JP3530013B2 - グラビア彫刻装置およびグラビア彫刻装置におけるセルのサイズの計測方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明はグラビア彫刻装置
およびグラビア彫刻装置におけるセルのサイズの計測方
法に関し、特に、グラビアシリンダにおける試し彫り領
域内に彫刻されたセルの画像を撮像して得た画像データ
からこのセルのサイズを計測するセルのサイズの計測機
能を備えたグラビア彫刻装置およびグラビア彫刻装置に
おけるセルのサイズの計測方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】グラビア彫刻装置は、表面に銅メッキが
施された円筒状のグラビアシリンダを回転させながら、
このグラビアシリンダの表面にセルと呼ばれる微少な凹
部を形成することにより、グラビア印刷に使用する凹版
を制作する装置である。そして、セルの深さと幅（面
積）とによって、当該セルに充填されるインキの量が制
御され、印刷濃度が表現されるようになっている。

【０００３】グラビアシリンダの表面にセルを形成する
ためには、彫刻ヘッドが使用される。この彫刻ヘッド
は、その一端が固定部に固定された軸体と、軸体の他端
に支持されその先端にダイヤモンドの針（バイト）を有
するスタイラスと、軸体の中間部に支持されその周囲に
コイルが巻回されたロータと、ロータに対して磁界を与
えるステータとを有し、ロータのコイルに対して彫刻信
号を印加して交番磁界を発生させることにより、ロータ
をスタイラスとともに数ＫＨｚの周波数で振動させるよ
うに構成されている。

【０００４】図１２（ｃ）は、彫刻ヘッドに印加される
彫刻信号の波形を示したものであり、スタイラスの変位
波形に相当している。この波形信号は、図１２（ａ）に
示す高周波のキャリー信号に、図１２（ｂ）に示す濃度
信号波形を重畳することにより得られる。このような彫
刻信号を彫刻ヘッドのコイルに印加することにより、図
５（ｄ）に示すように、濃度信号に対応する深さおよび
幅のセルをグラビアシリンダの表面に彫刻することがで
きる。なお、図１２（ｃ）における一点鎖線Ｓがグラビ
アシリンダの表面に相当している。

【０００５】このようなグラビア彫刻装置においては、
セルの深さと幅とによって印刷濃度を表現するようにし
ているので、セルの深さ等と印刷すべき濃度とは一対一
対応の関係にする必要がある。また、印刷すべき画像の
線数にかかわらず、グラビアシリンダの軸方向に隣り合
うセル間には、土手と呼称される彫刻されない部分を形
成する必要がある。このため、濃度とセルの深さ等との
対応関係をセルの形状や線数によって変更する必要が生
ずる。従って、彫刻すべき線数やセル形状が変更される
度に、スタイラスの変位調整が必要となる。

【０００６】また、個々の彫刻ヘッドは、同じ彫刻信号
を印加しても、厳密には同じスタイラス変位とはならな
いので、彫刻ヘッドが換わる度に変位調整をする必要が
生ずる。さらには、グラビアシリンダが交換されると、
その表面の銅メッキの硬度によってセルの深さ等が変化
するため、この場合においても変位調整が必要となる。

【０００７】このため、特開平６−１９１００１号公報
においては、グラビアシリンダにおける試し彫り領域内
に彫刻されたセルの画像をＣＣＤカメラ等により撮像
し、この撮像して得た画像データからこのセルのサイズ
を計測するとともに、このセルのサイズの計測結果から
彫刻信号を調整するようにしたグラビア彫刻装置が提案
されている。このようなグラビア彫刻装置によれば、ス
タイラスの変位調整を容易に実行することが可能とな
り、セルの深さ等を所望の値に維持することが可能とな
る。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】グラビアシリンダとし
てその表面が鏡面状に羽布研磨されたシリンダを使用し
た場合においては、ＣＣＤカメラによりグラビアシリン
ダを撮像して得た画像データから、彫刻後のセルとグラ
ビアシリンダの表面との境界を容易に識別することがで
きる。

【０００９】しかしながら、近年においては、グラビア
シリンダの制作コスト低減のため、グラビアシリンダに
対する羽布研磨を省略する場合がある。このような場合
においては、グラビアシリンダの表面には微細な傷が残
存することとなる。

【００１０】このような微細な傷を有するグラビアシリ
ンダの表面をＣＣＤカメラ等により撮像した場合におい
ては、この微細な傷により、彫刻後のセルとグラビアシ
リンダの表面との境界を正確に識別することが困難とな
り、セルのサイズを正確に測定することが不可能になる
という問題が生ずる。

【００１１】この発明は上記課題を解決するためになさ
れたものであり、セルのサイズを正確に測定することが
できるグラビア彫刻装置およびグラビア彫刻装置におけ
るセルのサイズの計測方法を提供することを目的とす
る。

【００１２】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、グラビアシリンダにおける試し彫り領域内に彫刻さ
れたセルの画像を撮像して得た画像データからこのセル
のサイズを計測する計測機能を備えたグラビア彫刻装置
であって、前記グラビアシリンダにおける前記試し彫り
領域を撮像可能な撮像手段と、前記撮像手段により撮像
した彫刻前の試し彫り領域の画像データを記憶する記憶
手段と、前記撮像手段により撮像した彫刻後の試し彫り
領域の画像データを、前記記憶手段に記憶された彫刻前
の試し彫り領域の画像データを用いて補正するデータ補
正手段と、前記データ補正手段により補正された画像デ
ータに基づいてセルのサイズを計測する計測手段とを備
えたことを特徴とする。

【００１３】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の発明において、前記彫刻前の試し彫り領域の画像デー
タと前記彫刻後の試し彫り領域の画像データとの位置ず
れ量を演算して補正する位置ずれ量補正手段をさらに備
え、前記データ補正手段は、前記位置ずれ量補正手段に
より前記彫刻前の試し彫り領域の画像データと前記彫刻
後の試し彫り領域の画像データとの位置ずれが補正され
た後に、前記彫刻後の試し彫り領域の画像データを前記
記憶手段に記憶された彫刻前の試し彫り領域の画像デー
タを用いて補正している。

【００１４】請求項３に記載の発明は、請求項１または
請求項２いずれかに記載の発明において、前記データ補
正手段は、前記彫刻後の試し彫り領域の画像データにお
ける各画素の画素値を、前記記憶手段に記憶された彫刻
前の試し彫り領域の画像データにおける各画素の画素値
により除算処理している。

【００１５】請求項４に記載の発明は、グラビアシリン
ダにおける試し彫り領域内に彫刻されたセルの画像を撮
像して得た画像データからこのセルのサイズを計測する
計測機能を備えたグラビア彫刻装置におけるセルのサイ
ズの計測方法であって、前記グラビアシリンダにおける
前記試し彫り領域を撮像手段により撮像して、彫刻前の
試し彫り領域の画像データを得る第１撮像工程と、前記
グラビアシリンダにおける前記試し彫り領域にセルを彫
刻する試し彫り工程と、前記グラビアシリンダにおける
前記試し彫り領域を撮像手段により撮像して、彫刻後の
試し彫り領域の画像データを得る第２撮像工程と、前記
第２撮像工程で得た彫刻後の試し彫り領域の画像データ
を、前記第１撮像工程で得た彫刻前の試し彫り領域の画
像データを用いて補正するデータ補正工程と、前記デー
タ補正工程において補正された画像データに基づいてセ
ルのサイズを計測する計測工程とを備えたことを特徴と
する。

【００１６】請求項５に記載の発明は、請求項４に記載
の発明において、前記彫刻前の試し彫り領域の画像デー
タと前記彫刻後の試し彫り領域の画像データとの位置ず
れ量を演算して補正する位置ずれ量補正工程をさらに備
え、前記位置ずれ量補正工程により前記彫刻前の試し彫
り領域の画像データと前記彫刻後の試し彫り領域の画像
データとの位置ずれが補正された後に、前記第２撮像工
程で得た彫刻後の試し彫り領域の画像データを前記第１
撮像工程で得た彫刻前の試し彫り領域の画像データを用
いて補正している。

【００１７】請求項６に記載の発明は、請求項４または
請求項５いずれかに記載の発明において、前記データ補
正工程において、前記第２の撮像工程で得た彫刻後の試
し彫り領域の画像データにおける各画素の画素値を、前
記第１の撮像工程で得た彫刻前の試し彫り領域の画像デ
ータにおける各画素の画素値により除算処理している。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて説明する。図１はこの発明に係るグラビア
彫刻装置の斜視図である。

【００１９】このグラビア彫刻装置は、グラビアシリン
ダ１に対してセルを彫刻するためのものであり、ベッド
１１と、ベッド１１の上面に固定された主軸台１２と、
主軸台１２と対向して配置された芯押台１３と、彫刻ヘ
ッド１４を有するテーブル１５とを備える。

【００２０】主軸台１２の主軸２１は駆動モータ２２と
連結しており、駆動モータ２２の駆動により高速に回転
する。一方、芯押台１３はベット１１の上面をグラビア
シリンダ１の軸芯方向に移動可能に構成されており、ま
た、芯押台１３のセンタ２３は、図示しないエアシリン
ダの駆動により主軸台１２の主軸２１に対して接離可能
に構成されている。このため、図１において一部を切り
欠いて示すグラビアシリンダ１は、主軸２１とセンタ２
３とにより支持されて高速に回転する。

【００２１】彫刻ヘッド１４を有するテーブル１５は、
その下面に駆動モータ２７と連結されたボールネジ２８
と螺合するナット部２９を備えており、駆動モータ２７
の駆動により基台３１の上面に配設された一対のガイド
レール３２に沿って移動可能に構成されている。また、
基台３１は、その下面にボールネジ２４と螺合するネジ
部を備えており、駆動モータ２５の駆動により、ベッド
１１の上面に配設された一対のガイドレール２６に沿っ
て、グラビアシリンダ１の軸芯方向に移動可能に構成さ
れている。このため、彫刻ヘッド１４は、グラビアシリ
ンダ１対して接離可能で、かつ、グラビアシリンダ１の
表面に沿って移動可能な構成となっている。

【００２２】テーブル１５上には、ＣＣＤカメラ３３
と、このＣＣＤカメラ３３に対して鏡筒３４を介して接
続された対物レンズ３５とを支持する支持台３６が配設
されている。この支持台３６は、エアシリンダ３８の駆
動により、テーブル１５に固定されたガイドレール３７
に沿って往復移動する。このＣＣＤカメラ３３は、グラ
ビアシリンダ１の表面を撮像するためのものである。な
お、支持台３６には、図３に示すストロボ光源３９が配
設されている。このストロボ光源３９からのストロボ光
は、ハーフミラーを利用した同軸落射光学系により、対
物レンズ３５を介してグラビアシリンダ１の表面に照射
される。

【００２３】また、テーブル１５上には、ＣＣＤカメラ
３３によるグラビアシリンダ１の表面の撮像時の焦点合
わせのため、グラビアシリンダ１の表面の位置を測定す
るための、投光部４１と受光部４２とを有するシリンダ
表面位置検出部４３が配設されている。

【００２４】テーブル１５上に配設された彫刻ヘッド１
４は、図２に示すように、その一端がテーブル１５にお
ける固定部５１に固定された軸体５２と、軸体５２の他
端に支持されその先端にダイヤモンドの針（バイト）５
３を有するスタイラス５４と、軸体５２に支持されたロ
ータ５５と、ロータ５５の周囲に配設されロータ５５に
対して磁界を与えるステータ５６と、ステータ５６に磁
力を付与するための永久磁石５７とを有する。また、ロ
ータ５５は軸体５２に支持された多数の薄板を積層した
構成を有し、その左右端近傍には、図２において仮想線
で示すコイル５８が巻回されている。

【００２５】このような構成において、コイル５８に交
番電流を印加した場合には、磁束の流れの発生によりロ
ータ５５はスタイラス５４とともにわずかな角度だけ回
動する。そして、このスタイラス５４の回動を利用して
バイト５３をグラビアシリンダ１の表面に当接させるこ
とにより、グラビアシリンダ１の表面にセルを形成する
ように構成されている。

【００２６】図３は、上述したグラビア彫刻装置の主要
な電気的構成を示すブロック図である。

【００２７】このグラビア彫刻装置は、装置の制御に必
要な動作プログラムが格納されたＲＯＭ６２と、制御時
にデータ等が一時的にストアされるＲＡＭ６３と、論理
演算を実行するＣＰＵ６１とからなる制御部６０を備え
る。ＲＡＭ６３は、後程詳細に説明するように、ＣＣＤ
カメラ３３により撮像した彫刻前の試し彫り領域の画像
データを記憶する記憶手段として機能する。また、制御
部６０は、後程詳細に説明するように、ＣＣＤカメラ３
３により撮像した彫刻後の試し彫り領域の画像データ
を、ＲＡＭ６３に記憶された彫刻前の試し彫り領域の画
像データを用いて補正するデータ補正手段として機能す
る。さらに、制御部６０は、後程詳細に説明するよう
に、画像データに基づいてセルのサイズを計測する計測
手段としても機能する。

【００２８】また、この制御部６０は、インターフェー
ス４４を介して、上述した彫刻ヘッド１４およびストロ
ボ光源３９と接続されている。さらに、この制御部６０
は、インターフェース４４を介して画像処理部４５と接
続されており、この画像処理部４５は、上述したＣＣＤ
カメラ３３と接続されている。

【００２９】次に、上述したグラビア彫刻装置における
セルのサイズの計測動作について説明する。図４はセル
のサイズの計測工程を示すフローチャートであり、図５
は位置ずれ量の補正工程を示すフローチャートである。

【００３０】なお、以下に説明するセルのサイズの計測
方法においては、後述するデータ補正工程においてグラ
ビアシリンダ１の表面に形成された微細な傷の像を除去
することにより、セルのサイズを正確に測定することを
可能にしている。

【００３１】この発明に係るセルのサイズの計測方法に
よりセルのサイズを測定する場合においては、最初に、
グラビアシリンダ１における試し彫り領域をＣＣＤカメ
ラ３３により撮像して、セルが彫刻される前の試し彫り
領域の画像データを得る（ステップＳ１）。

【００３２】この場合においては、予め設定された試し
彫り領域４８の位置に基づいて、モータ２２、２５の駆
動によりテーブル１５を移動させ、彫刻ヘッド１４をグ
ラビアシリンダ１の表面における試し彫り領域４８と対
向可能な位置に配置させる。そして、モータ２２の駆動
によりグラビアシリンダ１を回転させると共に、予め設
定された試し彫り領域４８を照射可能なようにストロボ
光源３９を間欠的に発光させ、グラビアシリンダ１の表
面からの反射光をＣＣＤカメラ３３により撮影する。

【００３３】この画像データは、画像処理部４５を介し
て制御部６０に転送され、制御部６０のＲＡＭ６３に記
憶される。

【００３４】図６は、このような試し彫り領域４８を示
す説明図である。この試し彫り領域４８は、１回の試し
彫りを実行するための複数の単位試し彫り領域４９の集
合体として構成される。なお、この試し彫り領域４８の
位置は、グラビアシリンダ１の表面における実際のグラ
ビア印刷に支障を来さない部分に予め設定されている。
そして、この試し彫り領域４８の位置は、制御部６０に
おけるＲＡＭ６３に記憶されている。

【００３５】図７は、ＣＣＤカメラ３３により撮像した
グラビアシリンダ１における試し彫り領域４８の画像Ｂ
を示す模式図である。この実施形態においては、グラビ
アシリンダ１として、羽布研磨を省略したものを使用し
ている。このため、ＣＣＤカメラ３３により撮像した画
像Ｂには、グラビアシリンダ１の表面に形成された微細
な傷を表す線状の像が映し出されている。

【００３６】次に、試し彫りを行う（ステップＳ２）。
試し彫りを行う場合には、モータ２２、２５の駆動によ
りテーブル１５を移動させ、彫刻ヘッド１４がグラビア
シリンダ１の表面における試し彫り領域４８と対向可能
な位置に配置させる。そして、モータ２２の駆動により
グラビアシリンダ１を回転させると共に、スタイラス５
４を彫刻信号に応じて回動させ、バイト５３をグラビア
シリンダ１の表面に当接させることにより、グラビアシ
リンダ１の表面にセルを形成する。

【００３７】続いて、グラビアシリンダ１における試し
彫り領域４８をＣＣＤカメラ３３により撮像して、セル
が彫刻された後の試し彫り領域４８の画像データを得る
（ステップＳ３）。

【００３８】この場合においても、ステップＳ１と同
様、予め設定された試し彫り領域４８の位置に基づい
て、モータ２２、２５の駆動によりテーブル１５を移動
させ、彫刻ヘッド１４がグラビアシリンダ１の表面にお
ける試し彫り領域４８と対向可能な位置に配置させる。
そして、モータ２２の駆動によりグラビアシリンダ１を
回転させると共に、予め設定された試し彫り領域４８を
照射可能なようにストロボ光源３９を間欠的に発光さ
せ、グラビアシリンダ１の表面からの反射光をＣＣＤカ
メラ３３により撮影する。

【００３９】この画像データも、制御部６０のＲＡＭ６
３に一旦記憶される。

【００４０】図８は、ＣＣＤカメラ３３により撮像した
グラビアシリンダ１における試し彫り領域４８の画像Ｒ
を示す模式図である。この画像Ｒには、グラビアシリン
ダ１の彫刻されたセルの像とともに、グラビアシリンダ
１の表面に形成された微細な傷を表す線状の像が映し出
されている。

【００４１】このように、グラビアシリンダ１の表面に
彫刻されたセルの像とグラビアシリンダ１の表面に形成
された微細な傷の像とが互いに重畳して撮影された場合
においては、彫刻後のセルとグラビアシリンダ１の表面
との境界を正確に識別することが困難となり、セルのサ
イズを正確に測定することが不可能になるという問題が
生ずる。このため、この発明に係るセルのサイズの計測
方法においては、後述する位置ずれ量補正工程およびデ
ータ補正工程において、グラビアシリンダ１の表面に形
成された微細な傷の像を除去するようにしている。

【００４２】上述した画像データの取込が完了すれば、
彫刻前の試し彫り領域４８の画像データと彫刻後の試し
彫り領域４８の画像データとの位置ずれ量を演算して補
正する位置ずれ量補正を行う（ステップＳ４）。

【００４３】ＣＣＤカメラ３３によりグラビアシリンダ
１表面における試し彫り領域４８を撮像する場合におい
ては、グラビアシリンダ１を回転させながら、予め設定
された試し彫り領域４８の位置を照射可能なようにスト
ロボ光源３９を間欠的に発光させることにより、グラビ
アシリンダ１の表面からの反射光をＣＣＤカメラ３３に
より撮影している。このため、制御部６０からストロボ
光源３９に発光指令が出されてから実際にストロボ光源
３９が発光するまでのわずかな時間差の変動により、Ｃ
ＣＤカメラ３３による撮像位置がグラビアシリンダ１の
回転方向（主走査方向）にわずかにずれる場合がある。

【００４４】また、上述したステップＳ２とステップＳ
３とは、必要に応じ複数回繰り返される。このため、テ
ーブル１５は、彫刻ヘッド１４が試し彫り領域４８と対
向可能な位置と対物レンズ３５が試し彫り領域４８と対
向可能な位置とを繰り返し往復移動することになる。こ
のため、ＣＣＤカメラ３３による撮像位置がグラビアシ
リンダ１の軸方向（副走査方向）にわずかにずれる場合
がある。

【００４５】このような位置ずれに対応するため、彫刻
前の試し彫り領域４８の画像データと彫刻後の試し彫り
領域４８の画像データとの位置ずれ量を演算して補正す
る位置ずれ量の補正を実行している。

【００４６】以下、この位置ずれ量の補正工程について
説明する。図５は、位置ずれ量の補正工程を示すフロー
チャートである。

【００４７】彫刻前の試し彫り領域４８の画像データと
彫刻後の試し彫り領域４８の画像データとの位置ずれ量
を演算して補正するためには、先ず、彫刻前の試し彫り
領域４８の画像データと彫刻後の試し彫り領域４８の画
像データとを比較するための比較用画像データを取り込
む（ステップＳ４１）。

【００４８】この比較用画像データは、図８に代表して
示すように、試し彫り領域４８におけるＣＣＤカメラ３
３により撮像した領域のうち、セルが彫刻されない領域
Ｃの画像データである。この比較用画像データは、彫刻
前の試し彫り領域４８の画像データと彫刻後の試し彫り
領域４８の画像データとから、各々取り込まれる。な
お、このセルが彫刻されない領域Ｃは、彫刻を行うべき
基準位置とセルフォーメーションとから、制御部６０に
より決定される。

【００４９】次に、ＣＣＤカメラ３３における単位画素
当たりの誤差量を演算する（ステップＳ４２）。すなわ
ち、図１１に示すように、図８に示す彫刻後の試し彫り
領域４８を撮像した領域のうちセルが彫刻されない領域
Ｃの画像データである彫刻後の比較画像領域Ｃｒの画像
データと、彫刻前の試し彫り領域４８を撮像した領域の
うちセルが彫刻されない領域の画像データである彫刻前
の比較画像領域Ｃｂの画像データとを、Ｘ方向およびＹ
方向に各々ずらせた状態で、１画素ずつ順次Ｘ、Ｙ方向
に移動させる。そして、図１１において斜線で示す比較
画像領域Ｃｒと比較画像領域Ｃｂとの重なり領域におい
て、各画素における画素値の差の絶対値を加算し、か
つ、重なり部分の総画素数で除算した値、すなわち、単
位画素当たりの誤差量ａを各々の位置において演算す
る。この演算は、例えば、各比較画像領域を、互いにそ
のＸ、Ｙ方向のサイズに相当する距離だけずらせた範囲
において実行する。

【００５０】この単位画素当たりの誤差量ａは、比較画
像領域Ｃｒと比較画像領域Ｃｂとの位置が互いに一致し
たとき、最小となるはずである。このため、単位画素当
たりの誤差量ａが最小となるときの、比較画像領域Ｃｒ
と比較画像領域ＣｂとのＸ方向およびＹ方向のずれ量Ｌ
ｘ、Ｌｙを、比較画像領域Ｃｒと比較画像領域Ｃｂとの
位置ずれ量、すなわち、彫刻前の試し彫り領域４８の画
像データと彫刻後の試し彫り領域４８の画像データとの
位置ずれ量と判断する（ステップＳ４３）。

【００５１】そして、彫刻前の試し彫り領域４８の画像
データを彫刻後の試し彫り領域４８の画像データに対し
て、Ｘ方向およびＹ方向のずれ量Ｌｘ、Ｌｙだけ移動さ
せることにより、画像データの位置を補正する（ステッ
プＳ４４）。

【００５２】再度図４を参照して、上述した位置ずれ量
の補正工程が終了すれば、グラビアシリンダ１の表面に
形成された微細な傷の像を除去するためのデータ補正工
程を実行する（ステップＳ５）。

【００５３】このデータ補正工程においては、彫刻後の
試し彫り領域４８の画像データにおける各画素の画素値
Ｄｒを、彫刻前の試し彫り領域４８の画像データにおけ
る対応する各画素の画素値Ｄｂで各々除算し、その値に
最大の輝度値Ｍを乗算した値を補正後の画素値とする。
すなわち、補正後の画像データにおける各画素値Ｋは、
［Ｍ・Ｄｒ／Ｄｂ］で表される値となる。なお、ＣＣＤ
カメラ３３により撮像された画像データが例えば２５６
階調のものであれば、Ｍとしてその最大値である２５５
を入力すればよい。

【００５４】図１０は、上述した位置ずれ量補正および
データ補正後の試し彫り領域４８の画像Ｒ２を示す模式
図である。この画像Ｒ２には、図７に示すようなグラビ
アシリンダ１の表面に形成された微細な傷を表す線状の
像は映し出されてはいない。このため、彫刻後のセルと
グラビアシリンダ１の表面との境界を正確に識別するこ
とができる。なお、図１０においては、彫刻されたセル
の画像中にグラビアシリンダ１の表面に形成された一部
の傷を表す線状の像が反転して映し出されているが、こ
れが彫刻後のセルとグラビアシリンダ１の表面との境界
を識別する際の障害となることはない。

【００５５】図９は、上述した位置ずれ量補正を行わ
ず、データ補正のみを行った後の試し彫り領域４８の画
像Ｒ１を示す模式図である。この画像Ｒ１には、グラビ
アシリンダ１の表面に形成された微細な傷を表す線状の
像が若干残存している。しかしながら、この場合におい
ても、図７に示す画像Ｒに比べて線状の像を大幅に減少
させることが可能となっており、彫刻後のセルとグラビ
アシリンダ１の表面との境界をより正確に識別すること
が可能となっている。従って、上述した位置ずれ補正工
程は、これを省略することも可能である。

【００５６】再度図４を参照して、上述したデータ補正
工程が完了すれば、補正後の画像データに基づいてセル
のサイズを測定する（ステップＳ６）。この計測工程に
おいては、制御部６０のＣＰＵ６１が上述した補正後の
画像データにおけるセルとグラビアシリンダ１の表面と
の境界位置に基づいてセルのサイズを判断する。このと
き、上記のように彫刻後のセルとグラビアシリンダ１の
表面との境界を正確に識別することができることから、
セルのサイズを正確に測定することが可能となる。

【００５７】以上により、グラビア彫刻装置におけるセ
ルのサイズの計測動作が終了する。そして、上記の工程
で計測されたセルサイズのデータに基づいて彫刻信号を
調整することにより、スタイラスの変位調整を容易に実
行することが可能となり、セルの深さ等を所望の値に維
持することが可能となる。

【００５８】

【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、撮像手
段により撮像した彫刻後の試し彫り領域の画像データを
記憶手段に記憶された彫刻前の試し彫り領域の画像デー
タを用いて補正するデータ補正手段と、データ補正手段
により補正された画像データに基づいてセルのサイズを
計測する計測手段とを備えたことから、グラビアシリン
ダの表面状態にかかわらず彫刻後のセルとグラビアシリ
ンダの表面との境界を正確に識別することができ、セル
のサイズを正確に測定することが可能となる。

【００５９】請求項２に記載の発明によれば、彫刻前の
試し彫り領域の画像データと彫刻後の試し彫り領域の画
像データとの位置ずれ量を演算して補正する位置ずれ量
補正手段をさらに備えることから、彫刻前の試し彫り領
域の画像データと彫刻後の試し彫り領域の画像データと
に位置ずれが生じた場合においても、これを補正するこ
とにより、彫刻後のセルとグラビアシリンダの表面との
境界を正確に識別することが可能となり、セルのサイズ
を正確に測定することが可能となる。

【００６０】請求項３に記載の発明によれば、データ補
正手段は彫刻後の試し彫り領域の画像データにおける各
画素の画素値を記憶手段に記憶された彫刻前の試し彫り
領域の画像データにおける各画素の画素値により除算処
理することから、各画素値の変化の値が大きい場合にお
いても正確にデータの補正を実行することが可能とな
る。

【００６１】請求項４に記載の発明によれば、第２撮像
工程で得た彫刻後の試し彫り領域の画像データを第１撮
像工程で得た彫刻前の試し彫り領域の画像データを用い
て補正するデータ補正工程と、データ補正工程において
補正された画像データに基づいてセルのサイズを計測す
る計測工程とを備えたことから、グラビアシリンダの表
面状態にかかわらず彫刻後のセルとグラビアシリンダの
表面との境界を正確に識別することができ、セルのサイ
ズを正確に測定することが可能となる。

【００６２】請求項５に記載の発明によれば、彫刻前の
試し彫り領域の画像データと彫刻後の試し彫り領域の画
像データとの位置ずれ量を演算して補正する位置ずれ量
補正工程をさらに備えることから、彫刻前の試し彫り領
域の画像データと彫刻後の試し彫り領域の画像データと
に位置ずれが生じた場合においても、これを補正するこ
とにより、彫刻後のセルとグラビアシリンダの表面との
境界を正確に識別することが可能となり、セルのサイズ
を正確に測定することが可能となる。

【００６３】請求項６に記載の発明によれば、データ補
正工程において第２の撮像工程で得た彫刻後の試し彫り
領域の画像データにおける各画素の画素値を第１の撮像
工程で得た彫刻前の試し彫り領域の画像データにおける
各画素の画素値により除算処理することから、各画素値
の変化の値が大きい場合においても正確にデータの補正
を実行することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係るグラビア彫刻装置の斜視図であ
る。

【図２】彫刻ヘッド１４の要部を示す斜視図である。

【図３】グラビア彫刻装置の主要な電気的構成を示すブ
ロック図である。

【図４】セルのサイズの計測工程を示すフローチャート
である。

【図５】位置ずれ量の補正工程を示すフローチャートで
ある。

【図６】試し彫り領域４８を示す説明図である。

【図７】彫刻前の試し彫り領域４８の画像Ｂを示す模式
図である。

【図８】彫刻後の試し彫り領域４８の画像Ｒを示す模式
図である。

【図９】データ補正後の試し彫り領域４８の画像Ｒ１を
示す模式図である。

【図１０】位置ずれ量補正およびデータ補正後の試し彫
り領域４８の画像Ｒ２を示す模式図である。

【図１１】比較画像領域Ｃｒ、Ｃｂを示す説明図であ
る。

【図１２】彫刻信号およびセルの形状を示す説明図であ
る。

【符号の説明】

１ グラビアシリンダ １４ 彫刻ヘッド １５ テーブル ３３ ＣＣＤカメラ ３９ ストロボ光源 ４５ 画像処理部 ４８ 試し彫り領域 ６０ 制御部 ６１ ＣＰＵ ６２ ＲＯＭ ６３ ＲＡＭ Ｃ セルが彫刻されない領域 Ｂ 彫刻前の試し彫り領域４８の画像データ Ｒ 彫刻後の試し彫り領域４８の画像データ Ｒ１ データ補正後の試し彫り領域４８の画像データ Ｒ２ 位置ずれ量補正およびデータ補正後の試し彫り
領域４８の画像データ

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 グラビアシリンダにおける試し彫り領域
   内に彫刻されたセルの画像を撮像して得た画像データか
   らこのセルのサイズを計測する計測機能を備えたグラビ
   ア彫刻装置であって、 前記グラビアシリンダにおける前記試し彫り領域を撮像
   可能な撮像手段と、 前記撮像手段により撮像した彫刻前の試し彫り領域の画
   像データを記憶する記憶手段と、 前記撮像手段により撮像した彫刻後の試し彫り領域の画
   像データを、前記記憶手段に記憶された彫刻前の試し彫
   り領域の画像データを用いて補正するデータ補正手段
   と、 前記データ補正手段により補正された画像データに基づ
   いてセルのサイズを計測する計測手段と、 を備えたことを特徴とするグラビア彫刻装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載のグラビア彫刻装置にお
   いて、 前記彫刻前の試し彫り領域の画像データと前記彫刻後の
   試し彫り領域の画像データとの位置ずれ量を演算して補
   正する位置ずれ量補正手段をさらに備え、 前記データ補正手段は、前記位置ずれ量補正手段により
   前記彫刻前の試し彫り領域の画像データと前記彫刻後の
   試し彫り領域の画像データとの位置ずれが補正された後
   に、前記彫刻後の試し彫り領域の画像データを前記記憶
   手段に記憶された彫刻前の試し彫り領域の画像データを
   用いて補正するグラビア彫刻装置。
3. 【請求項３】 請求項１または請求項２いずれかに記載
   のグラビア彫刻装置において、 前記データ補正手段は、前記彫刻後の試し彫り領域の画
   像データにおける各画素の画素値を、前記記憶手段に記
   憶された彫刻前の試し彫り領域の画像データにおける各
   画素の画素値により除算処理するグラビア彫刻装置。
4. 【請求項４】 グラビアシリンダにおける試し彫り領域
   内に彫刻されたセルの画像を撮像して得た画像データか
   らこのセルのサイズを計測する計測機能を備えたグラビ
   ア彫刻装置におけるセルのサイズの計測方法であって、 前記グラビアシリンダにおける前記試し彫り領域を撮像
   手段により撮像して、彫刻前の試し彫り領域の画像デー
   タを得る第１撮像工程と、 前記グラビアシリンダにおける前記試し彫り領域にセル
   を彫刻する試し彫り工程と、 前記グラビアシリンダにおける前記試し彫り領域を撮像
   手段により撮像して、彫刻後の試し彫り領域の画像デー
   タを得る第２撮像工程と、 前記第２撮像工程で得た彫刻後の試し彫り領域の画像デ
   ータを、前記第１撮像工程で得た彫刻前の試し彫り領域
   の画像データを用いて補正するデータ補正工程と、 前記データ補正工程において補正された画像データに基
   づいてセルのサイズを計測する計測工程と、 を備えたことを特徴とするグラビア彫刻装置におけるセ
   ルのサイズの計測方法。
5. 【請求項５】 請求項４に記載のグラビア彫刻装置にお
   けるセルのサイズの計測方法において、 前記彫刻前の試し彫り領域の画像データと前記彫刻後の
   試し彫り領域の画像データとの位置ずれ量を演算して補
   正する位置ずれ量補正工程をさらに備え、 前記位置ずれ量補正工程により前記彫刻前の試し彫り領
   域の画像データと前記彫刻後の試し彫り領域の画像デー
   タとの位置ずれが補正された後に、前記第２撮像工程で
   得た彫刻後の試し彫り領域の画像データを前記第１撮像
   工程で得た彫刻前の試し彫り領域の画像データを用いて
   補正するグラビア彫刻装置におけるセルのサイズの計測
   方法。
6. 【請求項６】 請求項４または請求項５いずれかに記載
   のグラビア彫刻装置におけるセルのサイズの計測方法に
   おいて、 前記データ補正工程において、前記第２の撮像工程で得
   た彫刻後の試し彫り領域の画像データにおける各画素の
   画素値を、前記第１の撮像工程で得た彫刻前の試し彫り
   領域の画像データにおける各画素の画素値により除算処
   理するグラビア彫刻装置におけるセルのサイズの計測方
   法。