JP3581755B2 - グリッチ低減回路 - Google Patents

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    • G01B2290/45Multiple detectors for detecting interferometer signals

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、精密測定に関するものである。本発明によって、低強度信号のゼロ交差を正確に検出し、同時に、ノイズの影響を最小限に抑えるレーザ干渉計測定システムが例証される。
【0002】
【従来の技術】
多くの集積回路ダイ(IC)は、単一基板上に製造される。ICは、基板上に成長させる各層のパターン形成によって作製される。商業用では、ステッパによって、多くのイメージを用いた各層の露光が行われる。新しい各イメージを先行層のイメージに正確に重なるように配置することによって、機能ICが得られる。約1ナノメートルの分解能で距離の分析が可能なレーザ干渉計測定システムが、精密位置決めシステムの一部として利用される。典型的な測定システムには、レーザ光源、光学干渉計、反射器、受信機、及び、いくつかの電子装置が含まれる。受信機は、反射器が干渉計に対して移動するにつれて位相を変化させる測定信号を出力する。レーザ光源によって、定周波数の基準信号が生じる。電子装置は、測定信号と基準信号を比較して、反射器の移動距離を求める。
【0003】
基準信号と測定信号の間の位相差は、干渉計に対する反射器の位置変化に正比例する。電子装置の主たる目的は、この位相変化を累算して、位置の単位に変換することにある。反射器が行ったり来たりするにつれて、受信機の信号の位相が、基準位相に対して増減する。電子装置は、これらの信号の位相をずっと監視し続けて、カウンタを絶えずインクリメントまたはデクリメントし、反射器の位置を常に把握していなければならない。
【0004】
基準信号及び測定信号は、正弦波である。電子装置は、ゼロ交差の時間を正確に測定することによってこれらの信号の位相を決定する。位相がゼロ交差から決定される場合、いずれかの信号がゼロ交差する時、それを一度だけしかカウントしないことが重要である。レーザ測定システムが大形になると、レーザ光源からのレーザ光は、多くのビームに分割され、複数軸を供給する場合が多い。1つの光源から分割されるビーム数が増すにつれて、受信機に到達する光の強度は低下する。受信機の電気的ノイズが、入射光からの信号に加わる。弱い測定信号がゼロ交差すると、電気ノイズが優勢になり、「偽」ゼロ交差(グリッチとしても知られる)を検出することになる可能性がある。余分なゼロ交差がほんの1つあれば、電子装置は余分な360゜の位相を累算し、従って、エラーが生じる。レーザ光源の光の強度には制限があるので、光源からの光を分割し得る回数は、受信機の感度によって決まる。複雑なステッパの場合、光ビームの分割回数をできるだけ多くするのが望ましい。従って、受信機の感度を向上させると、ステッパのコストが低下する。
【0005】
反射器の位置が順方向または逆方向に移動すると、測定信号の位相が増減する。結果として、測定信号の周波数は、反射器の速度に応じて変化する。周波数は、ある方向の速度に関して上昇ドップラ・シフトを生じ、別の方向の速度に関して下降ドップラ・シフトを生じる。IC製造の必要が増すにつれて、ステッパに対する需用も増大した。大形ウェーハは、ウェーハ・スループットが多いステッパを必要とする。従って、こうしたシステムに用いられるレーザ干渉計は、ステッパの動作速度を増す必要があるので、より広い周波数範囲にわたって動作可能でなければならない。より広い周波数範囲にわたって動作可能な受信機は、より広い帯域幅を備えていなければならない。こうした受信機の帯域幅の拡大は、より多くのノイズを生じ、ゼロ交差検出の問題をいっそう複雑にする。
【0006】
「偽」ゼロ交差の検出を減少させるレーザ干渉計測定システムによって、より強度の低いレーザ信号の利用が可能になる。このため、光源からの光信号の分割を増すことが可能になるので、結果得られるウェーハ・ステッパのコストが低下する。測定システムが、より速いステージ速度における測定信号と基準信号の位相差を分解することができれば、いっそう有効である。この結果、位置決めの効率がいっそう良くなる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題はグリッチの低減をはかる手段の提供とその有効な利用による従来の問題点の解消とにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
測定信号における「偽」ゼロ交差の検出を減少させるレーザ干渉計測定システムによって、強度の低いレーザ信号の利用が可能になる。測定信号は、積分器または微分器によって位相が推移する。位相推移した測定信号の正の部分は、測定信号の下降区間に対応するが、位相が推移した測定信号の負の部分は、測定信号における上昇区間に対応する。位相推移した測定部分の各部分は、非位相推移測定信号と比較される。RSラッチが、各コンパレータの結果を受信する。RSラッチの出力信号は、ノイズの影響がない測定信号のゼロ交差を反映する。
【0009】
【実施例】
図1には、レーザ干渉計測定システム2に関する機能ブロック図が示されている。ビーム分割器4がレーザ6の近くに配置されている。各軸に沿って、ビーム分割器4からのビーム経路内に干渉計8A、8Bが配置されている。ビームは干渉計8A、8B内を通り、反射器10A、10Bによって反射されて戻り、最終的には、受信機12A、12Bに終着する。
【0010】
レーザ6によって発生したレーザ・ビーム14は、ビーム分割器4によって受信される。この実施例の場合、ビーム分割器4は、レーザ・ビームをX軸ビーム14XとY軸ビーム14Yに分割する。X軸ビーム14Xは、X軸干渉計8Aに受信され、さらに、該干渉計からX軸反射器10Aによって反射されたX軸ビーム14Xが送り出される。反射したX軸ビーム14Xは、X軸干渉計8Aを通って戻り、X軸受信機12Aによって受信される。X軸受信機12Aは、測定信号を測定電子装置(不図示)に送る。反射器10Aが干渉計に対して移動すると、測定信号が変化する。
【0011】
図2には、図1に示すX軸受信機12Aに関する機能ブロック図が示されている。フォトダイオード16は、X軸ビーム14Xを受信する。増幅器18は、フォトダイオード16及びゼロ交差検出回路20に接続されている。出力ドライバ22は、ゼロ交差検出回路20に接続されておりX軸測定信号XOUTを出力する。
【0012】
図3には、図2に示すゼロ交差検出回路20に関する機能ブロック図が示されている。積分器などの移相器24は、入力端子と出力端子とを備えている。移相器24の出力端子には、順方向接続ダイオード26及び逆方向接続ダイオード28が接続されている。順方向接続ダイオード26は、その陰極において第1のコンパレータ30の反転入力端子と接続している。第1の抵抗器32が第1のコンパレータ30の反転入力端子とアース端子の間に接続されている。逆方向接続ダイオード28は、その陽極において第2のコンパレータ34の反転入力端子に接続している。第2の抵抗器36は、第2のコンパレータの反転入力端子とアースの間に接続されている。第1のコンパレータ30及び第2コンパレータ34の非反転入力端子は、非位相推移測定信号を受信する。第1のコンパレータ30の出力は、RSラッチ38のセット端子に接続されている。第2のコンパレータ34の出力は、RSラッチ38のリセット端子に接続されている。RSラッチ38の出力信号は、ノイズのない非推移測定信号のゼロ交差を反映する。
【0013】
非位相推移測定信号V1が、移相器の入力に生じる。移相器24の出力は、コンパレータ30、34に送られる位相推移測定信号V2である。第1のコンパレータ30は、位相推移測定信号の正の部分を受信し、一方、第2のコンパレータ34は、位相推移測定信号の負の部分を受信する。位相推移測定信号の正の部分は、下降ゼロ交差に対応し、一方、位相推移測定信号の負の部分は、上昇ゼロ交差に対応する。非位相推移測定信号に上昇ゼロ交差が生じると、RSフリップ・フロップから成るRSラッチ38がセットされ、「高」出力を発生する。同様に、非位相推移測定信号に下降ゼロ交差が生じると、RSラッチ38がリセットされ、「低」出力を発生する。
【0014】
代替案として、移相器として、積分器の代わりに微分器を用いることも可能である。この場合、積分器によって生じる遅れ位相推移とは対照的に、90゜進み位相推移が生じる。微分器の後、反転増幅器を用いて、その反転入力端子への信号V4及びV5の適正な位相関係が維持される。微分器は、低周波よりも高周波の増幅度が大きいという望ましくない特性を有している。このため、第1と第2のコンパレータの反転入力端子における低周波に関する振幅が小さくなるという望ましくない傾向がある。積分器での実施には、第1と第2のコンパレータの反転入力端子における低周波に関する振幅が増すという利点がある。これが必要になるのは、ゼロ交差における正弦波の勾配が低周波数において低くなるので、V1のノイズが低周波数において複数のゼロ交差を生じる可能性があるためである。積分器の利得は低周波数におけるほうが大きくなるので、そのため、「低周波数におけるノイズに対する感度が高くなる」効果が相殺されることになる。
【0015】
図4には、相異なるポイントにおける信号波形が示されている。一方のコンパレータの出力が変化している間、もう一方のコンパレータの出力が変化するのを阻止するため、順方向接続ダイオード26及び逆方向接続ダイオード28によって、位相推移測定信号が、それぞれ、正の部分と負の部分に分割される。正の部分は、非位相推移測定信号の下降ゼロ交差に対応し、一方、負の部分は、非位相推移測定信号の上昇ゼロ交差に対応している。第1のコンパレータ30は、正の部分と非位相推移測定信号を比較し、第2のコンパレータ34は、負の部分と非位相推移測定信号を比較する。RSラッチ38は、各コンパレータの結果を受信する。RSラッチ38の出力信号は、ノイズの影響のない測定信号のゼロ交差を反映する。第2のコンパレータ34の出力は、反転されるので、この信号を利用して、RSラッチ38をリセットすることが可能である。
【0016】
測定信号V1の上昇ゼロ交差の場合、ノイズによって、測定信号に、1つだけではなく、複数のゼロ交差を生じることになる。RSラッチ38は、最初の上昇ゼロ交差によってセットされる。この時間中、第2のコンパレータ34は機能停止になるので(出力信号V7は「低」)、RSラッチ38をリセットすることはできない。従って、第1のコンパレータ30の出力が、複数回にわたって高及び低のジッタを生じるとしても、RSラッチ38の出力信号V8が「高」になるのは1度だけである。同様に、非位相推移測定信号の下降ゼロ交差の間、第1のコンパレータ30が機能停止になり、最初の下降ゼロ交差によってRSラッチ38がリセットされるが、第2のコンパレータ34の出力信号V7が複数回にわたって高及び低のジッタを生じるにもかかわらず、1度だけである。RSラッチ38の出力信号V8は、非位相推移測定信号の波形に追従するが、複数のゼロ交差を伴わないのは明らかである。
【0017】
以上、発明の実施例のいくつかを説明したが、本発明はそれらに限定されるものではない。ちなみに、本発明の実施態様のいくつかを以下に示す。
【0018】
(実施態様1)
出力を備え、測定信号を受信する移相器(24)と、
移相器の出力に接続された順方向接続ダイオード(26)と、
第1の非反転入力端子と第1の反転入力端子、第1の出力端子とを備え、第1の反転入力端子が順方向接続ダイオードに接続している、第1のコンパレータ(30)と、
第1の反転入力端子とアースの間に接続している第1の抵抗器(32)と、
移相器の出力に接続された逆方向接続ダイオード(28)と、
第2の非反転入力端子と第2の反転入力端子と、第2の出力端子とを備え、第2の反転入力端子が逆方向接続ダイオードに接続している、第2のコンパレータ(34)と、
第2の反転入力端子とアースの間に接続している第2の抵抗器(36)と、
第1の出力端子に接続しているセット端子と、第2の出力端子に接続しているリセット端子を備えるRSラッチ(38)とを備え、
第1の非反転入力端子及び第2の非反転入力端子が測定信号を受信するように構成したグリッチ低減回路(20)。
【0019】
(実施態様2)
移相器(24)が積分器であることを特徴とする、実施態様1に記載のグリッチ低減回路(20)。
(実施態様3)
移相器(24)が微分器であることを特徴とする、実施態様1に記載のグリッチ低減回路(20)。
【図面の簡単な説明】
【図1】レーザ干渉計測定システムに関する機能ブロック図である。
【図2】図1に示す受信機に関する機能ブロック図である。
【図3】図2に示すゼロ交差検出回路に関する機能ブロック図である。
【図4】図3の回路の異なるポイントにおける信号の波形図である。
【符号の説明】
2 レーザ干渉計測定システム
4 ビーム分割器
6 レーザ
8A 干渉計
8B 干渉計
10A 反射器
10B 反射器
12A 受信機
12B 受信機
14 レーザ・ビーム
16 フォトダイオード
18 増幅器
20 ゼロ交差検出器
22 出力ドライバ
24 移相器
26 順方向接続ダイオード
28 逆方向接続ダイオード
30 第1のコンパレータ
32 第1の抵抗器
34 第2のコンパレータ
36 第2の抵抗器
38 RSラッチ

Claims (3)

  1. 出力を備え、測定信号を受信する移相器と
    移相器の前記出力に接続された順方向接続ダイオードと
    第1の非反転入力端子と第1の反転入力端子第1の出力端子とを備え、前記第1の反転入力端子が前記順方向接続ダイオードに接続している、第1のコンパレータと
    前記第1の反転入力端子とアースの間に接続している第1の抵抗器と
    前記移相器の前記出力に接続された逆方向接続ダイオードと
    第2の非反転入力端子と第2の反転入力端子と第2の出力端子とを備え、前記第2の反転入力端子が前記逆方向接続ダイオードに接続している、第2のコンパレータと
    前記第2の反転入力端子とアースの間に接続している第2の抵抗器と
    前記第1の出力端子に接続しているセット端子と、前記第2の出力端子に接続しているリセット端子を備えるRSラッチとを備え、
    前記第1、第 の非反転入力端子が前記測定信号を受信するように構成したグリッチ低減回路。
  2. 前記移相器が積分器であることを特徴とする請求項1に記載のグリッチ低減回路。
  3. 前記移相器が微分器であることを特徴とする請求項1に記載のグリッチ低減回路。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6636319B1 (en) * 1998-08-10 2003-10-21 Gerald Auth Spectrometer with dual digitizer for high-dynamic range spectroscopic data collection
US6218870B1 (en) * 1999-09-01 2001-04-17 Agilent Technologies, Inc. Anti-glitch system and method for laser interferometers using frequency dependent hysteresis
US6975406B2 (en) * 2001-08-02 2005-12-13 Zygo Corporation Glitch filter for distance measuring interferometry
US7447279B2 (en) 2005-01-31 2008-11-04 Freescale Semiconductor, Inc. Method and system for indicating zero-crossings of a signal in the presence of noise
JP4927091B2 (ja) * 2005-12-01 2012-05-09 ザイゴ コーポレーション アバランシェ・フォトダイオードによるデータ・エイジの補償方法とシステム
JP2009200944A (ja) * 2008-02-22 2009-09-03 Oki Semiconductor Co Ltd ヒステリシスコンパレータ
CN106383346B (zh) * 2016-09-14 2019-04-02 深圳天眼激光科技有限公司 脉冲激光扫描回波接收电路、接收方法及脉冲式激光扫描仪

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3668532A (en) * 1971-01-25 1972-06-06 Sperry Rand Corp Peak detection system
US3718864A (en) * 1971-02-26 1973-02-27 Cogar Corp Crossover detector
US4137504A (en) * 1977-08-12 1979-01-30 Digital Equipment Corporation Digital filter
JPS61219802A (ja) * 1985-03-27 1986-09-30 Hitachi Ltd 変位の光学的測定装置
JP2542575B2 (ja) * 1985-12-26 1996-10-09 株式会社東芝 波形整形回路
US4870635A (en) * 1986-09-19 1989-09-26 International Business Machines Corporation Precision measurement and positioning system for disk storage system
US4781462A (en) * 1987-02-09 1988-11-01 The Singer Company Path length control signal derivation circuit for a laser angular rate sensor
DE3715627A1 (de) * 1987-05-11 1988-12-08 Hommelwerke Gmbh Vorrichtung zur messung des abstandes zwischen der vorrichtung und einer messflaeche
IT1223943B (it) * 1988-11-25 1990-09-29 Marelli Autronica Circuito per il trattamento del segnale generato da un sensore elettromagnetico di rotazione del tipo a riluttanza variabile
US5066128A (en) * 1989-09-05 1991-11-19 Canadian Marconi Co. Digital pulse counting method for measuring the optical path difference of an imbalanced interferometer
US5018862A (en) * 1989-11-02 1991-05-28 Aerotech, Inc. Successive fringe detection position interferometry

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