JP3514050B2 - 画像処理装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、入力された画像デ
ータをＰＤＬ画像データ等のようにデータ処理により作
成された画像データであるか或いは光学的に読み取った
スキャンイン画像データであるかを識別する画像処理装
置に関し、特に、画像データ中の領域毎に当該識別を行
うことにより、これら両方の画像データ部分とが混在し
た画像データに対して適切な符号化復号化等の処理を可
能ならしめる画像処理装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、ＤＴＰ等によりコンピュータ
上で生成されるＣＧ画像、或いは、ＰＤＬで記述された
文字画像や図形画像のデータ（以下、これらを総じてＰ
ＤＬ画像データと呼ぶ）と、スキャナ等でプリント物か
ら読み取ってディジタル変換された画像データ（以下、
スキャンイン画像データと呼ぶ）とが混在する画像に対
して、データ量を削減するために画像符号化を施すこと
が行われている。例えば、Ａ４サイズ、４００ｄｐｉ、
２５６階調、４色カラーの画像データについては、約６
４ＭＢｙｔｅの容量が必要となるが、符号化を行うこと
により、蓄積容量の大幅な削減、或いは、伝送時間の大
幅な削減が可能となる。

【０００３】このような画像符号化の技術として、例え
ば、カラー多値画像データの一般的な非可逆符号化方式
としては、「丸善、マルチメディア符号化の国際標準、
第１８〜４３ページ」に示されるＪＰＥＧ・ＤＣＴ方式
があり、また、カラー多値画像の一般的な可逆符号化方
式としては、「丸善、マルチメディア符号化の国際標
準、第１８〜４３ページ」に示されるＪＰＥＧ・Ｓｐａ
ｔｉａｌ方式がある。しかしながら、非可逆符号化方式
のＪＰＥＧ・ＤＣＴ方式では、スキャンイン画像データ
に対しては良好な符号化効率を得ることができるが、Ｐ
ＤＬ画像データに対しては画質の劣化を生じてしまう。
また、可逆符号化方式のＪＰＥＧ・Ｓｐａｔｉａｌ方式
では、ＰＤＬ画像データに対して画質の劣化を生じない
が、スキャンイン画像データに対する圧縮率が低下して
しまう。

【０００４】このような相反する課題を解決するため、
従来より、ＪＰＥＧ・ＤＣＴ方式のような非可逆符号化
方式と、ＪＰＥＧ・Ｓｐａｔｉａｌ方式のような可逆符
号化方式とを組み合せた符号化方式の検討がなされてい
る。一般的に、可逆方式と非可逆方式を組み合せた符号
化方式では、入力画像データを、スキャンイン画像デー
タと、ＰＤＬ画像データと、スキャンイン画像データと
ＰＤＬ画像データとに切換えるビットマップであるＴＡ
Ｇデータとの３種の画像データに分離して、それぞれに
対して適切な符号化を行う。

【０００５】図１４には、上記のような符号化方式を実
施する従来の画像処理装置の一例を示してある。同図に
おいて、１０１は入力画像データ、１０２は入力画像デ
ータをスキャンイン画像データとＰＤＬ画像データとＴ
ＡＧデータとに分離する分離演算回路、１０３はスキャ
ンイン画像データ、１０４はＰＤＬ画像データ、１０５
はＴＡＧデータ、１０６はスキャンイン画像データを所
定の方式で符号化する符号化回路、１０７はＰＤＬ画像
データを所定の方式で符号化する符号化回路、１０８は
ＴＡＧデータを所定の方式で符号化する符号化回路、１
０９は符号化されたスキャンイン画像データ、１１０は
符号化されたＰＤＬ画像データ、１１１は符号化された
ＴＡＧデータである。

