JP3522001B2 - Chip bonding equipment - Google Patents

Chip bonding equipment

Info

Publication number
JP3522001B2
JP3522001B2 JP11393195A JP11393195A JP3522001B2 JP 3522001 B2 JP3522001 B2 JP 3522001B2 JP 11393195 A JP11393195 A JP 11393195A JP 11393195 A JP11393195 A JP 11393195A JP 3522001 B2 JP3522001 B2 JP 3522001B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
bracket
tool
cylinder
reaction force
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP11393195A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH08288338A (en
Inventor
雅典 秋田
朗 山内
覚 坂口
八洲夫 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toray Engineering Co Ltd
Original Assignee
Toray Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toray Engineering Co Ltd filed Critical Toray Engineering Co Ltd
Priority to JP11393195A priority Critical patent/JP3522001B2/en
Publication of JPH08288338A publication Critical patent/JPH08288338A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3522001B2 publication Critical patent/JP3522001B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶基板等の各種の回
路基板に半導体チップをボンディングする為のチップボ
ンディング装置に関するものである。
The present invention relates to a Chippubo for bonding a semiconductor chip to various circuit boards such as a liquid crystal substrate
And a binding device .

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、液晶基板等、各種の回路基板に半
導体チップを加熱圧着するチップボンディングは、広く
実用に供されているが、このボンディングにおいては、
ミクロン単位の精度が要求され、かつ、それが一段と高
精度になりつつある。その為、ボンディングに際し、回
路基板のボンディングしようとする面に対するボンディ
ングツールのチップ吸着保持面(ボンディングツールの
下端面)の平行度を高精度に保つようにしなければなら
なく、このように保たないと、ボンティングに際してチ
ップずれが生じて高精度のボンティングが困難となる。
そこで、この点に関する改良が数多く提案されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, chip bonding, in which a semiconductor chip is heated and pressure-bonded to various circuit boards such as liquid crystal boards, has been widely put to practical use.
Micron precision is required, and it is becoming even more precise. Therefore, in bonding, the parallelism of the chip suction holding surface (the lower end surface of the bonding tool) of the bonding tool with respect to the surface of the circuit board to be bonded must be maintained with high accuracy, and this is not maintained. Then, chip displacement occurs during the bonding, making it difficult to perform highly accurate bonding.
Therefore, many improvements regarding this point have been proposed.

【0003】すなわち、例えば、特開平6−13235
7号公報においては、Zテーブルによりヘッドブラケッ
トを下方へ移動させて回路基板にボンデイングツールを
接近させると共に、Zテーブルよりも上方に位置して装
着されているシリンダーのピストンロッドを下方へ突出
させてボンデイングツールに所定のボンデイング圧力を
付与せしめるボンデイングヘッドに関し、ボンデイング
ツールを、ヘッドブラケットに直接、装着しないで、回
路基板のボンディング面に対するボンデイングツールの
傾斜角度を調整する為の傾斜調整装置を介在させて装着
することが提案されている。また、特開平5−2754
88号公報においても、このような傾斜調整装置が提案
されている。
That is, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 6-13235.
In Japanese Patent Publication No. 7, the head bracket is moved downward by the Z table to bring the bonding tool close to the circuit board, and the piston rod of the cylinder mounted above the Z table is projected downward. Regarding the bonding head that applies a predetermined bonding pressure to the bonding tool, do not mount the bonding tool directly on the head bracket, but use an inclination adjustment device to adjust the inclination angle of the bonding tool with respect to the bonding surface of the circuit board. It is suggested to wear it. In addition, JP-A-5-2754
In the 88 publication, such an inclination adjusting device is also proposed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、これらの傾斜
調整装置は、手作業により取り扱われるものであるか
ら、その作業が煩わしく、また、ボンディング圧力の付
与時に、かかる圧力によりボンディングツールの下端面
が傾斜されてしまう等の欠点を有していた。その為、特
開平6−132357号公報においては、更に、圧電ア
クチュエータ等からなる変位手段による自動型の傾斜調
整装置が提案されている。
However, since these tilt adjusting devices are handled manually, the work is troublesome, and when the bonding pressure is applied, the lower end surface of the bonding tool is It had a defect that it was inclined. Therefore, in Japanese Patent Laid-Open No. 6-132357, there is further proposed an automatic tilt adjusting device using a displacement means such as a piezoelectric actuator.

【0005】ところが、このような自動型の傾斜調整装
置を備えたボンディングヘッドは、その一方において、
高度な技術が必要とされて装置コストを高め、かつ、高
度な技術が必要とされる反面において、期待する程に高
精度の平行度を保つことができない懸念があった。
However, the bonding head provided with such an automatic tilt adjusting device is
Although high technology is required to increase the device cost and high technology is required, there is a concern that parallelism with high accuracy cannot be maintained as expected.

【0006】本発明は、上述の欠点に鑑みて発明された
ものであって、その目的は、ボンディングに際し、加圧
手段よってボンディングツールに付与されるボンディン
グ圧力に対しての反力による悪影響を緩和し、もって、
回路基板のボンディング面に対するボンディングツール
のチップ吸着保持面(ボンディングツールの下端面)の
平行度を一定に保つことができて、従来において困難視
されていた高精度のボンディングを確実に行うことがで
きるようにすることである。
The present invention has been invented in view of the above-mentioned drawbacks, and an object thereof is to apply pressure during bonding.
The adverse effect of the reaction force on the bonding pressure applied to the bonding tool by the means is mitigated ,
The parallelism of the chip suction holding surface (the lower end surface of the bonding tool) of the bonding tool with respect to the bonding surface of the circuit board can be kept constant, and highly accurate bonding, which has been difficult in the past , can be reliably performed. To do so.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明に係る
第1のチップボンディング装置は、Zテーブルを介して
上下動し得るように装着されたヘッドブラケットと、
導体チップを吸着保持して回路基板に加熱圧着するボン
デイングツールを有し、前記ボンデイングツールにボン
デイング圧力を付与せしめるシリンダーを有するチップ
ボンディング装置において、前記ボンデイングツール
を、前記ヘッドブラケットに装着されたツール用縦ガイ
ドに摺動し得るように係合し、かつ、弾性体を介して前
記ヘッドブラケットに懸装し、前記ヘッドブラケットを
貫通して摺動し得るように装着された加圧伝達軸を設
け、該加圧伝達軸の上方に反力受け支柱を設け、前記加
圧伝達軸と前記反力受け支柱の間に、前記Zテーブルよ
り上方に位置されたブラケット用縦ガイドに摺動し得る
ように係合され、かつ、弾性体を介して前記反力受け支
柱に懸装されたシリンダーブラケットを設け、該シリン
ダーブラケットに、前記シリンダーを、前記加圧伝達軸
を介して前記ボンデイングツールにボンデイング圧力を
付与し得るように設けたことを特徴とするものからな
る。
That is, a first chip bonding apparatus according to the present invention is a head bracket mounted so as to be able to move up and down via a Z table, and a circuit board by suction holding a semiconductor chip. In a chip bonding apparatus having a bonding tool for heating and pressure bonding to, and a cylinder for applying a bonding pressure to the bonding tool, the bonding tool can be slid on a tool vertical guide attached to the head bracket. A pressure transmission shaft is provided that is engaged with the head bracket and is suspended from the head bracket through an elastic body so as to be slidable through the head bracket. A reaction force receiving column is provided, and a block positioned above the Z table is provided between the pressure transmission shaft and the reaction force receiving column. A cylinder bracket, which is slidably engaged with the vertical guide for the racket and suspended from the reaction force receiving column via an elastic body, is provided, and the cylinder is transferred to the cylinder bracket by the pressure transmission. The bonding tool is provided so that a bonding pressure can be applied to the bonding tool via a shaft.

【0008】また、本発明に係る第2のチップボンディ
ング装置は、Zテーブルを介して上下動し得るように装
着されたヘッドブラケットと、半導体チップを吸着保持
して回路基板に加熱圧着するボンデイングツールを
し、前記ボンデイングツールにボンデイング圧力を付与
せしめるシリンダーを有するチップボンディング装置に
おいて、前記ヘッドブラケットにXYθテーブルを装着
し、該XYθテーブルの下部を構成しているθテーブル
にツールブラケットを装着し、前記ボンデイングツール
を、前記ツールブラケットに設けられた縦ガイドに摺動
し得るように係合すると共に弾性体を介して前記ツール
ブラケットに懸装し、前記ヘッドブラケット、前記XY
θテーブル及び前記ツールブラケットを貫通して摺動し
得るように装着された加圧伝達軸を設け、該加圧伝達軸
の上方に反力受け支柱を設け、前記加圧伝達軸と前記反
力受け支柱の間に、前記Zテーブルより上方に位置され
たブラケット用縦ガイドに摺動し得るように係合され、
かつ、弾性体を介して前記反力受け支柱に懸装されたシ
リンダーブラケットを設け、該シリンダーブラケット
に、前記シリンダーを、前記加圧伝達軸を介して前記ボ
ンデイングツールにボンデイング圧力を付与し得るよう
に設けたことを特徴とするものからなる。
A second chip bonding apparatus according to the present invention is a head bracket mounted so as to be able to move up and down via a Z table, and a bonding tool for adsorbing and holding a semiconductor chip and performing thermocompression bonding on a circuit board. Have
In a chip bonding apparatus having a cylinder for applying a bonding pressure to the bonding tool, an XYθ table is attached to the head bracket.
Then , the tool bracket is attached to the θ table which constitutes the lower part of the XYθ table , and the bonding tool is slidably engaged with the vertical guide provided on the tool bracket and the elastic body is interposed. Suspended on the tool bracket, the head bracket, the XY
A pressure transmission shaft mounted so as to slide through the θ table and the tool bracket is provided, and a reaction force receiving column is provided above the pressure transmission shaft, and the pressure transmission shaft and the reaction force are provided. Between the receiving columns, slidably engaged with a vertical guide for the bracket located above the Z-table,
Also, a cylinder bracket suspended from the reaction force receiving column via an elastic body is provided, and the cylinder bracket can be provided with the cylinder and the bonding tool can be applied with a bonding pressure via the pressure transmission shaft. It is characterized by being provided in.

【0009】[0009]

【作用】図1において、半導体チップ1を載置したチッ
プスライダー2がボンデイングツール3の下方に移動さ
れて来ると、弾性体(コイルバネ)15を介してヘッド
ブラケット5に懸装されているボンデイングツール3
が、Zテーブル6の駆動によりヘッドブラケット5と一
緒に下方へ移動されてスライダー2上の半導体チップ1
に軽く当接せしめられて吸着保持し、次いで、Zテーブ
ル6の駆動により元の上方の原点位置にリターンされ
る。
In FIG. 1, when the chip slider 2 on which the semiconductor chip 1 is mounted is moved below the bonding tool 3, the bonding tool is suspended from the head bracket 5 via an elastic body (coil spring) 15. Three
Is moved downward together with the head bracket 5 by the drive of the Z table 6, and the semiconductor chip 1 on the slider 2 is moved.
Then, the Z table 6 is driven to return to the original upper original position.

【0010】一方、空荷のチップスライダー2は、スラ
イダー移送装置7により、このチップ渡し位置Bからチ
ップ供給位置Dへ移動される。すると、Zテーブル6の
駆動によりヘッドブラケット5が再び下方へ移動されて
ボンデイングツール3が、図示されていない下方のボデ
ィングステージ上の回路基板に接近せしめられ、次い
で、エアーシリンダー8のピストンロッド9が突出され
て加圧伝達軸10が下方へ押し付けられる。その為、加
圧伝達軸10によりボンデイングツール3が下方へ押さ
れて所定のボンデイング圧力が付与され、従って、回路
基板に半導体チップ1を加熱圧着、すなわち、ボンデイ
ングすることができる。
On the other hand, the empty chip slider 2 is moved from the chip transfer position B to the chip supply position D by the slider transfer device 7. Then, by driving the Z table 6, the head bracket 5 is moved downward again, the bonding tool 3 is brought close to the circuit board on the lower boding stage (not shown), and then the piston rod 9 of the air cylinder 8 is moved. Is projected and the pressure transmission shaft 10 is pressed downward. Therefore, the bonding tool 3 is pushed downward by the pressure transmission shaft 10 and a predetermined bonding pressure is applied, so that the semiconductor chip 1 can be thermocompression bonded to the circuit board, that is, bonded.

【0011】その際、ボンディング圧力の反力が、ボン
デイングツール3、加圧伝達軸10及びエアーシリンダ
ー8のピストンロッド9を経てシリンダーブラケット1
1に伝わるので、このブラケット11が摺動し、これに
より、シリンダーブラケット11とブラケット用縦ガイ
ド12との係合箇所、及びZテーブル6とヘッドブラケ
ット5との連携箇所に、過大なモーメントが作用するの
が防止され、もって、回路基板のボンディング面に対す
るボンディングツール3のチップ吸着保持面(下端面)
の平行度を一定に保つことがことができて、高精度にボ
ンディングすることができる。
At this time, the reaction force of the bonding pressure passes through the bonding tool 3, the pressure transmission shaft 10 and the piston rod 9 of the air cylinder 8 and the cylinder bracket 1
1, the bracket 11 slides, so that an excessive moment acts on the engagement portion between the cylinder bracket 11 and the vertical bracket guide 12 and the cooperation portion between the Z table 6 and the head bracket 5. Is prevented, and thus the chip suction holding surface (lower end surface) of the bonding tool 3 with respect to the bonding surface of the circuit board.
The parallelism can be kept constant and bonding can be performed with high precision.

【0012】なお、ボンディングを終えると、エアーシ
リンダー8のピストンロッド9が没され上方の原点位置
に移動され、また、Zテーブル6の駆動によりヘッドブ
ラケット5が上方へ移動されてボンデイングツール3も
上方の原点位置へリターンされる。
When the bonding is completed, the piston rod 9 of the air cylinder 8 is retracted and moved to the upper origin position, and the Z table 6 is driven to move the head bracket 5 upward so that the bonding tool 3 is also moved upward. Returned to the origin position of.

【0013】図1において、昇降制御手段であるZテー
ブル6及びブラケット用縦ガイド12は、図示されてい
ない装置フレームに固定されていると共に反力受け手段
である反力受け支柱13図示されていない下端が、前
装置フレームが固定されている基台(図示されていな
い)に固定、すなわち、反力受け支柱13は、Zテーブ
ル6及びブラケット用縦ガイド12が固定されている前
記装置フレームと分離独立して装着されている。また、
スライダー移送装置7も、図示されていないブラケット
を介して前記装置フレームに固定されている。なお、Z
テーブル6は、サーボモータ14によりネジ軸を回転さ
せてピッチ送りするネジ軸送り機構(図示されていな
い)を備えているが、この機構にヘッドブラケット5が
連繋されている。従って、かかる機構を介してヘッドブ
ラケット5が移動されると、これに装着されているボン
ディングツール3及び加圧伝達軸10が一緒に移動され
る。
In FIG. 1, the Z table 6 and the vertical bracket guide 12 which are the lifting control means are fixed to an apparatus frame (not shown) and the reaction force receiving means.
In a lower end (not shown) of the reaction force receiving post 13, front
Base whose serial device frame is fixed (Do has been shown
Fixed to have), i.e., the reaction force receiving post 13, Z table
Before the guide 6 and the vertical guide 12 for the bracket are fixed
It is installed separately from the device frame. Also,
Slider transfer device 7 is also fixed to the apparatus frame via a bracket, not shown. In addition, Z
The table 6 is provided with a screw shaft feed mechanism (not shown) that rotates the screw shaft by the servo motor 14 to feed the pitch, and the head bracket 5 is linked to this mechanism. Therefore, when the head bracket 5 is moved through such a mechanism, the bonding tool 3 and the pressure transmission shaft 10 mounted on the head bracket 5 are moved together.

【0014】更に、ボンデイングツール3は、半導体チ
ップ1を吸着保持し得ると共にヒータを内蔵し、図示さ
れていないパルスヒータ制御装置により迅速に所定温度
に加熱し得るように構成され、一対の弾性体(コイルバ
ル)15を介してヘッドブラケット5に懸装、すなわ
ち、ヘッドブラケット5に装着のピン16と、ボンデイ
ングツール3に装着のピン17とに、弾性体(コイルバ
ル)15が係止されている。なお、左側のA側にも同様
に弾性体(コイルバル)15が係止されている。その
為、ボンデイングツール3は、図2において示されてい
るように、ヘッドブラケット5に装着されている一対の
ツール用縦ガイド18で案内されて上下方向に摺動する
ことができる。
Further, the bonding tool 3 can adsorb and hold the semiconductor chip 1 and has a built-in heater so that it can be quickly heated to a predetermined temperature by a pulse heater control device (not shown). An elastic body (coil bar) 15 is suspended by a pin 16 mounted on the head bracket 5 via the (coil bar) 15, that is, a pin 16 mounted on the head bracket 5 and a pin 17 mounted on the bonding tool 3. An elastic body (coil bar) 15 is also locked on the A side on the left side. Therefore, as shown in FIG. 2, the bonding tool 3 can be slid vertically by being guided by a pair of tool vertical guides 18 mounted on the head bracket 5.

【0015】一方、加圧伝達軸10は、ヘッドブラケッ
ト3に固定されている軸受19により支持されている
が、その下端がボンデイングツール3の上端に当接され
て抜け止めされ、かつ、上端がヘッドブラケット3の上
面上に一定長突出されるようにヘッドブラケット3を貫
通して上下方向に摺動し得るように装着されている。
On the other hand, the pressure transmission shaft 10 is supported by a bearing 19 fixed to the head bracket 3. The lower end of the pressure transmission shaft 10 is abutted against the upper end of the bonding tool 3 to prevent it from coming off, and the upper end thereof. The head bracket 3 is mounted so that it can be vertically slid through the head bracket 3 so as to project above the upper surface of the head bracket 3 for a certain length.

【0016】従って、加圧伝達軸10を下方へ押し付け
ることにより、ボンデイングツール3を、左右のツール
用縦ガイド18で案内して下方へ移動させることができ
ると共に、かかる押し付けを解除することにより、上方
の元の原点位置にリターンさせることができる。
Therefore, by pressing the pressure transmission shaft 10 downward, the bonding tool 3 can be guided downward by the left and right tool vertical guides 18 and the pressing can be released. It can be returned to the original origin position above.

【0017】次に、シリンダーブラケット11は、ブラ
ケット用縦ガイド12に摺動し得るように係合されてい
ると共に弾性体(コイルバル)20を介して反力受け支
柱13に懸装、すなわち、シリンダーブラケット11に
装着のピン21と、反力受け支柱13に装着のピン22
とに、弾性体(コイルバル)20が係止されている。
Next, the cylinder bracket 11 is slidably engaged with the vertical bracket guide 12 and is suspended from the reaction force receiving column 13 via the elastic body (coil bar) 20, that is, the cylinder. Pin 21 mounted on bracket 11 and pin 22 mounted on reaction force receiving column 13
An elastic body (coil bar) 20 is locked at the position.

【0018】なお、シリンダーブラケット11の上面側
には圧力検出手段であるロードセル23が装着され、更
に、その下面側に、ピストンロッド9を下方に突出し得
るようにエアーシリンダー8が装着されているが、ロー
ドセル23の上端は、反力受け支柱13に対して所定間
隔に離別されていると共に、ピストンロッド9と加圧伝
達軸10とボンディングツール3とロードセル23は、
上下方向に同心的に位置され、このように、それらは、
加圧手段であるエアーシリンダー8のピストンロッド9
の軸心上に位置(加圧軸心上に位置)されている。な
、ピストンロッド9と加圧伝達軸10とは、通常にお
いては、図2において示されているように、互いに一定
間隔に離別されている而して、チップスライダー2が
移送して来る半導体チップ1をボンディングツール3で
吸着保持し、次いで、ボンディングツール3を下方へ移
動させて図示されていない下方のボンディングステージ
上の回路基板に接近せしめた後、エアーシリンダー8の
ピストンロッド9を突出させて加圧伝達軸10を下方へ
押し付け、これによりボンディングツール3が下方へ押
されて所定のボンディング圧力が付与され、従って、回
路基板に半導体チップを加熱圧着、すなわち、ボンディ
ングすることができる。
A load cell 23 as a pressure detecting means is mounted on the upper surface side of the cylinder bracket 11, and an air cylinder 8 is mounted on the lower surface side thereof so that the piston rod 9 can be projected downward. The upper end of the load cell 23 is separated from the reaction force receiving column 13 at a predetermined interval, and the piston rod 9, the pressure transmission shaft 10, the bonding tool 3, and the load cell 23 are
They are located concentrically in the vertical direction, thus they
Piston rod 9 of air cylinder 8 which is a pressurizing means
It is located on the axis (of the pressurizing axis). Na
The piston rod 9 and the pressure transmission shaft 10 are usually separated from each other at regular intervals as shown in FIG . Then, the semiconductor chip 1 transferred by the chip slider 2 is suction-held by the bonding tool 3, and then the bonding tool 3 is moved downward to approach the circuit board on the lower bonding stage (not shown). After that, the piston rod 9 of the air cylinder 8 is projected and the pressure transmission shaft 10 is pressed downward, whereby the bonding tool 3 is pressed downward and a predetermined bonding pressure is applied, so that the semiconductor chip is attached to the circuit board. Can be thermocompression bonded, that is, bonded.

【0019】その際、ボンデイングツール3は、その一
端が、このツール3の下端側部に設けられている吸気通
路(図示されていない)に接続されている耐圧ホースを
経て吸気することにより、前記吸気通路と連通されるよ
うに、ツール下端面(チップ吸着保持面)に開口されて
いる吸気孔から吸気して半導体チップ1を吸着保持す
る。なお、かかる耐圧ホースの他端は、図示されていな
い真空ポンプに接続されている。また、半導体チップ1
を載置したチップスライダー2がボンデイングツール3
の下方に移動されて来ると、Zテーブル6の駆動により
ヘッドブラケット5と一緒にボンデイングツール3が下
方へ移動され、ツール下端面がスライダー2上の半導体
チップ1に軽く当接される。すると、前記真空ポンプが
駆動され、これにより半導体チップ1を吸着保持するこ
とができる。
At this time, the bonding tool 3 is sucked at one end thereof through a pressure-resistant hose connected to an intake passage (not shown) provided at the lower end side of the tool 3 to obtain the above-mentioned product. The semiconductor chip 1 is sucked and held by sucking air from an intake hole formed in the lower end surface (chip suction holding surface) of the tool so as to communicate with the suction passage. The other end of the pressure resistant hose is connected to a vacuum pump (not shown). In addition, the semiconductor chip 1
The chip slider 2 on which is mounted is the bonding tool 3
When the Z table 6 is driven, the bonding tool 3 is moved downward together with the head bracket 5 and the lower end surface of the tool is lightly contacted with the semiconductor chip 1 on the slider 2. Then, the vacuum pump is driven, whereby the semiconductor chip 1 can be held by suction.

【0020】続いて、半導体チップ1を吸着保持し得た
ボンデイングツール3は、Zテーブル6の駆動によりヘ
ッドブラケット5と一緒に上方の元の位置、すなわち、
原点位置へ移動される。また、空荷のチップスライダー
2は、スライダー移送装置7により、このチップ渡し位
置Bから図示されていないチップ供給位置Dへ移動され
る。なお、この移送装置7は、サーボモータ23により
ネジ軸を回転させてピッチ送りするネジ軸送り機構(図
示されていな)を備えているが、この機構にチップスラ
イダー2が連携されている。その為、チップスライダー
2は水平に保たれて往復動することができる。
Subsequently, the bonding tool 3 capable of sucking and holding the semiconductor chip 1 is driven upward by the Z table 6 together with the head bracket 5 to the original upper position, that is,
Moved to the origin position. Further, the empty chip slider 2 is moved from the chip passing position B to the chip supply position D (not shown) by the slider transfer device 7. The transfer device 7 includes a screw shaft feed mechanism (not shown) that rotates the screw shaft by the servo motor 23 to feed the pitch, and the chip slider 2 is associated with this mechanism. Therefore, the tip slider 2 can be reciprocated while being kept horizontal.

【0021】すなわち、チップスライダー2は、チップ
供給位置Dで半導体チップ1を受取り、ここからボンデ
イングツール3に接近された待機位置Cに移動する。な
お、この待機位置Cへの移動は、ボンデイングツール3
が下方へ移動されてボンディングしている間に行われ、
かつ、ボンデイングツール3がボンディングを終えて上
方の原点位置へ移動されると、待機位置Cからチップ渡
し位置Bに移動される。その為、ボンデイングツール3
に対する半導体チップ1の供給を一段と迅速に行うこと
ができる。
That is, the chip slider 2 receives the semiconductor chip 1 at the chip supply position D and moves from there to the standby position C which is close to the bonding tool 3. In addition, the movement to the standby position C is performed by the bonding tool 3
Is moved down while bonding and
Moreover, when the bonding tool 3 is moved to the upper origin position after the bonding is completed, it is moved from the standby position C to the chip passing position B. Therefore, Bonding Tool 3
The semiconductor chip 1 can be supplied to the substrate more rapidly.

【0022】一方、半導体チップ1を吸着保持して上方
の原点位置へ移動されたボンデイングツール3は、次い
で、Zテーブル6の駆動により、図示されていない下方
のボディングステージ上の回路基板に接近せしめられ、
そして、エアーシリンダー8によりボンディング圧力が
付与される。なお、ボンデイングツール3が上方の原点
位置へ移動されている状態においては、加圧伝達軸10
の上端とエアーシリンダー8のピストンロッド9の下端
とは一定間隔に離別されているが、エアーシリンダー8
のピストンロッド9の突出により両者が当接され、加圧
伝達軸10の下方への移動により、ボンデイングツール
3に所定のボンディング圧力が付与される。
On the other hand, the bonding tool 3 which has suction-held the semiconductor chip 1 and has been moved to the upper origin position, then drives the Z table 6 to approach the circuit board on the lower boding stage (not shown). Confused,
Then, the bonding pressure is applied by the air cylinder 8. When the bonding tool 3 is moved to the upper origin position, the pressure transmission shaft 10
The upper end of the air cylinder 8 and the lower end of the piston rod 9 of the air cylinder 8 are separated at regular intervals.
The piston rod 9 is brought into contact with each other by the protrusion of the piston rod 9, and the pressure transmitting shaft 10 is moved downward to apply a predetermined bonding pressure to the bonding tool 3.

【0023】また、このようにしてボンデイングツール
3に所定のボンディング圧力が付与されると、その反力
が、ボンデイングツール3、加圧伝達軸10及びエアー
シリンダー8のピストンロッド9を経てシリンダーブラ
ケット11に作用する。すると、このブラケット11が
ブラケット用縦ガイド12で案内されて上方へ摺動さ
れ、シリンダーブラケット11の上面側のロードセル2
3が、反力受け支柱23に当接される。
When a predetermined bonding pressure is applied to the bonding tool 3 in this way, the reaction force thereof passes through the bonding tool 3, the pressure transmission shaft 10 and the piston rod 9 of the air cylinder 8 and the cylinder bracket 11 Act on. Then, the bracket 11 is guided by the vertical bracket guide 12 and slid upward, and the load cell 2 on the upper surface side of the cylinder bracket 11 is guided.
3 is brought into contact with the reaction force receiving column 23.

【0024】その為、シリンダーブラケット11とブラ
ケット用縦ガイド12との係合箇所、及びZテーブル6
とヘッドブラケット5との連携箇所に過大なモーメント
が作用するのを防止することができ、もって、回路基板
のボンディング面に対するボンディングツール3のチッ
プ吸着保持面(ボンディングツールの下端面)の平行度
を一定に保つことがことができて、従来のボンディング
ヘッドにおいては困難視されていた高精度のボンディン
グを確実に行うことができる。すなわち、10μ以下、
特に、5μ以下の精度に加熱圧着することができる。
Therefore, the engaging portion of the cylinder bracket 11 and the vertical guide 12 for the bracket, and the Z table 6
It is possible to prevent an excessive moment from acting on the cooperation portion between the head bracket 5 and the head bracket 5, and thus the parallelism of the chip suction holding surface (the lower end surface of the bonding tool) of the bonding tool 3 with respect to the bonding surface of the circuit board. It can be kept constant, and high-accuracy bonding, which is difficult in the conventional bonding head, can be reliably performed. That is, 10 μ or less,
In particular, thermocompression bonding can be performed with an accuracy of 5 μ or less.

【0025】その際、シリンダーブラケット11が過度
に上方へ移動しようとすると、ロードセル23が反力を
検出してボンディング圧力を一定に保つことができる。
なお、このセル23により、加圧力の表示や加圧力の制
御をすることができるので、ボンディング条件を安定化
させることができる共に、一段加圧だけでなく多段階の
加圧(ステップ加圧)もすることができるので、安定し
たボンディング条件を選択することができ、かつ、エア
ーシリンダー8も上下動されるので、ロードセル23で
加圧力を測定することもできる。
At this time, if the cylinder bracket 11 tries to move excessively upward, the load cell 23 can detect the reaction force and keep the bonding pressure constant.
Since the cell 23 can display the pressure and control the pressure, the bonding condition can be stabilized, and not only the one-step press but also the multi-step press (step press). Since it is also possible to select stable bonding conditions, and since the air cylinder 8 is also moved up and down, it is possible to measure the pressing force with the load cell 23.

【0026】以下、ボンディングを終えると、エアーシ
リンダー8のピストンロッド9が没されて上方の原点位
置へ移動され、かつ、前記真空ポンプによる吸気が停止
されると共にZテーブル6の駆動により、ボンデイング
ツール3が上方の原点位置へ移動される。このようにし
て、次々とボンデイングすることができる。なお、加圧
伝達軸10が短い場合においては、この軸10をピスト
ンロッド9に連結しても同様の作用効果を得ることがで
きる。
After the bonding is completed, the piston rod 9 of the air cylinder 8 is retracted and moved to the upper origin position, and the suction by the vacuum pump is stopped and the Z table 6 is driven to bond the tool. 3 is moved to the upper origin position. In this way, you can bond one after another. When the pressure transmission shaft 10 is short, the same effect can be obtained by connecting the shaft 10 to the piston rod 9.

【0027】以上、ヘッドブラケット5に直接、ボンデ
イングツール3を装着した例について述べたが、このよ
うなボンディングヘッドは、ボンディングに先立って、
下方の図示されていないボンディングステージ上の回路
基板とボンディングツール3が吸着保持している半導体
チップ1との精密位置合わせを、ボンディングステージ
を微動させて行う、一般に小型の回路基板ボンディング
する場合において好適である。
The example in which the bonding tool 3 is directly attached to the head bracket 5 has been described above. However, such a bonding head can be used before bonding.
Suitable for generally small circuit board bonding, in which the circuit board on the lower bonding stage (not shown) and the semiconductor chip 1 held by the bonding tool 3 are precisely aligned by finely moving the bonding stage. Is.

【0028】次に、ヘッドブラケット5に間接的にボン
デイングツールを装着した例について述べると、図3に
おいてヘッドブラケット5に、XYθテーブル30の上
部を構成しているXYテーブル30aが固定されている
と共にXYθテーブル30の下部を構成しているθテー
ブル30bに、ツールブラケット31が固定され、更
に、このツールブラケット31にボンデイングツール3
2が装着されている。
Next, an example in which a bonding tool is indirectly attached to the head bracket 5 will be described. In FIG. 3, the XY table 30a constituting the upper portion of the XYθ table 30 is fixed to the head bracket 5. A tool bracket 31 is fixed to a θ table 30b that constitutes a lower part of the XYθ table 30, and the bonding tool 3 is attached to the tool bracket 31.
2 is installed.

【0029】すなわち、ボンデイングツール32は、図
1において示されている上述のボンデイングツール3と
同様に、半導体チップ1を吸着保持し得ると共にヒータ
を内蔵し、図示されていないパルスヒータ制御装置によ
り迅速に所定温度に加熱し得るように構成され、一対の
弾性体(コイルバネ)15を介してツールブラケット3
1に懸装、すなわち、ツールブラケット31に装着のピ
ン16と、ボンディングツール32に装着のピン17と
に、弾性体(コイルバネ)15が係止(図示されていな
反対側の方にも同様に係止)されている。
That is, the bonding tool 32 can adsorb and hold the semiconductor chip 1 and has a built-in heater, like the above-described bonding tool 3 shown in FIG. 1, and can be quickly operated by a pulse heater control device (not shown). The tool bracket 3 is configured to be heated to a predetermined temperature via a pair of elastic bodies (coil springs) 15.
1. An elastic body (coil spring) 15 is locked to the pin 16 attached to the tool bracket 31, that is, the pin 16 attached to the tool bracket 31 and the pin 17 attached to the bonding tool 32 (similarly to the opposite side not shown). Locked).

【0030】なお、ボンデイングツール32はガイド部
32aを形成しているが、このガイド部32aが、ツー
ルブラケット31に形成されている穴型の縦ガイド31
aに摺動し得るように嵌挿されている。その為、Zテー
ブル6の駆動によりヘッドブラケット5が下方へ移動さ
れると、このブラケット5と一体的に下方へ移動される
ツールブラケット31に追従してボンデイングツール3
2も同方向へ移動し、これと反対に、ヘッドブラケット
5が上方へ移動されると、ボンデイングツール32も同
方向へ移動へ移動する。
Although the bonding tool 32 forms a guide portion 32a, this guide portion 32a is a hole-shaped vertical guide 31 formed on the tool bracket 31.
It is slidably inserted in a. Therefore, when the head bracket 5 is moved downward by driving the Z table 6, the bonding tool 3 follows the tool bracket 31 that is moved downward integrally with the bracket 5.
2 also moves in the same direction, and conversely, when the head bracket 5 moves upward, the bonding tool 32 also moves in the same direction.

【0031】また、加圧伝達軸10は、下端がボンデイ
ングツール32に当接されて抜け止めされ、かつ、上端
がヘッドブラケット5の上面上に突出されるようにヘッ
ドブラケット5とXYθテーブル30とツールブラケッ
ト31とを貫通して摺動し得るように装着されている。
Further, the pressure transmission shaft 10 has a head bracket 5 and an XYθ table 30 so that the lower end thereof is brought into contact with the bonding tool 32 to prevent the pressure transmission shaft 10 from coming off, and the upper end thereof is projected onto the upper surface of the head bracket 5. It is mounted so as to be able to slide through the tool bracket 31.

【0032】而して、このボンディングヘッドによって
も、図1において示されている上述のボンディングヘッ
ドと同様に、チップスライダー2が移送して来る半導体
チップ1をボンデイングツール3で吸着保持し、次い
で、このツール3を下方へ移動させて図示されていない
下方のボディングステージ上の回路基板に接近せしめた
後、エアーシリンダー8のピストンロッド9を突出させ
て加圧伝達軸10を下方へ押し付け、これによりボンデ
イングツール3が下方へ押されて所定のボンデイング圧
力が付与され、従って、回路基板に半導体チップ1を加
熱圧着、すなわち、ボンデイングすることができる。
With this bonding head, as in the above-described bonding head shown in FIG. 1, the semiconductor chip 1 transferred by the chip slider 2 is adsorbed and held by the bonding tool 3 and then, After moving the tool 3 downward to bring it closer to a circuit board on a lower boding stage (not shown), the piston rod 9 of the air cylinder 8 is projected to press the pressure transmission shaft 10 downward. As a result, the bonding tool 3 is pushed downward and a predetermined bonding pressure is applied, so that the semiconductor chip 1 can be thermocompression bonded, that is, bonded to the circuit board.

【0033】その際、シリンダーブラケット11とブラ
ケット用縦ガイド12との係合箇所、及びZテーブル6
とヘッドブラケット5との連携箇所に、過大なモーメン
トが作用するのを防止することができ、もって、回路基
板のボンディング面に対するボンディングツール32の
チップ吸着保持面(ボンディングツールの下端面)の平
行度を一定に保つことがことができて、従来のボンディ
ングヘッドにおいては困難視されていた高精度のボンデ
ィングを確実に行うことができる。
At that time, the engaging portion between the cylinder bracket 11 and the vertical bracket guide 12 and the Z table 6
It is possible to prevent an excessive moment from acting on the joint portion between the head bracket 5 and the head bracket 5, and thus the parallelism of the chip suction holding surface (the lower end surface of the bonding tool) of the bonding tool 32 to the bonding surface of the circuit board. Can be kept constant, and high-accuracy bonding, which was difficult in the conventional bonding head, can be reliably performed.

【0034】なお、XYθテーブル30を装着している
ので、ボンディングに先立って、下方の図示されていな
いボンディングステージ上の回路基板とボンディングツ
ール32が吸着保持している半導体チップ1との精密位
置合わせを、ボンディングツール32の方を微動させて
行うことができ、従って、大型の重い回路基板にボンデ
ィングする場合において好適である。
Since the XYθ table 30 is attached, the circuit board on the lower bonding stage (not shown) and the semiconductor chip 1 held by the bonding tool 32 by suction are precisely aligned prior to bonding. Can be performed by finely moving the bonding tool 32, which is suitable for bonding to a large and heavy circuit board.

【0035】以上、本発明に係る実施例について述べた
が、本発明においては、ボンディングしようとする回路
基板は、液晶基板のような透明基板に限定されず他の不
透明の回路基板であってもよい。また、ツールブラケッ
トの縦ガイドは、穴型以外の例えば、凹型、凸型等であ
ってもよく、かつ、これに係合されるボンデイングツー
ルのガイド部は、かかる縦ガイドの型式に対応して所定
型式のものが適宜に選択(例えば、縦ガイドが凸型の場
合においては凹型のものが選択)される。更に、ロード
セルは、これを装着する方が好ましいが省くこともで
き、装着する場合においては、ボンディング圧力の付与
時に反力受け支柱に当接されるように装着する態様以外
に、ボンディング圧力が付与されていない時も軽く当接
されているように、必要に応じて適宜の態様に装着する
ことができる。
Although the embodiments according to the present invention have been described above, in the present invention, the circuit board to be bonded is not limited to a transparent substrate such as a liquid crystal substrate, and may be another opaque circuit board. Good. The vertical guide of the tool bracket may be, for example, a concave type or a convex type other than the hole type, and the guide portion of the bonding tool engaged with this may correspond to the type of the vertical guide. A predetermined type is appropriately selected (for example, when the vertical guide is a convex type, a concave type is selected). Further, although it is preferable to mount the load cell, it is possible to omit the load cell. It can be mounted in an appropriate mode as needed so that it is lightly abutted even when it is not.

【0036】[0036]

【発明の効果】上述の如く、本発明によると、ボンディ
ングに際し、シリンダーによってボンディングツールに
付与されるボンディング圧力に対しての反力による悪影
響を緩和し、もって、回路基板のボンディング面に対す
るボンディングツールのチップ吸着保持面(ボンディン
グツールの下端面)の平行度を一定に保つことができ
て、従来において困難視されていた高精度のボンディン
グを確実に行うことができる。
[Effect of the Invention] As described above, according to the present invention, upon bonding, to mitigate its adverse effects due to the reaction force against the bonding pressure applied to depending on the bonding tool cylinder, it has been, bonding tool for bonding surface of the circuit board The parallelism of the chip suction holding surface (lower end surface of the bonding tool) can be kept constant, and high-accuracy bonding, which has been difficult in the past, can be reliably performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】ボンディングヘッドの斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a bonding head.

【図2】図1のヘッドブラケット部分の縦断面図であ
る。
FIG. 2 is a vertical sectional view of a head bracket portion of FIG.

【図3】他のボンディングヘッドの斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of another bonding head.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体チップ 2 チップスライダー 3 ボンディングツール 5 ヘッドブラケット 6 Zテーブル 7 スライダー移送装置 8 エアーシリンダー 9 ピストンロッド 10 加圧伝達軸 11 シリダー用ブラケット 12 ブラケット用縦ガイド 13 反力受け支柱 15 弾性体(コイルバル) 16 ピン 17 ピン 18 ツール用縦ガイド 20 弾性体(コイルバネ) 21 ピン 22 ピン 23 ロードセル 30 XYθテーブル 31 ツールブラケット 31a 縦ガイト 32 ボンディングツール 32a ガイド部 1 semiconductor chip 2 chip slider 3 Bonding tool 5 head bracket 6 Z table 7 Slider transfer device 8 air cylinders 9 Piston rod 10 Pressure transmission shaft 11 Cylinder bracket 12 Vertical guide for bracket 13 Reaction force receiving column 15 Elastic body (coil bar) 16 pin 17 pin Vertical guide for 18 tools 20 Elastic body (coil spring) 21 pin 22 pin 23 load cell 30 XYθ table 31 tool bracket 31a Vertical guide 32 Bonding tool 32a guide part

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 坂口 覚 滋賀県大津市大江一丁目1番45号東レエ ンジニアリング株式会社内 (72)発明者 橋本 八洲夫 滋賀県大津市大江一丁目1番45号東レエ ンジニアリング株式会社内   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Satoru Sakaguchi               Toray, 1-41 Oe, Otsu City, Shiga Prefecture               Engineering Co., Ltd. (72) Inventor Yasuo Hashimoto               Toray, 1-41 Oe, Otsu City, Shiga Prefecture               Engineering Co., Ltd.

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 Zテーブルを介して上下動し得るように
装着されたヘッドブラケットと、半導体チップを吸着保
持して回路基板に加熱圧着するボンデイングツールを
し、前記ボンデイングツールにボンデイング圧力を付与
せしめるシリンダーを有するチップボンディング装置に
おいて、 前記ボンデイングツールを、前記ヘッドブラケットに装
着されたツール用縦ガイドに摺動し得るように係合し、
かつ、弾性体を介して前記ヘッドブラケットに懸装し、 前記ヘッドブラケットを貫通して摺動し得るように装着
された加圧伝達軸を設け、 該加圧伝達軸の上方に反力受け支柱を設け、 前記加圧伝達軸と前記反力受け支柱の間に、前記Zテー
ブルより上方に位置されたブラケット用縦ガイドに摺動
し得るように係合され、かつ、弾性体を介して前記反力
受け支柱に懸装されたシリンダーブラケットを設け、 該シリンダーブラケットに、前記シリンダーを、前記加
圧伝達軸を介して前記ボンデイングツールにボンデイン
グ圧力を付与し得るように設けたことを特徴とするチッ
プボンディング装置。
And 1. A head bracket mounted so as to move up and down through the Z table, a bonding tool for thermocompression bonding a semiconductor chip to a circuit board held suction Yes
Then, in a chip bonding apparatus having a cylinder for applying a bonding pressure to the bonding tool, the bonding tool is slidably engaged with a tool vertical guide attached to the head bracket,
Also, it is suspended from the head bracket through an elastic body and attached so that it can slide through the head bracket.
For a bracket positioned above the Z table between the pressure transmission shaft and the reaction force receiving support column, and a reaction force receiving support column is provided above the pressure transmission shaft. A cylinder bracket slidably engaged with the vertical guide and suspended from the reaction force receiving column through an elastic body is provided, and the cylinder and the pressure transmitting shaft are provided on the cylinder bracket. A chip bonding apparatus provided so that a bonding pressure can be applied to the bonding tool via the bonding tool.
【請求項2】 Zテーブルを介して上下動し得るように
装着されたヘッドブラケットと、半導体チップを吸着保
持して回路基板に加熱圧着するボンデイングツールを
し、前記ボンデイングツールにボンデイング圧力を付与
せしめるシリンダーを有するチップボンディング装置に
おいて、 前記ヘッドブラケットにXYθテーブルを装着し、 XYθテーブルの下部を構成しているθテーブルにツ
ールブラケットを装着し、 前記ボンデイングツールを、前記ツールブラケットに設
けられた縦ガイドに摺動し得るように係合すると共に弾
性体を介して前記ツールブラケットに懸装し、 前記ヘッドブラケット、前記XYθテーブル及び前記ツ
ールブラケットを貫通して摺動し得るように装着された
加圧伝達軸を設け、 該加圧伝達軸の上方に反力受け支柱を設け、 前記加圧伝達軸と前記反力受け支柱の間に、前記Zテー
ブルより上方に位置されたブラケット用縦ガイドに摺動
し得るように係合され、かつ、弾性体を介して前記反力
受け支柱に懸装されたシリンダーブラケットを設け、 該シリンダーブラケットに、前記シリンダーを、前記加
圧伝達軸を介して前記ボンデイングツールにボンデイン
グ圧力を付与し得るように設けたことを特徴とするチッ
プボンディング装置。
2. A head bracket mounted so as to move up and down through the Z table, a bonding tool for thermocompression bonding a semiconductor chip to a circuit board held suction Yes
In a chip bonding apparatus having a cylinder that applies a bonding pressure to the bonding tool, an XYθ table is attached to the head bracket, and a tool bracket is attached to a θ table that constitutes a lower portion of the XYθ table. The tool is slidably engaged with a vertical guide provided on the tool bracket and is suspended on the tool bracket through an elastic body, and penetrates the head bracket, the XYθ table and the tool bracket. the loaded <br/> pressurized pressure transmission shaft so as to slide is provided, the reaction force receiving posts provided above the pressurized pressure transmission shaft, between the pressurizing pressure transmission shaft and the reaction force receiving posts Te An elastic body slidably engaged with a vertical bracket guide positioned above the Z-table A cylinder bracket suspended from the reaction force receiving column is provided, and the cylinder bracket is provided with the cylinder so as to apply a bonding pressure to the bonding tool via the pressure transmission shaft. Characteristic chip bonding equipment.
【請求項3】 前記シリンダーブラケットに、前記反力
受け支柱に対向させて、前記シリンダーブラケットが上
方へ移動しようとするときに反力を検出するロードセル
が設けられている、請求項1または2に記載のチップボ
ンディング装置。
3. The cylinder bracket is provided with a load cell that faces the reaction force receiving column and that detects a reaction force when the cylinder bracket attempts to move upward. The described chip bonding apparatus.
JP11393195A 1995-04-14 1995-04-14 Chip bonding equipment Expired - Fee Related JP3522001B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11393195A JP3522001B2 (en) 1995-04-14 1995-04-14 Chip bonding equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11393195A JP3522001B2 (en) 1995-04-14 1995-04-14 Chip bonding equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08288338A JPH08288338A (en) 1996-11-01
JP3522001B2 true JP3522001B2 (en) 2004-04-26

Family

ID=14624786

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11393195A Expired - Fee Related JP3522001B2 (en) 1995-04-14 1995-04-14 Chip bonding equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3522001B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100406294B1 (en) * 2002-01-24 2003-11-19 주식회사선양테크 chip bonder head

Also Published As

Publication number Publication date
JPH08288338A (en) 1996-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110657146A (en) Optical lens coupling machine
KR101079687B1 (en) Compression device
KR100476126B1 (en) Manufacturing method of liquid crystal panel crimping device and liquid crystal device
KR100709614B1 (en) Chip bonding device
JP3522001B2 (en) Chip bonding equipment
JP4367740B2 (en) Electronic component crimping equipment
JP3743424B2 (en) Electronic component crimping apparatus and electronic component crimping method
JP3344639B2 (en) Chip bonding equipment
JP4463218B2 (en) Electronic component pressure connection device and pressure connection method
JP3853402B2 (en) Chip bonding equipment
JPH09148790A (en) Electronic device mounter
JP2765190B2 (en) Flip chip bonding equipment
JP3034772B2 (en) Bonding apparatus and substrate pressing / fixing mechanism mounted thereon
JP3775960B2 (en) Electronic component crimping apparatus and crimping method
JP3707453B2 (en) Liquid crystal device manufacturing apparatus and liquid crystal device manufacturing method
JP2684465B2 (en) Substrate transfer positioning device
KR102325662B1 (en) Laser bonder device pressing system of flexible display device heat process system
JP4128321B2 (en) Bump bonding equipment
JPH075633Y2 (en) Substrate positioning device for wire bonder
JPH0715182A (en) Device and method for treating semiconductor
JPH05104349A (en) Method for controlling impact on component attaching device
JP3467552B2 (en) Positioning device for 4-sided flat work
JPH01181541A (en) Wireless bonding equipment
JP4381846B2 (en) Component mounting equipment
JPH0677643A (en) Thermocompression system

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040113

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040203

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080220

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090220

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees