JPS58174857A - 直流光電圧計 - Google Patents
直流光電圧計Info
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- JPS58174857A JPS58174857A JP57058660A JP5866082A JPS58174857A JP S58174857 A JPS58174857 A JP S58174857A JP 57058660 A JP57058660 A JP 57058660A JP 5866082 A JP5866082 A JP 5866082A JP S58174857 A JPS58174857 A JP S58174857A
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- Japan
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- voltage
- measured
- polarizer
- capacitor
- fixed cycle
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
- G01R15/241—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
一般Ｋ、光電圧計においては、被測定電圧の変化を光の
変化に変換するためＫ、結晶の電気光学効果を利用する
コンデンサ形電圧偏光装置が使用されている。この装置
は平行板コンデンサの電極間に例えばＬＩＮｂ０５結晶
のような電気光学効果素子を介装させる簡単な構成の偏
光装置である。これを使用するときは、素子（結晶）に
光分通しておき、コンデンサの電極間に被測定電圧に対
応する電圧を印加する。電気光学効果により印加電圧に
応じて素子の沙屈折率が変化するので素子への入射光と
素子からの透過光との間の位相差が印加電圧の強さに対
応して変化する。したがって後述するようにこの装？ｆ
を使用し光を被測定電圧によって変調することができる
。以下、電気光学効果素子を利用するコンデンサ形電圧
偏光装置を電圧偏光装置または単に偏光装置と略称する
。
変化に変換するためＫ、結晶の電気光学効果を利用する
コンデンサ形電圧偏光装置が使用されている。この装置
は平行板コンデンサの電極間に例えばＬＩＮｂ０５結晶
のような電気光学効果素子を介装させる簡単な構成の偏
光装置である。これを使用するときは、素子（結晶）に
光分通しておき、コンデンサの電極間に被測定電圧に対
応する電圧を印加する。電気光学効果により印加電圧に
応じて素子の沙屈折率が変化するので素子への入射光と
素子からの透過光との間の位相差が印加電圧の強さに対
応して変化する。したがって後述するようにこの装？ｆ
を使用し光を被測定電圧によって変調することができる
。以下、電気光学効果素子を利用するコンデンサ形電圧
偏光装置を電圧偏光装置または単に偏光装置と略称する
。
上述のように電圧偏光装置は構成が簡単なうえＫこれを
作動するための電源９．全必要としない等の利点がある
ので、これを利用する光電圧計は例えば高圧送電線のよ
うな高所にある電気工作物の交流電圧を無接触で計測す
る交流電圧側として提案されている。
作動するための電源９．全必要としない等の利点がある
ので、これを利用する光電圧計は例えば高圧送電線のよ
うな高所にある電気工作物の交流電圧を無接触で計測す
る交流電圧側として提案されている。
光電圧計はこれを直流電圧の測定に応用することも原理
的に可能であるが実際にはこれによる直流電圧の測定は
ほとんど不可能であった。直流電圧測定を不可能にする
主な原因は、レーザ光々ど発光光源の出力レベルが不安
定なこと、測定条件例えば温度変化等に対し装置に使用
される光学素子の物理的特性が変化すること、被測定直
流電圧に対応して装置のコンデンサ電極に現われる電荷
が電極間の漏洩抵抗を通して放電すること等である。こ
れらの原因により、光電圧計による直流測定出力に所謂
直流ドリフトが混入する。本発明はこの直流ドリフトを
被測定直流信号から除去することを主たる目的とする。
的に可能であるが実際にはこれによる直流電圧の測定は
ほとんど不可能であった。直流電圧測定を不可能にする
主な原因は、レーザ光々ど発光光源の出力レベルが不安
定なこと、測定条件例えば温度変化等に対し装置に使用
される光学素子の物理的特性が変化すること、被測定直
流電圧に対応して装置のコンデンサ電極に現われる電荷
が電極間の漏洩抵抗を通して放電すること等である。こ
れらの原因により、光電圧計による直流測定出力に所謂
直流ドリフトが混入する。本発明はこの直流ドリフトを
被測定直流信号から除去することを主たる目的とする。
従来、基準電位点に対し被測定電圧が印加される測定対
象物の電圧を光電圧計で測定する一法として、光電圧計
の電圧偏光装置のコンデンサの一方の電極を基準電位点
に直接接続し、他方の電極をコンデンサを介して測定対
象物に接続し、偏嚢豐 装置のコンデンサに被測定電
圧に比例する電圧を印加する方法がとられている。測定
対象物と偏光装置との間に介挿されているコンデンサを
入力コンデンサと呼ぶ。また、この方法では被測定電圧
ｔ に １ に対応する電圧を偏光装置に印加する手段として入力コ
ンデンサと偏光装置とを含む容量分圧器が利用されてい
るから、この手段を容量分正形入力回路と呼ぶ。本発明
は、被測定直流電圧を所定の比に分圧せる電圧の極性を
一定の周期で反転せる電圧、または被測定直流電圧に対
する分圧比を一定の周期で変化させた電圧を偏光装置に
印加す石ことのできる特殊構成の容量分正形入力回路を
利用するのが一つの特徴である。以下、図面を参照して
本発明を説明する。
象物の電圧を光電圧計で測定する一法として、光電圧計
の電圧偏光装置のコンデンサの一方の電極を基準電位点
に直接接続し、他方の電極をコンデンサを介して測定対
象物に接続し、偏嚢豐 装置のコンデンサに被測定電
圧に比例する電圧を印加する方法がとられている。測定
対象物と偏光装置との間に介挿されているコンデンサを
入力コンデンサと呼ぶ。また、この方法では被測定電圧
ｔ に １ に対応する電圧を偏光装置に印加する手段として入力コ
ンデンサと偏光装置とを含む容量分圧器が利用されてい
るから、この手段を容量分正形入力回路と呼ぶ。本発明
は、被測定直流電圧を所定の比に分圧せる電圧の極性を
一定の周期で反転せる電圧、または被測定直流電圧に対
する分圧比を一定の周期で変化させた電圧を偏光装置に
印加す石ことのできる特殊構成の容量分正形入力回路を
利用するのが一つの特徴である。以下、図面を参照して
本発明を説明する。
第１図は従来公知の容量分正形入力回路を使用する光電
圧計の構成説明図である。
圧計の構成説明図である。
図において、基準電位点をＧとしＧに対し被測定電圧■
ｏが゛印加されている測定対象物を１とする。
ｏが゛印加されている測定対象物を１とする。
５け電圧偏光装置で、Ｈ，５２は平行板コンデンサの一
対の電極、３３は電極間に介装されていゐ電気光学効果
素子である。２け入力コンデンサで、測定対象物１それ
自身を一方の電極としこれと大気をこの入力コンデンサ
に適用してもよい。入力コンデンサ２と偏光装置３とで
容量分圧器が形成される。
対の電極、３３は電極間に介装されていゐ電気光学効果
素子である。２け入力コンデンサで、測定対象物１それ
自身を一方の電極としこれと大気をこの入力コンデンサ
に適用してもよい。入力コンデンサ２と偏光装置３とで
容量分圧器が形成される。
一方、光電圧計の光学系において、４は光源、５けニコ
ルプリズムのような偏光子、６け４分の１波長板、７は
検光子で偏光子５と同じ特性の偏光子である。８け光検
出器である。光源４１偏光子５，４分の１波長板６．電
気光学効果偏光装置３および検光子７および光検出器８
がら成る光学回路を光変調回路Ｍと呼ぶ。光変調回路Ｍ
の作用を簡単に説明すれば、レーザ光源４からの光は偏
光子５を通過して直線偏光となり、さらに１／４波長板
６を通り円偏光となり偏光装置３の電気光学効果素子３
３に投入される。この素子は装＠Ｓの印加電圧ｖ１に対
応して複屈折率が変わり、素子を通過せる光は楕円偏光
となる。この透過光を偏光子５と同じ特性の検光子７に
送り込む。検光子７を通過せる光の強さは印加電圧ｖ１
に対応して変化す（４） 第２図（１）は本発明実施例の要部すなわち容量分正形
入力回路ＩＣの構成を示す。図において、第１図の回路
と同部分はこれと同一記号を附して示す。
ルプリズムのような偏光子、６け４分の１波長板、７は
検光子で偏光子５と同じ特性の偏光子である。８け光検
出器である。光源４１偏光子５，４分の１波長板６．電
気光学効果偏光装置３および検光子７および光検出器８
がら成る光学回路を光変調回路Ｍと呼ぶ。光変調回路Ｍ
の作用を簡単に説明すれば、レーザ光源４からの光は偏
光子５を通過して直線偏光となり、さらに１／４波長板
６を通り円偏光となり偏光装置３の電気光学効果素子３
３に投入される。この素子は装＠Ｓの印加電圧ｖ１に対
応して複屈折率が変わり、素子を通過せる光は楕円偏光
となる。この透過光を偏光子５と同じ特性の検光子７に
送り込む。検光子７を通過せる光の強さは印加電圧ｖ１
に対応して変化す（４） 第２図（１）は本発明実施例の要部すなわち容量分正形
入力回路ＩＣの構成を示す。図において、第１図の回路
と同部分はこれと同一記号を附して示す。
なお、対象物１には基準電位点Ｇに対し被測定直流電圧
Ｖ。が印加される。入力コンデンサ２の一方の電極２１
は測定対象物１ｔたは対象物１に直接接続する電極、他
方の電極を２２とする。８Ｗよ、は一定の周期で切換動
作を繰返えす切換スイッチで、これにより偏光装置５の
一対の電極３１．３２はそれぞれ一定周期で入力コンデ
ンサの他方の電極２２と基準電位点Ｇとに交互に接続さ
れる。したがって。
Ｖ。が印加される。入力コンデンサ２の一方の電極２１
は測定対象物１ｔたは対象物１に直接接続する電極、他
方の電極を２２とする。８Ｗよ、は一定の周期で切換動
作を繰返えす切換スイッチで、これにより偏光装置５の
一対の電極３１．３２はそれぞれ一定周期で入力コンデ
ンサの他方の電極２２と基準電位点Ｇとに交互に接続さ
れる。したがって。
被測定電圧Ｖ。に対する偏光装置３に印加される電圧ｖ
１の大きさｖｌの比はＳＷ１□の切換状態Ｋかかわらず
一定である。入力コンデンサ２の静電容量ｉＣＯ偏光装
［５の静電容量をＣ□とすればＶ。とｖｌ の比けＣｏ
／ （Ｃｏ＋Ｃ工）である。偏光装置Ｓに印加される電
圧ｖ１の極性のみがＳＷ□２の切換が行われるごとに反
転す石。第２図の）は印加電圧ｖ１の波形図を示す。
１の大きさｖｌの比はＳＷ１□の切換状態Ｋかかわらず
一定である。入力コンデンサ２の静電容量ｉＣＯ偏光装
［５の静電容量をＣ□とすればＶ。とｖｌ の比けＣｏ
／ （Ｃｏ＋Ｃ工）である。偏光装置Ｓに印加される電
圧ｖ１の極性のみがＳＷ□２の切換が行われるごとに反
転す石。第２図の）は印加電圧ｖ１の波形図を示す。
第２図（Ａ）に示す入力回路を使用せる光電圧計におい
ては光変調回路Ｍ（第１図参照）の出力信号■ は振幅
がＶ。に比例する交番矩形波信号である。
ては光変調回路Ｍ（第１図参照）の出力信号■ は振幅
がＶ。に比例する交番矩形波信号である。
ＯＵＴ
したがってこれを整流してＶ。が求められる。もし光変
調回路の出力信号に直流ドリフト成分が混入されていて
もこれを整流するために適当な整流器（例えば位相弁別
器等）１利用すれはドリフト成分は容易に除去すること
ができる。
調回路の出力信号に直流ドリフト成分が混入されていて
もこれを整流するために適当な整流器（例えば位相弁別
器等）１利用すれはドリフト成分は容易に除去すること
ができる。
第３図（４）は本発明の他の実施例の要部す彦わち容量
分正形入力回路ＩＣの構成を示す。図では電圧の光変調
回路部分Ｍは省略されている。本実施例の入力回路ＩＣ
と第１図（４）のそれと構成の相違する点は、入力コン
デンサ２の電極２２と偏光装置Ｓの電極３１との接続点
１０と基準電位点Ｇとの間に一定の周期で開閉動作を繰
り返す開閉スイッチＳＷ３とコンデンサ９との直列回路
が並列に接続されていゐことである。いま、入力コンデ
ンサ′２の容量を量を０２とする。スイッチＳＷ３が０
Ｎ−ＯＦＦを繰返せば第３図ω）に示すよう４波形の電
圧が偏光装置５に印加される。ｓｗ３がＯＦＦの時の印
加電圧ｖ１をＶ□。
分正形入力回路ＩＣの構成を示す。図では電圧の光変調
回路部分Ｍは省略されている。本実施例の入力回路ＩＣ
と第１図（４）のそれと構成の相違する点は、入力コン
デンサ２の電極２２と偏光装置Ｓの電極３１との接続点
１０と基準電位点Ｇとの間に一定の周期で開閉動作を繰
り返す開閉スイッチＳＷ３とコンデンサ９との直列回路
が並列に接続されていゐことである。いま、入力コンデ
ンサ′２の容量を量を０２とする。スイッチＳＷ３が０
Ｎ−ＯＦＦを繰返せば第３図ω）に示すよう４波形の電
圧が偏光装置５に印加される。ｓｗ３がＯＦＦの時の印
加電圧ｖ１をＶ□。
ＯＮのときの印加電圧をｖ２とすれば被測定直流電圧ｖ
ｏとＶ□、ｖ２との間に次式が成立する。
ｏとＶ□、ｖ２との間に次式が成立する。
第５図（４）に示す本発明の実施例におけゐ光変調回路
Ｍ（第１図参照）の出力８１にはスイッチＳＷ３の開閉
に対応してｖｌ、ｖ２に対応する出力信号Ｖ□１゜Ｖ、
ＪＥ得られる。ｓｗ３の開閉と同期的に両信号の差リフ
ト成分は差動演算により相殺されるのでＶ。の測定値か
ら容易に除去することができる。
Ｍ（第１図参照）の出力８１にはスイッチＳＷ３の開閉
に対応してｖｌ、ｖ２に対応する出力信号Ｖ□１゜Ｖ、
ＪＥ得られる。ｓｗ３の開閉と同期的に両信号の差リフ
ト成分は差動演算により相殺されるのでＶ。の測定値か
ら容易に除去することができる。
第４図（４）は本発明の別の実施例の要部の構成を示す
。図においても入力回路部分ＩＣのみを示し光変調回路
部分Ｍは省略して示す。この実施例の入力回路ＩＣと第
１図のそれとの相違点を挙げれば次の如し。
。図においても入力回路部分ＩＣのみを示し光変調回路
部分Ｍは省略して示す。この実施例の入力回路ＩＣと第
１図のそれとの相違点を挙げれば次の如し。
（１）２個の切換スイッチＳＷ４およびｓｗ５および偏
光装置３の容量Ｃ工“と同じ容量ＣＩＩの附加コンデン
サ１１が使用される。（１１）各切換スイッチｓｗ
ｓｗ は接点４’ ５ （７） １とこれと切換接続される２、つの接点ｂ工、ｂ２とを
備え、ｓｗ４の―接点は偏光装置３の電極３１に、ｓｗ
５のａ接点は附加コンデンサ１１の一方の電極１２にそ
れぞれ接続されている。両スイッチのｂ工接点はともに
入力コンデンサ２の電極２２に、ｂ２接点はともＫＧ点
に接続されている。０１１）両スイッチＳＷ４゜ｓｗ５
の切換動作は周期的に繰返され、しかも切換状態は例え
ばｓｗ４の接点ａ−ｂ工が閉成（ＯＮ＞状態のとき、８
Ｗ５のａ−ｂｌは開放（ＯＦＦ）状態、 ｓｗ４のａ
−ｂ、が（ＯＦＦ） ｆ）間ｓｗ５のａ−ｂ□は（ＯＮ
）状態にある。したがって各スイッチの接点准とこれに
対する接点す１．とか（ＯＮ）とカるどとに入力コンデ
ンサ２の一方の電極２２と基準電位点Ｇとの間に偏光装
置３と附加コンデンサ１３とが交互に接続される。また
、ｓｗ４のａ−ｂ２が（ＯＮ〉となるごとに偏光装置５
の電極間は短絡される。その結果、偏光装置５の電極間
の印加電圧ｖ１は第４図Φ）に示すよりなＶ。に対応す
る大きさの断続波であシ、しかも入力回路ＩＣの１−０
間の入力インピーダンスは一定に保たれる利点がある。
光装置３の容量Ｃ工“と同じ容量ＣＩＩの附加コンデン
サ１１が使用される。（１１）各切換スイッチｓｗ
ｓｗ は接点４’ ５ （７） １とこれと切換接続される２、つの接点ｂ工、ｂ２とを
備え、ｓｗ４の―接点は偏光装置３の電極３１に、ｓｗ
５のａ接点は附加コンデンサ１１の一方の電極１２にそ
れぞれ接続されている。両スイッチのｂ工接点はともに
入力コンデンサ２の電極２２に、ｂ２接点はともＫＧ点
に接続されている。０１１）両スイッチＳＷ４゜ｓｗ５
の切換動作は周期的に繰返され、しかも切換状態は例え
ばｓｗ４の接点ａ−ｂ工が閉成（ＯＮ＞状態のとき、８
Ｗ５のａ−ｂｌは開放（ＯＦＦ）状態、 ｓｗ４のａ
−ｂ、が（ＯＦＦ） ｆ）間ｓｗ５のａ−ｂ□は（ＯＮ
）状態にある。したがって各スイッチの接点准とこれに
対する接点す１．とか（ＯＮ）とカるどとに入力コンデ
ンサ２の一方の電極２２と基準電位点Ｇとの間に偏光装
置３と附加コンデンサ１３とが交互に接続される。また
、ｓｗ４のａ−ｂ２が（ＯＮ〉となるごとに偏光装置５
の電極間は短絡される。その結果、偏光装置５の電極間
の印加電圧ｖ１は第４図Φ）に示すよりなＶ。に対応す
る大きさの断続波であシ、しかも入力回路ＩＣの１−０
間の入力インピーダンスは一定に保たれる利点がある。
第５図（４）は本発明の他の実施例の要部の構成を（８
） 示す。図においても光変調回路Ｍ（第１図参照）は省略
して示す。この実施例の入力回路ＩＣと第１図のそれと
の相違点を挙げれば次の如し。（１）入力コンデンサ２
と偏光装置５の電極１３との間に直列コンデンサ１４が
挿入されており１４の電極間に開閉スイッチＳＷ２が接
続されていること、 （ＩＩ）偏光装置３の２電極１０
，０間に開閉スイッチＳＷ１を介してコンデンサ１５が
接続されていること、 （ｉｌｌ）両スイッチｓｗ１．
ｓｗ２は開閉を繰返し、両者の開閉状態の組合せは時
間の経過にしたがって順次４段階に変化することである
。
） 示す。図においても光変調回路Ｍ（第１図参照）は省略
して示す。この実施例の入力回路ＩＣと第１図のそれと
の相違点を挙げれば次の如し。（１）入力コンデンサ２
と偏光装置５の電極１３との間に直列コンデンサ１４が
挿入されており１４の電極間に開閉スイッチＳＷ２が接
続されていること、 （ＩＩ）偏光装置３の２電極１０
，０間に開閉スイッチＳＷ１を介してコンデンサ１５が
接続されていること、 （ｉｌｌ）両スイッチｓｗ１．
ｓｗ２は開閉を繰返し、両者の開閉状態の組合せは時
間の経過にしたがって順次４段階に変化することである
。
第１表は順次の時間帯をＴ１． Ｔ２． Ｔ３． Ｔ４
とし、各時間帯に対応するｓｗｌ、 ｓｗ２の開閉状態
を示す。
とし、各時間帯に対応するｓｗｌ、 ｓｗ２の開閉状態
を示す。
第 １ 表
第５図（４）において・ ＧＶｃ対すゐ被測定対象１の
被測定直流電圧をＶ。、入力コンデンサ２の容量をＣｏ
、コンデンサ１４の容量をＣｏ’、偏光装置５の容量を
Ｃ工、コンデンサ１５の容量を０１′、各時間帯Ｔ□〜
Ｔ４において偏光装置３の電極間に印加される電圧ｖ１
をｖｌ、ｖ２．ｖ３．ｖ４で表せば、 ｖ、、 ｖ２．
ｖ３． ｖ４とＶ。との間に下式の関係が成立する。
被測定直流電圧をＶ。、入力コンデンサ２の容量をＣｏ
、コンデンサ１４の容量をＣｏ’、偏光装置５の容量を
Ｃ工、コンデンサ１５の容量を０１′、各時間帯Ｔ□〜
Ｔ４において偏光装置３の電極間に印加される電圧ｖ１
をｖｌ、ｖ２．ｖ３．ｖ４で表せば、 ｖ、、 ｖ２．
ｖ３． ｖ４とＶ。との間に下式の関係が成立する。
（２） （！５） （４） （５）式から次の式が成立
する。
する。
第５図（Ｂ）はＴ１〜Ｔ４における偏光装置に印加され
る電圧ｖ１の波形を表わす。
る電圧ｖ１の波形を表わす。
各時間帯Ｔ□〜Ｔ４における光変調回路Ｍ（図示せず）
ノ出力信号ｋ ”１’ ＋ ｖ２’ ＋ ｖ３’ ＋
ｖ４’とすればこれらはそれぞれＶ工＋ Ｖ２１ Ｖ
Ｓ２ Ｖ４に比例する。したがって出力信号Ｖ工゛〜ｖ
４°について（６）式右辺と同様の演算を行えば、被測
定電圧Ｖ。の測定値を求めることができる。（６）式か
ら明らかなように、図に示す入力回路を使用せる光電圧
計を利用して求めた被測定電圧Ｖの測定値は入力コンデ
ンサ２および偏光装置３の各容ｔＣｏおよびＣＬ Ｋ無
関係でおる。したがってこの方式によればＣＯおよびＣ
□の容量が未知であっても測定対象物１に直列コンデン
サー４を近づけるだけでＶ。を測定することができる利
点がある。
ノ出力信号ｋ ”１’ ＋ ｖ２’ ＋ ｖ３’ ＋
ｖ４’とすればこれらはそれぞれＶ工＋ Ｖ２１ Ｖ
Ｓ２ Ｖ４に比例する。したがって出力信号Ｖ工゛〜ｖ
４°について（６）式右辺と同様の演算を行えば、被測
定電圧Ｖ。の測定値を求めることができる。（６）式か
ら明らかなように、図に示す入力回路を使用せる光電圧
計を利用して求めた被測定電圧Ｖの測定値は入力コンデ
ンサ２および偏光装置３の各容ｔＣｏおよびＣＬ Ｋ無
関係でおる。したがってこの方式によればＣＯおよびＣ
□の容量が未知であっても測定対象物１に直列コンデン
サー４を近づけるだけでＶ。を測定することができる利
点がある。
【図面の簡単な説明】
第１図は従来の光電圧計の構成説明図を示す。
第２図員は本発明実施例の要部の構成を示す。
第２図ω）この実施例の作用を説明する波形図である。
第５図（４）は本発明の他の実施例の要部の構成を示す
。第３図の）はこの実施例の作用を説明す石波形図であ
る。第４図（４）は本発明の別の実施例の要部の構成を
示す。第４図の）はこの実施例の作用を説明する波形図
である。第５図■は本発明の他の実施例の要部の構成を
示す。第５図０）はこの実施例の作用を説明する波形図
である。 ２・・・入力コンデンサ、３・・・コンデンサ形電圧偏
光装置、！５１．５２・・・電極、３３・・・電気光学
効果素子、ＩＣ・・・容量分正形入力回路、Ｍ・・・光
変調回路。 盾 ｌ 刺 第 ２ 呵 （Ａ） 塔 Ｊ１阿 （Ａ） 悉 ４ 劉 （Ａ） 第 ５１Ｋ （Ａ、ジ （Ｂ）
。第３図の）はこの実施例の作用を説明す石波形図であ
る。第４図（４）は本発明の別の実施例の要部の構成を
示す。第４図の）はこの実施例の作用を説明する波形図
である。第５図■は本発明の他の実施例の要部の構成を
示す。第５図０）はこの実施例の作用を説明する波形図
である。 ２・・・入力コンデンサ、３・・・コンデンサ形電圧偏
光装置、！５１．５２・・・電極、３３・・・電気光学
効果素子、ＩＣ・・・容量分正形入力回路、Ｍ・・・光
変調回路。 盾 ｌ 刺 第 ２ 呵 （Ａ） 塔 Ｊ１阿 （Ａ） 悉 ４ 劉 （Ａ） 第 ５１Ｋ （Ａ、ジ （Ｂ）
Claims (1)
- 一対の電極間に電気光学効果素子が介挿されて成るコン
デンサ形電圧偏光装置を備え、被測定直流電圧に対応す
る電圧を前記一対の電極間に印加する容量分正形入力回
路と電気光学効果素子を透過する光を前記電極間に印加
される電圧によって変調する光変調回路とを具備し、前
記容量分正形入力回路は前記電圧間に印加される電圧の
大きさまたは極性を周期的に変化させる手段を具備する
直流光電圧計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57058660A JPS58174857A (ja) | 1982-04-08 | 1982-04-08 | 直流光電圧計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57058660A JPS58174857A (ja) | 1982-04-08 | 1982-04-08 | 直流光電圧計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58174857A true JPS58174857A (ja) | 1983-10-13 |
Family
ID=13090741
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57058660A Pending JPS58174857A (ja) | 1982-04-08 | 1982-04-08 | 直流光電圧計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58174857A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59116555A (ja) * | 1982-12-24 | 1984-07-05 | Hitachi Ltd | 光方式直流電界測定装置 |
| JPH01181764A (ja) * | 1988-01-14 | 1989-07-19 | Q P Corp | 液状調味料 |
| EP1045426A2 (en) * | 1999-04-15 | 2000-10-18 | ICT Integrated Circuit Testing GmbH | Column for charged particle beam device |
| US9093246B2 (en) | 2009-11-09 | 2015-07-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | SACP method and particle optical system for performing the method |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56145360A (en) * | 1980-04-14 | 1981-11-12 | Takaoka Ind Ltd | Transformer |
-
1982
- 1982-04-08 JP JP57058660A patent/JPS58174857A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56145360A (en) * | 1980-04-14 | 1981-11-12 | Takaoka Ind Ltd | Transformer |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59116555A (ja) * | 1982-12-24 | 1984-07-05 | Hitachi Ltd | 光方式直流電界測定装置 |
| JPH0515988B2 (ja) * | 1982-12-24 | 1993-03-03 | Hitachi Seisakusho Kk | |
| JPH01181764A (ja) * | 1988-01-14 | 1989-07-19 | Q P Corp | 液状調味料 |
| EP1045426A2 (en) * | 1999-04-15 | 2000-10-18 | ICT Integrated Circuit Testing GmbH | Column for charged particle beam device |
| US9093246B2 (en) | 2009-11-09 | 2015-07-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | SACP method and particle optical system for performing the method |
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