JP3377426B2 - プラズマディスプレイパネルの保護層及び保護層形成方法 - Google Patents

プラズマディスプレイパネルの保護層及び保護層形成方法

Info

Publication number
JP3377426B2
JP3377426B2 JP34484497A JP34484497A JP3377426B2 JP 3377426 B2 JP3377426 B2 JP 3377426B2 JP 34484497 A JP34484497 A JP 34484497A JP 34484497 A JP34484497 A JP 34484497A JP 3377426 B2 JP3377426 B2 JP 3377426B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
protective layer
forming
layer
display panel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP34484497A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11176325A (ja
Inventor
敏文 橋口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP34484497A priority Critical patent/JP3377426B2/ja
Publication of JPH11176325A publication Critical patent/JPH11176325A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3377426B2 publication Critical patent/JP3377426B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマディスプ
レイパネル(以下、PDPと略称)の保護層及びその形
成方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】PDPは、画面を表示する表示放電がD
C(直流)であるDC型と、AC(交流)であるAC型
とに大きく分類することができる。このうちAC型のP
DPは、前面及び背面の少なくとも一方のガラス基板に
放電セルを構成する一対の表示電極を設けると共に、そ
れら電極を低融点ガラスなどの誘電体層で被覆し、さら
にこの表面に誘電体層を放電時のイオン衝撃から保護す
るための保護層が形成される構成である。
【0003】従来、保護層としては、一般に酸化マグネ
シウム(MgO)からなる5000オングストローム
10000オングストローム程度の厚さの薄膜が設けら
れる。このようなMgO膜は、膜材料であるMgOを真
空中で例えば電子ビーム加熱等によって蒸発させ、誘電
体層の表面に結晶成長の形で堆積・成膜させる手法、す
なわち真空蒸着法によって形成されている。このMgO
膜はPDPが発光する際に発生するイオンや電子により
スパッタされるため、膜厚5000オングストローム
下ではMgO膜の破壊が短期間に進行し、保護層として
の機能を失ってPDPの寿命を縮めてしまうなど、この
MgO膜の膜厚がPDPの寿命を左右するという特徴を
有する。
【0004】このような従来のMgO膜を形成するPD
Pの製造方法の一例を図4及び図5を用いて説明する。
図4は従来のPDPの製造装置における蒸着工程部分を
示す概略構成説明図、図5は従来のPDPの製造方法で
得られたMgO膜の断面図である。
【0005】前図に示した従来のPDPの製造装置にお
ける蒸着工程部分は、ガラス基板1を載せたトレー2を
真空区域内へ導入するロードロック室101と、ガラス
基板1の予備加熱を行う加熱室102と、MgO膜を成
膜する蒸着室103と、ガラス基板1を冷却する冷却室
104と、ガラス基板1を載せたトレー2を真空区域外
へ取出すアンロードロック室105と、トレー2をアン
ロードロック室105からロードロック室101まで戻
すためのリターンコンベア106とを備える構成であ
り、トレー2上にガラス基板1を載せて搬送し、MgO
膜を真空蒸着法により通過成膜するものである。
【0006】上記した従来のPDPの製造装置によりM
gO膜を蒸着する工程について説明する。トレー2に載
ったガラス基板1は、ガラス基板1を長方形とした場
合、短辺方向を進行方向と平行にしてロードロック室1
01に搬送され、雰囲気を真空排気して略真空状態とさ
れた後、次の加熱室102に搬送される。加熱室102
に搬送されたガラス基板1は、100℃以上の高温に予
備加熱された後、蒸着室103に搬送され、MgO膜を
真空蒸着法により成膜される。蒸着室103を通過した
後、ガラス基板1は冷却室104に搬送されて冷却さ
れ、さらにアンロードロック室105に搬送される。ア
ンロードロック室105で真空から大気圧に戻し、トレ
ー2に載ったガラス基板1を真空区域外へ搬出する。リ
ターンコンベア106上でガラス基板1はトレー2から
取出されると共に、新たなガラス基板1がトレー2に載
せられる。トレー2はリターンコンベア106でアンロ
ードロック室105からロードロック室101へと移動
し、以降、上記した工程が繰返される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の製造装置による
PDPの保護層形成方法は以上のような工程であり、ガ
ラス基板1の短辺方向を成膜方向と平行にした単一配向
結晶の単層膜の成膜を目的としたものとなっていること
から、MgOを成膜すると、柱状にMgOの結晶が成長
する。単一方向の単層膜の場合、この柱状結晶が図4に
示すように緻密に形成され、5000オングストローム
〜10000オングストローム程度の厚さで誘電体層を
被覆することにより、PDPとして所定の製品寿命が得
られる。このPDPの製品寿命はより長い方が望ましい
ことから、寿命を延すためにMgO膜を厚くする試みが
なされてきた。しかし、MgO膜の膜厚が10000
ングストロームを越えると、成膜後の温度降下に伴うガ
ラス基板の収縮により発生する膜の内部応力にMgO膜
自体の強度が耐えきれなくなり、膜内にクラックを生じ
ることから、保護層としての役割を果せなくなって歩留
りが低下するという課題を有した。
【0008】本発明は前記課題を解消するためになされ
たもので、MgO膜の膜厚を10000オングストロー
以上に形成しても膜内にクラックを生じさせず、一定
の歩留りを維持すると共に、保護層としての機能を長期
間維持させて長寿命化を図れるPDPの保護層及び保護
層形成方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係るPDPの保
護層形成方法は、ガラス基板に形成した電極上に誘電体
層を介して設けられたプラズマディスプレイパネルの保
護層の形成方法において、前記誘電体層の表面に酸化マ
グネシウムを所定の膜厚且つ所定配向結晶となるように
蒸着する工程を複数回行い、各々結晶の配向性を異なら
せて成膜された酸化マグネシウム膜が複数積層した保護
層を形成したものである。このように本発明によれば、
10000オングストローム以上の膜厚とした場合でも
積層構造の各層の膜厚は薄くでき、また、MgO積層膜
の各層でそれぞれ結晶の配向性を異ならせることより、
各層に生じる内部応力が膜強度に対し十分小さなものと
なり、各層ごとに内部応力の発生状態を変えて各々の膜
が相互に補強し合う状態にすることができ、膜内にクラ
ックが生じにくく、歩留り低下を防げると共に、全体の
膜厚を増やせることにより、PDPの長寿命化、特性上
の信頼性向上が図れる。
【0010】
【0011】また、本発明に係るPDPの保護層形成方
法は必要に応じて、各MgO膜が、各々膜厚を異ならせ
て成膜されるものである。このように本発明によれば、
MgO積層膜の各層でそれぞれ膜厚を異ならせることに
より、各層ごとに内部応力の発生状態を変えて各々の膜
が相互に補強し合う状態にすることができ、膜内にクラ
ックを生じにくくして、膜厚をさらに増やしてPDPの
一層の長寿命化が図れる。
【0012】また、本発明に係るPDPの保護層形成方
法は必要に応じて、各MgO膜が、ガラス基板に対する
成膜方向をそれぞれ異ならせて成膜されるものである。
このように本発明によれば、MgO積層膜の各層でそれ
ぞれガラス基板に対する成膜方向を異ならせることによ
り、各層ごとに内部応力の発生状態を変えて各々の膜が
相互に補強し合う状態にすることができ、膜内にクラッ
クを生じにくくして、膜厚をさらに増やしてPDPの一
層の長寿命化が図れる。
【0013】また、本発明に係るPDPの保護層は、
記保護層形成方法に形成される保護層が、内部応力の異
なる複数の酸化マグネシウムの蒸着膜を積層されてなる
ものである。このように本発明によれば、内部応力の異
なる複数のMgOの蒸着膜を積層してMgO積層膜とし
て形成することにより、各層に生じる内部応力が膜強度
に対し十分小さなものとなり、MgO膜内にクラックを
生じにくくし、歩留り低下を防げると共に、膜厚を増や
してPDPの長寿命化、信頼性の向上を実現するMgO
膜が得られる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態に係
るPDPのMgO保護層及びそれを蒸着形成する製造装
置について図1及び図2に基づいて説明する。図1は本
実施形態に係るPDP保護層の蒸着工程部分を示す概略
構成説明図、図2は本実施形態に係るPDPの保護層形
成方法で得られるMgO積層膜の概略構成断面図であ
る。
【0015】前記図1において本実施形態に係るPDP
の保護層の蒸着工程部分は、ガラス基板1を載置された
トレー2を真空区域内へ導入するロードロック室10
と、ガラス基板1の予備加熱を行う加熱室11と、前記
トレー2に載置されたガラス基板1に対してMgO膜を
成膜する第一蒸着室12と、トレー2の搬送方向を左へ
90°転換する第一転換室13と、前記第一蒸着室12
で成膜されたガラス基板1の第1層膜に積層して第2層
膜のMgO膜を成膜する第二蒸着室14と、トレー2の
搬送方向を再度左へ90°転換する第二転換室15と、
前記ガラス基板1の第2層膜に積層して第3層膜のMg
O膜を成膜する第三蒸着室16と、第1、第2、第3膜
の各層膜が積層形成されたガラス基板1を冷却する冷却
室17と、この冷却室17で冷却されたガラス基板1を
載置したトレー2を真空区域外へ取出すアンロードロッ
ク室18と、トレー2をアンロードロック室18からロ
ードロック室10まで戻すトラバーサ19とを備える構
成である。
【0016】前記第一蒸着室12、第二蒸着室14、第
三蒸着室16は、各蒸着室の下面にスリット状の開口部
22が形成され、この開口部22の斜め下方に蒸発物質
のMgOを収納する坩堝20及びこの坩堝20を加熱す
る磁束発生部21からなる蒸発源が配設される構成であ
る。この開口部22は、図1中に示す矢印のトレー2の
搬送方向に対して直交する方向にスリット状の開口領域
として穿設される。
【0017】次に、前記構成に基づく製造装置による保
護層形成工程について説明する。まず、予め複数の電極
とそれらを覆う誘電体層が形成されたガラス基板1をト
レー2上に載置する。トレー2に載せられたガラス基板
1は、ガラス基板1を長方形とした場合、搬送方向に対
し短辺方向を平行にしてロードロック室10に搬送さ
れ、ここで雰囲気を真空排気して略真空状態とした後、
次の加熱室11に搬送される。加熱室11に搬送された
ガラス基板1は、100℃以上の高温に予備加熱された
後、第一蒸着室12に移され、第一蒸着室12で第1層
目のMgO膜を真空蒸着法により成膜される。この第一
蒸着室12では、ガラス基板1が一方の長辺を先頭にし
て搬送されながら通過成膜され、図2(A)に示す坩堝
20と開口部22aの位置関係により、図2(B)に示
される角度θをなす向きに成長させた第1層膜が得られ
る。
【0018】第一蒸着室12を通過したガラス基板1
は、第一転換室13に入り、トレー2と共に搬送方向を
短辺方向に平行な向きから長辺方向に平行な向きへと左
へ90°転換される。搬送方向を転換されたガラス基板
1は第二蒸着室14で第2層目のMgO膜を成膜され
る。この第二蒸着室14では、ガラス基板1は一方の短
辺を先頭にして搬送されながら通過成膜され、図2
(B)に示すように前記第一蒸着室12の場合とは異な
らせた向きに成長させた第2層膜が得られる。
【0019】第二蒸着室14を通過したガラス基板1は
第二転換室15に入り、再度、トレー2と共に搬送方向
を長辺方向に平行な向きから短辺方向に平行な向きへと
左へ90°転換されるが、第一蒸着室12における搬送
方向とは反対方向へ搬送される。搬送方向を転換された
ガラス基板1は、第三蒸着室16で第3層目のMgO膜
を成膜される。第三蒸着室16では、ガラス基板1が第
一蒸着室12の場合とは反対側となる長辺を先頭にして
搬送されながら通過成膜され、図2(B)に示すように
前記第二蒸着室14の場合とは異ならせた向きに成長さ
せた第3層膜が得られる。
【0020】第三蒸着室16を通過したガラス基板1
は、冷却室17に搬送されて冷却され、アンロードロッ
ク室18に搬送される。アンロードロック室18で略真
空状態から大気圧に戻した後、ガラス基板1がトレー2
ごとトラバーサ19へ搬出される。トラバーサ19上で
は、蒸着済のガラス基板1がトレー2から取出されると
共に、新たなガラス基板1がトレー2に載せられる。ト
レー2はアンロードロック室18側からロードロック室
10側へと移動し、以降、前記同様の工程が繰返され
る。
【0021】こうして形成されたMgO膜の保護層は、
蒸着部である第一蒸着室12、第二蒸着室14、第三蒸
着室16でそれぞれ成膜されることで、図2(B)に示
す第1層膜、第2層膜及び第3層膜からなる積層膜とし
て形成される。また、各々の蒸着室12、14、16で
は、搬送方向に対するガラス基板1の向きがそれぞれ異
なるため、図2(B)に示すように異なった成膜方向
(成長方向)の膜を形成することができる。こうして形
成された異方向の積層膜では、全体の膜厚が従来の単層
膜と同じでも、積層構造の各層ごとの膜厚が薄い分、生
じる内部応力が小さくなり、また異方向の膜の積層構造
にすることで各々の膜が膜相互間で補強し合って強度を
増しており、クラックが生じにくくなっている。
【0022】このように本実施の形態に係るPDPの保
護層形成では、保護層として単層膜とは異なる内部応力
状態となるMgO積層膜を形成するため、10000
以上の膜厚でも膜内にクラックが生じにくく、歩留りが
低下することがない。また、成膜の際、各蒸着室で成膜
条件(ガス流量、圧力、温度等)を調整することによ
り、PDPの特性を左右するMgO膜の結晶性(配向
性)や膜厚についても適切にコントロールすることがで
きることとなり、特性の改善を図れ、PDPの長寿命
化、信頼性向上が図れる。
【0023】なお、前記実施の形態においては、第一蒸
着室12、第二蒸着室14、第三蒸着室16の各開口部
22を蒸発源の坩堝20に対して斜め上方(仰角θ)に
配設する構成としたが、図3に示すように坩堝20の真
上に開口部22が位置する構成とすることもできる。こ
の構成に基づいて形成される第1層膜、第2層膜、第3
層膜は各々がガラス基板1に対して垂直に起立する形態
で成膜され、各層間が不連続な成膜構成となっており、
内部応力によるクラックの発生を極力抑制できる。
【0024】また、前記各実施形態における第1層膜、
第2層膜、第3層膜等の各膜厚を異ならせる場合には、
各蒸着室における開口部22の開口幅及びこの開口部2
2を通過する搬送速度等を調整することにより制御する
こともできる。また、前記各実施形態における第1層
膜、第2層膜、第3層膜等の各膜厚の特性を異ならせて
生成する場合には、異なる性質・成分の材料に基づいて
蒸発源から蒸発させることもできる。
【0025】また、第1層膜、第2層膜、第3層膜等の
成膜条件を異ならせる場合には、各蒸着室に供給される
ガス流量、圧力、温度等を調整することにより、各膜特
性を異ならせて生成して内部応力に対する耐力を向上さ
せることができる。
【0026】
【発明の効果】以上のように本発明においては、100
00オングストローム以上の膜厚とした場合でも積層構
造の各層の膜厚は薄くでき、また、MgO積層膜の各層
でそれぞれ結晶の配向性を異ならせることより、各層に
生じる内部応力が膜強度に対し十分小さなものとなり、
各層ごとに内部応力の発生状態を変えて各々の膜が相互
に補強し合う状態にすることができ、膜内にクラックが
生じにくく、歩留り低下を防げると共に、全体の膜厚を
増やせることにより、PDPの長寿命化、特性上の信頼
性向上が図れるという効果を奏する。
【0027】た、本発明においては、MgO積層膜
の各層でそれぞれ膜厚を異ならせることにより、各層ご
とに内部応力の発生状態を変えて各々の膜が相互に補強
し合う状態にすることができ、膜内にクラックを生じに
くくして、膜厚をさらに増やしてPDPの一層の長寿命
化が図れるという効果を有する。
【0028】また、本発明においては、MgO積層膜の
各層でそれぞれガラス基板に対する成膜方向を異ならせ
ることにより、各層ごとに内部応力の発生状態を変えて
各々の膜が相互に補強し合う状態にすることができ、膜
内にクラックを生じにくくして、膜厚をさらに増やして
PDPの一層の長寿命化が図れるという効果を有する。
【0029】また、本発明においては、内部応力の異な
る複数のMgOの蒸着膜を積層してMgO積層膜として
形成することにより、各層に生じる内部応力が膜強度に
対し十分小さなものとなり、MgO膜内にクラックを生
じにくくし、歩留り低下を防げると共に、膜厚を増やし
てPDPの長寿命化、信頼性の向上を実現するMgO膜
が得られるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係るPDPの保護層の蒸
着工程部分の概略構成説明図である。
【図2】本発明の一実施形態に係るPDPの保護層形成
方法で得られたMgO積層膜の成膜態様図及び断面図で
ある。
【図3】本発明の他の実施形態に係るPDPの保護層形
成方法で得られたMgO積層膜の断面図である。
【図4】従来のPDPの製造装置の蒸着工程部分の概略
構成説明図である。
【図5】従来のPDPの製造方法で得られたMgO膜の
断面図である。
【符号の説明】
1 ガラス基板 2 トレー 10、101 ロードロック室 11、102 加熱室 12 第一蒸着室 13 第一転換室 14 第二蒸着室 15 第二転換室 16 第三蒸着室 17、104 冷却室 18、105 アンロードロック室 19 トラバーサ 20 坩堝 21 加熱手段 22 開口部 103 蒸着室 106 リターンコンベア

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ガラス基板に形成した電極上に誘電体層を
    介して設けられたプラズマディスプレイパネルの保護層
    の形成方法において、 前記誘電体層の表面に酸化マグネシウムを所定の膜厚且
    つ所定配向結晶となるように蒸着する工程を複数回行
    い、各々結晶の配向性を異ならせて成膜された酸化マグ
    ネシウム膜が複数積層した保護層を形成したことを特徴
    とするプラズマディスプレイパネルの保護層形成方法。
  2. 【請求項2】前記請求項1に記載のプラズマディスプレ
    イパネルの保護層形成方法において、 前記各酸化マグネシウム膜が、各々膜厚を異ならせて成
    膜されることを特徴とするプラズマディスプレイパネル
    の保護層形成方法。
  3. 【請求項3】前記請求項1または2に記載のプラズマデ
    ィスプレイパネルの保護層形成方法において、 前記各酸化マグネシウム膜が、ガラス基板に対する成膜
    方向をそれぞれ異ならせて成膜されることを特徴とする
    プラズマディスプレイパネルの保護層形成方法。
  4. 【請求項4】 プラズマディスプレイパネルの電極上に
    誘電体層を介して設けられた保護層において、 前記保護層が、各々結晶の配向性を異ならせて成膜され
    内部応力の異なる複数の酸化マグネシウムの蒸着膜
    なることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの
    保護層。
JP34484497A 1997-12-15 1997-12-15 プラズマディスプレイパネルの保護層及び保護層形成方法 Expired - Fee Related JP3377426B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34484497A JP3377426B2 (ja) 1997-12-15 1997-12-15 プラズマディスプレイパネルの保護層及び保護層形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34484497A JP3377426B2 (ja) 1997-12-15 1997-12-15 プラズマディスプレイパネルの保護層及び保護層形成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11176325A JPH11176325A (ja) 1999-07-02
JP3377426B2 true JP3377426B2 (ja) 2003-02-17

Family

ID=18372425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34484497A Expired - Fee Related JP3377426B2 (ja) 1997-12-15 1997-12-15 プラズマディスプレイパネルの保護層及び保護層形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3377426B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001086685A1 (fr) * 2000-05-11 2001-11-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Film mince a emission d'electrons, ecran a plasma comportant un tel film et procede de fabrication dudit film et dudit ecran
KR100370075B1 (ko) * 2000-07-25 2003-01-30 엘지전자 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널 제조설비 및 제조공정
JP4878425B2 (ja) * 2000-08-29 2012-02-15 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法ならびにプラズマディスプレイパネル表示装置
US7348729B2 (en) 2000-08-29 2008-03-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Plasma display panel and production method thereof and plasma display panel display unit
JP4626035B2 (ja) * 2000-09-08 2011-02-02 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイ装置の製造方法
KR100451730B1 (ko) * 2001-11-13 2004-10-08 엘지전자 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널 제조설비 및 제조공정
JP4800895B2 (ja) * 2006-10-11 2011-10-26 パナソニック株式会社 プラズマディスプレイパネルとその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11176325A (ja) 1999-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2845856B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
US5540820A (en) Thin film forming method
EP0385475A2 (en) Method of forming a transparent conductive film
US7678241B2 (en) Film forming apparatus, substrate for forming oxide thin film and production method thereof
WO2012090395A1 (ja) 製造装置
JP3377426B2 (ja) プラズマディスプレイパネルの保護層及び保護層形成方法
US10151024B2 (en) Method for producing transparent conductive film
JP3836184B2 (ja) 酸化マグネシウム膜の製造方法
US20050264212A1 (en) Plasma display panel and method for making a plasma display panel
US20050095809A1 (en) Method of film-forming transparent electrode layer and device therefor
US8628369B2 (en) Method of fabricating organic light emitting diode display device
US8043716B2 (en) Gradient thin film
US6210545B1 (en) Method for forming a perovskite thin film using a sputtering method with a fully oxidized perovskite target
JP2006328456A (ja) スパッタリング装置及びスパッタリング方法、プラズマディスプレイパネルの製造装置及び製造方法
JPH11111466A (ja) 有機el素子の電極
JPH11335815A (ja) 透明導電膜付き基板および成膜装置
KR100810629B1 (ko) 대향 타겟식 스퍼터링 장치를 이용한 유기 발광 소자의제조방법
KR20170034261A (ko) 배리어 필름을 제조하기 위한 방법 및 장치
JP4381649B2 (ja) プラズマディスプレイパネルの製造方法および誘電体保護膜製造装置
Kato et al. Crystal growth of MgO thin films deposited on ZnO underlayers by magnetron sputtering
JPH11149865A (ja) プラズマディスプレイパネルの製造方法
JP3727693B2 (ja) TiN膜製造方法
JPS6222430A (ja) タングステン膜のスパツタリング形成法
JP2013109004A (ja) 光学フィルタおよびその製造方法
US20060013972A1 (en) Multilayer sheet and package body made from the multilayer sheet for packaging food, medicine or tool

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20021119

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S131 Request for trust registration of transfer of right

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313131

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071206

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081206

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081206

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091206

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees