JP3540985B2 - 半導体装置のパッケージ - Google Patents

半導体装置のパッケージ Download PDF

Info

Publication number
JP3540985B2
JP3540985B2 JP2000191329A JP2000191329A JP3540985B2 JP 3540985 B2 JP3540985 B2 JP 3540985B2 JP 2000191329 A JP2000191329 A JP 2000191329A JP 2000191329 A JP2000191329 A JP 2000191329A JP 3540985 B2 JP3540985 B2 JP 3540985B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pin
semiconductor device
guide pin
resin case
guide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2000191329A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001028408A (ja
Inventor
徳保 寺沢
伸 征矢野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Device Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Device Technology Co Ltd filed Critical Fuji Electric Device Technology Co Ltd
Priority to JP2000191329A priority Critical patent/JP3540985B2/ja
Publication of JP2001028408A publication Critical patent/JP2001028408A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3540985B2 publication Critical patent/JP3540985B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、パワートランジスタモジュールなどを対象とした半導体装置のパッケージに関する。
【0002】
【従来の技術】
頭記したパワートランジスタモジュールなどの半導体装置は、一般に駆動回路,保護回路などを搭載したプリント配線板に実装して使用され、半導体装置の樹脂ケース上面に引出したピン端子をプリント配線板側に装備したコネクタに差し込んで両者間の相互接続を行うようにしている。
【0003】
また、プリント配線板への半導体装置の取付けを自動実装機を用いて行う場合に、前記したピン端子とコネクタとの接続位置決めを確実に行うために、半導体装置の樹脂ケース側にピン端子列と並べてガイドピンを植設しておき、このガイドピンをプリント配線板側の位置決め穴に嵌合して両者間の位置合わせを行うようにしたものが、例えば実開平3−117842号の公報に開示されて公知である。
【0004】
図6はかかる半導体装置の従来構造を示すものであり、図において、1は半導体素子(図示せず)を組み込んだ樹脂ケース、2は樹脂ケース1の上面側に突出して並ぶピン端子、3はピン端子列の両側に並べて樹脂ケース1と一体にモールド成形したガイドピンであり、その長さ寸法はピン端子2よりも多少長くしてある。また、4はプリント配線板であり、該プリント配線板には前記のピン端子2と接続し合うコネクタ5を備えており、かつコネクタ5の両側には前記ガイドピン3と嵌合し合う位置決め穴6が開口している。そして、半導体装置をプリント配線板4に実装する際には、ガイドピン3をプリント配線板側の位置決め穴6に合わせた上でピン端子2を相手側のコネクタ5に差し込んで接続する。これにより、ガイドピン3に案内されてピン端子2がコネクタ5に安定よく嵌合して適正に接続されるようになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記のように樹脂ケースの上面へ突き出すように一体成形した従来のガイドピン(樹脂製)は太さが細くて強度も小さく、かつ樹脂ケースの材料としてPPS(ポリフェニレンサルファイド)樹脂(機械的な性質として硬度が高くて脆い)を採用することが多く、このために成形後に行う樹脂ケース自身の検査,梱包、あるいは樹脂ケースに半導体素子を組み込む半導体装置の組立工程,およびその後の製品試験,梱包などの取扱いの際に、樹脂ケースより突出したガイドピンに不測に物が当たってしばしば折損し、このことが樹脂ケース,半導体装置の製品良品率を低下させる原因の一つとなっており、その防止対策が望まれている。
【0006】
本発明は上記の点にかんがみなされたものであり、その目的は前記課題を解決してガイドピンの折損防止が図れるようにした半導体装置のパッケージ、特にその樹脂ケースに設けたガイドピンの組立構造を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、半導体素子を組み込んだ樹脂ケースの上面にプリント配線板側のコネクタと接続し合うピン端子と並置してプリント配線板側の位置決め穴と嵌合し合う複数本のガイドピンを設けた半導体装置のパッケージに対し、前記ガイドピンを次記のような構造で樹脂ケースに組み込むものとする。
【0008】
(1)ガイドピンを金属製ピンとし、該金属製ガイドピンをインサート部品として樹脂ケースと一体成形する。
(2)また、その実施態様として、金属製ガイドピンを芯材としてその周面に樹脂成形を施して構成することができる。
【0009】
【作用】
前記の構成によれば、ガイドピン自身が堅牢となって強度が増すので外力による折損が防げる。
【0010】
【実施例】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。なお、各実施例の図中で図6に対応する同一部材には同じ符号が付してある。
【0011】
実施例1:
図1は本発明の請求項1に対応する実施例を示すものであり、この実施例ではガイドピンに金属製ガイドピン30を採用し、樹脂ケース1を成形する際に金属製ガイドピン30を金型にインサートして一体成形により固定する。このようにガイドピンとして金属製のピンを採用すれば、樹脂製のピンと比べて堅牢であり、組立,試験工程の際に物が突き当たっても折損することがない。
【0012】
実施例2:
図2は本発明の請求項2に対応する実施例を示すものであり、ガイドピン3は金属製のピン3aを芯材としてその周面を樹脂3bで覆うように樹脂ケース1と一体成形されている。この実施例によっても先記の実施例2と同様に堅牢なガイドピンが得られる。
【0013】
参考例1:
図3は本発明の参考例を示すものであって、ガイドピン3は独立部品として樹脂ケース1と別個に製作,用意されており、樹脂ケース1の上面に穿孔した取付穴1aに差し込んで接着などにより後付けされる。そして、樹脂ケース1の検査,半導体装置の組立,試験工程はガイドピン3を樹脂ケース1に取付けず、半導体装置の試験後に行う最終組立工程でガイドピン3を樹脂ケース1に後付けして製品を完成する。
このように、半導体装置の組立,試験工程の際にガイドピンを外しておくことにより、これら工程での取扱時に不測に物が当たってガイドピンが折損するトラブルが防げる。
【0014】
また、この参考例に対して、図7で示すように、あらかじめガイドピン3の差し込み基部周面,および樹脂ケース側に穿孔したピン取付け穴1aの内周面に接着剤の逃げ路となるスリット3c,1cを形成しておくことにより、ガイドピン3を取付穴1aに差し込んで接着した際に、接合面からはみ出した余剰の接着剤はスリット1b,3cの中に取り込まれる。これによりガイドピン3の接着剤による浮き上がりを防ぐとともに、接着剤がパッケージの表面にはみ出してパッケージ外観を損ねるといった不具合を回避できる。
【0015】
参考例2:
図4は本発明の他の参考例を示すものであり、樹脂ケース1と一体成形された樹脂製のガイドピン3は、その根元部が先端部よりも太く成形されている。これにより、ガイドピン自身の強度が増し、半導体装置の組立,試験工程などの取扱時に物が当たっても簡単に折損することがなくなる。
【0016】
参考例3:
図5は本発明の他の参考例を示すものであり、ガイドピン3は樹脂ケース1の上面に並ぶピン端子2の間に挟まれる形でピン端子列の中間に設けてある。かかる構成によれば、ガイドピン3がピン端子2により防護され、半導体装置の組立,試験などの取扱時に物が直接ガイドピン3に突き当たって折損するのを防止できる。
【0017】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明の構成を採用することにより、半導体装置の組立,試験などの工程でガイドピンに物が突き当たって不測に折損するようなトラブルを防ぐことができ、これにより製品の良品率が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1によるガイドピンの構造図
【図2】本発明の実施例2によるガイドピンの構造図
【図3】本発明の参考例によるガイドピンの取付け構造図
【図4】本発明の参考例によるガイドピンの構造図
【図5】本発明の参考例によるガイドピンとピン端子との配列を表す図
【図6】プリント配線板とともに表した従来における半導体装置のパッケージ構成図
【図7】本発明の参考例によるガイドピンの構造を示す図であり、(a)はガイドピンの構造図、(b)は樹脂ケースに穿孔したピン取付穴の構造図

