JP3510890B2 - シクロヘキサンジカルボン酸エステルの低圧製造方法 - Google Patents
シクロヘキサンジカルボン酸エステルの低圧製造方法Info
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Description
低圧接触水素化によるシクロヘキサンジカルボン酸ジア
ルキルの製造方法に関する。更に詳しくは、本発明は、
一酸化炭素の生成/蓄積が抑制され、貴金属触媒の活性
を維持するベンゼンジカルボン酸ジアルキルの低圧接触
水素化に関する。
1,4−シクロヘキサンジカルボン酸ジメチルが30年間に
亘って工業的規模で生産されてきている。このジオール
は縮合ポリマー、特にポリエステルの製造の際にモノマ
ーとして広く使用されている。シクロヘキサンジカルボ
ン酸ジメチルはまた、例えば被覆組成物の配合に使用さ
れるポリエステル樹脂の製造に有用な価値のある化学中
間体である。
転形式を使用する1,4−シクロヘキサンジカルボン酸ジ
メチル及び1,4−シクロヘキサンジメタノールの製造が
米国特許第3,334,149号に記載されている。この特許に
は、溶融テレフタル酸ジメチルを、細流床(trickle be
d)運転と呼ばれる運転形式で担持されたパラジウム触
媒床の上及び中を流す連続方法が記載されている。この
記載されている連続方法では、例えば、346バール絶対
圧(34,600kPa)より高い高圧を使用することが必要で
あり、1,4−シクロヘキサンジカルボン酸ジメチルへの
テレフタル酸ジメチルの水素化でアルミナ担持パラジウ
ム触媒を使用している。使用する特定のアルミナ担持パ
ラジウムは、3mmチップの形であり、これにはアルミナ
に沈着された0.5重量%のパラジウムが含まれており、
その結晶相はバイヤライト及びベーマイトの混合物であ
る。
使用することを必要とする化学プロセスは、増大する運
転費用並びに高圧規格反応器及び圧縮機を含むことを必
要とする装置の費用のために本来高価であることが明ら
かである。しかしながら、1,4−シクロヘキサンジカル
ボン酸ジメチルへのテレフタル酸ジメチルの水素化を上
記のアルミナ担持パラジウム触媒を使用して135バール
絶対圧(13,500kPa)より低い圧力で行うとき、工業的
に受け入れられる水素化速度を得る及び/又は維持する
ことができない。例えば、125バール絶対圧(12,500kP
a)で運転するとき、水素化速度は典型的に、約410バー
ル絶対圧(41,000kPa)の圧力で得られる速度よりも著
しく低い。ある場合には、水素化反応はゼロの速度まで
低下することがある。水素化速度が低下するのは、本発
明者等が見出した、より低い圧力で水素化する間の一酸
化炭素の発生に関係するパラジウム触媒の低下した活性
のためである。比較的低圧、例えば、175バール絶対圧
(17,500kPa)より低い圧力で水素化すると、多分ジメ
チルエステルから遊離したメタノールの分解により一酸
化炭素が生成することになることがわかった。一酸化炭
素生成及び/又は触媒失活の問題は、水素化を米国特許
第3,334,149号に記載されている高圧で行うときには生
じない。接触水素化方法で使用する水素ガス中に一酸化
炭素が存在すると、このような方法に対して有害である
ことが知られている。しかしながら、一酸化炭素の生成
及び百万分の一部(ppm)量の一酸化炭素に対する上記
アルミナ担持パラジウム触媒の著るしい感度は驚くべき
ことである。
及び3〜200barの圧力で細流、フラッディング又はガス
相操作様式で芳香族カルボン酸エステルの対応脂環カル
ボン酸エステルへの水素化を記載している。EP0005737A
lのプロセスは、ニッケル、ルテニウム、ロジウム、パ
ラジウム又はこれらの混合物を担体物質、好ましくはリ
チウム−アルミニウムスピネル上に担持した触媒の固定
床を用いている。EP0005737Alは水素添加プロセスにお
いて一酸化炭素が問題であることは開示しておらず、担
持パラジウム触媒を用いてモノカルボン酸のメチルエス
テルを水素添加する単一の実験(実験No.9)を開示して
いる。実験No.9に与えられた詳細は一酸化炭素が問題を
生ずるか否かを定めるのには不十分である。しかし、EP
0005737Alは一酸化炭素の濃度を制御又は、抑えて担持
パラジウム触媒の活性を維持しながら、穏便な圧力及び
容易に入手可能な触媒を用いてジメチルベンゼンジカル
ボキシレートを接触水添して対応ジメチルシクロヘキサ
ンジカルボキシレートにする、本発明の課題も解決手段
も開示していない。
圧力及び容易に入手できる触媒を使用して対応するシク
ロヘキサンジカルボン酸ジメチルに触媒的に水素化する
方法に関する。本発明は、 (1)水素ガス及びシクロヘキサンジカルボン酸ジメチ
ル生成物と対応するベンゼンジカルボン酸ジメチル反応
剤との液状混合物を、少なくとも1個のアルミナ担持パ
ラジウム水素化触媒の固定床を含む水素化帯域に連続的
に供給する工程、及び (2)水素化帯域から水素ガス及びシクロヘキサンジカ
ルボン酸ジメチル生成物からなる液状生成物を連続的に
取り出す工程 からなり、10〜205バール絶対圧(1,000〜20,500kPa)
の圧力及び150〜230℃の温度でベンゼンジカルボン酸ジ
メチルをシクロヘキサンジカルボン酸ジメチルに水素化
し、水素化帯域から取り出す水素ガス中の一酸化炭素の
濃度を200体積部/百万(ppmv)より低く維持する、シ
クロヘキサンジカルボン酸ジメチルの連続製造方法を提
供する。本発明の新規な方法は99%以上の転化率及び10
00g/L−時以上の空時収率(触媒の体積基準)でシクロ
ヘキサンジカルボン酸ジメチルエステルを製造するため
に使用することができる。
又は変えて、プロセスの水素化速度を著しく低下させな
いレベルに一酸化炭素濃度を維持することができる。即
ち、一酸化炭素の濃度は、単にプロセスからの排ガスの
全てを排出し、本質的に一酸化炭素を含まない新しい水
素のみを供給することによって低レベルに維持すること
ができる。しかしながら、この運転形式は、主として水
素及び少量の、例えば500ppmvの一酸化炭素を含むオフ
ガスを他の化学プロセスに送り、そこで使用することが
できる場合又はオフガスを精製して一酸化炭素を除去す
ることができる場合のみ、経済的に実施可能である。全
ての又は実質的に全ての水素を水素化プロセスからパー
ジすることはしばしば実際的ではないので、一酸化炭素
のレベルを調節するためにシステムからパージできるガ
スの量は、水素化プロセスに供給される新しい水素の量
の約10体積%以下である。
形式での運転によって抑制することができる。触媒部位
への水素の物質移動は、所望のものよりも少ない溶解水
素濃度を有することを避けるために十分に高くなくては
ならない。触媒床を通過するガス速度を上昇させ、水素
が拡散しなくてはならない触媒の周りの液体を減少させ
る反応器内の液体ホールドアップを減少させるために、
水素の循環流を使用することができる。水素の気体空間
速度(GHSV)は通常、少なくとも2、好ましくは約3〜
10の範囲内にしなくてはならない。満足できる又は最適
結果を与える具体的な水素GHSVは、シクロヘキサンジカ
ルボン酸ジメチル生成物及びベンゼンジカルボン酸ジメ
チル反応剤からなる液相の水素化帯域への供給速度並び
に使用する温度及び圧力のような他のプロセスパラメー
ターに並びに触媒の特性に依存する。
ン酸ジメチル反応剤を不活性希釈剤としてのシクロヘキ
サンジカルボン酸ジメチル生成物と共に供給することに
よって適度にすることができる。ベンゼンジカルボン酸
ジメチルのシクロヘキサンジカルボン酸ジメチルに対す
る重量比は1:50〜1:5の範囲内であってよいが、1:20〜
1:10の重量比が好ましい。シクロヘキサンジカルボン酸
ジメチル不活性希釈剤は、生成物排出液の循環流の形で
与えることができる。この循環流は、水素化帯域の温度
を調節するために循環流の温度を上昇させるか又はもっ
と普通には低下させるために熱交換器を通過させること
ができる。工業的運転に於いて、生成物排出液の80〜95
重量%を、新しいベンゼンジカルボン酸ジメチル反応剤
と一緒にした後で水素化帯域に循環させることができ
る。
クロヘキサンジカルボン酸エステル生成物に実質的に完
全に転化する結果になるような速度で水素化帯域に供給
しなくてはならない。反応剤の不完全な転化によって、
触媒床及び/又は出て行く反応物内にホットスポットを
形成させるかもしれない。水素化帯域に供給されるベン
ゼンジカルボン酸ジメチル反応剤の液体空間速度(LHS
V)は典型的に0.3〜5、好ましくは0.5〜2である。供
給する反応剤についての最も適したLHSVは、水素の流速
及び/又は純度に依存し、それは前記のように使用する
具体的な温度及び圧力に依存する。
行うことができる。一般的に、温度が高いほど一酸化炭
素の形成に有利であり、それ故、この範囲の高い方の温
度を使用すると、例えば、全ての又は実質的に全てのプ
ロセスの水素排気をパージすることによる、水素化帯域
から一酸化炭素を除去するための手段が必要である。本
発明者等は例えば、全ての他の運転条件を一定に保持し
たとき、第一水素化反応器への供給温度を183℃から174
℃に低下させると、(i)導管34からの生成物流のDMT
含有量及び(ii)水素パージガス中の一酸化炭素濃度が
減少する結果になることを示した。プロセスからパージ
したオフガスが供給する新しい水素の量の30体積%以下
であるとき、プロセスを好ましくは160〜200℃の温度範
囲内で運転する。
0,500kPa)の圧力範囲内で行うことができる。この範囲
より低い圧力では、水素化速度は小さくて受容できない
生産速度になり、他方205バール絶対圧(20,500kPa)よ
りも高い圧力では、本発明により提供される利益及び利
点はあまり顕著ではない。この水素化は好ましくは40〜
140バール絶対圧(4,000〜14,000kPa)の範囲内の圧力
で行われる。水素化帯域から除去される水素ガス中の一
酸化炭素の濃度を100ppmvより小さく維持することも好
ましい。本発明の改良方法は、対応するベンゼンジカル
ボン酸エステル異性体の水素化により1,2−、1,3−及び
1,4−シクロヘキサンジカルボン酸エステルを製造する
ために使用することができる。1,3−及び特に1,4−異性
体がこの方法の最も重要な生成物である。
たパラジウム触媒、特にパラジウムが触媒の0.1〜5.0重
量%からなるアルミナ担持パラジウム触媒からなる。好
ましいアルミナ担持パラジウム触媒は下記の特徴、即
ち、 (1)パラジウムが触媒の0.5〜2.0重量%からなる、 (2)パラジウム分散物が少なくとも20%である、 (3)パラジウムの少なくとも90重量%が、アルミナの
表面から200ミクロンより小さい深さでアルミナ上に配
置されている、そして (4)アルミナの結晶相がアルファ、シータ、デルタ、
ガンマ、イータ又はこれらの混合物である を有する。
の窒素BET表面積は20〜300平方メートル/グラム(m2/
g)の範囲内であり、30〜150m2/gの範囲が好ましい。BE
T表面積が結晶相及びカ焼履歴の関数であり、適当な酸
化物相を維持しながらできるだけ高くすべきであること
は当該技術分野でよく知られている。前記の特徴を有す
る触媒は当業者に公知の方法を使用する従来の含浸法又
は沈着法によって調製することができる。この触媒はペ
レット、球、押出物等の形でこの水素化方法で使用する
ことができる。具体的な形状は、例えば、反応剤が通過
する触媒の固定床を用いる連続運転に於いて、触媒形状
が反応器を通して供給される液体の過剰のチャンネル形
成にならない限り限定的ではない。好ましくは、触媒の
表面積:体積比は少なくとも500であり、更に好ましく
は1500より大きい。
流れ図である。当業者は図面に示した具体的な装置を変
えることによってこの水素化方法を運転することができ
ることを認めるであろう。
ってベンゼンジカルボン酸ジメチル反応剤及びシクロヘ
キサンジカルボン酸ジメチル希釈剤の液体混合物を供給
し、水素を導管16及び18によって反応器10に供給する。
反応器10は図面に示したプロセスシステムの第一水素化
帯域から構成され、1個又はそれ以上のアルミナ担持パ
ラジウム水素化触媒の固定床が入っている一般的にカラ
ム状の圧力容器であってよい。液状生成物及び水素ガス
の一部を容器10の底から導管20によって取り出し、熱交
換器22を通過させて、導管24及び14の手段により反応器
10の頂部又は上部に循環させる。熱交換器22は循環流の
温度を上昇させるか又はより典型的に低下させるために
使用され、そうしてその中には入っている触媒床又は触
媒床群の長さに亘る温度勾配を含む、第一水素化反応器
内の温度の調節の助けとなる。
10の方に供給されるベンゼンジカルボン酸ジメチル反応
剤と一緒になるシクロヘキサンジカルボン酸エステル希
釈剤の全てを与える。循環液体は典型的に反応器10の全
排出液の80〜90重量%からなっている。反応器10に供給
されるベンゼンジカルボン酸ジメチル反応剤の転化度は
普通92〜99モル%、好ましくは95〜98モル%である。
から導管26によって取り出し、熱交換器28を通過させ、
導管30によって反応器32の頂部又は上部に供給する。こ
の場合、水素化方法に供給されるベンゼンジカルボン酸
ジメチル反応剤の全体転化は少なくとも99.9モル%まで
増加される。反応器32は図面に示したプロセスシステム
の第二水素化帯域から構成され、1個又はそれ以上のア
ルミナ担持パラジウム水素化触媒の固定床が入っている
一般的にカラム状の圧力容器であってよい。シクロヘキ
サンジカルボン酸ジメチル生成物を反応器32から導管34
の手段によって取り出す。この生成物は通常少なくとも
99モル%の純度を有している。
器10に循環させる。このガス循環流の約30〜100体積%
を導管38を通してプロセスからパージして、この流れの
一酸化炭素を200ppmvより少なく維持する助けとする。
触媒床内での一酸化炭素の生成/蓄積を抑制するため
に、水素ガスのガス空間速度は2〜10の範囲内である。
導管36を介して供給される循環水素の導管16を介して供
給される新しい水素に対する体積比は普通約0.1:1〜1:1
の範囲内である。
とも2個の水素化帯域を用いて行われる。第一帯域及び
第二帯域は全部で2個又はそれ以上の反応器からなって
いる。新しいベンゼンジカルボン酸ジメチル反応剤とシ
クロヘキサンジカルボン酸ジメチル希釈剤との混合物
を、新しい水素及び循環水素の混合物と一緒に第一水素
化帯域に供給する。第一水素化帯域で、ベンゼンジカル
ボン酸ジメチル反応剤の約92〜99モル%、好ましくは95
〜98モル%がシクロヘキサンジカルボン酸ジメチル生成
物に転化される。第一水素化帯域から出る排出液の約80
〜95重量%が循環され、新しいベンゼンジカルボン酸ジ
メチル反応剤と一緒に第一帯域に供給される。
分)及びオフガスを第二水素化帯域に供給し、そこでベ
ンゼンジカルボン酸ジメチル反応剤のシクロヘキサンジ
カルボン酸ジメチル生成物への全体転化を少なくとも9
9.0モル%、好ましくは99.9モル%にまで増加させる。
第二水素化帯域からの水素を含む排蒸気を循環し、第一
水素化帯域に供給する。通常、この循環流の一部、例え
ば5〜30体積%を水素化システムからパージして、第一
帯域に供給される循環流中の一酸化炭素濃度を200ppmv
より低く維持する。
成物と対応するベンゼンジカルボン酸ジメチル反応剤と
の液状混合物を、そこでベンゼンジカルボン酸ジメチル
がシクロヘキサンジカルボン酸ジメチルに水素化され
る、少なくとも1個のアルミナ担持パラジウム水素化触
媒の固定床を含む第一水素化帯域に連続的に供給する工
程、 II.第一水素化帯域から、水素ガス並びにシクロヘキサ
ンジカルボン酸ジメチル生成物及び未反応ベンゼンジカ
ルボン酸ジメチルからなる液状生成物を連続的に取り出
す工程 III.工程IIからの液状生成物の80〜95重量%を第一水素
化帯域に連続的に循環する工程、 IV.工程IIからの循環しない液状生成物及び水素ガス
を、そこで未反応のベンゼンジカルボン酸ジメチルがシ
クロヘキサンジカルボン酸ジメチルに水素化される第二
水素化帯域に連続的に供給する工程、 V.第二水素化帯域から、水素ガス及び少なくとも99モル
%のベンゼンジカルボン酸ジメチル転化率でシクロヘキ
サンジカルボン酸ジメチル生成物からなる液状生成物を
連続的に取り出す工程、 VI.工程Vからの水素ガスの5〜30体積%を水素化プロ
セスからパージする工程、並びに VII.プロセスからパージしない工程Vからの水素ガスを
第一水素化帯域に循環させる工程 からなり、水素化を10〜205バール絶対圧(1,000〜20,5
00kPa)の圧力及び150〜230℃の温度で行い、水素化帯
域から取り出す水素ガス中の一酸化炭素の濃度を200体
積部/百万(ppmv)より低く、好ましくは100ppmvより
低く維持する、シクロヘキサンジカルボン酸ジメチルの
製造方法に関する。
て更に示す。下記の実験例に於いて、体積部により特定
される水素の量以外は、物質の量は重量部により特定さ
れる。この連続実験は図面に示したプロセスシステムを
使用して行った。第一水素化反応器10にはアルミナに担
持された0.5%パラジウムからなる水素化触媒12部が入
っており、第二反応器32には同じ水素化触媒6部が入っ
ていた。
ジメチル、DMT)10重量%と1,4−シクロヘキサンジカル
ボン酸ジメチル(DMCD)90重量%との混合物を、反応器
10に96部/時の速度及び186℃の温度で供給した。導管1
6によって供給される新しい水素約33体積%及び導管36
によって供給される循環水素約67%からなる水素ガス
を、導管18を介して0.9部/時の速度で反応器10に供給
した。水素供給速度は反応器10及び32の両方の中の触媒
の体積基準で約6.8のGHSVを表した。反応器10の排出液
の約90重量%を導管20、24及び14によって循環させた。
反応器10及び32内の圧力を約124バール絶対圧(12,400k
Pa)±1バール(100kPa)に維持した。
管26、熱交換器28及び導管30によって輸送し、第二水素
化反応器32に194℃の温度で供給した。約0.2重量%より
少ないDMTを含有するDMCDを導管34によって9.9部/時の
速度で反応器32から取り出した。反応器32の水素排出ガ
スを導管36及び18によって第一水素化反応器10に循環さ
せた。水素ガスを導管38によって0.03部/時の速度でプ
ロセスからパージした。
のシステムは供給した液体及び反応器10から取り出した
液体の温度が実質的に同じままであったという事実によ
って証明されるように安定であった。反応器10へのDMT
の供給を10.9部/時に増加させたとき、反応器10から取
り出した液体の温度は上昇するのではなく低下し、時間
と共に低下し続け、反応器10内の反応速度が低下したこ
とを示した。この低下した反応速度は、生成物中のDMT
の量の増加及び導管20の循環流内のDMTの13重量%の増
加によって更に確定された。DMT供給速度を8.6部/時に
低下させたとき、循環液体及び生成物のDMT含有量によ
って証明されるようにシステムは正常まで戻った。
(ii)導管38を介する水素パージ速度を0.3部/時にし
た以外は、例1に記載したようにしてプロセスを運転し
た。即ち、新しい水素50体積%及び循環水素50体積%か
らなる水素を、導管18を通して1.2部/時の速度で反応
器10に供給した。これらのプロセスパラメーターを使用
することによって、プロセスの円滑で定常状態の運転に
なった。水素ガスパージの量を増加させると、触媒床で
の一酸化炭素の生成/蓄積によって起こされる反応速度
の低下を生ずることなく、DMT添加の速度を上昇させる
ことが可能であった。
導管38を通ってパージされるガス中の一酸化炭素濃度は
74ppmvから100ppmvを越えるまで増加し、一酸化炭素が
平衡状態ではないこと及びより高いパージ速度は一酸化
炭素の濃度を減少させ、より安定な運転を与えることを
示した。
(ii)導管38を介する水素パージ速度を0.3部/時にし
た以外は、例1に記載したようにしてプロセスを運転し
た。即ち、新しい水素100体積%及び循環水素0体積%
からなる水素を、導管18を通して約0.6部/時の速度で
反応器10に供給した。ライン20及び26によって輸送され
る物質のDMT含有量は6.5重量%であった。導管18内の水
素ガスの速度を、反応器10への水素供給速度が1.2部/
時まで上昇することになるまで上昇させた。ライン20及
び26内の液体のDMT含有量は2.9重量%まで減少し、導管
38を介してパージされる水素ガスの一酸化炭素含有量は
100ppmvより高いところから58ppmvまで減少した。この
プロセス修正は水素ガスの流速を上昇させることによっ
て与えられる利点を示している。
したが、本発明の精神及び範囲内で変形及び修正が有効
であることはいうまでもない。
Claims (5)
- 【請求項1】(1)水素ガス及びシクロヘキサンジカル
ボン酸ジメチル生成物と対応するベンゼンジカルボン酸
ジメチル反応剤との液状混合物を、少なくとも1個のア
ルミナ担持パラジウム水素化触媒の固定床を含む水素化
帯域に連続的に供給する工程、並びに (2)水素化帯域から水素ガス及びシクロヘキサンジカ
ルボン酸ジメチル生成物からなる液状生成物を連続的に
取り出す工程 を含んでなり、10〜205バール絶対圧(1,000〜20,500kP
a)の圧力及び150〜230℃の温度でベンゼンジカルボン
酸ジメチルをシクロヘキサンジカルボン酸ジメチルに水
素化し、水素化帯域から取り出す水素ガス中の一酸化炭
素の濃度を200体積部/百万(ppmv)より低く維持す
る、シクロヘキサンジカルボン酸ジメチルの連続製造方
法。 - 【請求項2】水素化帯域を通過する水素の気体空間速度
が少なくとも2である請求の範囲第1項記載の方法。 - 【請求項3】水素化帯域を通過する水素の気体空間速度
が少なくとも2であり、ベンゼンジカルボン酸ジメチル
のシクロヘキサンジカルボン酸ジメチルに対する重量化
が1:20〜1:10の範囲内である請求の範囲第1項記載の方
法。 - 【請求項4】10〜205バール絶対圧(1,000〜20,500kP
a)の圧力及び150〜230℃の温度で、少なくとも99モル
%の転化率でベンゼンジカルボン酸ジメチルをシクロヘ
キサンジカルボン酸ジメチルに水素化し、水素化帯域か
ら取り出す水素ガス中の一酸化炭素の濃度を100体積部
/百万より低く維持し、水素化帯域を通過する水素の気
体空間速度が3〜10であり、ベンゼンジカルボン酸ジメ
チルのシクロヘキサンジカルボン酸ジメチルに対する重
量比が1:20〜1:10の範囲内であり、そしてベンゼンジカ
ルボン酸ジメチルの液体空間速度が0.3〜5である請求
の範囲第1項記載の方法。 - 【請求項5】I.水素ガス及びシクロヘキサンジカルボン
酸ジメチル生成物と対応するベンゼンジカルボン酸ジメ
チル反応剤との液状混合物を、そこでベンゼンジカルボ
ン酸ジメチルがシクロヘキサンジカルボン酸ジメチルに
水素化される、少なくとも1個のアルミナ担持パラジウ
ム水素化触媒の固定床を含む第一水素化帯域に連続的に
供給する工程、 II.第一水素化帯域から、水素ガス並びにシクロヘキサ
ンジカルボン酸ジメチル生成物及び未反応ベンゼンジカ
ルボン酸ジメチルからなる液状生成物を連続的に取り出
す工程 III.工程IIからの液状生成物の80〜95重量%を第一水素
化帯域に連続的に循環する工程、 IV.工程IIからの循環しない液状生成物及び水素ガス
を、そこで未反応のベンゼンジカルボン酸ジメチルがシ
クロヘキサンジカルボン酸ジメチルに水素化される第二
水素化帯域に連続的に供給する工程、 V.第二水素化帯域から、水素ガス及び少なくとも99モル
%の純度を有するシクロヘキサンジカルボン酸ジメチル
生成物からなる液状生成物を連続的に取り出す工程、 VI.工程Vからの水素ガスの5〜30体積%を水素化プロ
セスからパージする工程、並びに VII.プロセスからパージしない工程Vからの水素ガスを
第一水素化帯域に循環させる工程 を含んでなり、水素化を10〜205バール絶対圧(1,000〜
20,500kPa)の圧力及び150〜230℃の温度で行い、水素
化帯域から取り出す水素ガス中の一酸化炭素の濃度を20
0体積部/百万(ppmv)より低く維持する、シクロヘキ
サンジカルボン酸ジメチルの製造方法。
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