JP3572065B2 - 半導体レーザ素子 - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は、量子井戸構造をした半導体レーザ素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
光通信の光源として、量子井戸半導体レーザ素子が従来から広く使用されており、この種の典型的な埋め込み型導波路を有する量子井戸半導体レーザ素子の構造が図4に示されている。
【0003】
同図において、N型のInP基板1の中央部分に量子井戸層7が形成され、この量子井戸層7の左右両側に狭窄層8が形成されている。前記量子井戸層7はN型クラッド層2の上側に光閉じ込め層(GRIN−SCH領域)3と活性層4と光閉じ込め層5とInPからなるP型クラッド層6を順に積層形成したものからなり、光閉じ込め層3,5は4種類の異なる組成のGaInAsPの層、すなわち、バンドギャップ波長λgが1.05,1.10,1.20および1.30μmであって厚みがそれぞれ300Åの4種類のGaInAsPを積層して屈折率を階段状に変化させ、活性層4内の光を上下両側から閉じ込める機能を有している。
【0004】
活性層4はバンドギャップ波長λgが1.55μmであって厚みが65ÅのGaInAsPからなるウェル層と、バンドギャップ波長λgが1.30μmであって厚みが80ÅのGaInAsPからなるバリヤ層とによるウェル数5のMQW活性層で構成されている。
【0005】
この量子井戸構造の半導体レーザ素子を作製するときには、InP基板1の上側の全面に亙ってN型クラッド層2と光閉じ込め層3と活性層4と光閉じ込め層5とP型クラッド層6を積層形成し、然る後に、量子井戸の幅Lを約2μm残してメサ・ストライプ形状になるようにその左右両側をエッチングで除去し、この除去した部分に、P型InP層9とN型InP層10を再成長することによって埋め込んで狭窄層8となし、これら活性層4と狭窄層8を形成した上側にInPからなるP型クラッド層11を成長形成し、然る後に、下面側にN側電極12を、上面側にP側電極13を形成することによって作製される。
【0006】
この種の半導体レーザ素子を駆動するときには、P側電極13にプラス側の電源電圧を印加し、N側電極12に電源電圧のマイナス側を接続する。P側電極13からN側電極12に流れる電流は狭窄層8には流れないので、量子井戸層7に集中して流れることとなり、これにより、活性層4が励起され、この活性層4の励起によって活性層4の一方側の端面から光源光が発せられる(通常、活性層4の両端側に反射率の異なる反射膜が形成され、活性層4内で励起された光のパワーが反射率の小さい方のしきい値を越えたときにその端面側から光源光が発せられる)。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この種の半導体レーザ素子を作製する場合、活性層4の断面形状が長方形状になるのを避けることができず、このため、活性層4から発せられる垂直な方向のビームの広がり角は活性層4の水平方向(平行な方向)のビームの広がり角よりも大きくなる。例えば、前記従来例の半導体レーザでは活性層4の垂直方向のビームの広がり角は36°となり、活性層4の水平方向のビームの広がり角は25°程度となり、垂直方向のビームの広がり角が大きくなるので、活性層4から発せられるビームの断面形状が楕円形となり、半導体レーザ素子から円形コアの光ファイバへ光を導入するとき、その光の結合効率が悪くなるという問題があった。
【0008】
本発明は上記従来の課題を解決するためになされたものであり、その目的は、活性層から発するビームの広がりパターンをほぼ円形状にして光ファイバへの結合効率を高めることができる半導体レーザ素子を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記目的を達成するために、次のように構成されている。すなわち、第1の発明は、InP基板上に複数のGa1−XInXAs1−YPY井戸層とバリヤ層からなる多重量子井戸を含む活性層と、該活性層を上下両側からサンドイッチ状に挟む光閉じ込め層とを有する埋込み型半導体レーザ素子において、上下一方の光閉じ込め層の厚みは活性層よりは薄く、かつ、活性層と上下の光閉じ込め層の厚さの総和を1000Å以上2000Å以下にしたことを特徴として構成されている。また、第2の発明は、InP基板上に複数のGa 1−X In X As 1−Y P Y 井戸層とバリヤ層からなる多重量子井戸を含む活性層と、該活性層を上下両側からサンドイッチ状に挟む光閉じ込め層とを有する埋込み型半導体レーザ素子において、前記活性層の上側の光閉じ込め層の厚みは活性層よりは薄く、かつ、活性層と上下の光閉じ込め層の厚さの総和を1000Å以上2000Å以下にしたことを特徴として構成されている。さらに、第3の発明は、InP基板上に複数のGa 1−X In X As 1−Y P Y 井戸層とバリヤ層からなる多重量子井戸を含む活性層と、該活性層を上下両側からサンドイッチ状に挟む光閉じ込め層とを有する埋込み型半導体レーザ素子において、前記活性層の下側の光閉じ込め層の厚みは活性層よりは薄く、かつ、活性層と上下の光閉じ込め層の厚さの総和を1000Å以上2000Å以下にしたことを特徴として構成されている。
【0010】
さらに、第4の発明は、前記第1又は第2又は第3の発明の構成を備えたものにおいて、半導体レーザ素子は励起光源用であって光ファイバと光結合させて用いるものとしたことを特徴とする。
【0011】
さらに、第5の発明は、前記第4の発明の構成を備えたものにおいて、励起帯波長を1.48μm帯としたことを特徴とする。
【0012】
【作用】
上記構成の本発明において、活性層とその上下の光閉じ込め層との厚さの総和を2000Å以下に薄くしたことで、光閉じ込め係数が小さくなり、活性層内で励起される光のエネルギは活性層から光閉じ込め層の外側のクラッド層側に滲み出す。この滲み出し量は量子井戸の幅の中間部分で最大になる結果、このクラッド層側に滲み出した領域を加味した光放射面は円形に近くなり、これにより、放射される光の垂直方向と水平方向のビームの広がり角はほぼ等しくなり、円形に近いモードパターンのビームが光源光として出力される。
【0013】
【実施例】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。なお、従来例と同一の部分には同一符号を付し、その重複説明は省略する。図1には本発明に係る半導体レーザ素子の一実施例が示されている。この実施例の半導体レーザ素子も従来例と同様に量子井戸構造を呈して、量子井戸層7と狭窄層8を有している。そして、これら、InP基板1上に形成される各層はMO−CVD(Metal−Organic Chemical Vapor Deposition )による気相成長等を利用して形成されている。この実施例における量子井戸層7は従来例と同様にInP基板1上にN型クラッド層2と光閉じ込め層23と活性層24と光閉じ込め層25とP型クラッド層6を積層して形成されてなるが、本実施例が従来例と異なる第1の特徴的なことは、光閉じ込め層23,25と活性層24の厚みの総和を2000Å以下にしたことであり、第2の特徴は光閉じ込め層23,25の厚みを活性層24の厚みよりも薄くしたことであり、それ以外の構成は前記従来例と同様である。
【0014】
半導体レーザを励起光源用の1.48μm帯の励起帯波長で動作させる場合、励起光源としてのビームパワーは通信用のビームパワーよりも大きなパワーであり、励起光源用の1.48μm帯の励起帯波長で動作するためには活性層と上下の光閉じ込め層の厚さの総和に厚さが必要であり、この励起光源用の1.48μm帯の励起帯波長で動作させるのに自ずから定まる前記総和の下限の厚みは1000オングストローム(Å)である。
【0015】
前記光閉じ込め層23はバンドギャップ波長λgが1.20μmと1.30μmであって層厚が共に200Åの異なる2種類のGaInAsPにより構成されており、また、光閉じ込め層25も同一の構成となっている。活性層24は従来例と同様に、バンドギャップ波長λgが1.55μmで層厚が65ÅのGaInAsPのウェル層と、バンドギャップ波長が1.30μmで層厚が80ÅのGaInAsPのバリヤ層からなり、そのウェル数は5である。この実施例では、光閉じ込め層23の層厚が400Å、活性層24の層厚が645Å、光閉じ込め層25の層厚が400Åとしたことで、光閉じ込め層23と活性層24と光閉じ込め層25の厚みの総和は1445Åとなり、従来例の3045Åに比べ薄型となっている。
【0016】
本実施例の半導体レーザ素子を駆動したとき、電極12,13間に流れる電流は量子井戸層7に集中して活性層24内に閉じ込められる光を励起し、活性層24内の光エネルギを高めるが、このとき、光閉じ込め層23,25の層厚を薄くしたことで、光閉じ込め係数が小さくなり、この結果、活性層25内に閉じ込められて活性化された光のクラッド層2,6へのしみ出しが大きくなる。このクラッド層2,6への光のしみ出しは、量子井戸の幅Lの中央部がいちばん大きく、両端側に向かうにつれ、徐々にしみ出し量が小さくなるので、活性層24とクラッド層2,6のしみ出し部分を併せた光放射の断面形状はほぼ円に近い形状となり、これにより、活性層24および光のしみ出し部分から発せられるビームの広がり角は垂直方向と水平方向でほぼ同一の角度となり、ほぼ円形モードパターンの光となって出力されることとなる。
【0017】
本発明者は本実施例の半導体レーザ素子を作製し、その放射されるビームの広がり角度を測定したところ、図2の測定結果を得た。これによれば、50mWの放射パワーの時の垂直方向の広がり角は25.0°(同図の(b))であり、水平方向の広がり角度は25.4°(同図の(a))であり、ほぼ真円に近い放射ビームパターンを作り出すことができた。
【0018】
図3は本実施例の半導体レーザ素子をAR−HRコーティングして共振器長1mmとしたレーザダイオードに光ファイバを結合してモジュール化した装置の出力特性を示したものである。これによれば、駆動電流1Aのときに、光ファイバの端光出力として128mWという励起光源用として使用され得る高出力が得られており、このときの半導体レーザ素子と光ファイバの結合効率は70%であった。なお、このときの半導体レーザの励起帯波長は活性層のウエル層及びバリヤ層の層厚と各層のバンドギャップ波長から発光波長を計算すると1.48μm帯となる。従来例の半導体レーザ素子と光ファイバの結合効率を同様に調べたところ、その結合効率は50%程度であり、従来例に場合に比べ、本実施例は約20%も結合効率を向上させることができた。
【0019】
なお、本発明は上記実施例に限定されることはなく、様々な実施の態様を採り得る。例えば、上記実施例では光閉じ込め層23,25と活性層24の総和の厚みを1445Åにしたが、この総和の厚みは2000Å以下であればよい。本発明者は光閉じ込め層23,25と活性層24の厚みの総和と、クラッド層への光の滲み出しによる出射ビームの広がり角との関係を実験によって調べたところ、前記総和の厚みが2000Åを越えた場合には光滲み出し量はほとんどなくなってビームの出射パターンはほぼ楕円形状となり、光ファイバとの結合効率の特性改善が得られなかったが、総和の厚みが2000Åを境界として、それ以下になるにつれ、光の滲み出しが次第に大きくなり、出射ビームパターンの形状が楕円形から円形に近くなり、光ファイバへの結合効率を向上できることを確認できた。
【0020】
また、上記実施例では活性層24の厚みを従来例と同様の厚みにし、光閉じ込め層23,25の厚みを薄くすることで、活性層24と光閉じ込め層23,25の総和の厚みを薄くしたが(本実施例では光閉じ込め層23,25の厚みを活性層24よりも薄くしている)、もちろん、光閉じ込め層23,25と共に、活性層24の厚みを薄くしてもよい。
【0021】
【発明の効果】
本発明は、量子井戸の活性層とこの活性層の上下両側の光閉じ込め層との厚みの総和を2000Å以下にしたものであるから、この総和が薄型となって、光閉じ込め係数が小さくなり、活性層内に閉じ込められて活性化された光のクラッド層へのしみ出し量が多くなる。特に、活性層を挟む上下の一方の光閉じ込め層の厚みを活性層の厚みよりも薄くすることで、従来例に比べ、光閉じ込め層の格段の薄型化が図れ、光のしみ出し効果が得られるとともに、活性層とこの活性層の上下両側の光閉じ込め層との厚みの総和を2000Å以下の薄型構造にするのが容易となる。活性層とこの活性層の上下両側の光閉じ込め層との厚みの総和を2000Å以下にした薄型構造により、半導体レーザ素子から出射するビームの垂直方向の広がり角を小さくして、垂直方向と水平方向の広がり角をほぼ同じくして円形モードパターンのビームとして出力することができるので、光ファイバに対する結合効率を格段に高めることができる。
【0022】
特に、励起光源用としての高出力ビームを発射させる場合、活性層とこの活性層の上下両側の光閉じ込め層との厚みの総和が厚いと、発射ビームのビームパターンは楕円パターンとなってしまうが、本発明のように、活性層とこの活性層の上下両側の光閉じ込め層との厚みの総和を2000Å以下に薄型化することにより励起光源用の高出力の発射ビームにおいても良好な円形モードのビームパターンが得られるという効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体レーザ素子の一実施例の断面構成図である。
【図2】同実施例の半導体レーザ素子のビーム広がり角のグラフである。
【図3】同実施例の半導体レーザ素子を組み込んだモジュールにおける出力特性グラフである。
【図4】従来の量子井戸構造の半導体レーザ素子の断面図である。
【符号の説明】
1 InP基板
2 N型クラッド層
6,11 P型クラッド層
7 量子井戸層
8 狭窄層
9 P型InP層
10 N型InP層
23,25 光閉じ込め層
24 活性層
Claims (5)
- InP基板上に複数のGa1−XInXAs1−YPY井戸層とバリヤ層からなる多重量子井戸を含む活性層と、該活性層を上下両側からサンドイッチ状に挟む光閉じ込め層とを有する埋込み型半導体レーザ素子において、上下一方の光閉じ込め層の厚みは活性層よりは薄く、かつ、活性層と上下の光閉じ込め層の厚さの総和を1000Å以上2000Å以下にしたことを特徴とする半導体レーザ素子。
- InP基板上に複数のGa 1−X In X As 1−Y P Y 井戸層とバリヤ層からなる多重量子井戸を含む活性層と、該活性層を上下両側からサンドイッチ状に挟む光閉じ込め層とを有する埋込み型半導体レーザ素子において、前記活性層の上側の光閉じ込め層の厚みは活性層よりは薄く、かつ、活性層と上下の光閉じ込め層の厚さの総和を1000Å以上2000Å以下にしたことを特徴とする半導体レーザ素子。
- InP基板上に複数のGa 1−X In X As 1−Y P Y 井戸層とバリヤ層からなる多重量子井戸を含む活性層と、該活性層を上下両側からサンドイッチ状に挟む光閉じ込め層とを有する埋込み型半導体レーザ素子において、前記活性層の下側の光閉じ込め層の厚みは活性層よりは薄く、かつ、活性層と上下の光閉じ込め層の厚さの総和を1000Å以上2000Å以下にしたことを特徴とする半導体レーザ素子。
- 半導体レーザ素子は励起光源用であって光ファイバと光結合させて用いるものとした請求項1又は請求項2又は請求項3記載の半導体レーザ素子。
- 励起帯波長を1.48μm帯とした請求項4記載の半導体レーザ素子。
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