Claims (2)

  1. 半導体素子を組み込んだ樹脂ケースの上面に、プリント配線板側のコネクタと接続し合うピン端子と並置してプリント配線板側の位置決め穴と嵌合し合う複数本のガイドピンを設けた半導体装置のパッケージにおいて、前記ガイドピンを金属製のピンとし、該金属製ガイドピンをインサート部品として樹脂ケースと一体成形したことを特徴とする半導体装置のパッケージ。
  2. 請求項1記載のパッケージにおいて、金属製ピンを芯材としてその周面に樹脂成形を施したことを特徴とする半導体装置のパッケージ。
JP2000191329A 1993-09-08 2000-06-26 半導体装置のパッケージ Expired - Lifetime JP3540985B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000191329A JP3540985B2 (ja) 1993-09-08 2000-06-26 半導体装置のパッケージ

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5-222676 1993-09-08
JP22267693 1993-09-08
JP2000191329A JP3540985B2 (ja) 1993-09-08 2000-06-26 半導体装置のパッケージ

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25352393A Division JP3129058B2 (ja) 1993-09-08 1993-10-12 半導体装置のパッケージ

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002297620A Division JP2003142210A (ja) 1993-09-08 2002-10-10 半導体装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001028408A JP2001028408A (ja) 2001-01-30
JP3540985B2 true JP3540985B2 (ja) 2004-07-07

Family

ID=32774115

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000191329A Expired - Lifetime JP3540985B2 (ja) 1993-09-08 2000-06-26 半導体装置のパッケージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3540985B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001028408A (ja) 2001-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6407566B1 (en) Test module for multi-chip module simulation testing of integrated circuit packages
US5239198A (en) Overmolded semiconductor device having solder ball and edge lead connective structure
US5590463A (en) Circuit board connectors
US20060169488A1 (en) Circuit board mounted with surface mount type circuit component and method for producing the same
US5748450A (en) BGA package using a dummy ball and a repairing method thereof
US9125321B2 (en) Package
JP3129058B2 (ja) 半導体装置のパッケージ
US8139377B2 (en) IC device and method of manufacturing the same
EP0438165B1 (en) Semiconductor device parts
JP3540985B2 (ja) 半導体装置のパッケージ
JP2006024959A (ja) 半導体装置
US5693571A (en) Method for mounting a semiconductor device by which deformation of leads is prevented
US5743748A (en) Emulator probe
JPH0442940Y2 (ja)
JP2003142210A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH08191111A (ja) 電子部品パッケージ
US20080048704A1 (en) Apparatus and methods for testing microelectronic devices
US5475569A (en) Method of testing fine pitch surface mount IC packages
JPH05109930A (ja) 半導体装置
KR100201397B1 (ko) 반도체 패키지 장착용 패키지
KR100537716B1 (ko) 리드 프레임 및 그를 이용한 반도체 패키지
JP3747527B2 (ja) 光データリンク
KR200231862Y1 (ko) 반도체 패키지
JPH0447965Y2 (ja)
KR20000007745A (ko) 볼그리드어레이

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20031224

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20031225

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040326

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080402

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090402

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402

Year of fee payment: 8

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402

Year of fee payment: 8

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120402

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130402

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140402

Year of fee payment: 10

EXPY Cancellation because of completion of term