JP3358447B2 - 封止用エポキシ樹脂組成物 - Google Patents

封止用エポキシ樹脂組成物

Info

Publication number
JP3358447B2
JP3358447B2 JP16584096A JP16584096A JP3358447B2 JP 3358447 B2 JP3358447 B2 JP 3358447B2 JP 16584096 A JP16584096 A JP 16584096A JP 16584096 A JP16584096 A JP 16584096A JP 3358447 B2 JP3358447 B2 JP 3358447B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
epoxy resin
resin composition
release agent
aminosilane
sealing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP16584096A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH107771A (ja
Inventor
貴之 市川
至洋 宮谷
竜三 原
博則 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP16584096A priority Critical patent/JP3358447B2/ja
Publication of JPH107771A publication Critical patent/JPH107771A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3358447B2 publication Critical patent/JP3358447B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体等を封止す
るのに用いられるエポキシ樹脂組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】近年のフルモールドタイプの半導体パッ
ケージでは、リードフレームの放熱部を覆う封止樹脂成
形品の肉厚は、熱放散性を良くするため、ますます薄肉
化の傾向にある。また、半導体パッケージに使用するリ
ードフレームについても熱抵抗を小さくするためNiメ
ッキをする傾向がある。Niメッキを施したリードフレ
ームは封止樹脂との密着性が劣るため、Niメッキした
リードフレームを使用した場合、成形時にフクレが発生
し、熱放散性が低下するという問題があった。
【0003】密着性を向上させて上記の問題を解決する
方法として、アミノシラン系カップリング剤を無機充填
剤に添加する方法があるが、この方法では成形時の流動
性が低下し、充填不良が生じる問題と、連続して成形を
続行する際に成形金型からの離型性が低下する問題があ
った。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の事情に
鑑みてなされたものであって、本発明の目的とするとこ
ろは、成形時の流動性が低下する問題、及び連続して成
形を続行した際に成形金型からの離型性が低下するとい
う問題を生じることなしに、リードフレームとの密着性
の向上を達成できる封止用エポキシ樹脂組成物を提供す
ることにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
封止用エポキシ樹脂組成物は、(A)無機充填材と、
(B)1分子中にエポキシ基を2個以上有するエポキシ
樹脂と、(C)1分子中にフェノール性水酸基を1個以
上有するフェノール樹脂からなる硬化剤と、(D)フェ
ノールノボラック樹脂にオルガノポリシロキサンを反応
させたシリコーン変性フェノール樹脂と、(E)離型剤
を配合してなる封止用エポキシ樹脂組成物であって、前
記離型剤がアミノシラン系カップリング剤とワックスの
合計量に対しアミノシラン系カップリング剤を5〜30
重量%配合してアミノシラン系カップリング剤とワック
スを反応させた離型剤であることを特徴とする 本発明の請求項2に係る封止用エポキシ樹脂組成物は、
請求項1記載の封止用エポキシ樹脂組成物において、離
型剤が、100〜120℃に加熱して溶融させたワック
スにアミノシラン系カップリング剤を添加し、10〜3
0分攪拌して反応させて得た離型剤であることを特徴と
する。
【0006】本発明の請求項3に係る封止用エポキシ樹
脂組成物は、請求項1又は請求項2記載の封止用エポキ
シ樹脂組成物において、半導体封止用エポキシ樹脂組成
物全体中の離型剤の配合割合が0.1〜1.0重量%で
あることを特徴とする。
【0007】本発明の封止用エポキシ樹脂組成物では、
アミノシラン系カップリング剤とワックスを予め特定の
配合比率で配合し、反応させて、いわゆるインテグラル
ブレンド化した離型剤を配合するので、それらを反応さ
せることなく配合した場合に比べ、成形時の流動性が低
下する問題、及び連続して成形を続行した際に成形金型
からの離型性が低下するという問題を生じさせることな
しに、リードフレームとの密着性の向上を達成できるよ
うになった。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明の封止用エポキシ樹脂組成
物は、(A)無機充填材と、(B)1分子中にエポキシ
基を2個以上有するエポキシ樹脂と、(C)1分子中に
フェノール性水酸基を1個以上有するフェノール樹脂か
らなる硬化剤と、(D)フェノールノボラック樹脂にオ
ルガノポリシロキサンを反応させたシリコーン変性フェ
ノール樹脂と、(E)アミノシラン系カップリング剤と
ワックスを反応させた離型剤を配合してなるものであ
る。無機充填材(A)については、特に限定はなく、例
えば溶融シリカ、結晶シリカ、アルミナ等が例示でき
る。無機充填材(A)の配合割合については特に限定は
ないが、半導体封止用エポキシ樹脂組成物全体に対し、
60〜95重量%の範囲内であることが、高熱伝導性や
低熱膨張率という性能を確保するためには好ましい。1
分子中にエポキシ基を2個以上有するエポキシ樹脂
(B)としては、特に限定するものではないが、例えば
クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノール
A型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂等が例示
でき、これらを単独で用いても、2種類以上を併用して
もよい。1分子中にフェノール性水酸基を1個以上有す
るフェノール樹脂からなる硬化剤(C)としては、例え
ばフェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹
脂、ジシクロペンタジエンとフェノールの共重合体等が
例示できる。その配合量としては、エポキシ樹脂に対し
当量比で0.1〜10の範囲で配合するのが好ましい。
【0009】本発明におけるシリコン変性フェノール樹
脂(D)は、フェノールノボラック樹脂に、アルキレン
基、ビニル基等の有機基とSi−O−Si結合とを有す
るシリコーン化合物であるオルガノポリシロキサンを反
応させて得られたものであり硬化物の耐クラック性を優
れたものとするため配合する。その配合割合については
特に限定はなく、所望する耐クラック性及び機械的な強
度が得られる範囲で適宜選定すればよいが、通常、封止
用エポキシ樹脂組成物全体に対し0.1〜5重量%の範
囲内で配合することが好ましい。
【0010】本発明の封止用エポキシ樹脂組成物には、
アミノシラン系カップリング剤とワックスを反応させた
離型剤(E)を配合する。アミノシラン系カップリング
剤としては、アミノ基を有するシラン系カップリング剤
であればよく特に限定はない。ここでいうワックスは脂
肪酸のエステル類を含有する物質であり、具体的には天
然カルナバ等の植物ロウが例示できる。この離型剤はア
ミノシラン系カップリング剤とワックスの合計量に対し
アミノシラン系カップリング剤を5〜30重量%配合し
てアミノシラン系カップリング剤とワックスを反応させ
た離型剤である。アミノシラン系カップリング剤の配合
割合が5重量%未満では、リードフレームとの密着性の
向上効果が不十分となり、30重量%を越えると成形時
の流動性が低下する問題、及び連続して成形を続行した
際に成形金型からの離型性が低下するという問題を生じ
やすくなる。そして、アミノシラン系カップリング剤と
ワックスの反応条件は各原料によって最適な条件で行え
ばよいが、100〜120℃に加熱して溶融させたワッ
クスにアミノシラン系カップリング剤を添加し、10〜
30分攪拌して反応させるようにすると、本発明の目的
を十分に達成できる離型剤が得られるので望ましい。さ
らに離型剤(E)は半導体封止用エポキシ樹脂組成物全
体中に0.1〜1.0重量%で配合されていることが本
発明の目的を達成するためには好ましい。
【0011】本発明の封止用エポキシ樹脂組成物には、
必要に応じて、硬化促進剤、難燃剤等を添加することが
できる。また、本発明の封止用エポキシ樹脂組成物は、
各原料を所定の配合量で配合し、ミキサー等によって均
一に混合した後、さらに、ロール、ニーダ等によって混
練し、その後冷却、粉砕する等の方法で製造することが
できる。
【0012】
【実施例】以下、本発明を実施例及び比較例に基づいて
説明する。
【0013】110℃に加温した天然カルナバ中にアミ
ノシラン系カップリング剤(化学名γ−アミノプロピル
トリエトキシシラン)を加え、20分間反応させ、冷却
して離型剤(a〜d)を得た。天然カルナバとアミノシ
ラン系カップリング剤の重量での配合割合を下記に示
す。 ・離型剤a:天然カルナバ/カップリング剤=95/5 ・離型剤b:天然カルナバ/カップリング剤=70/3
0 ・離型剤c:天然カルナバ/カップリング剤=98/2 ・離型剤d:天然カルナバ/カップリング剤=60/4
【0014】次に表1に示す配合割合(重量部)で各原
料を配合し、ミキサーで混合し、次いで加熱ロールで混
練し、冷却粉砕して封止用エポキシ樹脂組成物を得た。
なお、各原料の詳細を下記に示す。 ・無機充填剤:溶融シリカ(龍森社製、品番3K−S) ・ノボラック型エポキシ樹脂:クレゾールノボラック型
エポキシ樹脂(住友化学工業社製、品番ESCN195
XL) ・硬化剤:フェノールノボラック樹脂(荒川化学工業社
製、商品名タマノル752) ・シリコーン変性フェノール樹脂: フェノールノボラ
ック樹脂(荒川化学工業社製、商品名タマノル752)
70重量部を120〜130℃で溶融し、この中にアル
キレン基含有オルガノポリシロキサン(東レダウコーニ
ングシリコーン社製、品番SF8421EG)25重量
部とハイドロジェンシリコーン(東芝シリコーン社製、
品番TSE3032(B))5重量部を添加、混合して
反応させたシリコーン変性フェノール樹脂 ・臭素化エポキシ樹脂(難燃剤):テトラブロモビスフ
ェノールA型エポキシ樹脂(住友化学工業社製、品番E
SB400T) ・硬化促進剤:2−フェニルイミダゾール
【0015】上記で得た封止用エポキシ樹脂組成物(実
施例1〜4及び比較例1〜4)について、成形時の流動
性を示す特性であるスパイラルフロー(170℃におけ
る)をEMI規格に準じた方法で測定し、その結果を表
1に示した。また、各封止用エポキシ樹脂組成物の17
0℃におけるゲルタイムをキュラストメーター(JCR
社製)を用いて測定し、その結果を表1に示した。ま
た、各封止用エポキシ樹脂組成物の150℃における溶
融粘度を高化式フローテスターを用いて測定し、その結
果を表1に示した。
【0016】各封止用エポキシ樹脂組成物を用いて、密
着性(Niメッキを施したリードフレームと封止樹脂と
の密着性)、金型離型性、半導体パッケージの成形時の
フクレ発生の有無及び連続成形時の離型性について、下
記の評価方法で評価し、得られた結果を表1に示した。
【0017】密着性の評価方法:Niメッキを施した金
属板の表面に、直径11.3mm、高さ10mmのプリ
ン型の成形物を金型温度170℃で90秒成形して形成
し、次いで175℃で6時間、後硬化して評価用サンプ
ルとする。この評価用サンプルのNiメッキ面への密着
力をプッシュプルゲージを用いて測定し、密着性を評価
する。
【0018】金型離型性の評価方法:Crメッキが施さ
れた金属板の表面に、直径11.3mm、高さ10mm
のプリン型の成形物を金型温度170℃で90秒成形し
て形成し評価用サンプルとする。この評価用サンプルの
Crメッキ面への密着力をプッシュプルゲージを用いて
測定し、金型離型性を評価する。
【0019】フクレ発生の有無の評価方法:Niメッキ
を施したリードフレームに半導体素子を接着した後、成
形してTO220F型評価用半導体パッケージを得る。
この評価用半導体パッケージの外観を目視で観察し、フ
クレ発生の有無を評価する。
【0020】連続成形時の離型性の評価方法:Niメッ
キを施したリードフレームに半導体素子を接着した後、
成形してTO220F型評価用半導体パッケージを得
る。この成形を連続して行った時点での金型からの離型
性を、良好、金型汚れ有り、離型不良の3段階に分けて
評価する。
【0021】
【表1】
【0022】表1の結果から、本発明の実施例では、成
形時の流動性が低下することなく、また連続して成形を
続行した際に成形金型からの離型性が低下することもな
く、Niメッキを施したリードフレームとの密着性の向
上が達成できていることが確認された。
【0023】
【発明の効果】本発明の封止用エポキシ樹脂組成物によ
れば、成形時の流動性が低下することなく、また連続し
て成形を続行した際に成形金型からの離型性が低下する
こともなく、リードフレームとの密着性の向上した封止
品を得ることが可能となる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 23/31 (72)発明者 池田 博則 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工 株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−135416(JP,A) 特開 昭63−183917(JP,A) 特開 平1−206655(JP,A) 特開 平2−147619(JP,A) 特開 平2−202914(JP,A) 特開 平2−208313(JP,A) 特開 平2−208314(JP,A) 特開 平3−719(JP,A) 特開 平7−79623(JP,A) 特開 平3−167215(JP,A) 特開 平3−170522(JP,A) 特開 平3−197526(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C08L 63/00 - 63/10 C08G 59/62 C08K 5/544 C08L 91/06 H01L 23/29

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)無機充填材と、(B)1分子中に
    エポキシ基を2個以上有するエポキシ樹脂と、(C)1
    分子中にフェノール性水酸基を1個以上有するフェノー
    ル樹脂からなる硬化剤と、(D)フェノールノボラック
    樹脂にオルガノポリシロキサンを反応させたシリコーン
    変性フェノール樹脂と、(E)離型剤を配合してなる封
    止用エポキシ樹脂組成物であって、前記離型剤がアミノ
    シラン系カップリング剤とワックスの合計量に対しアミ
    ノシラン系カップリング剤を5〜30重量%配合してア
    ミノシラン系カップリング剤とワックスを反応させた離
    型剤であることを特徴とする封止用エポキシ樹脂組成
    物。
  2. 【請求項2】 離型剤が、100〜120℃に加熱して
    溶融させたワックスにアミノシラン系カップリング剤を
    添加し、10〜30分攪拌して反応させて得た離型剤で
    あることを特徴とする請求項1記載の封止用エポキシ樹
    脂組成物。
  3. 【請求項3】 半導体封止用エポキシ樹脂組成物全体中
    の離型剤の配合割合が0.1〜1.0重量%であること
    を特徴とする請求項1又は請求項2記載の封止用エポキ
    シ樹脂組成物。
JP16584096A 1996-06-26 1996-06-26 封止用エポキシ樹脂組成物 Expired - Lifetime JP3358447B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16584096A JP3358447B2 (ja) 1996-06-26 1996-06-26 封止用エポキシ樹脂組成物

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16584096A JP3358447B2 (ja) 1996-06-26 1996-06-26 封止用エポキシ樹脂組成物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH107771A JPH107771A (ja) 1998-01-13
JP3358447B2 true JP3358447B2 (ja) 2002-12-16

Family

ID=15820004

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16584096A Expired - Lifetime JP3358447B2 (ja) 1996-06-26 1996-06-26 封止用エポキシ樹脂組成物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3358447B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4742414B2 (ja) * 2000-10-04 2011-08-10 住友ベークライト株式会社 半導体装置
JP2007194425A (ja) * 2006-01-19 2007-08-02 Nitto Denko Corp タブレット状半導体封止材料およびその製法ならびにそれを用いた半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH107771A (ja) 1998-01-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3358447B2 (ja) 封止用エポキシ樹脂組成物
JPH0597969A (ja) 熱硬化性樹脂組成物及び半導体装置
US6168872B1 (en) Semiconductor encapsulating epoxy resin composition and semiconductor device
JP2593503B2 (ja) エポキシ樹脂組成物及びそれを用いた樹脂封止型半導体装置
JP2690795B2 (ja) エポキシ樹脂組成物
JP2002194064A (ja) 半導体封止用樹脂組成物、およびそれを用いた半導体装置
JP3803033B2 (ja) 半導体封止用樹脂組成物、およびそれを用いた半導体装置
JPH09143345A (ja) エポキシ樹脂組成物
JPH06228280A (ja) エポキシ樹脂用硬化剤及びエポキシ樹脂組成物並びに半導体装置
JP3976390B2 (ja) 半導体封止用エポキシ樹脂組成物の製法およびそれによって得られた半導体封止用エポキシ樹脂組成物ならびに半導体装置
JPH08134330A (ja) Tab封止用エポキシ樹脂組成物及びtab装置
JPH03210325A (ja) 半導体封止用エポキシ樹脂成形材料
JP4379972B2 (ja) エポキシ樹脂組成物及び半導体装置
JP3192315B2 (ja) エポキシ樹脂組成物
JP3883730B2 (ja) ディスクリート半導体封止用樹脂組成物およびディスクリート半導体封止装置
JP2658749B2 (ja) 半導体封止用樹脂組成物及び半導体装置
JP3479817B2 (ja) 半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び半導体装置
JPH0841292A (ja) エポキシ樹脂組成物の製造法及び半導体封止用エポキシ樹脂組成物
JP4379977B2 (ja) エポキシ樹脂組成物及び半導体装置
JPH07173255A (ja) エポキシ樹脂組成物
JP2732939B2 (ja) エポキシ樹脂組成物およびそれによつて封止された半導体装置
JPH07268072A (ja) エポキシ樹脂組成物
JPH0834836A (ja) エポキシ樹脂組成物及び半導体装置
JPH06228279A (ja) エポキシ樹脂用硬化剤及びエポキシ樹脂組成物並びに半導体装置
KR20000039847A (ko) 반도체소자 밀봉용 에폭시 수지 조성물

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071011

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081011

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081011

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091011

Year of fee payment: 7

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091011

Year of fee payment: 7

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101011

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101011

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111011

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111011

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121011

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131011

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term