KR960039447A - 저강도 신호용 그리치 감소 장치 - Google Patents

저강도 신호용 그리치 감소 장치 Download PDF

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Abstract

레이저 간섭계 측정 장치는 측정의 신호의 "오"제로 교차점(fAlse zero crossings)이 검출되지 않도록 한다. 측정 신호는 적분기 또는 미분기에 의해 위상 시프트된다. 시프트 된 측정 신호의 포지티브 부분은 측정 신호의 하강 부분을 결정하는데 사용되고 시프트된 측정 신호의 네가티브 부분은 측정 신호의 상승 부분을 결정하는데 사용된다. 상승 부분 및 하강 부분은 기존 신호와, 비교된다. SR 래치는 각 비교기의 결과,를 수신한다. SR 래치의 출력 신호는 노이즈의 영향을 받지 않는 측정 신호의 제로 교차점을 나타낸다.

Description

저강도 신호용 그리치 감소 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 제2도에 도시된 제로 교차점 검출 회로를 도시한 기능 블럭도.

Claims (3)

  1. 저강도 신호(low intensity signals)용 그리치 감소 회로(aglitch reduction circuit)에 있어서, 출력단을 구비하고, 측정 신호를 수신하는 위상 시프터(a phase shifter)와, 상기 위상 시프터의 출력과 접속되는 순방향 접속 다이오드와; 제1포지티브 단자(a first positive terminal)와, 상기 순방향 접속 다이오드에 접속되는 제1네가티브 단자(f first negative termanal)와, 제1출력단(a first output teminal)을 구비하는 제1비교기와; 상기 제1네가티브 단자와 접지 사이에 접속되는 제1저항과; 상기 위상 시프터의 상기 출력과 접속되는 역방향 접속 다이오드와; 제2포지티브 단자(a second positive terminal)와, 상기 역방향 접속 다이오드에 접속되는 제2네거티브 단자(a second negative termanal)와, 제2출력단(a second output terminal)을 구비하는 제2비교기와; 상기 제2네가티브 단자와 접지 사이에 접속되는 제2저항과,; 상기 제1출력단에 접속되는 세트 단자(a set terminal)와, 상기 제2출력단에 접속되는 리셋 단자(a reset terminal)를 갖는 SR래치(latch)를 포함하되; 상기 제1포지티브 단자와 상기 제2포지티브 단자는 상기 측정 신호를 수신하는 저강도 신호용 그리치 감소 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 위상 시프터는 적분기(an intrgrator)인 저강도 신호용 그리치 감소 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 위상 시프터는 미분기(a differentiator)인 저강도 신호용 그리치 감소 장치.
    ※ 참고사항: 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960011595A 1995-04-19 1996-04-17 저강도 신호용 그리치 감소 장치 KR100396108B1 (ko)

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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000009970A1 (en) * 1998-08-10 2000-02-24 Midac Corporation Spectrometer with dual digitizer for high-dynamic range spectroscopic data collection
US6218870B1 (en) 1999-09-01 2001-04-17 Agilent Technologies, Inc. Anti-glitch system and method for laser interferometers using frequency dependent hysteresis
US6975406B2 (en) * 2001-08-02 2005-12-13 Zygo Corporation Glitch filter for distance measuring interferometry
US7447279B2 (en) 2005-01-31 2008-11-04 Freescale Semiconductor, Inc. Method and system for indicating zero-crossings of a signal in the presence of noise
WO2007064643A2 (en) * 2005-12-01 2007-06-07 Zygo Corporation Data age compensation with avalanche photodiode
JP2009200944A (ja) * 2008-02-22 2009-09-03 Oki Semiconductor Co Ltd ヒステリシスコンパレータ
CN106383346B (zh) * 2016-09-14 2019-04-02 深圳天眼激光科技有限公司 脉冲激光扫描回波接收电路、接收方法及脉冲式激光扫描仪

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3668532A (en) * 1971-01-25 1972-06-06 Sperry Rand Corp Peak detection system
US3718864A (en) * 1971-02-26 1973-02-27 Cogar Corp Crossover detector
US4137504A (en) * 1977-08-12 1979-01-30 Digital Equipment Corporation Digital filter
JPS61219802A (ja) * 1985-03-27 1986-09-30 Hitachi Ltd 変位の光学的測定装置
JP2542575B2 (ja) * 1985-12-26 1996-10-09 株式会社東芝 波形整形回路
US4870635A (en) * 1986-09-19 1989-09-26 International Business Machines Corporation Precision measurement and positioning system for disk storage system
US4781462A (en) * 1987-02-09 1988-11-01 The Singer Company Path length control signal derivation circuit for a laser angular rate sensor
DE3715627A1 (de) * 1987-05-11 1988-12-08 Hommelwerke Gmbh Vorrichtung zur messung des abstandes zwischen der vorrichtung und einer messflaeche
IT1223943B (it) * 1988-11-25 1990-09-29 Marelli Autronica Circuito per il trattamento del segnale generato da un sensore elettromagnetico di rotazione del tipo a riluttanza variabile
US5066128A (en) * 1989-09-05 1991-11-19 Canadian Marconi Co. Digital pulse counting method for measuring the optical path difference of an imbalanced interferometer
US5018862A (en) * 1989-11-02 1991-05-28 Aerotech, Inc. Successive fringe detection position interferometry

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