JP3633713B2 - 距離計測方法及び距離センサ - Google Patents

距離計測方法及び距離センサ Download PDF

Info

Publication number
JP3633713B2
JP3633713B2 JP10134796A JP10134796A JP3633713B2 JP 3633713 B2 JP3633713 B2 JP 3633713B2 JP 10134796 A JP10134796 A JP 10134796A JP 10134796 A JP10134796 A JP 10134796A JP 3633713 B2 JP3633713 B2 JP 3633713B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
light
measured
conical
distance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP10134796A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09287931A (ja
Inventor
正弥 伊藤
完治 西井
剛 野村
誠司 濱野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP10134796A priority Critical patent/JP3633713B2/ja
Priority to US08/847,991 priority patent/US5781269A/en
Publication of JPH09287931A publication Critical patent/JPH09287931A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3633713B2 publication Critical patent/JP3633713B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、大深度で且つ高分解能な測定が可能な距離計測方法及び距離センサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来の距離センサとしては、例えば特開昭62−28610号公報に示されているものが知られている。図9は前記従来の距離センサの基本構成を示しており、図9において、101は発光ダイオードや半導体レーザ等よりなる発光素子、102は開口数NAの第1のレンズ、103は焦点距離fの第2のレンズ、104はPSDやCCD等よりなる位置検出素子である。これら光学系はScheimpflugの条件を満たすように構成されている。ここで、Scheimpflugの条件とは、第2のレンズ103の焦点距離fと、発光素子101の光軸と第2のレンズ103の光軸とのなす角θと、第2のレンズ103の主平面と位置検出素子104の検出面とのなす角βと、発光素子101の光軸と第2のレンズ103の光軸との交点Oから第2のレンズ103までの距離Lと、発光素子101の光軸と第2のレンズ103の主平面との交点と第2のレンズ103の主点との距離dとの間に、(数1)に示す関係があることを言う。
【0003】
【数1】
β=tan−1(f/d)
但し、f=fL/(L−f)
【0004】
光学系がScheimpflugの条件を満足すると、被測定物Obが第1のレンズ102の焦点位置Oにある場合はもちろん、被測定物Obが第1のレンズ102の焦点位置Oからずれた点O´にあっても、第1のレンズ102によって結像されたビームは、第2のレンズ103により位置検出素子104上に結像する。
【0005】
以下、前記のように構成された距離センサの動作について説明する。
【0006】
発光素子101から出射された光は、第1のレンズ102により点Oに位置する被測定物Ob上に結像される。点Oに位置する被測定物Ob上に結像された光は被測定物Ob上で拡散し、拡散した光の一部は第2のレンズ103により位置検出素子104上のA点に結像する。被測定物Obの位置が点O´となった場合には、先ほど説明したように、この光学系はScheimpflugの条件を満足しているため、位置検出素子104上のB点に結像する。発光素子101の光軸上での被測定物Obの移動量や凹凸等は、位置検出素子104上での結像位置の移動量に対応するため、位置検出素子104上における結像位置の移動量を測定することにより、被測定物Obの移動量や凹凸等を求めることができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記従来の構成では、第1のレンズ102を通過した光は、波動光学的には、図10に示すように、第1のレンズ102の開口数NAと発光素子101の波長λとによって定まる焦点深度λ/NA及びビーム径1.22×λ/NAを持つ。従って、第1のレンズ102の焦点位置Oから離れるに伴って、被測定物Ob上におけるビーム径は大きくなり、距離センサの横分解能は低下する。例えば、He−Ne(λ:633nm)のビームと第1のレンズ(開口数NA=0.1)とを用いた場合、焦点深度は63μmとなり、ビーム径は7.7μmとなる。
【0008】
このように、従来の構成において、大焦点深度を実現するために第1のレンズ102の開口数NAを小さくすると、ビーム径は大きくなる。前述したように、従来の構成においては、大焦点深度の要求と小ビーム径の要求とは相反する関係にあって、100mmの焦点深度でビーム径を20μm以下にすることは物理的に困難であった。
【0009】
従って、従来の構成の距離センサによると、測定深度が100mm以上で且つ高精度な測定を行なうことは困難であった。
【0010】
前記に鑑み、本発明は、大深度測定及び高精度測定が可能な距離計測方法及び距離センサを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するため、本発明は、単波長の平行光を下記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に照射するものである。
ρ<D/{2tan(β)}…………式(1)
ただし、
β=sin -1 {nsin(π/2−α/2)}−π/2+α/2
D:円錐レンズの有効径
α:円錐レンズの円錐形状の頂角
【0012】
具体的に請求項1の発明が講じた解決手段は、距離計測方法を、単波長の平行光を出射する工程と、出射された平行光を上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に照射する工程と、前記被測定物の表面に照射された後、拡散されたビームを集光する工程と、集光されたビームの位置を検出する工程と、検出されたビームの位置に基づき前記被測定物の表面における距離を測定する工程とを備えている構成とするものである。
【0013】
請求項1の構成により、単波長の平行光を上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に照射する工程を備えており、被測定物の表面に照射されるビームにおいては小ビーム径が長い距離に亘って持続するため、ビームの焦点位置から少し程度離れた位置においてもビーム径は小さいままである。
【0014】
請求項2の発明が講じた解決手段は、距離センサを、単波長の光を出射する発光素子と、前記発光素子から出射された光を平行光にして出射するコリメータレンズと、前記コリメータレンズから出射された平行光を上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に向かって出射する投影ユニットと、前記被測定物の表面により拡散された拡散光を集光する集光レンズと、前記集光レンズにより集光された光の位置を検出する位置検出素子とを備えている構成とするものである。
【0015】
請求項2の構成により、投影ユニットは、平行光を上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に向かって出射するため、ビームの焦点位置から少し程度離れた位置においてもビーム径は小さいままである。
【0016】
請求項3の発明が講じた解決手段は、距離センサを、単波長の光を出射する発光素子と、前記発光素子から出射された光を平行光にして出射するコリメータレンズと、前記コリメータレンズから出射された平行光を上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え出射する投影ユニットと、前記投影ユニットから出射されたビームを前記被測定物の表面に向かって走査しながら出射すると共に前記被測定物の表面により拡散された拡散光を反射する走査ミラーと、前記走査ミラーにより反射された拡散光を集光する集光レンズと、前記集光レンズにより集光された光の位置を検出する位置検出素子とを備えている構成とするものである。
【0017】
請求項3の構成により、請求項2の構成と同様、投影ユニットは、平行光を上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に向かって出射するため、ビームの焦点位置から少し程度離れた位置においてもビーム径は小さいままである。また、走査ミラーは、投影ユニットから出射されたビームを被測定物の表面に向かって走査しながら出射するので、被測定物の表面における距離測定を高速に行なうことができる。
【0018】
請求項4の発明が講じた解決手段は、距離センサを、単波長の光を出射する発光素子と、前記発光素子から出射された光を平行光にして出射するコリメータレンズと、前記コリメータレンズから出射された平行光を上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え出射する投影ユニットと、前記投影ユニットから出射されたビームを走査しながら出射する走査ミラーと、前記走査ミラーから出射されたビームを被測定物の表面に対して垂直な方向から出射する照明レンズと、前記照明レンズから出射され、前記被測定物の表面により拡散された拡散光のうち、前記走査ミラーが走査する方向と垂直な方向の成分を集光する第1のシリンドリカルレンズと、前記第1のシリンドリカルレンズにより集光された光のうち、該第1のシリンドリカルレンズの光軸に平行な成分を集光する第2のシリンドリカルレンズと、前記第2のシリンドリカルレンズにより集光された光の位置を検出する位置検出素子とを備えている構成とするものである。
【0019】
請求項4の構成により、請求項2の構成と同様、投影ユニットは、上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に向かって出射するため、ビームの焦点位置から少し程度離れた位置においてもビーム径は小さいままである。また、請求項3の構成と同様、走査ミラーは、投影ユニットから出射されたビームを被測定物の表面に向かって走査しながら出射するので、被測定物の表面における距離測定を高速に行なうことができる。さらに、照明レンズは、走査ミラーから出射されたビームを被測定物の表面に対して垂直な方向から出射するため、ビームは、被測定物の表面に凹凸があっても被測定物の測定点に確実に届く。
【0020】
請求項5の発明が講じた解決手段は、距離センサを、単波長の光を出射する発光素子と、前記発光素子から出射された光を平行光にして出射するコリメータレンズと、前記コリメータレンズから出射された平行光を上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え出射する投影ユニットと、前記投影ユニットから出射されたビームを被測定物の表面に向かって走査しながら出射する第1の反射面と、前記被測定物の表面により拡散された拡散光を透過させる透過部と、前記第1の反射面の裏面側に設けられ入射する光を反射する第2の反射面とを有する走査ミラーと、前記走査ミラーの透過部を透過してきた光を前記走査ミラーの第2の反射面に導く固定ミラーと、前記走査ミラーの第2の反射面により反射された拡散光を集光する集光レンズと、前記集光レンズにより集光された光の位置を検出する位置検出素子とを備えている構成とするものである。
【0021】
請求項5の構成により、請求項2の構成と同様、投影ユニットは、平行光を上記式(1)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に向かって出射するため、ビームの焦点位置から少し程度離れた位置においてもビーム径は小さいままである。また、請求項3の構成と同様、走査ミラーの第1の反射面は、投影ユニットから出射されたビームを被測定物の表面に向かって走査しながら出射するので、被測定物の表面における距離測定を高速に行なうことができる。さらに、走査ミラーに距離測定方向の面ぶれが発生した場合、第1の反射ミラーの面ぶれを第2の反射ミラーによって相殺することができる。
【0022】
請求項6の発明は、請求項2〜5の構成に、前記投影ユニットは円錐レンズよりなる構成を付加するものである。
【0024】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)
図1は本発明の第1の実施形態に係る距離計測方法及び距離センサの基本構成を示しており、図1において、1は発光ダイオードや半導体レーザ等よりなり単波長の光を出射する発光素子、2は発光素子1から出射された光を平行光とするコリメータレンズであって、発光素子1及びコリメータレンズ2により発光部が構成されている。また、3は頂角αの円錐形状を有する屈折率nの円錐レンズであって、該円錐レンズ3は投影ユニットを構成している。また、4は集光レンズ、5はPSDを使用したり、或いはラインセンサ等のCCD出力を画像処理することにより位置を検出する位置検出素子であって、これらの光学系は従来例で述べたScheimpflugの条件を満足している。
【0025】
以下、前記のように構成された第1の実施形態に係る距離計測方法及び距離センサの動作を説明する。
【0026】
発光素子1から出射された光はコリメータレンズ2により平行光にされる。この平行光は、円錐レンズ3に入射した後、該円錐レンズ3により、図2に示すように、(数2)で表した光軸とのなす角βを持って屈折する。
【0027】
【数2】
β=sin−1{nsin(π/2−α/2)}−π/2+α/2
【0028】
コリメータレンズ2から出射する平行光の光エネルギー密度をiとし、幾何光学解析により、円錐レンズ3の頂点から光軸に沿って距離ρで且つ光軸からの距離rの点における光エネルギー密度I(ρ、r)は、(数3)となる。
【0029】
【数3】
Figure 0003633713
【0030】
(数3)より、ビームプロファイルは1/rの曲線となり、光エネルギー密度は光軸上で極大となることが分かる。このような光エネルギー密度が高いρの領域は、円錐レンズ3の有効径をDとすると、(数4)のように表せる。
【0031】
【数4】
ρ<D/{2tan(β)}
【0032】
例えば、円錐レンズ3の頂角αを165°、有効径Dを30mm、屈折率nを1.515として計算すると、光エネルギー密度が高い領域ρ<287mmとなり、大焦点深度を実現できる。
【0033】
図3は、前記の構成において、円錐レンズ3とHe−Neのビームとを用いて実験を行なった結果を示している。図3より、円錐レンズ3の頂点からの距離が250mm以内の領域においてビーム径15μm以下を実現できていることが分かる。このように小ビーム径が長い距離に亘って持続されることを、以下においては、大焦点深度且つ小ビーム径と呼ぶことにする。
【0034】
前記のような照射ビームを用いて、従来例と同様の距離計測を行なうことにより、大深度で且つ高分解能な測定が可能である距離計測方法及び距離センサを実現することができる。
【0035】
以上説明したように、第1の実施形態によると、光学系に、発光素子1から出射された光を平行光とするコリメータレンズ2及び平行光を集光する円錐レンズ3を設けることにより、照射ビームを焦点深度200mm以上で且つビーム径20μm以下にできるため、大深度で且つ高分解能な距離測定を行なうことができる。
【0036】
(第2の実施形態)
図4(a)は本発明の第2の実施形態に係る距離計測方法及び距離センサの基本構成を示している。図4(a)においては、図1と同一の機能を持つものは同一の符号を付すことにより、説明を省略する。図4(a)において、7は光軸からの距離hの位置に幅pの円形スリットを有するマスクであって、該マスク7にはコリメータレンズ2から出射された平行光が入射する。8はマスク7から距離t離れた位置に配置され、マスク7により回折させられた光を被測定物Obに投影する焦点距離fの投影レンズであって、これらマスク7及び投影レンズ8により投影ユニットが構成されている。尚、図4(b)はマスク7の平面構造を示しており、図中において、ハッチングが施されていない部分が円形スリットである。また、これらの光学系は従来例で述べたScheimpflugの条件を満足している。
【0037】
以下、前記のように構成された第2の実施形態に係る距離計測方法及び距離センサの動作を説明する。
【0038】
発光素子1から出射された波長λの単波長の光は、コリメータレンズ2により平行光にされた後、マスク7に入射する。平行光は、マスク7の円形スリットにより回折され、投影レンズ8の主平面上において1.22×t/pの幅(円形スリットを透過する全光エネルギーの84%がこの幅に入る)を有する拡散光となる。この拡散光は、投影レンズ8によって、第1の実施形態における円錐レンズ3を出射した光と同様の光となる。但し、光エネルギー密度の高い領域ΔZは(数5)のように表される。
【0039】
【数5】
ΔZ=1.22×f・t・λ/(p・h)
【0040】
例えば、h=1mm、p=0.01mm、f=200mm、t=10mm、λ=633nmとすると、ΔZ=154mmとなり、測定深度を100mm以上にできる。また、ビーム径は、第1の実施形態と同様に、20μm程度にすることができる。
【0041】
従って、前記のような照射ビームを用いて、従来例と同様の距離計測を行なうことにより、大深度で且つ高分解能な測定が可能である距離計測方法及び距離センサを実現できる。
【0042】
以上説明したように、第2の実施形態によると、光学系に、円形スリットを有するマスク7及び投影レンズ8を設けることにより、照射ビームを大焦点深度且つ小ビーム径にできるため、大深度で且つ高分解能な距離測定を行なうことができる。
【0043】
(第3の実施形態)
図5は本発明の第3の実施形態に係る距離センサの基本構成を示している。図5においては、図1と同一の機能を持つものは同一の符号を付すことにより、説明を省略する。尚、第3の実施形態においては、投影ユニットとして第1の実施形態と同様に円錐レンズ3を用いているが、第2の実施形態で説明した投影ユニットを用いてもよいことは言うまでもない。図5において、10は投影ユニットからの光をx軸方向に走査し、被測定物Obからの拡散光を集光レンズ4に導く走査ミラー、11は走査ミラー10を回転走査させる走査モータである。これら光学系は従来例で述べたScheimpflugの条件を満足している。
【0044】
以下、前記のように構成された第3の実施形態に係る距離センサの動作を説明する。
【0045】
発光素子1から出射された波長λの単波長の光は、コリメータレンズ2により平行光となり、円錐レンズ3に入射する。円錐レンズ3を出射した光は、走査ミラー10を介して被測定物Obに照射される。走査ミラー10は走査モータ11により、被測定物Ob上でx軸方向に走査するように回転する。被測定物Obで拡散した光の一部は、走査ミラー10及び集光レンズ4を介して位置検出素子5上に集光する。
【0046】
以上説明したように、従来例と同様の距離計測を行なうことができると共に、第1及び第2の実施形態で説明したように、円錐レンズ等で構成された大焦点深度且つ小ビーム径を実現する投影ユニットを用いることにより、大深度で且つ高分解能な測定が可能である距離センサを実現できる。
【0047】
また、走査ミラー10及び走査モータ11を用いることにより、第1及び第2の実施形態とは異なり、x軸方向の走査を光学的にすることができるため、高速な測定が可能となる。
【0048】
(第4の実施形態)
図6は本発明の第4の実施形態に係る距離センサの基本構成を示している。図6においては、図5と同一の機能を持つものは同一の符号を付すことにより、説明を省略する。尚、第4の実施形態においては、投影ユニットとして第1の実施形態と同様に円錐レンズ3を用いているが、第2の実施形態で説明した投影ユニットを用いてもよいことは言うまでもない。図6において、12は走査ミラー、13は走査ミラー12を前側焦点面とし、被測定物Obと直交する光軸を有する照明レンズ、14は被測定物Ob上の拡散光のうちy方向の光だけを位置検出素子5上に結像させる第1のシリンドリカルレンズ、15は位置検出素子5を後側の焦点面とし、第1のシリンドリカルレンズ14の光軸に平行な光を位置検出素子5に結像する第2のシリンドリカルレンズである。また、これら光学系は従来例で述べたScheimpflugの条件を満足している。
【0049】
以下、前記のように構成された第4の実施形態に係る距離センサの動作を説明する。
【0050】
発光素子1から出射された波長λの単波長の光は、コリメータレンズ2により平行光となり、円錐レンズ3に入射する。円錐レンズ3を出射した光は、走査ミラー12を介して照明レンズ13に導かれる。照明レンズ13は走査ミラー12を前側焦点面とし被測定物Obと直交する光軸を有しているため、照明レンズ13から出射した光は被測定物Obに直交するように照射される。照明レンズ13により照射されたビームにおいては、(数4)又は(数5)で表した光エネルギー密度の高い領域は、照明レンズ13の集光作用により減少するが、照明レンズ13の開口数NAを小さくし、(数4)では円錐レンズ3の頂角αをより180°に近づけることにより、また、(数5)では円形スリットの幅pを狭くすることにより、光エネルギー密度の高い領域を100mm以上にすることが可能である。
【0051】
被測定物Ob上で拡散した光は、第1のシリンドリカルレンズ14により、y方向の成分だけが位置検出素子5の平面上に集光させられる。また、第2のシリンドリカルレンズ15により、第1のシリンドリカルレンズ14から出射した光のうち第1のシリンドリカルレンズ14の光軸に平行な光だけが位置検出素子5上に集光する。
【0052】
以上説明したように、従来例と同様の距離計測を行なうことができると共に、第1及び第2の実施形態で説明したように、円錐レンズ等で構成された大焦点深度且つ小ビーム径を実現する投影ユニットを用いることにより、大深度で且つ高分解能な測定が可能である距離センサを実現できる。
【0053】
また、走査ミラー12及び走査モータ11を用いることにより、第1及び第2の実施形態とは異なり、x軸方向の走査を光学的にすることができるため、高速な測定が可能となる。
【0054】
以下、第4の実施形態と第3の実施形態との差異を図7を用いて説明する。図7は、第3の実施形態を用いて、段差のある被測定物Obを測定した場合を示している。第3の実施形態の場合には、走査ミラー10を基点にして回転走査をするため、被測定物Obにおける斜線部Pの領域には照射光が入らないため、測定できない部位が存在する。これは、被測定物Obに対して、常に直交方向から照明光が入射しないために発生する。
【0055】
これに対して、第4の実施形態によると、照明レンズ13を設けたため、被測定物Obに対して常に直交方向から照明光が入射するため、図7のP部のような照明光が入らない部位が発生しないので、正確に測定ができる。
【0056】
尚、第4の実施形態における照明レンズ13としては、fθレンズを用いてもよく、fが大きい場合には、ftan(θ)又はfsin(θ)レンズを用いてもよいことは言うまでもない。
【0057】
(第5の実施形態)
図8は本発明の第5の実施形態に係る距離センサの基本構成を示している。図8においては、図5と同一の機能を持つものは同一の符号を付すことにより、説明を省略する。尚、第5の実施形態においては、投影ユニットとして第1の実施形態と同様に円錐レンズ3を用いているが、第2の実施形態で説明した投影ユニットを用いてもよいことは言うまでもない。図8において、16は走査ミラーであって、該走査ミラー16は、円錐レンズ3から出射された光を被測定物Obの方に反射する第1の反射面と、該第1の反射面の裏面側に設けられた第2の反射面と、被測定物Obにより拡散された拡散光を透過する中央の開口部とを有している。17は被測定物Obにより拡散され走査ミラー16の開口部を透過した拡散光を走査ミラー17の第2の反射面に導き、該第2の反射面により反射された拡散光を集光レンズ4を介して位置検出素子5上に結像させるように配置させられた固定ミラーである。また、これら光学系は従来例で述べたScheimpflugの条件を満足している。
【0058】
以下、前記のように構成された第5の実施形態に係る距離センサの動作を説明する。
【0059】
発光素子1から出射した波長λの単波長の光は、コリメータレンズ2により平行光となり、円錐レンズ3に入射する。円錐レンズ3を出射した光は、走査ミラー16の第1の反射面を介して被測定物Obに照射される。被測定物Ob上で拡散した光の一部は、走査ミラー16の開口部を透過し、固定ミラー17により反射させられる。固定ミラー17は、被測定物Obからの拡散光を走査ミラー17の第2の反射面に導き、集光レンズ4を介して位置検出素子5上に結像させるように配置されているので、被測定物Ob上での拡散光は位置検出素子5上に結像する。
【0060】
以上説明したように、従来例と同様の距離計測を行なうことができると共に、第1及び第2の実施形態で説明したように、円錐レンズ等で構成された大焦点深度且つ小ビーム径を実現する投影ユニットを用いることにより、大深度で且つ高分解能な測定が可能である距離センサを実現できる。
【0061】
また、走査ミラー16及び走査モータ11を用いることにより、第1〜4の実施形態とは異なり、x軸方向の走査を光学的にすることができるため、高速な測定が可能となる。
【0062】
以下、第5の実施形態と第3の実施形態との差異を説明する。第3の実施形態によると、走査ミラー10及び走査モータ11にy方向の面ぶれ又は軸ぶれが発生すると、位置検出素子5上のy方向、つまり、距離測定の方向への移動となり、距離測定誤差が発生する。このような面ぶれが、走査モータ11の回転角に同期して規則的に発生する場合には補正できるが、面ぶれに繰り返し再現性がない場合には、補正することができず、距離測定誤差となって距離測定の精度を劣化させる。
【0063】
これに対して、第5の実施形態によると、走査ミラー16及び固定ミラー17を設け、走査ミラー16及び走査モータ11にy方向の面ぶれが発生しても、走査ミラー16の裏面を用いて再度反射させるため、y方向の面ぶれの影響を相殺することができるので、精度良く距離測定を行なうことができる。
【0064】
【発明の効果】
請求項1の発明に係る距離計測方法によると、被測定物の表面に照射されるビームにおいては(数4)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようにするため、ビームの焦点位置から少し程度離れた位置でもビーム径は小さいままであるから、小ビーム径を焦点深度が大きい範囲に亘って実現できるので、大深度で且つ高精度な測定が可能になる。
【0065】
請求項2の発明に係る距離センサによると、投影ユニットにより被測定物の表面に照射されるビームにおいては、(数4)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームの焦点位置から少し程度離れた位置でもビーム径は小さいままであるから、小ビーム径を焦点深度が大きい範囲に亘って実現できるので、大深度で且つ高精度な測定が可能になる。
【0066】
請求項3の発明に係る距離センサによると、請求項2の発明と同様、(数4)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようにするため、大深度で且つ高精度な測定が可能になると共に、走査ミラーは、投影ユニットから出射されたビームを被測定物の表面に向かって走査しながら出射するので、走査ミラーが走査する方向の距離測定を高速に行なうことができる。
【0067】
請求項4の発明に係る距離センサによると、(数4)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようにするため、大深度で且つ高精度な測定が可能になると共に、投影ユニットから出射されたビームは被測定物の表面を走査するので、走査ミラーが走査する方向の距離測定を高速に行なうことができる上に、被測定物の表面に凹凸があっても、被測定物の表面にビームが確実に届くため、ビームの走査に起因して発生する所謂隠れ等の問題が発生しないので、正確な測定を行なうことができる。
【0068】
請求項5の発明に係る距離センサによると、(数4)を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようにするため、大深度で且つ高精度な測定が可能になると共に、投影ユニットから出射されたビームは被測定物の表面を走査するので、走査ミラーが走査する方向の距離測定を高速に行なうことができる上に、走査ミラーに距離測定方向の面ぶれが発生した場合でも、第1の反射ミラーの面ぶれを第2の反射ミラーによって相殺できるため、面ぶれ等の誤差が発生しないので、距離測定を精度良く行なうことができる。
【0069】
請求項6の発明に係る距離センサによると、投影ユニットは円錐レンズよりなるため、平行光を小ビーム径が長い距離に亘って持続するようなビームに変え出射する投影ユニットを確実に実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る距離計測方法及び距離センサの基本構成を示す図である。
【図2】前記第1の実施形態における円錐レンズの動作を説明する図である。
【図3】前記第1の実施形態における円錐レンズの特性を説明する図である。
【図4】本発明の第2の実施形態に係る距離計測方法及び距離センサの基本構成を示す図である。
【図5】本発明の第3の実施形態に係る距離センサの基本構成を示す図である。
【図6】本発明の第4の実施形態に係る距離センサの基本構成を示す図である。
【図7】前記第3の実施形態に係る距離センサの問題点を説明する図である。
【図8】本発明の第5の実施形態に係る距離センサの基本構成を示す図である。
【図9】従来の距離センサの構成及び動作を説明する図である。
【図10】従来の距離センサの問題点を説明する図である。
【符号の説明】
1 発光素子
2 コリメータレンズ
3 円錐レンズ
4 集光レンズ
5 位置検出素子
7 マスク
8 投影レンズ
10 走査ミラー
11 走査モータ
12 走査ミラー
13 照明レンズ
14 第1のシリンドリカルレンズ
15 第2のシリンドリカルレンズ
16 走査ミラー
17 固定ミラー

Claims (6)

  1. 単波長の平行光を出射する工程と、
    出射された平行光を下記数式を満たす距離ρに亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に照射する工程と、
    前記被測定物の表面に照射された後、拡散されたビームを集光する工程と、
    集光されたビームの位置を検出する工程と、
    検出されたビームの位置に基づき前記被測定物の表面における距離を測定する工程とを備えていることを特徴とする距離計測方法。
    ρ<D/{2tan(β)}
    ただし、
    β=sin-1{nsin(π/2−α/2)}−π/2+α/2
    D:円錐レンズの有効径
    α:円錐レンズの円錐形状の頂角
  2. 単波長の光を出射する発光素子と、
    前記発光素子から出射された光を平行光にして出射するコリメータレンズと、
    前記コリメータレンズから出射された平行光を下記数式を満たす距離ρに亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え被測定物の表面に向かって出射する投影ユニットと、
    前記被測定物の表面により拡散された拡散光を集光する集光レンズと、
    前記集光レンズにより集光された光の位置を検出する位置検出素子とを備えていることを特徴とする距離センサ。
    ρ<D/{2tan(β)}
    ただし、
    β=sin-1{nsin(π/2−α/2)}−π/2+α/2
    D:円錐レンズの有効径
    α:円錐レンズの円錐形状の頂角
  3. 単波長の光を出射する発光素子と、
    前記発光素子から出射された光を平行光にして出射するコリメータレンズと、
    前記コリメータレンズから出射された平行光を下記数式を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え出射する投影ユニットと、
    前記投影ユニットから出射されたビームを前記被測定物の表面に向かって走査しながら出射すると共に前記被測定物の表面により拡散された拡散光を反射する走査ミラーと、
    前記走査ミラーにより反射された拡散光を集光する集光レンズと、
    前記集光レンズにより集光された光の位置を検出する位置検出素子とを備えていることを特徴とする距離センサ。
    ρ<D/{2tan(β)}
    ただし、
    β=sin-1{nsin(π/2−α/2)}−π/2+α/2
    D:円錐レンズの有効径
    α:円錐レンズの円錐形状の頂角
  4. 単波長の光を出射する発光素子と、
    前記発光素子から出射された光を平行光にして出射するコリメータレンズと、
    前記コリメータレンズから出射された平行光を下記数式を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え出射する投影ユニットと、
    前記投影ユニットから出射されたビームを走査しながら出射する走査ミラーと、
    前記走査ミラーから出射されたビームを被測定物の表面に対して垂直な方向から出射する照明レンズと、
    前記照明レンズから出射され、前記被測定物の表面により拡散された拡散光のうち、前記走査ミラーが走査する方向と垂直な方向の成分を集光する第1のシリンドリカルレンズと、
    前記第1のシリンドリカルレンズにより集光された光のうち、該第1のシリンドリカルレンズの光軸に平行な成分を集光する第2のシリンドリカルレンズと、
    前記第2のシリンドリカルレンズにより集光された光の位置を検出する位置検出素子とを備えていることを特徴とする距離センサ。
    ρ<D/{2tan(β)}
    ただし、
    β=sin-1{nsin(π/2−α/2)}−π/2+α/2
    D:円錐レンズの有効径
    α:円錐レンズの円錐形状の頂角
  5. 単波長の光を出射する発光素子と、
    前記発光素子から出射された光を平行光にして出射するコリメータレンズと、
    前記コリメータレンズから出射された平行光を下記数式を満たす距離に亘って光軸上のエネルギー密度が極大になるようなビームに変え出射する投影ユニットと、
    前記投影ユニットから出射されたビームを被測定物の表面に向かって走査しながら出射する第1の反射面と、前記被測定物の表面により拡散された拡散光を透過させる透過部と、前記第1の反射面の裏面側に設けられ入射する光を反射する第2の反射面とを有する走査ミラーと、
    前記走査ミラーの透過部を透過してきた光を前記走査ミラーの第2の反射面に導く固定ミラーと、
    前記走査ミラーの第2の反射面により反射された拡散光を集光する集光レンズと、
    前記集光レンズにより集光された光の位置を検出する位置検出素子とを備えていることを特徴とする距離センサ。
    ρ<D/{2tan(β)}
    ただし、
    β=sin-1{nsin(π/2−α/2)}−π/2+α/2
    D:円錐レンズの有効径
    α:円錐レンズの円錐形状の頂角
  6. 前記投影ユニットは、円錐レンズよりなることを特徴とする請求項2〜5のいずれか1項に記載の距離センサ。
JP10134796A 1996-04-23 1996-04-23 距離計測方法及び距離センサ Expired - Fee Related JP3633713B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10134796A JP3633713B2 (ja) 1996-04-23 1996-04-23 距離計測方法及び距離センサ
US08/847,991 US5781269A (en) 1996-04-23 1997-04-22 Distance measuring method and distance sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10134796A JP3633713B2 (ja) 1996-04-23 1996-04-23 距離計測方法及び距離センサ

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004330139A Division JP3696228B2 (ja) 2004-11-15 2004-11-15 距離計測方法及び距離センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09287931A JPH09287931A (ja) 1997-11-04
JP3633713B2 true JP3633713B2 (ja) 2005-03-30

Family

ID=14298311

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10134796A Expired - Fee Related JP3633713B2 (ja) 1996-04-23 1996-04-23 距離計測方法及び距離センサ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5781269A (ja)
JP (1) JP3633713B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010106758A1 (ja) * 2009-03-19 2010-09-23 パナソニック株式会社 形状測定装置及び方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1155460A (ja) * 1997-08-06 1999-02-26 Nec Corp 画像読取り装置
JP4133884B2 (ja) * 2004-03-18 2008-08-13 株式会社ミツトヨ 光学的変位測定器
US7548323B2 (en) * 2004-10-29 2009-06-16 Hitachi Via Mechanics, Ltd Displacement and flatness measurements by use of a laser with diffractive optic beam shaping and a multiple point sensor array using the back reflection of an illuminating laser beam
EP1762177B1 (en) * 2005-09-08 2014-11-05 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray computed tomographic apparatus
CN101922919B (zh) * 2010-09-07 2013-06-19 西安工业大学 一种光学零件几何参数非接触测量方法及其测量装置
CN102818525B (zh) * 2012-08-21 2014-11-05 深圳市斯尔顿科技有限公司 双光楔测距装置和测距方法
CN103557835B (zh) * 2013-11-04 2016-01-06 福建新大陆自动识别技术有限公司 激光测距装置和方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6228610A (ja) * 1985-07-30 1987-02-06 Hamamatsu Photonics Kk 近距離センサ
DE4032361A1 (de) * 1990-10-12 1992-04-16 Dirk Prof Dr Ing Jansen Distanzmesskopf fuer drehmaschinen

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010106758A1 (ja) * 2009-03-19 2010-09-23 パナソニック株式会社 形状測定装置及び方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5781269A (en) 1998-07-14
JPH09287931A (ja) 1997-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2920194B2 (ja) 光学式走査装置
JPH09105625A (ja) 距離測定装置
JP3633713B2 (ja) 距離計測方法及び距離センサ
JPH11257917A (ja) 反射型光式センサ
JP4888807B2 (ja) 走査型形状計測機
EP3187822B1 (en) Surface shape measuring device
JPH10161195A (ja) オートフォーカス方法及びオートフォーカス装置
US5033845A (en) Multi-direction distance measuring method and apparatus
JP2010145468A (ja) 高さ検出装置、及びそれを用いたトナー高さ検出装置
JP3696228B2 (ja) 距離計測方法及び距離センサ
JP6743788B2 (ja) 変位センサ
JP3072805B2 (ja) 隙間間隔測定方法
JP4148592B2 (ja) 複屈折測定方法及び複屈折測定装置
JP2002286414A (ja) 光学変位計
JP3200927B2 (ja) 被覆状態測定方法及び装置
JP3328573B2 (ja) 斜光軸光学系を用いた位置検出装置及び方法
JP3113232B2 (ja) 顕微鏡
JP3222214B2 (ja) 対象面の位置検出装置
JP3279815B2 (ja) 変位・傾き検出方法およびそれを用いた自動焦点装置
JPH0950176A (ja) トナー濃度測定装置
JPH08247713A (ja) 変位センサ
JPH09236408A (ja) 焦点位置検出装置
JPH01304339A (ja) 屈折角測定装置
JP2003524194A (ja) 対象物を光学的に走査するための装置
JP3578602B2 (ja) 原稿検知装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040614

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040622

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040818

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040914

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041115

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041214

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041221

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080107

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090107

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100107

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees