに印加されるようになっている。第2のバイアスモードは、ノードS1の電位の方が電源電圧VCCよりもNMOSトランジスタ14の閾値電圧VTN14以上高くなっているときの状態である。NMOSトランジスタ14は、NMOSトランジスタ10と同一の半導体チップ上に同一のプロセスで製作される。したがって、NMOSトランジスタ14の閾値電圧VTN14をNMOSトランジスタ10の閾値電圧VTN10に実質的に等しい値にすることができる。
【0027】
電源電圧VCCの端子CとポートAとの間には、ポートAの電位を電源電圧VCC付近のレベルに保持するためのクランプ回路18が接続されている。このクランプ回路18は、定電流源回路20、PチャネルMOSトランジスタ(以下、「PMOSトランジスタ」と称する。)22およびダイオード24を直列接続してなる。PMOSトランジスタ22がオン状態のときに、ポートA側の電位が電源電圧VCCからダイオード24の順方向降下電圧VF24を差し引いたレベルよりも下がっているときは、ダイオード24が導通して定電流源回路20よりレベルクランプ用の定電流iCAをポートA側の負荷に供給するようになっている。
【0028】
一方、電源電圧Vccの端子CとポートBとの間には、ポートBの電位を電源電圧VCC付近のレベルに保持するためのクランプ回路26が接続されている。このクランプ回路26は、定電流源回路28、PMOSトランジスタ30およびダイオード32を直列接続してなる。PMOSトランジスタ30がオン状態のときに、ポートB側の電位が電源電圧VCCからダイオード32の順方向降下電圧VF32を差し引いたレベルよりも下がっているときは、ダイオード32が導通して定電流源回路28よりレベルクランプ用の定電流iCBをポートB側の負荷に供給するようになっている。
【0029】
両ポートA,BにはNOR回路34の一対の入力端子がそれぞれ接続され、NOR回路34の出力端子は両クランプ回路18,26のPMOSトランジスタ22,30のゲート端子に接続されている。ポートA,Bの電圧VA,VBのいずれもLowレベルのときは、NOR回路34の出力電圧が論理Highで、両PMOSトランジスタ22,30は共にオフ状態に保持される。しかし、ポートA,Bの電圧VA,VBの少なくとも一方がHighレベルになると、NOR回路34の出力電圧が論理Lowで、両PMOSトランジスタ22,30は共にオンするようになっている。
【0030】
さらに、ポートAとノードS1つまりNMOSトランジスタ10のゲート端子との間には、ダイオード36と抵抗38の直列回路が接続されている。ポートAの電位がノードS1の電位よりも高いときに、ダイオード36が導通して、ポートA側からノードS1側にバイアス維持またはバックアップ用の電流が流れるようになっている。
【0031】
一方、ポートBとノードS0との間には、ダイオード40と抵抗42の直列回路が接続されている。ポートBの電位がノードS1の電位よりも高いときに、ダイオード40が導通して、ポートB側からノードS1側にバイアス維持またはバックアップ用の電流が流れるようになっている。
【0032】
次に、このレベルシフト回路の動作を説明する。一例として、ポートA側から入力される5V系の信号レベルを3.3V系の信号レベルに変換してポートB側に出力する場合の動作を説明する。この場合、このレベルシフト回路の電源電圧端子Cには、ポートB側(受信側)のICまたはシステムと共通の3.3Vの電源電圧VCCを供給すればよい。したがって、バイアス回路12では、ダイオード16の順方向降下電圧VF16をたとえば0.5Vに選定すると、第1のバイアスモードでノードS1に約2.8Vのバイアス電圧が得られる。
【0033】
いま、ポートAに入力される信号がLowレベル(0V)であるとする。この時、バイアス回路12は、第1のバイアスモードにあり、ノードS1より約2.8Vのバイアス電圧を与える。これにより、NMOSトランジスタ10は線形領域でオンしてドレインの電圧をスルーでソースに出力し、ポートBには0VのLowレベルが得られる。
【0034】
次に、ポートAに入力される信号がLowレベルからHighレベル(5V)に遷移したとする。この時、NMOSトランジスタ10においては、ドレイン・ゲート間容量のカップリング効果によってゲートの電位つまりノードS1の電位がそれまでの約2.8Vから約5Vアップの7.8V付近まで一気に持ち上げられる。これにより、バイアス回路12は第1のバイアスモードから第2のバイアスモードに切り換わり、ダイオード16が非導通状態になり、NMOSトランジスタ14がオンする。ここで、NMOSトランジスタ14は、飽和状態でオンしてノードS1側から電源電圧端子C側に放電電流を流し、ノードS1の電位をソース側の電源電圧VCCよりも閾値電圧VTN14だけ高いレベル(VCC+VTN14)に制限またはクランプする。
【0035】
NMOSトランジスタ10のドレイン・ソース間では、ノードS1の電位が上昇した瞬間に過渡的なドレイン電流が流れる。しかし、ポートBに接続されるディジタルICは一般に容量性負荷であることと、上記のようにゲート電位が速やかに一定レベル(VCC+VTN14)にクランプされることから、オーバーシュートを起こさずにソース電位がゲート電位(VCC+VTN14)から閾値電圧VTN10だけ低いレベルつまりVCC(3.3V)まで上昇したところでNMOSトランジスタ10の飽和領域のオン状態が安定する。こうして、ポートA側からの5V系のHighレベルは、このレベルシフト回路において電源電圧VCCに等しい3.3V系のHighレベルに変換されてポートB側に出力される。
【0036】
上記のようなバイアス回路12の第1のバイアスモードから第2のバイアスモードへの移行によってポートB側に生成されたHighレベルの電位(3.3V)は、ポートBに接続される負荷(IC)の入力インピーダンスが容量のみであれば、そのまま保持される。しかし、現実には幾らかの抵抗成分もあるため、負荷側の電流リークによってポートBの電位は降下しようとする。
【0037】
この実施形態では、そのようなポートB側の電位の降下をクランプ回路26が阻止する。すなわち、ポートA側がHighレベルになった時からNOR回路34の出力端子が論理Lowになって、クランプ回路26のPMOSトランジスタ30がオンする。リーク電流によってポートBの電位が降下すると、やがてダイオード32が導通して定電流源回路28よりレベルクランプ用の定電流iCBがポートBを介して負荷に供給される。このレベルクランプ用の定電流iCBによってリーク電流に起因するレベルの降下が阻止され、ポートBの電位はVCC−VF32付近にクランプされる。たとえば、ダイオード32の順方向降下電圧VF32を0.2Vに選定すれば、ポートBの電位は3.1V付近に保持される。レベルクランプ用の定電流iCBは、リーク電流を補う程度の微小な電流でよく、消費電力は少なくて済む。
【0038】
なお、NOR回路34の出力が論理Lowになることにより、ポートA側のクランプ回路18でもPMOSトランジスタ22がオン状態になる。しかし、ポートAの電位がHighレベル(5V)であるため、ダイオード24が導通せず、レベルクランプ用の定電流iCBは流れない。
【0039】
一方、バイアス回路12では、上記のような第2のバイアスモードでノードS1の電位を電源電圧VCCよりも閾値電圧VTN14だけ高いレベル(VCC+VTN14)にクランプするものの、NMOSトランジスタ14を通じて若干であるがリーク電流が流れ、ノードS1の電位が次第に低下していく。しかし、ポートA側がHighレベル(5V)になっているため、ダイオード36が導通してポートA側からノードS1に電流が供給される。抵抗38は、入力信号に与える影響を少なくするためにこの電流を制限する。こうして、NMOSトランジスタ14のリーク電流がキャンセルされ、ノードS1の電位が(VCC+VTN14)付近に維持される。
【0040】
このレベルシフト回路において、ポートA側から3.3V系の信号が入力された場合も、各部で上記と同様の動作が行われる。より詳細には、ポートAに入力される信号がLowレベルからHighレベル(3.3V)に遷移すると、バイアス回路12では、ノードS1の電位がそれまでの約2.8Vから約3.3Vアップの6.1V付近まで一気に持ち上げられて、第1のバイアスモードから第2のバイアスモードに切り換わる。NMOSトランジスタ14も、上記と同様に飽和状態でオンしてノードS1側から電源電圧端子C側に放電電流を流し、ノードS1の電位をソース電位つまり電源電圧VCCよりも閾値電圧VTN14だけ高いレベル(VCC+VTN14)に制限またはクランプする。これにより、NMOSトランジスタ10のソース端子には、ゲート電位(VCC+VTN14)から閾値電圧VTN10だけ低いレベルつまりVCC(3.3V)のレベルが得られる。MOR回路34、クランプ回路26およびダイオード36等も上記と同様に動作する。
【0041】
ポートA側から入力される信号がHighレベルからLowレベルに遷移した時は、NMOSトランジスタ10のドレイン・ゲート間容量のカップリング効果によりノードS1の電位が1V付近まで一気に引き下げられ、バイアス回路12は第1のバイアスモードに切り換わり、NMOSトランジスタ14がオフし、ダイオード16が導通する。これにより、NMOSトランジスタ10が線形領域でオンしてドレイン側の電圧をスルーでソースに出力し、ポートB側には0VのLowレベルが得られる。なお、このときは、NOR回路34の出力がHighレベルで、両クランプ回路18,26ではPMOSトランジスタ22,30がオフ状態となり、定電流源回路20,28より電流iCA,iCBが流れ出ることはない。
【0042】
このレベルシフト回路において、ポートA側に電源電圧VCC(3.3V)よりも低い電圧が入力されたときは、上記のようなLowレベル(0V)が入力された場合と同様のレベルシフト動作が行われる。
【0043】
また、このレベルシフト回路は、ポートA,B側に対して左右対称に構成されており、ポートA,B間の信号の入出力関係を上記と逆転させることも可能である。すなわち、ポートB側から入力される信号を上記と同様にレベルシフトしてポートA側に出力することも可能である。
【0044】
図2に、この実施形態におけるレベルシフト回路の入出力機能を示す。図2の(A)は、ポートAが入力側で、ポートBが出力側の場合である。この場合、ポートAより入力される信号のHighレベルが電源電圧VCC以上のときは、電源電圧VCCに等しいHighレベルにレベルシフトしてポートBに出力する。入力信号の電圧レベルが電源電圧VCCよりも低いときは、入力電圧レベルに等しい電圧レベルをポートBに出力する。
【0045】
図2の(B)は、ポートBが入力側で、ポートAが出力側の場合である。この場合、ポートBより入力される信号のHighレベルが電源電圧VCC以上のときは、電源電圧VCCに等しいHighレベルにレベルシフトしてポートAに出力する。入力信号の電圧レベルが電源電圧VCCよりも低いときは、入力電圧レベルに等しい電圧レベルをポートAに出力する。
【0046】
このように、この実施形態のレベルシフト回路は、両ポートA,B間で左右対称のレベルシフト機能を有しており、入力信号のHighレベルが電源電圧VCCに等しい場合はもちろんそれより高い場合であっても、一律にVCCのHighレベルに高速かつ安定確実にシフトすることができる。このため、受信側のICまたはシステムにあっては、自己の使用する電源電圧をそのままこの実施形態によるレベルシフト回路の電源電圧VCCとしても使用することができる。
【0047】
したがって、たとえばPCIバスにおいてコア側が3.3V系であるときは、この実施形態のレベルシフト回路にも3.3Vの電源電圧を用いることで、拡張ボード側より送られてくる信号が3.3V系もしくは5V系のいずれであっても一律に3.3V系の信号レベルに変換してコア側のシステムに受信させることができる。コア側が2.5V系であるときも同様である。すなわち、このレベルシフト回路に2.5Vの電源電圧を用いることで、拡張ボード側より送られてくる信号が2.5V系、3.3V系もしくは5V系のいずれであっても一律に2.5V系の信号レベルに変換してコア側のシステムに受信させることができる。
【0048】
また、この実施形態のレベルシフト回路では、各部で必要最小限の過渡的な電流が流れるものの、常時流れるDC的な消費電流は少ない。入力信号がHighレベルになっている時に、クランプ回路18,26の片側(出力信号側)で負荷のリーク電流に応じたレベルクランプ用の微小な直流電流iCA,iCBが流れるだけである。このため、消費電力は非常に少ない。
【0049】
図3および図4に、第2の実施形態によるレベルシフト回路の回路構成を示す。この実施形態は、上記した第1の実施形態によるレベルシフト回路にスイッチング(オン・オフ)機能を付け加えている。たとえば、PCIバスシステムにおいては、括線挿抜機能を実現するために、レベルシフト回路にスイッチング(オン・オフ)機能が要求される。
【0050】
この実施形態では、ポートA,B間の導通をオン・オフできるように、バイアス回路12にPMOSトランジスタ44とNMOSトランジスタ46とを設けている。より詳細には、電源電圧VCCの端子CとノードS1との間にダイオード16と直列にPMOSトランジスタ44が接続され、ノードS1とGND(グランド)レベルの端子との間にNMOSトランジスタ46が接続される。両MOSトランジスタ44,46のゲート端子には外部の制御回路より信号入力端子48を介してスイッチ制御用の2値信号SCが与えられる。このスイッチ制御信号SCの論理Highは電源電圧VCCと同じレベルであってよい。
【0051】
この実施形態では、NMOSトランジスタ10にトランスファゲート・トランジスタとスイッチ・トランジスタとを兼用させる。スイッチ・トランジスタとしてNMOSトランジスタ10をオン状態にするときは、スイッチ制御信号SCを論理Lowにして、バイアス回路12においてPMOSトランジスタ44をオンにし、NMOSトランジスタ46をオフにする。この状態のバイアス回路12は、上記第1の実施形態における回路構成に相当する。スイッチ・トランジスタ10をオフ状態にするときは、スイッチ制御信号SCを論理Highにして、バイアス回路12においてPMOSトランジスタ44をオフにし、NMOSトランジスタ46をオンにする。これにより、ノードS1の電位がLowレベル(0V)に下げられ、スイッチ・トランジスタ10はオフ状態に保持される。
【0052】
このようなスイッチング機能のために、第1の実施形態におけるNOR回路34はこの第2の実施形態ではOR回路50とNAND回路52に置き換えられ、NAND回路50の片方の入力端子にはスイッチ制御信号SCが反転回路54を介して与えられる。スイッチ制御信号SCが論理Highとき(スイッチ・トランジスタ10をオフ状態にするとき)は、反転回路54の出力が論理Lowで、NAND回路52の出力が論理Highになり、両クランプ回路18,26が非アクティブ(無通電)状態に置かれる。スイッチ制御信号SCが論理Lowのとき(スイッチ・トランジスタ10をオン状態にするとき)は、反転回路54の出力が論理Highで、OR回路50とNAND回路52が第1の実施形態におけるNOR回路34に相当する機能を奏する。
【0053】
ところで、この実施形態のスッチング動作では、スイッチ・トランジスタ10をオフ状態にしている間に送信側ポートたとえばポートAよりHighレベルの信号が入力され、かかるHighレベル入力状態の下で外部制御回路がスイッチ制御信号SCをオフ指示の論理Highからオン指示の論理Lowに切り換えた場合に問題が出る。
【0054】
すなわち、スイッチ・トランジスタ10がオフしている時にポートAより入力される信号がLowレベルからHighレベルに変わっても、スイッチ・トランジスタ10のドレイン・ゲート間には容量結合が働かないため、ゲート電位つまりノードS1の電位が殆ど持ち上がらず、ポートB側はハイインピーダンス状態で以前の状態のLowレベルのままである。そして、スイッチ制御信号SCが論理Highから論理Lowに変わって、バイアス回路12においてPMOSトランジスタ44がオン状態に、NMOSトランジスタ46がオフ状態にそれぞれ切り換わっても、ポートA側のLowレベルからHighレベルへの遷移は既に終わっているため、この場面でもスイッチ・トランジスタ10のドレイン・ゲート間に容量結合効果が働くことはない。したがって、バイアス回路12は第1のバイアスモードに止まり、第2のバイアスモードに移行することができない。この結果、スイッチ・トランジスタ10のソース側つまりポートB側にHighレベル(VCC)の信号を出力することができなくなる。
【0055】
なお、ポートAよりHighレベルの信号が入力されるため、クランプ回路26のPMOSトランジスタ30はオンするが、定電流源回路28よりポートB側に供給する電流ICBは微小であるため、LowレベルからHighレベルへ上昇させることは難しい。
【0056】
この実施形態では、かかる問題を解消するために、ブロック56の補助回路を設けている。この補助回路56は、上記NMOSトランジスタ10およびバイアス回路12にそれぞれ対応するNMOSトランジスタ58およびバイアス回路60を有している。
【0057】
補助回路56において、より詳細には、NMOSトランジスタ58は、ドレイン端子がポートAに接続され、ソース端子がポートBに接続される。バイアス回路60は、NMOSトランジスタ62、ダイオード64およびスイッチ用のPMOSトランジスタ66、NMOSトランジスタ68を有している。NMOSトランジスタ62は、ソース端子が電源電圧VCCの端子Cに接続され、ドレイン端子とゲート端子とがノードS2を介してNMOSトランジスタ58のゲート端子に共通接続される。両NMOSトランジスタ58,62の閾値電圧VTN58,VTN62は、NMOSトランジスタ10の閾値電圧VTN10に実質的に等しい値に設定されてよい。ダイオード64は、アノード端子がPMOSトランジスタ66を介して電源電圧VCCの端子Cに接続され、カソード端子がノードS2を介してNMOSトランジスタ58のゲート端子に接続されている。PMOSトランジスタ66は、電源電圧VCCの端子CとノードS2とでダイオード16と直列に接続される。NMOSトランジスタ68は、ノードS2とGNDレベル端子との間に接続される。両MOSトランジスタ66,68のゲート端子には信号入力端子48からのスイッチ制御信号SCが与えられる。
【0058】
さらに、補助回路56は、チャージポンプ回路70を有している。このチャージポンプ回路70は、信号入力端子48とノードS2との間に遅延回路72、反転回路74およびコンデンサ76をこの順序で直列接続している。遅延回路72は、入力信号つまりスイッチ制御信号SCが論理Highから論理Lowに切り換わった時のみ信号遅延機能を働かせて、たとえば数ナノ秒程度の遅延時間経過後に出力をHighレベルからLowレベルに切り換えるように構成される。
【0059】
この補助回路56は、スイッチ・トランジスタ10がオフ状態になっている間に送信側のポートAよりHighレベルの信号が入力され、かかるHighレベル入力状態の下でスイッチ制御信号SCがオフ指示の論理Highからオン指示の論理Lowに切り換わった場合に有効に作用する。
【0060】
この場合、スイッチ制御信号SCが論理Highになっている間、補助回路56では、PMOSトランジスタ66がオフし、NMOSトランジスタ68がオンしており、ノードS2の電位はアース電位にクランプされ、NMOSトランジスタ58はオフ状態に保持されている。
【0061】
そして、スイッチ制御信号SCが論理Highから論理Lowに切り換わると、先ずバイアス回路60でPMOSトランジスタ66がオンすると同時にNMOSトランジスタ68がオフすることにより、電源電圧VCCがダイオード64を介してノードS2に印加され、ノードS2がVCC−VF64まで充電される。ここで、VF64はダイオード64の順方向降下電圧であり、たとえば0.5V程度に設定されてよい。
【0062】
上記のようにバイアス回路60でノードS2の電位が第1のバイアスモードでVCC−VF64まで上昇すると、この直後に遅延回路72よりLowレベルの電圧が出力され、反転回路74の出力つまりノードS3の電位がLowレベルからHighレベルに立ち上がる。そうすると、コンデンサ76のカップリング効果またはチャージポンピングにより、ノードS2の電位がそれまでのレベル(VCC−VF64)からノードS3の電位の上昇変化分つまりLowレベルからHighレベルへの変化分(VCCのレベル分)だけ持ち上げられる。これにより、NMOSトランジスタ62がノードS2側から電源電圧端子C側に電流を流し込む方向にオンし、ノードS2の電位がVCC−VTN62にクランプされる。この結果、NMOSトランジスタ58のソースには、ゲート電圧(VCC−VTN62)より閾値電圧VTN58だけ低いレベルつまりほぼVCCレベルの出力電圧が得られる。
【0063】
上記のようにして、ポートA側より入力されたVCC以上のHighレベルはバイアス回路60でVCC電位のHighレベルにレベルシフトされてポートB側に出力される。負荷側のリーク電流によりポートBの電位がVCC電位より低下するときは、上記のようにクランプ回路26が作動してレベルをクランプする。
【0064】
なお、スイッチ制御信号SCがオフ指示の論理Highからオン指示の論理Lowに切り換わった時にポートA側よりLowレベルが入力されている場合も、補助回路56内のバイアス回路60やチャージポンプ回路70は上記と同様に動作する。ただし、NMOSトランジスタ58のドレイン電圧がLowレベルであるため、ポートB側にHighレベルを出力することはない。また、スイッチ制御信号SCがオン指示の論理Lowからオフ指示の論理Highに切り換わった時は、補助回路56においても、ノードS2の電位が強制的にGNDレベルにクランプされ、NMOSトランジスタ58がオフ状態になる。
【0065】
図5〜図8に、SPICEシミュレーションによる上記実施形態のレベルシフト回路(図4)の入出力特性を示す。
【0066】
図5および図6のシミュレーションでは、電源電圧VCCを3.3V、受信側負荷の入力インピーダンスを15pFの容量CLのみとし、入力側のHighレベルをそれぞれ5V、3.3Vとしている。5V入力(図5)、3.3V入力(図6)のいずれの場合でも、Highレベルの入力時にはNMOSトランジスタ10のゲート電位(ノードS1の電位)が容量結合により4.5Vから4.3V程度まで上昇し、ソース側の出力電圧が電源電圧VCCのレベル(3.3V)に変換されることがわかる。
【0067】
図7のシミュレーションは、受信側の負荷を5pFの容量CLと10MΩの抵抗で擬制し、入力側の電圧をLowレベル(0V)からHighレベル(3.3V)に遷移させた際の出力電圧の波形を検証したものである。この場合、入力側のレベル変化(0V→3.3V)に応動してNMOSトランジスタ10のゲート電位(ノードS1の電位)が4.3V付近まで上昇し、それによってソース側に電源電圧レベル(3.3V)の出力電圧が得られる。その後、出力電圧が降下し始める。すなわち、負荷が容量のみで電流リークが存在しないとすれば、いったん電源電圧レベル(3.3V)上昇した出力はそのままま維持されることになるが、負荷に抵抗(10MΩ)があるためリーク電流によって放電し、出力電圧のレベルは降下し始める。しかし、3.1V近くまで下がったところで出力電圧のレベルは安定する。これは、上記したようにクランプ回路(18または26)より供給される電流によって出力電圧のHighレベルにクランプがかけられ、約3.1Vでバランスするためである。このように、実際のアプリケーションにおいて負荷に電流リークが存在しても僅かなレベル降下を伴なうだけで安定したレベルシフト動作を行えることがわかる。
【0068】
図8は、補助回路56の作用を検証したものである。スイッチ制御信号SCがオフ指示の論理Highからオン指示の論理Lowに切り換わると直ぐにノードS2の電位が2V以上に上昇する。そして、ノードS2の電位が2.7V位まで上昇したところでノードS3の電位が0V付近から3.3Vまで立ち上がり、チャージポンピングによりノードS2の電位が4.7V付近まで持ち上げられ、出力が3.3Vまで上昇していく。このように、補助回路56の働きにより10ナノ秒程で3.0Vを超えるレベルに出力を切り換えられることがわかる。
【0069】
図9および図10に上記した実施形態の変形例を示す。図9の変形例は、バイアス維持用のパスにおいて、抵抗38(42)を定電流源回路80に置き換えてスイッチ82を挿入したものである。スイッチ制御回路84は、ダイオード36のカソード側のノードS4の電位をモニタし、ノードS4の電位が電源電圧VCCよりも高いときにスイッチ82をオンさせる。
【0070】
図10の変形例は、ポートA側のHighレベルがポートB側のHighレベルよりも高いことが確定している場合に、両ポートA,B間で双方向のレベルシフトを行えるようにしたものである。この場合、バイアス回路12およびポートB側のクランプ回路26の電源電圧端子Cには、ポートB側のHighレベル(たとえば3.3V)に等しいレベルの電源電圧VCCBが供給される。一方、ポートAには抵抗86を介して別個の電源電圧端子Eが接続され、この電源電圧端子EにはポートA側のHighレベル(たとえば5V)に等しいレベルの電源電圧VCCAが供給される。
【0071】
図10のレベルシフト回路において、ポートAが入力側で、ポートBが出力側の場合は、上記した実施形態と同様のレベルシフト動作が行われる。ポートBが入力側で、ポートAが出力側の場合も、Highレベルが入力した直後までは上記した実施形態と同様のレベルシフト動作が行われる。すなわち、ポートBよりHighレベルの信号が入力されると、ポートB側のHighレベルと等しいレベルのHighレベルがポートAに出力される。しかし、電源電圧端子Eより抵抗86を介してポートA側の負荷に電流が流れることにより、ポートAの電位は次第に上昇して電源電圧VCCAのレベルで飽和(安定)する。また、図10の回路において、クランプ回路18を付加した構成としてもよい。
【0072】
また、図示省略するが、別の変形例として、クランプ回路26(18)において定電流源回路28(20)を抵抗で代用することも可能である。また、補助回路58のチャージポンプ回路70に相当するチャージポンプ回路をバイアス回路12側のノードS1に接続することで、バイアス回路12やスイッチ・トランジスタ10等に補助回路58と同様の作用を行わせることも可能である。
【0073】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のレベルシフト回路によれば、使用する電源電圧以上の任意の入力信号レベルを電源電圧で規定される出力信号レベルに高速かつ安定精確にレベルシフトすることができる。また、DC的な消費電流を少なくし、低消費電力化を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態によるレベルシフト回路の回路構成を示す回路図である。
【図2】実施形態のレベルシフト回路の入出力機能を示すブロック図である。
【図3】第2の実施形態によるレベルシフト回路の回路構成を示す回路図である。
【図4】第2の実施形態によるレベルシフト回路に含まれる補助回路の回路構成を示す回路図である。
【図5】シミュレーションによる実施形態のレベルシフト回路の入出力特性を示すグラフ図である。
【図6】シミュレーションによる実施形態のレベルシフト回路の入出力特性を示すグラフ図である。
【図7】シミュレーションによる実施形態のレベルシフト回路の入出力特性を示すグラフ図である。
【図8】シミュレーションによる実施形態のレベルシフト回路の入出力特性を示すグラフ図である。
【図9】実施形態の一変形例によるレベルシフト回路の回路構成を示す回路図である。
【図10】実施形態の一変形例によるレベルシフト回路の回路構成を示す回路図である。
【図11】従来のレベルシフト回路の回路構成を示す回路図である。
【符号の説明】
10 NチャネルMOSトランジスタ(トランスファゲート・トランジスタ)
12 バイアス回路
14 NチャネルMOSトランジスタ
16 ダイオード
18,26 クランプ回路
20,28 定電流源回路
22,30 PチャネルMOSトランジスタ
24,32 ダイオード
34 NOR回路
36,40 ダイオード
44 PチャネルMOSトランジスタ
46 NチャネルMOSトランジスタ
56 補助回路
56 NチャネルMOSトランジスタ
60 バイアス回路
70 チャージポンプ回路
80 定電流源回路
86 抵抗

Claims (24)

  1. 第1の端子が第1のポートに接続され、第2の端子が第2のポートに接続される第1のMOSトランジスタと、
    第1の端子が基準の論理レベルに対応する電源電圧を与える電源電圧端子に接続され、第2の端子とゲート端子とが前記第1のMOSトランジスのゲート端子に共通接続される前記第1のMOSトランジスタと同じ導電型の第2のMOSトランジスタと、
    前記第1のMOSトランジスタのゲート端子に前記電源電圧よりも低い所定のバイアス電圧を供給するためのバイアス手段と
    を有するレベルシフト回路。
  2. 前記第1のポートの電位を前記基準の論理レベル付近に保持するために前記電源電圧端子と前記第1のポートとの間に接続される第1のクランプ回路を有する請求項1に記載のレベルシフト回路。
  3. 前記第1のクランプ回路が、前記第1および第2のポートの電位のいずれも前記基準の論理レベルと論理的に異なるレベルであるときはオフし、前記第1および第2のポートの電位の少なくとも一方が前記基準の論理レベルと論理的に同じレベルであるときはオンする第1のスイッチを有する請求項2に記載のレベルシフト回路。
  4. 前記第1のクランプ回路が、前記電源電圧端子から前記第1のポートに向って順方向の電流を流すための第1のダイオードを有する請求項2または3に記載のレベルシフト回路。
  5. 前記第1のクランプ回路が、前記電源電圧端子から前記第1のポートに向って一定の電流を流すための第1の定電流源回路を有する請求項2〜4のいずれか一項に記載のレベルシフト回路。
  6. 前記第2のポートの電位を前記基準の論理レベル付近に保持するために前記電源電圧端子と前記第2のポートとの間に接続される第2のクランプ回路を有する請求項1〜5のいずれか一項に記載のレベルシフト回路。
  7. 前記第2のクランプ回路が、前記第1および第2のポートの電位のいずれも前記基準の論理レベルと論理的に異なるレベルであるときはオフし、前記第1および第2のポートの電位の少なくとも一方が前記基準の論理レベルと論理的に同じレベルであるときはオンする第2のスイッチを有する請求項6に記載のレベルシフト回路。
  8. 前記第2のクランプ回路が、前記電源電圧端子から前記第2のポートに向って順方向の電流を流すための第2のダイオードを有する請求項6または7に記載のレベルシフト回路。
  9. 前記第2のクランプ回路が、前記電源電圧端子から前記第2のポートに向って一定の電流を流すための第2の定電流源回路を有する請求項6〜8のいずれか一項に記載のレベルシフト回路。
  10. アノードが前記第1のポートに接続され、カソードが前記第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続される第3のダイオードを有する請求項1〜9のいずれか一項に記載のレベルシフト回路。
  11. 前記第1のポートと前記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間で前記第3のダイオードと直列に接続される第1の抵抗を有する請求項10に記載のレベルシフト回路。
  12. 前記第1のポートと前記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間で前記第3のダイオードと直列に接続される第3の定電流源回路を有する請求項10に記載のレベルシフト回路。
  13. アノードが前記第2のポートに接続され、カソードが前記第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続される第4のダイオードを有する請求項1〜12のいずれか一項に記載のレベルシフト回路。
  14. 前記第2のポートと前記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間で前記第4のダイオードと直列に接続される第2の抵抗を有する請求項13に記載のレベルシフト回路。
  15. 前記第2のポートと前記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間で前記第4のダイオードと直列に接続される第4の定電流源回路を有する請求項13に記載のレベルシフト回路。
  16. 前記バイアス手段が、アノードが前記電源電圧端子に接続され、カソードが前記第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続される第5のダイオードを有する請求項1〜15のいずれか一項に記載のレベルシフト回路。
  17. 前記電源電圧端子と前記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間で前記第5のダイオードと直列に接続される第3のスイッチと、
    前記第1のMOSトランジスタのゲート端子と前記基準の論理レベルと論理的に異なるレベルの基準電位との間に接続される第4のスイッチと、
    前記第3のスイッチと前記第4のスイッチとを相補的にオン・オフ制御するスイッチ制御手段と
    を有する請求項16に記載のレベルシフト回路。
  18. 前記第3のスイッチをオンさせ、かつ前記第4のスイッチをオフさせるために前記スイッチ制御手段より与えられる制御信号に応動して、前記第1のMOSトランジスタのゲート端子の電位を前記電源電圧よりも高いレベルまで昇圧する昇圧回路を有する請求項17に記載のレベルシフト回路。
  19. 前記昇圧回路が、前記制御信号を入力してから所定の遅延時間の経過後に前記基準の論理レベルと論理的に異なるレベルから前記基準の論理レベルと論理的に同じレベルまで出力電圧を立ち上げる遅延電圧出力回路と、前記遅延電圧出力回路の出力端子と前記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間に接続されたコンデンサとを有する請求項18に記載のレベルシフト回路。
  20. 第1の端子が前記第1のポートに接続され、第2の端子が前記第2のポートに接続される第3のMOSトランジスタと、
    第1の端子が前記電源電圧端子に接続され、第2の端子とゲート端子とが前記第3のMOSトランジスのゲート端子に共通接続される前記第3のMOSトランジスタと同じ導電型の第4のMOSトランジスタと、
    アノードが前記電源電圧端子に接続され、カソードが前記第3のMOSトランジスタのゲート端子に接続される第6のダイオードと、
    前記電源電圧端子と前記第3のMOSトランジスタのゲート端子との間で前記第6のダイオードと直列に接続される第5のスイッチと、
    前記第3のMOSトランジスタのゲート端子と前記基準の論理レベルと論理的に異なるレベルの基準電位との間に接続される第6のスイッチと、
    前記第5のスイッチと前記第6のスイッチとを相補的にオン・オフ制御するスイッチ制御手段と、
    前記第5のスイッチをオンさせ、かつ前記第6のスイッチをオフさせるために前記スイッチ制御手段より与えられる制御信号に応動して、前記第3のMOSトランジスタのゲート端子の電位を前記電源電圧よりも高いレベルまで昇圧する昇圧回路を有する請求項1〜17のいずれか一項に記載のレベルシフト回路。
  21. 前記昇圧回路が、前記制御信号を入力してから所定の遅延時間の経過後に前記基準の論理レベルと論理的に異なるレベルから前記基準の論理レベルと論理的に同じレベルまで出力電圧を立ち上げる遅延電圧出力回路と、前記遅延電圧出力回路の出力端子と前記第3のMOSトランジスタのゲート端子との間に接続されるコンデンサとを有する請求項20に記載のレベルシフト回路。
  22. 第1の入出力端子と第2の入出力端子との間に接続された第1のMOSトランジスタと、
    第1の電源電圧端子と上記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間に接続され、そのゲート端子が上記第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続されている第2のMOSトランジスタと、
    第1の電源電圧端子と上記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間に接続され、第1の電源電圧端子から上記第1のMOSトランジスタのゲート端子に電流を供給するための第1の整流素子と、
    上記第1の入出力端子と上記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間に接続され、上記第1の入出力端子から上記第1のMOSトランジスタのゲート端子に電流を供給するための第2の整流素子と、
    上記第2の入出力端子と上記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間に接続され、上記第2の入出力端子から上記第1のMOSトランジスタのゲート端子に電流を供給するための第3の整流素子と、
    第1の電源電圧端子と上記第1の入出力端子との間に接続された第3のMOSトランジスタと、
    上記第3のMOSトランジスタと上記第1の入出力端子との間に接続され、第1の電源電圧端子から上記第1の入出力端子に電流を供給するための第4の整流素子と、
    第1の電源電圧端子と上記第2の入出力端子との間に接続された第4のMOSトランジスタと、
    上記第4のMOSトランジスタと上記第2の入出力端子との間に接続され、第1の電源電圧端子から上記第2の入出力端子に電流を供給するための第5の整流素子と、
    第1及び第2の入力端子が上記第1及び第2の入出力端子にそれぞれ接続され、上記第1及び第2の入出力端子の少なくとも一方の電圧レベルが上記電源電圧に対応するレベルであるときに上記第4及び第5のMOSトランジスタを導通状態とする制御信号を出力する論理回路と
    を有するレベルシフト回路。
  23. 上記第1及び第2のMOSトランジスタがNMOSトランジスタであり、
    上記第3及び第4のMOSトランジスタがPMOSトランジスタであり、
    上記第1の整流素子が、アノードが第1の電源電圧端子に接続され、カソードが上記第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続されたダイオードであり、
    上記第2の整流素子が、アノードが上記第1の入出力端子に接続され、カソードが上記第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続されたダイオードであり、
    上記第3の整流素子が、アノードが上記第2の入出力端子に接続され、カソードが上記第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続されたダイオードであり、
    上記第4の整流素子が、アノードが上記第3のMOSトランジスタに接続され、カソードが上記第1の入出力端子に接続されたダイオードであり、
    上記第5の整流素子が、アノードが上記第4のMOSトランジスタに接続され、カソードが上記第2の入出力端子に接続されたダイオードである請求項22に記載のレベルシフト回路。
  24. 上記第1の整流素子と上記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間に接続され、上記第1の整流素子と上記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間の電流路、上記第2の整流素子と上記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間の電流路及び上記第3の整流素子と上記第1のMOSトランジスタのゲート端子との間の電流路を遮断するための第5のMOSトランジスタと、
    上記第1のMOSトランジスタのゲート端子と第2の電源電圧端子との間に接続された第6のMOSトランジスタと、
    上記第5のMOSトランジスタと上記第6のMOSトランジスタとを相補的に導通させる制御信号を供給する制御回路と
    を有する請求項22又は23に記載のレベルシフト回路。
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