JP3446680B2 - 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 - Google Patents
容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はコンデンサなどの容
量性電子部品の絶縁抵抗を測定する装置に関するもので
ある。
量性電子部品の絶縁抵抗を測定する装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】従来、コンデンサなどの容量性電子部品
の絶縁抵抗を測定するために、図１に示される測定装置
が用いられている。すなわち、１は直流測定電源であ
り、その一端はアースされ、他端は電流制限抵抗２を介
して被測定コンデンサ３の一端に接続され、電流制限抵
抗２と被測定コンデンサ３との間には電圧計４の一端が
接続されている。被測定コンデンサ３の他端は電流計５
に接続され、被測定コンデンサ３に流れる漏れ電流を電
流計５で測定している。
の絶縁抵抗を測定するために、図１に示される測定装置
が用いられている。すなわち、１は直流測定電源であ
り、その一端はアースされ、他端は電流制限抵抗２を介
して被測定コンデンサ３の一端に接続され、電流制限抵
抗２と被測定コンデンサ３との間には電圧計４の一端が
接続されている。被測定コンデンサ３の他端は電流計５
に接続され、被測定コンデンサ３に流れる漏れ電流を電
流計５で測定している。
【０００３】被測定コンデンサ３に対して印加される測
定電圧Ｅを電圧計４で測定し、被測定コンデンサ３を流
れてくる電流Ｉを電流計５で測定することで、被測定コ
ンデンサ３の絶縁抵抗Ｒを Ｒ＝Ｅ／Ｉ として求めることができる。
定電圧Ｅを電圧計４で測定し、被測定コンデンサ３を流
れてくる電流Ｉを電流計５で測定することで、被測定コ
ンデンサ３の絶縁抵抗Ｒを Ｒ＝Ｅ／Ｉ として求めることができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な測定装置の場合、測定電源１が発生するノイズや、商
用電源などのハムノイズ、被測定コンデンサ３自体が発
生するノイズなどによって、絶縁抵抗Ｒに測定誤差が生
じるという問題がある。
な測定装置の場合、測定電源１が発生するノイズや、商
用電源などのハムノイズ、被測定コンデンサ３自体が発
生するノイズなどによって、絶縁抵抗Ｒに測定誤差が生
じるという問題がある。
【０００５】ここで、この理由を図２を参照して以下に
説明する。被測定コンデンサ３の容量をＣ、絶縁抵抗を
Ｒ、測定電源１の発生する直流電圧をＥ、測定電源１の
ノイズや商用電源のハムノイズなどによって発生する電
圧（交流成分）をｅとする。さて、本来、被測定コンデ
ンサ３の絶縁抵抗Ｒは、もしノイズ成分ｅがなければ、
漏れ電流Ｉ＝Ｉｒであるため、Ｒ＝Ｅ／Ｉで求められ
る。しかし、実際には電流Ｉには、絶縁抵抗による漏れ
電流Ｉｒ以外に、容量成分を通過するノイズ成分Ｉｃが
含まれるため、Ｉ＝Ｉｒ＋Ｉｃとなり、測定誤差とな
る。
説明する。被測定コンデンサ３の容量をＣ、絶縁抵抗を
Ｒ、測定電源１の発生する直流電圧をＥ、測定電源１の
ノイズや商用電源のハムノイズなどによって発生する電
圧（交流成分）をｅとする。さて、本来、被測定コンデ
ンサ３の絶縁抵抗Ｒは、もしノイズ成分ｅがなければ、
漏れ電流Ｉ＝Ｉｒであるため、Ｒ＝Ｅ／Ｉで求められ
る。しかし、実際には電流Ｉには、絶縁抵抗による漏れ
電流Ｉｒ以外に、容量成分を通過するノイズ成分Ｉｃが
含まれるため、Ｉ＝Ｉｒ＋Ｉｃとなり、測定誤差とな
る。
【０００６】例えば、５０ＭΩの絶縁抵抗を持つ１０μ
Ｆのコンデンサの絶縁抵抗を、５０Ｖの電圧で測定し、
電源の出力には６０Ｈｚ、１０ｍＶｒｍｓのノイズが含
まれているとする。すると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／５０ＭΩ＝１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（１／２π×６０×１０μＦ） ≒３８μＡｒｍｓ であり、本来測定したい電流１μＡは、３０倍以上のノ
イズ電流３８μＡに埋もれてしまい、精度よい測定は到
底不可能である。長時間電流値Ｉを積分すれば、Ｉｃは
平均して０に近づくので、測定が可能であるが、測定に
長時間を要するという問題がある。
Ｆのコンデンサの絶縁抵抗を、５０Ｖの電圧で測定し、
電源の出力には６０Ｈｚ、１０ｍＶｒｍｓのノイズが含
まれているとする。すると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／５０ＭΩ＝１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（１／２π×６０×１０μＦ） ≒３８μＡｒｍｓ であり、本来測定したい電流１μＡは、３０倍以上のノ
