JP3410041B2 - ハイブリッドモジュール - Google Patents
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19105—Disposition of discrete passive components in a side-by-side arrangement on a common die mounting substrate
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- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、回路パターンが形
成された回路基板に、積層コンデンサや積層インダクタ
等のチップ部品や、半導体部品等の回路部品を実装して
電子回路を形成するハイブリッドモジュールに関するも
のである。
成された回路基板に、積層コンデンサや積層インダクタ
等のチップ部品や、半導体部品等の回路部品を実装して
電子回路を形成するハイブリッドモジュールに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のハイブリッドモジュール
としては、図8に示すようなものが知られている。図8
は、従来のハイブリッドモジュールを示す縦断面図であ
る。このハイブリッドモジュール100は、回路基板1
01上にチップ状電子部品102及び発熱性を有する半
導体素子等の回路部品103を実装したものである。
としては、図8に示すようなものが知られている。図8
は、従来のハイブリッドモジュールを示す縦断面図であ
る。このハイブリッドモジュール100は、回路基板1
01上にチップ状電子部品102及び発熱性を有する半
導体素子等の回路部品103を実装したものである。
【0003】この回路基板101は、熱伝導性が良好な
窒化アルミニウム系のセラミックからなる。チップ状電
子部品102は、回路基板101上に形成された回路パ
ターン106に半田付けされている。回路部品103
は、半田バンプ103aを介して回路パターン106上
に接合されている。ここで、チップ状電子部品102
は、例えば積層コンデンサ等の受動部品である。また、
回路部品103は、例えばFET等の能動部品である。
窒化アルミニウム系のセラミックからなる。チップ状電
子部品102は、回路基板101上に形成された回路パ
ターン106に半田付けされている。回路部品103
は、半田バンプ103aを介して回路パターン106上
に接合されている。ここで、チップ状電子部品102
は、例えば積層コンデンサ等の受動部品である。また、
回路部品103は、例えばFET等の能動部品である。
【0004】回路基板101の側面には、親回路基板S
と接続するための端子電極101aが形成されている。
この端子電極101aは、親回路基板Sに形成された回
路パターンSpに半田付けされている。また、回路基板
101の親回路基板Sと対向する主面101bは、親回
路基板Sに形成された導体膜Sfを介して接合されてい
る。この導体膜Sfは、ハイブリッドモジュール100
の熱を親回路基板Sに効率的に伝導するためのものであ
り、熱伝導性の良好な部材からなる。
と接続するための端子電極101aが形成されている。
この端子電極101aは、親回路基板Sに形成された回
路パターンSpに半田付けされている。また、回路基板
101の親回路基板Sと対向する主面101bは、親回
路基板Sに形成された導体膜Sfを介して接合されてい
る。この導体膜Sfは、ハイブリッドモジュール100
の熱を親回路基板Sに効率的に伝導するためのものであ
り、熱伝導性の良好な部材からなる。
【0005】このような構成により、このハイブリッド
モジュール100では、回路基板101に実装された回
路部品103から発生する熱が、回路基板101及び導
体膜Sfを介して親回路基板S或いはグランドなどの広
いエリアを有する導体膜へと伝導され、放熱される。
モジュール100では、回路基板101に実装された回
路部品103から発生する熱が、回路基板101及び導
体膜Sfを介して親回路基板S或いはグランドなどの広
いエリアを有する導体膜へと伝導され、放熱される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このハ
イブリッドモジュール100では、回路部品103に発
生する熱は回路部品103の半田バンプ103aを介し
て回路基板101に伝導され、さらに、回路基板101
及び導体膜Sfを介して親回路基板に伝導されるため、
熱伝導が低いという問題があった。また、熱伝導率を高
めるために用いられる窒化アルミニウム系セラミック
は、一般的なアルミナ系の基板材料に比べて高価であ
り、経済性に欠けるという問題があった。さらに、全て
の部品を回路基板101の片面上に実装するので、高密
度化が困難であるという問題もあった。
イブリッドモジュール100では、回路部品103に発
生する熱は回路部品103の半田バンプ103aを介し
て回路基板101に伝導され、さらに、回路基板101
及び導体膜Sfを介して親回路基板に伝導されるため、
熱伝導が低いという問題があった。また、熱伝導率を高
めるために用いられる窒化アルミニウム系セラミック
は、一般的なアルミナ系の基板材料に比べて高価であ
り、経済性に欠けるという問題があった。さらに、全て
の部品を回路基板101の片面上に実装するので、高密
度化が困難であるという問題もあった。
【0007】このような問題を解決するために、図9に
示すようなハイブリッドモジュールが提案されている。
図9は従来の他のハイブリッドモジュールを示す縦断面
図である。
示すようなハイブリッドモジュールが提案されている。
図9は従来の他のハイブリッドモジュールを示す縦断面
図である。
【0008】このハイブリッドモジュール110では、
回路基板101の裏面側に凹部111を形成するととも
に、この凹部111に回路部品103を実装するもので
ある。具体的には、この凹部111は、底面に回路パタ
ーン106が露出するよう回路基板101の裏面に形成
される。回路部品103は、半田バンプ103aを介し
て凹部111の回路パターン106に実装されている。
回路部品103の表面側には放熱板112が接着されて
いる。凹部111には回路部品103を封止する封止用
樹脂113が充填されている。
回路基板101の裏面側に凹部111を形成するととも
に、この凹部111に回路部品103を実装するもので
ある。具体的には、この凹部111は、底面に回路パタ
ーン106が露出するよう回路基板101の裏面に形成
される。回路部品103は、半田バンプ103aを介し
て凹部111の回路パターン106に実装されている。
回路部品103の表面側には放熱板112が接着されて
いる。凹部111には回路部品103を封止する封止用
樹脂113が充填されている。
【0009】このような構成により、回路部品103に
発生する熱は、放熱板112に伝導され、この放熱板1
12を介して親回路基板に放熱されるので、高い放熱効
率を得ることができる。また、回路基板101の両面に
部品を配置できるので高密度化が実現できる。
発生する熱は、放熱板112に伝導され、この放熱板1
12を介して親回路基板に放熱されるので、高い放熱効
率を得ることができる。また、回路基板101の両面に
部品を配置できるので高密度化が実現できる。
【0010】しかしながら、このハイブリッドモジュー
ル110では、回路部品103の一面側は回路基板10
1に実装されるとともに、他面側は放熱板112に接着
している。このため、ハイブリッドモジュール110の
実装時の熱や回路部品103から発生する熱により各部
材間に熱応力が生じると、この応力を逃がしたり吸収し
たりできず各界面(接着面)において剥離が生じるおそ
れがある。ここで、熱応力は、各部材の熱膨張率が大き
く異なると顕著に発生する。このように接着面に剥離が
生じると、各部材間の熱抵抗値が大きくなるので、回路
部品の放熱性が低下する場合がある。一方、熱応力を小
さくするためには各部材の熱膨張率をできるだけ等しく
する必要があり、この場合には材質選択の幅が狭くなっ
てしまうという難点もある。
ル110では、回路部品103の一面側は回路基板10
1に実装されるとともに、他面側は放熱板112に接着
している。このため、ハイブリッドモジュール110の
実装時の熱や回路部品103から発生する熱により各部
材間に熱応力が生じると、この応力を逃がしたり吸収し
たりできず各界面(接着面)において剥離が生じるおそ
れがある。ここで、熱応力は、各部材の熱膨張率が大き
く異なると顕著に発生する。このように接着面に剥離が
生じると、各部材間の熱抵抗値が大きくなるので、回路
部品の放熱性が低下する場合がある。一方、熱応力を小
さくするためには各部材の熱膨張率をできるだけ等しく
する必要があり、この場合には材質選択の幅が狭くなっ
てしまうという難点もある。
【0011】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、放熱性が良好なハイ
ブリッドモジュールを提供することにある。
であり、その目的とするところは、放熱性が良好なハイ
ブリッドモジュールを提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、凹部が形成された回路基板と、該回路
基板の凹部内に実装された発熱性を有する回路部品とを
備え、回路基板の前記凹部が形成された側を親回路基板
に対向させて実装されるハイブリッドモジュールにおい
て、前記回路部品は前記凹部の底面にフェースダウン実
装されるとともに、該回路部品の非実装面には前記親回
路基板と当接する放熱部材が接着され、該放熱部材には
前記回路部品との接着面に生じる熱応力を吸収するため
の緩衝域が形成されていることを特徴とするものを提案
する。
に、本発明では、凹部が形成された回路基板と、該回路
基板の凹部内に実装された発熱性を有する回路部品とを
備え、回路基板の前記凹部が形成された側を親回路基板
に対向させて実装されるハイブリッドモジュールにおい
て、前記回路部品は前記凹部の底面にフェースダウン実
装されるとともに、該回路部品の非実装面には前記親回
路基板と当接する放熱部材が接着され、該放熱部材には
前記回路部品との接着面に生じる熱応力を吸収するため
の緩衝域が形成されていることを特徴とするものを提案
する。
【0013】本発明によれば、回路部品の発熱により生
ずる回路部品と放熱部材との間の熱応力が、放熱部材に
形成された緩衝域により吸収される。したがって、回路
部品と放熱部材との接着面が熱応力により破壊されるこ
とがない。これにより、回路部品に生じる熱を放熱部材
に確実かつ良好に放熱することができる。
ずる回路部品と放熱部材との間の熱応力が、放熱部材に
形成された緩衝域により吸収される。したがって、回路
部品と放熱部材との接着面が熱応力により破壊されるこ
とがない。これにより、回路部品に生じる熱を放熱部材
に確実かつ良好に放熱することができる。
【0014】本発明の好適な態様な一例として、請求項
2の発明では、請求項1記載のハイブリッドモジュール
において、前記緩衝域は、板状部材からなる前記放熱部
材にスリットを設けることにより形成されていることを
特徴とするものを提案する。
2の発明では、請求項1記載のハイブリッドモジュール
において、前記緩衝域は、板状部材からなる前記放熱部
材にスリットを設けることにより形成されていることを
特徴とするものを提案する。
【0015】本発明によれば、回路部品と放熱部材間に
発生する熱応力を容易に吸収することができる。すなわ
ち、放熱部材の緩衝域では、スリットを狭くする方向に
板状部材からなる放熱部材が熱膨張する。つまり、熱膨
張の方向が分散するので、回路部品と放熱部材間に発生
する熱応力が緩衝域により吸収される。
発生する熱応力を容易に吸収することができる。すなわ
ち、放熱部材の緩衝域では、スリットを狭くする方向に
板状部材からなる放熱部材が熱膨張する。つまり、熱膨
張の方向が分散するので、回路部品と放熱部材間に発生
する熱応力が緩衝域により吸収される。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施の形態につい
て図1〜図4を参照して説明する。図1はハイブリッド
モジュールの分解斜視図、図2はハイブリッドモジュー
ルの縦断面図、図3は放熱板の平面図、図4は親回路基
板への実装方法を説明するハイブリッドモジュールの縦
断面図である。
て図1〜図4を参照して説明する。図1はハイブリッド
モジュールの分解斜視図、図2はハイブリッドモジュー
ルの縦断面図、図3は放熱板の平面図、図4は親回路基
板への実装方法を説明するハイブリッドモジュールの縦
断面図である。
【0017】このハイブリッドモジュール10は、回路
基板11と、回路基板11に実装された複数のチップ状
電子部品12と、発熱性を有する半導体素子等の回路部
品13と、回路部品13に発生する熱を親回路基板に伝
導させる放熱板14を主たる構成要素とする。このハイ
ブリッドモジュール10の外観寸法としては、例えば、
約7x7x2mm3である。なお、このハイブリッドモ
ジュール10は、例えば、高周波増幅回路を形成するも
のである。
基板11と、回路基板11に実装された複数のチップ状
電子部品12と、発熱性を有する半導体素子等の回路部
品13と、回路部品13に発生する熱を親回路基板に伝
導させる放熱板14を主たる構成要素とする。このハイ
ブリッドモジュール10の外観寸法としては、例えば、
約7x7x2mm3である。なお、このハイブリッドモ
ジュール10は、例えば、高周波増幅回路を形成するも
のである。
【0018】回路基板11は、直方体形状のアルミナを
主体としたセラミック製の多層基板からなる。例えば、
PbO−B2O3-SiO2(ホウケイ酸鉛)とAl2O
3(アルミナ)を混合した作成されたセラミック製の多
層基板である。
主体としたセラミック製の多層基板からなる。例えば、
PbO−B2O3-SiO2(ホウケイ酸鉛)とAl2O
3(アルミナ)を混合した作成されたセラミック製の多
層基板である。
【0019】回路基板11の表面及び内層には、回路パ
ターン15及びビアホール16が形成されている。回路
基板11の側面には、前記回路パターン15と接続する
端子電極17が形成されている。この端子電極17は、
実装時に親回路基板と接続するためのものである。さら
に、回路基板11の底面、すなわち、親回路基板に実装
する際に親回路基板と対向する面18には、凹部19が
形成されている。この凹部19は、回路部品13及び放
熱板14を収容するためのものである。この凹部19
は、2段構造を有している。すなわち、凹部19は、面
18に形成された第1の凹部20と、第1の凹部20の
底面に、これよりもやや小さく形成された第2の凹部2
1とからなる。第2の凹部21の底面には、回路部品1
3と接続する回路パターン15が形成されている。
ターン15及びビアホール16が形成されている。回路
基板11の側面には、前記回路パターン15と接続する
端子電極17が形成されている。この端子電極17は、
実装時に親回路基板と接続するためのものである。さら
に、回路基板11の底面、すなわち、親回路基板に実装
する際に親回路基板と対向する面18には、凹部19が
形成されている。この凹部19は、回路部品13及び放
熱板14を収容するためのものである。この凹部19
は、2段構造を有している。すなわち、凹部19は、面
18に形成された第1の凹部20と、第1の凹部20の
底面に、これよりもやや小さく形成された第2の凹部2
1とからなる。第2の凹部21の底面には、回路部品1
3と接続する回路パターン15が形成されている。
【0020】チップ状電子部品12は、電子回路を構成
する電子部品である。例えば、積層コンデンサや、積層
インダクタである。このチップ状電子部品12は、回路
基板11の上面、すなわち、前記凹部19が形成された
面18とは反対側の面に形成された回路パターン15に
実装されている。
する電子部品である。例えば、積層コンデンサや、積層
インダクタである。このチップ状電子部品12は、回路
基板11の上面、すなわち、前記凹部19が形成された
面18とは反対側の面に形成された回路パターン15に
実装されている。
【0021】回路部品13は、発熱性を有する半導体素
子である。例えばGaAsMES型FET,GaAsP
HEMT型FET,InP系FET等である。この回路
部品13は、第2の凹部21の底面にフェースダウンボ
ンディングにより実装されている。本実施の形態では、
フリップチップ方式を用いた。すなわち、回路部品13
は、第2の凹部21の底面と対向する側に複数の端子電
極を備えたフリップチップである。回路部品13の各端
子電極は第2の凹部21に形成された回路パターン15
に接続されている。回路部品13と第2の凹部21の底
面との隙間には、封止樹脂23が充填されている。
子である。例えばGaAsMES型FET,GaAsP
HEMT型FET,InP系FET等である。この回路
部品13は、第2の凹部21の底面にフェースダウンボ
ンディングにより実装されている。本実施の形態では、
フリップチップ方式を用いた。すなわち、回路部品13
は、第2の凹部21の底面と対向する側に複数の端子電
極を備えたフリップチップである。回路部品13の各端
子電極は第2の凹部21に形成された回路パターン15
に接続されている。回路部品13と第2の凹部21の底
面との隙間には、封止樹脂23が充填されている。
【0022】封止樹脂23は、回路部品13に水分が浸
入するのを防ぐとともに、回路部品13を回路基板11
に固着することを主たる目的とするものである。封止樹
脂23としては、線膨張係数が回路基板11及び回路部
品13に近いものが好ましい。本実施の形態では、エポ
キシ系の樹脂を用いた。このように線膨張係数が回路基
板11及び回路部品13のものと近い封止樹脂23を用
いると、熱応力の増大を防止できるので、封止樹脂23
の剥離を防止することができる。これにより、回路部品
13と回路基板11との間の電気的接続不良の発生及び
耐湿性の低下を防止することができる。また、上記剥離
によって回路部品13に与えるダメージを大幅に低減す
ることができる。
入するのを防ぐとともに、回路部品13を回路基板11
に固着することを主たる目的とするものである。封止樹
脂23としては、線膨張係数が回路基板11及び回路部
品13に近いものが好ましい。本実施の形態では、エポ
キシ系の樹脂を用いた。このように線膨張係数が回路基
板11及び回路部品13のものと近い封止樹脂23を用
いると、熱応力の増大を防止できるので、封止樹脂23
の剥離を防止することができる。これにより、回路部品
13と回路基板11との間の電気的接続不良の発生及び
耐湿性の低下を防止することができる。また、上記剥離
によって回路部品13に与えるダメージを大幅に低減す
ることができる。
【0023】ここで、回路部品13の端子電極と回路パ
ターン15との接続としては、例えば、以下のようなも
のが挙げられる。例えば、半田付けによる接続や、導電
性樹脂を用いた接続や、異方導電性樹脂(ACF)を用
いた接続や、回路パターン15上に金(Au)を用いた
ボールバンプを形成し超音波併用熱圧着して行う接続で
ある。
ターン15との接続としては、例えば、以下のようなも
のが挙げられる。例えば、半田付けによる接続や、導電
性樹脂を用いた接続や、異方導電性樹脂(ACF)を用
いた接続や、回路パターン15上に金(Au)を用いた
ボールバンプを形成し超音波併用熱圧着して行う接続で
ある。
【0024】上記導電性樹脂を用いた接続は、低廉なコ
ストで行うことができる点で有利である。また、導電性
樹脂によって応力を吸収できるため高信頼性が得られる
という効果がある。さらに、異方導電性樹脂を用いた接
続では、封止樹脂が不要となり、コストの低減を図るこ
とができる。
ストで行うことができる点で有利である。また、導電性
樹脂によって応力を吸収できるため高信頼性が得られる
という効果がある。さらに、異方導電性樹脂を用いた接
続では、封止樹脂が不要となり、コストの低減を図るこ
とができる。
【0025】また、上記回路パターン15上にボールバ
ンプを形成し超音波併用熱圧着する接続では、この接続
がドライプロセスで行われることから、メッキ液による
回路部品13へのダメージが少ないという効果が得られ
る。また、設備コストを低減できることができるととも
に、回路基板11への実装作業時間が短縮できる。すな
わち、実装コストを低減できる。さらに、Au−Au接
合なので接触抵抗が少なく高信頼性を得られる。
ンプを形成し超音波併用熱圧着する接続では、この接続
がドライプロセスで行われることから、メッキ液による
回路部品13へのダメージが少ないという効果が得られ
る。また、設備コストを低減できることができるととも
に、回路基板11への実装作業時間が短縮できる。すな
わち、実装コストを低減できる。さらに、Au−Au接
合なので接触抵抗が少なく高信頼性を得られる。
【0026】また、上記半田付けによる接続では、セル
フアラインメントにより位置補正されるため、実装精度
を必要としない。また、実装時に低荷重で実装できるた
め回路部品13へのダメージが少ない。さらに、半田バ
ンプにより応力吸収できるため高信頼性を得られる。
フアラインメントにより位置補正されるため、実装精度
を必要としない。また、実装時に低荷重で実装できるた
め回路部品13へのダメージが少ない。さらに、半田バ
ンプにより応力吸収できるため高信頼性を得られる。
【0027】放熱板14は、熱伝導性樹脂24によって
回路部品13及び第1の凹部20底面に接着されてい
る。この放熱板14は、第2の凹部21の開口部を覆い
被せるとともに、第1の凹部20に収まる幅及び長さを
備えた板状部材である。放熱板14の表面は面18とほ
ぼ同じ面に配置されている。
回路部品13及び第1の凹部20底面に接着されてい
る。この放熱板14は、第2の凹部21の開口部を覆い
被せるとともに、第1の凹部20に収まる幅及び長さを
備えた板状部材である。放熱板14の表面は面18とほ
ぼ同じ面に配置されている。
【0028】放熱板14は、熱伝導性の高い材料から形
成されている。より具体的には、線膨張係数が回路部品
13の線膨張係数と近いものが望ましい。例えば、42
アロイ(ニッケル42,鉄58の合金)である。また、
放熱板14の表面は、半田濡れ性を向上させるためにメ
ッキ処理が施されている。このメッキ処理としては、例
えばAuメッキである。
成されている。より具体的には、線膨張係数が回路部品
13の線膨張係数と近いものが望ましい。例えば、42
アロイ(ニッケル42,鉄58の合金)である。また、
放熱板14の表面は、半田濡れ性を向上させるためにメ
ッキ処理が施されている。このメッキ処理としては、例
えばAuメッキである。
【0029】図3に示すように、放熱板14には、複数
のスリット25が設けられている。本実施の形態では3
本とした。各スリット25は、長方形の放熱板14にお
いて、その長辺の両側から交互に形成されている。各ス
リット25は、少なくとも一部が放熱板14と回路部品
13との接着面に形成されるように長さ及び位置が設定
されている。本実施の形態では、回路部品13が放熱板
14のほぼ中央部に接着されているので、各スリット2
5は少なくとも短辺方向の中心部を超える長さを有して
いる。
のスリット25が設けられている。本実施の形態では3
本とした。各スリット25は、長方形の放熱板14にお
いて、その長辺の両側から交互に形成されている。各ス
リット25は、少なくとも一部が放熱板14と回路部品
13との接着面に形成されるように長さ及び位置が設定
されている。本実施の形態では、回路部品13が放熱板
14のほぼ中央部に接着されているので、各スリット2
5は少なくとも短辺方向の中心部を超える長さを有して
いる。
【0030】このスリット25により、放熱板14には
スリット25の周辺部に緩衝域26が形成される。すな
わち、この緩衝域26では、放熱板14はスリット25
を狭くする方向に熱膨張する。つまり、放熱板14にお
ける熱膨張の方向が分散される。したがって、回路部品
13と放熱板14との間に生じる熱応力が吸収されるの
で、回路部品13との放熱板14との接着面の破壊を防
止することができる。これにより、接着面の破壊による
熱抵抗の上昇を防止できるので、放熱効率を良好に維持
することができる。また、接着面の破壊による水分等の
浸入も防止できるので、信頼性の高いものとなる。
スリット25の周辺部に緩衝域26が形成される。すな
わち、この緩衝域26では、放熱板14はスリット25
を狭くする方向に熱膨張する。つまり、放熱板14にお
ける熱膨張の方向が分散される。したがって、回路部品
13と放熱板14との間に生じる熱応力が吸収されるの
で、回路部品13との放熱板14との接着面の破壊を防
止することができる。これにより、接着面の破壊による
熱抵抗の上昇を防止できるので、放熱効率を良好に維持
することができる。また、接着面の破壊による水分等の
浸入も防止できるので、信頼性の高いものとなる。
【0031】熱伝導性樹脂24は、放熱板14を回路部
品13に固着させるとともに、回路部品13に発生する
熱を放熱板14に効率的に伝導させるためのものであ
る。この熱伝導性樹脂24は、前述したように回路部品
13と放熱板14とを接着するとともに、放熱板14側
方と第1の凹部20側壁との間,回路部品13側方と第
2の凹部21との間を充填している。熱伝導性樹脂24
は、熱伝導率の良好なものが好ましい。また、熱伝導性
樹脂24としては、線膨張係数が回路部品13及び放熱
板14の線膨張係数と近いものが好ましい。このような
熱伝導性樹脂24を用いることにより熱応力の増大を防
止することができる。
品13に固着させるとともに、回路部品13に発生する
熱を放熱板14に効率的に伝導させるためのものであ
る。この熱伝導性樹脂24は、前述したように回路部品
13と放熱板14とを接着するとともに、放熱板14側
方と第1の凹部20側壁との間,回路部品13側方と第
2の凹部21との間を充填している。熱伝導性樹脂24
は、熱伝導率の良好なものが好ましい。また、熱伝導性
樹脂24としては、線膨張係数が回路部品13及び放熱
板14の線膨張係数と近いものが好ましい。このような
熱伝導性樹脂24を用いることにより熱応力の増大を防
止することができる。
【0032】ハイブリッドモジュール10には、上面を
覆うように箱状の金属ケース30が付設されている。こ
の金属ケース30は、各部品や回路基板11を物理的に
保護するとともに、ノイズの侵入及び放射を防止するも
のである。
覆うように箱状の金属ケース30が付設されている。こ
の金属ケース30は、各部品や回路基板11を物理的に
保護するとともに、ノイズの侵入及び放射を防止するも
のである。
【0033】次に、このハイブリッドモジュール10を
親回路基板50に実装する方法について説明する。図4
に示すように、親回路基板50の所定箇所には、ハイブ
リッドモジュール10の端子電極17と接続するための
回路パターン51が形成されている。また、ハイブリッ
ドモジュール10を搭載した際に放熱板14と対向する
箇所には、熱伝導膜52が形成されている。ここで、熱
伝導膜52は親回路基板50上に回路パターン51と同
様に形成された導体膜であり、例えば銅を主成分とする
ものである。ハイブリッドモジュール10を親回路基板
50に実装するには、端子電極17と回路パターン5
1、放熱板14と熱伝導膜52とをそれぞれ半田付けす
ればよい。
親回路基板50に実装する方法について説明する。図4
に示すように、親回路基板50の所定箇所には、ハイブ
リッドモジュール10の端子電極17と接続するための
回路パターン51が形成されている。また、ハイブリッ
ドモジュール10を搭載した際に放熱板14と対向する
箇所には、熱伝導膜52が形成されている。ここで、熱
伝導膜52は親回路基板50上に回路パターン51と同
様に形成された導体膜であり、例えば銅を主成分とする
ものである。ハイブリッドモジュール10を親回路基板
50に実装するには、端子電極17と回路パターン5
1、放熱板14と熱伝導膜52とをそれぞれ半田付けす
ればよい。
【0034】このように、親回路基板50に、ハイブリ
ッドモジュール10の端子電極17のみを半田付けする
だけでなく、放熱板14をも半田付けすることにより、
回路部品13に発生した熱は放熱板14を介して親回路
基板50に伝導される。また、放熱板14が熱伝導膜5
2に半田付けされているので、ハイブリッドモジュール
10と親回路基板50と間の固着強度が向上する。な
お、熱伝導膜52は、親回路基板50においてグランド
に接続すると、特に高周波領域において電気特性が安定
し、放熱性も向上したものとなる。
ッドモジュール10の端子電極17のみを半田付けする
だけでなく、放熱板14をも半田付けすることにより、
回路部品13に発生した熱は放熱板14を介して親回路
基板50に伝導される。また、放熱板14が熱伝導膜5
2に半田付けされているので、ハイブリッドモジュール
10と親回路基板50と間の固着強度が向上する。な
お、熱伝導膜52は、親回路基板50においてグランド
に接続すると、特に高周波領域において電気特性が安定
し、放熱性も向上したものとなる。
【0035】以上詳述したように、このハイブリッドモ
ジュール10では、回路部品13で発生した熱は、その
表面から熱伝導性樹脂24、放熱板14を介して親回路
基板50に放熱される。ここで、回路部品13の発熱に
より生ずる回路部品13と放熱板14との間の熱応力は
緩衝域26により吸収される。すなわち、放熱板14に
形成したスリット25により、熱膨張の方向が分散され
るので熱応力が吸収されるものである。これにより、回
路部品13と放熱板14との接着面が熱応力により破壊
されることがない。したがって、回路部品13に生じる
熱を放熱板14に確実かつ良好に放熱することができ
る。また、このような構成により熱応力が吸収されるの
で、熱膨張率に制限されることなく回路部品13や放熱
板14等の材質選択の幅が広がる。
ジュール10では、回路部品13で発生した熱は、その
表面から熱伝導性樹脂24、放熱板14を介して親回路
基板50に放熱される。ここで、回路部品13の発熱に
より生ずる回路部品13と放熱板14との間の熱応力は
緩衝域26により吸収される。すなわち、放熱板14に
形成したスリット25により、熱膨張の方向が分散され
るので熱応力が吸収されるものである。これにより、回
路部品13と放熱板14との接着面が熱応力により破壊
されることがない。したがって、回路部品13に生じる
熱を放熱板14に確実かつ良好に放熱することができ
る。また、このような構成により熱応力が吸収されるの
で、熱膨張率に制限されることなく回路部品13や放熱
板14等の材質選択の幅が広がる。
【0036】なお、本実施の形態では、放熱板14の長
辺から内側に向けてスリット25を設けることにより緩
衝域26を形成したが、本発明はこれに限定されるもの
ではない。例えば、本実施の形態にかかる放熱板14に
代えて、図5〜図7に示すような放熱板14a〜14c
を用いてもよい。図5〜図7は、他の例にかかる放熱板
の平面図である。
辺から内側に向けてスリット25を設けることにより緩
衝域26を形成したが、本発明はこれに限定されるもの
ではない。例えば、本実施の形態にかかる放熱板14に
代えて、図5〜図7に示すような放熱板14a〜14c
を用いてもよい。図5〜図7は、他の例にかかる放熱板
の平面図である。
【0037】図5に示す放熱板14aでは、スリット2
5aを放熱板14aの各辺に開口することなく形成して
いる。各スリット25aは、放熱板14aの短辺と平行
に形成されている。また、各スリット25aは、放熱板
14aの長手方向に間隔をおいて形成されている。図6
に示す放熱板14bでは、スリット25bを放熱板14
bに対して斜めに形成したものである。図7に示す放熱
板14cでは、スリット25bを十字状の形成するとと
もに、スリット25cの各辺が放熱板14cの各辺に対
して斜めになるように形成している。このような、放熱
板14a〜14cによっても、各スリット25a〜25
cの周辺に緩衝域26a〜26cが形成される。したが
って、前述したような作用効果を得ることができる。
5aを放熱板14aの各辺に開口することなく形成して
いる。各スリット25aは、放熱板14aの短辺と平行
に形成されている。また、各スリット25aは、放熱板
14aの長手方向に間隔をおいて形成されている。図6
に示す放熱板14bでは、スリット25bを放熱板14
bに対して斜めに形成したものである。図7に示す放熱
板14cでは、スリット25bを十字状の形成するとと
もに、スリット25cの各辺が放熱板14cの各辺に対
して斜めになるように形成している。このような、放熱
板14a〜14cによっても、各スリット25a〜25
cの周辺に緩衝域26a〜26cが形成される。したが
って、前述したような作用効果を得ることができる。
【0038】また、本実施の形態では、回路部品13の
実装方法としてフリップチップ方式を用いたが、本発明
はこれに限定されるものではない。例えば、ビームリー
ド方式等を用いて回路部品を実装してもよい。
実装方法としてフリップチップ方式を用いたが、本発明
はこれに限定されるものではない。例えば、ビームリー
ド方式等を用いて回路部品を実装してもよい。
【0039】さらに、本実施の形態では、発熱性の回路
部品13を1個実装したハイブリッドモジュール10を
例示したが、複数の回路部品を実装してもよい。
部品13を1個実装したハイブリッドモジュール10を
例示したが、複数の回路部品を実装してもよい。
【0040】さらに、本実施の形態で述べた回路基板1
1や回路部品13等の各種部材の材質や種類等について
は、これに限定されることなく、他のものであっても本
願発明を実施できるものである。
1や回路部品13等の各種部材の材質や種類等について
は、これに限定されることなく、他のものであっても本
願発明を実施できるものである。
【0041】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
回路部品の発熱により生ずる回路部品と放熱部材との間
の熱応力が、放熱部材に形成された緩衝域により吸収さ
れる。したがって、回路部品と放熱部材との接着面が熱
応力により破壊されることがない。これにより、回路部
品に生じる熱を放熱部材に確実かつ良好に放熱すること
ができる。また、熱応力が吸収されるので、回路部品及
び放熱部材の材質選択の幅が広がる。
回路部品の発熱により生ずる回路部品と放熱部材との間
の熱応力が、放熱部材に形成された緩衝域により吸収さ
れる。したがって、回路部品と放熱部材との接着面が熱
応力により破壊されることがない。これにより、回路部
品に生じる熱を放熱部材に確実かつ良好に放熱すること
ができる。また、熱応力が吸収されるので、回路部品及
び放熱部材の材質選択の幅が広がる。
【図1】ハイブリッドモジュールの分解斜視図
【図2】ハイブリッドモジュールの縦断面図
【図3】放熱板の平面図
【図4】親回路基板への実装方法を説明するハイブリッ
ドモジュールの縦断面図
ドモジュールの縦断面図
【図5】他の例にかかる放熱板の平面図
【図6】他の例にかかる放熱板の平面図
【図7】他の例にかかる放熱板の平面図
【図8】従来のハイブリッドモジュールの縦断面図
【図9】従来のハイブリッドモジュールの縦断面図
10…ハイブリッドモジュール、11…回路基板、12
…チップ状電子部品、13…回路部品、14…放熱板、
17…端子電極、19…凹部、25…スリット、26…
緩衝域、50…親回路基板
…チップ状電子部品、13…回路部品、14…放熱板、
17…端子電極、19…凹部、25…スリット、26…
緩衝域、50…親回路基板
Claims (2)
- 【請求項1】 凹部が形成された回路基板と、該回路基
板の凹部内に実装された発熱性を有する回路部品とを備
え、回路基板の前記凹部が形成された側を親回路基板に
対向させて実装されるハイブリッドモジュールにおい
て、 前記回路部品は前記凹部の底面にフェースダウン実装さ
れるとともに、該回路部品の非実装面には前記親回路基
板と当接する放熱部材が接着され、 該放熱部材には前記回路部品との接着面に生じる熱応力
を吸収するための緩衝域が形成されていることを特徴と
するハイブリッドモジュール。 - 【請求項2】 前記緩衝域は、板状部材からなる前記放
熱部材にスリットを設けることにより形成されているこ
とを特徴とする請求項1記載のハイブリッドモジュー
ル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6806299A JP3410041B2 (ja) | 1999-03-15 | 1999-03-15 | ハイブリッドモジュール |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6806299A JP3410041B2 (ja) | 1999-03-15 | 1999-03-15 | ハイブリッドモジュール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000269405A JP2000269405A (ja) | 2000-09-29 |
JP3410041B2 true JP3410041B2 (ja) | 2003-05-26 |
Family
ID=13362934
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6806299A Expired - Fee Related JP3410041B2 (ja) | 1999-03-15 | 1999-03-15 | ハイブリッドモジュール |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3410041B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3617633B2 (ja) | 2000-10-06 | 2005-02-09 | 三菱電機株式会社 | 導波管接続部 |
JP2003060523A (ja) * | 2001-08-09 | 2003-02-28 | Tdk Corp | 無線通信モジュール |
JP4903067B2 (ja) * | 2007-02-20 | 2012-03-21 | パナソニック株式会社 | 固体撮像素子の放熱構造 |
-
1999
- 1999-03-15 JP JP6806299A patent/JP3410041B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000269405A (ja) | 2000-09-29 |
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Legal Events
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