JP2986503B2 - 光方式直流電圧変成器 - Google Patents

光方式直流電圧変成器

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JP2986503B2 JP2059005A JP5900590A JP2986503B2 JP 2986503 B2 JP2986503 B2 JP 2986503B2 JP 2059005 A JP2059005 A JP 2059005A JP 5900590 A JP5900590 A JP 5900590A JP 2986503 B2 JP2986503 B2 JP 2986503B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光方式変成器に係り、特に、直流の被測定
電圧を検出するのに、チョッパ回路方式と同期検波回路
方式を併用し直流ドリフトを防止し、且つ直流の被測定
電圧の極性に対応した出力電圧を検出するのに好適な光
方式直流電圧変成器に関する。
[従来の技術] 従来の光方式電圧測定装置は、例えば、第8図に、光
方式電圧センサ3として示すように、発光源1、光ファ
イバ2、レンズ27、偏光子4、1/4波長板5、BGO等の電
気光学効果を有する媒質(以下ポッケルス素子と記す)
6、検光子7、光ファイバ8,9、光−電気変換回路10,1
1、演算回路12より成っている。
このような光方式電圧センサにおいて、発光源1から
発せられた一定強度の光は光ファイバ2に入射し、セン
サ3に導びかれる。光はセンサ部のレンズ27で平行光
に、偏光子4で直線偏光に、更に1/4波長板で円偏光に
された後、ポッケルス素子6に入射される。この素子6
に被測定電圧が印加されると、ポッケルス素子6内で
は、ポッケルス効果により主軸方向の屈折率において印
加電圧に比例した異方性(複屈折変化)が生じる。即ち
円偏光はポッケルス素子6の出射端で、次式を位相差を
受ける。
ここで、1 ;ポッケルスの光路長 d ;電圧印加方向の結晶厚さ λ ;波長 n0 ;無電圧時のポッケルス素子の屈折率 γ41;ポッケルスの係数 v0 ;印加電圧の振幅 ω ;印加電圧の角周波数 (1)式の位相差により円偏光は楕円偏光となり、こ
の楕円偏光は、偏光子の方位と直交する方位を持つ検光
子によって互いに直交する二つの信号成分に分けられ、
長軸と短軸の長さに比例した光強度信号に変換される。
これらの光強度変調された出射光を光−電気変換回路1
0,11に通した後の出力をV1,V2とし、入射光をI0、比例
定数をK1,K2とすると、次の(2),(3)式がえられ
る。
V1=k1I0(1+sinΓ) ……(2) V2=k2I0(1−sinΓ) ……(3) 今、何らかの方法でk1=k2となるように調整出来たと
すると、次の式が得られる。
sin2Γ<<1の範囲ではsin2Γ≒2Γとなり、位相角
に比例した出力、即ち演算回路12より被測定電圧に比例
した出力Vを得ることが出来る。
この検出方法は、前記の(4)式を用いるため、被測
定量が直流電圧でも検出することが出来る。しかし、一
般に、発光源1、光ファイバ8,9、偏光子4、1/4波長板
5、ポッケルス素子6、検光子7、光−電気変換回路1
0,11、演算回路12などの光伝送部において、温度特性、
経時変化等による光量の伝送特性の変化、いわゆる直流
ドリフト現象が起り、k1=k2なる状態を得ることが非常
にむつかしい。k1≠k2となると、(4)式でのV1−V2
誤差が大幅に増加し、直流電圧を検出する際の誤差が大
きいという欠点があった。
このようなことは、直流電流の測定においても、直流
電流を直流電圧に変換した後、電圧測定を行い、同様に
(4)式を用いるため、同じような欠点がある。
さらに、直流電圧測定に関しては次の様な問題もあ
る。
ポッケルス素子として一般的に使用されるのは、BGO,
LiNbO3等の強誘電体であるが、交流電圧に対しては、光
学的直線性があり、被測定電圧に比例した光強度変調の
出力が得られることは周知の通りである。しかし、直流
電圧に対しては、例えば、直流の電圧、電界中にBGO,Li
NbO3等のような、ポッケルス素子を静置すると、強誘電
体特有の帯電現象が起り、素子表面への帯電、ポッケル
ス素子内の空間電荷移動等により、時間的にゆるやかに
光出力が低下する現象が起り、測定不能になるものであ
る。
[発明が解決しようとする課題] この点を改良して直流電圧、電界を測定できるような
試みとして、特開昭59−17170号公報、特開昭59−11655
5号公報、特開昭63−29263号公報、特開平1−123162号
公報などの開示される技術がある。
特開昭59−17170号公報に開示される技術は、電気光
学効果を有する媒質、いわゆるポッケルス素子の直流電
圧が印加される電極間にCdS,CdSe,PdSなどの光導電効果
を有する材料とこれらの材料に光照射する光源を設け
て、該光源による光導電材料への光照射時と非光照射時
の光導電材料の比抵抗の変化を利用し、非光照射時に直
流電圧を検出する方法を提案している。
この方法は、帯電荷の影響を受けて光出力が時間と共
に漸次低下するのをなくすために、光照射によって直流
電圧が印加される電極間の抵抗を104Ωcm程度まで低下
させてポッケルス素子内の帯電荷を消滅させて、非光照
射時に直流電圧を検出するものである。
しかし、この方法によると、直流の被測定電圧の変化
に対する応答速度が遅く、変電設備の計測、保護用には
適していない。
また、特開昭59−116555号公報に開示される技術によ
れば、ポッケルス素子に、帯電荷をショートさせるため
の電極を設けて、さらにこの電極間に回転スイッチを設
け、この回転スイッチをオン−オフさせて、オン時に電
極間をショートさせて帯電荷を消滅させ、オフ時に直流
電圧を測定することを提案している。
この方法は、もっとも基本的な構造で良い方法である
が、上記同様に、過渡応答速度を要求される回路には適
さない。
特開昭63−29263号公報に開示される技術によれば、
静電界の計測において、該ポッケルス素子を回転させる
ことなく接地されたスリット入りの回転羽根によるチョ
ッパによって静電界を脈流化して、該ポッケルス素子に
印加することにより交流電界と同様に測定しようとした
ものである。しかし、この方法も上記同様に過渡応答速
度を要求される回路には適さない。
以上のチョッパ方式は、いずれも該ポッケルス素子に
生じる空間電荷の影響を除去出来るが、応答速度が遅い
上に、出力電圧は、交流信号処理されて検出される。
特開平1−123162号公報に開示される技術によれば、
第11図に示したように直流光源からのCW光を光変調器に
透過させておき、被測定物からの電圧をチョッピングし
て光変調器に印加し、このチョッピング電圧によって変
調された強度変調光をサンプリング型の高速光検出器に
送り込んで、デジタル信号成分としてサンプリングし、
直流成分はロックインアンプ内に構成された可変バンド
パスフィルタによって除去し、高速の交流信号成分を検
出するものである。
また、この発明の中で従来例として記載している第12
図は、米国特許第4,446,425号に開示されている。この
発明によれば、パルス形光源から出た光を光変調器に透
過させておき、被測定物からの電圧をチョッピングし
て、その光変調器に印加し、これによって変調された強
度変調光を検光子で2つの成分に分けて、光検出器に送
り、差動増巾手段によって同相である直流成分を除去
し、しかるのちに交流信号をロックインアンプに送り、
平均化の出力を得るようになっている。
このような構成は、本発明との類似点はあるが、発明
目的の前提要件が異なる。これらの従来例は、電圧の検
出結果を得るだけの装置であり、他系統の機器の保護や
制御装置としての機能を保持していない。また構成にお
いても、特開平1−123162号公報では、直流電源、変調
器、サンプリング型高速光検出器、ロックインアンプ、
チョップ回路によって構成されているが、この発明では
サンプリング型の高速光検出器に特徴があり、これとゲ
ートパルスによって、1/2周波数成分の信号だけをサン
プリングする方式なので、被測定物からの信号が直流で
あっても、この出力の極性とロックインアンプからの検
出電圧の極性は対応せず正のみの検出となる。
また第12図の米国特許の構成では、光変調器の検光子
からの出力は(7),(8)式で示されるが、差動方式
だけで処理しているため、直流成分を除去する補償とな
っていない。例えば2つの成分の直流成分が同レベルな
ら良いが、2成分間の直流分のドリフトは必らず異な
る。特に電力機器の保護系統に使用される光センサは高
電圧部に配置されるために、直流光源や、検出器などは
すべて光ファイバを介して遠隔場所に配置される。従っ
て、検光子からの2成分の各々の出力には交流信号と同
時に直流成分も重畳されるため、光伝送途中における光
ファイバの振動、温度、曲げなどによるベンデング、光
コネクタ不良などによって直流ドリフトが夫々異なるた
め、夫々に直流変動を補償するための信号処理を行う演
算回路が必要となる。
変電所においては、直流電圧の極性が通常は正である
が、事故により、極性が負になる場合があり、その際は
すみやかに極性を検知後、対策を取る必要があり、極性
測定が可能な変成器が望まれている。
したがって、これらの方式は、変電所の計測、保護用
の信号処理として扱われる被直流電圧に対応した直流出
力信号検出、および被直流電圧に対応した直流出力信号
の極性、ならびにJEC−1201基準内の精度を要求される
光方式直流電圧測定装置としては極めて不満足なもので
あった。
なお、JEC−1201は、電気学会 電気規格調査会標準
規格の計器用変成器(保護継電器用)に関する規格であ
る。
本発明は、上記した従来技術の欠点をなくし、直流の
被測定電圧を一度脈流化して交流電圧扱いとすることに
よって測定を可能とし、且つ同信号の演算処理後の信号
と前記脈流化信号の2つの信号を同期検波することによ
って、直流の被測定電圧の極性に対応した直流の出力電
圧を精度良く検出できる光方式直流変成器を提供するこ
とを目的とする。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために、本発明は、発光源と、偏
光子と、電気光学効果を有する媒質と、検光子と、該検
光子から出射する光信号を電気信号に変換する装置とを
備え、該電気信号から前記媒質に印加される直流の電界
あるいは電圧の強さを求めるようにした光方式変成器に
おいて、前記電気光学効果を有する媒質に印加する電界
あるいは電圧を時間的に脈流化させるチョッパ手段と、
前記光−電気変換後の電気信号の平均値を求める平均値
回路、および、前記光−電気変換後の電気信号と前記平
均値回路から求められた平均値との差分を、前記平均値
回路より求められた平均値により除算する除算器回路を
有する演算手段と、前記演算手段からの電気出力信号を
前記チョッパ手段で脈流化された電界あるいは電圧と同
期して検波する検波手段と、前記検波手段からの電気出
力信号を用いて被測定電界あるいは電圧と同極性の電気
出力信号を得る出力手段とを設けたものである。
また、上記目的を達成するために本発明は、発光源か
ら光出力を発光し、この光出力を偏光子を介して偏光し
た後に、電気光学効果を有する媒質に入力し、該媒質に
被測定直流電界または電界を印加して、光強度変調を行
い、該変調光を検光子により、互いに直交する2成分の
光信号に分け、該光信号を電気信号に変換し、該電気信
号から被測定直流電界または電界の大きさを求める光方
式直流電圧測定法において、前記電気光学効果を有する
媒質に印加する電界あるいは電圧を時間的に脈流化させ
ると共に、光−電気変換後の電気信号の平均値を算出
し、該平均値と前記光−電気変換後の電気信号の差分を
前記平均値で除算し、該除算値を前記脈流化した電界あ
るいは電圧と同期させて検波し、該検波した電気信号を
平滑化して被測定電界あるいは電圧と同極性の電気信号
を得て、該電気信号から被測定直流電界または電圧の大
きさを求めたものである。
具体的には、例えば上記の電気光学効果を有する素
子、すなわちポッケルス素子に印加される直流電圧を電
子式チョッピングによって、脈流化し、交流電圧測定と
同じ信号処理をすることにより、直流ドリフト分を除去
した出力信号を得ると共に、チョッピング周波数に同期
した信号を、同期検波回路で検波して、被測定直流電圧
を極性を検出するものである。
[作 用] チョッパ回路と同期検波回路には、発振器によって同
一周波数の信号を送り、チョッパ回路では正負の被直流
電圧が広範囲で精度良く計測できるようにトランジスタ
などによる電子式スイッチング方式で導通−開放、いわ
ゆるオン−オフが、上記周波数でくり返される動作を行
う。そのため正ないし負の方形波信号がポッケルス素子
に印加されることになる。
この時、方形波信号の交流成分のみを対象に取扱う
と、ポッケルス素子、検光子を通過した出射光は、上記
のスイッチング周波数を有する強度変調光となる。そし
てこの強度変調光は、光−電気変換回路に導かれる。
ここで互に直交する出力光V1,V2は次式で与えられ
る。
V1=I0(1+m sinωt) ……(5) V2=I0(1−m sinωt) ……(6) I0は入射光の強さ、mは変調率、ωは印加電圧の角周
波数である。なお、この時の変調率mは次式で与えられ
る。
信号処理回路では、(5),(6)式に対し、(8)
式に示す演算を電気的に行い、Voutの出力電圧を得る。
ここで、Kは信号処理回路の比例定数、1,は出
力光V1,V2の平均値である。
かかる式の適用により、出力電圧Voutからは直流ドリ
フト分((5)式、(6)式のI0に含まれる)が完全に
除外されるので、直流ドリフト分の影響は全く受けない
ことになる。
なお、この出力信号Voutは、交流信号となっているた
め、直流の被測定電圧の極性を識別することができな
い。
ところで、(8)式に(5),(6)式を代入する
と、Voutは下記の様になる。
Vout=2Km sinωt ……(9) 前述したように出力信号Voutは交流信号であり、直流
の被測定電圧の極性を識別することができない。そこで
上記(9)式によりえられる出力信号Voutの極性識別の
ために、前記チョッパ回路での脈流化信号を取り出して
同期検波回路に導き、出力信号Voutと同期させて検波す
る。この結果、直流の被測定電圧の極性が正であれば正
の信号のみが選択されて、次段の平滑回路で正の直流電
圧として出力される。
以上説明した、各部での電気信号の電圧−時間特性を
第3図に示す。すなわち極性が正の直流入力電圧(a)
に、チョッパ回路でオン−オフさせ脈流化された電圧を
印加させ(b)、アナログ演算により交流で信号処理し
(c)、同期検波回路と平滑回路を通過させて出力電圧
特性(d)を得ている。従って、同図に示すように被測
定電圧が正の場合、チョッパ回路がON時に、出力信号Vo
utは正であることがわかる。
一方、直流の被測定電圧が負の場合には、上記と同様
の処理によりチョッパ回路がON時に出力信号Voutは負と
なり、次段の平滑回路で負の直流電圧を得ることにな
る。
[実施例] 以下、本発明の一実施例について第1図および第2図
により説明する。
第1図に示すように、本実施例の変成器は、発光源
1、光ファイバ2、レンズ27、偏光子4、1/4波長板
5、ポッケルス素子6、検光子7、出射光用の光ファイ
バ8,9、光−電気変換回路10,11、演算回路12、および、
チョッパ回路13を含んで構成されている。なお、この中
の演算回路12の詳細は、第2図により説明する。
チョッパ回路13は、電気光学効果を有するポッケルス
素子6に印加する電界あるいは電圧を時間的に脈流化さ
せるチョッパ手段である。
発振器23はチョッパ周波数を設定するためである。
発光源1では、発光ダイオードやレーザダイオードな
どにより、一定強度の出力光が発せられ、光ファイバ2
に入射し、レンズ27を透過した後、偏光子4に導かれ
る。ここで、直線偏光にされた光が1/4波長板5で円偏
光にされた後、BGOなどのポッケルス素子6に入射す
る。
このポッケルス素子6には、被測定の直流電圧Vが、
ダイオードやFETなどの半導体素子から成る電子式チョ
ッパ回路13でオン、オフされていわゆる脈流化されて印
加されている。この脈流化された電圧により、円偏光の
光は楕円偏光に変化するが、その後検光子7によって直
交する2方向成分に分けられ、光ファイバ8,9で光−電
気変換回路10,11にそれぞれ導かれている。そして、こ
の脈流化された光の出力信号が演算回路12で、上述した
交流電圧測定時と同じ信号処理が行われるため、直流成
分は全く除去され、直流ドリフトの影響は受けないこと
になる。
なお、測定すべき直流電圧を脈流化させるチョッパ回
路13と同期させて、検波がなされ、その後平滑されるた
め、被測定信号と同極性の信号が最終出力できることに
なる。
このような信号処理のプロセスを第2図に示す演算回
路によりさらに詳しく説明する。
10,11は、検光子からの光信号V1,V2を電気信号に変換
する光−電気変換回路、18,19は、V1,V2をそれぞれ平均
して1,を求める平均値回路、20は、V1の差
(V1)ととの除算を行う除算回路、21もV2
関して同様の除算を行う除算回路、17は、21の出力の符
号を換える反転回路、22は、除算回路20と反転回路17の
出力から、(8)式のVoutを最終的に求める加算回路で
ある。
23は、チョッパ回路13と同期検波回路24に同じタイミ
ング信号を送る発振回路、24は、このタイミング信号に
より、Voutを同期検波する同期検波回路、25は同期検波
回路24で得られた出力を平滑化して、被測定電圧の極性
に対応した信号を出す平滑回路である。
ポッケルス素子の出力光端におかれた検光子により、
互に直交する2つの偏光成分V1,V2に分けられた光出力
は、それぞれ光−電気変換回路10,11により電気信号に
変換され、増幅器50の平均値回路18,19、そして除算器2
0,21を通ってV2成分は反転回路17を通過後、加算回路22
で(8)式の演算が行われることになる。つまり、この
信号処理回路では、すべて交流信号として処理されてい
るため、従来の直流電圧測定時に問題視されていた直流
ドリフト分をほぼ完全に除去できることになる。
なお、この交流信号では、測定すべき直流電圧の極性
を識別することができないため、チョッパ回路で被測定
信号を脈流化させるのに用いられる発振回路23の信号と
加算器22からの交流出力信号とを同期させる同期検波回
路24を設ける。同期検波回路は第9図に示すように発振
回路23の信号を基準信号として、この位相を演算回路12
の脈流化信号と同相にする。すなわち、演算回路12から
の出力信号が、正側に同期して得られるものと、負側に
同期するものとを選別する回路28(電子アナログスイッ
チ等で構成される)よりなる、同期検波回路を通し、そ
の後平滑回路25で交流から直流に変換し、最終の直流出
力信号を得る構成となっている。このとき、正負の信号
検出値に誤差のないようにするために、脈流化信号ライ
ンと基準信号ラインの接地G1,G2は互いにフロートとす
る。他のブロック間は光ファイバで絶縁される。かかる
構成とすると、測定すべき直流電圧の極性に対応した直
流の出力電圧が正確に得られるようになる。
以上、本実施例における演算回路での動作特性を説明
したが、各部での電気信号の電圧−時間特性をまとめる
と第3図のようになっている。図中(a)が被測定とな
る直流入力電圧特性、(b)が(a)の特性をチョッパ
回路でオン−オフしたチョッパ出力電圧特性、(c)が
アナログ演算により交流で信号処理された出力電圧特
性、そして(d)が同期検波回路と平滑回路を通過した
最終の出力電圧特性をそれぞれ示している。直流入力
(a)から直流出力(d)までの処理過程で、交流の信
号処理が行われているため、途中で混入してくる直流ド
リフト分の除去がほぼ完全になされている。なお、本実
施例では、第3図(b)のチョッパ出力特性が、正極性
で直流電圧のオン−オフだけの特性を示しているが、チ
ョッパ回路の変更により正・負の両極に電圧をチョッピ
ングした出力電圧とし、演算処理することも当然可能で
あり、上記と全く同様の作用・効果が実現できる。
第4図に、本実施例による直流電圧の実際の測定例を
示す。正・負に渡る直流入力電圧と信号処理された最終
直流出力電圧とは、良好な直線関係を有している。本発
明によれば、直流電圧の高精度な測定が可能であること
が明らかである。
本発明の他の実施例を第5図に示す。
これは、第1図の実施例をもとに実用的な計測システ
ムを構築した一例であり、大別して電圧検出部100と信
号処理部200とから成っている。電圧検出部100では測定
すべき直流電圧が、適切な値に設定できるように分圧器
26により、抵抗R1,R2で抵抗分圧されて、保護抵抗R4
通してチョッパ回路13に入力するようになっている。そ
して、この電圧検出部100には、他に、チョッパ回路13
駆動のための電源回路30や光−電気変換回路31、そして
電圧センサ3などが含まれている。一方、信号処理部20
0は、光−電気変換回路10,11,32,33の他に、増幅器50、
同期検波回路24、平滑回路25、発振回路23そして、これ
らの駆動用電源回路40などから構成される。なお、電圧
検出部100と信号処理部200とは、すべて光ファイバ2,8,
9および34で結合されており、各部での使用電源も別系
統となっている。かかる構成とすることで、電圧検出部
100と信号処理部200とは電気的に完全に分離できるた
め、耐ノイズ性に優れ、かつ誤動作等も少ない高信頼性
の計測システムを構築できるようになっている。
なお、本システム中での直流電圧の測定の原理や効果
等は、第1図から第4図までの実施例で述べたものと何
ら変るものでない。
第6図に他の実施例として、本測定原理をもとにした
計測システムの別の構築例を示す。
図中(a),(b)は第5図のシステムが2系統並列
に配備される例を示したもので、(a)は分圧器26の一
個の抵抗R2から並列にチョッパ回路81,82を介して2系
統の計測システムが並列に配備される。保護を兼ねた分
離抵抗R4A,R4Bは、2系統のチョッパ81,82が同期形のチ
ョッパであれば、チョッパ回路の保護のみとなるが、非
同期形チョッパの場合に相互に干渉しないような目的で
挿入される。(b)では、抵抗R1,R2のそれぞれにチョ
ッパ回路83,84が接続されて2系統の計測システムが、
それぞれ並列に配備される構成になっている。
第10図は第6図に示す2系統化において、チョッパ回
路81,82も同期させたものである。発振器の2系統化
は、発振器23,23′が発振回路監視装置29によって監視
され、発振器23に異状があれば直ちに別の発振器23′が
動作するものである。又は、発振器23,23′は同時に作
動させて、一方のみに信号出力をさせておき、一方が故
障したとき、他方が出力信号を出すようにしても良い。
この様に同期させることによりチョッパ精度が向上す
る。
第7図は、第6図に示した2系統の非同期形のチョッ
パより、さらに高精度化を計ったものである。
すなわち、第6図において、分離抵抗R4A,R4Bの値
は、第5図における出力信号Vの応答速度や、チョッパ
回路13の出力電圧に影響のないような値に設定しなけれ
ばならないが、さらに、2系統のチョッパ相互間にも影
響しないように設定するのは非常に困難である。第7図
の例は、これらの影響を極力なくしたものである。すな
わち、分圧器26の分圧抵抗R2をR2,R3に分圧し、さらにR
1>R2>R3となるように配列し、所定の検出電圧はR3
り取り出す。チョッパ回路81と82の間には分圧抵抗R2
介在するために、チョッパ回路81,82相互に流れ込む電
流が小さくなり、相互の干渉度は大幅に低減されるもの
である。しかもR3の設定が容易になる。
したがって、分離抵抗R4A,R4Bは小さくできてチョッ
パ精度が向上する。
かかる複数のシステム構成としたのは、計測システム
の信頼性をより確実にするためのもので、本計測システ
ムによる監視、保護、制御を一層確実に実現することが
できるようになる。
本発明の直流電圧変成器は、電圧の測定に好ましく用
いることができる。特に、変電所等の直流高電圧の測定
に好適である。
[発明の効果] 本発明によれば、光伝送経路中における温度特性、経
時変化、振動などに起因する直流電圧の検出誤差を除去
することができるだけでなく、直流の被測定電圧の極性
に対応した直流の出力電圧が検出できるため、高精度
で、かつ安定した直流電圧の測定を行うことができる効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る光方式直流電圧変成器
を示す構成図、第2図は本発明の一実施例に係る光方式
直流電圧変成器の演算回路、第3図は本発明に係る各部
の電気信号の電圧−時間特性を説明する図、第4図は本
発明による直流電圧の実際の測定例を示す図、第5図か
ら第6図は本発明の他の実施例を示す図、第7図は第6
図に示したチョッパを高精度化したものを示す図、そし
て第8図は従来の光方式直流電圧変成器を示す構成図、
第9図は同期検波回路の一実施例を示す図、第10図は第
6図においてチョッパ回路を同期化させた一実施例を示
す図、第11図と第12図は従来の光方式直流電圧測定器の
構成を示す図をそれぞれ示している。 1……発光源、3……電圧センサ、2,8,9,34……光ファ
イバ、4……偏光子、5……1/4波長板、6……ポッケ
ルス素子、7……検光子、10,11,31,32,33……光−電気
変換回路、12……演算回路、13,81,82,83,84……チョッ
パ回路、17……反転回路、18,19……平均値回路、20,21
……除算器、22……加算回路、23……発振回路、24……
同期検波回路、25……平滑回路、26……分圧器、27……
レンズ、30,40……電源回路、50……増幅器、100……電
圧検出部、200……信号処理部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 逹 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社 日立製作所日立研究所内 (72)発明者 佐藤 忠 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社 日立製作所日立研究所内 (72)発明者 森 悦紀 茨城県日立市国分町1丁目1番1号 株 式会社日立製作所国分工場内 (72)発明者 黒澤 潔 東京都調布市西つつじケ丘2丁目4番1 号 東京電力株式会社技術研究所内 (72)発明者 白井 慶則 東京都調布市西つつじケ丘2丁目4番1 号 東京電力株式会社技術研究所内 (56)参考文献 特開 昭60−257326(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 19/00 - 19/32 G01R 15/24

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】発光源と、偏光子と、電気光学効果を有す
    る媒質と、検光子と、前記検光子から出射する光信号を
    電気信号に変換する装置とを備え、該電気信号から前記
    媒質に印加される直流の電界あるいは電圧の強さを求め
    るようにした光方式変成器において、 前記電気光学効果を有する媒質に印加する電界あるいは
    電圧を時間的に脈流化させるチョッパ手段と、 前記光−電気変換後の電気信号の平均値を求める平均値
    回路、および、前記光−電気変換後の電気信号と前記平
    均値回路から求められた平均値との差分を、前記平均値
    回路より求められた平均値により除算する除算器回路を
    有する演算手段と、 前記演算手段からの電気出力信号を、前記チョッパ手段
    で脈流化された電界あるいは電圧と同期して検波する検
    波手段と、 前記検波手段からの電気出力信号を用いて、被測定電界
    あるいは電圧と同極性の電気出力信号を得る出力手段と
    を設けたことを特徴とする光方式直流電圧変成器。
  2. 【請求項2】電圧検出ブロックと信号処理ブロックとを
    電気的に分離し、光学的手段を用いて結合した光方式直
    流電圧変成器において、 前記電圧検出ブロックは、発光源と、偏光子と、電気光
    学効果を有する媒質と、検光子と、前記電気光学効果を
    有する媒質に印加する電界あるいは電圧を時間的に脈流
    化させるチョッパ手段とを有し、 前記信号処理ブロックは、前記検光子から出射する光信
    号を電気信号に変換する装置と、前記光−電気変換後の
    電気信号の平均値を求める平均値回路および前記光−電
    気変換後の電気信号と前記平均値回路から求められた平
    均値との差分を前記平均値回路より求められた平均値に
    より除算する除算器回路を有する演算手段と、該演算手
    段からの電気出力信号と前記チョッパ手段で脈流化され
    た電界あるいは電圧と同期して検波する検波手段と、前
    記検波手段からの電気出力信号を平滑化して被測定電界
    あるいは電圧と同極性の電気出力信号を得る出力手段と
    を設けたことを特徴とする光方式直流電圧変成器。
  3. 【請求項3】被測定信号を、少なくとも2系統に分ける
    分圧器を備え、少なくとも2系統に分けられた被測定信
    号について、各々請求項1または2記載の光方式直流電
    圧変成器を設けて、測定を少なくとも2重化して行うこ
    とを特徴とする直流電圧測定システム。
  4. 【請求項4】請求項1もしくは2記載の光方式直流電圧
    変成器、または、請求項3記載の直流電圧測定システム
    を用い、直流高電圧計測を行うことを特徴とする変電
    所。
  5. 【請求項5】発光源と、偏光子と、電気光学効果を有す
    る媒質と、検光子と、前記検光子から出射する光信号を
    電気信号に変換する装置とを備え、前記電気信号から前
    記媒質に印加される直流の電界あるいは電圧の強さを求
    めるようにした光方式電圧測定器において、 前記電気光学効果を有する媒質に印加する電界あるいは
    電圧を時間的に脈流化させるチョッパ手段と、 前記光−電気変換後の電気信号の平均値を求める平均値
    回路、および、前記光−電気変換後の電気信号と前記平
    均値回路から求められた平均値との差分を、前記平均値
    回路より求められた平均値により除算する除算器回路を
    有する演算手段と、 前記演算手段からの電気出力信号を、前記チョッパ手段
    で脈流化された電界あるいは電圧と同期して検波する検
    波手段と、 前記検波手段からの電気出力信号を用いて、被測定電界
    あるいは電圧と同極性の電気出力信号を得る出力手段と
    を設けたことを特徴とする光方式電圧測定器。
  6. 【請求項6】発光源から光出力を発光し、この光出力を
    偏光子を介して偏光した後に、電気光学効果を有する媒
    質に入力し、該媒質に被測定直流電界または電圧を印加
    して、光強度変調を行い、該変調光を検光子により、互
    いに直交する2成分の光信号に分け、該光信号を電気信
    号に変換し、該電気信号から被測定直流電界または電圧
    の大きさを求める光方式直流電圧測定法において、 前記電気光学効果を有する媒質に印加する電界あるいは
    電圧を時間的に脈流化させると共に、光−電気変換後の
    電気信号の平均値を算出し、該平均値と前記光−電気変
    換後の電気信号の差分を前記平均値で除算し、該除算値
    を前記脈流化した電界あるいは電圧と同期させて検波
    し、該検波した電気信号を平滑化して被測定電界あるい
    は電圧と同極性の電気信号を得て、該電気信号から被測
    定直流電界または電圧の大きさを求めることを特徴とす
    る直流電圧測定法。
  7. 【請求項7】複数系統設けられたすべての光方式直流電
    圧変成器について共通の発振器を設け、すべての光方式
    直流電圧変成器を同期させてチョッパおよび検波するこ
    とを特徴とする請求項3記載の直流電圧測定システム。
  8. 【請求項8】請求項3または7記載の直流電圧測定シス
    テムにおいて、 前記分圧器は、予め定めた分圧比を得るように直列接続
    された、高圧側抵抗と、該高圧側抵抗よりも低い抵抗値
    を持つ接地側抵抗とから構成され、 前記接地側抵抗は、2つの抵抗を直列接続して構成した
    直列合成抵抗を、複数並列配置して構成されたものであ
    り、 前記各直列合成抵抗のうちの接地側に位置する抵抗の端
    子電圧を、前記各系統での被測定電圧とすることを特徴
    とする直流電圧測定システム。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI921924A (fi) * 1991-05-08 1992-11-09 Nellcor Inc Portabel koldioxidmonitor
JP2521395B2 (ja) * 1992-08-31 1996-08-07 日本碍子株式会社 光学式電圧・電界センサ
TW224513B (ja) * 1992-11-20 1994-06-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd
JP3577349B2 (ja) * 1994-12-27 2004-10-13 株式会社東芝 光変調型センサおよびこのセンサを用いたプロセス計測装置
DE19634251A1 (de) * 1996-08-26 1998-03-05 Abb Patent Gmbh Spannungswandler
WO2000013033A1 (en) * 1998-09-01 2000-03-09 Lockheed Martin Idaho Technologies Company Electro-optic voltage sensor
JP2000258465A (ja) * 1999-03-09 2000-09-22 Hitachi Ltd 光電圧センサ
CN101852824A (zh) * 2009-03-30 2010-10-06 徐启峰 一种数字光电式电压传感器
ITMI20121435A1 (it) * 2012-08-21 2012-11-20 R S E S P A Dispositivo ottico adatto a generare un segnale di sincronismo per componenti elettrici di una rete elettrica.
CN103245817B (zh) * 2013-04-03 2016-05-25 易能乾元(北京)电力科技有限公司 一种测量电压的方法和电压传感器

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1955403C3 (de) * 1969-10-30 1974-04-25 Siemens Ag, 1000 Berlin U. 8000 Muenchen Digitale Meßeinrichtung für Ströme in Hochspannungsleitern
US4446425A (en) * 1982-02-12 1984-05-01 The University Of Rochester Measurement of electrical signals with picosecond resolution
JPS5917170A (ja) * 1982-07-21 1984-01-28 Hitachi Ltd 光方式電界強度測定器
JPS59116555A (ja) * 1982-12-24 1984-07-05 Hitachi Ltd 光方式直流電界測定装置
JPS59147274A (ja) * 1983-02-10 1984-08-23 Hitachi Ltd 光方式電界測定装置
US4683420A (en) * 1985-07-10 1987-07-28 Westinghouse Electric Corp. Acousto-optic system for testing high speed circuits
JPS6229263A (ja) * 1985-07-29 1987-02-07 Toshiba Corp 原稿読取り装置
JPS6329263A (ja) * 1986-07-23 1988-02-06 Saginomiya Seisakusho Inc 直流電界測定装置
US4975635A (en) * 1987-11-05 1990-12-04 Hironori Takahashi Voltage detector using a sampling type high-speed photodetector
JP2577582B2 (ja) * 1987-11-06 1997-02-05 浜松ホトニクス株式会社 電圧検出装置
JPH01259266A (ja) * 1988-04-08 1989-10-16 Hamamatsu Photonics Kk 電圧測定装置

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