JP3361938B2 - 磁気ディスクの有効エリアの欠陥検査方法 - Google Patents
磁気ディスクの有効エリアの欠陥検査方法Info
- Publication number
- JP3361938B2 JP3361938B2 JP23986496A JP23986496A JP3361938B2 JP 3361938 B2 JP3361938 B2 JP 3361938B2 JP 23986496 A JP23986496 A JP 23986496A JP 23986496 A JP23986496 A JP 23986496A JP 3361938 B2 JP3361938 B2 JP 3361938B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- peripheral edge
- magnetic disk
- effective area
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Management Or Editing Of Information On Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、磁気ディスクの
有効エリアの表面に存在する欠陥を検査する方法に関す
る。 【０００２】 【従来の技術】コンピュータシステムの記録媒体に使用
されるハード磁気ディスクは、素材の鏡面ディスク、ま
たは磁気膜が塗布されたディスク（便宜上これらを総称
して磁気ディスクまたは単にディスクという）の段階
で、表面に存在する欠陥の有無が検査される。図２は、
欠陥検査装置１０の要部の構成を示し、回転機構２と検
査光学系３および欠陥検出処理部４とにより構成され、
回転機構２には被検査のディスク１が装着される。図２
において、ディスク１には、中心孔に対する内周エッジ
１ａと外周円に対する外周エッジ１ｂとがあり、内周エ
ッジ１ａと外周エッジ１ｂは、それぞれ斜め方向にカッ
トされて、斜面をなすチャンファＣＨ1,ＣＨ2 が形成さ
れており、両チャンファＣＨ1,ＣＨ2 の内側のハッチン
グで示す範囲が、データ記録などに対する有効エリア１
ａとされている。被検査のディスク１は、回転機構２の
スピンドル21に装着されてモータ（Ｍ）22により回転
し、その表面に対して検査光学系３よりレーザビームＬ
T が投射されてスポットＳP が形成され、これがディス
ク１の半径Ｒの方向に移動して、内周エッジ１ａから外
周エッジ１ｂまでの全範囲がスパイラル状に走査され
る。 【０００３】表面に欠陥Ｋが存在すると、これがスポッ
トＳP を散乱し、散乱光ＳR は検査光学系３に受光さ
れ、その受光信号は欠陥検出処理部４の欠陥検出回路41
に入力して、表面欠陥Ｋとその大きさが検出される。検
出された欠陥データはＭＰＵ42に入力して、これに内蔵
されたデータ処理プログラム（ＰＧ）により処理され
て、表面欠陥Ｋは大きさ別に個数がカウントされる。一
方、スピンドル21にはその回転角度を検出するロータリ
エンコーダ23が設けられ、これが出力する角度信号は、
上記の欠陥データとともにＭＰＵ42に入力し、これとス
ポットＳP の走査位置とにより、各欠陥が存在する位置
の座標が算出され、この各座標データと各欠陥の大きさ
別の個数データが編集され、プリンタ（ＰＲ）43により
大きさ別の個数はプリントされ、その分布状態がマップ
表示される。 【０００４】図３は両チャンファＣＨ1,ＣＨ2 の断面を
示す。上記のスポットＳP の走査においては、両チャン
ファＣＨ1,ＣＨ2 を除外して有効エリア１ｃのみを走査
することが望ましいが、スポットＳP の直径はかなり大
きく、またディスク１が偏心することもありうるので、
やむなく上記したように全範囲が走査されている。この
ため両チャンファＣＨ1,ＣＨ2 は、それぞれ散乱光ＳR
を散乱して検査光学系３に受光され、欠陥検出回路41に
より表面欠陥Ｋとして検出される。しかしこれは真の表
面欠陥Ｋではなく、いわば疑似欠陥Ｋ’であるにもかか
わらず、ＭＰＵ42により大きさ別にカウントされ、これ
が有効エリア１ｃの表面欠陥Ｋの個数に加算されてプリ
ンタ43によりプリントされ、またマツプ表示にも疑似欠
陥Ｋ’が加えられている。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】上記の疑似欠陥Ｋ’は
無益有害であり、これが加わった個数データとマップ表
示はともに不正確で、その信頼性が甚だしく損なわれ
る。そこで疑似欠陥Ｋ’のデータを除去することが必要
である。この発明は以上に鑑みてなされたもので、疑似
欠陥Ｋ’を除去して真の表面欠陥Ｋのデータを出力する
ことを課題とする。 【０００６】 【課題を解決するための手段】この発明は、上記の課題
を解決した磁気ディスクの表面欠陥検査方法であって、
回転するディスクに対して、検査光学系によりレーザス
ポットＳＰ を投射して、内周エッジから外周エッジま
でのディスクの全範囲をスパイラル状に走査し、全範囲
内におけるスポットＳＰ の各散乱光を検査光学系によ
り受光し、その受光信号を欠陥検出回路に入力して全範
囲内の各欠陥を検出する。検出された各欠陥のうちの複
数個が連続する円弧の範囲の散乱光による欠陥を、両チ
ャンファの散乱光による疑似欠陥と判定して除去する手
段を設け、この手段により疑似欠陥のデータを除去し
て、内周エッジと外周エッジ間の両チャンファを除外し
た有効エリアの表面欠陥データを出力するものである。 【０００７】 【発明の実施の形態】上記の欠陥検査方法においては、
回転するディスクの内周エッジから外周エッジまでのデ
ィスクの全範囲がスポットＳＰ によりスパイラル状に
走査され、この全範囲内におけるスポットＳＰ の各散
乱光を受光した検査光学系の受光信号が、欠陥検出回路
に入力されてこの範囲内の各欠陥が検出される。これに
対してこの各欠陥うちの疑似欠陥を判定して除去する手
段が設けられる。 【０００８】ここで、疑似欠陥の判定除去手段を原理的
に説明すると、チャンファはディスク面上で円形をなし
ており、その全周にはスポットＳP が照射されるが、か
ならずしもこれを散乱せず、さりとて極めて小部分が孤
立分散して散乱することもなく、ほとんどの場合ある程
度の長さの円弧の範囲が連続して散乱するので、これが
連続した複数個の欠陥として検出される。ただし、複数
個の欠陥が厳密には連続せず、部分的に飛びとびがあっ
ても全体としてほぼ連続しているときは、連続している
と見なすものとする。そこで複数個の欠陥がこのように
連続しているとき、これをチャンファの散乱光による疑
似欠陥と判定する。またこの場合、複数個の欠陥の連続
性の判定方法としては、各欠陥の座標が前記したロータ
リエンコーダの角度信号と、スポットＳP の走査位置と
により判明するので、データ処理により各座標が連続し
ていることを識別することにより、各欠陥の連続性が判
定される。 【０００９】上記の判定除去手段により疑似欠陥のデー
タが除去されて、有効エリア内の表面欠陥のデータのみ
が出力されて、表面欠陥の個数が正確にプリントされ、
また分布状態も正しくマップ表示され、欠陥検査データ
の信頼性が損なわれることなく、疑似欠陥が加算された
場合に比較すればむしろ向上する。また、これにより、
有効エリアとチャンファエリアとを区分けしないで欠陥
検査ができるので、有効エリアの限界ぎりぎりまで欠陥
検出が可能になる。 【００１０】 【実施例】図１は、この発明における欠陥検査装置１
０’の一実施例の要部構成を示す。欠陥検査装置１０’
は、前記した図２の欠陥検査装置１０と同一の構成であ
るが、ただし、ＭＰＵ42に疑似欠陥判定除去プログラム
を付加したもので、ＭＰＵ42を除く各部の動作は欠陥検
査装置１０と同一である。従来と同様に、被検査の鏡面
ディスク１は回転機構２のスピンドル21に装着されてモ
ータ（Ｍ）22により回転し、その表面に対して検査光学
系３より投射されたレーザスポットＳP は、内周エッジ
１ａから外周エッジ１ｂまでのディスク１の全範囲をス
パイラル状に走査して、表面欠陥Ｋと両チャンファとに
よるスポットＳP の散乱光ＳR がともに検査光学系３に
受光され、その受光信号は欠陥検出回路41に入力して、
受光した散乱光ＳR に対する各欠陥と、それぞれの大き
さとが検出される。 【００１１】各検出信号はＭＰＵ42に入力して、付加さ
れた疑似欠陥判定除去プログラムにより処理され、各欠
陥のうちの連続する複数個の欠陥は疑似欠陥Ｋ’と判定
されて除去され、有効エリア１ｃ内の表面欠陥Ｋのみが
大きさ別にカウントされて、プリンタ（ＰＲ）43により
プリントされ、その分布状態がマップ表示される。 【００１２】 【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明の欠陥検
査方法においては、磁気ディスクの中心孔の内周エッジ
と外周エッジに形成された両チャンファによる疑似欠陥
に対して、これを判定して除去する手段が設けられ、こ
の手段により無益有害な疑似欠陥が除去されて、内周エ
ッジと外周エッジ間の、データ記録などに使用する有効
エリアの表面に存在する欠陥のデータのみを出力するも
ので、磁気ディスクの素材の鏡面ディスクまたは磁気膜
が塗布されたディスクの欠陥検査における、検査データ
の信頼性の向上に寄与する効果には大きいものがある。
有効エリアの表面に存在する欠陥を検査する方法に関す
る。 【０００２】 【従来の技術】コンピュータシステムの記録媒体に使用
されるハード磁気ディスクは、素材の鏡面ディスク、ま
たは磁気膜が塗布されたディスク（便宜上これらを総称
して磁気ディスクまたは単にディスクという）の段階
で、表面に存在する欠陥の有無が検査される。図２は、
欠陥検査装置１０の要部の構成を示し、回転機構２と検
査光学系３および欠陥検出処理部４とにより構成され、
回転機構２には被検査のディスク１が装着される。図２
において、ディスク１には、中心孔に対する内周エッジ
１ａと外周円に対する外周エッジ１ｂとがあり、内周エ
ッジ１ａと外周エッジ１ｂは、それぞれ斜め方向にカッ
トされて、斜面をなすチャンファＣＨ1,ＣＨ2 が形成さ
れており、両チャンファＣＨ1,ＣＨ2 の内側のハッチン
グで示す範囲が、データ記録などに対する有効エリア１
ａとされている。被検査のディスク１は、回転機構２の
スピンドル21に装着されてモータ（Ｍ）22により回転
し、その表面に対して検査光学系３よりレーザビームＬ
T が投射されてスポットＳP が形成され、これがディス
ク１の半径Ｒの方向に移動して、内周エッジ１ａから外
周エッジ１ｂまでの全範囲がスパイラル状に走査され
る。 【０００３】表面に欠陥Ｋが存在すると、これがスポッ
トＳP を散乱し、散乱光ＳR は検査光学系３に受光さ
れ、その受光信号は欠陥検出処理部４の欠陥検出回路41
に入力して、表面欠陥Ｋとその大きさが検出される。検
出された欠陥データはＭＰＵ42に入力して、これに内蔵
されたデータ処理プログラム（ＰＧ）により処理され
て、表面欠陥Ｋは大きさ別に個数がカウントされる。一
方、スピンドル21にはその回転角度を検出するロータリ
エンコーダ23が設けられ、これが出力する角度信号は、
上記の欠陥データとともにＭＰＵ42に入力し、これとス
ポットＳP の走査位置とにより、各欠陥が存在する位置
の座標が算出され、この各座標データと各欠陥の大きさ
別の個数データが編集され、プリンタ（ＰＲ）43により
大きさ別の個数はプリントされ、その分布状態がマップ
表示される。 【０００４】図３は両チャンファＣＨ1,ＣＨ2 の断面を
示す。上記のスポットＳP の走査においては、両チャン
ファＣＨ1,ＣＨ2 を除外して有効エリア１ｃのみを走査
することが望ましいが、スポットＳP の直径はかなり大
きく、またディスク１が偏心することもありうるので、
やむなく上記したように全範囲が走査されている。この
ため両チャンファＣＨ1,ＣＨ2 は、それぞれ散乱光ＳR
を散乱して検査光学系３に受光され、欠陥検出回路41に
より表面欠陥Ｋとして検出される。しかしこれは真の表
面欠陥Ｋではなく、いわば疑似欠陥Ｋ’であるにもかか
わらず、ＭＰＵ42により大きさ別にカウントされ、これ
が有効エリア１ｃの表面欠陥Ｋの個数に加算されてプリ
ンタ43によりプリントされ、またマツプ表示にも疑似欠
陥Ｋ’が加えられている。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】上記の疑似欠陥Ｋ’は
無益有害であり、これが加わった個数データとマップ表
示はともに不正確で、その信頼性が甚だしく損なわれ
る。そこで疑似欠陥Ｋ’のデータを除去することが必要
である。この発明は以上に鑑みてなされたもので、疑似
欠陥Ｋ’を除去して真の表面欠陥Ｋのデータを出力する
ことを課題とする。 【０００６】 【課題を解決するための手段】この発明は、上記の課題
を解決した磁気ディスクの表面欠陥検査方法であって、
回転するディスクに対して、検査光学系によりレーザス
ポットＳＰ を投射して、内周エッジから外周エッジま
でのディスクの全範囲をスパイラル状に走査し、全範囲
内におけるスポットＳＰ の各散乱光を検査光学系によ
り受光し、その受光信号を欠陥検出回路に入力して全範
囲内の各欠陥を検出する。検出された各欠陥のうちの複
数個が連続する円弧の範囲の散乱光による欠陥を、両チ
ャンファの散乱光による疑似欠陥と判定して除去する手
段を設け、この手段により疑似欠陥のデータを除去し
て、内周エッジと外周エッジ間の両チャンファを除外し
た有効エリアの表面欠陥データを出力するものである。 【０００７】 【発明の実施の形態】上記の欠陥検査方法においては、
回転するディスクの内周エッジから外周エッジまでのデ
ィスクの全範囲がスポットＳＰ によりスパイラル状に
走査され、この全範囲内におけるスポットＳＰ の各散
乱光を受光した検査光学系の受光信号が、欠陥検出回路
に入力されてこの範囲内の各欠陥が検出される。これに
対してこの各欠陥うちの疑似欠陥を判定して除去する手
段が設けられる。 【０００８】ここで、疑似欠陥の判定除去手段を原理的
に説明すると、チャンファはディスク面上で円形をなし
ており、その全周にはスポットＳP が照射されるが、か
ならずしもこれを散乱せず、さりとて極めて小部分が孤
立分散して散乱することもなく、ほとんどの場合ある程
度の長さの円弧の範囲が連続して散乱するので、これが
連続した複数個の欠陥として検出される。ただし、複数
個の欠陥が厳密には連続せず、部分的に飛びとびがあっ
ても全体としてほぼ連続しているときは、連続している
と見なすものとする。そこで複数個の欠陥がこのように
連続しているとき、これをチャンファの散乱光による疑
似欠陥と判定する。またこの場合、複数個の欠陥の連続
性の判定方法としては、各欠陥の座標が前記したロータ
リエンコーダの角度信号と、スポットＳP の走査位置と
により判明するので、データ処理により各座標が連続し
ていることを識別することにより、各欠陥の連続性が判
定される。 【０００９】上記の判定除去手段により疑似欠陥のデー
タが除去されて、有効エリア内の表面欠陥のデータのみ
が出力されて、表面欠陥の個数が正確にプリントされ、
また分布状態も正しくマップ表示され、欠陥検査データ
の信頼性が損なわれることなく、疑似欠陥が加算された
場合に比較すればむしろ向上する。また、これにより、
有効エリアとチャンファエリアとを区分けしないで欠陥
検査ができるので、有効エリアの限界ぎりぎりまで欠陥
検出が可能になる。 【００１０】 【実施例】図１は、この発明における欠陥検査装置１
０’の一実施例の要部構成を示す。欠陥検査装置１０’
は、前記した図２の欠陥検査装置１０と同一の構成であ
るが、ただし、ＭＰＵ42に疑似欠陥判定除去プログラム
を付加したもので、ＭＰＵ42を除く各部の動作は欠陥検
査装置１０と同一である。従来と同様に、被検査の鏡面
ディスク１は回転機構２のスピンドル21に装着されてモ
ータ（Ｍ）22により回転し、その表面に対して検査光学
系３より投射されたレーザスポットＳP は、内周エッジ
１ａから外周エッジ１ｂまでのディスク１の全範囲をス
パイラル状に走査して、表面欠陥Ｋと両チャンファとに
よるスポットＳP の散乱光ＳR がともに検査光学系３に
受光され、その受光信号は欠陥検出回路41に入力して、
受光した散乱光ＳR に対する各欠陥と、それぞれの大き
さとが検出される。 【００１１】各検出信号はＭＰＵ42に入力して、付加さ
れた疑似欠陥判定除去プログラムにより処理され、各欠
陥のうちの連続する複数個の欠陥は疑似欠陥Ｋ’と判定
されて除去され、有効エリア１ｃ内の表面欠陥Ｋのみが
大きさ別にカウントされて、プリンタ（ＰＲ）43により
プリントされ、その分布状態がマップ表示される。 【００１２】 【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明の欠陥検
査方法においては、磁気ディスクの中心孔の内周エッジ
と外周エッジに形成された両チャンファによる疑似欠陥
に対して、これを判定して除去する手段が設けられ、こ
の手段により無益有害な疑似欠陥が除去されて、内周エ
ッジと外周エッジ間の、データ記録などに使用する有効
エリアの表面に存在する欠陥のデータのみを出力するも
ので、磁気ディスクの素材の鏡面ディスクまたは磁気膜
が塗布されたディスクの欠陥検査における、検査データ
の信頼性の向上に寄与する効果には大きいものがある。
【図面の簡単な説明】
【図１】 図１は、この発明における欠陥検査装置の一
実施例の要部の概略構成図である。 【図２】 図２は、欠陥検査装置の要部の概略構成図
と、被検査のディスクの説明図である。 【図３】 図３は、内周エッジと外周エッジのチャンフ
ァの断面図である。 【符号の説明】 １…磁気ディスク（ディスク）、１ａ…内周エッジ、１
ｂ…外周エッジ、１c …有効エリア、２…回転機構、21
…スピンドル、22…モータ、23…ロータリエンコーダ、
３…検査光学系、４…欠陥検出処理部、41…欠陥検出回
路、42…ＭＰＵ、43…プリンタ（ＰＲ） １０…従来の欠陥検査装置、１０’…この発明における
欠陥検査装置、ＬT …レーザビーム、ＳP …レーザスポ
ット、ＳR …散乱光、Ｋ…表面欠陥、Ｋ’…疑似欠陥、
ＣＨ…チャンファ。
実施例の要部の概略構成図である。 【図２】 図２は、欠陥検査装置の要部の概略構成図
と、被検査のディスクの説明図である。 【図３】 図３は、内周エッジと外周エッジのチャンフ
ァの断面図である。 【符号の説明】 １…磁気ディスク（ディスク）、１ａ…内周エッジ、１
ｂ…外周エッジ、１c …有効エリア、２…回転機構、21
…スピンドル、22…モータ、23…ロータリエンコーダ、
３…検査光学系、４…欠陥検出処理部、41…欠陥検出回
路、42…ＭＰＵ、43…プリンタ（ＰＲ） １０…従来の欠陥検査装置、１０’…この発明における
欠陥検査装置、ＬT …レーザビーム、ＳP …レーザスポ
ット、ＳR …散乱光、Ｋ…表面欠陥、Ｋ’…疑似欠陥、
ＣＨ…チャンファ。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 23/00
G11B 5/84
G11B 27/00
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】内周エッジと外周エッジにそれぞれチャン
ファが形成された磁気ディスクの欠陥検査において、回
転する該磁気ディスクの表面に対して、検査光学系によ
りレーザスポットＳＰ を投射して、該内周エッジから
該外周エッジまでの該磁気ディスクの全範囲をスパイラ
ル状に走査し、該全範囲内における該スポットＳＰの各
散乱光を該検査光学系により受光し、その受光信号を欠
陥検出回路に入力して該全範囲内の各欠陥を検出し、該
検出された各欠陥のうちの複数個が連続する円弧の範囲
の散乱光による欠陥を、前記両チャンファの散乱光によ
る該疑似欠陥と判定して除去する手段を設け、該手段に
より該疑似欠陥のデータを除去して、前記内周エッジと
外周エッジ間の両チャンファを除外した有効エリアの表
面欠陥データを出力することを特徴とする、磁気ディス
クの有効エリアの欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23986496A JP3361938B2 (ja) | 1996-08-22 | 1996-08-22 | 磁気ディスクの有効エリアの欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23986496A JP3361938B2 (ja) | 1996-08-22 | 1996-08-22 | 磁気ディスクの有効エリアの欠陥検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1064214A JPH1064214A (ja) | 1998-03-06 |
| JP3361938B2 true JP3361938B2 (ja) | 2003-01-07 |
Family
ID=17051026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23986496A Expired - Fee Related JP3361938B2 (ja) | 1996-08-22 | 1996-08-22 | 磁気ディスクの有効エリアの欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3361938B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI258661B (en) * | 2004-03-30 | 2006-07-21 | Infortrend Technology Inc | Efficient media scan operations for storage systems |
-
1996
- 1996-08-22 JP JP23986496A patent/JP3361938B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1064214A (ja) | 1998-03-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4674875A (en) | Method and apparatus for inspecting surface defects on the magnetic disk file memories | |
| US4954723A (en) | Disk surface inspection method and apparatus therefor | |
| EP0670997B1 (en) | Surface pit and mound detection and discrimination system and method | |
| JP3287227B2 (ja) | 微小異物検出方法及びその検出装置 | |
| US5155372A (en) | Optical inspection system utilizing wedge shaped spatial filter | |
| JP3520356B2 (ja) | 磁気ディスクの磁気膜欠陥検査装置 | |
| JP3361938B2 (ja) | 磁気ディスクの有効エリアの欠陥検査方法 | |
| US4352564A (en) | Missing order defect detection apparatus | |
| EP0152165A2 (en) | Defect inspecting apparatus for inspecting defects in optical type disc | |
| JPH0833354B2 (ja) | 欠陥検査装置 | |
| JPH0245739A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPS60125510A (ja) | 円盤体の欠陥検査装置 | |
| JPH03186739A (ja) | 磁気ディスク基板の外周端部損傷の検出回路 | |
| JP2001304838A (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
| JPH06148088A (ja) | ハードディスクの欠陥検出方法 | |
| JPH07140089A (ja) | 磁気ディスクのスクラッチ傷検査装置 | |
| JP3964166B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPH10227744A (ja) | 記録ディスクの光学的検査方法 | |
| JPH06174655A (ja) | 膜付きウエハの異物検出方法および異物検査装置 | |
| JP2750794B2 (ja) | ウエハ表面の欠陥検出方法および品質評価装置 | |
| JPH0414282B2 (ja) | ||
| JPH06258228A (ja) | 表面検査装置の照明方法 | |
| JP2923833B2 (ja) | 磁気ディスクのヘッド傷検査方法およびヘッド傷検査装置 | |
| JPH10143801A (ja) | 磁気ディスクの光学的検査方法 | |
| JPS6180044A (ja) | 超音波探傷装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081018 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091018 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091018 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101018 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111018 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121018 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121018 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131018 Year of fee payment: 11 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |