JP3457549B2 - Icパッケージ用トレイ - Google Patents

Icパッケージ用トレイ

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JP3457549B2 JP28093298A JP28093298A JP3457549B2 JP 3457549 B2 JP3457549 B2 JP 3457549B2 JP 28093298 A JP28093298 A JP 28093298A JP 28093298 A JP28093298 A JP 28093298A JP 3457549 B2 JP3457549 B2 JP 3457549B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パッケージ収容部
にICパッケージを収容保持し、搬送や出荷などの際に
ICパッケージを保護するICパッケージ用トレイに関
するものである。
【0002】
【従来の技術】組み立てが完了したICパッケージは、
搬送や出荷の際に破損しないように、合成樹脂製のトレ
イに形成されているパッケージ収容部に一個ずつ収容さ
れる。このようなトレイは、通常、単一の基板上に同一
形状のパッケージ収容部を複数個整列配備した構造であ
る。組み立てが完了してトレイのパッケージ収容部に収
容されたICパッケージは、トレイに収容した状態のま
ま、各種試験、検査工程に搬送される。そして、試験や
検査工程を終えて完成品となったICパッケージは、ト
レイに収容された状態のまま防湿梱包され、ユーザーに
向けて出荷される。
【0003】これまでこのようなトレイは、1種類の限
られたICパッケージ専用として、ICパッケージの設
計時にその都度、パッケージ収容部の形状や寸法を設計
していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、近年では、I
Cパッケージを搭載する機器の多様化等に伴い、ICパ
ッケージの多品種少量化が進み、形状や寸法が異なる他
種類のICパッケージが生産されるようになっている。
そのため、従来のようにICパッケージ毎に専用のトレ
イを準備する方法では、ICパッケージの種類分だけ多
種のトレイを設計・製造しなければならず、トレイ用の
金型の設計・制作費の増大による製造コストの増大や、
保管場所や管理種目の増大による運用コストの増大とい
う問題が生じた。
【0005】前記不具合を解消するため、特開平5−3
30584号や特開平10−79419号に多段式のパ
ッケージ収容部も提供されている。しかしながら、収容
するICパッケージが下面にボール形のバンプ電極を配
設したBGA(Ball Grid Array)パッ
ケージなどでは、バンプ電極がパッケージ収容部の底面
との接触によって汚損し、その結果、パッケージの実装
時にソルダビリティの劣化等の不都合を招く虞もあっ
た。
【0006】本発明は前記事情に鑑み案出されたもので
あって、本発明の目的は、一種類のICパッケージ用ト
レイを寸法の異なる複数種のICパッケージに共用でき
て、ICパッケージ用トレイの種類の低減により、トレ
イの設計、製造、管理に要するコストを低減させること
ができ、且つ、収容するICパッケージが下面にバンプ
電極を持つ構造の場合でも、バンプ電極の汚損を防止し
て、パッケージの実装時にソルダビリティの劣化等の不
都合の発生を防止することのできるICパッケージ用ト
レイを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明のICパッケージ用トレイは、単一の基板上
に複数個のパッケージ収容部が縦横に整列装備され、前
記各パッケージ収容部は、内周部をパッケージ収容部の
中央に向かって下る階段状に形成することで、矩形枠状
に延在する側面と底面により開口寸法の異なる収容空間
が開口寸法の大きい順に基板の上面側から三段以上の複
数段に連続して形成され、且つ、上下に隣接する収容空
間相互間においては、下層の収容空間の上端に連なる上
層の収容空間の底面が、収容するICパッケージの下面
のバンプ電極形成領域の外側に位置する電極非装備領域
を支えると共に、前記バンプ電極形成領域に突設される
バンプ電極が下層の収容空間内に収容空間の側面や底面
と非接触状態で収まるように、各収容空間の縦横及び深
さ寸法が設定され、前記各パッケージ収容部の開口寸法
の異なる各収容空間に、寸法の異なる複数種のICパッ
ケージがそれぞれ収容される、ことを特徴とする。
【0008】本発明では、各パッケージ収容部内には開
口寸法の異なる収容空間が三段以上の階段状に連続形成
されていて、収容するICパッケージが下面にバンプ電
極を有する構造の場合、三段以上に連続する収容空間の
内の上下に隣接する二段分の収容空間を使ってパッケー
ジを収容する。その場合に、収容したパッケージは、上
層の収容空間における底面でICパッケージの下面のバ
ンプ電極形成領域の外側の電極非装備領域のみを支え、
バンプ電極形成領域に形成されるバンプ電極は、非接触
状態で下層の収容空間に収容される。即ち、パッケージ
収容部の内壁に対してバンプ電極が非接触状態となるよ
うにICパッケージの支持するため、パッケージ収容部
の内面との接触によるバンプ電極の汚損を防止すること
ができ、パッケージの実装時にソルダビリティの劣化等
の不都合の発生を防止することができる。また、各パッ
ケージ収容部内には開口寸法の異なる収容空間が三段以
上の階段状に連続形成されていて、ICパッケージの収
容に使う収容空間の選択を変えることで、一種類のIC
パッケージ用トレイを寸法の異なる多種のICパッケー
ジに共用できて、トレイの種類の低減により、トレイの
設計、製造、管理に要するコストを低減させることがで
きる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図1乃至図3に基づいて本
発明の実施の形態を説明する。図1は実施の形態に係る
ICパッケージ用トレイの平面図、図2は図1のA部の
拡大図、図3は図2のB−B線に沿う断面図である。
【0010】この実施の形態のICパッケージ用トレイ
2は、合成樹脂による一体成形品で、単一の矩形の基板
4上に縦横に行列状に複数個のパッケージ収容部6が整
列装備されている。そして、前記基板4は、外周の一部
(詳しくは、4個の角部の内の一つ)に、基板4の向き
を判別するための面取り部8を設けている。
【0011】各パッケージ収容部6は、図2及び図3に
示すように、内周部600を収容部中央に向かって下る
階段状に形成することで、開口寸法の異なる矩形の4個
の収容空間602,604,606,608が、開口寸
法の大きい順に基板4の上面402側にから4段に連続
形成された構造とされている。詳細には、前記内周部6
00は、上下に延在するとともに矩形の輪郭に沿って延
在する側面6021、6041、6061、6081
と、各側面6021、6041、6061の下端に接続
され水平に矩形の輪郭に沿って延在する底面6022,
6042,6062とで構成され、各底面6022,6
042,6062上で各側面6021、6041、60
42の内側により前記3個の収容空間602,604,
606が形成され、底面6062の下方で側面6081
の内側により前記収容空間608形成されている。そし
て、最下層の収容空間608は、基板4の下面側に貫通
して形成されている。
【0012】各パッケージ収容部6において、上下に隣
接する収容空間相互間においては、下層の収容空間の上
端に連なる上層の収容空間の底面が、収容するICパッ
ケージの下面のバンプ電極形成領域の外側に位置する電
極非装備領域を支えると共に、前記バンプ電極形成領域
に突設されるボール形のバンプ電極が下層の収容空間内
に収容空間の側面や底面と非接触状態で収まるように、
各収容空間の縦横の寸法及び深さ寸法を設定している。
【0013】例えば、最上位の収容空間602とその直
下の収容空間604との間では、下層の収容空間604
の上端に連なる上層の収容空間602の底面6022
が、収容するICパッケージ10の下面1002のバン
プ電極形成領域10S1の外側に位置する電極非装備領
域10S2,10S3を支えると共に、前記バンプ電極
形成領域10S1に突設されるボール形のバンプ電極1
004が下層の収容空間604内にその収容空間604
の側面6041や底面6042と非接触状態で収まるよ
うに、各収容空間602,604の縦横の寸法及び深さ
寸法602t,604tを設定している。
【0014】また、例えば、上から3番目の収容空間6
06とその直下の収容空間608との間では、下層の収
容空間608の上端に連なる上層の収容空間606の底
面6062が、収容するICパッケージ12の下面12
02のバンプ電極形成領域12S1の外側に位置する電
極非装備領域12S2,12S3を支えると共に、前記
バンプ電極形成領域12S1に突設されるボール形のバ
ンプ電極1204が下層の収容空間608内にその収容
空間608の側面6081や底面(最下層の収容空間の
場合は存在しない)と非接触状態で収まるように、各収
容空間606,608の縦横の寸法及び深さ寸法606
t,608tを設定している。
【0015】本実施の形態では、各パッケージ収容部6
内には開口寸法の異なる収容空間602,604,60
6,608が4段の階段状に連続形成されていて、収容
するICパッケージ10,12が下面にバンプ電極10
04,1204を有する構造の場合、上下に隣接する二
段分の収容空間を使ってこれらのパッケージ10,12
を収容する。その場合に、収容したパッケージ10,1
2は、いずれも、上層の収容空間における底面でパッケ
ージ下面の電極非装備領域10S2,10S3,12S
2,12S3のみを支え、バンプ電極形成領域10S
1,12S1に形成されるバンプ電極1004,120
4は、非接触状態で下層の収容空間に収容される。即
ち、パッケージ収容部6の内壁に対してバンプ電極10
04,1204が非接触状態となるようにICパッケー
ジ10の支持するため、パッケージ収容部6の内面との
接触によるバンプ電極1004,1204の汚損を防止
することができ、パッケージ10,12の実装時にソル
ダビリティの劣化等の不都合の発生を防止することがで
きる。
【0016】また、各パッケージ収容部6内には開口寸
法の異なる収容空間が4段の階段状に連続形成されてい
て、ICパッケージ10の収容に使う収容空間の選択を
変えることで、一種類のICパッケージ用トレイ2を寸
法の異なる多種のICパッケージ10、12に共用でき
て、トレイの種類の低減により、トレイの設計、製造、
管理に要するコストを低減させることができる。
【0017】また、本実施の形態におけるICパッケー
ジ用トレイ2では、最下層の収容空間608は、基板4
の下面に貫通した状態で設けられていて、パッケージ収
容部6に底壁が存在していないため、ICパッケージ用
トレイ2の軽量化を図る上でも有利となっている。
【0018】更に、本実施の形態におけるICパッケー
ジ用トレイ2は、基板4の一部に基板4の向きを判別す
るための面取り部8を装備しているため、ICパッケー
ジ用トレイ2へのICパッケージの収容作業を自動化す
る場合や、トレイ上のICパッケージ2の検査等を自動
化する場合に、前記面取り部8を利用して、ICパッケ
ージ用トレイ2を正確に位置決めすることができ、搬送
や出荷時の自動化が図り易い。
【0019】なお、パッケージ収容部6を構成する収容
空間の段数は、以上の実施の形態に限定するものではな
く、三段以上の任意数に設定することが可能である。
【0020】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明のICパ
ッケージ用トレイは、各パッケージ収容部内に開口寸法
の異なる収容空間が三段以上の階段状に連続形成してい
て、収容するICパッケージが下面にバンプ電極を有す
る構造の場合、三段以上に連続する収容空間の内の上下
に隣接する二段分の収容空間を使ってパッケージを収容
する。その場合に、収容したパッケージは、上層の収容
空間における底面でICパッケージの下面のバンプ電極
形成領域の外側の電極非装備領域のみを支え、バンプ電
極形成領域に形成されるバンプ電極は、非接触状態で下
層の収容空間に収容される。即ち、パッケージ収容部の
内壁に対してバンプ電極が非接触状態となるようにIC
パッケージの支持するため、パッケージ収容部の内面と
の接触によるバンプ電極の汚損を防止することができ、
パッケージの実装時にソルダビリティの劣化等の不都合
の発生を防止することができる。また、各パッケージ収
容部内には開口寸法の異なる収容空間が三段以上の階段
状に連続形成されていて、ICパッケージの収容に使う
収容空間の選択を変えることで、一種類のICパッケー
ジ用トレイを寸法の異なる多種のICパッケージに共用
できて、トレイの種類の低減により、トレイの設計、製
造、管理に要するコストを低減させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るICパッケージ用トレイの一実施
形態の平面図である。
【図2】図1のA部の拡大図である。
【図3】図2のB−B線に沿う断面図である。
【符号の説明】
2……ICパッケージ用トレイ、4……基板、6……パ
ッケージ収容部、8……面取り部、10,12……IC
パッケージ、1004,1204……バンプ電極、10
S1,12S1……バンプ電極形成領域、10S2,1
0S3,12S2,12S3……電極非装備領域、60
0……内周部、602,604,606,608……収
容空間、6021,6041,6061,6081……
側面、6022,6042,6062……底面。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平9−97973(JP,A) 特開 平9−66990(JP,A) 特開 平6−32383(JP,A) 特開 平7−140190(JP,A) 特開 平10−24986(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B65D 85/86 B65D 85/38

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 単一の基板上に複数個のパッケージ収容
    部が縦横に整列装備され、前記各パッケージ収容部の下
    面は、平坦になっており、更に最下層に基板の下面側に
    貫通する貫通部を有し、且つ、内周部をパッケージ収容
    部の中央に向かって下る階段状に形成することで、矩形
    枠状に延在する側面と底面により開口寸法の異なる収容
    空間が開口寸法の大きい順に基板の上面側から三段以上
    の複数段に連続して形成され、且つ、上下に隣接する収
    容空間相互間においては、下層の収容空間の上端に連な
    る上層の収容空間の底面が、収容するICパッケージの
    下面のバンプ電極形成領域の外側に位置する電極非装備
    領域を支えると共に、前記バンプ電極形成領域に突設さ
    れるバンプ電極が下層の収容空間内に収容空間の側面や
    底面と非接触状態で収まるように、貫通部を含めて各収
    容空間の縦横及び深さ寸法が設定され、前記各パッケー
    ジ収容部の開口寸法の異なる各収容空間に、寸法の異な
    る複数種のICパッケージがそれぞれ収容される、こと
    を特徴とするICパッケージ用トレイ。
  2. 【請求項2】 前記基板の外周の一部に、基板の向きを
    判別する面取り部が設けられているとを特徴とする請求
    項1に記載のICパッケージ用トレイ。
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