JP3374669B2 - 半導体素子の印加電圧検出回路 - Google Patents

半導体素子の印加電圧検出回路

Info

Publication number
JP3374669B2
JP3374669B2 JP23933996A JP23933996A JP3374669B2 JP 3374669 B2 JP3374669 B2 JP 3374669B2 JP 23933996 A JP23933996 A JP 23933996A JP 23933996 A JP23933996 A JP 23933996A JP 3374669 B2 JP3374669 B2 JP 3374669B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
circuit
current limiting
voltage
parallel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP23933996A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1084666A (ja
Inventor
啓二 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP23933996A priority Critical patent/JP3374669B2/ja
Publication of JPH1084666A publication Critical patent/JPH1084666A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3374669B2 publication Critical patent/JP3374669B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Power Conversion In General (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は電力変換装置など
を構成する半導体素子への印加電圧の有無を検出する印
加電圧検出回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種の印加電圧検出回路として、例え
ば特開昭54−61865号公報に記載されたものがあ
る。この印加電圧検出回路では、逆並列接続した発光素
子に電流制限抵抗を直列接続した直列体をアンチシリー
スに接続した定電圧素子と並列接続してサイリスタのア
ノード・カソード間に分圧抵抗を介して接続し、サイリ
スタのアノード・カソード間の順電圧および逆電圧それ
ぞれの検出出力を得るようになっている。第5図はこの
印加電圧検出回路の構成図であり、1はサイリスタ、2
は電流制限抵抗、3は電圧リミット回路、4は発光素子
電流の制限抵抗、51 、52 は発光素子、61 、62
ライトガイド、71 、72 は受光回路である。発光素子
1 はサイリスタ1の印加電圧が順方向のとき、発光素
子52 はサイリスタ1の印加電圧が逆方向のときそれぞ
れ光信号を生じ、受光回路71 、72の出力によってサ
イリスタ1への電圧印加方向を検出できる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の印加電圧検出回
路は、以上の様に構成されているので、つぎのような問
題点がある。すなわち、発光素子にはある値の順方向電
圧降下があるため、発光素子51 、52 のいずれかが短
絡故障した場合、電流制限抵抗4を流れる電流は短絡し
た側の発光素子を経由して流れ、正常な側の発光素子を
動作させることがなくなり印加電圧検出回路全体が動作
不能になるという欠点があった。この発明は、前記のよ
うな問題点を解消するためになされたものであり、発光
素子の一つが短絡故障した場合でもサイリスタのアノー
ド・カソード間の順電圧および逆電圧それぞれの検出出
力を得ることができる印加電圧検出回路を提供すること
を目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明による半導体素
子の印加電圧検出回路は、第1の電流制限抵抗と第2の
電流制限抵抗と第1の発光素子と第3の電流制限抵抗と
第2の発光素子を直列に接続して半導体素子と並列に接
続するとともに、第2の電流制限抵抗と第1の発光素子
の直列接続体と並列に第1の電圧リミット回路を、第3
の電流制限抵抗と第2の発光素子の直列接続体と並列に
第2の電圧リミット回路を接続したものである。
【0005】また、半導体素子に分担電圧平衡回路抵抗
を並列接続しているとき、電圧分担平衡回路抵抗を半導
体素子の分担電圧を所定の分圧比で分圧する一対の抵抗
で構成するとともに一方の電圧分担平衡回路抵抗に第2
の電流制限抵抗と第1の発光素子と第3の電流制限抵抗
と第2の発光素子を直列に接続して並列に接続するとと
もに、第2の電流制限抵抗と第1の発光素子の直列接続
体と並列に第1の電圧リミット回路を、第3の電流制限
抵抗と第2の発光素子の直列接続体と並列に第2の電圧
リミット回路を接続したものである。
【0006】さらに、発光素子の光出力に対応した出力
を生ずる受光回路と、この受光回路に感度調整機能設け
たものである。
【0007】
【発明の実施の形態】
実施形態1.図1はこの発明による半導体素子の印加電
圧検出回路の第1の実施形態を示す回路図である。図に
おいて、1はサイリスタ、2は電流制限抵抗、31 、3
2 は電圧リミット回路、41 、42 は発光素子電流の制
限抵抗、511、512、521、522は発光素子、611、6
12、621、622はライトガイド、711、712、721、7
22は受光回路である。
【0008】いま、発光素子511が短絡故障した場合、
発光素子512は上述した理由で動作しなくなるが、発光
素子521、522は正常に動作するためサイリスタ1のア
ノード・カソード間の順電圧および逆電圧それぞれを検
出することができる。ここでは説明の都合上、短絡故障
するものを発光素子511としたが、いずれの発光素子が
短絡故障した場合でも同様に動作することはいうまでも
ない。もちろん、いずれかの発光素子が短絡故障した場
合のみでなくいずれかの発光素子部分で回路が開放する
ように故障した場合でもサイリスタ1のアノード・カソ
ード間の順電圧および逆電圧それぞれを検出することが
できる。
【0009】なお、上記説明では4つの発光素子511
12、521、522によってアノード・カソード間印加電
圧の2つの極性をそれぞれ独立に検出するものとした
が、一方の電圧極性のみを検出する場合は、発光素子5
11、512と521、522、ライトガイド611、612
21、622および受光回路711、712と721、722を検
出するべき極性の側のもののみとして構成すればよい。
また、アノード・カソード間印加電圧の2つの極性を一
括して検出する場合は、発光素子として電圧極性に関係
なく発光する発光手段を用いればよい。もちろん、図1
における受光回路711、712、721、722のうちの711
と721あるいは712と722に発光素子511と512からの
光出力、521と522からの光出力をあわせて結合するよ
うに構成してもよい。
【0010】なお、発光素子511、512と521、522
電圧リミット回路31 、32 にそれぞれ独立に接続する
ものとしたが、図2に示すように共通接続線を用いるよ
うにすれば配線数を節減できる。さらに、図3に示すよ
うに、サイリスタ1の分担電圧平衡回路抵抗8および9
によってアノード・カソード間印加電圧を分圧したうえ
で検出するように構成してもよい。
【0011】発光素子の発光効率と受光回路の受信感度
のバラツキによる検出不良を防止するために、図4に示
すように受光回路に感度調整機能をもたせるとよい。図
において、7a は受光素子、7b は入力インピーダンス
および増幅度がほぼ無限大とみなせる増幅器、7c は抵
抗、7d はコンパレータ、7e は調整抵抗である。各発
光素子および受光素子7a の特性にあわせて調整抵抗7
e によってコンパレータ7d の動作点を調整し、アノー
ド・カソード間印加電圧の検出点を一致させればよい。
【0012】
【発明の効果】この発明による半導体素子の印加電圧検
出回路は、第1の電流制限抵抗と第2の電流制限抵抗と
第1の発光素子と第3の電流制限抵抗と第2の発光素子
を直列に接続して半導体素子と並列に接続するととも
に、第2の電流制限抵抗と第1の発光素子の直列接続体
と並列に第1の電圧リミット回路を、第3の電流制限抵
抗と第2の発光素子の直列接続体と並列に第2の電圧リ
ミット回路を接続したので、発光素子のいずれかが短絡
あるいは開放故障しても、半導体素子のアノード・カソ
ード間の順電圧および逆電圧それぞれを検出することが
できる。
【0013】また、半導体素子に分担電圧平衡回路抵抗
を並列接続しているとき、電圧分担平衡回路抵抗を半導
体素子の分担電圧を所定の分圧比で分圧する一対の抵抗
で構成するとともに一方の電圧分担平衡回路抵抗に第2
の電流制限抵抗と第1の発光素子と第3の電流制限抵抗
と第2の発光素子を直列に接続して並列に接続するとと
もに、第2の電流制限抵抗と第1の発光素子の直列接続
体と並列に第1の電圧リミット回路を、第3の電流制限
抵抗と第2の発光素子の直列接続体と並列に第2の電圧
リミット回路を接続したので、印加電圧検出用の抵抗器
を省略することができる。
【0014】さらに、発光素子の光出力に対応した出力
を生ずる受光回路と、この受光回路に感度調整機能設け
たので、各受光回路の電圧検出レベルを一致させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明による半導体素子の印加電圧検出回
路の第1の実施形態を示す回路図である。
【図2】 この発明による半導体素子の印加電圧検出回
路の変形例を示す回路図である。
【図3】 この発明による半導体素子の印加電圧検出回
路の他の変形例を示す回路図である。
【図4】 この発明による半導体素子の印加電圧検出回
路の受光回路の詳細を示す回路図である。
【図5】 従来の半導体素子の印加電圧検出回路を示す
回路図である。
【符号の説明】
1 サイリスタ 2 第1の電流制限抵抗 3
電圧リミット回路 4 第2の電流制限抵抗 5 発光素子 6
ライトガイド 7 受光回路

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子への印加電圧の有無を検出す
    る印加電圧検出回路において、第1の電流制限抵抗と第
    2の電流制限抵抗と第1の発光素子と第3の電流制限抵
    抗と第2の発光素子を直列に接続して前記半導体素子と
    並列に接続するとともに、前記第2の電流制限抵抗と前
    記第1の発光素子の直列接続体と並列に第1の電圧リミ
    ット回路を、前記第3の電流制限抵抗と前記第2の発光
    素子の直列接続体と並列に第2の電圧リミット回路を接
    続したことを特徴とする半導体素子の印加電圧検出回
    路。
  2. 【請求項2】 前記半導体素子に分担電圧平衡回路抵抗
    を並列接続しているとき、前記電圧分担平衡回路抵抗を
    前記半導体素子の分担電圧を所定の分圧比で分圧する一
    対の抵抗で構成するとともに一方の電圧分担平衡回路抵
    抗に前記第2の電流制限抵抗と第1の発光素子と第3の
    電流制限抵抗と第2の発光素子を直列に接続して並列に
    接続するとともに、前記第2の電流制限抵抗と前記第1
    の発光素子の直列接続体と並列に第1の電圧リミット回
    路を、前記第3の電流制限抵抗と前記第2の発光素子の
    直列接続体と並列に第2の電圧リミット回路を接続した
    ことを特徴とする請求項1記載の半導体素子の印加電圧
    検出回路。
  3. 【請求項3】 前記発光素子の光出力に対応した出力を
    生ずる受光回路と、この受光回路に感度調整機能設けた
    ことを特徴とする請求項1または請求項2いずれかに記
    載の半導体素子の印加電圧検出回路。
JP23933996A 1996-09-10 1996-09-10 半導体素子の印加電圧検出回路 Expired - Fee Related JP3374669B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23933996A JP3374669B2 (ja) 1996-09-10 1996-09-10 半導体素子の印加電圧検出回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23933996A JP3374669B2 (ja) 1996-09-10 1996-09-10 半導体素子の印加電圧検出回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1084666A JPH1084666A (ja) 1998-03-31
JP3374669B2 true JP3374669B2 (ja) 2003-02-10

Family

ID=17043270

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23933996A Expired - Fee Related JP3374669B2 (ja) 1996-09-10 1996-09-10 半導体素子の印加電圧検出回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3374669B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1084666A (ja) 1998-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2019134395A1 (zh) 光强检测单元、显示面板和检测光强的方法
NL8201339A (nl) Beschermingsketen voor een datastuurketen.
JP3374669B2 (ja) 半導体素子の印加電圧検出回路
US4005315A (en) Triple state to binary converter
JP3277049B2 (ja) 微粒子検出回路
US9905595B2 (en) Photoelectric sensor
JP4355873B2 (ja) 電圧電流極性検出装置
US5768342A (en) Telephone system loop current detector
JPH11160370A (ja) 異常電圧検出回路
US4633380A (en) Applied voltage detecting device for electric power convertor
JPH02156728A (ja) A/d変換器のバイアス回路
JP4134380B2 (ja) 電圧電流極性検出装置とそれを備えた電力変換装置
JP2723960B2 (ja) 光論理演算システム
JPH04238272A (ja) 漏洩電流検知機能を備えた電力供給回路
JPS6276329A (ja) 光受信回路
JPH02157915A (ja) アナログ出力回路の故障検出装置
JP3578941B2 (ja) 多出力低電圧回路における故障検出回路
JPH11150461A (ja) 高電圧スイッチ回路
CA1242247A (en) Multiple level voltage comparator circuit
US4054803A (en) Matcher circuit
SU1765777A1 (ru) Устройство дл преобразовани напр жени в ток
JPH07333262A (ja) 電圧低下監視装置
JPH0342538Y2 (ja)
JPH085456A (ja) 光センサ回路および光センサ回路を用いた制御装置
JP2533432B2 (ja) 位相検出回路

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees