JP3625876B2 - 光学薄膜の製造方法および該光学薄膜を有する光学部品 - Google Patents

光学薄膜の製造方法および該光学薄膜を有する光学部品 Download PDF

Info

Publication number
JP3625876B2
JP3625876B2 JP27920494A JP27920494A JP3625876B2 JP 3625876 B2 JP3625876 B2 JP 3625876B2 JP 27920494 A JP27920494 A JP 27920494A JP 27920494 A JP27920494 A JP 27920494A JP 3625876 B2 JP3625876 B2 JP 3625876B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
metal
film
optical thin
sputtering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP27920494A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH08134637A (ja
Inventor
宣明 三田村
健 川俣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP27920494A priority Critical patent/JP3625876B2/ja
Publication of JPH08134637A publication Critical patent/JPH08134637A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3625876B2 publication Critical patent/JP3625876B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、光学部品などに用いられる反射防止膜やハーフミラー、干渉フィルターなどの光学薄膜の製造方法および該光学薄膜を有する光学部品に係り、より詳しくはスパッタリング法による光学薄膜の製造方法およびこの方法により得られる光学薄膜を有する光学部品に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、反射防止膜やハーフミラー、干渉フィルターなどの光学薄膜を光学部品に形成する場合、真空中で膜材料を加熱して蒸発させ、基板上に付着させる真空蒸着法が主に使用されてきた。しかし、近年になり、上記光学薄膜を成形する際においても、真空蒸着法に比較して自動化・省力化・大面積基板への適用性などの点で有利なスパッタリング法によるコ−ティングの要求が高まってきた。
【0003】
一方、光学薄膜を構成する物質としては、SiOやTiOなどの金属酸化物が一般的であるが、この他に屈折率が低い等の理由により、MgFなどの金属フッ化物がしばしば用いられている。ところが、MgFなどの金属フッ化物は真空蒸着法により容易に良質な膜が成形できるのに対し、スパッタリング法においては、スパッタリングを行う際にフッ素(F)が解離しやすく、形成した膜に可視光の吸収が生じやすいという問題がある。
【0004】
そこで、従来、スパッタガスとしてフッ素を含有するガスを用いることにより、解離したフッ素を補充するという技術が検討されている。このような試みは、例えば特開平4−289165号公報に開示されている。この公報によれば、金属フッ化物をスパッタする際、スパッタガスとして不活性ガスとフッ素ガスまたはフッ素ガス含有化合物ガスとの混合ガスを用い、金属フッ化物の膜を形成している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来技術で用いられているフッ素ガスやフッ素含有化合物ガスなどのフッ素系ガスは、極めて腐食性が高く、真空チャンバーやポンプ、真空油などを劣化させてしまう恐れがあった。また、人体にも有害で、特別な排ガス処理装置が必要である等、生産性や安全性において問題があった。
【0006】
本発明は、上記従来技術の問題点に鑑みてなされたもので、スパッタリング法により、光吸収の少ない光学薄膜を生産性良く安全に形成することができる光学薄膜の製造方法および該光学薄膜を有する光学部品を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記問題点を解決するために、以下のように構成した。
請求項1の発明は、スパッタリング法により光学薄膜を製造するにあたり、少なくとも金属酸フッ化物(MF;Mは金属)を含むターゲットをスパッタリングすることにより、光学薄膜を基板上に形成することとした。ここで、フッ素(F)と酸素(O)の金属に対する組成比(xおよびy)は、特に限定されるものではない。また、本発明では、金属酸フッ化物に他の金属酸フッ化物や金属酸化物などを、本発明の効果を享受し得る範囲で混合しても良く、また他の金属酸化物や金属などからなる層と組み合わせて多層の光学薄膜を構成しても一向に構わない。
【0008】
請求項2の発明は、請求項1における金属酸フッ化物の金属をMgとした。また請求項3の発明は、ガラスまたはプラスチックスを基板として、その上に金属酸フッ化物からなる光学薄膜を有する構成の光学部品とした。本発明の金属酸フッ化物を構成する金属は、特に限定をする必要はなく、Li,Na,Mg,Al,Ca,Ga,Sr,Y,In,Ba,Pb,La,Ce,Nd,Sm,Dy,Yb等、さまざまなものが適用可能であるが、膜の屈折率や耐久性などを勘案すると、特に金属がMgである時に有効である。
【0009】
なお、本発明における光学薄膜とは、反射防止膜、反射増加膜、ハーフミラー、ビームスプリッター、干渉フィルター、位相膜等をさし、特に限定されるものではない。
【0010】
また、本発明におけるスパッタリング法とは、マグネトロンスパッタリング、高周波(RF)スパッタリング、低周波(LF)スパッタリング、二極スパッタリング、ECRスパッタリング、イオンビームスパッタリング(IBS)等をさし、特に限定されるものではない。
【0011】
【作用】
上記請求項1にあっては、少なくとも金属酸フッ化物(MF;Mは金属)を含むターゲットを用いて、金属酸フッ化物からなる光学薄膜を製造する。金属酸フッ化物は、通常の金属フッ化物に比べてスパッタ時のフッ素の解離が少なく、製造された膜は光吸収が生じにくくなる。これは、金属に結合している酸素(O)が同じく金属に結合しているフッ素(F)の解離を抑える作用があるからである。
【0012】
また、少なくとも金属酸フッ化物(MF;Mは金属)を含むターゲットを用いて得られる金属酸フッ化物の膜は、通常の金属フッ化物の膜に近い屈折率を有し、光学特性や耐久性においても金属フッ化物と同等以上の性能を有しているので、従来の金属フッ化物と同様に光学薄膜に用いることができる。さらに、スパッタガスとして特殊なフッ素系のガスを用いる必要がなく、生産性や安全性を損なうことがない。
したがって、請求項3の光学部品にあっては、金属フッ化物の膜に比べ、その上に形成される金属酸フッ化物の膜は金属に結合した酸素が同じく金属に結合しているフッ素の解離を抑える作用があるから、光吸収が生じにくくなり、よって光吸収の少ない光学部品が得られる。
【0013】
請求項2のように、金属酸フッ化物を構成する金属を、特にMgとした場合、スパッタリングにより得られる膜は、特に屈折率が低い(n≦1.4)とともに耐久性が高く、光学薄膜に有効である。
【0014】
【実施例1】
本発明の実施例1では、ターゲットにMgF(x=1.8,y=0.1)を用い、ガラス基板上にMFからなる単層の反射防止膜を形成した。
上記ターゲットのMgFは、MgFを真空中で熱酸化するなどして、容易に製造することができる。
【0015】
図1は本実施例で使用したスパッタリング装置を示す概略構成図である。
スパッタリング装置のチャンバー1は三槽構造となっており、基板をセットする第一槽2、基板上に成膜を行う第二槽3および成膜した基板を取り出す第三槽4から構成される、いわゆるインライン式の装置である。第一槽2と第二槽3はゲートバルブ5および第二槽3と第三槽4はゲートバルブ6でそれぞれ仕切られている。第二槽3には、ガス導入バルブ7を備えたガス導入口8が設けられており、ガス導入バルブ7を開くことによりArガスなどのスパッタガスを第二槽3内に外部から導入することができるようになっている。また、第二槽3内には、マグネトロンを使用したカソードが設けられ、4インチのターゲット9を取り付け得るようになっている。ターゲット9のカソードには、RF電源10が備えられている。さらに、ターゲット9と基板ホルダ12で保持されたガラス基板11の間には、ターゲット9からの粒子を遮るためのシャッタ13が開閉自在に設けられている。
【0016】
上記基板ホルダー12は、第一槽2、第二槽3および第三槽4内を移動自在に設けられており、第一槽2でガラス基板11を保持させた後、第二槽3内でターゲット9と対向する位置に移動させてガラス基板11上に成膜した後、第三槽4に移動させ得るようになっている。なお、排気系は図示を省略してあるが、排気系はロータリーポンプとターボ分子ポンプとからなっている。
【0017】
本実施例では、第二槽3のターゲット9としてMgF(x=1.8,y=0.1)をカソードに取り付け、MgFをスパッタする際には、真空槽内を十分に排気した後、ガス導入バルブ7を徐々に開いてガス導入口8から分圧が2PaのArガスを導入し、RF電源10の投入電力を400Wとする。このようにすることで、RFマグネトロンスパッタリング法により、ガラス基板11上にMgF膜を形成することができる。
【0018】
次に、本実施例の光学薄膜の成膜手順を説明する。
まず、硝材LaSK01((株)オハラ製、屈折率n=1.76)からなるガラス基板11を基板ホルダ12に保持し、第一槽1内にセットする。槽内を図示を省略した排気系のターボ分子ポンプにより1×10−3Paまで排気した後、ゲートバルブ5を開き、基板ホルダ12とともにガラス基板11を第二槽3内の所定位置に送る。
【0019】
ガラス基板11が第二槽3に入るとゲートバルブ5を閉じ、シャッタ13を開き、光学的膜厚nd=130nmのMgF膜をガラス基板11上に形成した後、シャッタ13を閉じる。続いて、ゲートバルブ6を開き、ガラス基板11を基板ホルダ12とともに第三槽4に送る。
【0020】
ガラス基板11が第三槽4内に送られた後、ゲートバルブ6を閉じ、第三槽4を大気圧にリークしてガラス基板11を基板ホルダ12とともに取り出す。このようにして、ガラス基板11上にMgFからなる単層の反射防止膜を形成することができる。本実施例の成膜条件等を表1にまとめて示す。
【0021】
【表1】
Figure 0003625876
【0022】
本実施例では、金属酸フッ化物であるMgFのターゲットを用いているため、通常の金属フッ化物であるMgFをターゲットに用いた場合に比べて、スパッタ時のフッ素の解離が少なく、形成した膜の光吸収が生じない。これは、Mgに結合している酸素(O)が同じくMgに結合しているフッ素(F)の解離を抑える作用があるからである。
【0023】
すなわち、本実施例の製造方法によって得られるMgFの膜は、通常のMgFの膜の屈折率(n=1.38)に近い、低い屈折率(n=1.39)を有し、光学特性や耐久性においてもMgFと同等以上の性能を有している。
また、本実施例では、スパッタガスとして特殊なフッ素系のガスを用いておらず、生産性や安全性を損なうことがない。
【0024】
本実施例により形成した反射防止膜の分光反射特性を図2に示す。図2に示すように、MgFからなる反射防止膜は、単層で良好な反射防止効果が得られていることがわかる。また、光吸収は可視域で0.3%以下であり、実用上何ら問題はなかった。
【0025】
以上のように、本発明の実施例1によれば、MgFのターゲットをスパッタリングすることにより、反射防止膜を形成したので、光吸収の少ない反射防止膜をスパッタリング法によりガラス基板上に生産性良く安全に製造することができる。また、本実施例では、特に金属がMgなので、膜の屈折率が低く、良好な反射防止膜を有するガラス基板が得られる他、反射防止膜の耐久性も高い。
【0026】
なお、本実施例では、MgFからなる反射防止膜を単層で形成した例を示したが、これに限られないことはいうまでもない。例えば、TiOやTaのような酸化物などと組み合わせた2〜6層程度の反射防止膜や、その他ハーフミラー、干渉フィルター等でも、同様の手法で光吸収のない良好な光学薄膜を製造することができた。また、基板11もガラスに限られず、例えばポリカーボネートやアモルファスポリオレフィンなどのプラスチックにも適用でき、同様の効果が得られた。その他、スパッタリング装置も本実施例のようなインライン式の装置でなく、バッチ式のものを用いても同様の効果を有する反射防止膜を製造することができた。
【0027】
【実施例2〜8】
本発明の実施例2〜8では、実施例1におけるターゲット9のMgF(x=1.8,y=0.1)に代え、表2に示す材質のターゲットを用い、実施例1で使用したスパッタリング装置により、実施例1と同じ成膜条件でガラス基板上に金属酸フッ化物の膜からなる反射防止膜を形成した。すなわち、実施例2ではMgF(x=1.4,y=0.3)、実施例3ではAlF(x=2.4,y=0.3)、実施例4ではCaF(x=1.6,y=0.2)、実施例5ではSrF(x=1.8,y=0.1)、実施例6ではInF(x=2.4,y=0.3)、実施例7ではGaF(x=2.4,y=0.3)、実施例8ではMgF(x=1.4,y=0.3)とAlF(x=2.4,y=0.3)の混合物をターゲットの材質に用いた。
【0028】
【表2】
Figure 0003625876
【0029】
実施例2〜8でも、実施例1と同様に、金属酸フッ化物あるいはそれらを含む混合物のターゲットを用いているため、通常の金属フッ化物に比べて、スパッタ時のフッ素の解離が少なく、膜の光吸収が生じない金属酸フッ化物の膜が得られる。
【0030】
なお、上記各実施例の製造方法によって得られる金属酸フッ化物の膜は、通常の金属フッ化物の膜の屈折率に近い屈折率を有し、スパッタガスとして特殊なフッ素系のガスを用いておらず、生産性や安全性を損なうことがない。
【0031】
上記各実施例におけるターゲットを用いた場合にも、実施例1と同様、表2に示すように光吸収の少ない光学薄膜をスパッタリング法により、生産性良く安全に製造することができた。
【0032】
次に、本発明の各実施例に対する比較例1〜6を、表3に示す。比較例はターゲット材質を金属フッ化物に変え、本発明の各実施例と同じ膜厚、ガス圧、投入電力で成膜した。
【0033】
【表3】
Figure 0003625876
【0034】
表3に示すように、比較例1は実施例1,2に、比較例2は実施例3に、比較例3は実施例4に、比較例4は実施例5、比較例5は実施例6、比較例6は実施例7に対応するもので、各比較例で形成した各膜は、いずれの場合も本発明の各実施例で形成した膜よりも、光吸収が著しく大きかった。
【0035】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の請求項1によれば、少なくとも金属酸フッ化物(MF;Mは金属)を含むターゲットをスパッタリングすることにより、光学薄膜を形成することとしたので、光吸収の少ない光学薄膜をスパッタリング法により生産性良く安全に製造することができる。
【0036】
請求項2によれば、特に金属酸フッ化物を構成する金属をMgとしたので、屈折率が低く、耐久性が高い光学薄膜をスパッタリング法により生産性良く安全に製造することができる。
請求項3によれば、金属フッ化物の薄膜に比べ、金属酸フッ化物の薄膜では金属に結合した酸素が同じく金属に結合しているフッ素の解離を抑えているので、光吸収が生じにくくなっており、光吸収の少ない光学部品を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る各実施例の光学薄膜の製造方法に用いるスパッタリング装置を概略的に示す構成図である。
【図2】本発明の実施例1で形成した反射防止膜の分光反射特性を示す図である。
【符号の説明】
9 ターゲット
11 ガラス基板

