JP3391800B2 - 光伝送システム中のひずみ測定方法および装置 - Google Patents
光伝送システム中のひずみ測定方法および装置Info
- Publication number
- JP3391800B2 JP3391800B2 JP54129997A JP54129997A JP3391800B2 JP 3391800 B2 JP3391800 B2 JP 3391800B2 JP 54129997 A JP54129997 A JP 54129997A JP 54129997 A JP54129997 A JP 54129997A JP 3391800 B2 JP3391800 B2 JP 3391800B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- strain
- optical
- measuring
- transmitter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Description
するもので、特にひずみの測定用アイマスク方法および
装置に関するものである。
る。発生信号とは、伝送リンク中のあらゆる場所に存在
するシステム要素を指す。ひずみは、原信号波形と、原
信号が伝送リンクを通過した後の信号波形との差を評価
することによって測定できる。光信号は、ノイズ、符号
間干渉、ファイバ分散のような要因で送受信機間で劣化
する。
えば、ひずみは異なる速度で進むパルスの異なる光波長
によって生じる。また、ファイバ光システム中のパルス
ひずみは、他の部分よりも長いパス(モード)の後の光
パルスの部分によって発生する場合もある。
激に上昇してきた。この伝送レートの上昇に対して、よ
り速く、より感度の高い伝送システムが必要となる。10
または40Gb/sのような高レート伝送に対しては、光リン
クの分散は、重要なパラメータである。所定のリンクを
構成する異なるタイプの分散シフトファイバ、分散補償
ファイバ、分散補償フィルタにおいては、リンクの分散
を決定するのは、標準の単一モードファイバの分散特性
である17ps/nm/kmをファイバの長さ(km)に単に乗算す
るというような単純な作業ではない。
において、ノイズおよび光パスのひずみによって生じる
性能劣化は、通常分離できないものであり、性能評価は
複雑化である。
タの仕様書は、既存のフレームワークを用いたG.957の
単純な改良版である。しかしながら、G.957フレームワ
ーク内の光増幅器および分散補償の影響は、単純ではな
い。特に、分散補償および光非線性が存在する場合の増
幅器からの、光ノイズおよび光パスからのひずみは、横
の互換性に対応できるように制御されなければならな
い。
れる。アイダイアグラムとは、帯域幅信号がオシロスコ
ープの垂直入力に印加され、シンボルレートがオシロス
コープの時間ベースをトリガするときに、オシロスコー
プ上で生成されるグラフィックパターンである。バイナ
リ信号に対して、そのようなアイダイアグラムは、信号
の劣化の程度に従って、アイを開け閉めする1つのアイ
を有する。開のパターンが望ましいものである。アイ・
サイズの変化は、測定される信号に応じて、ジッタのよ
うなシンボル間干渉、振幅の不規則性、またはタイミン
グ問題を生じさせる。
か存在する。たとえば、(トレンブレイ等によって1989
年4月18日に出願され、ノーザン・テレコム・リミテッ
ドに譲渡された)米国特許4,823,360では、ベースバン
ド位相比較法に基づいて、光ファイバの色分散を測定す
る装置を開示している。この米国特許中に記載の装置
は、データの再生のために3つの閾値レベルを用いて伝
送リンク性能を評価する。第1および第2の閾値は、事
前に設定されたエラーレートに対して、「ロング0」お
よび「ロング1」のレベルをそれぞれ測定することによ
って得られる。また、第3の閾値は、他の2つとの関係
を選択して、供給される。
アンリツ・コーポレーションに譲渡された)米国特許4,
799,790では、種々の波長を基準ファイバまたは試験フ
ァイバに送信する送信機および受信機を含む装置を開示
している。受信機において、2つの隣接する波長間の位
相差は、基準パスおよび試験パスの両方に対して測定さ
れ、各波長の遅延を決定する。
特性に関係なく、最悪の場合のパスひずみ要素を提供し
て、ノイズ信号からひずみ信号を分離することについて
は全く開示していない。
みを測定するための改良された方法および装置を提供す
ることにある。
ファイバに対してひずみ係数を与え、許容できる送信機
性能およびリンク性能を決定するひずみ測定方法および
装置を提供することにある。最悪の場合のびずみの係数
は、ひずみ計算をノイズ計算から分離してリンクのノイ
ズ特性に関係なく伝送される点に特徴がある。
中でひずみを測定する方法において:送信機から前記送
信機の下流方向に設けられた測定ポイントに出力光信号
を送信し;前記測定ポイントに接続されたひずみ測定装
置で、前記出力光信号が劣化し変された入力光信号を受
信し;前記入力光信号をディジタル電気信号に変換し、
前記ディジタル電気信号からクロック信号を再生し;前
記ディジタル電気信号を分析し、前記再生されたクロッ
クを使用して、サンプリング間隔(Ts)の間、前記電気
信号を繰り返し処理することによって、アナログ波形を
生成し、ここで、サンプリング間隔(Ts)は、前記アナ
ログ波形から振幅ノイズと位相ノイズを除去するため
に、前記電気信号の連続する2つのディジタル電気信号
のシンボル間の間隔(T)と比較して比較的大きい値に
選択され、前記の繰り返し処理されたディジタル電気信
号からアイダイアグラムを形成し;前記アイダイアグラ
ム上でひずみパラメータを測定し、ここで、びずみパラ
メータを測定する前記ステップは、前記アイダイアグラ
ム上で、シンボルタイプ「1」の論理レベルを表わす第
1の電力レベル(P1)と、シンボルタイプ「0」の論理
レベルを表わす第2の電力レベル(P0)とを決定し、こ
こで、平均信号電力は(P1+P0)/2で表わされ;前記ア
イダイアグラム上で、絶対時間単位で表される許容でき
る位相ウィンドウ(W)に対する、最も低い内部上部電
力レベル(Piu)と、最も高い内部下部電力レベル
(Pil)とを決定し;前記第1および第2の電力レベル
に関して、前記(Piu)と(Pil)の各正規化値を表わす
上部の値(A)と下部の値(B)を決定し;前記上部の
値(A)と前記下部の値(B)を、前記測定ポイントで
供給するひずみ測定方法が提供される。
の下流に形成された前記測定ポイントとの間で、試験さ
れる現用光パスをシミュレーションする基準パスを形成
することを特徴とする。
ムの光送信リンク中で歪みを測定するひずみ測定装置に
おいて:入力光信号をディジタル電気信号に変換するコ
ンバータと;前記ディジタル電気信号から、クロック信
号を再生するクロック再生装置と;前記電気信号と前記
再生クロック信号を受信し、前記再生されたクロックを
使用して、サンプリング間隔(Ts)の間、前記電気信号
を繰り返し処理することによって、アナログ波形を生成
し、ここで、サンプリング間隔(Ts)は、前記アナログ
波形から振幅ノイズと位相ノイズを除去するために、前
記電気信号の連続する2つのディジタル電気信号のシン
ボル間の間隔(T)と比較して比較的大きい値に選択さ
れる信号分析器と;前記アナログ波形を受信し整形し、
あらかじめセットした位相ウィンドウ(W)に対するひ
ずみパラメータを決定する性能プロセッサと;前記コン
バータと、前記クロック再生装置と、前記信号分析器
と、前記性能プロセッサを監視する制御装置と;前記再
生クロック信号および前記アナログ波形を受信して、繰
り返し処理されたディジタル電気信号からアイダイアグ
ラムを表示するためのディスプレイとを含み;前記性能
プロセッサは、前記アイダイアグラム上で、シンボルタ
イプ「1」の論理レベルを表わす第1の電力レベル
(P1)と、シンボルタイプ「0」の論理レベルを表わす
第2の電力レベル(P0)とを決定し、ここで、平均信号
電力は(P1+P0)/2で表わされ;前記アイダイアグラム
上で、絶対時間単位で表される許容できる位相ウィンド
ウ(W)に対する、最も低い内部上部電力レベル
(Piu)と、最も高い内部下部電力レベル(Pil)とを決
定し;前記第1および第2の電力レベルに関して、前記
(Piu)と(Pil)の各正規化値を表わす上部の値(A)
と下部の値(B)を決定し;前記上部の値(A)と前記
下部の値(B)を、前記測定ポイントで供給することを
特徴とするひずみ測定装置を提供する。
の疑似ランダム・ビット・シーケンスを生成するための
パターン生成器を有する送信機と;前記送信機と測定ポ
イント間の基準パスとを有し、前記ひずみ測定値装置に
よって受信された前記入力光信号は、前記疑似ランダム
・ビット・シーケンスであってもよい。
光システム中の伝送の質を決定するために使用できる点
である。ここで、分析されるパスは、光増幅器、分散補
償モジュール、能動光コンポーネント、および受動光コ
ンポーネントを含むことができる。
ス線幅、チャープ、および送信機吸光比のような高い解
像度のスペクトル仕様に対する必要性を除去または減少
させる点である。上記の全パラメータは、光パス損失、
および他のひずみと共に、アイマスク・パラメータによ
って制御できる。
いるように、以下の好ましい実施の形態による特定の説
明によって明瞭になる。
で、光パスを示す図である。
パラメータを示す図である。
された光アイマスクを示す図である。
係数Yoを示す図である。
の関係を示す図である。
ズ(A−B)、信号依存ノイズ および信号依存ノイズ対信号独立ノイズ(x)に対する
劣化パラメータ(DWC)の変化を示す図である。
インの関数およびファイバ・スパン数の関数としての
(x)および受信機Qの変化を示す図である。
としての(x)および受信機(Q)の変化を示す図であ
る。
度損失間の関係を示す図である。
を示す図である。
を示す図である。
このブロック図は、左から送信機ソース1、送信インタ
フェース3,評価される光パス(試験パス)5、受信イン
タフェース7,および受信機9である。インタフェース3
と7は、それぞれ送受信機光接続面に置かれる。ここで
は、光パスは、光増幅器、光フィルタ、分散補償モジュ
ール(DCM)、および光コネクタ、パッチコードおよび
ケーブル・ファイバのようなその他の能動および受動光
コンポーネントから構成される。この光パスは送信機イ
ンタフェース3と受信機インタフェース7間で使用され
る。
て行われ、送信機1および/または受信機インタフェー
ス7で発生したひずみを測定することによって、送信機
1および光パス5によって発生したひずみを測定する。
ス3とインタフェース7間のケーブル・リンク・ファイ
バ5上で提供される全装置で使用される。最悪の場合の
基準ひずみパラメータは、基準パスに対して測定され、
システムを顧客に提供する。インタフェース7での測定
が、許容できるひずみのレベルである限り、付加的な光
構成コンポーネントを後でリンク5に挿入してもよい。
メータを示し、図3は測定されたアイダイアグラムにマ
ッピングされたアイマスクを示す。図2に示されるアイ
マスクの縦軸は光電力を表し、横軸は時間を表わす。
P1、P0、Piu、PilおよびP=0は、長い1,長い0、最も
低い内側の上部レベル、最も高い内側の下部レベル、0
の電力レベルに関連する電力である。最適なサンプリン
グ位相とスライシング・レベルを仮定する。位相ウィン
ドウWは、所定の送信システムに対する許容できる位相
ジッタの測定置であり、これは送信設備の仕様に依存す
る。PiuとPilレベルは、所定のWに対するアイダイアグ
ラム内で決定され、これらはそれぞれ信号電力の最も低
いまた最も高いレベルを表している。
+P0)/2である。このとき、アイマスクパラメータPiu
とPilは、A=Piu/2PavおよびB=Pil/2Pavに正規化さ
れる。
スを示す。内側のレベルは、あきらかに、所定の位相ウ
ィンドウWに設定される。
システムは、一般的に、出力光信号を生成する送信機10
0と、入力タップ12と出力タップ18間にある基準パス200
と、ひずみ測定装置300とから成る。インタフェース12
と18間のひずみアイマスクパラメータを特定することに
よって、パスひずみによる電力損失が得られる。
変調(EM)される。外部信号源10は図4に示される。こ
れは、7次またはそれより高い次数の疑似ランダム・ビ
ット・シーケンスを生成するパターン発生器を用いても
よい。ソースが低い線幅を有しているため、EMは、1550
nmで標準ファイバのような分散リンク中にあることが好
ましい。
きく、0デシベル(dBm)より小さい。一方、典型的に
は、DM源は3dBmより小さい。これらの小さい光電力は、
送信距離を限定する。従って、送信機1では、後置増幅
器を用いる方が好ましい。後置増幅によって、ファイバ
に放射された信号電力レベルはより高くなり、このよう
な高放射電力による非線形性は、高速伝送に対して波形
がかなりひずむことになる。
用いられるコンポーネントと同じコンポーネント(また
は、性能が似ている)を用いることによって、試験環境
の中で組み立てられる。さらに、光増幅器14は、光フィ
ルタ16と縦続接続され、出力タップ18の平均レベル信号
を、入力タップ12で評価された原レベルにまで上昇す
る。光フィルタ16は、100次のオーダを有する1nmのFWHM
ファブリペローフィルタであることが好ましい。
検出する。ひずみ測定装置300は、PINまたはADP検出器
のどちらでもよい。これらは、典型的に、OC−192レー
トにおける−14dBmおよび−19dmの受信機感度を、ビッ
ト誤り率が10-12に対して、それぞれ寿命の最後でバッ
クツーバックになるようにする。ひずみ測定装置300で
の過負荷電力は、寿命の保証期間の電力より少なくとも
10dBは高くあるべきである。
って、従来の増幅を行い、出力タップ18で受信された光
入力信号をアナログの電気信号に変換する。例えば、15
GHzよりも大きい帯域幅のDC結合高速PINダイオードを図
4の実施の形態中で信号変換用に用いても良い。
ずみ測定装置300のブロックの同期のために用いられ
る。コンバータ22からの信号出力は、再生クロックを用
いて分析器26によって処理される。サンプリング間隔
は、振幅と位相ノイズを除去するために十分に長く取ら
れる。最終的は波形は、性能測定プロセッサ28によって
処理され、ひずみパラメータA、B、Pavを得る。この
ため、信号27は最初に逆畳み込みされ、コンバータと分
析転送機能の効果を取り除く。その後、逆畳み込みされ
た波形は、適当なスケールの4次または5次のベッセル
・フィルタのようなSONETフィルタに送られ、所定のW
に対する電力P0、P1、Piu、Pilが決定される。次に、性
能測定プロセッサ28は平均電力Pavと、正規化値Aおよ
びBを決定する。
イ30に表示され、アイマスクパラメータは信号のアイダ
イアグラム上で測定される。アイダイアグラム上での直
接測定は十分に正確で、ディスプレイ30上で測定された
測定アイマスクパラメータPav、AおよびBは、基準値
として用いられる。
を受信し、受信感度Qと最悪の状態のパスのひずみDwc
を計算する。これらの基準値は、各光送信リンクと光送
信機に関する規定値として、製造業者によって受信機9
に記憶される。同様に、送信機1に対する基準値は、イ
ンタフェース3で測定され記憶されてもよく、パスの性
能は、送信機の性能とは無関係に決定されてもよい。
置300は受信機インタフェース7に接続され、試験パス
5によって生じた試験ひずみを測定する。Pav、Aおよ
びBの現在値は、所定の位相ウィンドウWに対して、同
様の方法で決定され、受信機9で使用可能な基準のパラ
メータと比較される。ディスプレイ30で得られる現信号
のアイダイアグラム上に基準マスクを加えることによっ
て比較してもよく、または、ひずみ測定装置300の制御
装置34中で、パラメータAおよびBを、対応の基準パラ
メータと比較しても良い。比較の結果は、ローカルに用
いてもよく、遠隔集中制御で送信してもよい。
イマスクの仕様は、送信に関するひずみを制限し、バッ
クツーバックの感度を制御する。これはまた、光光パス
損失を制御し、瞬間的な位相と光領域の強度との関係を
制限する。
信号に関係ないノイズとがあるため、インタフェース7
で、受信機の機能Qは以下のように求められる。
ノイズに関する信号の乗算係数である。ひずみのない理
想的な場合では、B=0、A=1であり、この場合、受
信機とする理想的なQの係数は、Q0で示され、下記の値
を取る。
る。
イズとの比である。
ない受信機のノイズが制限されたQであり、Qの電力に
依存している。上述のように、式3は、システムQの劣
化を制御するために用いてもよい。
影響を示している。信号に関係しないノイズσindがx
=0、Ye=1であると、ひずみによって起こる信号の劣
化は以下のようになる。
になる。
であり、すべてのxの可能な値の中から、Yeの最大値を
見つける。
x∈(0,∞) (8) よって、Y0≧Yeは常に、すべてのAとBの組み合わせ
によって満たされる。式3においてYeをY0で置き換える
と、下記のようになる。
り、ノイズ特性とは無関係である。このパラメータは、
図4の計算装置ブロック32中で計算される。図5は、ア
イ品質パラメータAおよびBに対するY0を示す。
変数xの解は、Ye(A、B、x)の導関数を決定するこ
とによって計算される。
る。
に証明される。すでに、Yeの最大値が、1(x=0で)
より小さくはなりえないことは既知であるため、以下の
簡単なY0の式が得られる。
メータAとB対する式9中で定義されたQの変化である
劣化係数Dwcを示している。
て計算してもよく、これは図7に実線で示される。点線
は であり、これは、xが無限大に近づくと、Dwcと等しく
なる。実際に、Dwc(x)は、x=∞で非常にゆっくり
と極限に近づく。図7の一点鎖線は、10×log(A−
B)であり、これは、信号に関係しないノイズが支配す
る場合、すなわち、x=0の場合を示す。
は、Qの値(点線)とx(実線)の両方を示している。
これらは、数多くのスパンを有する多重スパンOC−192
光システムに対するEDFA前置増幅器のゲインの関数とし
て示される。受信機光ファイバの帯域幅は1.5nmであ
り、EDFA雑音指数はF=6dBであると仮定すると、EDF前
置増幅器の出力光電力は、1mWに固定され、受信機の温
度ノイズは15ps/sqrt(Hz)に固定される。xの最大値
は、図8に示されるようにほぼ125で、この値は主に、
受信機の温度ノイズレベルに依存する。しかしながら、
実際の場合には、Qの値の範囲は、30より小さいQも含
み、xの最大値はスパンの数に関係なく、すべてほぼ2
2.5である。
値が低い理由は、EDFAで前置増幅された光受信機のよう
に、信号自然のビートノイズがないからである。xの最
大値は、このOC−48光受信機中では10より少ない。PIN
光受信機のxの最大値は、APD受信機のxの最大値より
も低い。それは、受信機の温度ノイズは、通常ショット
ノイズよりもはるかに高いからである。
ムのほとんどにとって安全な限度であり、よって式8は
以下のようになる。
1) 式10は比較的簡単で、システム性能を公平に評価して
いるのに対し、式11は、すべての場合において、実際に
は、劣化のレベルを、典型的には0.35dBだけ過大評価し
ている。一方、式11は式10よりも厳格ではないが、計算
するのはより複雑である。どちらの式を用いるかという
決定は、実際使ってみてから決めても良い。
で計算したY0の値を示す。表3と表4には、それぞれ、
式10と式11を用いて式9によって計算されたアイひずみ
により生じた対応のQ劣化Dwcが示されている。異なる
式を使ったことによる差は、これらの表に示される。
B)との間が等価であることは、追加的に、受容できる
レベルのひずみを決定する手段として用いられてもよ
い。特に、下記のようになる。
レクトロニクスに依存する。例えば、信号に関係ないノ
イズが重要であるPINダイオードでは、Rxはおよそ1で
あり、信号に関係するノイズが重要であるAPDでは、Rx
はおよそ0.6である。表5には、より詳細な範囲が示さ
れている。これらの係数は、光ノイズの形成や複雑なシ
ステムのひずみの計算に用いてもよい。
関数としての感度損失間の関係を示している。この曲線
は、PINとADP受信機に対するひずみのない受信機(Q0)
に基づいている。このグラフは、ひずみのない受信機
が、10-12のビット誤りレート(BER)対して、7.03のQ
を有しているときの感度に対応している。
る方法のフローチャートを示す図である。図11Aは、基
準信号のひずみを測定する方法を示し、図11Bは試験信
号のひずみを測定する方法を示す。よって、ステップ40
0から450は、2つのフローチャートで類似している。図
11Aは、ステップ400で、送信機100が光信号を、基準パ
ス200に沿って、ひずみ測定装置300に放射していること
を示している。信号が受信されると、ステップ410で、
その信号は電気信号に変換され、クロックはステップ42
0で再生される。次に、基準アイマスクパラメータは、
ステップ440と450において、アイダイアグラム上で、ま
たはステップ460で電気的に測定される。最悪の場合の
基準ひずみ係数Dwcはステップ470で決定され、ステップ
480で、基準のパラメータ、A、B、P1、P0、Wと共に
受信機で記憶される。対応の送信リンクに対する記述の
アイマスクも、システムに備えてもよい。
した測定が実施される。ステップ450で、基準アイマス
クは受信信号のアイダイアグラムに当てはめられる。マ
スクがアイダイアグラムに一致すれば、ステップ500で
決定されるように、信号のひずみは容認可能な範囲内に
ある。ひずみ係数Dはステップ470で電気的に計算され
るか、または測定されたパラメータA,Bを用いて、ステ
ップ490で準備されたDwcと比較される。上述のように、
測定点に従って、比較結果は、試験パスの状態および/
または、送信機の状態を示す。
いるが、本発明の広義の範囲から逸脱することがなけれ
ば、当業者によってなされる変形例や改良例は本発明の
範囲に含まれる。
Claims (16)
- 【請求項1】光送信システム中でひずみを測定する方法
において: 送信機から前記送信機の下流方向に設けられた測定ポイ
ントに出力光信号を送信し; 前記測定ポイントに接続されたひずみ測定装置で、前記
出力光信号が劣化し変された入力光信号を受信し; 前記入力光信号をディジタル電気信号に変換し、前記デ
ィジタル電気信号からクロック信号を再生し; 前記ディジタル電気信号を分析し、前記再生されたクロ
ックを使用して、サンプリング間隔(Ts)の間、前記電
気信号を繰り返し処理することによって、アナログ波形
を生成し、ここで、サンプリング間隔(Ts)は、前記ア
ナログ波形から振幅ノイズと位相ノイズを除去するため
に、前記電気信号の連続する2つのディジタル電気信号
のシンボル間の間隔(T)と比較して比較的大きい値に
選択され、 前記の繰り返し処理されたディジタル電気信号からアイ
ダイアグラムを形成し; 前記アイダイアグラム上でひずみパラメータを測定し、 ここで、ひずみパラメータを測定する前記ステップは、 前記アイダイアグラム上で、シンボルタイプ「1」の論
理レベルを表わす第1の電力レベル(P1)と、シンボル
タイプ「0」の論理レベルを表わす第2の電力レベル
(P0)とを決定し、ここで、平均信号電力は(P1+P0)
/2で表わされ; 前記アイダイアグラム上で、絶対時間単位で表される許
容できる位相ウィンドウ(W)に対する、最も低い内部
上部電力レベル(Piu)と、最も高い内部下部電力レベ
ル(Pil)とを決定し; 前記第1および第2の電力レベルに関して、前記
(Piu)と(Pil)の各正規化値を表わす上部の値(A)
と下部の値(B)を決定し; 前記上部の値(A)と前記下部の値(B)を、前記測定
ポイントで供給することを特徴とするひずみ測定方法。 - 【請求項2】請求項1記載の方法において: 前記測定ポイントは、前記送信機の光接続面に形成さ
れ、前記送信機のひずみを測定することを特徴とするひ
ずみ測定方法。 - 【請求項3】請求項1記載の方法において: 前記測定ポイントは、受信機の光接続面に形成され、前
記送信機のひずみおよび前記送信機と前記受信機間の光
パスのひずみを測定することを特徴とするひずみ測定方
法。 - 【請求項4】請求項1記載の方法において: 水平軸が前記位相ウィンドウ(W)の位相を表わし、垂
直軸が前記上部の値(A)と前記下部の値(B)との差
を表わす基準アイマスクを作り、 前記基準アイマスクを前記の測定ポイントで供給するス
テップをさらに含むことを特徴とするひずみ測定方法。 - 【請求項5】請求項1または4記載の方法において: ノイズとは無関係の、前記上部および下部の値から派生
された最悪の場合のひずみ係数(Dwc)を決定するステ
ップをさらに含むことを特徴とするひずみ測定方法。 - 【請求項6】請求項4記載の方法において: 前記の前記基準アイマスクを供給するステップは、 基準アイマスクを、前記アイダイアグラムにマッピング
し; 前記基準アイマスクが前記アイダイアグラムに一致し、
前記出力光信号が許容されれば、基準アイダイアグラム
を作ることを特徴とするひずみ測定方法。 - 【請求項7】請求項5記載の方法において: 前記送信機と前記送信機の下流に形成された前記測定ポ
イントとの間で、試験される現用光パスをシミュレーシ
ョンする基準パスを形成することを特徴とするひずみ測
定方法。 - 【請求項8】請求項7記載の方法において、 前記ひずみ係数を、前記測定ポイントで供給された最悪
の場合のひずみ係数と比較し; 前記ひずみ係数が前記最悪の場合のひずみ係数よりも大
きいときには、ひずみが許容できないことを宣言するス
テップをさらに含むことを特徴とするひずみ測定方法。 - 【請求項9】請求項8記載の方法において: 前記ひずみ係数は以下の式によって決定されることを特
徴とするひずみ測定方法。 - 【請求項10】光送信システムの光送信リンク中で歪み
を測定するひずみ測定装置において: 入力光信号をディジタル電気信号に変換するコンバータ
と; 前記ディジタル電気信号から、クロック信号を再生する
クロック再生装置と; 前記電気信号と前記再生クロック信号を受信し、前記再
生されたクロックを使用して、サンプリング間隔(Ts)
の間、前記電気信号を繰り返し処理することによって、
アナログ波形を生成し、ここで、サンプリング間隔
(Ts)は、前記アナログ波形から振幅ノイズと位相ノイ
ズを除去するために、前記電気信号の連続する2つのデ
ィジタル電気信号のシンボル間の間隔(T)と比較して
比較的大きい値に選択される信号分析器と; 前記アナログ波形を受信し整形し、あらかじめセットし
た位相ウィンドウ(W)に対するひずみパラメータを決
定する性能プロセッサと; 前記コンバータと、前記クロック再生装置と、前記信号
分析器と、前記性能プロセッサを監視する制御装置と; 前記再生クロック信号および前記アナログ波形を受信し
て、繰り返し処理されたディジタル電気信号からアイダ
イアグラムを表示するためのディスプレイとを含み; 前記性能プロセッサは、 前記アイダイアグラム上で、シンボルタイプ「1」の論
理レベルを表わす第1の電力レベル(P1)と、シンボル
タイプ「0」の論理レベルを表わす第2の電力レベル
(P0)とを決定し、ここで、平均信号電力は(P1+P0)
/2で表わされ; 前記アイダイアグラム上で、絶対時間単位で表される許
容できる位相ウィンドウ(W)に対する、最も低い内部
上部電力レベル(Piu)と、最も高い内部下部電力レベ
ル(Pil)とを決定し; 前記第1および第2の電力レベルに関して、前記
(Piu)と(Pil)の各正規化値を表わす上部の値(A)
と下部の値(B)を決定し; 前記上部の値(A)と前記下部の値(B)を、前記測定
ポイントで供給することを特徴とするひずみ測定装置。 - 【請求項11】請求項10記載の装置において: 前記性能プロセッサから、上部の値(A)と、下部の値
(B)と、平均電力レベルPavとを受信し、ノイズとは
無関係の、最悪の場合のひずみパラメータを決定する計
算装置をさらに含むことを特徴とするひずみ測定装置。 - 【請求項12】請求項10記載の装置において: 前記性能プロセッサは、前記コンバータおよび前記信号
分析器によって、前記入力電気信号に含まれるひずみを
補償する手段を含むことを特徴とするひずみ測定装置。 - 【請求項13】請求項12記載の装置において: 前記性能プロセッサは、第4次のベッセル・フィルタを
含むことを特徴とするひずみ測定装置。 - 【請求項14】請求項10記載の装置において: 前記送信光リンクは、 第7次またはそれより高い次数の疑似ランダム・ビット
・シーケンスを生成するためのパターン生成器を有する
送信機と; 前記送信機と測定ポイント間の基準パスとを有し、 前記ひずみ測定値装置によって受信された前記入力光信
号は、前記疑似ランダム・ビット・シーケンスであるこ
とを特徴とするひずみ測定装置。 - 【請求項15】請求項14記載の装置において: 前記測定ポイントの上流方向に設けられ、前記出力光信
号のレベルとほぼ等しいレベルで前記入力光信号を増幅
する光増幅器をさらに含むことを特徴とするひずみ測定
装置。 - 【請求項16】請求項15記載の装置において: 前記光増幅器と前記測定ポイント間に置かれ、前記入力
信号の平均レベルを上昇させる光フィルタをさらに含む
ことを特徴とするひずみ測定装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CA2,177,525 | 1996-05-28 | ||
CA002177525A CA2177525C (en) | 1996-05-28 | 1996-05-28 | Eye mask for measurement of distortion in optical transmission systems |
PCT/CA1996/000850 WO1997045713A1 (en) | 1996-05-28 | 1996-12-18 | Eye mask for measurement of distortion in optical transmission systems |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11510901A JPH11510901A (ja) | 1999-09-21 |
JP3391800B2 true JP3391800B2 (ja) | 2003-03-31 |
Family
ID=4158295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP54129997A Expired - Lifetime JP3391800B2 (ja) | 1996-05-28 | 1996-12-18 | 光伝送システム中のひずみ測定方法および装置 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5774242A (ja) |
EP (1) | EP0901617B1 (ja) |
JP (1) | JP3391800B2 (ja) |
CN (1) | CN1186610C (ja) |
AU (1) | AU714481B2 (ja) |
CA (1) | CA2177525C (ja) |
DE (1) | DE69624843T2 (ja) |
WO (1) | WO1997045713A1 (ja) |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6233073B1 (en) * | 1998-07-30 | 2001-05-15 | International Business Machines Corporation | Diagnostic injection of transmission errors in fiber optic networks |
CA2249800C (en) * | 1998-10-06 | 2003-12-09 | Northern Telecom Limited | Eye quality monitor for a 2r regenerator |
US6259543B1 (en) * | 1999-02-17 | 2001-07-10 | Tycom (Us) Inc. | Efficient method for assessing the system performance of an optical transmission system while accounting for penalties arising from nonlinear interactions |
US6430715B1 (en) * | 1999-09-17 | 2002-08-06 | Digital Lightwave, Inc. | Protocol and bit rate independent test system |
US6188737B1 (en) * | 1999-11-24 | 2001-02-13 | Nortel Networks Limited | Method and apparatus for regenerating data |
AU2001257341A1 (en) * | 2000-04-26 | 2001-11-07 | Optovation Corporation | Ac performance monitor with no clock recovery |
IT1320683B1 (it) * | 2000-10-03 | 2003-12-10 | Marconi Comm Spa | Sistema di trasmissione ottico. |
KR100353844B1 (ko) * | 2000-12-28 | 2002-09-28 | 한국전자통신연구원 | 시간-파장 변환에 의한 초고속 광신호의 아이 패턴 측정장치 |
US7181146B1 (en) | 2001-01-17 | 2007-02-20 | Optical Communication Products, Inc. | Self-adjusting data transmitter |
CA2337642A1 (en) * | 2001-02-21 | 2002-08-21 | Pmc-Sierra Inc. | A bus interface for transfer of multiple sonet/sdh rates over a serial backplane |
US6690894B2 (en) * | 2001-05-14 | 2004-02-10 | Stratalight Communications, Inc. | Multilevel optical signals optimized for systems having signal-dependent and signal-independent noises, finite transmitter extinction ratio and intersymbol interference |
US20030058970A1 (en) * | 2001-08-22 | 2003-03-27 | Hamre John David | Method and apparatus for measuring a waveform |
US6806877B2 (en) * | 2001-12-18 | 2004-10-19 | Agilent Technologies, Inc. | Method for generating eye masks using a parametric representation |
US6798500B2 (en) * | 2002-03-05 | 2004-09-28 | Jds Uniphase Corporation | Method for estimation of chromatic dispersion in multichannel optical network spans and chromatic dispersion monitor therefore |
US6760676B2 (en) * | 2002-07-31 | 2004-07-06 | Agilent Technologies, Inc. | On-screen tools for eye diagram measurements |
EP1437855B1 (en) * | 2002-12-30 | 2007-05-30 | Alcatel Lucent | Device and method of determining an eye diagram of a digital signal |
US6968490B2 (en) * | 2003-03-07 | 2005-11-22 | Intel Corporation | Techniques for automatic eye-degradation testing of a high-speed serial receiver |
FR2854516B1 (fr) | 2003-04-29 | 2005-07-22 | Cit Alcatel | Module de compensation de dispersion chromatique |
KR100526532B1 (ko) * | 2003-06-28 | 2005-11-08 | 삼성전자주식회사 | 광신호 품질 감시 장치 |
DE10334428A1 (de) * | 2003-07-28 | 2005-02-24 | Siemens Ag | Verfahren zur Ermittlung der Qualität eines optischen Signals |
US8750725B2 (en) * | 2003-11-18 | 2014-06-10 | Finisar Corporation | Digital optical receiving module, and a method for monitoring the signal quality of a transmitted, modulated optical signal |
US7643752B2 (en) * | 2004-12-22 | 2010-01-05 | Clariphy Communications, Inc. | Testing of transmitters for communication links by software simulation of reference channel and/or reference receiver |
US8111986B1 (en) * | 2004-12-22 | 2012-02-07 | Clariphy Communications, Inc. | Testing of transmitters for communication links by software simulation of reference channel and/or reference receiver |
US7853149B2 (en) * | 2005-03-08 | 2010-12-14 | Clariphy Communications, Inc. | Transmitter frequency peaking for optical fiber channels |
US7664394B2 (en) * | 2005-06-30 | 2010-02-16 | Clariphy Communications, Inc. | Testing of receivers with separate linear O/E module and host used in communication links |
US8254781B2 (en) | 2005-06-30 | 2012-08-28 | Clariphy Communications, Inc. | Testing of receivers with separate linear O/E module and host used in communication links |
JP4858615B2 (ja) | 2007-08-03 | 2012-01-18 | 富士通株式会社 | 通信装置、通信システム、及び通信方法 |
US8494376B2 (en) * | 2008-04-14 | 2013-07-23 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Method and apparatus for testing transmitters in optical fiber networks |
CN101321032B (zh) * | 2008-06-24 | 2012-09-26 | 中兴通讯股份有限公司 | 光信号波形记录的方法和装置 |
US7984326B2 (en) * | 2009-05-14 | 2011-07-19 | International Business Machines Corporation | Memory downsizing in a computer memory subsystem |
US8611406B2 (en) * | 2009-06-30 | 2013-12-17 | Lsi Corporation | System optimization using soft receiver masking technique |
US8417115B2 (en) * | 2009-07-09 | 2013-04-09 | Finisar Corporation | Quantifying link quality in an optoelectronic module |
US8364033B2 (en) * | 2009-12-08 | 2013-01-29 | Telcordia Technologies, Inc. | Differential eye diagrams |
WO2018061303A1 (ja) * | 2016-09-30 | 2018-04-05 | 三菱電機株式会社 | 光変調装置及び光変調装置のタイミング調整方法 |
CN110417463B (zh) | 2018-04-27 | 2021-02-23 | 华为技术有限公司 | 一致性测试方法、装置和存储介质 |
SG10201908703VA (en) | 2018-09-21 | 2020-04-29 | Aem Singapore Pte Ltd | System and method for temporal signal measurement of device under test (dut) and method of forming system |
WO2021086578A1 (en) | 2019-10-31 | 2021-05-06 | Ciena Corporation | Asymmetric direct detection of optical signals |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE68919690T2 (de) * | 1989-07-28 | 1995-04-13 | Hewlett Packard Co | Messung der Charakteristika eines optischen Rundfunknetzwerkes. |
US5367394A (en) * | 1990-11-22 | 1994-11-22 | British Telecommunications Public Limited Company | Test apparatus |
-
1996
- 1996-05-28 CA CA002177525A patent/CA2177525C/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-12-18 WO PCT/CA1996/000850 patent/WO1997045713A1/en active IP Right Grant
- 1996-12-18 JP JP54129997A patent/JP3391800B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1996-12-18 AU AU10897/97A patent/AU714481B2/en not_active Ceased
- 1996-12-18 CN CNB961803886A patent/CN1186610C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1996-12-18 EP EP96941544A patent/EP0901617B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-12-18 DE DE69624843T patent/DE69624843T2/de not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-01-15 US US08/785,806 patent/US5774242A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0901617A1 (en) | 1999-03-17 |
JPH11510901A (ja) | 1999-09-21 |
CN1226314A (zh) | 1999-08-18 |
CN1186610C (zh) | 2005-01-26 |
US5774242A (en) | 1998-06-30 |
EP0901617B1 (en) | 2002-11-13 |
AU714481B2 (en) | 2000-01-06 |
CA2177525A1 (en) | 1997-11-29 |
WO1997045713A1 (en) | 1997-12-04 |
CA2177525C (en) | 2002-01-29 |
DE69624843T2 (de) | 2003-07-03 |
AU1089797A (en) | 1998-01-05 |
DE69624843D1 (de) | 2002-12-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3391800B2 (ja) | 光伝送システム中のひずみ測定方法および装置 | |
US8009981B2 (en) | Testing of transmitters for communication links by software simulation of reference channel and/or reference receiver | |
US8639112B2 (en) | Testing of transmitters for communication links by software simulation of reference channel and/or reference receiver | |
US20140161440A1 (en) | Testing of Elements Used In Communication Links | |
JP2001211120A (ja) | 光ファイバの偏光モード分散を補償する補償器 | |
JPH11153514A (ja) | 光伝送用モジュールの製造方法並びにビット・エラーレート特性検査システム | |
EP0903878B1 (en) | Distortion penalty measurement technique in optical systems based on signal level adjustment | |
US6829549B2 (en) | Implementation of a post detection chromatic dispersion compensation transfer function | |
GB2399720A (en) | Accelerating assessment of an optical tranmission system using Bit Error Rate (BER) tests | |
Antona et al. | Analysis of 34 to 101GBaud submarine transmissions and performance prediction models | |
JPH1084317A (ja) | 光ファイバ伝送システム | |
US5825521A (en) | Method of determining inter-symbol interference in transmission systems | |
Lee et al. | An improved OSNR monitoring technique based on polarization-nulling method | |
US11777612B2 (en) | Method for nonlinear compensation of coherent high-capacity high-order qam system | |
CN114650096B (zh) | 光路自适应色散补偿方法、光模块和波分复用系统 | |
Zhong et al. | A robust reference optical spectrum based in-Band OSNR monitoring method suitable for flexible optical networks | |
Fludger et al. | Electronic equalisation for low cost 10 Gbit/s directly modulated systems | |
EP1326362B1 (en) | Accelerated measurement of bit error ratio | |
Wuth et al. | Impact of self-phase modulation on bandwidth efficient modulation formats | |
Yaffe et al. | Experimental determination of system outage probability due to first-order and second-order PMD | |
CN110971302B (zh) | 一种低速延时采样估计光纤色散的装置与方法 | |
Xiao et al. | Optimization of the net residual dispersion for self-phase modulation-impaired systems by perturbation theory | |
Pei et al. | Characterizing Fiber Nonlinearity with Deployed Equipment in Optical Line Systems | |
CN111211834A (zh) | 评估和抑制超长距无中继光通信系统信号光谱变形的方法 | |
Benlachtar et al. | Chromatic dispersion monitoring using synchronous sampling |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080124 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090124 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100124 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110124 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110124 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120124 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130124 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130124 Year of fee payment: 10 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |