JP3440855B2 - 回転検出装置 - Google Patents

回転検出装置

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JP3440855B2
JP3440855B2 JP33615498A JP33615498A JP3440855B2 JP 3440855 B2 JP3440855 B2 JP 3440855B2 JP 33615498 A JP33615498 A JP 33615498A JP 33615498 A JP33615498 A JP 33615498A JP 3440855 B2 JP3440855 B2 JP 3440855B2
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  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気抵抗素子(以
下、MREという)を用いて回転情報の検出を行う回転
検出装置に関し、特に、車両におけるエンジン制御や車
両ブレーキにおけるABS制御に使用する回転検出装置
に適用すると好適である。
【0002】
【従来の技術】エンジンの点火時期は、クランクの角度
情報とカムの角度情報を基に決定される。例えば、4サ
イクルエンジンではクランク2回転に対してカム1回転
の割合で回転しているため、カムの一回転の中に気筒判
別の情報を盛り込み、クランクの回転中に点火時期情報
を盛り込んでいる。
【0003】そして、従来より回転検出装置は、バイア
ス磁石を用いてカムギアに向けてバイアス磁界を発生さ
せ、カムギアの「山」(ギア歯の凸部)と「谷」(ギア
歯の凹部)による「山」→「谷」、「谷」→「山」の変
化に基づいて変位する磁界の方向をMREで検出するこ
とにより、上記カムの回転状態を検出している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の回転検出装
置が起動された直後のギア回転前である静止状態、つま
りエンジン始動時において、検出位置にギア歯が「谷」
位置にあった場合と「山」位置にあった場合のそれぞれ
の模式図を図9(a)、(b)に示し、これらの図中に
ギア101に対してバイアス磁石102が発生させる磁
界を矢印で示す。
【0005】図9(a)、(b)に示されるように、ギ
ア歯101aが「谷」位置にあった場合と「山」位置に
あった場合には、MRE103を通過する磁力線の向き
(磁界の方向)が同じになる。上記位置それぞれにおけ
るMRE103の出力波形を図10(a)、(b)に示
すと、これらの図に示されるように、電源投入時から最
初のギア歯101aの変化点(「山」→「谷」の変化点
及び「谷」→「山」の変化点)101bまでの間(図中
の期間T)、上記位置の双方におけるMRE103の出
力波形が同じになる。
【0006】このため、このような期間Tにおいては、
ギア歯101aが「山」位置にあるか、「谷」位置にあ
るかを検出することができず、正確なギア歯101aの
位置を検出することができないという問題がある。この
ような場合、ギア歯101aの位置によって何れの気筒
に点火すべきかという点火タイミングが判定できなくな
ってしまい、点火すべき最初の1気筒の判別が不能とな
って、初回は未点火になる。
【0007】本発明は上記点に鑑みて成され、回転検出
装置が起動された直後におけるギア回転前の静止状態か
らギア歯の位置を検出できるようにすることを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、以下に示す技術的手段を採用する。請求項1乃至
に記載の発明においては、磁気抵抗素子(4、5は、
ギア(1)の回転軸方向の端面(1b)が形成する平面
におおむね平行な面であって、第1磁気抵抗素子と第2
の磁気抵抗素子とによってできる中心軸をバイアス磁石
(2)が発生するバイアス磁界の磁気的中心からギアの
回転方向にずらした位置に配置されており、この配置に
よって第1、第2の磁気抵抗素子を通過するバイアス磁
界の方向が、ギアの凹部(1c)がバイアス磁石に対向
する場合とギアの凸部(1a)がバイアス磁石に対向す
る場合とで異なり、それぞれの場合が磁気抵抗素子ブリ
ッジ(6)の出力に基づいて検出されるようにしたこと
を特徴としている。
【0009】このように、バイアス磁界の磁気的中心か
らずらした位置に磁気抵抗素子を配置すれば、ギア歯
(1a)が「山」位置にある場合と「谷」位置にある場
合とでバイアス磁界の方向が変化する。このため、この
バイアス磁界の変化を利用して磁気抵抗素子の出力を得
ることにより、ギア歯の「山」位置と「谷」位置で異な
る出力値を得ることができる。これにより、回転検出装
置が起動された直後のギア回転前である静止状態からギ
ア歯の「山」位置と「谷」位置とを判別でき、ギア歯の
位置を正確に検出することができる。
【0010】
【0011】なお、いずれか一方の磁気抵抗素子がバイ
アス磁界の磁気的中心からギアの回転方向にずれていれ
上記した効果を得ることができる。請求項に記載の
発明においては、第1、第2の磁気抵抗素子(4、5)
を備えた第1の磁気抵抗素子ブリッジ(6)と、第3、
第4の磁気抵抗素子(17、18)を備えた第2の磁気
抵抗素子ブリッジ(16)とを有し、第1の磁気抵抗素
子ブリッジは、第1の磁気抵抗素子と第2の磁気抵抗素
子とによってできる中心軸をバイアス磁界の磁気的中心
からギア(1)の回転方向にずらした位置に配置され、
第2の磁気抵抗素子ブリッジは、第3の磁気抵抗素子と
第4の磁気抵抗素子とによってできる中心軸をバイアス
磁界の磁気的中心から第1の磁気抵抗素子ブリッジとは
反対方向にずらした位置に配置されており、これらの配
置によって第1、第2の磁気抵抗素子を通過するバイア
ス磁界の方向および第3、第4の磁気抵抗素子を通過す
るバイアス磁界の方向のそれぞれが、ギアの凹部(1
c)がバイアス磁石に対向する場合とギアの凸部(1
a)がバイアス磁石に対向する場合とで異なり、それぞ
れの場合が第1、第2の磁気抵抗素子ブリッジの出力に
基づいて検出されるようにしたことを特徴としている。
【0012】このように、第1、第2の磁気抵抗素子に
加えて、第3、第4の磁気抵抗素子からの出力を用いて
ギアの回転を検出することにより、より正確な検出を行
うことができる。この場合、例えば、請求項に示すよ
うに、第1、第2の磁気抵抗素子からなる第1の磁気抵
抗素子ブリッジ(6)の出力信号と、第3、第4の磁気
抵抗素子からなる第2の磁気抵抗素子(16)の出力信
号を比較して、2値化する手段(20)を備えるように
すれば、第1、第2の磁気抵抗ブリッジは発生するそれ
ぞれの出力信号の差に基づいて、ギアの回転を検出する
ことができる。
【0013】なお、具体的には、バイアス磁石の形状を
中空形状とし、この中空形状の内部で第1〜第4の磁気
抵抗素子をバイアス磁界の磁気的中心からずらして配置
させることで、バイアス磁石と第1〜第4の磁気抵抗素
子との位置関係を調整することができる。請求項に記
載の発明においては、第1の磁気抵抗素子ブリッジ
(6)を構成する第1、第2の磁気抵抗素子(4、5)
は、回転部材が回転する方向と回転部材の回転軸に対し
て垂直な方向とで作られる平面内に配置されるものであ
って、着磁面におけるバイアス磁界の磁気的中心位置か
ら回転部材の回転方向にオフセットした位置に配置され
ており、このオフセット配置によって回転部材(1)
凹部(1c)が着磁面に対する位置に来たときの第1
の磁気抵抗素子ブリッジからの凹部出力信号と、回転部
材の凸部(1a)が着磁面に対する位置に来たときの
第1の磁気抵抗素子ブリッジからの凸部出力信号とが異
なる信号として出力され、凹部が着磁面に対向する位置
にあるか凸部が着磁面に対向する位置にあるかが第1の
磁気抵抗素子ブリッジの出力に基づいて検出されるよう
にしたことを特徴としている。
【0014】このように、バイアス磁界の磁気的中心位
置から回転部材の回転方向にオフセットした位置に第1
の磁気抵抗素子ブリッジを構成する第1、第2の磁気抵
抗素子を配置することによって、凹部出力信号と凸部出
力信号とが異なった信号として出力されるようにすれ
ば、請求項1と同様に正確な回転検出を行うことができ
る。請求項に示すように、バイアス部材が、回転部材
の回転方向に細長く形成された中空部を有している場
合、磁気抵抗素子を配置した基板が中空部に挿入される
ようにしてもよい。
【0015】請求項に記載の発明においては、第3、
第4の磁気抵抗素子(17、18)が直列接続されてな
る第2の磁気抵抗素子ブリッジ(16)を備え、第1の
磁気抵抗素子ブリッジと第2の磁気抵抗素子ブリッジと
はバイアス磁界の磁気的中心に対し、回転部材の回転方
向にそれぞれ反対方向にずらした位置に配置されている
ことを特徴としている。
【0016】このように、複数の磁気抵抗素子ブリッジ
の出力を用いてギアの回転を検出することにより、請求
と同様に、より正確な検出を行うことができる。な
お、このように2つの磁気抵抗素子ブリッジを用いる場
合、請求項1及び1に示すように、ギアの凹部の幅
(Lg)、もしくは隣り合う凸部の間の凹部の間隔(L
g)が、第1の磁気抵抗素子ブリッジと第2の磁気抵抗
素子ブリッジとの間隔(Lm)よりも広くなっているこ
とが望ましい。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図に示す実施形態
について説明する。 (第1実施形態)本発明の一実施形態における回転検出
装置をエンジンにおけるクランク角検出に適用した場合
について説明する。
【0018】図1(a)に回転検出装置の主要部におけ
る斜視模式図を示し、以下、図1(a)に基づき回転検
出装置について説明する。回転検出装置は、歯車形状の
ギア1、バイアス磁石2及びICチップ3を備えてい
る。ギア1は、その外周面がバイアス磁石2に対向する
ように配置されており、ギア1の外周面に向けてバイア
ス磁石2がバイアス磁界を発生するようになっている。
【0019】バイアス磁石2は中空形状で構成されてお
り、バイアス磁石2の中心軸がバイアス磁界の磁気的中
心をなしている。そして、中空形状をなすバイアス磁石
2の端面の一方がN極、他方がS極になるように着磁さ
れており、バイアス磁石2のうちギア1に近い面がN
極、遠い面がS極となるように、かつ中空形状の中心軸
(図中の2点鎖線)上に概ねギア1の回転軸(図中の1
点鎖線)が位置するように配置されている。
【0020】ICチップ3の表面上には、2つのMRE
4、5がそれぞれ異なった方向性を有して形成されてい
る。2つのMRE4、5はそれぞれ、長手方向がバイア
ス磁界の磁気的中心(バイアス磁石2の中心軸)に対し
て、ギア1の端面1bに平行な方向に45度と−45度
の角度を成すように、すなわち互いに直交するハの字状
になるように配置されている。これにより、バイアス磁
界の変化(振れ角)が大きい場合であっても、MRE
4、5の出力に波形割れが発生しないようにしている。
【0021】ICチップ3は、バイアス磁石2が発生す
るバイアス磁界の方向の検出を行うべく、バイアス磁石
2とギア1の外周面との間に配置されている。このと
き、バイアス磁界の磁気的中心から2つのMRE4、5
がギア1の回転方向にずれるように配置されている。こ
れら2つのMRE4、5におけるバイアス磁界の磁気的
中心からのズレ量は特に制限がないが、バイアス磁石2
が発生するバイアス磁界の強度やバイアス磁界の方向に
基づいて、2つMRE4、5が好適にバイアス磁界の方
向を検出できる程度にするのが好ましい。なお、ICチ
ップ3は、ギア1の両端面が形成する平面の間に2つの
MRE4、5が位置するように配置されている。
【0022】MRE4、5には、それぞれの長手方向に
電流が流れるように配線処理がなされている。そして、
これら2つのMRE4、5が互いに直列接続されて1組
のMREブリッジ6を成している。このMREブリッジ
6に対して、MRE5からMRE4に向けて電流が流れ
るようになっており、直列接続された2つのMRE4、
5の中点電位をMREブリッジ6の出力として、バイア
ス磁石2が発生するバイアス磁界の変化、すなわちギア
1の回転を検出するようになっている。
【0023】具体的には、MREブリッジ6の出力は、
図1(b)に示すようにコンパレータ7の反転入力端子
に入力されるようになっており、コンパレータ7の非反
転入力端子に入力された所定のしきい値電圧と比較され
て2値化されるようになっている。そして、このコンパ
レータの出力に基づいて、ギア歯1aが「山」位置にあ
るか「谷」位置にあるかというギア1の回転を検出して
いる。
【0024】なお、ICチップ3は中空形状を成すバイ
アス磁石2の内部に収容(没入)されたのち、バイアス
磁石2と共にモールド樹脂(図示せず)によって封止さ
れており、モールド樹脂外に延設された端子によってM
REブリッジ6からの出力信号が取り出せるようになっ
ている。次に、ギア1の回転に伴い、MRE4、5を通
過するバイアス磁界の向き、すなわち磁力線の向きがど
のように変化するかについて、図2、図3に基づいて説
明する。なお、図2、図3は共に、回転検出装置の主要
部をギア1の軸方向から見た時の模式図であり、図2は
ギア歯1aが「山」位置にある場合、図3はギア歯1a
が「谷」位置である場合を示している。また、図2及び
図3中に示される矢印は、バイアス磁石2が放出する磁
力線Hを示している。
【0025】図2中に示された矢印のように、ギア歯1
aが「山」位置にある場合には、バイアス磁石2によっ
て放出される磁力線Hは、バイアス磁石2の中心軸(図
中の2点鎖線)に対して略平行の方向を向く。これは、
ギア歯1aがバイアス磁石2に近づくため、磁性体であ
るギア歯1aの方向に引き寄せられるように磁力線Hが
放出されるからである。
【0026】また、図3中に示される矢印のように、ギ
ア歯1aが「谷」位置にある場合には、バイアス磁石2
によって放出される磁力線Hは、ギア1の端面1bに平
行な平面上でバイアス磁石2の中心軸から離れる方向に
振れる。これは、ギア歯1aがバイアス磁石2から離れ
て磁性体であるギア1が遠くなるため、N極からS極に
向かう場合に似た状態で磁力線Hが放出されるからであ
る。
【0027】このように、バイアス磁石2から放出され
る磁力線Hは、ギア1の回転に伴ってギア1の端面に平
行な平面上で振れる。この磁力線の振れは、ICチップ
3の表面をX−Y平面と見立ててMRE4、5を中心と
したXYZ軸を考えたときに、X−Y平面上に磁力線H
が振れることを示している。このY−X平面上で磁力線
Hが振れる場合におけるMRE4、5の抵抗値変化を表
す特性図を図4に示す。また、図5にギア1の回転に伴
うMREブリッジ6の出力波形を示し、以下、図4に基
づいて図5に示すMREブリッジ6の出力の変化につい
て説明する。なお、図5中に参考として、従来の回転検
出装置におけるMREブリッジ6の出力波形を示す。
【0028】まず、図2に示したように、ギア歯1aが
「山」位置にある場合には、磁力線Hはバイアス磁石2
の中心軸に略平行に放出されているため、MRE4に対
する磁気ベクトル角θは略135°となり、MRE5に
対する磁気ベクトル角θは略45°となる。次に、図3
に示したように、ギア歯1aが「谷」位置にある場合に
は、磁力線Hはバイアス磁石2の中心軸から離れる方向
に放出されているため、MRE4に対する磁気ベクトル
角θは135°よりも小さくなると共に、MRE5に対
する磁気ベクトル角θも45°よりも小さくなる。
【0029】このような場合、MRE4の抵抗値は小さ
くなり、MRE5の抵抗値は大きくなる。このため、M
REブリッジ6の中点電位、つまりMREブリッジ6の
出力は小さくなる。従って、ギア歯1aが「山」位置に
ある場合と「谷」位置にある場合とで、MREブリッジ
6の出力は異なる値となる。
【0030】図5に示すように、従来の回転検出装置に
おけるMREブリッジ6の出力波形(図中の一点鎖線)
は、「山」位置にある場合と「谷」位置にある場合とが
同様の値となっていたが、本実施形態に示す回転検出装
置ではMREブリッジ6の出力波形(図中の点線)はそ
れぞれの場合で異なる値となる。このため、MREブリ
ッジ6の出力波形に基づいてギア歯1aが「山」位置に
あるか、「谷」位置にあるかを判定することができ、回
転検出装置が起動された直後におけるギア回転前の静止
状態であってもギア歯1aの位置を正確に判定すること
ができる。
【0031】(第2実施形態)図6に本発明を適用した
第2実施形態における回転検出装置の主要部を示す。第
1実施形態では1組のMREブリッジ6にて回転検出を
行う場合を示したが、本実施形態では2組のMREブリ
ッジ6、16にて回転検出を行う場合を示す。以下、図
6に基づき本実施形態における回転検出装置について説
明する。但し、第1実施形態と同様の部分については図
1(a)と同様の符号を付して説明を省略する。
【0032】図6に示すように、本実施形態ではMRE
ブリッジ6の他に、もう1つのMREブリッジ16が備
えられている。MREブリッジ16は、バイアス磁石2
の中心軸(バイアス磁界の磁気的中心)を対称軸とし
て、MREブリッジ6と線対称の関係で配置されてい
る。すなわち、このMREブリッジ16は、MRE4と
線対称となるMRE17と、MRE5と線対称となるM
RE18とによって構成されている。
【0033】MRE17とMRE18は直列接続されて
おり、MRE17からMRE18に電流が流れるように
なっている。そして、MRE17、18の中点電位をM
REブリッジ16の出力としている。MREブリッジ6
とMREブリッジ16の出力はそれぞれ差動増幅回路2
0に入力される。差動増幅回路20は、図6(b)に示
すように、2つのMREブリッジ6、16の中点電位を
コンパレータ21で比較する回路構成となっており、こ
のコンパレータ21の出力信号が回転検出装置の出力と
なる。
【0034】図7に、2つのMREブリッジ6、16の
出力波形及び2つのMREブリッジ6、16の差を表す
波形を示す。この図に示されるように、2つのMREブ
リッジ6、16の差が大きいため、差動増幅回路20で
の2値化処理がより正確に行えるようにすることができ
る。このため、ギア歯1aの「山」位置と「谷」位置と
の検出がより好適に行えるようにできる。
【0035】なお、MREブリッジ6の出力とMREブ
リッジ16の出力の差が小さい場合には、差動増幅回路
20から十分な出力が得られない場合があり得るため、
差動増幅回路20の回路構成を図6(c)のようにして
もよい。すなわち、第1実施形態で示したように、ギア
歯1aが「山」位置にある場合には、磁力線Hはバイア
ス磁石2の中心軸に略平行となるが、この場合には2つ
のMREブリッジ6、16の出力が共にほぼ同じにな
り、差動増幅回路20の出力が十分に得られない場合が
ある。
【0036】この場合には、図6(c)に示したよう
に、一度、増幅器22によって差動増幅し、さらにその
出力をコンパレータ23にて特定のしきい値電圧と比較
して2値化するようにすれば、差動増幅回路20から十
分な出力を得ることができる。但し、先に、ギア歯1a
が「山」位置にある場合には、磁力線Hはバイアス磁石
2の中心軸と略平行になると説明したが、磁力線Hの方
向は正確には磁石の形状やギア1との位置関係によって
決定されるため、そうならない場合もある。
【0037】例えば、ギア1が「谷」位置にあった場合
から「山」位置に変わった場合、磁力線Hの向きは、バ
イアス磁石2の中心軸と平行な方向を越えてさらに中心
軸側に近づいて収束するような方向となる場合がある。
この場合には、2つのMREブリッジ6、16のそれぞ
れを通過する磁力線Hの方向が異なるため、差動増幅回
路20は十分な出力を発生する。このため、このような
場合には、図6(b)に示す差動増幅回路20によって
正確に回転検出を行うことができる。
【0038】また、本実施形態において、2つのMRE
ブリッジ6、16の間隔Lmとギア歯1aの間の凹部1
cの幅Lgとの関係について図8を用いて説明する。図
8において、2つのMREブリッジ6、16の間隔をM
RE4、5のパターン接続点C1及びMRE17、18
のパターンの接続点C2との距離をLmとし、ギア1の
凹部1cの幅をLgとすると、Lm<Lgという関係に
なることが望ましい。
【0039】このような関係により、バイアス磁界は多
少はギア歯1aによりバイアス方向が規定される場合も
あるが、ほぼオープンフラックス状態(図3に示す磁力
線Hの状態)となりMREブリッジ6とMREブリッジ
16とは接続中点の出力を確実に逆位相とすることがで
き、これによって作動増幅回路からの出力を図7に示す
ように大きくとることができる。
【0040】一方、距離Lmと幅Lgの関係がLm>L
gとなった場合、それぞれのMREブリッジに対してギ
ア凹部1bが対向したとしてもバイアス磁界がギア凹部
1bの両端のギア歯1aに向かうため、MREブリッジ
6とMREブリッジ16との出力差が得られなくなる。
従って、この場合には差動出力も得られなくなる。 (他の実施形態)上記実施形態では、MREブリッジ
6、16をギア1の端面1bに平行な平面上でバイアス
磁界の磁気的中心からずらすことによって、ギア歯1a
の「山」位置と「谷」位置とを検出可能になるようにし
ているが、このギア1の端面1bに平行な平面上になく
ても中心軸から離れた位置にMREブリッジ6、16を
配置することによって上記と同様の効果を得ることがで
きる。
【0041】例えば、MREブリッジ6をギア1の端面
1bに平行な平面上でバイアス磁界の磁気的中心からず
らしたのち、さらにギア1の端面に垂直方向に所定量ず
らした位置に配置するようにしてもよい。また、MRE
ブリッジ6をギア1の端面1bに平行な平面上でバイア
ス磁界の磁気的中心からずらしたときに、ICチップ3
がギア1の端面1bに平行な平面に対して所定角度ずれ
ていてもよい。
【0042】但し、これらの場合においても、MRE
4、5のそれぞれ位置がバイアス磁界の磁気的中心から
同等の距離にならないようにすることが必要である。ま
た、上記実施形態では、バイアス磁石2に中空形状のも
のを用いているが、通常の中空形状ではない磁石、例え
ば円柱状のものや直方体のものを用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は回転検出装置の主要部を示す模式図で
あり、(b)はMREブリッジ6の出力に基づく2値化
処理を行うための回路を示す図である。
【図2】ギア歯1aが「山」位置にある場合の磁力線H
の方向を説明するための図である。
【図3】ギア歯1aが「谷」位置にある場合の磁力線H
の方向を説明するための図である。
【図4】磁気ベクトル角θに対するMREの抵抗値変化
を説明するための図である。
【図5】MREブリッジ6の出力波形を示す説明図であ
る。
【図6】第2実施形態における回転検出装置の主要部を
示す模式図である。
【図7】MREブリッジ6、16の出力波形及びMRE
ブリッジ6、16の出力の差の波形を示す図である。
【図8】MREブリッジ6、16の配置関係と差動出力
の関係を説明するための図である。
【図9】従来における回転検出装置において、ギア歯1
01aの「山」位置と「谷」位置でMRE103を通過
する磁力線の方向を説明するための図である。
【図10】従来における回転検出装置におけるMRE1
03の出力波形を示す図である。
【符号の説明】
1…ギア、1a…ギア歯、1b…端面、2…バイアス磁
石、3…ICチップ、4、5…MRE、6…MREブリ
ッジ、7…コンパレータ、16…MREブリッジ、1
7、18…MRE、20…差動増幅回路、21…コンパ
レータ、22…増幅器、23…コンパレータ、H…磁力
線。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平8−304432(JP,A) 特開 平6−34645(JP,A) 特開 平8−5647(JP,A) 特開 昭54−77149(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01D 5/00 - 5/62 G01P 3/488

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 凹部(1c)と凸部(1a)とを有する
    ギア(1)向けてバイアス磁界を発生するバイアス磁
    石(2)と、 前記ギアと前記バイアス磁石との間に配置され、前記ギ
    回転によって発生するバイアス磁界の変化を検知す
    第1、第2の磁気抵抗素子(4、5とを備え 前記第1、第2の磁気抵抗素子は直列接続されて磁気抵
    抗素子ブリッジ(6)を形成し、この磁気抵抗素子ブリ
    ッジの出力に基づいて前記ギアの回転を検出する 回転検
    出装置において、 前記第1、第2の磁気抵抗素子は、前記ギアの回転軸方
    向の端面(1b)が形成する平面におおむね平行な面で
    あって、前記第1磁気抵抗素子と前記第2の磁気抵抗素
    子とによってできる中心軸を前記バイアス磁界の磁気的
    中心から前記ギアの回転方向にずらした位置に配置され
    おり、 この配置によって前記第1、第2の磁気抵抗素子を通過
    する前記バイアス磁界の方向が、前記凹部が前記バイア
    ス磁石に対向する場合と前記凸部が前記バイアス磁石に
    対向する場合とで異なり、それぞれの場合が前記磁気抵
    抗素子ブリッジの出力に基づいて検出されるようにした
    ことを特徴とする回転検出装置。
  2. 【請求項2】 前記第1、第2の磁気抵抗素子は共に、
    前記バイアス磁界の磁気的中心から前記ギアの回転方向
    にずらした位置に配置されていることを特徴とする請求
    に記載の回転検出装置。
  3. 【請求項3】 前記第1の磁気抵抗素子及び前記第2の
    磁気抵抗素子は、前記バイアス磁界の磁気的中心に対し
    て略45度の角度を成すと共に、互いに直交するハの字
    状を成すように配置されていることを特徴とする請求項
    又はに記載の回転検出装置。
  4. 【請求項4】 凹部(1c)と凸部(1a)とを有する
    ギア(1)向けてバイアス磁界を発生するバイアス磁
    石(2)と、 前記ギアと前記バイアス磁石との間に配置され、前記ギ
    回転によって発生するバイアス磁界の変化を検知す
    る第1、第2の磁気抵抗素子(4、5)が直列接続され
    てなる第1の磁気抵抗素子ブリッジ(6)と、 前記ギアと前記バイアス磁石との間に配置され、前記ギ
    回転によって発生するバイアス磁界の変化を検知す
    る第3、第4の磁気抵抗素子(17、18)が直列接続
    されてなる第2の磁気抵抗素子ブリッジ(16)とを備
    、前記第1、第2の磁気抵抗素子ブリッジの出力に基
    づいて前記ギアの回転を検出するた回転検出装置におい
    て、 前記第1の磁気抵抗素子ブリッジは、前記第1の磁気抵
    抗素子と前記第2の磁気抵抗素子とによってできる中心
    軸を前記バイアス磁界の磁気的中心から前記ギアの回転
    方向にずらした位置に配置され前記第2の磁気抵抗素
    子ブリッジは、前記第3の磁気抵抗素子と前記第4の磁
    気抵抗素子とによってできる中心軸を前記バイアス磁界
    の磁気的中心から前記第1の磁気抵抗素子ブリッジとは
    反対方向にずらした位置に配置されており、 これらの配置によって前記第1、第2の磁気抵抗素子を
    通過する前記バイアス磁界の方向および前記第3、第4
    の磁気抵抗素子を通過する前記バイアス磁界の方向のそ
    れぞれが、前記凹部が前記バイアス磁石に対向する場合
    と前記凸部が前記バイアス磁石に対向する場合とで異な
    り、それぞれの場合が前記第1、第2の磁気抵抗素子ブ
    リッジの出力に基づいて検出されるようにした ことを特
    徴とする回転検出装置。
  5. 【請求項5】 前記第1の磁気抵抗素子ブリッジは、
    記第1の磁気抵抗素子と前記第2の磁気抵抗素子との間
    の電位を第1の出力信号とし前記第2の磁気抵抗素子
    ブリッジは、記第3の磁気抵抗素子と前記第4の磁気
    抵抗素子との間の電位を第2の出力信号としており、 これら第1、第2の出力信号を比較して、2値化処理す
    る手段(20)を備えていることを特徴とする請求項
    に記載の回転検出装置。
  6. 【請求項6】 前記2値化処理する手段は、前記第1の
    出力信号と第2の出力信号との差を増幅する手段(2
    2)と、増幅された前記差を所定のしきい値を比較する
    手段(23)とを有していることを特徴とする請求項
    に記載の回転検出装置。
  7. 【請求項7】 凹部(1c)と凸部(1a)とを有する
    回転部材(1)向けてバイアス磁界を発生するバイア
    ス部材(2)と、 前記回転部材と前記バイアス部材との間に配置され、前
    記回転部材の回転に伴う前記バイアス磁界の回転方向に
    おける変化を検出する第1、第2の磁気抵抗素子(4、
    )とを備え 前記第1、第2の磁気抵抗素子は直列接続されて第1の
    磁気抵抗素子ブリッジ(6)を形成し、この第1の磁気
    抵抗素子ブリッジの出力に基づいて前記ギアの回転を検
    出する 回転検出装置において、 前記バイアス部材は前記バイアス部材から前記回転部材
    に向けて前記バイアス磁界を発生する着磁面を有し、 前記第1、第2の磁気抵抗素子は、前記回転部材が回転
    する方向と前記回転部材の回転軸に対して垂直な方向と
    で作られる平面内に配置されるものであって、前記着磁
    面における前記バイアス磁界の磁気的中心位置から前記
    回転部材の回転方向にオフセットした位置に配置され
    おり、 このオフセット配置によって前記回転部材の前記凹部が
    前記着磁面に対する位置に来たときの前記第1の磁気
    抵抗素子ブリッジからの凹部出力信号と、前記回転部材
    の前記凸部が前記着磁面に対する位置に来たときの前
    第1の磁気抵抗素子ブリッジから凸部出力信号とが
    異なる信号として出力され、前記凹部が前記着磁面に対
    向する位置にあるか前記凸部が前記着磁面に対向する位
    置にあるかが前記第1の磁気抵抗素子ブリッジの出力に
    基づいて検出されるようにしたことを特徴とする回転検
    出装置
  8. 【請求項8】 前記バイアス部材は、前記回転部材の回
    転方向に細長く形成された中空部を有しており、 前記磁気抵抗素子は、前記平面に対して平行に配置され
    る基板(3)上に形成されたものであり、この基板が前
    記中空部に挿入されているものであることを特徴とする
    請求項に記載の回転検出装置。
  9. 【請求項9】 前記回転部材と前記バイアス部材との間
    に配置され、前記回転部材の回転に伴う前記バイアス磁
    界の回転方向における変化を検出する第3、第4の磁気
    抵抗素子(17、18)が直列接続されてなる第2の磁
    気抵抗素子ブリッジ(16)を備え、前記第1の磁気抵
    抗素子ブリッジと第2の磁気抵抗素子ブリッジとは前記
    バイアス磁界の磁気的中心に対し、前記回転部材の回転
    方向に反対方向にずらした位置に配置されており、前記
    凹部が前記着磁面に対向する位置にあるか前記凸部が前
    記着磁面に対向する位置にあるかが前記第1、第2の磁
    気抵抗素子ブリッジの出力に基づいて検出されることを
    特徴とする請求項又はに記載の回転検出装置。
  10. 【請求項10】 前記ギアの凹部の幅(Lg)が、前記
    第1の磁気抵抗素子ブリッジと第2の磁気抵抗素子ブリ
    ッジとの間隔(Lm)よりも広くなっていることを特徴
    とする請求項に記載の回転検出装置。
  11. 【請求項11】 前記回転部材の隣り合う凸部の間の凹
    部の間隔(Lg)が前記第1の磁気抵抗素子ブリッジと
    第2の磁気抵抗素子ブリッジとの間隔(Lm)よりも広
    くなっていることを特徴とする請求項に記載の回転検
    出装置。
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