Claims (3)

  1. スパッタリング法により光学薄膜を製造するにあたり、少なくとも金属酸フッ化物(MF;Mは金属)を含むターゲットをスパッタリングすることにより、光学薄膜を基板上に形成することを特徴とする光学薄膜の製造方法。
  2. 上記金属酸フッ化物の金属はMgであることを特徴とする請求項1記載の光学薄膜の製造方法。
  3. ガラスまたはプラスチックスを基板として、その上に金属酸フッ化物からなる光学薄膜を有することを特徴とする光学部品。
JP27920494A 1994-11-14 1994-11-14 光学薄膜の製造方法および該光学薄膜を有する光学部品 Expired - Fee Related JP3625876B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27920494A JP3625876B2 (ja) 1994-11-14 1994-11-14 光学薄膜の製造方法および該光学薄膜を有する光学部品

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27920494A JP3625876B2 (ja) 1994-11-14 1994-11-14 光学薄膜の製造方法および該光学薄膜を有する光学部品

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08134637A JPH08134637A (ja) 1996-05-28
JP3625876B2 true JP3625876B2 (ja) 2005-03-02

Family

ID=17607891

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27920494A Expired - Fee Related JP3625876B2 (ja) 1994-11-14 1994-11-14 光学薄膜の製造方法および該光学薄膜を有する光学部品

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3625876B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2715412B1 (en) * 2011-05-31 2019-09-04 Corning Incorporated DURABLE MgO-MgF2 COMPOSITE FILM FOR INFRARED ANTI-REFLECTION COATINGS

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4492691B2 (ja) * 2007-12-14 2010-06-30 ソニー株式会社 透明光学膜の成膜方法
US20100035036A1 (en) * 2008-08-08 2010-02-11 Mccloy John S Durable antireflective multispectral infrared coatings
JP6366263B2 (ja) * 2013-12-13 2018-08-01 キヤノン株式会社 光学多層膜、光学レンズ及び光学多層膜の製造方法
US11572617B2 (en) * 2016-05-03 2023-02-07 Applied Materials, Inc. Protective metal oxy-fluoride coatings
US11702744B2 (en) * 2021-02-17 2023-07-18 Applied Materials, Inc. Metal oxyfluoride film formation methods

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2715412B1 (en) * 2011-05-31 2019-09-04 Corning Incorporated DURABLE MgO-MgF2 COMPOSITE FILM FOR INFRARED ANTI-REFLECTION COATINGS

Also Published As

Publication number Publication date
JPH08134637A (ja) 1996-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3808917B2 (ja) 薄膜の製造方法及び薄膜
JP3689524B2 (ja) 酸化アルミニウム膜及びその形成方法
US6217719B1 (en) Process for thin film formation by sputtering
KR20050076827A (ko) 초 고투과율 위상편이 마스크 블랭크
JP3625876B2 (ja) 光学薄膜の製造方法および該光学薄膜を有する光学部品
EP3757626B1 (en) Optical device and manufacturing method therefor
JP2006267561A (ja) 光学素子およびその製造方法
EP2715412B1 (en) DURABLE MgO-MgF2 COMPOSITE FILM FOR INFRARED ANTI-REFLECTION COATINGS
JP7310360B2 (ja) 薄膜の製造方法
US10114150B2 (en) Optical multilayer coating, optical lens, and method of manufacturing optical multilayer coating
JP3979814B2 (ja) 光学薄膜の製造方法
US7575798B2 (en) Optical element with an opaque chrome coating having an aperture and method of making same
JP2005031297A (ja) 液晶表示装置の反射防止膜付き透明基板
US5474851A (en) Thin film of gallium oxide and method of producing the film
JPH08101301A (ja) 光学薄膜とその製造方法
JP3466865B2 (ja) 光学部品及びその製造方法並びに製造装置
EP1802452B1 (en) Optical element with an opaque chrome coating having an aperture and method of making same
JP2000297366A (ja) 光学薄膜の製造方法及び光学部材
JP3670697B2 (ja) 光学薄膜の製造方法
JP6953197B2 (ja) フッ化膜を有する光学素子の製造方法およびフッ化膜の製造方法
JPH09263936A (ja) 薄膜の製造方法および薄膜
CN114262871B (zh) 基于钛合金基底的吸收/渐变窄带负滤光膜的镀制方法
JP3401062B2 (ja) 光学薄膜およびその製造方法
JPH09202961A (ja) 赤外線用光学膜の製造方法
JPH08211201A (ja) 光学薄膜およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041104

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041124

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041201

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081210

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081210

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091210

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101210

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111210

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees