JP3434621B2 - 焦点検出及び測光光学系 - Google Patents

焦点検出及び測光光学系

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JP3434621B2
JP3434621B2 JP14774595A JP14774595A JP3434621B2 JP 3434621 B2 JP3434621 B2 JP 3434621B2 JP 14774595 A JP14774595 A JP 14774595A JP 14774595 A JP14774595 A JP 14774595A JP 3434621 B2 JP3434621 B2 JP 3434621B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、一眼レフレックスカメ
ラ等に用いられる焦点検出と露出制御のための測光を行
う光学系に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の一眼レフレックスカメラにおいて
は、焦点検出と露出制御のための測光を行うための光束
を、共通に撮影レンズを通過した被写体からの光束から
取り込み、撮影レンズと独立した光学系内で前記焦点検
出に用いる光束と露出制御のための光束を分離し、それ
ぞれの受光素子へ導く方法が知られている。この種のカ
メラの焦点検出、測光光学系としては、以下に述べるよ
うに種々のものが提案されている。
【0003】図45は、特開昭59─152423号に
開示された装置の概略構成を示す図であって、ここで
は、サブミラー43で焦点検出系用と測光系用の光束を
分離し、異なる位置に焦点検出系用の受光素子41と測
光系用の受光素子42を配置する方法が提案がされてい
る。
【0004】また、特開昭63─70835号には、一
次結像面付近、または、ミラーボックス底面付近で焦点
検出系用と測光系用の光束を分割し、異なる位置に焦点
検出系用と測光系用の受光素子を配置する提案がされて
いて、図46は、これに相補的に全透過領域または全反
射領域として形成した波面分割素子44により焦点検出
に用いる光束と露出制御のための測光を行うための光束
を分離するための構成を示している。
【0005】また、図47は、特開昭63─65415
号に開示された装置の概略構成を示す図であって、ここ
では、再結像光学系の明るさ絞り48に測光用の受光素
子51を配置したものが提案されている。
【0006】更に、図48は、特開昭63─88514
号に開示された装置の概略構成を示す図であって、ここ
では、焦点検出系の受光素子列54a,54bの両側に
スポット測光用のセンサー53a,53bを配置し、フ
ィルム等価面において測距範囲の両側の領域を通過する
光束をスポット測光用のセンサーに導くことが提案され
ている。図49には、この場合の受光素子の配置図が示
されている。
【0007】図50は、特開昭57─169734号に
開示された装置の概略構成を示す図であって、ここに
は、いわゆるコントラスト検出焦点検出光学系の一部に
ランダム・ドット・ミラーまたはストライプ・ミラーを
用いたビームスプリッター55を設け、このビームスプ
リッタにより焦点検出に用いる光束と露出制御のための
測光を行うための光束を分離する方法が提案されてい
る。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来から、この種の光
学系では、測距系(焦点検出系)、測光系それぞれに求
められる特性を満足しつつ、如何にコンパクトにまとめ
るかが最大の課題とされている。
【0009】焦点検出光学系に求められる特性として
は、測距するのに必要な被写体範囲の像情報を、決めら
れたNA(Fナンバー)の光束で、光電変換手段である
受光素子列に如何に適正に導くことができるかという点
にある。このとき、受光素子列上の受光素子の並ぶ方向
に像情報が得られなければならない。また、均一の光量
分布を持った被写体に対しては、受光素子列上の光量分
布も均一になるようにすることが求められる。更に多く
の光量が受光素子へ導かれるようにすることが望まれ
る。また更に、撮影レンズの色収差や、補助光や、フィ
ルムの分光感度や、各構成要素の分光特性等を考慮し、
多くの条件下で精度のよい合焦検出を行うための分光透
過率変換フィルターがあるのが好ましい。
【0010】つぎに、測光光学系に求められる特性とし
ては、測距するのに必要な被写体範囲の明るさ情報を、
如何に確実に光電変換手段である受光素子に導くことが
できるかという点にある。更に多くの光量が受光素子へ
導かれることが好ましい。また更に、測光できるダイナ
ミックレンジを広げられる手段を有すると好ましい。ま
た更に、被写体の光源情報を得る手段を有すると特にカ
ラー写真ではより自然な色の再現が可能となり好まし
い。
【0011】従来方式のものでは、上記要求事項に対し
て以下のような問題点を有している。 サブミラーや一
次結像面付近、または、ミラーボックス底面付近で焦点
検出、測光系用の光束を分割し、異なる位置に焦点検
出、測光系用の受光素子を配置すると、焦点検出系と測
光系の被写体範囲を重ねることができない。または、焦
点検出系と測光系の光量を落とさなければならない。図
51に示したようにな焦点検出に必要な細長い測距範囲
とスポット状の測光範囲が求められた系で焦点検出系を
優先した光束分割を行うと測光範囲に図52のような中
抜けが生じてしまう。また、焦点検出、測光系用の受光
素子を別に配置することにより、受光素子を形成する基
盤や電気回路や演算手段との結線が複雑になったり容積
が大きくなり、更にボディ全体の効率的なレイアウトの
阻害要因となり、ボディ全体のコンパクト化が困難とな
る。また、サブミラーの構成が複雑になったり波面分割
素子を設置することも含め、コストアップ要因にもな
る。
【0012】焦点検出系の受光素子列の両側にスポット
測光用のセンサーを配置し、フィルム等価面において測
距範囲の両側の領域を通過する光束をスポット測光用の
センサーに導き、図51に示したような焦点検出に必要
な細長い測距範囲とスポット状の測光範囲において、求
められた系で焦点検出系を優先した光束分割を行うと、
測光範囲に図52のような中抜けが生じてしまう。ま
た、焦点検出系と測光系の明るさ絞りが共通になるた
め、測光系のNAを独立に決められなくなる。
【0013】合焦検出系の受光素子列からの出力を測光
に用いることも考えられるが、測光範囲が焦点検出に必
要な範囲に制限され独立に決定できない。また、測光系
のNAを独立に決められなくなる。
【0014】コントラスト検出焦点検出光学系の一部に
ランダム・ドット・ミラー又はストライプ・ミラーを用
いたビームスプリッターを設け、このビームスプリッタ
により焦点検出に用いる光束と露出制御のための測光を
行うための光束を分離すると測光系のNAを独立に決め
られなくなり、また、光量も制限される。また、この提
案では再結像光学系は示されていないが、ミラーボック
スとサブミラーに必要な構成を与えると、一次結像面は
ミラーボックス底面付近となり、具体的に構成するには
再結像光学系が必要となる。再結像光学系中に2段のビ
ームスプリッタを設けると全体的に大きくなりコンパク
ト化に反するようになる。また、2段のビームスプリッ
タはその調整を含めてコストアップの要因となる。ま
た、この方法ではデフォーカス量検出方式には適用でき
ない。
【0015】本発明は、従来の技術の有するこのような
問題点に鑑みてなされたものであり、その第1の目的
は、焦点検出と露出制御のための測光を行うための光束
を、共通に撮影レンズを通過した被写体からの光束から
取り込み、撮影レンズと独立した光学系内で前記焦点検
出に用いる光束と露出制御のための光束を分離してそれ
ぞれの受光素子へ導く一眼レフレックスカメラにおい
て、簡単な構成で効率的に光束を分離し、かつ、焦点検
出に必要な範囲と測光範囲を独立に設定できる焦点検出
光学系と測光光学系を提供することにある。
【0016】本発明の第2の目的は、焦点検出に必要な
範囲と測光範囲の一部が重なり、かつ、複数の測光範囲
を達成できる焦点検出光学系と測光光学系を提供するこ
とにある。
【0017】本発明の第3の目的は、測距系(焦点検出
系)、測光系それぞれに求められる特性を満足しつつ、
コンパクトにまとめることができる焦点検出光学系と測
光光学系を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するため、本発明の焦点検出及び測光光学系は、少なく
とも、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又
はそれ以降に配置された視野絞りと、視野絞りを透過し
た光束を焦点検出用光電変換手段に導くための再結像レ
ンズを有する焦点検出用再結像光学系と、視野絞りを透
過した光束を測光用光電変換手段へ導く測光用光学素子
を有する測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦点
検出用再結像レンズと測光用光学素子に導くための視野
絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点検出
用光電変換手段と測光用光電変換手段とから構成される
複数の光学系を有し、焦点検出用再結像光学系と測光用
光学系の入射瞳は独立しており、焦点検出用再結像レン
ズと測光用光学素子の少なくとも入射面又は射出面が独
立しており、焦点検出用光束と測光用光束はコンデンサ
ーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透過している
ことを特徴としている。なお、一般に焦点検出用光電変
換手段は、受光素子列から構成され、測光用光電変換手
段は受光素子から構成されている。
【0019】これにより、焦点検出に用いられる光束
は、焦点検出光学系の入射瞳を包含する撮影レンズのあ
る領域から、サブミラー等を経て撮像面と等価な位置付
近又はそれ以降に配置された視野絞りに達する。視野絞
りを通過した光束はコンデンサーレンズを経て、焦点検
出光学系の明るさ絞りに到達し、更に再結像レンズを通
じ、受光素子列上に再結像する。このとき焦点検出系の
視野(被写体範囲)は、視野絞りと受光素子列の受光範
囲によって決定される。測光に用いられる光束は、測光
光学系の入射瞳を包含する撮影レンズのある領域から、
サブミラー等を経て撮像面と等価な位置付近又はそれ以
降に配置された視野絞りを透過し、更に焦点検出光学系
と共通なコンデンサーレンズを経て測光光学系の明るさ
絞りに到達し、更にレンズを通じ測光用の受光素子上に
導かれる。このときの測光範囲は、視野絞りと受光素子
の受光範囲とによって決定される。
【0020】又、本発明によれば、撮影レンズからの光
束の一部を用いて焦点検出及び測光を行う装置におい
て、再結像光学系は明るさ絞りを有し、明るさ絞りの焦
点検出用開口と測光用開口は略同一面にあり、かつ焦点
検出用開口と測光用開口は独立していることを特徴とし
ている。これにより、明るさ絞り部材は共通に構成され
得る。また、測光光学系視野の中抜けがなくなり、且
つ、焦点検出光学系の光量も損なわれない。更に、視野
絞りと受光素子の受光範囲の組合せでそれぞれの光学系
の視野を決定することにより、焦点検出光学系と測光光
学系の視野を独立した形状にさせ得る。更に、本発明に
よれば、撮影レンズからの光束の一部を用いて焦点検出
及び測光を行う装置において、再結像光学系は、焦点検
出用光束と測光検出用光束の少なくとも一部が同じ部位
を通過する視野絞りと、焦点検出用光電変換手段と、測
光用光電変換手段を有することを特徴としている。これ
により、焦点検出光学系と測光光学系の視野を独立した
形状とし、且つその一部を重ね得る。
【0021】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。第1実施例 第1図は、本発明の第1の実施例を示すものであって、
焦点検出光学系及び測光光学系を底部に配設した一眼レ
フカメラボディの概念図である。1は撮影レンズ、2は
撮影レンズ1の予定結像面の近傍に配置された視野絞
り、3はコンデンサーレンズ、4はコンデンサーレンズ
3の後方に配置されたミラー、5a,5bはミラー4の
後方に配置された合焦精度を確保し得る間隔をもって紙
面と垂直な方向に並ぶ一対の開口部を有する明るさ絞
り、6は明るさ絞り5a,5bとは異なる開口部で構成
される明るさ絞り、7a,7bは明るさ絞り5と明るさ
絞り5a,5bの各後方にそれぞれ配置された紙面と垂
直な方向に並ぶ一対の再結像レンズ、8a,8bは再結
像レンズ7a,7bから射出した光束の結像位置近傍に
配置された受光素子列、9は明るさ絞り6の後方に配置
された再結像レンズ、10は再結像レンズ9から射出し
た光束を受ける位置に配置された受光素子、11はクイ
ックリターンミラー、12はサブミラーである。
【0022】この実施例における焦点検出光学系は、視
野絞り2と、コンデンサーレンズ3と、ミラー4と、明
るさ絞り5a,5bと、再結像レンズ7a,7bと、受
光素子列8a,8bとから構成され、測光光学系は視野
絞り2と、コンデンサーレンズ3と、ミラー4と、明る
さ絞り6と、再結像レンズ9と、受光素子10とから構
成される。
【0023】図2は視野絞り2の形状を示した図、図3
は明るさ絞り5a,5b及び6の位置関係図、図4は受
光素子列8a,8bと受光素子10の位置関係図、図5
は図4で示した受光素子8a,8b及び10の面上に、
各光学系で投影された視野絞り13の像を点線で示した
図である。
【0024】図1において、焦点検出光学系では、合焦
すべき物体を発した光束は、撮影レンズ1を通過し、ク
イックリターンミラー11を透過し、サブミラー12を
経て視野絞り2を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳を
リレーされ、ついでミラー4で反射され、明るさ絞り5
a,5bに達する。明るさ絞り5a,5bを通過した光
束は、それぞれ再結像レンズ7a,7bに入射する。再
結像レンズ7a,7bに入射した光束は、一直線に並ん
だ受光素子列8a,8bに導かれる。この場合、コンデ
ンサーレンズ3と明るさ絞り5a,5bで決定される焦
点検出光学系の入射瞳の間隔と、コンデンサーレンズ3
と再結像レンズ7a,7bで決定される焦点検出光学系
の倍率と、受光素子列の素子のピッチとが合焦精度を決
定する。また、焦点検出光学系の光束が撮影レンズ1で
ケラレないように入射瞳の位置と大きさは決定される。
この時、焦点検出光学系の視野は図5で示すように受光
素子列8a,8bの面上に投影された視野絞り投影像1
3’と、受光素子列8a,8bの受光範囲の重なりで決
定される。
【0025】また測光光学系では、測光すべき物体を発
した光束は、撮影レンズ1を通過し、クイックリターン
ミラー11を透過し、サブミラー12を経て視野絞り2
を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳をリレーされ、つ
いでミラー4で反射されて明るさ絞り8に達する。明る
さ絞り8を通過した光束は、再結像レンズ9に入射す
る。再結像レンズ9から射出した光束は受光素子10に
導かれる。この時、測光光学系の視野は図5で示すよう
に受光素子10の面上に投影された視野絞り投影像1
3’と、受光素子10の受光範囲の重なりで決定され
る。
【0026】このように構成することにより、焦点検出
系の光束を損なうことなく測光光学系を焦点検出系と一
部共有化することができ、かつ、焦点検出光学系の視野
と測光光学系の視野を独立に設定できる効果がある。こ
の実施例では、明るさ絞り5a,5b及び6を同一面に
配置したが、明るさ絞り5a,5b及び6を同一面に配
置しなくても前記効果を得ることができる。なお、明る
さ絞り5a,5b及び6を同一面に配置することによ
り、明るさ絞りの開口を同一基盤上に構成しやすくな
り、組み立て性も含めて好都合である。但し、焦点検出
光学系と測光光学系の光軸方向の入射瞳の位置を変える
必要がある場合は、同一平面上に配置しなくても良い。
【0027】この実施例では、明るさ絞り5a,5bと
明るさ絞り6の形状を変えることにより、合焦精度を劣
化させることなく合焦検出光学系及び測光光学系の光量
を効率よく増やすことのできる構成を実現している。図
6には点線で図3の本実施例の明るさ絞りの形状を示し
ている。これより明るさ絞り5a,5b及び10の開口
の重心の距離が同じであることがわかる。
【0028】図6に示すように明るさ絞り5a,5bと
明るさ絞り6の形状を同じにすると、明るさ絞りの開口
面積が小さくなり、合焦検出光学系及び測光光学系の光
量が少なくなるものの、カメラ全体の仕様から合焦検出
光学系及び測光光学系の光量を必要としない場合は、明
るさ絞りの制作コストを低減することができる。
【0029】この実施例では、受光素子列8a,8bと
受光素子10を同一面に配置したが、受光素子列8a,
8bと受光素子10を同一面に配置しなくても前記効果
を得ることができる。なお、受光素子列8a,8bと受
光素子10を同一面に配置することにより、同一チップ
上に同一プロセスで受光素子を形成でき、電気回路の構
成等の都合上好ましい。但し、他の仕様の要請がある場
合、これにこだわる必要はない。
【0030】この実施例では、視野絞り2の開口は一つ
であるが、これを2つ以上にしても前記効果を得ること
ができる。例えば、図7の焦点検出光学系の視野絞りの
開口14aと測光系の視野絞りの開口14bのように視
野絞りを独立に配置した時、明るさ絞りの配置は図3と
同じようにして、受光素子列8a,8b及び受光素子1
0の面上に図8に示すように投影するように構成すれば
良い。なお、図8において14a’は、焦点検出光学系
の視野絞りの開口14aを受光素子10上に投影した図
であり、14b’は、測光系の視野絞りの開口14bを
受光素子列8a,8bに夫々投影した図を示している。
なお、視野絞りと受光素子の配置の組合せにより分割測
光も容易に達成できる。例えば、図9に示すような視野
絞り15a,15bと図10に示すような受光素子列8
a,8b及び受光素子10a,10bの配置により図1
1に示すように第一の測光視野16aと第2の測光視野
16bを選択できるカメラシステムが達成できるし、図
2に示した視野絞り2と図12に示すような受光素子列
8a,8b、第1の測光用受光素子17a及び第2の測
光用受光素子17bの配置により図13に示すように第
一の測光視野18aと第2の測光視野18bを選択でき
るカメラシステムが達成できる。当然、3つ以上の分割
測光も容易である。なお、図10において15a’は、
視野絞り15aを受光素子10a、及び受光素子列8
a,8b上に夫々投影した図を示しており、15b’
は、視野絞り15bを受光素子10b上に投影した図を
示している。
【0031】図14に示すように受光素子列8a,8b
の並びの延長上に受光素子10を配置しても前記効果を
得ることができる。このように配置することにより、幅
の狭い受光素子基盤が構成され、それが求められるカメ
ラボディレイアウトの場合は望ましいが、図4に示すよ
うな場合には受光素子列8a,8bの素子列の並びの延
長上に受光素子10を配置しない方がコンパクトな基盤
が構成でき、また、カメラボディの中にもレイアウトし
やすい。
【0032】本実施例のように、受光素子列8a,8b
及び受光素子10にそれぞれ対応する明るさ絞り5a,
5b及び6からの光束以外の光束が入射しないように構
成することにより、より精度の良い測光を行うことがで
きる。また、カメラの仕様によっては受光素子10に明
るさ絞り5a又は5bからの光束を入射させるようにし
てもよい。なお、受光素子10のレイアウトのバリエー
ションとして図15のように受光素子列8a,8bを平
行にすることも可能である。これらの受光素子のレイア
ウトのバリエーションは、視野絞り2、コンデンサーレ
ンズ3、明るさ絞り5a,5b及び6、再結像レンズ7
a,7b及び9の偏心関係の設定により設計上コントロ
ールすることができる。
【0033】第2実施例 図16は、本発明に係る焦点検出光学系及び測光光学系
の第2実施例を概念的に示しており、説明のためにクイ
ックリターンミラー11,サブミラー12,ミラー4等
は省略してある。焦点検出光学系の構成は基本的に第1
実施例と同じであり、焦点検出光学系の作用も第一実施
例と同じである。図17に明るさ絞り5a,5b,6a
及び6bの配置を、図2に視野絞り2の形状を、図18
に受光素子列8a,8bと受光素子19,20の配置を
示す。受光素子19は受光素子20より小さく設けられ
ている。
【0034】第1の測光光学系においては、測光すべき
物体を発した光束は、撮影レンズ1を通過し、クイック
リターンミラー11を透過しサブミラー12を経て視野
絞り2を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳をリレーさ
れ、ついでミラー4で反射され、明るさ絞り6aに達す
る。明るさ絞り6aを通過した光束は、再結像レンズ9
aに入射する。再結像レンズ9aに入射した光束は受光
素子19に導かれる。第2の測光光学系においては、測
光すべき物体を発した光束は、撮影レンズ1を通過し、
クイックリターンミラー11を透過しサブミラー12を
経て視野絞り2を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳を
リレーされ、ついでミラー4で反射され、明るさ絞り6
bに達する。明るさ絞り6bを通過した光束は、再結像
レンズ9bに入射する。再結像レンズ9bに入射した光
束は受光素子20に導かれる。なお、測光視野は視野絞
りと受光素子の受光範囲で決定されるので、図19で示
すように第1の測光系の視野19’は第2の測光系の視
野20’よりも小さなスポット状になる。
【0035】このように構成することにより、簡易でコ
ンパクトな構成でスポット測光の大きさを選択できるカ
メラシステムを達成することができる。なお、図20に
示すような明るさ絞り21,22を配置し、図18に示
すような受光素子19,20に入射する光量のバランス
をとっても良い。
【0036】第3実施例 図21(a),及び(b)は、本発明に係る焦点検出光
学系及び測光光学系の第3実施例を概念的に示してお
り、説明の都合上クイックリターンミラー11,サブミ
ラー12,ミラー4等は省略してある。また図21
(b)は、図21(a)に対して撮影レンズ1の光軸を
中心に90°回転されたものを示している。明るさ絞り
23以外の構成は基本的に第1実施例と同じであり、焦
点検出光学系の作用も第1実施例と同じである。(図2
1(a)で示す断面は撮影レンズの光軸と方向Wを含む
断面、図21(b)で示す断面は、撮影レンズの光軸と
方向Lを含む断面と呼ぶ)図22に明るさ絞り5a,5
b,23の配置を示している。図22に示したように撮
影レンズ1の光軸を中心にみると明るさ絞り23の範囲
は明るさ絞り5a,5bより外に広がるように構成され
ている。即ち、測光用再結像光学系の入射瞳を包含する
撮影レンズ側の最小Fナンバーが、焦点検出用再結像光
学系の入射瞳を包含する撮影レンズ側の最小Fナンバー
より小さく構成されている。これによりFナンバーが十
分小さい撮影レンズの場合、測光光学系の光量を増やす
ことができ、より低輝度の被写体の測光が可能となる。
また、受光素子列8a,8bがある長さを持つため図2
1(b)に示すように再結像レンズ7a,7bのレンズ
面の頂点は明るさ絞りの重心に対して撮影レンズの光軸
から遠ざかるように配置し、また、受光素子10を受光
素子列8a,8bに近づけ受光素子チップをコンパクト
にできるので図21(a)に示すように再結像レンズ9
のレンズ面の頂点は明るさ絞りの重心に対して撮影レン
ズの光軸に近づけるように配置にしてもよい。
【0037】Fナンバーが十分大きい撮影レンズの場
合、例えば、図23で示すように明るさ絞り23の一部
には光束が入らなくなり、光量が減り測光値が変化す
る。図23は、図21aに対してFナンバーが十分大き
い撮影レンズで構成したものである。この変化量は、撮
影レンズのFナンバーの情報からカメラシステム内で補
正することができる。更に図24で示すように、光束の
ケラレが発生する可能性のある部分(図24で点線で描
いた円より外側の部分、焦点検出光学系の明るさ絞り
は、この円の内側に配置する必要がある)の開口形状を
撮影レンズの光軸を軸とする扇型にすることにより、前
記の補正における補正値の算出が簡単になるので好まし
い。更に、開口の面積を前記の扇型を軸から構成したと
きと同じ面積にすることにより、Fナンバーの逆数と補
正量の関係が直線状になり更に好ましい。
【0038】また、合焦検出系視野と同一若しくは包含
する測光系視野を有し、合焦検出用受光素子列と測光用
受光素子が同一面にある必要がないカメラシステムの場
合、図25に示すように明るさ絞り24の近傍に、もし
くは、明るさ絞り24と一体化した測光用受光素子25
を配置しても同様の効果を得ることができる。この場
合、図21aにおける測光用光学素子9を配置する必要
がなくなる。
【0039】第4実施例 図26は、本発明に係る焦点検出光学系及び測光光学系
の第4実施例を概念的に示したものであり、説明上の都
合によりクイックリターンミラー11、サブミラー1
2、ミラー4等は省略してある。焦点検出光学系の構成
は基本的に第1実施例と同じであり、焦点検出光学系の
作用も第1実施例と同じである。また、明るさ絞りの配
置については第2実施例と同じであり、視野絞りの形状
については第1実施例と同じである。図27に受光素子
列8a,8bと受光素子26a,26bの配置を示して
いる。
【0040】測光光学系においては、測光すべき物体を
発した光束は、撮影レンズ1を通過し、クイックリター
ンミラー11を透過しサブミラー12を経て視野絞り2
を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳をリレーされ、つ
いでミラー4で反射され、明るさ絞り6a,6bに達す
る。明るさ絞り6a,6bを通過した光束は、再結像レ
ンズ9a,9bに入射する。再結像レンズ9a,9bに
入射した光束は受光素子26a,26bに導かれる。本
実施例では第1実施例に対して測光光学系の明るさ絞り
の開口面積が2倍になるように構成されているので、測
光系の低輝度に対する精度を上げることができる。
【0041】また、合焦検出系視野と同一若しくは包含
する測光系視野を有し、合焦検出用受光素子列と測光用
受光素子が同一面にある必要がないカメラシステムの場
合、図28に示すように明るさ絞り6a,6bの近傍
に、若しくは、明るさ絞り6a,6bと一体化した測光
用受光素子27a,27bを配置しても同様の効果を得
ることができる。この場合、図26における測光用光学
素子9a,9bを配置する必要がなくなる。
【0042】第5実施例 図29は本発明の第5実施例の焦点検出光学系及び測光
光学系の内、測光光学系に係わる部分を抜き出し概念的
に示したものである。説明の都合上クイックリターンミ
ラー11,サブミラー12,ミラー4等と焦点検出光学
系特有の明るさ絞り5a,5b、再結像レンズ7a,7
b、受光素子列8a,8bは省略してある。焦点検出光
学系の構成は基本的に第1実施例と同じであり、焦点検
出光学系の作用も第1実施例と同じである。また、明る
さ絞りの配置は第2実施例と同じであり、視野絞りの形
状、及び受光素子列と受光素子の配置については第1実
施例と同じである。
【0043】測光光学系においては、測光すべき物体を
発した光束は、撮影レンズ1を通過し、クイックリター
ンミラー11を透過しサブミラー12を経て視野絞り2
を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳をリレーされ、つ
いでミラー4で反射され、明るさ絞り6a,6bに達す
る。明るさ絞り6a,6bを通過した光束は、再結像レ
ンズ9a,9bに入射する。再結像レンズ9a,9bを
射出した光束は同じ受光素子10に導かれる。この実施
例では再結像レンズ9bのレンズ頂点を再結像レンズ9
aのレンズ頂点より撮影レンズ1の光軸に近づけるよう
に構成している。
【0044】本実施例では、第1実施例に対して、測光
光学系の明るさ絞りの開口面積が2倍になるように構成
されているので、測光系の低輝度に対する精度を上げる
ことができる。本実施例では明るさ絞り6a,6bを撮
影レンズの光軸に対して対称に配置しているが、特にこ
れに限定されることはない。また、明るさ絞り6bの面
積を小さくしたり撮影レンズの光軸に近づけるなどして
再結像レンズ9bへの負担を軽減しても良い。また、再
結像レンズ9a,9bの射出面にレンズ作用やプリズム
作用を持たせて入射面への負担を軽減させるようにして
もよい。
【0045】第6実施例 図30は、本発明の第6実施例の焦点検出光学系及び測
光光学系を概念的に示したものである。説明の都合上ク
イックリターンミラー11,サブミラー12,ミラー4
等は省略されている。焦点検出光学系の構成は基本的に
第1実施例と同じであり、焦点検出光学系の作用も第1
実施例と同じである。また、明るさ絞りの配置は第2実
施例と同じであり、視野絞りの形状については第1実施
例と同じであり、受光素子列と受光素子の配置について
は第4実施例と同じである。図30において、28a,
及び28bは、明るさ絞り6a,6b近傍に夫々配置さ
れた分光特性の異なるフィルターである。
【0046】測光光学系においては、測光すべき物体を
発した光束は、撮影レンズ1を通過し、クイックリター
ンミラー11を透過しサブミラー12を経て視野絞り2
を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳をリレーされミラ
ー4で反射され、明るさ絞り6a,6bに達する。明る
さ絞り6a,6b近傍に配置された分光透過率特性の異
なるフィルター28a,28bによりそれぞれの分光特
性に異なる作用を受ける。明るさ絞り6a,6bを通過
した光束は、再結像レンズ9a,9bに入射する。再結
像レンズ9a,9bに入射した光束は受光素子26a,
26bに導かれる。受光素子26a,26bは異なる分
光特性の光束を受けることになる。受光素子26a,2
6bの出力を比較することにより被写体や光源の色温度
等を推定することが可能となる。本発明による受光素子
10a,10bの出力に加え、例えばフアインダーブロ
ック内に設けられた測光系等の情報を加味するなどカメ
ラシステムの構築も可能となる。
【0047】本実施例では、明るさ絞り6a,6bの近
傍にフィルター28a,28bを設けたが、受光素子2
6a,26b自体の分光特性を異ならせるようにしても
良いし、再結像レンズ9a,9bに異なる分光透過率を
もったコーティングを施しても良い。更に、同様の方法
により焦点検出光学系の分光特性と測光光学系の分光特
性を異ならせることにより、撮影レンズ等の色収差や補
助光等を考慮し焦点検出精度を高めることのできる像情
報に敵した分光特性をもつ焦点検出光学系と、光源やフ
ィルム等の特性を考慮し、露出決定に敵した明るさ情報
を得ることのできる分光特性をもつ測光光学系を両立さ
せることができる。この時、焦点検出光学系内にフィル
ター等分光特性変化手段を配置してもよい。なお、これ
ら分光特性変化手段とは別にコンデンサーレンズ3近傍
等に赤外線カットフィルター等の焦点検出光学系と測光
光学系の両方に対する分光特性変化手段を設けても本発
明と同様の効果を得ることができる。また、本実施例の
測光光学系は2系統であったが、3系統以上にして更に
詳細な被写体や光源の分光特性の算出が可能になるよう
にしても良い。
【0048】第7実施例 図31は、本発明に係る焦点検出光学系及び測光光学系
の第7実施例を概念的に示しており、説明の都合上クイ
ックリターンミラー11,サブミラー12,ミラー4等
は省略されている。焦点検出光学系の構成は基本的には
第1実施例と同じであり、焦点検出光学系の作用も第1
実施例と同じである。また、明るさ絞りの配置について
は第2実施例と同じであり、視野絞りの形状については
第1実施例と同じであり、受光素子列と受光素子の配置
については第4実施例と同じである。フィルター29
は、測光用受光素子感度領域における概略全波長で約
0.78%の透過率を有するものを配置する。
【0049】第1の測光光学系においては、測光すべき
物体を発した光束は、撮影レンズ1を通過し、クイック
リターンミラー11を透過しサブミラー12を経て視野
絞り2を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳をリレーさ
れ、ついでミラー4で反射され、明るさ絞り6aに達す
る。明るさ絞り6aを透過した光束は再結像レンズ9a
に入射する。再結像レンズ9aに入射した光束は受光素
子26aに導かれる。第2の測光光学系においては、測
光すべき物体を発した光束は、撮影レンズ1を通過し、
クイックリターンミラー11を透過しサブミラー12を
経て視野絞り2を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳を
リレーされ、ついでミラー4で反射され、明るさ絞り6
bに達する。明るさ絞り6b近傍に配置されたフィルタ
ー29により光量が約0.78%になる。明るさ絞り6
bとフィルター29を通過した光束は、再結像レンズ9
bに入射する。再結像レンズ9bに入射した光束は受光
素子26bに導かれる。受光素子26bに入射する光量
は受光素子26aに入射する光量の約−7EVに相当す
ることになる。被写体の輝度が小さい場合は受光素子2
6aからの出力で測光できる。被写体の輝度が高くなり
受光素子26aのダイナミックレンジを越えた場合は受
光素子26bからの出力で測光できる。これにより例え
ばダイナミックレンジが10EVの受光素子を使う場
合、カメラシステムとして約17EVのダイナミックレ
ンジをもつ測光系が可能となる。受光素子26aと受光
素子26bの切替えはカメラシステム全体の構成の中で
決定されるが、この実施例では約3EVのオーバーラッ
プを決定することにより安定して広いダイナミックレン
ジの測光を可能にしている。例えば、受光素子26aの
出力が最大出力に対して−2EVから−1EVのときは
受光素子26aと受光素子26bの出力値から露出を決
定し、受光素子26aの出力が最大出力に対して−1E
Vを越えると受光素子26bの出力を採用して露出を決
定する方法がある。
【0050】なお、本実施例のようにフィルターによる
光量制限のかわりに受光素子26aと受光素子26bの
受光感度を異ならせても同様の効果を得ることができ
る。なお、第6実施例や第8実施例のように明るさ絞り
の面積による光量制限と本実施例のようなフィルターに
よる光量制限や受光素子の受光感度による制御を組み合
わせてもよい。
【0051】第8実施例 図32は、本発明に係る焦点検出光学系及び測光光学系
の第8実施例の内、測光光学系に関わる部分を概念的に
示しており、説明の都合上クイックリターンミラー1
1、サブミラー12、ミラー4等と焦点検出光学系特有
の明るさ絞り5a,5b、再結像レンズ7a,7b、受
光素子列8a,8bは省略してある。焦点検出光学系の
構成は基本的に第1実施例と同じであり、焦点検出光学
系の作用も第1実施例と同じである。また、明るさ絞り
の配置については第2実施例と同じであり、視野絞りの
形状については第1実施例と同じであり、受光素子列と
受光素子の配置については第4実施例と同じである。
【0052】測光光学系においては、測光すべき物体を
発した光束は、撮影レンズ1を通過し、クイックリター
ンミラー11を透過しサブミラー12を経て視野絞り2
を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳をリレーされ、つ
いでミラー4で反射され、明るさ絞り21,22に達す
る。明るさ絞り22は明るさ絞り21の面積より小さく
構成されている。明るさ絞り21,22を通過した光束
は、再結像レンズ9a,9bに入射する。再結像レンズ
9a,9bから射出した光束は受光素子26a,26b
に入射する。受光素子26bには受光素子26aに対し
て明るさ絞り21に対する明るさ絞り22の面積の割合
に応じた光量が入射する。このときそれぞれの系統の測
光光学系の視野は同じである。被写体の輝度が小さい場
合は受光素子26aからの出力で測光できる。被写体の
輝度が高くなり受光素子26aのダイナミックレンジを
越えた場合は受光素子26bからの出力で測光できる。
これにより例えばダイナミックレンジが10EVの受光
素子を使う場合、カメラシステムとして最大20EVの
ダイナミックレンジをもつ測光系が可能となる。最大シ
ャッタースピードが速いカメラの実用化が進んでいるな
かで、本実施例はこのようなカメラの機能を発揮させる
ことができる。受光素子26aと受光素子26bの切替
えはカメラシステム全体の構成の中で決定されるが、例
えば、受光素子26aの出力がある一定値を越えると受
光素子26bの出力を採用して露出を決定する方法があ
る。
【0053】明るさ絞りの構成は、図33のように明る
さ絞り30を第2実施例で示したような明るさ絞り5
a,5bより撮影レンズ1の光軸より外側の領域まで含
ませてもよい。この場合、明るさ絞り31は、明るさ絞
り5a,5bより撮影レンズ1の光軸より外側の領域を
含ませない方が望ましい。なお、焦点検出光学系につい
ては、被写体の輝度が低い場合、カメラシステムに搭載
された補助光を照射することにより実質的にダイナミッ
クレンジを広げても良い。また、合焦検出系視野と同一
若しくはこれを包含する測光系視野を有し、合焦検出用
受光素子列と測光用受光素子が同一面にある必要がない
カメラシステムの場合、図34に示すように明るさ絞り
21,22の近傍に、若しくは、明るさ絞り21,22
と一体化した測光用受光素子32a,32bを配置して
も同様の効果を得ることができる。この場合、図32に
おける測光用光学素子9a,9bを配置する必要がなく
なる。
【0054】第9実施例 図35は、本発明に係る焦点検出光学系及び測光光学系
の第9実施例の視野絞り以降の概念図を示しており、説
明の都合上ミラー4は省略されている。焦点検出光学系
の構成は基本的に第1実施例と同じであり、焦点検出光
学系の作用も第1実施例と同じである。図36に再結像
レンズ7a,7b,9a及び9bの拡大図を示してお
り、図37に受光素子列8a,8bと受光素子26a,
26bの配置を夫々示している。また、視野絞りの形状
については第1実施例と同じであり、明るさ絞りの配置
については第2実施例と同じである。なお、図37にお
ける点線は図27で説明した受光素子26a,26bを
示している。測光光学系においては、測光すべき物体を
発した光束は、撮影レンズ1を通過し、クイックリター
ンミラー11を透過しサブミラー12を経て視野絞り2
を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳をリレーされ、つ
いでミラー4で反射され、明るさ絞り6a,6bに達す
る。明るさ絞り6a,6bを通過した光束は、再結像レ
ンズ9a,9bに入射する。再結像レンズ9a,9bは
それぞれ撮影レンズの光軸に対称に同じ作用をするので
再結像レンズ9aについてのみ以下に説明する。
【0055】再結像レンズ9aの入射面は、焦点検出光
学系の再結像レンズ5aとより強い屈折力をもつレンズ
面で構成される。更に再結像レンズ9aの厚みは再結像
レンズ5aより厚く構成されている。このような構成を
採用することにより、明るさ絞り面から受光素子面まで
の光路長は測光光学系の方が短く構成でき、再結像レン
ズ9aの入射面は再結像レンズ5aとより強い屈折力を
もつレンズ面で構成しても、視野絞りと受光素子面は焦
点検出光学系と測光光学系の両方とも共役関係をもたせ
ることができ、かつ、測光光学系の倍率の絶対値を焦点
検出光学系より小さくすることができ、受光素子26a
を小さく構成できる。その結果として受光素子チップを
小さくすることができ、前述のようにカメラシステムに
メリット上好都合である。また、同じ光量に対し受光素
子を小さくすることができるので、S/Nを良くするこ
とができる(Nを小さくできる)。
【0056】図38は測光光学系の倍率の絶対値を焦点
検出光学系より小さくする別の実施例の焦点検出光学系
及び測光光学系の概念図である。図38に示すように測
光光学系の入射面、射出面にレンズ作用を持たせ、主点
位置を調整することにより、測光光学系の倍率の絶対値
を焦点検出光学系より小さくしながら、視野絞りと受光
素子面は焦点検出光学系と測光光学系の両方とも共役関
係をもたせてもよい。
【0057】第10実施例 図39は本発明に係る焦点検出光学系及び測光光学系の
第10実施例についての視野絞り以降の概念図である。
説明の都合上ミラー4は省略されている。焦点検出光学
系の構成は基本的に第1実施例と同じであり、焦点検出
光学系の作用も第1実施例と同じである。図40に測光
光学系の光学素子33aの非球面シリンドリカルレンズ
面33cの拡大図を示しており、33e及び33gは平
面部、33fは曲面部をなしている。また図41に受光
素子列8a,8bと受光素子34a,34bの配置を示
している。視野絞りの形状については第1実施例と同じ
であり、明るさ絞りの配置関係については第2実施例と
同じである。なお、図41の点線は図27の受光素子3
4a,34bを示している。
【0058】測光光学系においては、測光すべき物体を
発した光束は、撮影レンズ1を通過し、クイックリター
ンミラー11を透過し、サブミラー12を経て、視野絞
り2を通過し、コンデンサーレンズ3で瞳をリレーさ
れ、ついでミラー4で反射され、明るさ絞り6a,6b
に達する。明るさ絞り6a,6bを通過した光束は光学
素子33a,33bに入射する。光学素子33a,33
bはそれぞれ撮影レンズの光軸に対称に同じ作用をする
ので、以下光学素子33aについてのみ説明する。光学
素子33aの入射面は第9実施例と同様に視野絞り2と
受光素子面がほぼ共役関係が成り立つように構成されて
いる。光学素子33aの射出面の受光素子列7aの列の
並び方向L(図39では紙面に垂直な方向)の成分につ
いては屈折力を持たない非球面シリンドリカル面で構成
する。方向Lの成分については屈折力を持たないので、
方向Lの成分については焦点検出光学系と同様に視野絞
り2と受光素子面が共役関係をもつように構成される。
受光素子列8aの列の並びに垂直な方向を方向Wとす
る。光学素子33aの射出面の方向Wの成分は(撮影レ
ンズの光軸方向Xと方向Wによる断面)は、2つの角度
の異なる平面とその間に配置された凸の曲面からなり、
これらは滑らかにつながっている。平面を射出した光束
は視野絞り2と受光素子面が共役関係にあり、曲面部を
射出した光束は明るさ絞り面と受光素子面が共役関係を
にあるように構成する。このように構成することにより
光束全体としては、測距光学系の視野と明るさ絞り6a
を通過した光束は略全て受光素子34aに入射させるこ
とができる。このように構成することにより、図41で
示すようにL成分での倍率と視野絞りで決定されるW方
向の大きさに対し約半分の大きさの受光素子で構成で
き、その結果として受光素子チップを小さくすることが
でき、前述のようにカメラシステム上好都合である。
【0059】また、同じ光量に対し受光素子を小さくす
ることができるのでS/Nを良くすることができる(N
を小さくできる。)図41でのW方向の長さは、図27
の約7割にできている。この効果を説明するために、図
42(a)に光学素子33aの射出面を一つの平面で構
成した従来のもの、図42(b)に光学素子33aの射
出面の方向Wの成分を2つの角度の異なる平面で構成し
たもの、図42(c)に本実施例の考え方の光学素子3
3aを示す。図42(b),図42(c)の受光素子の
長さは図42aの受光素子の長さの半分にしてある。な
お、図42(a),(b)及び(c)は説明のため、コ
ンデンサーレンズを省略してある。また、図43(a)
に図42(b)の光学素子部の拡大図を、図43(b)
に図42(c)の光学素子部の拡大図を示した。図42
(b)の構成では多くの光束は受光素子に入射するもの
の、中間像高の一部の光束が受光素子からはずれる。こ
れに図42(c),図43(b)で示すように凸の曲面
を加えることにより全ての光束を受光素子に導くことが
できる。また、光学素子33aの射出面の光束通過範囲
全体を明るさ絞り面と受光素子面が共役関係を持つよう
に構成しようとすると、曲面の曲率が強すぎて射出面を
構成できない。
【0060】本実施例では、光学素子33aの射出面に
視野絞り2と受光素子面を共役関係にする機能と明るさ
絞り面と受光素子面が共役関係にする機能を組み合わせ
ることにより、受光素子を小さくする効果を達成してい
る。本実施例における測光光学系の視野は方向Lに付い
ては、受光素子34a,34bの受光範囲で、方向Wに
ついては視野絞り2で決定している。また、光学素子3
3aは前記効果を得る範囲で全て曲面で構成してもよ
い。その時、W−W断面は有効範囲の中心部に比べ周辺
部の曲率がゆるい非球面となる。この時曲率の範囲は、
概略視野絞り2と受光素子面を共役関係にするのに必要
な曲率と概略明るさ絞り面と受光素子面を共役関係にす
るのに必要な曲率の範囲内にあるのが望ましい。
【0061】また、光学素子33aの射出面はこのとき
のW−W断面は他の屈折面と合わせた効果として概略視
野絞り2と受光素子面を共役関係にするのに必要な曲率
をもたせた非球面アナモフィックレンズ面にしてもよ
い。このように構成することにより主点位置を焦点検出
光学系より受光素子面に近づけることにより倍率を小さ
くすることができる。また、像高により光束が分離して
いる方が、視野絞り2と受光素子面を共役関係にする機
能と明るさ絞り面と受光素子面が共役関係にする機能を
組合せることが容易になるため、測光光学系の光学素子
の光路長は、明るさ絞りからセンサーまでの光路長の半
分以上の方が好ましい。また、図44のように、測光光
学系の光学素子の光路長を焦点検出光学系の再結像光学
系の光路長より長くすると第9実施例で示したように倍
率の効果を合わせることができ好ましい。
【0062】以上説明したように、本発明の焦点検出及
び測光光学系は、前述の特許請求の範囲に記載した特徴
の他にも、以下のような特徴を有している。
【0063】(1) 撮影レンズからの光束の一部を用
いて焦点検出及び測光を行う装置において、該再結像光
学系は視野絞りと焦点検出用光電変換手段と測光用光電
変換手段を有し、少なくとも測光用光学系の一部の視野
は測光用光電変換手段で制限されるようにしたことを特
徴とする請求項3に記載の焦点検出及び測光光学系。
【0064】(2) 撮影レンズからの光束の一部を用
いて焦点検出及び測光を行う装置において、該再結像光
学系は視野絞りと焦点検出用光電変換手段と測光用光電
変換手段を有し、少なくとも焦点検出光学系の一部の視
野は焦点検出光電変換手段で制限されるようにしたこと
を特徴とすることを特徴とする請求項3に記載の焦点検
出及び測光光学系。
【0065】(3) 撮影レンズからの光束の一部を用
いて焦点検出及び測光を行う装置において、該再結像光
学系は視野絞りと焦点検出用光電変換手段と測光用光電
変換手段を有し、該焦点検出用光電変換手段は受光素子
列からなり、撮影レンズの光軸に垂直な平面において、
該受光素子列の列方向を方向L、方向Lに垂直な方向を
方向Wとしたとき、少なくとも焦点検出光学系の方向W
の視野の一部は焦点検出光電変換手段で制限し、少なく
とも測光光学系の方向Lの視野の一部は測光用光電変換
手段で制限されるようにしたことを特徴とする請求項3
又は上記(1)乃至(2)のいずれかに記載の焦点検出
及び測光光学系。
【0066】(4) 撮影レンズからの光束の一部を用
いて焦点検出及び測光を行う装置において、該再結像光
学系は視野絞りと焦点検出用光電変換手段と測光用光電
変換手段を有し、該焦点検出用光電変換手段と該測光用
光電変換手段は同一面に構成されていることを特徴とす
る請求項1に記載の焦点検出及び測光光学系。このよう
に構成することにより、同じ半導体基盤上に同一プロセ
スで焦点検出用受光素子列と測光用受光素子を形成する
ことができ、電気回路や演算手段等への結線手段等を含
め、コンパクトに且つ低コストで構成することができ
る。
【0067】(5) 撮影レンズからの光束の一部を用
いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくとも
撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近またはそ
れ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過した
光束を再結像するための焦点検出用再結像レンズと、該
視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段に導くた
めの測光用光学素子と、撮影レンズからの光束を焦点検
出用再結像レンズと測光用光学素子に導くための該視野
絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点検出
用光電変換手段と、測光用光電変換手段から構成される
光学系を有し、焦点検出用光束と測光用光束はコンデサ
ーレンズの同一の入射面と同一の出射面を透過してお
り、該焦点検出用再結像レンズと測光用光学素子の少な
くとも入射面は独立しており、該焦点検出用光電変換手
段は受光素子列からなり、受光素子列の列の並びの延長
上から構成される領域と該測光用光電変換手段の受光領
域が独立していることを特徴とする請求項1に記載の焦
点検出及び測光光学系。このように構成することによ
り、測光光学系の明るさ絞りを通過した光束が焦点検出
用受光素子列に入射しない受光素子基盤をコンパクトに
構成できる。
【0068】(6) 撮影レンズからの光束の一部を用
いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくとも
撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又はそれ
以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過した光
束を再結像するための焦点検出用再結像レンズと、該視
野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段に導くため
の測光用光学素子と、撮影レンズからの光束を焦点検出
用再結像レンズと測光用光学素子に導くための該視野絞
り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点検出用
光電変換手段と、測光用光電変換手段から構成される光
学系を有し、焦点検出用光束と測光用光束はコンデンサ
ーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透過してお
り、該焦点検出用再結像レンズと測光用光学素子の少な
くとも入射面は独立しており、かつ、該焦点検出用再結
像レンズと測光用光学素子はそれぞれ複数配置されてお
り、前記それぞれのレンズ等の光学素子に対応する光電
変換手段から構成される光学系を有し、該焦点検出用光
電変換手段は受光素子列からなり、前記測光用光学素子
から出射した光束はそれぞれ対向する光電変換手段のみ
に入射するようにしたことを特徴とする上記(4)又は
(5)に記載の焦点検出及び測光光学系。このように構
成することにより、測光用光学系の負担を低減したり、
それぞれの明るさ絞りと対応する受光素子でそれぞれ役
割を持たせることができる。
【0069】(7) 撮影レンズからの光束の一部を用
いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像レンズと、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段に導く
ための測光用光学素子を、撮影レンズからの光束を焦点
検出再結像レンズと測光用光学素子に導くための該視野
絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点検出
用光電変換手段と、測光用光電変換手段から構成される
光学系を有し、焦点検出用光束と測光用光束はコンデン
サーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透過してお
り、該焦点検出用再結像レンズと測光用光学素子の少な
くとも入射面は独立しており、かつ、該焦点検出用再結
像レンズと測光用光学素子はそれぞれ複数配置されてお
り、測光用光電変換手段は前記測光用光学素子より少な
い数の測光用受光素子から構成される光学系を有し、該
焦点検出用光電変換手段は受光素子列からなり、前記測
光用光電素子から射出した光束は測光用受光素子のみに
入射することを特徴とする上記(4)又は(5)に記載
の焦点検出及び測光光学系。このように構成することに
より、一つの受光素子に多くの光量を入射させ、結果的
に受光素子のS/Nを上げることができるとともに、そ
れぞれのボディ全体に求められる特性に合わせることが
できる。
【0070】(8) 撮影レンズからの光束の一部を用
いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を焦点検出用光電変換手段に導くための再結像レ
ンズを有する焦点検出用再結像光学系と、該視野絞りを
透過した光束を測光用光電変換手段へ導く測光用光学素
子を有する測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦
点検出用再結像レンズと測光用光学素子に導くための該
視野絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点
検出用光電変換手段と、測光用光電変換手段とから構成
される複数の光学系を有し、該焦点検出用再結像光学系
と測光用光学系の入射瞳は独立しており、焦点検出用再
結像レンズと測光用光学素子の少なくとも入射面または
射出面が独立しており、焦点検出用光束と測光用光束は
コンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透
過していることを特徴とする焦点検出及び測光光学系
で、前記測光光学系は複数配置され、少なくとも1つの
測光光学系の視野は他の測光光学系の視野と異なること
を特徴とする請求項1または2に記載の焦点検出及び測
光光学系。
【0071】(9) 撮影レンズからの光束の一部を用
いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を焦点検出用光電変換手段に導くための再結像レ
ンズを有する焦点検出用再結像光学系と、該視野絞りを
透過した光束を測光用光電変換手段へ導く測光用光学素
子を有する測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦
点検出用再結像レンズと測光用光学素子に導くための該
視野絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点
検出用光電変換手段と、測光用光電変換手段とから構成
される複数の光学系を有し、該焦点検出用再結像光学系
と測光用光学系の入射瞳は独立しており、焦点検出用再
結像レンズと測光用光学素子の少なくとも入射面または
射出面が独立しており、焦点検出用光束と測光用光束は
コンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透
過していることを特徴とする焦点検出及び測光光学系
で、前記測光光学系は複数配置され、少なくとも1つの
測光光学系の視野は他の少なくとも一つの測光光学系の
視野と独立していることを特徴とする上記(8)に記載
の焦点検出及び測光光学系。
【0072】(10) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を焦点検出用光電変換手段に導くための再結像レ
ンズを有する焦点検出用再結像光学系と、該視野絞りを
透過した光束を測光用光電変換手段へ導く測光用光学素
子を有する測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦
点検出用再結像レンズと測光用光学素子に導くための該
視野絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点
検出用光電変換手段と、測光用光電変換手段とから構成
される複数の光学系を有し、該焦点検出用再結像光学系
と測光用光学系の入射瞳は独立しており、焦点検出用再
結像レンズと測光用光学素子の少なくとも入射面または
射出面が独立しており、焦点検出用光束と測光用光束は
コンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透
過していることを特徴とする焦点検出及び測光光学系
で、前記測光光学系は複数配置され、少なくとも1つの
測光光学系の視野は他の少なくとも一つの測光光学系の
視野より小さく、かつ、これに含まれることを特徴とす
る上記(8)に記載の焦点検出及び測光光学系。
【0073】(11) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像光学系と、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦点検出用再
結像レンズと測光用光電変換手段に導くための該視野絞
り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点検出用
光電変換手段と測光用光電変換手段から構成される複数
の光学系を有し、該焦点検出用再結像光学系と測光用光
学系の入射瞳は独立しており、焦点検出用光束と測光用
光束はコンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出
面を透過し、少なくとも一つの測光用光電変換手段で電
気信号に変換される分光感度は、他の焦点検出用光電変
換手段、または、測光用光電変換手段で電気信号に変換
される分光感度と異なることを特徴とする焦点検出及び
測光光学系。
【0074】(12) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像レンズと、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
ための測光用光学素子と、撮影レンズからの光束を焦点
検出用再結像レンズと測光用光学素子に導くための該視
野絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと焦点検出
用光電変換手段と測光用光電変換手段から構成される光
学系を有し、焦点検出用光束と測光用光束は上記コンデ
ンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透過して
おり、該焦点検出用再結像レンズと上記測光用光学素子
の少なくとも入射面は独立しており、上記焦点検出用光
束は上記焦点検出用再結像レンズを、上記測光用光束は
上記測光用光学素子を夫々通過し、上記測光用光学系の
少なくとも一つの分光透過率が他の焦点検出用再結像光
学系または他の測光用光学系の分光透過率と異なること
を特徴とする請求項1または2に記載の焦点検出及び測
光光学系。
【0075】(13) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、コンデンサーレンズ
と明るさ絞りと焦点検出用光電変換手段と測光用光電変
換手段から構成され、焦点検出用光束と測光用光束はコ
ンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透過
し、それぞれ独立した入射瞳を有する焦点検出用再結像
光学系及び測光光学系を有するとともに、上記焦点検出
用再結像光学系の入射瞳に対応する開口と、上記測光光
学系の入射瞳に対応する開口を有し、少なくとも一つの
開口に分光透過率を変化させるフィルター手段を有する
ことを特徴とする上記(11)又は(12)に記載の焦
点検出及び測光光学系。
【0076】(14) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像レンズと、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
ための測光用光学素子と、撮影レンズからの光束を焦点
検出用再結像レンズと測光用光学素子に導くための該視
野絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点検
出用光電変換手段と、測光用光電変換手段から構成され
る光学系を有し、焦点検出用光束と測光用光束はコンデ
ンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透過して
おり、該焦点検出用再結像レンズと測光用光学素子の少
なくとも入射面は独立しており、少なくとも一つの光学
素子に分光透過率を変化される手段を有することを特徴
とする上記(12)に記載の焦点検出及び測光光学系。
【0077】(15) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、コンデンサーレンズ
と、明るさ絞りと、焦点検出用光電変換手段と、測光用
光電変換手段から構成され、焦点検出用光束と測光用光
束はコンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面
を透過し、それぞれ独立した入射瞳を有する焦点検出用
再結像光学系及び測光光学系を有し、少なくとも一つの
光電変換手段の分光受光感度が異なることを特徴とする
上記(11)又は(12)に記載の焦点検出及び測光光
学系。
【0078】(16) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、コンデンサーレンズ
と、明るさ絞りと、焦点検出用光電変換手段と、測光用
光電変換手段から構成され、焦点検出用光束と測光用光
束はコンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面
を透過し、それぞれ独立した入射瞳を有する焦点検出用
再結像光学系及び測光光学系を有し、前記測光光学系は
複数配置されており、測光用光学系の少なくとも一つの
分光透過率が他の測光用光学系の分光透過率と異なるこ
とを特徴とする上記(11)又は(12)に記載の焦点
検出及び測光光学系。このように構成することにより、
それぞれの受光素子からの出力を演算することにより被
写体や光源の色温度情報等を得ることができ、カラーフ
ィルムを使用した場合、より自然な色を再現をすること
が可能となる。
【0079】(17) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、コンデンサーレンズ
と、明るさ絞りと、焦点検出用光電変換手段と、測光用
光電変換手段から構成され、焦点検出用光束と測光用光
束はコンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面
を透過し、それぞれ独立した入射瞳を有する焦点検出用
再結像光学系及び測光光学系を有し、前記測光光学系は
複数配置されており、測光用光学系の少なくとも一つの
分光透過率が少なくとも他の一つの測光用光学系の分光
透過率に対して、相対的な波長特性が略同等であり、全
体的な透過率が異なることを特徴とする上記(11)又
は(12)に記載の焦点検出及び測光光学系。このよう
に構成することにより、カメラシステム全体の測光可能
なダイナミックレンジを広げることができる。
【0080】(18) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、コンデンサーレンズ
と、明るさ絞りと、焦点検出用光電変換手段と、測光用
光電変換手段から構成され、焦点検出用光束と測光用光
束はコンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面
を透過し、それぞれ独立した入射瞳を有する焦点検出用
再結像光学系及び測光光学系を有し、前記測光光学系は
複数配置されており、少なくとも一つの測光用受光素子
の分光受光感度が少なくとも他の一つの測光用受光素子
の分光受光感度に対して、相対的な波長特性が略同等で
あり、全体的な感度が異なることを特徴とする上記(1
1)又は(12)に記載の焦点検出及び測光光学系。こ
のように構成することにより、カメラシステム全体の測
光可能なダイナミックレンジを広げることができる。
【0081】(19) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像光学系と、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
ための測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦点検
出用再結像レンズと測光用光電変換手段に導くための該
視野絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点
検出用光電変換手段と、測光用光電変換手段から構成さ
れる複数の光学系を有し、焦点検出用光束と測光用光束
はコンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面を
透過しており、該焦点検出用再結像光学系と測光用光学
系の入射瞳は独立し、少なくとも一つの測光用光学系の
入射瞳を撮影レンズの光軸を中心に回転させても焦点検
出用結像光学系の入射瞳または他の測光用光学系の入射
瞳と一致しないことを特徴とする焦点検出及び測光光学
系。このように構成することにより、測光光学系の明る
さ絞りは、焦点検出光学系の明るさ絞りの制約条件に支
配されず独立に決めることができる。
【0082】(20) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像レンズと、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
ための測光用光学素子と、撮影レンズからの光束を焦点
検出用再結像レンズと、測光用光学素子に導くための該
視野絞り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点
検出用光電変換手段と、測光用光電変換手段から構成さ
れる光学系を有し、焦点検出用光束と測光用光束はコン
デンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面を透過し
ており、該焦点検出用再結像レンズと測光用光学素子の
少なくとも入射面は独立しており、それぞれ独立した入
射瞳を有する光学系を有し、少なくとも一つの測光用光
学系の入射瞳を撮影レンズの光軸を中心に回転させても
焦点検出用結像光学系の入射瞳または他の測光用光学系
の入射瞳と一致しないことを特徴とする請求項1または
2に記載の焦点検出及び測光光学系。このように構成す
ることにより、測光光学系の明るさ絞りは、焦点検出光
学系の明るさ絞りの制約条件に支配されず独立に決める
ことができる。
【0083】(21) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、コンデンサーレンズ
と、明るさ絞りと、焦点検出用光電変換手段と、測光用
光電変換手段から構成され、焦点検出用光束と測光用光
束はコンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面
を透過し、それぞれ独立した入射瞳を有する焦点検出用
再結像光学系及び測光光学系を有し、少なくとも一つの
測光光学系の入射瞳を包括する撮影レンズ側の最小Fナ
ンバーが焦点検出用再結像光学系の入射瞳を包括する撮
影レンズ側の最小Fナンバーより小さいことを特徴とす
る上記(19)又は(20)に記載の焦点検出及び測光
光学系。このように構成することにより、測光用光学系
は撮影レンズによってケラレても撮影レンズのFナンバ
ーや必要ならば射出瞳の情報により測光系としては十分
な補正をすることができる。
【0084】(22) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、コンデンサーレンズ
と、明るさ絞りと、焦点検出用光電変換手段と、測光用
光電変換手段から構成され、焦点検出用光束と測光用光
束はコンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面
を透過し、それぞれ独立した入射瞳を有する焦点検出用
再結像光学系及び測光光学系を有し、前記測光用光学系
は複数配置されており、少なくとも一つの測光用光学系
の明るさ絞りの面積を他の測光用光学系の明るさ絞りの
面積より大きくしたことを特徴とする上記(19)又は
(20)に記載の焦点検出及び測光光学系。このように
構成することにより、輝度の暗い被写体には、大きな明
るさ絞りの測光系の出力を用い、輝度の明るい被写体、
例えば、大きな明るさ絞りの測光系の出力が、ある値を
越えるような時は、小さな明るさ絞りの測光系の出力を
用いることができるので、焦点検出系の場合は補助光に
より被写体輝度を補うことができるため系としてのダイ
ナミックレンジは大きくする必要はないが、一方の測光
系では、輝度の小さい被写体に対応するため、光量を多
く取れる光学系を用いることにより輝度の大きい被写体
に対して受光素子のダイナミックレンジを越えて測光不
能になることもないし、またコストアップの要因になっ
たりシステムを複雑化させるダイナミックレンジの大き
な受光素子は不要となる。
【0085】(23) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、コンデンサーレンズ
と、明るさ絞りと、焦点検出用光電変換手段と、測光用
光電変換手段から構成され、焦点検出用光束と測光用光
束はコンデンサーレンズの同一の入射面と同一の射出面
を透過し、それぞれ独立した入射瞳を有する焦点検出用
再結像光学系及び測光光学系を有し、前記測光用光学系
は複数配置されており、少なくとも一つの測光用光学系
の入射瞳を包括する撮影レンズの最小Fナンバーが焦点
検出用再結像光学系の入射瞳を包括する最小Fナンバー
より小さく、他の測光用光学系の入射瞳を包括する最小
Fナンバーが焦点検出用再結像光学系の入射瞳を包括す
る最小Fナンバーより小さくないようにしたことを特徴
とする上記(19)又は(20)に記載の焦点検出及び
測光光学系。このように構成することにより、測光光学
系と焦点検出光学系の視野を同じにするカメラシステム
の場合、測光用受光素子を明るさ絞り近傍に配置した
り、または、測光用受光素子の受光範囲と明るさ絞りの
開口を一致させても上記(22)と同様の効果を得るこ
とができる。
【0086】(24) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像光学系と、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
ための測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦点検
出用再結像レンズと測光用光学系に導くための該視野絞
り付近に配置されたコンデンサーレンズと、焦点検出用
光電変換手段と、測光用光電変換手段から構成される複
数の光学系を有し、該焦点検出用再結像光学系と測光用
光学系の入射瞳は独立しており、該焦点検出用光電変換
手段は受光素子列からなり、受光素子列方向Lの予定結
像面における焦点検出に必要な視野の長さをIFL 、焦点
検出に必要な視野に対応する受光素子列上方向Lの長さ
をSFL 、前記焦点検出光学系の該受光素子列方向に垂直
な方向Wの予定結像面における測光視野の長さをIEW 、
測光視野に対応する測光用受光素子上方向Wの長さをSE
W とした時以下の式が成り立つようにしたことを特徴と
する請求項1または2に記載の焦点検出及び測光光学
系。 SFL/IFL > SEW/IEW このように構成することにより、測光系の受光素子の大
きさを小さくするこができ、受光基盤のコンパクト化を
達成することができる。また、(SEW/IEW) が小さくなる
ことは測光光束が集光することを意味し、単位面積当た
りの光量が増え、受光素子のS/Nを向上させることが
できる。
【0087】(25) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像光学系と、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
ための測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦点検
出用再結像レンズと測光用光学系に導くための該視野絞
り付近に配置されたコンデンサーレンズと、略同一面に
構成された焦点検出用光電変換手段と測光用光電変換手
段から構成される複数の光学系を有し、該焦点検出用再
結像光学系と測光用光学系の入射瞳は独立しており、測
光用光学系が焦点検出用再結像光学系に対し、焦点距離
が短く、後側主点位置とセンサーとの空気換算距離が短
くなるように構成したことを特徴とする上記(24)に
記載の焦点検出及び測光光学系。このように構成するこ
とにより、測光用光学系の(SEW/IEW) を小さくしなが
ら、同一面に構成された焦点検出用受光素子列と測光用
受光素子上に一次結像面の像を再結像させることができ
る。
【0088】(26) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像光学系と、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
ための測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦点検
出用再結像レンズと測光用光学系に導くための該視野絞
り付近に配置されたコンデンサーレンズと、略同一面に
構成された焦点検出用光電変換手段と測光用光電変換手
段から構成される複数の光学系を有し、該焦点検出用再
結像光学系と測光用光学系の入射瞳は独立しており、該
測光用光学系は非球面シリンドリカルレンズ面、または
非球面アナモフィックレンズ面を有することを特徴とす
る上記(24)又は(25)に記載の焦点検出及び測光
光学系。このように構成することにより、受光基盤の大
きさに大きく関与する焦点検出光学系の受光素子列方向
に垂直な方向のみパワーをコントロールすることができ
る。
【0089】(27) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像光学系と、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
ための測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦点検
出用再結像レンズと測光用光学系に導くための該視野絞
り付近に配置されたコンデンサーレンズと、略同一面に
構成された焦点検出用光電変換手段と測光用光電変換手
段から構成される複数の光学系を有し、該焦点検出用再
結像光学系と測光用光学系の入射瞳は独立しており、該
測光用光学系は非球面シリンドリカルレンズ面、または
非球面アナモフィックレンズ面を有し、前記測光用光学
系の有する最小焦点距離と最大焦点距離の範囲は、測光
用光学系の明るさ絞りと受光面をほぼ共役関係にする焦
点距離と、予定結像面と受光面とをほぼ共役関係にする
焦点距離との範囲内にほぼ入るようにしたことを特徴と
する上記(26)に記載の焦点検出及び測光光学系。視
野絞りと共役な光束だけが入射する構成では(SEW/IEW)
を小さくするには限界があり、また明るさ絞りと共役な
光束だけが入射する構成では、レンズのパワーが強くな
りすぎて構成することができなかったが、このような構
成にすることにより、(SEW/IEW)をより効果的に小さく
することができる。このとき、測光用受光素子には、視
野絞りと共役な光束と明るさ絞りと共役な光束が混在し
て入射しており結果として測光範囲の被写体の明るさ情
報を取り出すことができる。
【0090】(28) 撮影レンズからの光束の一部を
用いて焦点検出及び測光を行う装置において、少なくと
も、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又は
それ以降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過し
た光束を再結像するための焦点検出用再結像光学系と、
該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
ための測光用光学系と、撮影レンズからの光束を焦点検
出用再結像レンズと測光用光学系に導くための該視野絞
り付近に配置されたコンデンサーレンズと、略同一面に
構成される焦点検出用光電変換手段と測光用光電変換手
段から構成される複数の光学系を有し、該焦点検出用再
結像光学系と測光用光学系の入射瞳は独立しており、該
測光用光学系は非球面シリンドリカルレンズ面、または
非球面アナモフィックレンズ面を有し、測光用光学系に
対応する入射瞳と測光視野を通過する光束がほぼ全て対
応する受光素子に入射するように構成したことを特徴と
する上記(26)に記載の焦点検出及び測光光学系。
【0091】
【発明の効果】上述のように、本発明によれば、焦点検
出と露出制御のための測光を行うための光束を、共通に
撮影レンズを通過した被写体からの光束から取り込み、
撮影レンズと独立した光学系内で前記焦点検出に用いる
光束と露出制御のための光束を分離してそれぞれの受光
素子へ導くようにした一眼レフレックスカメラにおい
て、簡単な構成で効率的に光束を分離し、かつ、焦点検
出に必要な範囲と測光範囲を独立に設定できる焦点検出
光学系と測光光学系を提供することができる。更に、本
発明によれば、焦点検出に必要な範囲と測光範囲の一部
が重なり、かつ、中抜けのない測光範囲を達成できる焦
点検出光学系と測光光学系を提供することができる。更
に、本発明によれば、焦点検出に必要な範囲と測光範囲
の一部が重なり、かつ、複数の測光範囲を達成できる焦
点検出光学系と測光光学系を提供する。また、測距系
(焦点検出系)、測光系それぞれに求められる特性を満
足しつつ、コンパクトにまとめることができる焦点検出
光学系と測光光学系を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1の
実施例を示す全体構成図である。
【図2】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1の
実施例における視野絞りを示す図である。
【図3】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1の
実施例における明るさ絞りを示す概略図である。
【図4】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1の
実施例における受光素子列と受光素子の配置関係を示す
概略構成図である。
【図5】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1の
実施例における図4で示した受光素子面上に各光学系で
投影された視野絞りの像を点線で示した図である。
【図6】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1の
実施例における明るさ絞りの形状を示した図である。
【図7】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1の
実施例において、焦点検出光学系の視野絞りの開口と測
光系の視野絞りの開口を独立に配置した図である。
【図8】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1の
実施例において、図7に示す視野絞りを受光素子列と受
光素子に投影した像を点線で示した図である。
【図9】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1の
実施例における視野絞りの別の例を示した図である。
【図10】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
の実施例における図9に示す視野絞りを用いた場合の受
光素子列と受光素子の別の配置図である。
【図11】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
の実施例における図9に示す視野絞りの第1測光視野、
第2測光視野及び合焦検出系視野の領域を示す図であ
る。
【図12】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
の実施例における図2の視野絞りを用いた場合の受光素
子列と受光素子の別の配置図である。
【図13】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
の実施例における図12で用いる視野絞りの第1の測光
視野、第2の測光視野及び合焦検出系視野の領域を示す
図である。
【図14】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
の実施例における図2の視野絞りを用いた場合の受光素
子列と受光素子の別の配置図である。
【図15】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
の実施例における図2の視野絞りを用いた場合の受光素
子列と受光素子の別の配置図である。
【図16】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第2
の実施例を示す概略構成図である。
【図17】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第2
の実施例における明るさ絞りを示す図である。
【図18】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第2
の実施例における受光素子列と受光素子の配置図であ
る。
【図19】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第2
の実施例における図18の場合に用いた視野絞りの第1
の測光視野と第2の測光視野の領域を示す図である。
【図20】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第2
の実施例における明るさ絞りの別の例を示す図である。
【図21】(a),(b)は、本発明に係る焦点検出及
び測光光学系の第3の実施例を示す概略構成図である。
【図22】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第3
の実施例における明るさ絞りを示す図である。
【図23】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第3
の実施例において図22の明るさ絞りを用い、Fナンバ
ーを変化させた場合の説明図である。
【図24】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第3
の実施例において明るさ絞りの別の例を示す図である。
【図25】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第3
の実施例において明るさ絞りの近傍、或いは一体的に測
光用受光素子を配置した概略構成図である。
【図26】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第4
の実施例を示す概略構成図である。
【図27】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第4
の実施例における受光素子列と受光素子の配置図であ
る。
【図28】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第4
の実施例において、明るさ絞りと一体化した測光用受光
素子を用いた場合の概略構成図である。
【図29】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第5
の実施例を示す概略構成図である。
【図30】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第6
の実施例を示す概略構成図である。
【図31】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第7
の実施例を示す概略構成図である。
【図32】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第8
の実施例を示す概略構成図である。
【図33】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第8
の実施例における明るさ絞りの別の例を示す図である。
【図34】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第8
の実施例において、明るさ絞りと一体化した測光用受光
素子を用いた場合の概略構成図である。
【図35】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第9
の実施例を示す概略構成図である。
【図36】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第9
の実施例における再結像レンズの拡大図である。
【図37】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第9
の実施例における受光素子列と受光素子の配置図であ
る。
【図38】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第9
の実施例における測光光学系の倍率の絶対値を焦点検出
光学系より小さくした場合を示す概略構成図である。
【図39】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
0の実施例を示す概略構成図である。
【図40】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
0の実施例における測光光学系の光学素子の非球面シリ
ンドリカルレンズ面の拡大図である。
【図41】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
0の実施例における受光素子列と受光素子の配置図であ
る。
【図42】(a)は射出面を1つの平面で構成した従来
の光学素子を示す説明図である。(b)は射出面の方向
Wの成分を2つの異なる角度の平面で構成した光学素子
を示す説明図である。(c)は本発明に係る焦点検出及
び測光光学系の第10の実施例の光学素子を示す説明図
である。
【図43】(a)は図42(b)の光学素子部の拡大図
である。(b)は図42(c)の光学素子部の拡大図で
ある。
【図44】本発明に係る焦点検出及び測光光学系の第1
0の実施例における測光光学系の別の例を示す図であ
る。
【図45】従来技術を示す概略構成図である。
【図46】従来技術を示す概略構成図である。
【図47】従来技術を示す概略構成図である。
【図48】従来技術を示す概略構成図である。
【図49】図48に示す受光素子の配置図である。
【図50】従来技術を示す概略構成図である。
【図51】従来技術における視野絞りの焦点検出光学系
視野と測光光学系所望視野の領域を示す図である。
【図52】図51における測光光学系の実際の視野を示
す状態図である。
【符号の説明】
1 撮影レ
ンズ 2,15a,15b 視野絞
り 3 コンデ
ンサーレンズ 4 ミラー 5a,5b 焦点検
出系明るさ絞り 6,13a,13b,6a,6b,21,22,測光系明るさ絞り 23,30,31 7a,7b,9,9a,9b 再結像
レンズ 8a,8b 受光素
子列 10,19,20,26a,26b,34a, 受光素子 34b 11 クイッ
クリターンミラー 12 サブミ
ラー 13’,14a’,14b’,15a’, 受光素子面上に投影された視野 15b’ 絞りの像 14a 焦点検
出光学系の視野絞り 14b,15b 測光系
の視野絞り 15a 焦点検
出光学系及び測光系の視野絞り 16a,18a,19’ 第1の
測光視野 16b,18b,20’ 第2の
測光視野 16c,18c 合焦検
出系視野 17a 第1の
測光用受光素子 17b 第2の
測光用受光素子 24 扇型焦
点検出系明るさ絞り 25,27a,27b,32a,32b 測光用
受光素子 28a,28b,29 フィル
ター 33a,33b 非球面
シリンドリカルレンズ 33c,33d 非球面
シリンドリカル面 33e,33g 平面部 33f 曲面部 35 平坦な
射出面を有する光学素子 36 異なる
角度の2平面の射出面を有する光学素子 41 焦点検
出受光素子 42 測光用
受光素子 43 サブミ
ラー 44 波面分
割素子 48 明るさ
絞り 51 測光用
受光素子 53a,53b 測光用
受光素子 54a,54b 焦点検
出用受光素子列 55 ビーム
スプリッター L 受光素
子列上方向 W 受光素
子列上方向と垂直な方向
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 島崎 泰成 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オ リンパス光学工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−65415(JP,A) 特開 昭63−88514(JP,A) 特開 平3−15726(JP,A) 特開 昭64−72126(JP,A) 特開 平4−113339(JP,A) 実開 平4−37936(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 7/34 G03B 7/099 G03B 13/36

Claims (31)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 撮影レンズからの光束を用いて焦点検出
    及び測光を行う装置において、 少なくとも、撮影レンズからみて、撮像面と等価な位置
    付近又はそれ以降に配置された視野絞りと、 該視野絞りを透過した光束を焦点検出用光電変換手段に
    導くための再結像レンズを有する焦点検出用再結像光学
    系と、 該視野絞りを透過した光束を測光用光電変換手段へ導く
    測光用光学素子を有する測光用光学系と、 撮影レンズからの光束を焦点検出用再結像レンズと測光
    用光学素子に導くための該視野絞り付近に配置されたコ
    ンデンサーレンズと焦点検出用光電変換手段と測光用光
    電変換手段とから構成される複数の光学系を有し、 該焦点検出用再結像光学系と測光用光学系の入射瞳は独
    立しており、 焦点検出用再結像レンズと測光用光学素子の少なくとも
    独立した入射面又は射出面が一つ以上有り、 焦点検出用光束と測光用光束はコンデンサーレンズの同
    一の入射面と同一の射出面を通過するようになっている
    ことを特徴とする焦点検出及び測光光学系。
  2. 【請求項2】 該再結像光学系は明るさ絞りを有し、該
    明るさ絞りの焦点検出用開口と測光用開口は略同一面に
    あり、かつ焦点検出用開口と測光用開口は独立している
    ことを特徴とする請求項1に記載の焦点検出及び測光光
    学系。
  3. 【請求項3】 該再結像光学系は、焦点検出用光束と測
    光検出用光束の少なくとも一部が同じ部位を通過する視
    野絞りを有することを特徴とする請求項1に記載の焦点
    検出及び測光光学系。
  4. 【請求項4】 少なくとも測光用光学系の一部の視野は
    測光用光電変換手段で制限されるようにしたことを特徴
    とする請求項3に記載の焦点検出及び測光光学系。
  5. 【請求項5】 少なくとも焦点検出光学系の一部の視野
    は焦点検出用光電変 換手段で制限されるようにしたこと
    を特徴とする請求項3に記載の焦点検出及び測光光学
    系。
  6. 【請求項6】 該焦点検出用光電変換手段は受光素子列
    からなり、撮影レンズの光軸に垂直な平面において、該
    受光素子列の列方向を方向L、方向Lに垂直な方向を方
    向Wとしたとき、少なくとも焦点検出光学系の方向Wの
    視野の一部は焦点検出光電変換手段で制限し、少なくと
    も測光光学系の方向Lの視野の一部は測光用光電変換手
    段で制限されるようにしたことを特徴とする請求項3乃
    至5のいずれかに記載の焦点検出及び測光光学系。
  7. 【請求項7】 該焦点検出用光電変換手段と該測光用光
    電変換手段は同一面に構成されていることを特徴とする
    請求項1に記載の焦点検出及び測光光学系。
  8. 【請求項8】 該焦点検出用再結像レンズと測光用光学
    素子の少なくとも入射面は独立しており、該焦点検出用
    光電変換手段は受光素子列からなり、受光素子列の列の
    並びの延長上から構成される領域と該測光用光電変換手
    段の受光領域が独立していることを特徴とする請求項1
    に記載の焦点検出及び測光光学系。
  9. 【請求項9】 該焦点検出用再結像レンズと測光用光学
    素子の少なくとも入射面は独立しており、かつ、該焦点
    検出用再結像レンズと測光用光学素子はそれぞれ複数配
    置されており、前記それぞれのレンズ等の光学素子に対
    応する光電変換手段から構成される光学系を有し、該焦
    点検出用光電変換手段は受光素子列からなり、前記測光
    用光学素子から出射した光束はそれぞれ対向する光電変
    換手段のみに入射するようにしたことを特徴とする請求
    項7または8に記載の焦点検出及び測光光学系。
  10. 【請求項10】 該焦点検出用再結像レンズと測光用光
    学素子の少なくとも入射面は独立しており、かつ、該焦
    点検出用再結像レンズと測光用光学素子はそれぞれ複数
    配置されており、測光用光電変換手段は前記測光用光学
    素子より少ない数の測光用受光素子から構成される光学
    系を有し、該焦点検出用光電変換手段は受光素子列から
    なり、前記測光用光学素子から射出した光束は測光用受
    光素子のみに入射することを特徴とする請求項7または
    8に記載の焦点検出及び測光光学系。
  11. 【請求項11】 前記測光光学系は複数配置され、少な
    くとも1つの測光光 学系の視野は他の測光光学系の視野
    と異なることを特徴とする請求項1または2に記載の焦
    点検出及び測光光学系。
  12. 【請求項12】 少なくとも1つの測光光学系の視野は
    他の少なくとも一つの測光光学系の視野と独立している
    ことを特徴とする請求項11に記載の焦点検出及び測光
    光学系。
  13. 【請求項13】 少なくとも1つの測光光学系の視野は
    他の少なくとも一つの測光光学系の視野より小さく、か
    つ、これに含まれることを特徴とする請求項11に記載
    の焦点検出及び測光光学系。
  14. 【請求項14】 撮影レンズからの光束の一部を用いて
    焦点検出及び測光を行う装置において、少なくとも、撮
    影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又はそれ以
    降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過した光束
    を焦点検出用光電変換手段に導くための再結像レンズを
    有する焦点検出用再結像光学系と、該視野絞りを透過し
    た光束を測光用光電変換手段へ導く測光用光学系と、撮
    影レンズからの光束を焦点検出用再結像レンズと測光用
    光電変換手段に導くための該視野絞り付近に配置された
    コンデンサーレンズと、焦点検出用光電変換手段と測光
    用光電変換手段から構成される複数の光学系を有し、該
    焦点検出用再結像光学系と測光用光学系の入射瞳は独立
    しており、焦点検出用光束と測光用光束はコンデンサー
    レンズの同一の入射面と同一の射出面を透過し、少なく
    とも一つの測光用光電変換手段で電気信号に変換される
    分光感度は、他の焦点検出用光電変換手段、または、測
    光用光電変換手段で電気信号に変換される分光感度と異
    なることを特徴とする焦点検出及び測光光学系。
  15. 【請求項15】 該焦点検出用再結像レンズと上記測光
    用光学素子の少なくとも入射面は独立しており、上記焦
    点検出用光束は上記焦点検出用再結像レンズを、上記測
    光用光束は上記測光用光学素子を夫々通過し、上記測光
    用光学系の少なくとも一つの分光透過率が他の焦点検出
    用再結像光学系または他の測光用光学系の分光透過率と
    異なることを特徴とする請求項1または2に記載の焦点
    検出及び測光光学系。
  16. 【請求項16】 上記焦点検出用再結像光学系の入射瞳
    に対応する開口と、上記測光光学系の入射瞳に対応する
    開口を有し、少なくとも一つの開口に分光透 過率を変化
    させるフィルター手段を有することを特徴とする請求項
    14または15に記載の焦点検出及び測光光学系。
  17. 【請求項17】 少なくとも一つの光学素子に分光透過
    率を変化される手段を有することを特徴とする請求項1
    5に記載の焦点検出及び測光光学系。
  18. 【請求項18】 少なくとも一つの光電変換手段の分光
    受光感度が異なることを特徴とする請求項14または1
    5に記載の焦点検出及び測光光学系。
  19. 【請求項19】 前記測光用光学系は複数配置されてお
    り、測光用光学系の少なくとも一つの分光透過率が他の
    測光用光学系の分光透過率と異なることを特徴とする請
    求項14または15に記載の焦点検出及び測光光学系。
  20. 【請求項20】 前記測光用光学系は複数配置されてお
    り、測光用光学系の少なくとも一つの分光透過率が少な
    くとも他の一つの測光用光学系の分光透過率に対して、
    相対的な波長特性が略同等であり、全体的な透過率が異
    なることを特徴とする請求項14または15に記載の焦
    点検出及び測光光学系。
  21. 【請求項21】 前記測光用光学系は複数配置されてお
    り、少なくとも一つの測光用受光素子の分光受光感度が
    少なくとも他の一つの測光用受光素子の分光受光感度に
    対して、相対的な波長特性が略同等であり、全体的な感
    度が異なることを特徴とする請求項14または15に記
    載の焦点検出及び測光光学系。
  22. 【請求項22】 撮影レンズからの光束の一部を用いて
    焦点検出及び測光を行う装置において、少なくとも、撮
    影レンズからみて、撮像面と等価な位置付近又はそれ以
    降に配置された視野絞りと、該視野絞りを透過した光束
    を焦点検出用光電変換手段に導くための再結像レンズを
    有する焦点検出用再結像光学系と、該視野絞りを透過し
    た光束を測光用光電変換手段へ導くための測光用光学系
    と、撮影レンズからの光束を焦点検出用再結像レンズと
    測光用光電変換手段に導くための該視野絞り付近に配置
    されたコンデンサーレンズと、焦点検出用光電変換手段
    と、測光用光電変換手段から構成される複数の光学系を
    有し、焦点検出用光束と測光用光束はコンデンサーレン
    ズの同一の入射面と同一の射出面を透過しており、該焦
    点検出用再結像光学系と測光用光学系の入射瞳は独立
    し、少なくとも一つの測光用光学系の入射瞳を撮影レン
    ズの光軸を中心に回転させても焦点検出用結像光学系の
    入射瞳または他の測光用光学系の入射瞳と一致しないこ
    とを特徴とす る焦点検出及び測光光学系。
  23. 【請求項23】 該焦点検出用再結像レンズと測光用光
    学素子の少なくとも入射面は独立しており、それぞれ独
    立した入射瞳を有する光学系を有し、少なくとも一つの
    測光用光学系の入射瞳を撮影レンズの光軸を中心に回転
    させても焦点検出用結像光学系の入射瞳または他の測光
    用光学系の入射瞳と一致しないことを特徴とする請求項
    1または2に記載の焦点検出及び測光光学系。
  24. 【請求項24】 少なくとも一つの測光光学系の入射瞳
    を包括する撮影レンズ側の最小Fナンバーが焦点検出用
    再結像光学系の入射瞳を包括する撮影レンズ側の最小F
    ナンバーより小さいことを特徴とする請求項22または
    23に記載の焦点検出及び測光光学系。
  25. 【請求項25】 明るさ絞りを備え、それぞれ独立した
    入射瞳を有する焦点検出用再結像光学系及び測光用光学
    系を有し、前記測光用光学系は複数配置されており、少
    なくとも一つの測光用光学系の明るさ絞りの面積を他の
    測光用光学系の明るさ絞りの面積より大きくしたことを
    特徴とする請求項22または23に記載の焦点検出及び
    測光光学系。
  26. 【請求項26】 明るさ絞りを備え、それぞれ独立した
    入射瞳を有する焦点検出用再結像光学系及び測光光学系
    を有し、前記測光用光学系は複数配置されており、少な
    くとも一つの測光用光学系の入射瞳を包括する撮影レン
    ズの最小Fナンバーが焦点検出用再結像光学系の入射瞳
    を包括する最小Fナンバーより小さく、他の測光用光学
    系の入射瞳を包括する最小Fナンバーが焦点検出用再結
    像光学系の入射瞳を包括する最小Fナンバーより小さく
    ないようにしたことを特徴とする請求項22または23
    に記載の焦点検出及び測光光学系。
  27. 【請求項27】 該焦点検出用光電変換手段は受光素子
    列からなり、受光素子列方向Lの予定結像面における焦
    点検出に必要な視野の長さをIFL、焦点検出に必要な
    視野に対応する受光素子列上方向Lの長さをSFL、前
    記焦点検出光学系の該受光素子列方向に垂直な方向Wの
    予定結像面における測光視野の長さをIEW、測光視野
    に対応する測光用受光素子上方向Wの長さをSEWとし
    た時以下の式が成り立つようにしたことを特徴とする請
    求項1または2に記載の焦点検出及び測光光学系。 SFL/IFL>SEW/IEW
  28. 【請求項28】 前記焦点検出用光電変換手段と前記測
    光用光電変換手段を略同一面に構成し、測光用光学系が
    焦点検出用再結像光学系に対し、焦点距離が短く、後側
    主点位置とセンサーとの空気換算距離が短くなるように
    構成したことを特徴とする請求項27に記載の焦点検出
    及び測光光学系。
  29. 【請求項29】 前記焦点検出用光電変換手段と前記測
    光用光電変換手段を略同一面に構成し、該測光用光学系
    は非球面シリンドリカルレンズ面、または非球面アナモ
    フィックレンズ面を有することを特徴とする請求項27
    または28に記載の焦点検出及び測光光学系。
  30. 【請求項30】 前記測光用光学系の有する最小焦点距
    離と最大焦点距離の範囲は、測光用光学系の明るさ絞り
    と受光面をほぼ共役関係にする焦点距離と、予定結像面
    と受光面とをほぼ共役関係にする焦点距離との範囲内に
    ほぼ入るようにしたことを特徴とする請求項29に記載
    の焦点検出及び測光光学系。
  31. 【請求項31】 測光用光学系に対応する入射瞳と測光
    視野を通過する光束がほぼ全て対応する受光素子に入射
    するように構成したことを特徴とする請求項29に記載
    の焦点検出及び測光光学系
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