JP3410015B2 - 光応用電流変成器 - Google Patents
光応用電流変成器Info
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- JP3410015B2 JP3410015B2 JP06811698A JP6811698A JP3410015B2 JP 3410015 B2 JP3410015 B2 JP 3410015B2 JP 06811698 A JP06811698 A JP 06811698A JP 6811698 A JP6811698 A JP 6811698A JP 3410015 B2 JP3410015 B2 JP 3410015B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はファラデー効果を応
用した光応用電流変成器（以下、略して光ＣＴともい
う）に係わり、特に、磁気光学センサ部での温度変化と
光源での発光量変動とを補償した測定精度の高い光応用
電流変成器に関する。
用した光応用電流変成器（以下、略して光ＣＴともい
う）に係わり、特に、磁気光学センサ部での温度変化と
光源での発光量変動とを補償した測定精度の高い光応用
電流変成器に関する。
【０００２】
【従来の技術】ファラデー効果を応用した光ＣＴでは、
温度変化などの環境条件が変化しても、測定精度が長期
的に安定していることが不可欠である。特開平8−22693
6 号公報に記載のものでは、ファラデー効果の非相反特
性に着目して、互いに逆方向からファラデー回転子へ光
を入射する構造で、ファラデー回転子の温度依存性、光
伝送系の光量変動を補正する方法を提案している。直線
偏光面が互いに直交している２つの光を準備して、この
２つの光が磁気光学センサ部を互いに逆方向に進行する
ように光ＣＴを構成すると、例えば磁気光学センサ部が
温度変化を受けて、ファラデー効果による光量変化と温
度変化による光量変化が混在する場合にも、ファラデー
効果の非相反特性によって温度変化による光量変化が相
殺されるので、ファラデー効果による光量変化のみを検
知することを可能としているものであった。
温度変化などの環境条件が変化しても、測定精度が長期
的に安定していることが不可欠である。特開平8−22693
6 号公報に記載のものでは、ファラデー効果の非相反特
性に着目して、互いに逆方向からファラデー回転子へ光
を入射する構造で、ファラデー回転子の温度依存性、光
伝送系の光量変動を補正する方法を提案している。直線
偏光面が互いに直交している２つの光を準備して、この
２つの光が磁気光学センサ部を互いに逆方向に進行する
ように光ＣＴを構成すると、例えば磁気光学センサ部が
温度変化を受けて、ファラデー効果による光量変化と温
度変化による光量変化が混在する場合にも、ファラデー
効果の非相反特性によって温度変化による光量変化が相
殺されるので、ファラデー効果による光量変化のみを検
知することを可能としているものであった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、特開平8−226
936 号公報に記載の従来方法では、温度変化・経時変化
などによって光源の発光量が変化すると、光ＣＴ出力の
ゼロ点がドリフトして、その結果、直流電流測定用光Ｃ
Ｔとしては測定精度が低下する欠点があった。
936 号公報に記載の従来方法では、温度変化・経時変化
などによって光源の発光量が変化すると、光ＣＴ出力の
ゼロ点がドリフトして、その結果、直流電流測定用光Ｃ
Ｔとしては測定精度が低下する欠点があった。
【０００４】本発明の目的は、磁気光学センサ部での温
度変化と光源での発光量変動とを補償した測定精度の高
い光応用電流変成器を提供する。
度変化と光源での発光量変動とを補償した測定精度の高
い光応用電流変成器を提供する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の光応用電流変成器は、２対１光分岐器にお
ける光の漏れを用いて光源の発光量をモニターして参照
光とし、ファラデー回転子を通過してファラデー回転を
受けた光を信号光とした。また、光電変換部に入射した
光を電気信号に変換した後、バンドパスフィルタで各光
源の参照光と信号光を抽出する構成とした。各光源に対
して、参照光と信号光の除算を含む演算処理を実施して
光源の発光量の変動に依存しない光ＣＴとした。
め、本発明の光応用電流変成器は、２対１光分岐器にお
ける光の漏れを用いて光源の発光量をモニターして参照
光とし、ファラデー回転子を通過してファラデー回転を
受けた光を信号光とした。また、光電変換部に入射した
光を電気信号に変換した後、バンドパスフィルタで各光
源の参照光と信号光を抽出する構成とした。各光源に対
して、参照光と信号光の除算を含む演算処理を実施して
光源の発光量の変動に依存しない光ＣＴとした。
【０００６】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例を図１から図３
により説明する。図１は、本発明の一実施例である光応
用電流変成器の全体構成を示すブロック図、図２は、本
実施例の信号処理回路の演算処理を示すブロック図、図
３は、本実施例である周回積分型センサの構造を示す斜
視図である。
により説明する。図１は、本発明の一実施例である光応
用電流変成器の全体構成を示すブロック図、図２は、本
実施例の信号処理回路の演算処理を示すブロック図、図
３は、本実施例である周回積分型センサの構造を示す斜
視図である。
【０００７】被測定電流の通電導体１の近傍に設置した
ファラデー回転子６の両端には、通過偏光方向が互いに
異なる２つの偏光子４と５が配置されている。偏光子
４，５とファラデー回転子６で磁気光学センサ部を構成
する。一般には、光が入射する側の偏光子を“偏光
子”、光が出射する側の偏光子を“検光子”と呼ぶが、
本実施例では、２つの光が互いに逆方向に進行するの
で、混乱を避けるために、以下、偏光子４，偏光子５と
呼称している。
ファラデー回転子６の両端には、通過偏光方向が互いに
異なる２つの偏光子４と５が配置されている。偏光子
４，５とファラデー回転子６で磁気光学センサ部を構成
する。一般には、光が入射する側の偏光子を“偏光
子”、光が出射する側の偏光子を“検光子”と呼ぶが、
本実施例では、２つの光が互いに逆方向に進行するの
で、混乱を避けるために、以下、偏光子４，偏光子５と
呼称している。
【０００８】光源７は電源１１で駆動されて発光する。
光源７から発光した光を以下Ｊ１とする。光Ｊ１は光分
岐器９に入射して、収束レンズ３を経由して偏光子４か
ら磁気光学センサ部に入射して、偏光子５から出射す
る。偏光子５から出射した光Ｊ１は、収束レンズ３ａを
経由して光分岐器９ａに入射し、さらに光電変換部８と
光源７ａに入射する。図１で、符号２，２ａは光ファイ
バを示す。光電変換部８に入射した光Ｊ１は磁気光学セ
ンサ部を偏光子４から偏光子５の方向に通過する間にフ
ァラデー効果による光量変化を受けている。
光源７から発光した光を以下Ｊ１とする。光Ｊ１は光分
岐器９に入射して、収束レンズ３を経由して偏光子４か
ら磁気光学センサ部に入射して、偏光子５から出射す
る。偏光子５から出射した光Ｊ１は、収束レンズ３ａを
経由して光分岐器９ａに入射し、さらに光電変換部８と
光源７ａに入射する。図１で、符号２，２ａは光ファイ
バを示す。光電変換部８に入射した光Ｊ１は磁気光学セ
ンサ部を偏光子４から偏光子５の方向に通過する間にフ
ァラデー効果による光量変化を受けている。
【０００９】光源７ａは電源１１ａで駆動されて発光す
る。光源７ａから発光する光を以下Ｊ２とする。光Ｊ２
は光分岐器９ａに入射して収束レンズ３ａを経由し、偏
光子５から磁気光学センサ部に入射した後、偏光子４か
ら出射する。偏光子４から出射した光Ｊ２は収束レンズ
３を経由して、光分岐器９に入射して、光電変換部８ａ
と光源７に入射する。光電変換部８ａに入射した光Ｊ２
は磁気光学センサ部を偏光子５から偏光子４の方向に通
過する間にファラデー効果による光量変化を受けてい
る。
る。光源７ａから発光する光を以下Ｊ２とする。光Ｊ２
は光分岐器９ａに入射して収束レンズ３ａを経由し、偏
光子５から磁気光学センサ部に入射した後、偏光子４か
ら出射する。偏光子４から出射した光Ｊ２は収束レンズ
３を経由して、光分岐器９に入射して、光電変換部８ａ
と光源７に入射する。光電変換部８ａに入射した光Ｊ２
は磁気光学センサ部を偏光子５から偏光子４の方向に通
過する間にファラデー効果による光量変化を受けてい
る。
【００１０】ファラデー効果の非相反特性とは、光の進
行方向を逆方向にしてもファラデー回転の方向が変わら
ないことである。通過偏光面が４５度回転するように偏
光子４と偏光子５を配置して磁気光学センサを構成する
と、ファラデー回転子の内部では、光Ｊ１と光Ｊ２は直
交する直線偏光になる。この結果、ファラデー効果によ
る光量変化率は、光Ｊ１と光Ｊ２では同量で正負が逆に
なる。
行方向を逆方向にしてもファラデー回転の方向が変わら
ないことである。通過偏光面が４５度回転するように偏
光子４と偏光子５を配置して磁気光学センサを構成する
と、ファラデー回転子の内部では、光Ｊ１と光Ｊ２は直
交する直線偏光になる。この結果、ファラデー効果によ
る光量変化率は、光Ｊ１と光Ｊ２では同量で正負が逆に
なる。
【００１１】一方、磁気光学センサ部および光伝送部を
２つの光Ｊ１とＪ２が同一経路で逆方向に進行するの
で、温度変化，振動などの外部要因で光量変化するとき
の光量変化率は、光Ｊ１と光Ｊ２では、同量で正負が同
じになる。この結果、光Ｊ１と光Ｊ２の差動演算を実施
すれば、温度変化・振動などの外部要因による光量変化
を補償してファラデー効果による光量変化のみを検出す
ることが可能になる。
２つの光Ｊ１とＪ２が同一経路で逆方向に進行するの
で、温度変化，振動などの外部要因で光量変化するとき
の光量変化率は、光Ｊ１と光Ｊ２では、同量で正負が同
じになる。この結果、光Ｊ１と光Ｊ２の差動演算を実施
すれば、温度変化・振動などの外部要因による光量変化
を補償してファラデー効果による光量変化のみを検出す
ることが可能になる。
【００１２】しかし、光源の発光量が変動した場合に
は、従来の方式では、光ＣＴ出力のゼロ点が変動して測
定誤差が発生する。このため、本実施例では、２対１光
分岐器における光源からの光の漏れを用いて光源発光量
をモニターして、光源発光量の変動を補償する方式を追
加している。
は、従来の方式では、光ＣＴ出力のゼロ点が変動して測
定誤差が発生する。このため、本実施例では、２対１光
分岐器における光源からの光の漏れを用いて光源発光量
をモニターして、光源発光量の変動を補償する方式を追
加している。
【００１３】本実施例では、波長特性がほぼ同じ光源
７，７ａとして、中心波長λｐ，半値幅Δλに着目し
て、中心波長が±０.０１μｍ 、半値幅が±１０ｎｍの
範囲で同じ波形特性の発光ダイオードを選択して光源７
および光源７ａとした。また、直流に１８ｋＨｚ（以
下、周波数ｆ１）の交流正弦波が重畳した電流で光源７
を駆動して、周波数ｆ１で強度変調した光Ｊ１とし、直
流に３０ｋＨｚ（以下、周波数ｆ２）の交流正弦波が重
畳した電流で光源７ａを駆動して、周波数ｆ２で強度変
調した光Ｊ２とした。
７，７ａとして、中心波長λｐ，半値幅Δλに着目し
て、中心波長が±０.０１μｍ 、半値幅が±１０ｎｍの
範囲で同じ波形特性の発光ダイオードを選択して光源７
および光源７ａとした。また、直流に１８ｋＨｚ（以
下、周波数ｆ１）の交流正弦波が重畳した電流で光源７
を駆動して、周波数ｆ１で強度変調した光Ｊ１とし、直
流に３０ｋＨｚ（以下、周波数ｆ２）の交流正弦波が重
畳した電流で光源７ａを駆動して、周波数ｆ２で強度変
調した光Ｊ２とした。
【００１４】また、本実施例では、ファラデー回転子６
として、図３に示す周回積分型センサを用い、センサ材
質は鉛ガラスＳＦ０３，定格電流１０００Ａの光ＣＴと
して評価した。
として、図３に示す周回積分型センサを用い、センサ材
質は鉛ガラスＳＦ０３，定格電流１０００Ａの光ＣＴと
して評価した。
【００１５】光源７からの光Ｊ１は、ファラデー回転子
６を通過して光電変換部８に入射するとともに、光分岐
器９における光の漏れによって、光電変換部８ａへも入
射する。同様に、光源７ａからの光Ｊ２は、ファラデー
回転子６を通過して光電変換部８ａに入射するととも
に、光分岐器９ａにおける光の漏れによって、光電変換
部８へも入射する。この結果、各光電変換部では２つの
光が混在するが、変調周波数が異なることを利用して分
離することができる。
６を通過して光電変換部８に入射するとともに、光分岐
器９における光の漏れによって、光電変換部８ａへも入
射する。同様に、光源７ａからの光Ｊ２は、ファラデー
回転子６を通過して光電変換部８ａに入射するととも
に、光分岐器９ａにおける光の漏れによって、光電変換
部８へも入射する。この結果、各光電変換部では２つの
光が混在するが、変調周波数が異なることを利用して分
離することができる。
【００１６】図２に示すように、光電変換部８の出力
を、バンドパスフィルタ１２（中心周波数ｆ１）とバン
ドパスフィルタ１３（中心周波数ｆ２）に入力して、そ
れぞれを１６，１７でＡＣ／ＤＣ変換する。同様に、光
電変換部８ａの出力を、バンドパスフィルタ１４（中心
周波数ｆ１）とバンドパスフィルタ１５（中心周波数ｆ
２）に入力して、それぞれを１８，１９でＡＣ／ＤＣ変
換する。
を、バンドパスフィルタ１２（中心周波数ｆ１）とバン
ドパスフィルタ１３（中心周波数ｆ２）に入力して、そ
れぞれを１６，１７でＡＣ／ＤＣ変換する。同様に、光
電変換部８ａの出力を、バンドパスフィルタ１４（中心
周波数ｆ１）とバンドパスフィルタ１５（中心周波数ｆ
２）に入力して、それぞれを１８，１９でＡＣ／ＤＣ変
換する。
【００１７】例えば、光源７の発光量が変化すると、交
直変換素子１６と１８は同じ比率で変化する。従って、
両者を入力した除算器２０の出力は、光源７の発光量変
動には依存しない一定値Ｖ１になる。同様に、除算器２
１の出力は、光源７ａの発光量変動には依存しない一定
Ｖ２になる。
直変換素子１６と１８は同じ比率で変化する。従って、
両者を入力した除算器２０の出力は、光源７の発光量変
動には依存しない一定値Ｖ１になる。同様に、除算器２
１の出力は、光源７ａの発光量変動には依存しない一定
Ｖ２になる。
【００１８】その後、加算器２２でＶ１＋Ｖ２を求め、
引算器２３でＶ１−Ｖ２を求め、両者の出力を（Ｖ１−
Ｖ２）／（Ｖ１＋Ｖ２）となるように除算器２４に入力
する。
引算器２３でＶ１−Ｖ２を求め、両者の出力を（Ｖ１−
Ｖ２）／（Ｖ１＋Ｖ２）となるように除算器２４に入力
する。
【００１９】本実施例の測定結果の一例を表１に示す。
【００２０】
【表１】
【００２１】光源として、ＬＥＤ（発光ダイオード）と
ＳＬＤ（スーパー・ルミネッセンス・ダイオード）の２
種類を用いた。センサ部温度を２０±２℃で一定に保持
し、処理回路部の温度を０℃〜５０℃で変化させて光Ｃ
Ｔ出力のゼロ点ドリフトを測定して、誤差を求めた。定
電流駆動ＬＥＤの場合には、従来方式では誤差１００％
を超過したが、本実施例では誤差±５％程度であった。
一方、ＳＬＤチップをサーミスタなどとモジュール化し
た発光素子をＡＰＣ駆動およびＡＴＣ駆動した場合に
は、従来方式で±１０％程度であった。これは、ＳＬＤ
の駆動方式として、発光量一定かつ温度一定になるよう
にしている効果である。本実施例では、±３％程度まで
に更に測定誤差が低下した。
ＳＬＤ（スーパー・ルミネッセンス・ダイオード）の２
種類を用いた。センサ部温度を２０±２℃で一定に保持
し、処理回路部の温度を０℃〜５０℃で変化させて光Ｃ
Ｔ出力のゼロ点ドリフトを測定して、誤差を求めた。定
電流駆動ＬＥＤの場合には、従来方式では誤差１００％
を超過したが、本実施例では誤差±５％程度であった。
一方、ＳＬＤチップをサーミスタなどとモジュール化し
た発光素子をＡＰＣ駆動およびＡＴＣ駆動した場合に
は、従来方式で±１０％程度であった。これは、ＳＬＤ
の駆動方式として、発光量一定かつ温度一定になるよう
にしている効果である。本実施例では、±３％程度まで
に更に測定誤差が低下した。
【００２２】このように、ファラデー回転子を互いに逆
方向に進行する２つの光には、波長特性がほぼ同じであ
る２つの光源を選択して、この２つの光を互いに異なる
周波数で強度変調して発光させる。磁気光学センサ部を
互いに逆方向に進行した２つの光は、光源の反対側にあ
る光電変換部に入射する。一方、光源から出た光は２対
１光分岐器での光の漏れによって、光源に隣接した光電
変換部にも入射する。したがって、各光電変換部には、
２つの光源からの光が入射することになる。各光電変換
部で電気信号に変換したあと、前記の強度変調周波数成
分をバンドパスフィルタで選択的に抽出して演算処理す
る。演算処理では、各光源に対して、まず参照光と信号
光の除算を行う。除算演算した結果は、光源の発光量変
動に依存しない測定量になる。２つの光源に対して上記
の除算を実施して、次に、この除算結果を用いて従来方
式と同様に和差演算して、被測定電流に比例した出力を
求めることができる。特に、ファラデー回転子として、
周回積分型ファラデーセンサを用いた磁気光学センサ部
を用いることで高精度の電流測定が可能になる。
方向に進行する２つの光には、波長特性がほぼ同じであ
る２つの光源を選択して、この２つの光を互いに異なる
周波数で強度変調して発光させる。磁気光学センサ部を
互いに逆方向に進行した２つの光は、光源の反対側にあ
る光電変換部に入射する。一方、光源から出た光は２対
１光分岐器での光の漏れによって、光源に隣接した光電
変換部にも入射する。したがって、各光電変換部には、
２つの光源からの光が入射することになる。各光電変換
部で電気信号に変換したあと、前記の強度変調周波数成
分をバンドパスフィルタで選択的に抽出して演算処理す
る。演算処理では、各光源に対して、まず参照光と信号
光の除算を行う。除算演算した結果は、光源の発光量変
動に依存しない測定量になる。２つの光源に対して上記
の除算を実施して、次に、この除算結果を用いて従来方
式と同様に和差演算して、被測定電流に比例した出力を
求めることができる。特に、ファラデー回転子として、
周回積分型ファラデーセンサを用いた磁気光学センサ部
を用いることで高精度の電流測定が可能になる。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、光源の発光量変動があ
っても光ＣＴゼロ点のドリフトが発生しないので、測定
誤差が低下しない。かつ、同一波長特性の２つの光で磁
気光学センサ部を逆方向に進行させるので、磁気光学セ
ンサ部の波長特性の影響を受けることがない。また、２
つの光を互いに異なる周波数で強度変調して、光電変換
後の電気信号をバンドパスフィルタで２つの光を分離す
るので、光学系のハーフミラー，光分岐器などで生じる
光の漏れの影響を受けない。また、ファラデー効果によ
る光量変化を差動演算するので、被測定電流が直流，交
流のいずれの場合にも高精度で測定できる。特に、ファ
ラデー回転子が周回積分型センサを用いる場合には、セ
ンサ内部で楕円偏光になる位置の誤差も補償できるので
最も高精度の電流計測が可能になる。
っても光ＣＴゼロ点のドリフトが発生しないので、測定
誤差が低下しない。かつ、同一波長特性の２つの光で磁
気光学センサ部を逆方向に進行させるので、磁気光学セ
ンサ部の波長特性の影響を受けることがない。また、２
つの光を互いに異なる周波数で強度変調して、光電変換
後の電気信号をバンドパスフィルタで２つの光を分離す
るので、光学系のハーフミラー，光分岐器などで生じる
光の漏れの影響を受けない。また、ファラデー効果によ
る光量変化を差動演算するので、被測定電流が直流，交
流のいずれの場合にも高精度で測定できる。特に、ファ
ラデー回転子が周回積分型センサを用いる場合には、セ
ンサ内部で楕円偏光になる位置の誤差も補償できるので
最も高精度の電流計測が可能になる。
【図１】本発明の一実施例である光応用電流変成器の全
体構成を示すブロック図である。
体構成を示すブロック図である。
【図２】本実施例の信号処理回路の演算処理を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】本実施例である周回積分型センサの構造を示す
斜視図である。
斜視図である。
１…通電導体、２，２ａ…光ファイバ、３，３ａ…収束
レンズ、４，５…偏光子、６…ファラデー回転子、７，
７ａ…光源、８，８ａ…光電変換部、９，９ａ…光分岐
器、１０…信号処理回路、１１，１１ａ…駆動電源、１
２〜１５…バンドパスフィルタ、１６〜１９…交／直変
換素子、２０，２１，２４…除算器、２２…加算器、２
３…引算器。
レンズ、４，５…偏光子、６…ファラデー回転子、７，
７ａ…光源、８，８ａ…光電変換部、９，９ａ…光分岐
器、１０…信号処理回路、１１，１１ａ…駆動電源、１
２〜１５…バンドパスフィルタ、１６〜１９…交／直変
換素子、２０，２１，２４…除算器、２２…加算器、２
３…引算器。
フロントページの続き
(72)発明者 白倉 利治
茨城県日立市大みか町七丁目２番１号
株式会社 日立製作所 電力・電機開発
本部内
(72)発明者 木内 正
茨城県日立市国分町一丁目１番１号 株
式会社 日立製作所 国分工場内
(72)発明者 林田 弘
大阪府大阪市北区中之島三丁目３番22号
関西電力株式会社内
(72)発明者 中釜 義昭
大阪府大阪市北区中之島三丁目３番22号
関西電力株式会社内
(72)発明者 秤 俊久
大阪府大阪市北区中之島三丁目３番22号
関西電力株式会社内
(56)参考文献 特開 平９−274056（ＪＰ，Ａ)
特開 昭56−37565（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−226939（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−72576（ＪＰ，Ａ)
特開 平11−108964（ＪＰ，Ａ)
特公 昭62−35627（ＪＰ，Ｂ１)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 15/22 - 15/24
Claims (2)
- 【請求項１】ファラデー効果を応用した光電流変成器に
おいて、 通過偏光方向が互いに異なる２つの偏光子の間にファラ
デー回転子を配置した磁気光学センサ部と、該磁気光学
センサ部の両端に接続され、かつ該磁気光学センサ部で
互いに逆方向に進行する光を入照射させる２つの光伝送
部と、前記光を発光する２つの光源部と、該２つの光源
部の一方から発光される光を周波数ｆ１で強度変調する
第１の電源と、前記２つの光源部の他方から発光される
光を周波数ｆ２で強度変調する第２の電源と、前記磁気
光学センサ部を通過した光を光量測定する２つの光電変
換部と、該光電変換部で光電変換した電圧信号を演算処
理する信号処理回路と、前記２つの光伝送部のうちの１
つの光伝送部と第１の電源及び２つの光電変換部のうち
の１つの光電変換部との間に配置され、前記第１の電源
で周波数ｆ１で強度変調された光を前記１つの光伝送部
に送り、かつ、前記１つの光伝送部からの光を前記１つ
の光電変換部に送る第１の光分岐器と、前記２つの光伝
送部のうちのもう１つの光伝送部と第２の電源及び２つ
の光電変換部のうちのもう１つの光電変換部との間に配
置され、前記第２の電源で周波数ｆ２で強度変調された
光を前記もう１つ光伝送部に送り、かつ、前記もう１つ
の伝送部からの光を前記２つの光電変換部のうちのもう
１つの光電変換部に送る第２の光分岐器とを備え、 前記演算処理回路では、前記２つの光電変換部のうちの
１つの光電変換部の出力を周波数ｆ１の第１のバンドパ
スフィルタと第１の交／直変換素子とを通過させた信号
と、前記他の１つの光電変換部の出力を周波数ｆ１の第
３のバンドパスフィルタと第３の交／直変換素子とを通
過させた信号とを第１の除算器で演算処理し、前記２つ
の光電変換部のうちの１つの光電変換部の出力を周波数
ｆ２の第２のバンドパスフィルタと第２の交／直変換素
子とを通過させた信号と、前記他の１つの光電変換部の
出力を周波数ｆ２の第４のバンドパスフィルタと第４の
交／直変換素子とを通過させた信号とを第２の除算器で
演算処理し、前記第１と第２の除算器の出力に対して、
それぞれ加算器と引算器で演算処理し、該引算器の出力
を加算器の出力で除算する演算処理を実施することを特
徴とする光応用電流変成器。 - 【請求項２】前記ファラデー回転子に周回積分型ファラ
デーセンサを用いた請求項１記載の光応用電流変成器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06811698A JP3410015B2 (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 光応用電流変成器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06811698A JP3410015B2 (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 光応用電流変成器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11264767A JPH11264767A (ja) | 1999-09-28 |
| JP3410015B2 true JP3410015B2 (ja) | 2003-05-26 |
Family
ID=13364461
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06811698A Expired - Lifetime JP3410015B2 (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 光応用電流変成器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3410015B2 (ja) |
-
1998
- 1998-03-18 JP JP06811698A patent/JP3410015B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11264767A (ja) | 1999-09-28 |
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