JP3516743B2 - ゲージブロック比較測定用治具 - Google Patents
ゲージブロック比較測定用治具Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、標準ゲージブロックを
基準に被測定ゲージブロックを比較測定するゲージブロ
ック比較測長機に用いられるゲージブロック比較測定用
治具に関する。
基準に被測定ゲージブロックを比較測定するゲージブロ
ック比較測長機に用いられるゲージブロック比較測定用
治具に関する。
【０００２】
【背景技術】ゲージブロックの寸法検査は、ＩＳＯ Ｂ
７５０６、１０に規定されているように、１級および２
級のゲージブロックについては００級、０級のゲージブ
ロックを基準に比較測定することにより行われている。
また、比較測定の場合、通常、図７に示すように、標準
ゲージブロック１については中央の１箇所（ａ）、被測
定ゲージブロック２については中央および四隅の計５箇
所（ｂ1,ｂ2,ｂ3,ｂ4,ｂ5 ）で測定が行われる。このた
め、従来のゲージブロック比較測長機によるゲージブロ
ックの寸法検査では、標準ゲージブロック１および被測
定ゲージブロック２の各測定箇所（ａ、ｂ1 〜ｂ5 ）を
測定ポイント、つまり、ゲージブロック比較測長機にお
ける測長センサの真下( 測定子の真下）に導くために、
次の方法が採られていた。
７５０６、１０に規定されているように、１級および２
級のゲージブロックについては００級、０級のゲージブ
ロックを基準に比較測定することにより行われている。
また、比較測定の場合、通常、図７に示すように、標準
ゲージブロック１については中央の１箇所（ａ）、被測
定ゲージブロック２については中央および四隅の計５箇
所（ｂ1,ｂ2,ｂ3,ｂ4,ｂ5 ）で測定が行われる。このた
め、従来のゲージブロック比較測長機によるゲージブロ
ックの寸法検査では、標準ゲージブロック１および被測
定ゲージブロック２の各測定箇所（ａ、ｂ1 〜ｂ5 ）を
測定ポイント、つまり、ゲージブロック比較測長機にお
ける測長センサの真下( 測定子の真下）に導くために、
次の方法が採られていた。
【０００３】第１の方法は、図８に示すように、２つの
ゲージブロック１，２を保持するホルダ３を手動ハンド
ル４で引っ掛けながら手動で移動させる方法である。こ
れは、各ゲージブロック１，２上の測定箇所（ａ、ｂ1
〜ｂ5 ）を目視で確認しながら、各測定箇所が順にゲー
ジブロック比較測長機の測定ポイントに位置するよう
に、手動ハンドル４を使って手動でホルダ３を移動させ
る方法である。第２の方法は、図９に示すように、２つ
のゲージブロック１，２を保持するプレート５の一部
に、各ゲージブロック１，２上の測定箇所（ａ、ｂ1 〜
ｂ5 ）がゲージブロック比較測長機の測定ポイントＰに
位置できるようなガイド溝６を形成するとともに、ゲー
ジブロック比較測長機本体（固定部材）側にガイドピン
７を突設した構造である。これは、プレート５をガイド
溝６とガイドピン７とで規制された範囲内に沿って手動
で移動させていくだけで、ゲージブロック１，２上の測
定箇所（ａ、ｂ1 〜ｂ5 ）をゲージブロック比較測長機
の測定ポイントＰに正確に位置決めできる利点がある。
第３の方法は、２つのゲージブロックを保持するホルダ
を自動で移動、位置決めする方法である。
ゲージブロック１，２を保持するホルダ３を手動ハンド
ル４で引っ掛けながら手動で移動させる方法である。こ
れは、各ゲージブロック１，２上の測定箇所（ａ、ｂ1
〜ｂ5 ）を目視で確認しながら、各測定箇所が順にゲー
ジブロック比較測長機の測定ポイントに位置するよう
に、手動ハンドル４を使って手動でホルダ３を移動させ
る方法である。第２の方法は、図９に示すように、２つ
のゲージブロック１，２を保持するプレート５の一部
に、各ゲージブロック１，２上の測定箇所（ａ、ｂ1 〜
ｂ5 ）がゲージブロック比較測長機の測定ポイントＰに
位置できるようなガイド溝６を形成するとともに、ゲー
ジブロック比較測長機本体（固定部材）側にガイドピン
７を突設した構造である。これは、プレート５をガイド
溝６とガイドピン７とで規制された範囲内に沿って手動
で移動させていくだけで、ゲージブロック１，２上の測
定箇所（ａ、ｂ1 〜ｂ5 ）をゲージブロック比較測長機
の測定ポイントＰに正確に位置決めできる利点がある。
第３の方法は、２つのゲージブロックを保持するホルダ
を自動で移動、位置決めする方法である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】第１の方法は、安価に
製造できるものの、各ゲージブロック１，２上の測定箇
所（ａ、ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイントに正確に位置させ
ることが難しく、そのために熟練を必要とする。第２の
方法は、比較的安価で、かつ、ゲージブロック１，２上
の測定箇所（ａ、ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイントＰに正確
に位置決めできる利点がある。しかし、測定ポイントＰ
にある測定子が常にいずれかのゲージブロック１，２上
にあるため、２つのゲージブロック１，２を同時に交換
をすることができない。通常、ゲージブロック比較測長
機によって寸法検査を行う場合、被測定ゲージブロック
１セット（たとえば、１００ブロック程度）を標準ゲー
ジブロックセットを基準に比較測定を行うことが多い。
この場合、１つの高さ測定が終わると、２つのゲージブ
ロック（被測定ゲージブロックと標準ゲージブロック）
を共に交換し、次の高さ測定を行うため、１個ずつしか
交換できない第２の方法では、交換時の作業効率が悪い
という欠点がある。第３の方法は、自動的な移動および
位置決めであるため、極めて高価であるという欠点があ
る。
製造できるものの、各ゲージブロック１，２上の測定箇
所（ａ、ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイントに正確に位置させ
ることが難しく、そのために熟練を必要とする。第２の
方法は、比較的安価で、かつ、ゲージブロック１，２上
の測定箇所（ａ、ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイントＰに正確
に位置決めできる利点がある。しかし、測定ポイントＰ
にある測定子が常にいずれかのゲージブロック１，２上
にあるため、２つのゲージブロック１，２を同時に交換
をすることができない。通常、ゲージブロック比較測長
機によって寸法検査を行う場合、被測定ゲージブロック
１セット（たとえば、１００ブロック程度）を標準ゲー
ジブロックセットを基準に比較測定を行うことが多い。
この場合、１つの高さ測定が終わると、２つのゲージブ
ロック（被測定ゲージブロックと標準ゲージブロック）
を共に交換し、次の高さ測定を行うため、１個ずつしか
交換できない第２の方法では、交換時の作業効率が悪い
という欠点がある。第３の方法は、自動的な移動および
位置決めであるため、極めて高価であるという欠点があ
る。
【０００５】本発明の目的は、このような従来の欠点を
解消し、比較的安価で、かつ、作業効率のよいゲージブ
ロック比較測定用治具を提供することにある。
解消し、比較的安価で、かつ、作業効率のよいゲージブ
ロック比較測定用治具を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のゲージブロック
比較測定用治具は、測定子の変位からゲージブロックの
寸法を測定するセンサを有し、標準ゲージブロックを基
準に被測定ゲージブロックを比較測定するゲージブロッ
ク比較測長機に用いられるゲージブロック比較測定用治
具であって、前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲー
ジブロックを保持するホルダと、このホルダの移動範囲
を規制するとともに前記標準ゲージブロックおよび被測
定ゲージブロックの測定箇所を前記測定子の測定ポイン
トに導くためのガイド機構と、このガイド機構で規制さ
れた範囲内で前記ホルダを移動させる移動機構とを備
え、前記ガイド機構は、前記ホルダと前記移動機構の移
動側とを連結する連結プレートと、この連結プレートお
よびこの連結プレートに対向する固定部材のいずれか一
方に設けられ前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲー
ジブロックの測定箇所を前記測定ポイントに導くための
ガイド溝および前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲ
ージブロックを前記測定ポイントから同時に逃がす逃げ
溝と、前記連結プレートおよび前記固定部材のいずれか
他方に設けられ前記ガイド溝および逃げ溝内に相対移動
可能に収納されたガイドピンとを備えることを特徴とす
る。
比較測定用治具は、測定子の変位からゲージブロックの
寸法を測定するセンサを有し、標準ゲージブロックを基
準に被測定ゲージブロックを比較測定するゲージブロッ
ク比較測長機に用いられるゲージブロック比較測定用治
具であって、前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲー
ジブロックを保持するホルダと、このホルダの移動範囲
を規制するとともに前記標準ゲージブロックおよび被測
定ゲージブロックの測定箇所を前記測定子の測定ポイン
トに導くためのガイド機構と、このガイド機構で規制さ
れた範囲内で前記ホルダを移動させる移動機構とを備
え、前記ガイド機構は、前記ホルダと前記移動機構の移
動側とを連結する連結プレートと、この連結プレートお
よびこの連結プレートに対向する固定部材のいずれか一
方に設けられ前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲー
ジブロックの測定箇所を前記測定ポイントに導くための
ガイド溝および前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲ
ージブロックを前記測定ポイントから同時に逃がす逃げ
溝と、前記連結プレートおよび前記固定部材のいずれか
他方に設けられ前記ガイド溝および逃げ溝内に相対移動
可能に収納されたガイドピンとを備えることを特徴とす
る。
【０００７】ここで、前記ガイド溝は、孔の周囲に前記
標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロックの測定
箇所を前記測定ポイントに位置決めするための位置決め
溝を有し、前記逃げ溝は、隣接する２つの位置決め溝の
間に形成されていることが好ましい。
標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロックの測定
箇所を前記測定ポイントに位置決めするための位置決め
溝を有し、前記逃げ溝は、隣接する２つの位置決め溝の
間に形成されていることが好ましい。
【０００８】
【作用】ゲージブロックの寸法を比較測定するには、ホ
ルダに標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロック
を保持したのち、移動機構を介してホルダを移動させ
る。このとき、ガイド機構によって、ホルダの移動範囲
が規制されているとともに、標準ゲージブロックおよび
被測定ゲージブロックの測定箇所が測定子の測定ポイン
トに導かれるから、ゲージブロックの寸法を簡易に比較
測定できる。比較測定終了後、逃げ機構によって標準ゲ
ージブロックおよび被測定ゲージブロックを測定ポイン
トから同時に逃がし、ここで、標準ゲージブロックおよ
び被測定ゲージブロックを共に交換する。従って、２つ
のゲージブロックを共に交換できるから、交換時の作業
効率を改善できる。
ルダに標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロック
を保持したのち、移動機構を介してホルダを移動させ
る。このとき、ガイド機構によって、ホルダの移動範囲
が規制されているとともに、標準ゲージブロックおよび
被測定ゲージブロックの測定箇所が測定子の測定ポイン
トに導かれるから、ゲージブロックの寸法を簡易に比較
測定できる。比較測定終了後、逃げ機構によって標準ゲ
ージブロックおよび被測定ゲージブロックを測定ポイン
トから同時に逃がし、ここで、標準ゲージブロックおよ
び被測定ゲージブロックを共に交換する。従って、２つ
のゲージブロックを共に交換できるから、交換時の作業
効率を改善できる。
【０００９】また、ガイド機構を、ホルダと移動機構の
移動側とを連結する連結プレートと、この連結プレート
および固定部材のいずれか一方に設けられ標準ゲージブ
ロックおよび被測定ゲージブロックの測定箇所を測定ポ
イントに導くためのガイド溝および標準ゲージブロック
および被測定ゲージブロックを測定ポイントから同時に
逃がす逃げ溝と、連結プレートおよび固定部材のいずれ
か他方に設けられ前記溝内に相対移動可能に収納された
ガイドピンとを備える構成とすれば、比較的簡単な構造
で上記作用を奏することができる。また、ガイド溝を、
孔の周囲に標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロ
ックの測定箇所を測定ポイントに位置決めするための位
置決め溝を有し、逃げ溝を、隣接する２つの位置決め溝
の間に形成する構成とすれば、位置決め溝による位置決
め機能を維持しつつ、ガイドピンを逃げ溝に簡単に逃が
すことができる。
移動側とを連結する連結プレートと、この連結プレート
および固定部材のいずれか一方に設けられ標準ゲージブ
ロックおよび被測定ゲージブロックの測定箇所を測定ポ
イントに導くためのガイド溝および標準ゲージブロック
および被測定ゲージブロックを測定ポイントから同時に
逃がす逃げ溝と、連結プレートおよび固定部材のいずれ
か他方に設けられ前記溝内に相対移動可能に収納された
ガイドピンとを備える構成とすれば、比較的簡単な構造
で上記作用を奏することができる。また、ガイド溝を、
孔の周囲に標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロ
ックの測定箇所を測定ポイントに位置決めするための位
置決め溝を有し、逃げ溝を、隣接する２つの位置決め溝
の間に形成する構成とすれば、位置決め溝による位置決
め機能を維持しつつ、ガイドピンを逃げ溝に簡単に逃が
すことができる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図を参照しながら
詳細に説明する。図１は本実施例のゲージブロック比較
測定用治具を取り付けたゲージブロック比較測長機の正
面図、図２はその平面図である。これらの図において、
基台１１上には、その上面後部位置に支柱１２を介して
昇降台１３が上下方向へ昇降自在に設けられているとと
もに、上面に測定テーブル１４が固定されている。昇降
台１３は、昇降ハンドル１５の回動操作によって支柱１
２に沿って上下動され、かつ、締付レバー１６によって
任意の高さ位置で支柱１２に固定される。昇降台１３の
前部には、測長センサ１７が取り付けられている。測長
センサ１７は、上下動自在でかつ常に下方へ向かって付
勢された測定子１８を有し、その測定子１８の変位を電
気信号として出力する構造である。
詳細に説明する。図１は本実施例のゲージブロック比較
測定用治具を取り付けたゲージブロック比較測長機の正
面図、図２はその平面図である。これらの図において、
基台１１上には、その上面後部位置に支柱１２を介して
昇降台１３が上下方向へ昇降自在に設けられているとと
もに、上面に測定テーブル１４が固定されている。昇降
台１３は、昇降ハンドル１５の回動操作によって支柱１
２に沿って上下動され、かつ、締付レバー１６によって
任意の高さ位置で支柱１２に固定される。昇降台１３の
前部には、測長センサ１７が取り付けられている。測長
センサ１７は、上下動自在でかつ常に下方へ向かって付
勢された測定子１８を有し、その測定子１８の変位を電
気信号として出力する構造である。
【００１１】前記基台１１の上面両側には、取付部とし
てのねじ孔１９Ａ，１９Ｂが穿設されている。このねじ
孔１９Ａ，１９Ｂには、本ゲージブロック比較測定用治
具２０が選択的に取り付けられている。この図では、右
側のねじ孔１９Ａにゲージブロック比較測定用治具２０
が取り付けられた状態を示している。ゲージブロック比
較測定用治具２０は、図３に示すように、前記標準ゲー
ジブロック１および被測定ゲージブロック２を保持する
ホルダ２１Ａと、このホルダ２１Ａの移動範囲を規制す
るとともに前記標準ゲージブロック１および被測定ゲー
ジブロック２を前記測定子１８の測定ポイントに導くた
めのガイド機構３１と、このガイド機構３１で規制され
た範囲内で前記ホルダ２１Ａを移動させる移動機構４１
とを備える。
てのねじ孔１９Ａ，１９Ｂが穿設されている。このねじ
孔１９Ａ，１９Ｂには、本ゲージブロック比較測定用治
具２０が選択的に取り付けられている。この図では、右
側のねじ孔１９Ａにゲージブロック比較測定用治具２０
が取り付けられた状態を示している。ゲージブロック比
較測定用治具２０は、図３に示すように、前記標準ゲー
ジブロック１および被測定ゲージブロック２を保持する
ホルダ２１Ａと、このホルダ２１Ａの移動範囲を規制す
るとともに前記標準ゲージブロック１および被測定ゲー
ジブロック２を前記測定子１８の測定ポイントに導くた
めのガイド機構３１と、このガイド機構３１で規制され
た範囲内で前記ホルダ２１Ａを移動させる移動機構４１
とを備える。
【００１２】前記ホルダ２１Ａには、先端部に前記標準
ゲージブロック１および被測定ゲージブロック２を保持
する保持孔２２が形成されているとともに、基端部上面
に２本の位置決めピン２３が突設されている。なお、ホ
ルダ２１Ａの下面は、前記測定テーブル１１の上面に接
した状態で任意の方向へ移動できるように形成されてい
る。
ゲージブロック１および被測定ゲージブロック２を保持
する保持孔２２が形成されているとともに、基端部上面
に２本の位置決めピン２３が突設されている。なお、ホ
ルダ２１Ａの下面は、前記測定テーブル１１の上面に接
した状態で任意の方向へ移動できるように形成されてい
る。
【００１３】前記ガイド機構３１は、前記ホルダ２１Ａ
と前記移動機構４１の移動側とを連結する連結プレート
３２Ａと、この連結プレート３２Ａに設けられ前記標準
ゲージブロック１および被測定ゲージブロック２の複数
の測定箇所（ａ, ｂ1 〜ｂ5）を前記測定ポイントに導
くためのガイド溝３６および前記標準ゲージブロック１
および被測定ゲージブロック２を前記測定ポイントから
同時に逃がす逃げ機構としての逃げ溝３７と、これらの
溝３６，３７内に相対移動可能に収納配置されたガイド
ピン３８とを備える。前記連結プレート３２Ａには、先
端に前記ホルダ２１の位置決めピン２３と係合する係合
孔３３が、後端部に前記移動機構４１の移動側部材（Ｙ
スライダ４５）に突設された位置決めピン４７に係合す
る係合孔３４および止めねじ４０用のねじ挿通孔３５が
それぞれ穿設されている。ガイド溝３６は、図４に示す
ように、前記標準ゲージブロック１および被測定ゲージ
ブロック２の複数の測定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）を前記
測定ポイントに位置決めするための位置決め溝３６0,３
６1,３６2,３６3,３６4,３６5 を蝶形状孔の周囲に有す
る。また、逃げ溝３７は、隣接する２つの位置決め溝、
ここでは、位置決め溝３６0,３６2 の間に連結プレート
３２の長手方向（Ｘ方向）に沿って、かつ、前記標準ゲ
ージブロック１および被測定ゲージブロック２を前記測
定ポイントから同時に逃がすことができる長さに形成さ
れている。前記ガイドピン３８は、図５に示すように、
前記連結プレート３２Ａの真下に配置された固定部材３
９上に突設されている。固定部材３９は、前記移動機構
４１の本体である枠体４２に一体的に固定されている。
と前記移動機構４１の移動側とを連結する連結プレート
３２Ａと、この連結プレート３２Ａに設けられ前記標準
ゲージブロック１および被測定ゲージブロック２の複数
の測定箇所（ａ, ｂ1 〜ｂ5）を前記測定ポイントに導
くためのガイド溝３６および前記標準ゲージブロック１
および被測定ゲージブロック２を前記測定ポイントから
同時に逃がす逃げ機構としての逃げ溝３７と、これらの
溝３６，３７内に相対移動可能に収納配置されたガイド
ピン３８とを備える。前記連結プレート３２Ａには、先
端に前記ホルダ２１の位置決めピン２３と係合する係合
孔３３が、後端部に前記移動機構４１の移動側部材（Ｙ
スライダ４５）に突設された位置決めピン４７に係合す
る係合孔３４および止めねじ４０用のねじ挿通孔３５が
それぞれ穿設されている。ガイド溝３６は、図４に示す
ように、前記標準ゲージブロック１および被測定ゲージ
ブロック２の複数の測定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）を前記
測定ポイントに位置決めするための位置決め溝３６0,３
６1,３６2,３６3,３６4,３６5 を蝶形状孔の周囲に有す
る。また、逃げ溝３７は、隣接する２つの位置決め溝、
ここでは、位置決め溝３６0,３６2 の間に連結プレート
３２の長手方向（Ｘ方向）に沿って、かつ、前記標準ゲ
ージブロック１および被測定ゲージブロック２を前記測
定ポイントから同時に逃がすことができる長さに形成さ
れている。前記ガイドピン３８は、図５に示すように、
前記連結プレート３２Ａの真下に配置された固定部材３
９上に突設されている。固定部材３９は、前記移動機構
４１の本体である枠体４２に一体的に固定されている。
【００１４】前記移動機構４１は、前記基台１１のねじ
孔１９Ａに固定された枠体４２と、この枠体４２内に左
右方向（Ｘ方向）に移動自在に収納されたＸスライダ４
３と、このＸスライダ４３に２本のガイドレール４４を
介して前後方向（Ｙ方向）へ移動自在に設けられたＹス
ライダ４５と、このＹスライダ４５の右端にＸ方向と平
行に突設されたノブ４６とから構成されている。Ｙスラ
イダ４５の上面には２本のガイドピン４７が突設されて
いる。従って、ノブ４６をＸおよびＹ方向へ移動させる
と、ＸおよびＹスライダ４３，４６を介して連結プレー
ト３２Ａおよびホルダ２１ＡがＸおよびＹ方向へ移動さ
れる。
孔１９Ａに固定された枠体４２と、この枠体４２内に左
右方向（Ｘ方向）に移動自在に収納されたＸスライダ４
３と、このＸスライダ４３に２本のガイドレール４４を
介して前後方向（Ｙ方向）へ移動自在に設けられたＹス
ライダ４５と、このＹスライダ４５の右端にＸ方向と平
行に突設されたノブ４６とから構成されている。Ｙスラ
イダ４５の上面には２本のガイドピン４７が突設されて
いる。従って、ノブ４６をＸおよびＹ方向へ移動させる
と、ＸおよびＹスライダ４３，４６を介して連結プレー
ト３２Ａおよびホルダ２１ＡがＸおよびＹ方向へ移動さ
れる。
【００１５】なお、図３において、ホルダ２１Ｂおよび
連結プレート３２Ｂは、ホルダ２１Ａおよび連結プレー
ト３２Ａに代わって交換される。ホルダ２１Ｂは、ホル
ダ２１Ａに対して、保持孔２２の長さ（ゲージブロック
１，２の長手方向寸法）が大きく形成されている。連結
プレート３２Ｂは、連結プレート３２Ａに対して、ガイ
ド溝３６の幅形状が多少広く形成されている。通常、ゲ
ージブロックでは、呼び寸法（測定対象の高さ寸法）が
１０．１ｍｍ以下のものは断面寸法が３０ｍｍ×９ｍ
ｍ、呼び寸法が１０．１ｍｍを超えるものは断面寸法が
３５ｍｍ×９ｍｍに規定されているため、呼び寸法が１
０．１ｍｍ以下のものの測定ではホルダ２１Ａおよび連
結プレート３２Ａを、呼び寸法が１０．１ｍｍを超える
ものの測定ではホルダ２１Ｂおよび連結プレート３２Ｂ
を交換使用できるようにしてある。
連結プレート３２Ｂは、ホルダ２１Ａおよび連結プレー
ト３２Ａに代わって交換される。ホルダ２１Ｂは、ホル
ダ２１Ａに対して、保持孔２２の長さ（ゲージブロック
１，２の長手方向寸法）が大きく形成されている。連結
プレート３２Ｂは、連結プレート３２Ａに対して、ガイ
ド溝３６の幅形状が多少広く形成されている。通常、ゲ
ージブロックでは、呼び寸法（測定対象の高さ寸法）が
１０．１ｍｍ以下のものは断面寸法が３０ｍｍ×９ｍ
ｍ、呼び寸法が１０．１ｍｍを超えるものは断面寸法が
３５ｍｍ×９ｍｍに規定されているため、呼び寸法が１
０．１ｍｍ以下のものの測定ではホルダ２１Ａおよび連
結プレート３２Ａを、呼び寸法が１０．１ｍｍを超える
ものの測定ではホルダ２１Ｂおよび連結プレート３２Ｂ
を交換使用できるようにしてある。
【００１６】次に、本実施例の測定方法を説明する。測
定にあたっては、ホルダ２２Ａの保持孔２２内に２つの
ゲージブロック１，２を収納させた状態において、ノブ
４６を図３中左方へ押し込み、各ゲージブロック１，２
の複数の測定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）が測定ポイントに
位置するように、位置決め溝３６0,３６1,３６2,３６3,
３６4,３６5 を順にガイドピン３８に位置決めしなが
ら、測定子１８をそれらの測定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）
に当接させる。
定にあたっては、ホルダ２２Ａの保持孔２２内に２つの
ゲージブロック１，２を収納させた状態において、ノブ
４６を図３中左方へ押し込み、各ゲージブロック１，２
の複数の測定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）が測定ポイントに
位置するように、位置決め溝３６0,３６1,３６2,３６3,
３６4,３６5 を順にガイドピン３８に位置決めしなが
ら、測定子１８をそれらの測定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）
に当接させる。
【００１７】このようにして、標準ゲージブロック１を
基準に被測定ゲージブロック２を比較測定していく。測
定終了後、逃げ溝３７の入口をガイドピン３８と一致さ
せたのち、ノブ４６を図３中右方へ引く。すると、連結
プレート３２Ａおよびホルダ２１Ａが図３中右方へ引き
出される。この状態では、ホルダ２１Ａの保持孔２２が
ゲージブロック比較測長機の測定ポイントから完全には
ずれているので、保持孔２２内の２つのゲージブロック
１，２を同時に交換することができる。つまり、既に測
定した２つのゲージブロック１，２を保持孔２２から取
り出し、次に測定する２つのゲージブロック１，２を保
持孔２２内に収納する。
基準に被測定ゲージブロック２を比較測定していく。測
定終了後、逃げ溝３７の入口をガイドピン３８と一致さ
せたのち、ノブ４６を図３中右方へ引く。すると、連結
プレート３２Ａおよびホルダ２１Ａが図３中右方へ引き
出される。この状態では、ホルダ２１Ａの保持孔２２が
ゲージブロック比較測長機の測定ポイントから完全には
ずれているので、保持孔２２内の２つのゲージブロック
１，２を同時に交換することができる。つまり、既に測
定した２つのゲージブロック１，２を保持孔２２から取
り出し、次に測定する２つのゲージブロック１，２を保
持孔２２内に収納する。
【００１８】従って、本実施例によれば、標準ゲージブ
ロック１および被測定ゲージブロック２を保持するホル
ダ２１の移動範囲を規制するとともに、各ゲージブロッ
ク１，２を測定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイント
に導くためのガイド機構３１に、両ゲージブロック１，
２を測定ポイントから同時に逃がす逃げ溝３７を設けた
ので、標準ゲージブロック１および被測定ゲージブロッ
ク２を共に交換することができる。そのため、２つのゲ
ージブロック１，２を共に交換できるから、交換時の作
業効率を改善できる。
ロック１および被測定ゲージブロック２を保持するホル
ダ２１の移動範囲を規制するとともに、各ゲージブロッ
ク１，２を測定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイント
に導くためのガイド機構３１に、両ゲージブロック１，
２を測定ポイントから同時に逃がす逃げ溝３７を設けた
ので、標準ゲージブロック１および被測定ゲージブロッ
ク２を共に交換することができる。そのため、２つのゲ
ージブロック１，２を共に交換できるから、交換時の作
業効率を改善できる。
【００１９】また、ガイド機構３１を、ホルダ２１と移
動機構４１のＹスライダ４５とを連結する連結プレート
３２に設けられ各ゲージブロック１，２の複数の測定箇
所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイントに導くためのガイ
ド溝３６および両ゲージブロック１，２を測定ポイント
から同時に逃がす逃げ溝３７と、これらの溝３６，３７
内に相対移動可能に収納配置されかつ固定部材３９に設
けられたガイドピン３８とから構成したので、比較的簡
単な構造で上記作用を奏することができる。また、ガイ
ド溝３６は、周囲に各ゲージブロック１，２の複数の測
定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイントに位置決めす
るための位置決め溝３６0,３６1,３６2,３６3,３６4,３
６5 を有し、逃げ溝３７を隣接する２つの位置決め溝３
６0,３６2 の間に形成したので、位置決め溝３６0,３６
1,３６2,３６3,３６4,３６5による位置決め機能を維持
しつつ、ガイドピン３８を逃げ溝３７に簡単に逃がすこ
とができる。
動機構４１のＹスライダ４５とを連結する連結プレート
３２に設けられ各ゲージブロック１，２の複数の測定箇
所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイントに導くためのガイ
ド溝３６および両ゲージブロック１，２を測定ポイント
から同時に逃がす逃げ溝３７と、これらの溝３６，３７
内に相対移動可能に収納配置されかつ固定部材３９に設
けられたガイドピン３８とから構成したので、比較的簡
単な構造で上記作用を奏することができる。また、ガイ
ド溝３６は、周囲に各ゲージブロック１，２の複数の測
定箇所（ａ，ｂ1 〜ｂ5 ）を測定ポイントに位置決めす
るための位置決め溝３６0,３６1,３６2,３６3,３６4,３
６5 を有し、逃げ溝３７を隣接する２つの位置決め溝３
６0,３６2 の間に形成したので、位置決め溝３６0,３６
1,３６2,３６3,３６4,３６5による位置決め機能を維持
しつつ、ガイドピン３８を逃げ溝３７に簡単に逃がすこ
とができる。
【００２０】また、基台１１の上面両側に取付部として
のねじ孔１９Ａ，１９Ｂを穿設し、このねじ孔１９Ａ，
１９Ｂにゲージブロック比較測定用治具２０を選択的に
取り付けられるようにしたので、測定者の使い勝手に合
わせて、ゲージブロック比較測定用治具２０を基台１１
の右側または左側に設置できる。更に、基台１１の上面
前部に取付部としてのねじ孔を穿設しておけば、ゲージ
ブロック比較測定用治具２０を基台１１の前部に設置で
きる。また、ゲージブロックの呼び寸法が１０．１ｍｍ
以下のものの測定ではホルダ２１Ａおよび連結プレート
３２Ａを、呼び寸法が１０．１ｍｍを超えるものの測定
ではホルダ２１Ｂおよび連結プレート３２Ｂを交換使用
できるようにしたので、各種大きさのゲージブロックの
寸法検査を行うことができるとともに、移動機構４１に
ついては共通使用できる。
のねじ孔１９Ａ，１９Ｂを穿設し、このねじ孔１９Ａ，
１９Ｂにゲージブロック比較測定用治具２０を選択的に
取り付けられるようにしたので、測定者の使い勝手に合
わせて、ゲージブロック比較測定用治具２０を基台１１
の右側または左側に設置できる。更に、基台１１の上面
前部に取付部としてのねじ孔を穿設しておけば、ゲージ
ブロック比較測定用治具２０を基台１１の前部に設置で
きる。また、ゲージブロックの呼び寸法が１０．１ｍｍ
以下のものの測定ではホルダ２１Ａおよび連結プレート
３２Ａを、呼び寸法が１０．１ｍｍを超えるものの測定
ではホルダ２１Ｂおよび連結プレート３２Ｂを交換使用
できるようにしたので、各種大きさのゲージブロックの
寸法検査を行うことができるとともに、移動機構４１に
ついては共通使用できる。
【００２１】以上、本発明について好適な実施例を挙げ
て説明したが、本発明は、この実施例に限られるもので
なく、本発明の要旨を逸脱しない範囲での変更が可能で
ある。たとえば、上記実施例では、連結プレート３２
Ａ，３２Ｂにガイド溝３６および逃げ溝３７を形成する
一方、固定部材３９にガイドピン３８を突設したが、こ
れらは逆でもよい。つまり、連結プレート３２Ａ，３２
Ｂにガイドピン３８を突設し、固定部材３９にガイド溝
３６および逃げ溝３７を形成するようにしてもよい。
て説明したが、本発明は、この実施例に限られるもので
なく、本発明の要旨を逸脱しない範囲での変更が可能で
ある。たとえば、上記実施例では、連結プレート３２
Ａ，３２Ｂにガイド溝３６および逃げ溝３７を形成する
一方、固定部材３９にガイドピン３８を突設したが、こ
れらは逆でもよい。つまり、連結プレート３２Ａ，３２
Ｂにガイドピン３８を突設し、固定部材３９にガイド溝
３６および逃げ溝３７を形成するようにしてもよい。
【００２２】また、逃げ溝３７については、上記実施例
の構成に限られない。たとえば、図６に示すように、位
置決め溝３６1,３６3 の間にＸ方向に沿って形成しても
よい。あるいは、位置決め溝３６0,３６4 の間、位置決
め溝３６1,３６5 の間にＸ方向に沿って形成してもよ
く、更に、位置決め溝３６2,３６3 の間、位置決め溝３
６4,３６5 の間にＹ方向に沿って形成してもよい。ま
た、移動機構４１についても、上記実施例で述べたＸス
ライダ４３とＹスライダ４５とによる構成に限らず、水
平方向に移動できる構造であれば他の構成でもよい。更
に、測長センサ１７についても、他の構造のものを用い
てもよい。
の構成に限られない。たとえば、図６に示すように、位
置決め溝３６1,３６3 の間にＸ方向に沿って形成しても
よい。あるいは、位置決め溝３６0,３６4 の間、位置決
め溝３６1,３６5 の間にＸ方向に沿って形成してもよ
く、更に、位置決め溝３６2,３６3 の間、位置決め溝３
６4,３６5 の間にＹ方向に沿って形成してもよい。ま
た、移動機構４１についても、上記実施例で述べたＸス
ライダ４３とＹスライダ４５とによる構成に限らず、水
平方向に移動できる構造であれば他の構成でもよい。更
に、測長センサ１７についても、他の構造のものを用い
てもよい。
【００２３】
【発明の効果】本発明のゲージブロック比較測定用治具
によれば、標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロ
ックを保持するホルダの移動範囲を規制するとともに、
各ゲージブロックの測定箇所を測定ポイントに導くため
のガイド機構に、両ゲージブロックを測定ポイントから
同時に逃がす逃げ機構を設けたので、比較的安価にし
て、２つのゲージブロックを同時に交換することがで
き、作業効率を向上させることができる。
によれば、標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロ
ックを保持するホルダの移動範囲を規制するとともに、
各ゲージブロックの測定箇所を測定ポイントに導くため
のガイド機構に、両ゲージブロックを測定ポイントから
同時に逃がす逃げ機構を設けたので、比較的安価にし
て、２つのゲージブロックを同時に交換することがで
き、作業効率を向上させることができる。
【図１】本発明のゲージブロック比較測定用治具を取り
付けたゲージブロック比較測長機を示す正面図である。
付けたゲージブロック比較測長機を示す正面図である。
【図２】図１のゲージブロック比較測長機を示す平面図
である。
である。
【図３】図１のゲージブロック比較測定用治具を示す斜
視図である。
視図である。
【図４】図３のガイド溝および逃げ溝の要部を示す拡大
図である。
図である。
【図５】図４の V−V 線断面図である。
【図６】逃げ溝の変形例を示す図である。
【図７】比較測定におけるゲージブロックの測定箇所を
示す図である。
示す図である。
【図８】従来のゲージブロック比較測長機において、標
準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロックを測定ポ
イントに導くための方法を示す図である。
準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロックを測定ポ
イントに導くための方法を示す図である。
【図９】従来のゲージブロック比較測長機において、標
準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロックを測定ポ
イントに導くための他の方法を示す図である。
準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロックを測定ポ
イントに導くための他の方法を示す図である。
１ 標準ゲージブロック
２ 被測定ゲージブロック
１７ 測長センサ
１８ 測定子
２０ ゲージブロック比較測定用治具
２１Ａ，２１Ｂ ホルダ
３１ ガイド機構
３２Ａ，３２Ｂ 連結プレート
３６ ガイド溝
３６0,３６1,３６2,３６3,３６4,３６5 位置決め溝
３７ 逃げ溝（逃げ機構）
３８ ガイドピン
３９ 固定部材
４１ 移動機構
ａ，ｂ1,ｂ2,ｂ3,ｂ4,ｂ5 測定箇所
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平６−294641（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01B 21/02
G01B 5/02
Claims (2)
- 【請求項１】 測定子の変位からゲージブロックの寸法
を測定するセンサを有し、標準ゲージブロックを基準に
被測定ゲージブロックを比較測定するゲージブロック比
較測長機に用いられるゲージブロック比較測定用治具で
あって、 前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロックを
保持するホルダと、このホルダの移動範囲を規制すると
ともに前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロ
ックの測定箇所を前記測定子の測定ポイントに導くため
のガイド機構と、このガイド機構で規制された範囲内で
前記ホルダを移動させる移動機構とを備え、 前記ガイド機構は、前記ホルダと前記移動機構の移動側
とを連結する連結プレートと、この連結プレートおよび
この連結プレートに対向する固定部材のいずれか一方に
設けられ前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲージブ
ロックの測定箇所を前記測定ポイントに導くためのガイ
ド溝および前記標準ゲージブロックおよび被測定ゲージ
ブロックを前記測定ポイントから同時に逃がす逃げ溝
と、前記連結プレートおよび前記固定部材のいずれか他
方に設けられ前記ガイド溝および逃げ溝内に相対移動可
能に収納されたガイドピンとを備えることを特徴とする
ゲージブロック比較測定用治具。 - 【請求項２】 請求項１に記載のゲージブロック比較測
定用治具において、前記ガイド溝は、孔の周囲に前記標
準ゲージブロックおよび被測定ゲージブロックの測定箇
所を前記測定ポイントに位置決めするための位置決め溝
を有し、前記逃げ溝は、隣接する２つの位置決め溝の間
に形成されていることを特徴とするゲージブロック比較
測定用治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29453994A JP3516743B2 (ja) | 1994-11-29 | 1994-11-29 | ゲージブロック比較測定用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29453994A JP3516743B2 (ja) | 1994-11-29 | 1994-11-29 | ゲージブロック比較測定用治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08152317A JPH08152317A (ja) | 1996-06-11 |
| JP3516743B2 true JP3516743B2 (ja) | 2004-04-05 |
Family
ID=17809100
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29453994A Expired - Fee Related JP3516743B2 (ja) | 1994-11-29 | 1994-11-29 | ゲージブロック比較測定用治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3516743B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4878904B2 (ja) | 2006-04-14 | 2012-02-15 | 株式会社ミツトヨ | 寸法差測定方法、及びその装置 |
-
1994
- 1994-11-29 JP JP29453994A patent/JP3516743B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08152317A (ja) | 1996-06-11 |
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