【０００６】すなわち、入力画像データ１０１は分離演
算回路１０２に入力され、スキャンイン画像データ１０
３と、ＰＤＬ画像データ１０４と、スキャンイン画像デ
ータ部分とＰＤＬ画像データ部分の切り換え情報である
ＴＡＧデータ１０５の３つに分離される。そして、スキ
ャンイン画像データ１０３はスキャンイン画像符号化回
路１０６でＪＰＥＧ・ＤＣＴ方式等の非可逆符号化方式
により符号化され、スキャンイン画像符号データ１０９
が出力される。また、ＰＤＬ画像データ１０４はＰＤＬ
画像符号化回路１０７でＪＰＥＧ・Ｓｐａｔｉａｌ方式
等の可逆符号化方式により符号化され、ＰＤＬ画像符号
データ１１０が出力される。更に、ＴＡＧデータ１０５
はＴＡＧ符号化回路１０８で符号化され、ＴＡＧ符号デ
ータ１１１が出力される。このように、入力画像中のス
キャンイン画像部分とＰＤＬ画像部分とは、ＴＡＧ情報
により画素毎に分離され、それぞれ独立に効率の良い符
号化方式によって符号化される。

【０００７】上記のような画像処理装置の更に具体的な
一例としては、特開平５−３０８５２９号公報に記載さ
れたものがあり、以下図１５を参照して当該画像処理装
置を説明する。同図において、１２０は入力画像デー
タ、１２１はブロック化回路、１２２は１ブロック遅延
回路、１２３はヒストグラム算出回路、１２４は抽出色
判定回路、１２５はビットマップデータ符号化回路、１
２６は色データ符号化回路、１２７自然画データ符号化
回路である。

【０００８】この画像処理装置では、入力画像データ１
２０はブロック化回路１２１で８×８画素のブロックに
ブロック化される。当該ブロックデータについて１ブロ
ック遅延回路１２２で１ブロック分遅延している間に、
ヒストグラム算出回路１２３では入力されたブロックデ
ータ内の画素値のヒストグラムを算出し、ヒストグラム
の頻度が最大となる画素データが抽出色判定回路１２４
に伝送される。抽出色判定回路１２４では、入力された
画像情報を１画素づつ入力されたヒストグラムの頻度が
最大となる画素データと比較し、一致した場合は該当す
る画素を”１”にし、一致しない場合は該当する画素
を”０”としてビットマップデータ符号化回路１２５に
送る。ビットマップ符号化回路１２５ではビットマップ
データを符号化し、ＴＡＧ符号データ１３１として出力
する。

【０００９】また、ヒストグラム算出回路１２３で算出
された濃度データは色データ符号化回路１２６にも伝送
され、可逆符号化されてＰＤＬ画像符号データ１３０と
して出力される。更に、ブロック化された入力画像デー
タは自然画データ符号化回路１２７に送られ、非可逆符
号化方式で符号化されてスキャンイン画像符号データ１
２９として出力される。

【００１０】また、上記のようにヒストグラムによって
入力画像データ中のＰＤＬ画像データ部分を抽出するも
のの他に、ディジタル複写機の高画質化技術として、文
字部分を抜き出す技術が知られている。例えば、特開平
４−１０７６５号公報に記載される方式では、文字部と
文字以外の画像部とに分離することにより、高画質なプ
リント画像を得ることを目的としており、文字と判定さ
れた部分に対して、エッジ強調処理や高解像度（４００
ｄｐｉ）のプリント処理を行うことにより、高画質化を
行っている。この従来例では、図１４に示すように、画
像データ中の各画素についての濃度値分布を求め、濃度
値が急変する部分を文字輪郭部として抽出することによ
り上記の処理を行っている。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た前者の従来技術（特開平５−３０８５２９）では下記
（１）〜（３）に示す課題があり、また、後者の従来技
術（特開平４−１０７６５）では下記（４）に示す課題
がある。 （１）ヒストグラムの頻度が最大となる画素のみを抽出
するため、複数の色成分からなるＰＤＬ画像データを抽
出することができない。例えば、この従来例では、色の
異なる複数の線が存在していてもＰＤＬ画像データとし
て抽出できるのは１本の線のみであった。また、例えば
図１７に示すように、各画素の濃度値が穏やかに変化す
るグラデーションのような画像部分はＰＤＬ画像データ
として抽出できなかった。

【００１２】（２）画像データをブロック化した後に処
理を行っているため、ブロック歪みが生じやすい。例え
ば図１８に示すように、画像データ中の領域を判定する
ためのブロックＡ〜Ｄを８×８画素とし、図中の斜線部
分の画素がＰＤＬ画像データ部分であるとすと、ブロッ
クＣ及びブロックＢにおいては、斜線部分の画素数が十
分あるため当該斜線部はＰＤＬ画像データであると判定
できる。ところが、ブロックＡでは、斜線部の画素は１
画素のみであるため、スキャンイン画像データ部分であ
ると判定されてしまう。この結果、スキャンイン画像デ
ータ部分の内のブロックＡ内の画素のみが非可逆符号化
されてしまい、連続する線画である斜線部のＰＤＬ画像
の内の１画素のみがぼけるため、非常に視覚的に目立つ
画質劣化が生じてしまう。 （３）最大頻度を求めるための演算量が大きい。最悪の
場合には、等号判定演算が２０１６回、大小比較演算が
６３回必要となり、処理の負担が増大するとともに処理
が遅延する。

【００１３】（４）文字画像の輪郭部分の抽出を行って
いるため、抽出部分とＰＤＬ画像部分とが対応しない。
例えば図１９に示すように、文字の輪郭部のみ抽出され
ることとなるが、未抽出の文字の内部部分が存在するた
め、当該の文字画像全体としては可逆符号化の符号化効
率が低下する。また、図１７に示されるグラデーション
のような領域では輪郭部が抽出されないため、ＰＤＬ画
像としては抽出されない。

【００１４】本発明は上記従来の事情に鑑みなされたも
ので、画像データのブロック化やヒストグラムによる判
定を行わずとも、画像データの領域毎にＰＤＬ等のデー
タ処理により作成された画像データか光学的に読み取ら
れたスキャンイン画像かを判定することができる画像処
理装置を提供することを目的とする。また、本発明は、
上記のように画像データを識別することにより、符号化
等の画像処理を画像データの特性に応じて適切に実施さ
せることができる画像処理装置を提供することを目的と
する。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明は、ＰＤＬ画像デ
ータのようにデータ処理により作成した画像データは、
光学的に読み取ったスキャンイン画像データに較べて、
画像データ中の領域内に同一（ほぼ同一）な画素値を有
する画素が存在することに着目してなされたものであ
り、この観点に基づいて、データ処理により作成した画
像データと光学的に読み取ったスキャンイン画像データ
とを識別する。すなわち、本発明に係る画像処理装置で
は、入力された画像データ中から判定すべき注目画素及
びその周囲の参照画素を選択して参照領域を生成し、こ
の参照領域中に注目画素の画素値とほぼ等しい画素値を
有する参照画素が存在するかを検出する。そして、注目
画素の画素値とほぼ等しい画素値を有する参照画素が存
在する場合には参照領域をデータ処理により作成した画
像データと判定する一方、当該参照画像が存在しない場
合には当該参照領域をスキャンイン画像データと判定す
る。

【００１６】また、本発明は、データ処理により作成し
た画像データ中のエッジ、ライン、ソリッド、グラデー
ション、繰り返しパタン等といった描画基本要素（画像
データ領域の画素分布パターン）を検出することによ
り、データ処理により作成した画像データと光学的に読
み取ったスキャンイン画像データとを識別するものであ
る。すなわち、本発明に係る画像処理装置では、複数の
画素から構成される画像データ領域についてほぼ等しい
画素値を有する画素の分布パターンを判定テーブルとし
て予め用意しておく、そして、入力された画像データ中
から判定すべき注目画素及びその周囲の参照画素を選択
して参照領域を生成し、この参照領域中の注目画素の画
素値と参照画素の画素値とを比較して、ほぼ等しい画素
値を有する画素の分布パターンを生成する。そして、生
成された分布パターンと判定テーブルに保持された分布
パターンとを比較して、両分布パターンが一致する場合
には当該参照領域をデータ処理により作成した画像デー
タと判定する。

【００１７】このように、本発明に係る画像処理装置で
は、例えば、画素データとは別に識別情報（例えば、Ｔ
ＡＧデータ）を受け取れない場合でも、ＰＤＬ画像デー
タとスキャンイン画像データとを正確に識別でき、ＰＤ
Ｌ画像データを可逆方式で、スキャンイン画像データを
非可逆方式でそれぞれ符号化することができ、画質と圧
縮効率とを保証することができる。

【００１８】図１には、本発明に係る画像処理装置の概
要を示してある。画像処理装置には、例えばラスタ走査
順に１画素づつ入力される画像データ４から判定すべき
注目画素データおよびその周辺領域にある複数の参照画
素データを集めて参照領域データ５として出力する参照
領域生成手段１と、参照領域データ５に基づいて注目画
素の周辺に同じ画素値を有する参照画素がどのように分
布しているかを検出して画素値分布６として出力する同
一画素分布生成手段２と、画素値分布６に基づいて例え
ばエッジ、ライン、ソリッド、グラデーション、繰り返
しパタン等の描画基本要素を検出し、これらの描画基本
要素が検出された場合には参照領域をＰＤＬ画素データ
であると判定し、検出されなかった場合には参照領域を
スキャンイン画素データであると判定して、判定結果７
を出力する判定手段３と、から構成される。

【００１９】画像データ４は図２に示すように例えば１
ページ分の画像データ１０の中を矢印１１で示した順に
走査した画素データ１２の流れであり、画素値が１つず
つ参照領域生成手段１に入力される。参照領域生成手段
１は、図３に示すように、画像データ４から判定すべき
注目画素１３の画素値、および、その周辺の参照画素
（例えば、周囲の８画素）の画素値を集め、これらをま
とめて９画素の画素値の集まり１４として参照領域デー
タ５を出力する。判定すべき注目画素は、同一画素値分
布生成手段２は、参照領域データ５から注目画素１３と
参照画素の画素値が同じ値であるかどうかを計算し、こ
の計算結果をまとめて同一画素値分布６として出力す
る。図４に示す例では、注目画素の画素値と同一の画素
値を持つ参照画素を”１”に、そうでない参照画素を”
０”に置き換え、置き換えられた画素をまとめて同一画
素値分布６として出力する。

【００２０】判定手段３は、例えば図５に示すように、
描画基本要素の同一画素値パタンを予め用意しておき、
これらのパタンと同一画素値分布６が一致した場合には
対応する参照領域がＰＤＬ画素データであると判定する
一方、一致しない場合にはスキャンイン画素データであ
ると判定する。なお、図５に示す例では、描画基本要素
として、ライン、エッジ、ソリッドのパターンを用意し
てある。ここで、ＰＤＬでよく使用される描画基本要素
であるグラデーションは、局所的に観察すると同一画素
値の画素が一定方向に並ぶラインとして捉えることがで
きる。したがって、図５の例では、ラインのパタン群の
なかに一致するパタンがあれば、対応する判定画素がラ
インであろうとグラデーションであろうと同様にＰＤＬ
画素データと判定される。また、描画基本要素として繰
り返しパターンがある。例えば、ある一定間隔で打たれ
たある大きさのドットパタンであるとか、幾何的な模様
である。これらの繰り返しパタンは、局所的に観察する
と、エッジ、ライン、ソリッドのいずれかで構成されて
いることが多い。ただし、繰り返し周期が短いと周辺に
同一画素値の画素が存在せず、図５に示すパタンに一致
しない場合もあり得るため、このような短い周期の繰り
返しパタンを検出するために、例えば周辺の参照領域を
拡大した図６に示すようなパターンを用意すればよい。

【００２１】

【発明の実施の形態】本発明に係る画像処理装置の一実
施形態を図面を参照して説明する。図７には、本例に係
る画像処理装置の構成を示してある。この画像処理装置
は、画像処理装置全体の制御を行う制御部２０と、外部
からの画像データを入力する画像入力インタフェース２
１と、入力した画像データを一時的に蓄積するバッファ
メモリ２２と、バッファメモリ２２に保持されている画
像データ中の画素を指定するバッファアドレス生成回路
２３と、注目画素を一時的に保持する注目画素格納レジ
スタ２４と、参照画素を一時的に保持する参照画素格納
レジスタ２５と、注目画素と参照画素との画素値を比較
する画素値比較器２６と、画素値の比較結果からＰＤＬ
／スキャンイン判別テーブル２８を参照するための参照
アドレスを生成する判別テーブルアドレス生成回路２７
と、ＰＤＬ画像データかスキャンイン画像データかを判
別するための判別表が記述されたＰＤＬ／スキャンイン
判別テーブル２８と、を備えている。

【００２２】なお、図７中の、３０は制御部２０が画像
入力インタフェース２１からバッファメモリ２２に画像
データの入力があったことを知るための入力信号線、３
１は画像処理装置が外部から画像データを入力するため
の入力信号線、３２はバッファメモリ２２が画像データ
を受け取るための入力信号線、３３はバッファメモリ２
２がバッファアドレス生成回路２３からバッファメモリ
のアドレスを受け取る入力信号線、３４はバッファアド
レス生成回路２３が制御部２０からのバッファアドレス
生成指示を受け取るための入力信号線、３５は注目画素
格納レジスタ２４が注目画素値を受け取るための入力信
号線、３６は注目画素格納レジスタ２４が制御部２０か
らの注目画素値の出力指示を受け取るための入力信号
線、３７は参照画素格納レジスタ２５が参照画素値を受
け取るための入力信号線、３８は参照画素格納レジスタ
２５が制御部２０からの参照画素値の出力指示を受け取
るための入力信号線である。

【００２３】また、図７中の、３９は画素値比較器２６
が注目画素値を受け取るための入力信号線、４０は画素
値比較器２６が参照画素値を受け取るための入力信号
線、４１は画素値比較器２６が制御部２０からの注目画
素値と参照画素値の比較指示を受け取るための入力信号
線、４２は判別テーブルアドレス生成回路２７が画素値
比較結果を受け取るための入力信号線、４３は判別テー
ブルアドレス生成回路２７が制御部２０からの判別テー
ブルアドレス生成指示を受け取るための入力信号線、４
４はＰＤＬ／スキャンイン判別テーブル２８が判別テー
ブルアドレス生成回路２７から判別テーブルのアドレス
を受け取る入力信号線、４５は注目画素を含む参照領域
がＰＤＬ画像データの一部か或いはスキャンイン画像デ
ータの一部かの結果をＰＤＬ／スキャンイン判別テーブ
ル４５が出力する出力信号線である。

【００２４】図８に示すように上記した画素値比較器２
６は、注目画素格納レジスタ２４からの注目画素値Ａ
と、参照画素格納レジスタ２５からの８つの参照画素値
ａ〜ｈとを並列に比較処理するものであり、この比較処
理を行うために８つの比較器４６を有している。なお、
本例では、これら比較器４６は比較結果が等しい場合に
は”１”出力し、異なる場合には”０”を出力する。ま
た、画素値比較器２６は、各並列比較器４６からの入力
を１つの値にまとめて出力するマルチプレクサ４７を有
しており、注目画素値Ａと参照画素値ａとの比較結果が
ＭＳＢに、注目画素値Ａと参照画素値ｈとの比較結果が
ＬＳＢになるように８つの比較結果をビット列にまとめ
て出力する。

【００２５】また、ＰＤＬ／スキャンイン判別テーブル
２８は本例ではＲＯＭにより構成されており、図９に示
すようにＰＤＬ画像データかスキャンイン画像データか
を判別するための判別表が予め記述されている。この判
別表は、０〜２５５のアドレスを入力として、アドレス
に対応した１ビットのデータを出力するものであり、本
例では出力データが”０”ならばスキャンイン画像デー
タ、”１”ならばＰＤＬ画像データとなる。すなわち、
このアドレスはマルチプレクサ４７から出力されるビッ
ト列に対応しており、例えば”１００００００１”とい
うビット列（すなわち、１０進数で１２９）が出力され
たときには判別結果”１”を出力する。

【００２６】次に、上記構成の画像処理装置による処理
動作を説明する。まず、信号線３１を介して外部から画
像データ入力があると、画像入力インタフェース２１が
この画像データを信号線３２を介してバッファメモリ２
２に転送する。なお、本例では、データ転送は画像１ラ
イン単位で行うものとし、フロー制御や排他制御等は考
えないことにする。このデータ転送が１ライン分完了す
る毎に画像入力インタフェース２１は制御部２０に転送
完了を通知し、制御部２０は転送完了を通知されると、
１ライン分のＰＤＬ／スキャンイン判別制御を開始す
る。すなわち、制御部２０はバッファアドレス生成回路
２３に入力信号線３４を介して注目画素と参照画素のア
ドレスを順次出力するように指示する。なお、本例で
は、注目画素は１ラインを左から順次選択するものと
し、参照画素は注目画素の隣接８画素とする。また、最
初と最後のラインは参照画素が不足するので、適当な初
期値かライン自身のコピーを使用する。

【００２７】そして、制御部２０はバッファアドレス生
成回路２３に続いて、注目画素格納レジスタ２４、参照
画素格納レジスタ２５、画素値比較器２６、判別テーブ
ルアドレス生成回路２７、ＰＤＬ／スキャンイン判別テ
ーブル２８を順次動作させる。バッファアドレス生成回
路２３はバッファメモリ２２中の注目画素と参照画素の
アドレスを生成し、これらのアドレスを入力信号線３３
を介してバッファメモリ２２に出力する。バッファメモ
リ２２は指定されたアドレスのデータを信号線３５及び
３７を介して出力する。すなわち、注目画素値は入力信
号線３５を介して注目画素格納レジスタ２４に、参照画
素値は入力信号線３７を介して参照画素格納レジスタ２
５にそれぞれ出力する。なお、バッファメモリ２２の大
きさは参照画素数に応じて決定されるものであり、この
例では３×３画素参照であるので、３ライン分のバッフ
ァでよい。ただし、画像入力インタフェース２１からの
データ入力と注目画素及び参照画素の出力を並列して行
う場合には、４ライン以上のバッファが必要である。

【００２８】注目画素格納レジスタ２４は注目画素値を
記憶保持し、制御部２０から入力信号線３６を介して注
目画素値の出力指示を受け取ることにより、即座に画素
値比較器２６に入力信号線３９を介して注目画素値を出
力する。また、参照画素格納レジスタ２５は参照画素値
を記憶保持し、制御部２０から入力信号線３８を介して
参照画素値の出力指示を受け取ることにより、即座に画
素値比較器２６に入力信号線４０を介して参照画素値を
出力する。なお、参照画素格納レジスタ２５の大きさは
参照画素数に応じて決定されるものであり、この例では
３×３画素参照であるので、９画素から注目画素を除い
た８画素分のレジスタが必要になる。

【００２９】画素値比較器２６は、制御部２０から入力
信号線４１を介して画素値の比較指示を受け取ることに
より、即座に注目画素と参照画素との画素値を比較し、
比較結果を判別テーブルアドレス生成回路２７に入力信
号線４２を介して出力する。この画素値の比較は図８に
示したように、注目画素値Ａと参照画素値ａ〜ｈを並列
処理する。なお、本例では並列比較を行うが、順次比較
を行っても構わない。そして、画素値比較器２６は全て
の比較結果をマルチプレクサで１つのビット列にまとめ
て、判別テーブルアドレス生成回路２７に出力する。判
別テーブルアドレス生成回路２７は、制御部２０から入
力信号線４３を介してアドレス生成指示を受け取ること
により、即座に比較結果からＰＤＬ／スキャンイン判別
テーブルのアドレスを生成し、アドレスをＰＤＬ／スキ
ャンイン判別テーブル２８に入力信号線４４を介して出
力する。そして、ＰＤＬ／スキャンイン判別テーブル２
８は入力されたアドレスに対応するデータを出力信号線
４５を介して外部に出力する。

【００３０】上記した並列比較器４６、マルチプレクサ
４７、及び、判別テーブル２８を用いて行われる、ＰＤ
Ｌ画像データとスキャイン画像データとの判別動作を図
１０を参照して更に詳しく説明する。ある時点での参照
領域に含まれる注目画素及び参照画素が図１０（ａ）に
示すようであった場合、並列比較器４６では注目画素と
同じ画素値”６３”を有する参照画素を”１”、異なる
画素値を有する参照画素を”０”に置き換えて、同図
（ｂ）に示す分布パターンを生成する。そして、マルチ
プレクサ４７のこの分布パターンをまとめ、同図（ｃ）
に示すようにビット列”１００００００１”として出力
する。このビット列は１０進では”１２９”となり、図
９に示した判別テーブル２８のアドレス”１２９”の内
容として、図８（ｄ）に示すように判別結果”１”（す
なわち、ＰＤＬ画像データとしての判別結果）が出力さ
れる。

【００３１】なお、予め用意された画素分布パターンに
よっては、図１１に示すように、参照領域を種々のパタ
ーンのＰＤＬ画像データとして判別することができる。
例えば、同図（ａ）に示す分布パターンは水平方向ライ
ンの画素分布パターンであり、このような分布パターン
については判別テーブル２８からの出力結果が”１”と
なってＰＤＬ画像データであると判別される。また、同
図（ｂ）に示す分布パターンはエッジ部の画素分布パタ
ーンであり、このような分布パターンについても判別テ
ーブル２８からの出力結果が”１”となってＰＤＬ画像
データであると判別される。なお、同図（ｃ）に示す分
布パターンは非ＰＤＬ画像データ部分の画素分布パター
ンであり、このような分布パターンについては判別テー
ブル２８からの出力結果が”０”となってスキャンイン
画像データであると判別される。

【００３２】図１２及び図１３には実際の画像データへ
の適用例を示してある。図１２（ａ）と（ｂ）はそれぞ
れＰＤＬ画像データとスキャンイン画像データへの適用
結果であり、横軸は画素値比較器２６の出力値、縦軸は
頻度を示す。ＰＤＬ画像データにおいては、注目画素値
が多くの参照画素値と一致しているほど頻度が多いこと
が分かる。逆に、スキャンイン画像データにおいては注
目画素値と参照画素値はほとんど一致しないことが分か
る。また、図１３（ａ）と（ｂ）はそれぞれＰＤＬ画像
データとスキャンイン画像データへの適用結果であり、
横軸は判定結果、縦軸は頻度を示す。ＰＤＬ画像データ
においては、画像のほぼ全体がＰＤＬであると判別され
たことが分かる。逆に、スキャンイン画像においては、
画像のほぼ全体がスキャンインであると判別されたこと
が分かる。

【００３３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ラスタ画像データ等の入力画像データから、ＰＤＬ画素
データ等のデータ処理により作成された画像データか、
或いは、光学的の読み取られたスキャンイン画素データ
かを画像データ中の領域毎に判別する処理を、ブロック
単位ではなく画素単位での判定を行うため、複数の色成
分のＰＤＬ画素データ領域を正確に抽出することがで
き、画像データにブロック歪みを生じさせる事態を回避
することができる。また、従来の方式では、１画素当た
り、２０１６／６４＝３１．５回の等号比較演算と、６
３／６４回の大小比較演算が必要であるのに対し、本発
明では、８回の等号比較演算で判別処理を行うことがで
き、演算負担の大幅な低減が図れるとともに演算処理を
迅速化することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明に係る画像処理装置の概要を示す構成
図である。

【図２】 画像データを説明する概念図である。

【図３】 参照領域を説明する概念図である。

【図４】 画素分布パターンへの置き換えを説明する概
念図である。

【図５】 描画基本要素の画素分布パターンを示す概念
図である。

【図６】 描画基本要素の画素分布パターンを示す概念
図である。

【図７】 本発明の一実施例に係る画像処理装置を示す
構成図である。

【図８】 本発明の一実施例に係る画素値比較器を示す
構成図である。

【図９】 本発明の一実施例に係る判別テーブルを示す
構成図である。

【図１０】 ＰＤＬ画像データとスキャンイン画像デー
タとの判別処理を説明する図である。

【図１１】 ＰＤＬ画像データとスキャンイン画像デー
タとの判別処理を説明する図である。

【図１２】 本発明によるＰＤＬ画像データとスキャン
イン画像データとにおける注目画素値と参照画素値の比
較結果を示すグラフである。

【図１３】 本発明によるＰＤＬ画像データとスキャン
イン画像データにおける判別結果を示すグラフである。

【図１４】 従来の画像処理装置の一例を示す構成図で
ある。

【図１５】 従来の画像処理装置の他の一例を示す構成
図である。

【図１６】 従来の文字抽出処理を説明する図である。

【図１７】 グラデーションを説明する図である。

【図１８】 ブロック歪みを説明する図である。

【図１９】 文字輪郭の抽出を説明する図である。

【符号の説明】

１・・・参照領域生成手段、 ２・・・同一画素値分布
生成手段、３・・・判定手段、２４・・・注目画素格納
レジスタ、２５・・・参照画素格納レジスタ、 ２６・
・・画素値比較器、２７・・・判別テーブルアドレス生
成回路、２８・・・ＰＤＬ／スキャンイン判別テーブ
ル、

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宍戸 信次 神奈川県足柄上郡中井町境430 グリー ンテクなかい 富士ゼロックス株式会社 内 (72)発明者 越 裕 神奈川県足柄上郡中井町境430 グリー ンテクなかい 富士ゼロックス株式会社 内 (56)参考文献 特開 平８−153199（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−182503（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−49313（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−318688（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−94271（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−344330（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−123273（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−121656（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−207363（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G06T 7/00 - 7/60 H04N 1/40 H04N 1/413

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入力された画像データの領域について、
   データ処理により作成した画像データであるか光学的に
   読み取ったスキャンイン画像データであるかを識別する
   画像処理装置であって、 入力された画像データ中から判定すべき注目画素及びそ
   の周囲の参照画素を選択して参照領域を生成する手段
   と、 参照領域中に注目画素の画素値とほぼ等しい画素値を有
   する参照画素が存在するかを検出する手段と、 注目画素の画素値とほぼ等しい画素値を有する参照画素
   が存在する場合には参照領域をデータ処理により作成し
   た画像データと判定する一方、当該参照画像が存在しな
   い場合には当該参照領域をスキャンイン画像データと判
   定する手段と、 を備えたことを特徴とする画像処理装置。
2. 【請求項２】 入力された画像データの領域について、
   データ処理により作成した画像データであるか光学的に
   読み取ったスキャンイン画像データであるかを識別する
   画像処理装置であって、 複数の画素から構成される画像データ領域についてほぼ
   等しい画素値を有する画素の分布パターンを保持した判
   定テーブルと、 入力された画像データ中から判定すべき注目画素及びそ
   の周囲の参照画素を選択して参照領域を生成する手段
   と、 参照領域中の注目画素の画素値と参照画素の画素値とを
   比較して、ほぼ等しい画素値を有する画素の分布パター
   ンを生成する手段と、 生成された分布パターンと判定テーブルに保持された分
   布パターンとを比較して、両分布パターンが一致する場
   合には当該参照領域をデータ処理により作成した画像デ
   ータと判定する手段と、 を備えたことを特徴とする画像処理装置。
3. 【請求項３】 請求項２に記載の画像処理装置におい
   て、 前記判定テーブルにはデータ処理により作成した画像デ
   ータ中の種々な画像構成部分の画素分布パターンが保持
   されていることを特徴とする画像処理装置。