イズ電流３８μＡに埋もれてしまい、精度よい測定は到
底不可能である。長時間電流値Ｉを積分すれば、Ｉｃは
平均して０に近づくので、測定が可能であるが、測定に
長時間を要するという問題がある。
【０００７】そこで、図３のように被測定コンデンサ３
から電流計５に至る経路の途中に抵抗Ｒｓを入れると、
ノイズ電流Ｉｃを小さくすることができる。例えば、Ｒ
ｓ＝５０ｋΩとすると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／（５０ＭΩ＋５０ｋΩ）≒１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（５０ｋΩ＋１／２π×６０×
１０μＦ） ≒０．２μＡｒｍｓ となり、本来測定したい電流１μＡに対して、ノイズ電
流が０．２μＡと小さくなるため、精度よい測定が可能
になる。しかし、５０ｋΩもの抵抗を用いることで、容
量Ｃの充電電流が、時定数ＲＣ＝５０ｋΩ×１０μＦ＝
５００ｍｓの数倍の時間流れるため、これが収束するま
で測定を行なうことができない。よって、結局測定に長
時間を要するという問題があった。
から電流計５に至る経路の途中に抵抗Ｒｓを入れると、
ノイズ電流Ｉｃを小さくすることができる。例えば、Ｒ
ｓ＝５０ｋΩとすると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／（５０ＭΩ＋５０ｋΩ）≒１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（５０ｋΩ＋１／２π×６０×
１０μＦ） ≒０．２μＡｒｍｓ となり、本来測定したい電流１μＡに対して、ノイズ電
流が０．２μＡと小さくなるため、精度よい測定が可能
になる。しかし、５０ｋΩもの抵抗を用いることで、容
量Ｃの充電電流が、時定数ＲＣ＝５０ｋΩ×１０μＦ＝
５００ｍｓの数倍の時間流れるため、これが収束するま
で測定を行なうことができない。よって、結局測定に長
時間を要するという問題があった。
【０００８】そこで、本発明の目的は、各種ノイズの影
響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗を高精度に、し
かも短時間で測定できる絶縁抵抗測定装置を提供するこ
とにある。
響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗を高精度に、し
かも短時間で測定できる絶縁抵抗測定装置を提供するこ
とにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明は、容量性電子部品に所定の
測定電圧を印加し、この電子部品を流れる電流を測定す
ることで、容量性電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗
測定装置において、測定電源から容量性電子部品を経て
電流検出装置に至る経路に接続され、抵抗器Ｒａとスイ
ッチ手段ＲＥ1 の並列接続された回路を有するノイズ除
去回路と、上記スイッチ手段ＲＥ1 を、容量性電子部品
の充電初期には閉じ、容量性電子部品の充電が十分に進
んだ後で開くように制御する制御手段と、を備え、上記
ノイズ除去回路は、上記容量性電子部品と電流検出装置
との間に接続されていることを特徴とする容量性電子部
品の絶縁抵抗測定装置を提供する。
め、請求項１に記載の発明は、容量性電子部品に所定の
測定電圧を印加し、この電子部品を流れる電流を測定す
ることで、容量性電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗
測定装置において、測定電源から容量性電子部品を経て
電流検出装置に至る経路に接続され、抵抗器Ｒａとスイ
ッチ手段ＲＥ1 の並列接続された回路を有するノイズ除
去回路と、上記スイッチ手段ＲＥ1 を、容量性電子部品
の充電初期には閉じ、容量性電子部品の充電が十分に進
んだ後で開くように制御する制御手段と、を備え、上記
ノイズ除去回路は、上記容量性電子部品と電流検出装置
との間に接続されていることを特徴とする容量性電子部
品の絶縁抵抗測定装置を提供する。
【００１０】短時間で精度よい測定をするためには、回
路を流れる電流が大きい間、すなわち容量Ｃの充電電流
が流れている間は抵抗Ｒｓを小さくし、回路を流れる電
流が小さくなる、すなわち容量Ｃの充電電流が収束して
絶縁抵抗Ｒを流れる電流のみになると抵抗Ｒｓを大きく
すればよい。そこで、請求項１では、ノイズ除去回路と
して並列接続された抵抗器Ｒａとスイッチ手段ＲＥ1 と
を設け、容量性電子部品の充電初期にはスイッチ手段Ｒ
Ｅ1 を閉じておき、容量性電子部品の充電が十分に進ん
だ後でスイッチ手段ＲＥ1 を開くようにしたものであ
る。
路を流れる電流が大きい間、すなわち容量Ｃの充電電流
が流れている間は抵抗Ｒｓを小さくし、回路を流れる電
流が小さくなる、すなわち容量Ｃの充電電流が収束して
絶縁抵抗Ｒを流れる電流のみになると抵抗Ｒｓを大きく
すればよい。そこで、請求項１では、ノイズ除去回路と
して並列接続された抵抗器Ｒａとスイッチ手段ＲＥ1 と
を設け、容量性電子部品の充電初期にはスイッチ手段Ｒ
Ｅ1 を閉じておき、容量性電子部品の充電が十分に進ん
だ後でスイッチ手段ＲＥ1 を開くようにしたものであ
る。
【００１１】すなわち、容量性電子部品の充電初期には
スイッチ手段ＲＥ1 が閉じているため、ノイズ除去回路
には殆ど抵抗がない。そのため、回路抵抗が小さく、容
量性電子部品の充電を速やかに進めることができる。次
に、容量性電子部品の充電がほぼ完了した後にスイッチ
手段ＲＥ1 を開くと、ノイズ除去回路の抵抗が大きくな
るので、充電電流に含まれるノイズ成分が遮断され、精
度のよい測定ができる。また、ノイズ除去回路は、容量
性電子部品と電流検出装置との間に接続されている。す
なわち、比較的周波数の低いノイズには、電源装置に直
列にノイズ電圧が入るように見える性質のものと、電源
装置に並列にノイズ電圧が入るように見える性質のもの
とがあり、後者のノイズは、容量性電子部品に接触する
測定端子付近で入り込むことが多い。このノイズは、回
路に侵入した地点から見てインピーダンスが低い方に多
く流れるため、ノイズ除去回路を容量性電子部品よりも
電源側に接続すると、ノイズが電流検出装置へ多く流
れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除去回路を容量
性電子部品よりも電流検出装置側に接続することで、後
者のノイズを殆ど電源側へ流し、電流測定に影響を与え
ないようにしたものである。
スイッチ手段ＲＥ1 が閉じているため、ノイズ除去回路
には殆ど抵抗がない。そのため、回路抵抗が小さく、容
量性電子部品の充電を速やかに進めることができる。次
に、容量性電子部品の充電がほぼ完了した後にスイッチ
手段ＲＥ1 を開くと、ノイズ除去回路の抵抗が大きくな
るので、充電電流に含まれるノイズ成分が遮断され、精
度のよい測定ができる。また、ノイズ除去回路は、容量
性電子部品と電流検出装置との間に接続されている。す
なわち、比較的周波数の低いノイズには、電源装置に直
列にノイズ電圧が入るように見える性質のものと、電源
装置に並列にノイズ電圧が入るように見える性質のもの
とがあり、後者のノイズは、容量性電子部品に接触する
測定端子付近で入り込むことが多い。このノイズは、回
路に侵入した地点から見てインピーダンスが低い方に多
く流れるため、ノイズ除去回路を容量性電子部品よりも
電源側に接続すると、ノイズが電流検出装置へ多く流
れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除去回路を容量
性電子部品よりも電流検出装置側に接続することで、後
者のノイズを殆ど電源側へ流し、電流測定に影響を与え
ないようにしたものである。
【００１２】容量性電子部品の最終的な絶縁抵抗値を測
定する場合には、抵抗器Ｒａとスイッチ手段ＲＥ1 のみ
からなるノイズ除去回路でよいが、容量性電子部品の充
電電流の時間変化を知りたい場合には、スイッチ手段Ｒ
Ｅ1 が閉じた状態で充電電流値が小さくなってくると、
ノイズ電流の影響を受けてしまい、正しい充電電流の変
化の様子を測定できない可能性がある。しかし、容量性
電子部品の充電が十分でない時点でスイッチ手段ＲＥ1
を開くと、抵抗器Ｒａのために容量性電子部品の充電が
遅れてしまう。そこで、請求項２のように、ノイズ除去
回路が、第１の抵抗器Ｒａと、第１のスイッチ手段ＲＥ
1 と、第２の抵抗器Ｒｂおよび第２のスイッチ手段ＲＥ
2 の直列回路との並列接続回路を有するのが望ましい。
この場合、第２の抵抗器Ｒｂは第１の抵抗器Ｒａより小
さな抵抗値を有するものを用いる方が望ましい。
定する場合には、抵抗器Ｒａとスイッチ手段ＲＥ1 のみ
からなるノイズ除去回路でよいが、容量性電子部品の充
電電流の時間変化を知りたい場合には、スイッチ手段Ｒ
Ｅ1 が閉じた状態で充電電流値が小さくなってくると、
ノイズ電流の影響を受けてしまい、正しい充電電流の変
化の様子を測定できない可能性がある。しかし、容量性
電子部品の充電が十分でない時点でスイッチ手段ＲＥ1
を開くと、抵抗器Ｒａのために容量性電子部品の充電が
遅れてしまう。そこで、請求項２のように、ノイズ除去
回路が、第１の抵抗器Ｒａと、第１のスイッチ手段ＲＥ
1 と、第２の抵抗器Ｒｂおよび第２のスイッチ手段ＲＥ
2 の直列回路との並列接続回路を有するのが望ましい。
この場合、第２の抵抗器Ｒｂは第１の抵抗器Ｒａより小
さな抵抗値を有するものを用いる方が望ましい。
【００１３】充電初期には両方のスイッチ手段ＲＥ1 ，
ＲＥ2 を閉じておき、ある程度充電が進み、充電電流が
小さくなれば、スイッチ手段ＲＥ1 を開き、スイッチ手
段ＲＥ 2 を閉じた状態にする。こうすれば、回路抵抗は
抵抗器ＲａとＲｂの並列抵抗となり、ノイズ電流をこの
時点での電流に対して目立たない大きさにすることがで
き、また容量性電子部品の充電はかなり進行しているた
め、多少充電が阻害されても大きな影響を発生しない。
しかし、さらに容量性電子部品の充電が進み、充電電流
値が小さくなると、ノイズ電流の大きさが相対的に大き
くなるので、目立つようになる。ここで、第２のスイッ
チ手段ＲＥ2 を開くと、回路の抵抗が抵抗器Ｒａとなる
ため、ノイズ電流値が非常に小さくなり、精度のよい漏
れ電流値の測定が可能となる。なお、充電初期に必ずし
もスイッチ手段ＲＥ2 を閉じる必要はなく、少なくとも
スイッチ手段ＲＥ1 を閉じた状態とすればよい。なお、
請求項２における第２の抵抗器Ｒｂと第２のスイッチ手
段ＲＥ2 との直列回路は、必要な数だけいくつでも並列
に接続することができる。このようにすれば、広い電流
範囲でノイズ電流の影響を避けつつ、充電電流の変化を
測定することができる。
ＲＥ2 を閉じておき、ある程度充電が進み、充電電流が
小さくなれば、スイッチ手段ＲＥ1 を開き、スイッチ手
段ＲＥ 2 を閉じた状態にする。こうすれば、回路抵抗は
抵抗器ＲａとＲｂの並列抵抗となり、ノイズ電流をこの
時点での電流に対して目立たない大きさにすることがで
き、また容量性電子部品の充電はかなり進行しているた
め、多少充電が阻害されても大きな影響を発生しない。
しかし、さらに容量性電子部品の充電が進み、充電電流
値が小さくなると、ノイズ電流の大きさが相対的に大き
くなるので、目立つようになる。ここで、第２のスイッ
チ手段ＲＥ2 を開くと、回路の抵抗が抵抗器Ｒａとなる
ため、ノイズ電流値が非常に小さくなり、精度のよい漏
れ電流値の測定が可能となる。なお、充電初期に必ずし
もスイッチ手段ＲＥ2 を閉じる必要はなく、少なくとも
スイッチ手段ＲＥ1 を閉じた状態とすればよい。なお、
請求項２における第２の抵抗器Ｒｂと第２のスイッチ手
段ＲＥ2 との直列回路は、必要な数だけいくつでも並列
に接続することができる。このようにすれば、広い電流
範囲でノイズ電流の影響を避けつつ、充電電流の変化を
測定することができる。
【００１４】請求項２におけるノイズ除去回路は、測定
電圧電源と容量性電子部品との間に接続してもよいが、
請求項３のように容量性電子部品と電流検出装置との間
に接続するのが望ましい。そうすることで、電源装置に
並列にノイズ電圧が入るように見える性質のノイズを殆
ど電源側へ流し、電流測定に影響を与えないようにした
ものである。なお、同様の理由により、請求項４のよう
に電流制限抵抗も容量性電子部品よりも電流検出装置側
に接続するのが望ましい。但し、ノイズ除去回路を容量
性電子部品よりも電源側に設けたとしても、電源に直列
に入るノイズに対しては効果がある。
電圧電源と容量性電子部品との間に接続してもよいが、
請求項３のように容量性電子部品と電流検出装置との間
に接続するのが望ましい。そうすることで、電源装置に
並列にノイズ電圧が入るように見える性質のノイズを殆
ど電源側へ流し、電流測定に影響を与えないようにした
ものである。なお、同様の理由により、請求項４のよう
に電流制限抵抗も容量性電子部品よりも電流検出装置側
に接続するのが望ましい。但し、ノイズ除去回路を容量
性電子部品よりも電源側に設けたとしても、電源に直列
に入るノイズに対しては効果がある。
【００１５】スイッチ手段は充電初期には閉じられ、あ
る程度充電が進むと開かれるが、この開くタイミングを
決定するため、請求項５のように、電流検出装置の測定
値と所定のしきい値とを比較し、電流検出装置の測定値
が所定のしきい値を下回った時に開くようにしてもよい
し、請求項６のように、充電開始からの経過時間を計測
し、充電開始から所定時間経過後に開くようにしてもよ
い。
る程度充電が進むと開かれるが、この開くタイミングを
決定するため、請求項５のように、電流検出装置の測定
値と所定のしきい値とを比較し、電流検出装置の測定値
が所定のしきい値を下回った時に開くようにしてもよい
し、請求項６のように、充電開始からの経過時間を計測
し、充電開始から所定時間経過後に開くようにしてもよ
い。
【００１６】
【発明の実施の形態】図４に本発明にかかる絶縁抵抗測
定装置の第１実施例を示す。図において、１は直流測定
電源、２は電流制限抵抗、３は被測定コンデンサ、４は
電圧計、５は電流計であり、図１と同一部品には同一符
号を付して重複説明を省略する。
定装置の第１実施例を示す。図において、１は直流測定
電源、２は電流制限抵抗、３は被測定コンデンサ、４は
電圧計、５は電流計であり、図１と同一部品には同一符
号を付して重複説明を省略する。
【００１７】被測定コンデンサ３よりも電流計５側、つ
まり被測定コンデンサ３と電流計５との間には、ノイズ
除去回路１０が接続されている。この実施例のノイズ除
去回路１０は、並列接続された抵抗器Ｒａとスイッチ手
段ＲＥ1 とで構成されている。抵抗器Ｒａの抵抗値は、
例えば５０ＭΩの絶縁抵抗を持つ１０μＦのコンデンサ
の絶縁抵抗を５０Ｖの測定電源で測定する場合には、５
０ｋΩ以上とするのが望ましい。スイッチ手段ＲＥ1 と
しては、有接点スイッチ（リレー）、半導体スイッチ
（リレー）のような無接点スイッチ（リレー）のいずれ
でもよい。
まり被測定コンデンサ３と電流計５との間には、ノイズ
除去回路１０が接続されている。この実施例のノイズ除
去回路１０は、並列接続された抵抗器Ｒａとスイッチ手
段ＲＥ1 とで構成されている。抵抗器Ｒａの抵抗値は、
例えば５０ＭΩの絶縁抵抗を持つ１０μＦのコンデンサ
の絶縁抵抗を５０Ｖの測定電源で測定する場合には、５
０ｋΩ以上とするのが望ましい。スイッチ手段ＲＥ1 と
しては、有接点スイッチ（リレー）、半導体スイッチ
（リレー）のような無接点スイッチ（リレー）のいずれ
でもよい。
【００１８】スイッチ手段ＲＥ1 は制御装置１１によっ
て制御される。制御装置１１には電流計５から測定信号
が入力され、電流計５の測定値と所定のしきい値とを比
較する。そして、被測定コンデンサ３の充電初期にはス
イッチ手段ＲＥ1 を閉じておき、被測定コンデンサ３の
充電が十分に進んだ後、つまり電流計５の測定値が所定
のしきい値を下回った時にスイッチ手段ＲＥ1 を開くよ
う制御する。制御装置１１には電圧計４からも測定信号
が入力され、電流計５の測定値とともに被測定コンデン
サ３の絶縁抵抗Ｒを演算・出力している。
て制御される。制御装置１１には電流計５から測定信号
が入力され、電流計５の測定値と所定のしきい値とを比
較する。そして、被測定コンデンサ３の充電初期にはス
イッチ手段ＲＥ1 を閉じておき、被測定コンデンサ３の
充電が十分に進んだ後、つまり電流計５の測定値が所定
のしきい値を下回った時にスイッチ手段ＲＥ1 を開くよ
う制御する。制御装置１１には電圧計４からも測定信号
が入力され、電流計５の測定値とともに被測定コンデン
サ３の絶縁抵抗Ｒを演算・出力している。
【００１９】ここで、上記実施例よりなる絶縁抵抗測定
装置の作動を説明する。被測定コンデンサ３の充電初期
には、制御装置１１はスイッチ手段ＲＥ1 を閉じてお
く。そのため、ノイズ除去回路１０の抵抗が小さく、電
流はスイッチ手段ＲＥ1 を通じて流れるので、コンデン
サ３の充電を速やかに進めることができる。次に、被測
定コンデンサ３の充電がほぼ完了すると、電流計５を流
れる電流値が小さくなるので、制御装置１１はスイッチ
手段ＲＥ1 を開く。つまり、ノイズ除去回路１０の抵抗
が大きくなるので、充電電流に含まれるノイズ成分が遮
断され、精度のよい測定ができる。
装置の作動を説明する。被測定コンデンサ３の充電初期
には、制御装置１１はスイッチ手段ＲＥ1 を閉じてお
く。そのため、ノイズ除去回路１０の抵抗が小さく、電
流はスイッチ手段ＲＥ1 を通じて流れるので、コンデン
サ３の充電を速やかに進めることができる。次に、被測
定コンデンサ３の充電がほぼ完了すると、電流計５を流
れる電流値が小さくなるので、制御装置１１はスイッチ
手段ＲＥ1 を開く。つまり、ノイズ除去回路１０の抵抗
が大きくなるので、充電電流に含まれるノイズ成分が遮
断され、精度のよい測定ができる。
【００２０】図５に本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の
第２実施例を示す。この実施例では、ノイズ除去回路１
０を被測定コンデンサ３よりも電流計５側に接続すると
ともに、電流制限抵抗（例えば１ｋΩ）２を被測定コン
デンサ３よりも電流計５側に接続したものである。
第２実施例を示す。この実施例では、ノイズ除去回路１
０を被測定コンデンサ３よりも電流計５側に接続すると
ともに、電流制限抵抗（例えば１ｋΩ）２を被測定コン
デンサ３よりも電流計５側に接続したものである。
【００２１】比較的周波数の低いノイズには、Ｖｎ１の
ように電源１に直列にノイズ電圧が入る性質のもの（電
源のノイズや、電磁誘導により回路に入り込むノイズ、
あるいはセラミックコンデンサのような誘電率の高い誘
電体を用いたコンデンサなどでは、コンデンサ自体が機
械的な振動によって発生するノイズなどを含む）と、Ｖ
ｎ２のように電源１に並列にノイズ電圧が入る性質のも
の（静電結合により回路に入り込むノイズ）とがあり、
後者のノイズは、被測定コンデンサ３に接触する測定端
子付近で入り込むことが多い。このノイズは、回路に侵
入した地点から見てインピーダンスが低い方に多く流れ
るため、ノイズ除去回路１０を被測定コンデンサ３より
も電源１側に接続すると、ノイズが電流計５へ多く流
れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除去回路１０お
よび電流制限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電流計
５側に接続することで、後者のノイズを殆ど電源１側へ
流し、電流測定に影響を与えないようにしたものであ
る。
ように電源１に直列にノイズ電圧が入る性質のもの（電
源のノイズや、電磁誘導により回路に入り込むノイズ、
あるいはセラミックコンデンサのような誘電率の高い誘
電体を用いたコンデンサなどでは、コンデンサ自体が機
械的な振動によって発生するノイズなどを含む）と、Ｖ
ｎ２のように電源１に並列にノイズ電圧が入る性質のも
の（静電結合により回路に入り込むノイズ）とがあり、
後者のノイズは、被測定コンデンサ３に接触する測定端
子付近で入り込むことが多い。このノイズは、回路に侵
入した地点から見てインピーダンスが低い方に多く流れ
るため、ノイズ除去回路１０を被測定コンデンサ３より
も電源１側に接続すると、ノイズが電流計５へ多く流
れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除去回路１０お
よび電流制限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電流計
５側に接続することで、後者のノイズを殆ど電源１側へ
流し、電流測定に影響を与えないようにしたものであ
る。
【００２２】図６は本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の
第３実施例を示す。この実施例では、ノイズ除去回路２
０として、抵抗器Ｒａおよびスイッチ手段ＲＥ1 に対し
て、第２の抵抗器Ｒｂと第２のスイッチ手段ＲＥ2 との
直列回路を並列接続したものである。第２の抵抗器Ｒｂ
は第１の抵抗器Ｒａより小さな抵抗値を有し、例えばＲ
ｂをＲａの約１／１０程度とすればよい。
第３実施例を示す。この実施例では、ノイズ除去回路２
０として、抵抗器Ｒａおよびスイッチ手段ＲＥ1 に対し
て、第２の抵抗器Ｒｂと第２のスイッチ手段ＲＥ2 との
直列回路を並列接続したものである。第２の抵抗器Ｒｂ
は第１の抵抗器Ｒａより小さな抵抗値を有し、例えばＲ
ｂをＲａの約１／１０程度とすればよい。
【００２３】この実施例の場合、被測定コンデンサ３の
充電初期には両方のスイッチ手段ＲＥ 1 ，ＲＥ2 が閉じ
ており、ノイズ除去回路２０の抵抗が小さく、電流はス
イッチ手段ＲＥ1 を通じて流れるので、コンデンサ３の
充電を速やかに進めることができる。次に、被測定コン
デンサ３の充電がある程度進むと、スイッチ手段ＲＥ1
のみが開き、スイッチ手段ＲＥ2 は閉じた状態を維持す
る。こうすれば、回路抵抗は抵抗器ＲａとＲｂの並列抵
抗となり、ノイズ電流をこの時点での電流に対して目立
たない大きさにすることができ、またコンデンサ３の充
電はかなり進行しているため、多少充電が阻害されても
大きな影響を発生しない。なお、スイッチ手段ＲＥ2 に
直列接続された第２の抵抗器Ｒｂの抵抗値が抵抗器Ｒａ
に比べて小さいので、抵抗器ＲａとＲｂの並列抵抗の抵
抗値が一層小さくなり、充電を阻害する影響度が少な
い。さらに、被測定コンデンサ３の充電が進み、充電電
流値が小さくなると、ノイズ電流の大きさが相対的に大
きくなり、目立つようになるので、第２のスイッチ手段
ＲＥ2 を開く。これにより、ノイズ除去回路２０の抵抗
が抵抗器Ｒａとなるため、ノイズ電流が非常に小さくな
り、精度のよい電流値の測定が可能となる。
充電初期には両方のスイッチ手段ＲＥ 1 ，ＲＥ2 が閉じ
ており、ノイズ除去回路２０の抵抗が小さく、電流はス
イッチ手段ＲＥ1 を通じて流れるので、コンデンサ３の
充電を速やかに進めることができる。次に、被測定コン
デンサ３の充電がある程度進むと、スイッチ手段ＲＥ1
のみが開き、スイッチ手段ＲＥ2 は閉じた状態を維持す
る。こうすれば、回路抵抗は抵抗器ＲａとＲｂの並列抵
抗となり、ノイズ電流をこの時点での電流に対して目立
たない大きさにすることができ、またコンデンサ３の充
電はかなり進行しているため、多少充電が阻害されても
大きな影響を発生しない。なお、スイッチ手段ＲＥ2 に
直列接続された第２の抵抗器Ｒｂの抵抗値が抵抗器Ｒａ
に比べて小さいので、抵抗器ＲａとＲｂの並列抵抗の抵
抗値が一層小さくなり、充電を阻害する影響度が少な
い。さらに、被測定コンデンサ３の充電が進み、充電電
流値が小さくなると、ノイズ電流の大きさが相対的に大
きくなり、目立つようになるので、第２のスイッチ手段
ＲＥ2 を開く。これにより、ノイズ除去回路２０の抵抗
が抵抗器Ｒａとなるため、ノイズ電流が非常に小さくな
り、精度のよい電流値の測定が可能となる。
【００２４】なお、第３実施例では、ノイズ除去回路２
０に対して第２の抵抗器Ｒｂと第２のスイッチ手段ＲＥ
2 との直列回路を１個のみ並列接続したが、この直列回
路を必要な数だけいくつでも並列に接続することができ
る。この場合、複数の直列回路の中で、第２の抵抗器Ｒ
ｂの抵抗は順次異ならせ、抵抗値の小さな抵抗器Ｒｂと
直列に接続された第２のスイッチ手段ＲＥ2 から順に開
くのがよい。このようにすれば、広い電流範囲でノイズ
電流の影響を避けつつ、充電電流の変化を測定すること
ができる。
０に対して第２の抵抗器Ｒｂと第２のスイッチ手段ＲＥ
2 との直列回路を１個のみ並列接続したが、この直列回
路を必要な数だけいくつでも並列に接続することができ
る。この場合、複数の直列回路の中で、第２の抵抗器Ｒ
ｂの抵抗は順次異ならせ、抵抗値の小さな抵抗器Ｒｂと
直列に接続された第２のスイッチ手段ＲＥ2 から順に開
くのがよい。このようにすれば、広い電流範囲でノイズ
電流の影響を避けつつ、充電電流の変化を測定すること
ができる。
【００２５】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装
置に至る経路に、抵抗器Ｒａとスイッチ手段ＲＥ1 とを
並列接続したノイズ除去回路を設け、スイッチ手段ＲＥ
1 を容量性電子部品の充電初期には閉じておき、容量性
電子部品の充電が十分に進んだ後で開くようにしたの
で、充電初期にはノイズ除去回路の抵抗が小さく、容量
性電子部品の充電を速やかに進めることができる。そし
て、充電がほぼ完了した後にスイッチ手段ＲＥ1 を開く
ことで抵抗が大きくなり、充電電流に含まれるノイズ成
分が遮断され、精度のよい測定ができる。したがって、
各種ノイズの影響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗
を高精度に、しかも短時間で測定できる。
よれば、測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装
置に至る経路に、抵抗器Ｒａとスイッチ手段ＲＥ1 とを
並列接続したノイズ除去回路を設け、スイッチ手段ＲＥ
1 を容量性電子部品の充電初期には閉じておき、容量性
電子部品の充電が十分に進んだ後で開くようにしたの
で、充電初期にはノイズ除去回路の抵抗が小さく、容量
性電子部品の充電を速やかに進めることができる。そし
て、充電がほぼ完了した後にスイッチ手段ＲＥ1 を開く
ことで抵抗が大きくなり、充電電流に含まれるノイズ成
分が遮断され、精度のよい測定ができる。したがって、
各種ノイズの影響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗
を高精度に、しかも短時間で測定できる。
【図１】従来の絶縁抵抗測定装置の一例の回路図であ
る。
る。
【図２】測定電源に直列にノイズが入った場合の説明図
である。
である。
【図３】被測定コンデンサから電流計に至る経路の途中
にノイズ除去用抵抗を入れた場合の回路図である。
にノイズ除去用抵抗を入れた場合の回路図である。
【図４】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第１実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図５】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第２実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図６】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第３実施例
の回路図である。
の回路図である。
１ 直流測定電源
２ 電流制限抵抗
３ 被測定コンデンサ（容量性電子部
品） ４ 電圧計 ５ 電流計（電流検出装置） １０，２０ ノイズ除去回路 １１ 制御装置 Ｒａ，Ｒｂ 抵抗器 ＲＥ1 ，ＲＥ2 スイッチ手段
品） ４ 電圧計 ５ 電流計（電流検出装置） １０，２０ ノイズ除去回路 １１ 制御装置 Ｒａ，Ｒｂ 抵抗器 ＲＥ1 ，ＲＥ2 スイッチ手段
Claims (6)
- 【請求項１】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、容量
性電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、 測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に至る
経路に接続され、抵抗器Ｒａとスイッチ手段ＲＥ1 の並
列接続された回路を有するノイズ除去回路と、 上記スイッチ手段ＲＥ1 を、容量性電子部品の充電初期
には閉じ、容量性電子部品の充電が十分に進んだ後で開
くように制御する制御手段と、を備え、 上記ノイズ除去回路は、上記容量性電子部品と電流検出
装置との間に接続されている ことを特徴とする容量性電
子部品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項２】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、容量
性電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、 測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に至る
経路に接続され、第１の抵抗器Ｒａと、第１のスイッチ
手段ＲＥ1 と、第２の抵抗器Ｒｂおよび第２のスイッチ
手段ＲＥ2 の直列回路との並列接続回路を有するノイズ
除去回路と、 容量性電子部品の充電初期には少なくとも第１のスイッ
チ手段ＲＥ1 を閉じ、容量性電子部品の充電がある程度
進むと第１のスイッチ手段ＲＥ1 を開いて第２のスイッ
チ手段ＲＥ2 を閉じ、さらに容量性電子部品の充電が進
むと第１と第２のスイッチ手段ＲＥ1 ，ＲＥ2 を共に開
くように制御する制御手段と、を備えたことを特徴とす
る容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項３】上記ノイズ除去回路は、上記容量性電子部
品と電流検出装置との間に接続されていることを特徴と
する請求項２に記載の容量性電子部品の絶縁抵抗測定装
置。 - 【請求項４】上記容量性電子部品と電流検出装置との間
に電流制限抵抗が接続されていることを特徴とする請求
項１または請求項３に記載の容量性電子部品の絶縁抵抗
測定装置。 - 【請求項５】上記制御手段は、上記電流検出装置の測定
値と所定のしきい値とを比較し、 上記電流検出装置の測定値が所定のしきい値を下回った
時に上記スイッチ手段を開くよう制御することを特徴と
する請求項１ないし４のいずれかに記載の容量性電子部
品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項６】上記制御手段は、上記容量性電子部品の充
電開始からの経過時間を計測し、 上記容量性電子部品の充電開始から所定時間経過後に上
記スイッチ手段を開くよう制御することを特徴とする請
求項１ないし４のいずれかに記載の容量性電子部品の絶
縁抵抗測定装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26858799A JP3446680B2 (ja) | 1999-09-22 | 1999-09-22 | 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 |
| MYPI20003989A MY121524A (en) | 1999-09-22 | 2000-08-29 | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts |
| GB0022464A GB2354829B (en) | 1999-09-22 | 2000-09-13 | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts |
| US09/666,843 US6456087B1 (en) | 1999-09-22 | 2000-09-21 | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts |
| US10/214,346 US6639410B2 (en) | 1999-09-22 | 2002-08-08 | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26858799A JP3446680B2 (ja) | 1999-09-22 | 1999-09-22 | 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001091553A JP2001091553A (ja) | 2001-04-06 |
| JP3446680B2 true JP3446680B2 (ja) | 2003-09-16 |
Family
ID=17460613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26858799A Expired - Lifetime JP3446680B2 (ja) | 1999-09-22 | 1999-09-22 | 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3446680B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6911239B2 (ja) * | 2017-09-26 | 2021-07-28 | 株式会社三社電機製作所 | 検査装置 |
-
1999
- 1999-09-22 JP JP26858799A patent/JP3446680B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001091553A (ja) | 2001-04-06 |
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