JP3402957B2 - ストリップ先端検出装置 - Google Patents
ストリップ先端検出装置Info
- Publication number
- JP3402957B2 JP3402957B2 JP27313596A JP27313596A JP3402957B2 JP 3402957 B2 JP3402957 B2 JP 3402957B2 JP 27313596 A JP27313596 A JP 27313596A JP 27313596 A JP27313596 A JP 27313596A JP 3402957 B2 JP3402957 B2 JP 3402957B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- strip
- mandrel
- tip
- circuit
- detection coil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Winding, Rewinding, Material Storage Devices (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Controlling Rewinding, Feeding, Winding, Or Abnormalities Of Webs (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はストリップ巻取り装
置におけるストリップ先端検出装置に関する。
置におけるストリップ先端検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６は従来のストリップ先端検出装置を
備えたストリップ巻取り装置の構成図、図７は従来のス
トリップ先端検出装置の構成図である。
備えたストリップ巻取り装置の構成図、図７は従来のス
トリップ先端検出装置の構成図である。
【０００３】図６に示すように、上流より搬送されてき
たストリップ（圧延鋼板）１は、ピンチロール２を経た
後、ガイド３，４に案内されてストリップ１を巻き取る
マンドレル１１に導かれる。マンドレル１１は、巻き取
ったストリップ１をマンドレル１１から抜き取るために
拡縮できるようセグメント構造になっており、この拡縮
のために溝１１ａ，１１ｃ，１１ｄを有している。
たストリップ（圧延鋼板）１は、ピンチロール２を経た
後、ガイド３，４に案内されてストリップ１を巻き取る
マンドレル１１に導かれる。マンドレル１１は、巻き取
ったストリップ１をマンドレル１１から抜き取るために
拡縮できるようセグメント構造になっており、この拡縮
のために溝１１ａ，１１ｃ，１１ｄを有している。
【０００４】また、マンドレル１１を囲むように、一端
側が支持されて開閉自在な３つのユニットフレーム８，
９，１０と、これらのユニットフレーム８，９，１０に
装着されてストリップ１の押さえとなるユニットロール
５，６，７とが設けられており、これらのユニットロー
ル５，６，７がストリップ１の動きに追従して回転し、
ストリップ１の表面に傷がつかないようにしてある。
側が支持されて開閉自在な３つのユニットフレーム８，
９，１０と、これらのユニットフレーム８，９，１０に
装着されてストリップ１の押さえとなるユニットロール
５，６，７とが設けられており、これらのユニットロー
ル５，６，７がストリップ１の動きに追従して回転し、
ストリップ１の表面に傷がつかないようにしてある。
【０００５】そして、ユニットフレーム８には検出コイ
ル３０が取り付けられおり、この検出コイル３０と、図
７に示す高周波発振器３１及びフィルター３２とによっ
て渦電流変位センサーが構成されており、この渦電流変
位センサーによって、マンドレル１１までの距離、及び
ストリップ１が通過するときのストリップ１までの距離
を直接計測している。
ル３０が取り付けられおり、この検出コイル３０と、図
７に示す高周波発振器３１及びフィルター３２とによっ
て渦電流変位センサーが構成されており、この渦電流変
位センサーによって、マンドレル１１までの距離、及び
ストリップ１が通過するときのストリップ１までの距離
を直接計測している。
【０００６】即ち、ストリップ１の先端が検出コイル３
０部を通過するときに前記距離の計測値がストリッ プ
１の厚さ分だけ減少するため、このとによってストリッ
プ１の先端が通過したことを検出する。そして、このと
きのマンドレル１１の回転角をロータリエンコーダ１３
によって検出し、この回転角により、マンドレル１１に
巻き取られたストリップ１の先端部が回転して各ユニッ
トロール５，６，７を通過する手前で各ユニットロール
５，６，７をストリップ１の厚さに見合ったギャップ分
だけ開くことによって、ストリップ１と各ユニットロー
ル５，６，７との衝突を防止している。
０部を通過するときに前記距離の計測値がストリッ プ
１の厚さ分だけ減少するため、このとによってストリッ
プ１の先端が通過したことを検出する。そして、このと
きのマンドレル１１の回転角をロータリエンコーダ１３
によって検出し、この回転角により、マンドレル１１に
巻き取られたストリップ１の先端部が回転して各ユニッ
トロール５，６，７を通過する手前で各ユニットロール
５，６，７をストリップ１の厚さに見合ったギャップ分
だけ開くことによって、ストリップ１と各ユニットロー
ル５，６，７との衝突を防止している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のストリップ
先端検出装置（渦電流変位センサー）では、マンドレル
１１或いはストリップ１までの距離（ギャップ）を、渦
電流変位センサーの出力の大きさと前記距離との関係を
求め、渦電流変位センサーの出力から直接算出するが、
この場合、図８に示す渦電流変位センサーの特性から明
らかなとおり、渦電流変位センサーの出力と計測距離
（ギャップ）との関係がリニアーな範囲が計測可能範囲
となり、この範囲を外れるとギャップの変化に対する出
力の変化が小さくなる。
先端検出装置（渦電流変位センサー）では、マンドレル
１１或いはストリップ１までの距離（ギャップ）を、渦
電流変位センサーの出力の大きさと前記距離との関係を
求め、渦電流変位センサーの出力から直接算出するが、
この場合、図８に示す渦電流変位センサーの特性から明
らかなとおり、渦電流変位センサーの出力と計測距離
（ギャップ）との関係がリニアーな範囲が計測可能範囲
となり、この範囲を外れるとギャップの変化に対する出
力の変化が小さくなる。
【０００８】ところが、渦電流変位センサーの検出コイ
ル３０がストリップ１と接触して損傷するのを防止する
ため、この検出コイル３０をマンドレル１１からストリ
ップ１の厚さの数倍の距離だけ離して設置する必要があ
る。このため、ストリップ１が厚板の場合には、検出コ
イル３０とマンドレル１１とのギャップが大きくなって
上記の計測可能範囲を外れ、その結果、ストリップ１の
先端の検出が困難になる。また、ストリップ１が薄板の
場合には、検出コイル３０がマンドレル１１に接近する
ため、信号が飽和したり、また微分回路で直流分をカッ
トしてもマンドレル１１の拡縮部の溝１１ａ，１１ｂ，
１１ｃを検出してストリップ１の先端の検出が困難にな
る。
ル３０がストリップ１と接触して損傷するのを防止する
ため、この検出コイル３０をマンドレル１１からストリ
ップ１の厚さの数倍の距離だけ離して設置する必要があ
る。このため、ストリップ１が厚板の場合には、検出コ
イル３０とマンドレル１１とのギャップが大きくなって
上記の計測可能範囲を外れ、その結果、ストリップ１の
先端の検出が困難になる。また、ストリップ１が薄板の
場合には、検出コイル３０がマンドレル１１に接近する
ため、信号が飽和したり、また微分回路で直流分をカッ
トしてもマンドレル１１の拡縮部の溝１１ａ，１１ｂ，
１１ｃを検出してストリップ１の先端の検出が困難にな
る。
【０００９】従って本発明は上記従来技術に鑑み、スト
リップの厚さに関わらず安定して確実にストリップの先
端を検出することができるストリップ先端検出装置を提
供することを課題とする。
リップの厚さに関わらず安定して確実にストリップの先
端を検出することができるストリップ先端検出装置を提
供することを課題とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する第１
の発明のストリップ先端検出装置は、マンドレルに近接
して設けた検出コイルに交流電流を流し、前記マンドレ
ルに巻き取られるストリップの先端が前記検出コイル部
を通過したときの変化を感知して前記ストリップの先端
を検出するストリップ先端検出装置であって、前記検出
コイルを有してなるブリッジ回路と、このブリッジ回路
の出力が前記検出コイルの低周期インピーダンス変化に
よって緩やかに変化したときには同出力をキャンセルす
る一方、前記ブリッジ回路の出力が前記ストリップの先
端が前記検出コイル部を通過したときの急激な前記検出
コイルのインピーダンス変化によって急激に変化したと
きには同出力をキャンセルしない低応答のバランス回路
を有してなる制御回路と、この制御回路と前記ブリッジ
回路とに交流電流を供給する２相発振器とを備えたこと
を特徴とする。
の発明のストリップ先端検出装置は、マンドレルに近接
して設けた検出コイルに交流電流を流し、前記マンドレ
ルに巻き取られるストリップの先端が前記検出コイル部
を通過したときの変化を感知して前記ストリップの先端
を検出するストリップ先端検出装置であって、前記検出
コイルを有してなるブリッジ回路と、このブリッジ回路
の出力が前記検出コイルの低周期インピーダンス変化に
よって緩やかに変化したときには同出力をキャンセルす
る一方、前記ブリッジ回路の出力が前記ストリップの先
端が前記検出コイル部を通過したときの急激な前記検出
コイルのインピーダンス変化によって急激に変化したと
きには同出力をキャンセルしない低応答のバランス回路
を有してなる制御回路と、この制御回路と前記ブリッジ
回路とに交流電流を供給する２相発振器とを備えたこと
を特徴とする。
【００１１】また、第２の発明のストリップ先端検出装
置は、上記第１の発明のストリップ先端検出装置におい
て、前記ブリッジ回路の出力を増幅する可変ゲインアン
プと、この可変ゲインアンプのゲインを変えるゲイン切
り替え回路と、前記マンドレルと同マンドレルに前記ス
トリップを押しつけるロールとのギャップを計測するギ
ャップ検出器とを備え、このギャップ検出器による前記
ギャップの計測値が所定の基準値を下回った場合には前
記ゲイン切り替え回路によって前記可変ゲインアンプの
ゲインを下げるよう構成したことを特徴とする。
置は、上記第１の発明のストリップ先端検出装置におい
て、前記ブリッジ回路の出力を増幅する可変ゲインアン
プと、この可変ゲインアンプのゲインを変えるゲイン切
り替え回路と、前記マンドレルと同マンドレルに前記ス
トリップを押しつけるロールとのギャップを計測するギ
ャップ検出器とを備え、このギャップ検出器による前記
ギャップの計測値が所定の基準値を下回った場合には前
記ゲイン切り替え回路によって前記可変ゲインアンプの
ゲインを下げるよう構成したことを特徴とする。
【００１２】また、第３の発明のストリップ先端検出装
置は、上記第１の発明のストリップ先端検出装置におい
て、マンドレルの溝信号を一定にするＡＧＣ回路を設け
たことを特徴とする。
置は、上記第１の発明のストリップ先端検出装置におい
て、マンドレルの溝信号を一定にするＡＧＣ回路を設け
たことを特徴とする。
【００１３】従って、上記第１の発明のストリップ先端
検出装置によれば、ブリッジ回路の緩やかな出力の変化
を通常は低応答の制御回路で常にキャンセルするため、
マンドレルと検出コイルとの間の機械的誤差によるギャ
ップ変化や温度ドリフトなどによる検出コイルの低周期
インピーダンス変化によってブリッジ回路の出力が緩や
かに変化しても、同出力がキャンセルされ、制御回路の
信号レベルがほぼ零レベルになるよう制御される。この
ため、増幅器のゲインを上昇させても飽和することがな
くなり、ストリップの板厚が厚いために検出コイルとマ
ンドレルとのギャップが大きい場合でも、飽和を気にせ
ずに、ストリップの先端を感知したときの出力信号変化
に見合ったゲイン調整により、ストリップの先端が安定
して確実に検出される。
検出装置によれば、ブリッジ回路の緩やかな出力の変化
を通常は低応答の制御回路で常にキャンセルするため、
マンドレルと検出コイルとの間の機械的誤差によるギャ
ップ変化や温度ドリフトなどによる検出コイルの低周期
インピーダンス変化によってブリッジ回路の出力が緩や
かに変化しても、同出力がキャンセルされ、制御回路の
信号レベルがほぼ零レベルになるよう制御される。この
ため、増幅器のゲインを上昇させても飽和することがな
くなり、ストリップの板厚が厚いために検出コイルとマ
ンドレルとのギャップが大きい場合でも、飽和を気にせ
ずに、ストリップの先端を感知したときの出力信号変化
に見合ったゲイン調整により、ストリップの先端が安定
して確実に検出される。
【００１４】また、上記第２の発明のストリップ先端検
出装置によれば、薄板の操業時でもマンドレル拡縮用の
溝を拾って出力するセグメントマークの検出による誤動
作が防止される。即ち、ストリップの板厚が薄い場合に
はギャップ検出器によってマンドレルとロールとのギャ
ップが計測され、この計測値が基準値を下回ると、ゲイ
ン切り替え回路にゲイン切り替えの指示が行われ、この
ゲイン切り替え回路によって可変ゲインアンプのゲイン
が下げられる。その結果、検出コイルが拾うマンドレル
の溝信号が抑えられ、ストリップ先端の信号のみが検出
される。
出装置によれば、薄板の操業時でもマンドレル拡縮用の
溝を拾って出力するセグメントマークの検出による誤動
作が防止される。即ち、ストリップの板厚が薄い場合に
はギャップ検出器によってマンドレルとロールとのギャ
ップが計測され、この計測値が基準値を下回ると、ゲイ
ン切り替え回路にゲイン切り替えの指示が行われ、この
ゲイン切り替え回路によって可変ゲインアンプのゲイン
が下げられる。その結果、検出コイルが拾うマンドレル
の溝信号が抑えられ、ストリップ先端の信号のみが検出
される。
【００１５】また、上記第３の発明のストリップ先端検
出装置によれば、ＡＧＣ（Automatic Gain Cntrol ：自
動ゲイン制御）回路により、検出コイルが拾うマンドレ
ルの溝信号が一定となって信号の安定化が図られ、その
結果、ストリップ先端が確実に検出される。
出装置によれば、ＡＧＣ（Automatic Gain Cntrol ：自
動ゲイン制御）回路により、検出コイルが拾うマンドレ
ルの溝信号が一定となって信号の安定化が図られ、その
結果、ストリップ先端が確実に検出される。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき詳細に説明する。なお、従来と同様の部分には
同一の符号を付し、重複する詳細な説明は省略する。
に基づき詳細に説明する。なお、従来と同様の部分には
同一の符号を付し、重複する詳細な説明は省略する。
【００１７】＜実施の形態１＞図１は本発明の実施の形
態１に係るストリップ先端検出装置を備えたストリップ
巻取り装置の構成図、図２は本発明の実施の形態１に係
るストリップ先端検出装置の構成図である。
態１に係るストリップ先端検出装置を備えたストリップ
巻取り装置の構成図、図２は本発明の実施の形態１に係
るストリップ先端検出装置の構成図である。
【００１８】図１に示すように、ストリップ巻取り装置
のユニットフレーム８には、その先端部に検出コイル１
２ａが設置され、またユニットフレーム８に装着されて
いるユニットロール５とマンドレル１１とのギャップを
測定するためのギャップ検出器（ギャップ計測用変位
計）１４が取り付けられている。
のユニットフレーム８には、その先端部に検出コイル１
２ａが設置され、またユニットフレーム８に装着されて
いるユニットロール５とマンドレル１１とのギャップを
測定するためのギャップ検出器（ギャップ計測用変位
計）１４が取り付けられている。
【００１９】図２に示すように、検出コイル１２ａと、
この検出コイル１２ａと同じコイルであるダミーコイル
１２ｂと、２個の抵抗１２ｃ，１２ｄとによってブリッ
ジ回路１２が構成されている。ダミーコイル１２ａはス
トリップ１やマンドレル１１の状態に影響されない信号
処理回路内に設置されている。そして、このブリッジ回
路１２には２相発振器１５の０°成分の交流電流がパワ
ーアンプ１６を経由して供給されている。また、２相発
振器１５の０°成分はバランス調整器２３と位相検波器
２０にも供給されており、９０°成分はバランス調整器
２４に供給されている。
この検出コイル１２ａと同じコイルであるダミーコイル
１２ｂと、２個の抵抗１２ｃ，１２ｄとによってブリッ
ジ回路１２が構成されている。ダミーコイル１２ａはス
トリップ１やマンドレル１１の状態に影響されない信号
処理回路内に設置されている。そして、このブリッジ回
路１２には２相発振器１５の０°成分の交流電流がパワ
ーアンプ１６を経由して供給されている。また、２相発
振器１５の０°成分はバランス調整器２３と位相検波器
２０にも供給されており、９０°成分はバランス調整器
２４に供給されている。
【００２０】ブリッジ回路１２の出力は、可変ゲインア
ンプ１７に導かれ、加算器１８、バンドパスフィルター
（ＢＰＦ）１９を経て位相検波器２０で整流される。そ
して、この位相検波器２０から出力されたブリッジ回路
１２の同相成分（０°）はバランス回路２８のＰＩ調節
計２１を経てバランス調整器２３に入力され 、加算器
１８の出力が最小になるように調整される。また、ＢＰ
Ｆ１９の出力信号の９０°成分は、位相検波器２０、バ
ランス回路２８のＰＩ調節計２２及びバランス調整器２
４を経て、加算器１８で加算される。
ンプ１７に導かれ、加算器１８、バンドパスフィルター
（ＢＰＦ）１９を経て位相検波器２０で整流される。そ
して、この位相検波器２０から出力されたブリッジ回路
１２の同相成分（０°）はバランス回路２８のＰＩ調節
計２１を経てバランス調整器２３に入力され 、加算器
１８の出力が最小になるように調整される。また、ＢＰ
Ｆ１９の出力信号の９０°成分は、位相検波器２０、バ
ランス回路２８のＰＩ調節計２２及びバランス調整器２
４を経て、加算器１８で加算される。
【００２１】ここで、加算器１８で加算される可変ゲイ
ンアンプ１７の出力を（Ａ）、バランス調整器２３の出
力を（Ｂ）、バランス調整器２４の出力を（Ｃ）とし、
加算器１８の出力を（Ｄ）とすると、結果的に（Ｄ）
は、 （Ｄ）＝（Ａ）＋（Ｂ）＋（Ｃ）≒０ となる。
ンアンプ１７の出力を（Ａ）、バランス調整器２３の出
力を（Ｂ）、バランス調整器２４の出力を（Ｃ）とし、
加算器１８の出力を（Ｄ）とすると、結果的に（Ｄ）
は、 （Ｄ）＝（Ａ）＋（Ｂ）＋（Ｃ）≒０ となる。
【００２２】しかも、バランス回路２８のＰＩ調節計２
１，２２は、時定数を大きくして低応答にしている。
１，２２は、時定数を大きくして低応答にしている。
【００２３】また、前述の可変ゲインアンプ１７にはゲ
イン切り替え回路２７が接続され、このゲイン切り替え
回路２７には前述のギャップ検出器１４が接続されてい
る。ギャップ検出器１４では前述の如くユニットフレー
ム８に装着されているユニットロール５とマンドレル１
１とのギャップを測定する。そして、この測定値と、検
出コイル１２ａ及び被計測物の物性などから予め定めら
れた基準値とを比較し、前記測定値が前記基準値を下回
ったときには、ゲイン切り替え回路２７にゲイン切り替
えの指示が行われ、ゲイン切り替え回路２７では可変ゲ
インアンプ１７のゲインを下げる。また、逆にストリッ
プ１の板厚が厚くなって、ユニットロール５とマンドレ
ル１１とのギャップが前記基準値以上に広がると（即ち
前記測定値が前記基準値以上になると）、ゲイン切り替
え回路２７にゲイン切り替えの指示が行われ、ゲイン切
り替え回路２７では可変ゲインアンプ１７のゲインを上
げる。
イン切り替え回路２７が接続され、このゲイン切り替え
回路２７には前述のギャップ検出器１４が接続されてい
る。ギャップ検出器１４では前述の如くユニットフレー
ム８に装着されているユニットロール５とマンドレル１
１とのギャップを測定する。そして、この測定値と、検
出コイル１２ａ及び被計測物の物性などから予め定めら
れた基準値とを比較し、前記測定値が前記基準値を下回
ったときには、ゲイン切り替え回路２７にゲイン切り替
えの指示が行われ、ゲイン切り替え回路２７では可変ゲ
インアンプ１７のゲインを下げる。また、逆にストリッ
プ１の板厚が厚くなって、ユニットロール５とマンドレ
ル１１とのギャップが前記基準値以上に広がると（即ち
前記測定値が前記基準値以上になると）、ゲイン切り替
え回路２７にゲイン切り替えの指示が行われ、ゲイン切
り替え回路２７では可変ゲインアンプ１７のゲインを上
げる。
【００２４】なお、図２中の２５，２６は位相検波器２
０から信号１、信号２を取り出す信号取り出し用アンプ
である。
０から信号１、信号２を取り出す信号取り出し用アンプ
である。
【００２５】従って、上記構成のストリップ先端検出装
置によれば、検出コイル１２ａとマンドレル１１との間
の機械的誤差によるギャップ変化や温度ドリフト等の緩
やかな変化に対しては、検出コイル１２ａのインピーダ
ンス変化も緩やか（低周期インピーダンス変化）である
ため、ＰＩ調節計２１，２２、バランス調整器２３，２
４が十分に追従し、検出コイル１２ａとダミーコイル１
２ｂとのインピーダンスの差を調整して、加算器１８の
出力はほぼ零になる。
置によれば、検出コイル１２ａとマンドレル１１との間
の機械的誤差によるギャップ変化や温度ドリフト等の緩
やかな変化に対しては、検出コイル１２ａのインピーダ
ンス変化も緩やか（低周期インピーダンス変化）である
ため、ＰＩ調節計２１，２２、バランス調整器２３，２
４が十分に追従し、検出コイル１２ａとダミーコイル１
２ｂとのインピーダンスの差を調整して、加算器１８の
出力はほぼ零になる。
【００２６】これに対し、ストリップ１の先端が検出コ
イル１２ａ部を通過して急激なギャップ変化が発生した
場合には、このときの検出コイル１２ａの急激に変化し
たインピーダンスとダミーコイル１２ｂのインピーダン
スとの差で発生したブリッジ回路１２の急激な出力変化
に対して、上記の如くＰＩ調節計２１，２２の時定数を
大きくしＰＩ調節計２１，２２の応答を鈍くして追従で
きないようにしたことにより、アンバランス電圧が発生
する。
イル１２ａ部を通過して急激なギャップ変化が発生した
場合には、このときの検出コイル１２ａの急激に変化し
たインピーダンスとダミーコイル１２ｂのインピーダン
スとの差で発生したブリッジ回路１２の急激な出力変化
に対して、上記の如くＰＩ調節計２１，２２の時定数を
大きくしＰＩ調節計２１，２２の応答を鈍くして追従で
きないようにしたことにより、アンバランス電圧が発生
する。
【００２７】そこで、これを信号取り出し用アンプ２
５，２６で増幅してストリップ先端信号として取り出
す。なお、信号取り出し用アンプ２５，２６によって取
り出した信号１と信号２はストリップ先端信号として若
干異なったものとなるが、Ｓ／Ｎ比のよいほうを選択し
ストリップ先端信号として利用する。
５，２６で増幅してストリップ先端信号として取り出
す。なお、信号取り出し用アンプ２５，２６によって取
り出した信号１と信号２はストリップ先端信号として若
干異なったものとなるが、Ｓ／Ｎ比のよいほうを選択し
ストリップ先端信号として利用する。
【００２８】一方、ストリップ１の板厚が薄くなって検
出コイル１２ａがマンドレル１１に接近すると、マンド
レル１１の溝１１ａ，１１ｂ，１１ｃの信号が大きくな
り誤検出の虞がでてくるが、このときギャップ検出器１
４によるユニットロール５とマンドレル１１とのギャッ
プの測定値が所定の基準値以下になると、ゲイン切り替
え回路２７によって可変ゲインアンプ１７のゲインが下
げられる。その結果、マンドレル１１の溝１１ａ，１１
ｂ，１１ｃの信号が抑えられて誤検出が防止され、確実
にストリップ１の先端が検出される。
出コイル１２ａがマンドレル１１に接近すると、マンド
レル１１の溝１１ａ，１１ｂ，１１ｃの信号が大きくな
り誤検出の虞がでてくるが、このときギャップ検出器１
４によるユニットロール５とマンドレル１１とのギャッ
プの測定値が所定の基準値以下になると、ゲイン切り替
え回路２７によって可変ゲインアンプ１７のゲインが下
げられる。その結果、マンドレル１１の溝１１ａ，１１
ｂ，１１ｃの信号が抑えられて誤検出が防止され、確実
にストリップ１の先端が検出される。
【００２９】図３は本実施の形態１に係るストリップ先
端検出装置の動作波形（出力結果）を示す説明図であ
り、（ａ）には厚板のストリップの先端を検出した場合
の例を示し、（ｂ）には薄板のストリップの先端を検出
した場合の例を示す。
端検出装置の動作波形（出力結果）を示す説明図であ
り、（ａ）には厚板のストリップの先端を検出した場合
の例を示し、（ｂ）には薄板のストリップの先端を検出
した場合の例を示す。
【００３０】図３（ａ）に示すように、ストリップ１が
厚板の場合には、検出コイル１２ａとマンドレル１１と
が離れるため、可変ゲインアンプ１７のゲインを高くし
てもマンドレル１１の溝１１ａ，１１ｂ，１１ｃの影響
はほんどない。また、ストリップ１が薄板の場合には、
可変ゲインアンプ１７のゲインを下げるため、溝１１
ａ，１１ｂ，１１ｃの信号も若干生じてはいるが、この
溝信号とストリップ先端信号とを比較すると十分なＳ／
Ｎ比が得られている。
厚板の場合には、検出コイル１２ａとマンドレル１１と
が離れるため、可変ゲインアンプ１７のゲインを高くし
てもマンドレル１１の溝１１ａ，１１ｂ，１１ｃの影響
はほんどない。また、ストリップ１が薄板の場合には、
可変ゲインアンプ１７のゲインを下げるため、溝１１
ａ，１１ｂ，１１ｃの信号も若干生じてはいるが、この
溝信号とストリップ先端信号とを比較すると十分なＳ／
Ｎ比が得られている。
【００３１】＜実施の形態２＞図４は本発明の実施の形
態２に係るストリップ先端検出装置を備えたストリップ
巻取り装置の構成図、図５は本発明の実施の形態２に係
るストリップ先端検出装置の構成図である。
態２に係るストリップ先端検出装置を備えたストリップ
巻取り装置の構成図、図５は本発明の実施の形態２に係
るストリップ先端検出装置の構成図である。
【００３２】図４及び図５に示すように、本実施の形態
２に係るストリップ先端検出装置は、上記実施の形態１
に係るストリップ先端検出装置における可変ゲインアン
プ１７に代えてＡＧＣ（Automatic Gain Cntrol ：自動
ゲイン制御）回路２９を備え、このＡＧＣ回路２９の時
定数を数秒にして、マンドレル１１の溝１１ａ，１１
ｂ，１１ｃの信号を評価できるようにし、自動的にゲイ
ンを調整するようにしたものであり、このＡＧＣ回路２
９の採用により、ギャップ検出器１４とゲイン切替え回
路２７とを省略することができる。なお、その他の構成
は上記実施の形態１に係るストリップ先端検出装置と同
様である。
２に係るストリップ先端検出装置は、上記実施の形態１
に係るストリップ先端検出装置における可変ゲインアン
プ１７に代えてＡＧＣ（Automatic Gain Cntrol ：自動
ゲイン制御）回路２９を備え、このＡＧＣ回路２９の時
定数を数秒にして、マンドレル１１の溝１１ａ，１１
ｂ，１１ｃの信号を評価できるようにし、自動的にゲイ
ンを調整するようにしたものであり、このＡＧＣ回路２
９の採用により、ギャップ検出器１４とゲイン切替え回
路２７とを省略することができる。なお、その他の構成
は上記実施の形態１に係るストリップ先端検出装置と同
様である。
【００３３】従って、上記構成のストリップ先端検出装
置にれば、基本的な動作は上記実施の形態１に係るスト
リップ先端検出装置と同様であるが、ＡＧＣ回路２９に
より、検出コイル１２ａが拾うマンドレル１１の溝１１
ａ，１１ｂ，１１ｃの信号が一定となって信号の安定化
が図られ、その結果、ストリップ１の先端を確実に検出
することができる。
置にれば、基本的な動作は上記実施の形態１に係るスト
リップ先端検出装置と同様であるが、ＡＧＣ回路２９に
より、検出コイル１２ａが拾うマンドレル１１の溝１１
ａ，１１ｂ，１１ｃの信号が一定となって信号の安定化
が図られ、その結果、ストリップ１の先端を確実に検出
することができる。
【００３４】
【発明の効果】以上、発明の実施の形態と共に具体的に
説明したように、第１の発明のストリップ先端検出装置
によれば、検出コイルの緩やかなインピーダンス変化に
よって緩やかに変化するブリッジ回路の出力は自動バラ
ンス回路で抑えるため、増幅器のゲインを上げることが
でき、従って、ストリップが厚板であるためにロールと
マンドレルとのギャップが広がっても、十分な検出感度
が得られストリップの先端を安定して確実に検出するこ
とができる。
説明したように、第１の発明のストリップ先端検出装置
によれば、検出コイルの緩やかなインピーダンス変化に
よって緩やかに変化するブリッジ回路の出力は自動バラ
ンス回路で抑えるため、増幅器のゲインを上げることが
でき、従って、ストリップが厚板であるためにロールと
マンドレルとのギャップが広がっても、十分な検出感度
が得られストリップの先端を安定して確実に検出するこ
とができる。
【００３５】また、第２の発明のストリップ先端検出装
置によれば、ストリップが薄板であるためにロールとマ
ンドレルとのギャップが狭くなっても、このギャップが
基準値を下回ると可変ゲインアンプのゲインが下げられ
るため、マンドレルの溝信号を抑えてストリップの先端
を安定して確実に検出することができる。
置によれば、ストリップが薄板であるためにロールとマ
ンドレルとのギャップが狭くなっても、このギャップが
基準値を下回ると可変ゲインアンプのゲインが下げられ
るため、マンドレルの溝信号を抑えてストリップの先端
を安定して確実に検出することができる。
【００３６】また、第３の発明のストリップ先端検出装
置によれば、ＡＧＣ回路により、マンドレルの溝信号が
一定となって信号の安定化が図られ、その結果、ストリ
ップの先端を確実に検出することができる。
置によれば、ＡＧＣ回路により、マンドレルの溝信号が
一定となって信号の安定化が図られ、その結果、ストリ
ップの先端を確実に検出することができる。
【図１】本発明の実施の形態１に係るストリップ先端検
出装置を備えたストリップ巻取り装置の構成図である。
出装置を備えたストリップ巻取り装置の構成図である。
【図２】本発明の実施の形態１に係るストリップ先端検
出装置の構成図である。
出装置の構成図である。
【図３】本発明の実施の形態１に係るストリップ先端検
出装置の動作波形（出力結果）を示す説明図である。
出装置の動作波形（出力結果）を示す説明図である。
【図４】本発明の実施の形態２に係るストリップ先端検
出装置を備えたストリップ巻取り装置の構成図である。
出装置を備えたストリップ巻取り装置の構成図である。
【図５】本発明の実施の形態２に係るストリップ先端検
出装置の構成図である。
出装置の構成図である。
【図６】従来のストリップ先端検出装置を備えたストリ
ップ巻取り装置の構成図である。
ップ巻取り装置の構成図である。
【図７】従来のストリップ先端検出装置の構成図であ
る。
る。
【図８】従来の渦電流変位センサーの出力と計測距離の
関係を示す説明図である。
関係を示す説明図である。
１ ストリップ
５，６，７ ユニットローラ
８，９，１０ ユニットフレーム
１１ マンドレル
１２ ブリッジ回路
１２ａ 検出コイル
１２ｂ ダミーコイル
１２ｃ，１２ｄ 抵抗
１４ ギャップ検出器
１５ ２相発振器
１６ パワーアンプ
１７ 可変ゲインアンプ
１８ 加算器
１９ ＢＰＦ
２０ 位相検波器
２１，２２ ＰＩ調節計
２３，２４ バランス調整器
２７ ゲイン切替え回路
２８ バランス回路
３０ ＡＧＣ回路
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 寺本 洋二
広島県広島市西区観音新町四丁目６番22
号 三菱重工業株式会社 広島製作所内
(72)発明者 黒肥地 強
広島県広島市西区観音新町四丁目６番22
号 三菱重工業株式会社 広島製作所内
(56)参考文献 特開 昭59−180405（ＪＰ，Ａ)
特開 昭58−122407（ＪＰ，Ａ)
特開 昭56−60302（ＪＰ，Ａ)
特開 昭54−50357（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01B 7/00 - 7/34
B21C 45/00 - 49/00
B65H 23/18 - 23/198
Claims (3)
- 【請求項１】 マンドレルに近接して設けた検出コイル
に交流電流を流し、前記マンドレルに巻き取られるスト
リップの先端が前記検出コイル部を通過したときの変化
を感知して前記ストリップの先端を検出するストリップ
先端検出装置であって、 前記検出コイルを有してなるブリッジ回路と、 このブリッジ回路の出力が前記検出コイルの低周期イン
ピーダンス変化によって緩やかに変化したときには同出
力をキャンセルする一方、前記ブリッジ回路の出力が前
記ストリップの先端が前記検出コイル部を通過したとき
の急激な前記検出コイルのインピーダンス変化によって
急激に変化したときには同出力をキャンセルしない低応
答のバランス回路を有してなる制御回路と、 この制御回路と前記ブリッジ回路とに交流電流を供給す
る２相発振器とを備えたことを特徴とするストリップ先
端検出装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載するストリップ先端検出
装置において、 前記ブリッジ回路の出力を増幅する可変ゲインアンプ
と、この可変ゲインアンプのゲインを変えるゲイン切り
替え回路と、前記マンドレルと同マンドレルに前記スト
リップを押しつけるロールとのギャップを計測するギャ
ップ検出器とを備え、このギャップ検出器による前記ギ
ャップの計測値が所定の基準値を下回った場合には前記
ゲイン切り替え回路によって前記可変ゲインアンプのゲ
インを下げるよう構成したことを特徴とするストリップ
先端検出装置。 - 【請求項３】 請求項１に記載するストリップ先端検出
装置において、 マンドレルの溝信号を一定にするＡＧＣ回路を設けたこ
とを特徴とするストリップ先端検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27313596A JP3402957B2 (ja) | 1996-10-16 | 1996-10-16 | ストリップ先端検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27313596A JP3402957B2 (ja) | 1996-10-16 | 1996-10-16 | ストリップ先端検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10122804A JPH10122804A (ja) | 1998-05-15 |
| JP3402957B2 true JP3402957B2 (ja) | 2003-05-06 |
Family
ID=17523616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27313596A Expired - Fee Related JP3402957B2 (ja) | 1996-10-16 | 1996-10-16 | ストリップ先端検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3402957B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100916038B1 (ko) | 2002-12-24 | 2009-09-08 | 주식회사 포스코 | 스트립 선단부 검출 제어장치 |
-
1996
- 1996-10-16 JP JP27313596A patent/JP3402957B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10122804A (ja) | 1998-05-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101537422B1 (ko) | 측정 롤러 및 밴드의 편평도 에러 또는 밴드 장력을 검출하는 방법 | |
| JP3402957B2 (ja) | ストリップ先端検出装置 | |
| JP6766970B1 (ja) | 板厚制御装置および板厚制御方法 | |
| US20110024546A1 (en) | Web meandering correction system and web meandering correction method | |
| JP3819029B2 (ja) | 金属材料性物体の物理的パラメータの誘導測定方法および装置およびその方法および装置の使用 | |
| JP4006816B2 (ja) | 渦流探傷装置 | |
| JPH04140253A (ja) | 紙葉類の厚み異常検知装置 | |
| JP3697578B2 (ja) | 帯状材の割れ検出方法及び装置 | |
| JP3404728B2 (ja) | ダウンコイラのトラッキング調整方法と装置 | |
| JP2797872B2 (ja) | タンデムミルの板厚制御方法 | |
| JP3961118B2 (ja) | 継ぎ目検出装置 | |
| JP2001317932A (ja) | 圧延材の形状検出方法及びその装置 | |
| JP2001221630A (ja) | 帯状材性状の非接触センシング方法及び装置 | |
| JP2915158B2 (ja) | 検出装置の故障判別装置 | |
| JP4465857B2 (ja) | コイルエンドの形状判定方法 | |
| JP3506079B2 (ja) | ロール偏芯量検出方法及び板厚制御方法 | |
| KR920007417Y1 (ko) | 잔류자계측정방식의 비접촉형 경도계의 오차보정회로 | |
| JPH01210812A (ja) | 帯板形状検出装置 | |
| KR19980043357A (ko) | 열연 판속도 측정장치 | |
| JPH05278901A (ja) | 紙葉類の重送検知装置 | |
| JPH0347625A (ja) | ストリップの溶接部検出装置 | |
| KR100426859B1 (ko) | 다중코일형 철편검출기에서의 신호증폭도 자동설정방법 및유효신호 판별방법 | |
| JPH08211024A (ja) | 鋼帯の欠陥検出装置 | |
| KR20020051075A (ko) | 롤 갭 보상을 통한 열간 사상압연 폭제어장치 및 그 방법 | |
| JPH0527053U (ja) | 鋼帯のカテナリ制御装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20030128 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080229 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090228 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100228 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100228 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110228 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110228 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120229 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120229 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130228 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140228 Year of fee payment: 11 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |