JP3357967B2 - レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置 - Google Patents
レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，透過型プロジエクショ
ンスクリーンに使用されるレンチキュラーレンズシート
の自動検査装置に関する。
ンスクリーンに使用されるレンチキュラーレンズシート
の自動検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】透過型プロジエクションスクリーン用の
レンチキュラーレンズシートは、アクリル樹脂、ポリカ
ーボネート樹脂等の透明樹脂からなり、押し出し成形に
より作製されているが、その製造過程においては、設計
形状とは異なる外観上の局部的変化、即ち樹脂内部の異
物、気泡、樹脂外部表面の汚れや傷等が発生する。これ
らの外観上の曲部的変化の殆どは、レンチキュラーレン
ズシートをスクリーンとして使用した場合、局部的に光
透過率（光透過量）を変化させ、均一性を損なうため、
外観欠陥として選別除去することが必要であった。スク
リーンとして使用した場合、大部分が曲部的に暗くなる
ためこれを黒欠陥と呼ぶ。図５（ａ）はレンチキュラー
レンズシートの断面図であるが、ここにに示すようにレ
ンチキュラーレンズシート５００の樹脂内部の色々な箇
所に黒欠陥は発生する。例外的には局部的に明るくなる
場合もある。また、図５に示すように、透過型のプロジ
エクションスクリーン用のレンチキュラーレンズシート
５００は、一般に、スクリーンとして使用した場合の光
源側と出光面側にレンチキュラーレンズ５１０、５１１
を設け、且つ、スクリーンとして使用された場合、コン
トラストを上げ画像をシヤープにするために、出光面側
のレンチキュラーレンズ５１０間にブラックストライプ
５３０と呼ばれる、遮光性のストライプ部を配設してい
る。このブラックストライプと呼ばれる、遮光性のスト
ライプ部は、レンチキュラーレンズシートをアクリル樹
脂、ポリカーボネート樹脂等にて押し出し成形した後、
引き続きロール間を通しながら遮光性の膜部を印刷して
作製しており、遮光性の膜部が作製される過程やその後
において部分的に欠如または破損した箇所（以後、白欠
陥と呼ぶ）が発生する。この為、スクリーンとして使用
された場合には、外部からの反射光により、コントラス
トや画像のシヤープさを損なう原因となっており、その
箇所を特定し修正するか、そのスクリーンを選別除去し
なければならず、この白欠陥部の箇所を特定しておくこ
とが必要であった。
レンチキュラーレンズシートは、アクリル樹脂、ポリカ
ーボネート樹脂等の透明樹脂からなり、押し出し成形に
より作製されているが、その製造過程においては、設計
形状とは異なる外観上の局部的変化、即ち樹脂内部の異
物、気泡、樹脂外部表面の汚れや傷等が発生する。これ
らの外観上の曲部的変化の殆どは、レンチキュラーレン
ズシートをスクリーンとして使用した場合、局部的に光
透過率（光透過量）を変化させ、均一性を損なうため、
外観欠陥として選別除去することが必要であった。スク
リーンとして使用した場合、大部分が曲部的に暗くなる
ためこれを黒欠陥と呼ぶ。図５（ａ）はレンチキュラー
レンズシートの断面図であるが、ここにに示すようにレ
ンチキュラーレンズシート５００の樹脂内部の色々な箇
所に黒欠陥は発生する。例外的には局部的に明るくなる
場合もある。また、図５に示すように、透過型のプロジ
エクションスクリーン用のレンチキュラーレンズシート
５００は、一般に、スクリーンとして使用した場合の光
源側と出光面側にレンチキュラーレンズ５１０、５１１
を設け、且つ、スクリーンとして使用された場合、コン
トラストを上げ画像をシヤープにするために、出光面側
のレンチキュラーレンズ５１０間にブラックストライプ
５３０と呼ばれる、遮光性のストライプ部を配設してい
る。このブラックストライプと呼ばれる、遮光性のスト
ライプ部は、レンチキュラーレンズシートをアクリル樹
脂、ポリカーボネート樹脂等にて押し出し成形した後、
引き続きロール間を通しながら遮光性の膜部を印刷して
作製しており、遮光性の膜部が作製される過程やその後
において部分的に欠如または破損した箇所（以後、白欠
陥と呼ぶ）が発生する。この為、スクリーンとして使用
された場合には、外部からの反射光により、コントラス
トや画像のシヤープさを損なう原因となっており、その
箇所を特定し修正するか、そのスクリーンを選別除去し
なければならず、この白欠陥部の箇所を特定しておくこ
とが必要であった。
【０００３】従来、レンチキュラーレンズシートの上記
欠陥を検出する外観検査方法としては、人間の目視によ
る方法が採られていた。しかしながら、近年、透過型プ
ロジエクションスクリーン用のレンチキュラーレンズシ
ートについては、益々、高品位化、多量産化が求められ
るようになってきており、従来の肉眼での検査について
は、人による差や、再現性に問題があるため、人手に代
わり、安定して欠陥を検出しコンパクトで安価な自動検
査装置が求められるようになってきた。又、量産対応と
しても自動化された装置による検査が求められてきた。
欠陥を検出する外観検査方法としては、人間の目視によ
る方法が採られていた。しかしながら、近年、透過型プ
ロジエクションスクリーン用のレンチキュラーレンズシ
ートについては、益々、高品位化、多量産化が求められ
るようになってきており、従来の肉眼での検査について
は、人による差や、再現性に問題があるため、人手に代
わり、安定して欠陥を検出しコンパクトで安価な自動検
査装置が求められるようになってきた。又、量産対応と
しても自動化された装置による検査が求められてきた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】これに対し、量産対応
としても自動化された装置による検査装置が提案されて
いるが、この自動装置においては、撮像視野内の位置に
より欠陥検出感度にバラツキが生じてしまい、益々、レ
ンチキュラーレンズシートの高品位化、多量産化が求め
られる中、問題となっていた。本発明は、このような状
況のもと、レンチキュラーレンズシートの、益々の高品
位化、多量産化に対応できる、撮像視野内の位置による
欠陥検出感度にバラツキの極めて少ない装置を提供しよ
うとするものである。
としても自動化された装置による検査装置が提案されて
いるが、この自動装置においては、撮像視野内の位置に
より欠陥検出感度にバラツキが生じてしまい、益々、レ
ンチキュラーレンズシートの高品位化、多量産化が求め
られる中、問題となっていた。本発明は、このような状
況のもと、レンチキュラーレンズシートの、益々の高品
位化、多量産化に対応できる、撮像視野内の位置による
欠陥検出感度にバラツキの極めて少ない装置を提供しよ
うとするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のレンチキュラー
レンズシートの欠陥検査装置は、少なくとも、レンチキ
ュラーレンズの方向に連続する板状のレンチキュラーレ
ンズシートを、レンチキュラーレンズの方向に一定の速
度で移動させながら、透過光ないし反射暗視野光により
欠陥を検出する欠陥検査装置であって、レンチキュラー
レンズシートの幅を跨ぐ、該レンチキュラーレンズシー
トの所定直線領域を、光学的結像手段を介して、透過光
およびまたは反射暗視野照明にて撮像するための１個な
いし複数の線状領域撮像手段と、レンチキュラーレンズ
を撮像するための前記１個ないし複数の線状領域撮像手
段に対し、撮像の為の透過光照明を供給する照明手段
と、線状領域撮像手段により得られた画像データに基づ
き、欠陥の検出を行う画像処理手段とを備えており、且
つ、前記光学的結像手段は、レンチキュラーレンズシー
トからの垂直入射光のみを線状領域撮像手段へ入射させ
ることを特徴とするものである。そして上記光学的結像
手段がフレネルレンズであることを特徴とするもので、
また、上記光学的結像手段が凸レンズであることを特徴
とするものである。尚、上記でレンチキュラーレンズの
方向とは、図５に示すブラックストライプのストライプ
の方向でもある。
レンズシートの欠陥検査装置は、少なくとも、レンチキ
ュラーレンズの方向に連続する板状のレンチキュラーレ
ンズシートを、レンチキュラーレンズの方向に一定の速
度で移動させながら、透過光ないし反射暗視野光により
欠陥を検出する欠陥検査装置であって、レンチキュラー
レンズシートの幅を跨ぐ、該レンチキュラーレンズシー
トの所定直線領域を、光学的結像手段を介して、透過光
およびまたは反射暗視野照明にて撮像するための１個な
いし複数の線状領域撮像手段と、レンチキュラーレンズ
を撮像するための前記１個ないし複数の線状領域撮像手
段に対し、撮像の為の透過光照明を供給する照明手段
と、線状領域撮像手段により得られた画像データに基づ
き、欠陥の検出を行う画像処理手段とを備えており、且
つ、前記光学的結像手段は、レンチキュラーレンズシー
トからの垂直入射光のみを線状領域撮像手段へ入射させ
ることを特徴とするものである。そして上記光学的結像
手段がフレネルレンズであることを特徴とするもので、
また、上記光学的結像手段が凸レンズであることを特徴
とするものである。尚、上記でレンチキュラーレンズの
方向とは、図５に示すブラックストライプのストライプ
の方向でもある。
【０００６】
【作用】本発明のレンチキュラーレンズシートの欠陥検
査装置は、上記のような構成にすることにより、高品位
化、多量産に対応できる、レンチキュラーレンズを透過
照明し、線状領域撮像手段によって撮影した画像に画像
処理を施して試料の欠陥を検出する自動検査装置におい
て、撮像視野内の位置による欠陥検出感度にバラツキの
極めて少ない装置の提供を可能にしている。詳しくは、
レンチキュラーレンズシートの所定直線領域を光学的結
像手段を介して、透過光ないし反射暗視野照明にて撮像
するための域撮像手段と、撮像の為の照明手段と、線状
領域撮像手段により得られた画像データに基づき、欠陥
の検出を行う画像処理手段とを備え、且つ、前記光学的
結像手段は、試料（レンチキュラーレンズシート）から
の垂直入射光のみを線状領域撮像手段へ入射させること
により、撮像手段は試料（レンチキュラーレンズシー
ト）の撮像視野内の全ての点から垂直光成分のみを撮影
するため、撮像視野内の位置による光の強度にバラツキ
がすくないものとし、これにより、撮像視野内の位置に
よる欠陥検出感度にバラツキの極めて少ないものとして
いる。
査装置は、上記のような構成にすることにより、高品位
化、多量産に対応できる、レンチキュラーレンズを透過
照明し、線状領域撮像手段によって撮影した画像に画像
処理を施して試料の欠陥を検出する自動検査装置におい
て、撮像視野内の位置による欠陥検出感度にバラツキの
極めて少ない装置の提供を可能にしている。詳しくは、
レンチキュラーレンズシートの所定直線領域を光学的結
像手段を介して、透過光ないし反射暗視野照明にて撮像
するための域撮像手段と、撮像の為の照明手段と、線状
領域撮像手段により得られた画像データに基づき、欠陥
の検出を行う画像処理手段とを備え、且つ、前記光学的
結像手段は、試料（レンチキュラーレンズシート）から
の垂直入射光のみを線状領域撮像手段へ入射させること
により、撮像手段は試料（レンチキュラーレンズシー
ト）の撮像視野内の全ての点から垂直光成分のみを撮影
するため、撮像視野内の位置による光の強度にバラツキ
がすくないものとし、これにより、撮像視野内の位置に
よる欠陥検出感度にバラツキの極めて少ないものとして
いる。
【０００７】
【実施例】本発明のレンチキュラーレンズシートの欠陥
検査装置の実施例を挙げ、以下、図に基づいて本発明を
説明する。先ず、実施例１のレンチキュラーレンズシー
トの欠陥検査装置として、樹脂内部の異物、気泡、樹脂
外部表面の汚れや傷等に起因する欠陥（黒欠陥）を検出
するための欠陥検査装置を挙げる。図１は実施例１のレ
ンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置の要部構成を
示した概略図で、図１（ａ）はレンチキュラーレンズシ
ートの進行方向から見た図で、図１（ｂ）はそのレンチ
キュラーレンズシートの進行方向側面から見た図である
が、画像処理部は省略してある。図１中、１１０Ａ、１
１０Ｂ、１１０ＣはＣＣＤラインセンサカメラ（撮像手
段）、１２０は光源（照明手段）、１３０はフレネルレ
ンズ（光学的結像手段）、１４０はレンチキュラーレン
ズシート（試料）１５０は撮像視野領域、１７０は画像
処理部である。
検査装置の実施例を挙げ、以下、図に基づいて本発明を
説明する。先ず、実施例１のレンチキュラーレンズシー
トの欠陥検査装置として、樹脂内部の異物、気泡、樹脂
外部表面の汚れや傷等に起因する欠陥（黒欠陥）を検出
するための欠陥検査装置を挙げる。図１は実施例１のレ
ンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置の要部構成を
示した概略図で、図１（ａ）はレンチキュラーレンズシ
ートの進行方向から見た図で、図１（ｂ）はそのレンチ
キュラーレンズシートの進行方向側面から見た図である
が、画像処理部は省略してある。図１中、１１０Ａ、１
１０Ｂ、１１０ＣはＣＣＤラインセンサカメラ（撮像手
段）、１２０は光源（照明手段）、１３０はフレネルレ
ンズ（光学的結像手段）、１４０はレンチキュラーレン
ズシート（試料）１５０は撮像視野領域、１７０は画像
処理部である。
【０００８】本実施例レンチキュラーレンズシートの欠
陥検査装置においては、図１に示すように、ＣＣＤライ
ンセンサカメラ１１０Ａのみが、フレネルレンズ１３０
を介して撮像視野領域１５０を正面から撮像し、ＣＣＤ
ラインセンサカメラ１１０Ｂ、１１０Ｃは試料であるレ
ンチキュラーレンズシートの撮像視野領域１５０を直
接、左右からあおり撮影により撮像する。撮像視野領域
１５０は、レンチキュラーレンズシートの幅を跨ぐ、レ
ンチキュラーレンズシートの所定直線領域であり、レン
チキュラーレンズシートを移動させることにより、試料
（レンチキュラーレンズシート）全体を撮像する。尚、
図１中、ＣＣＤラインセンサカメラ１１０Ａ、１１０
Ｂ、１１０Ｃからでている各２本の線は、カメラがとる
視野を表している。
陥検査装置においては、図１に示すように、ＣＣＤライ
ンセンサカメラ１１０Ａのみが、フレネルレンズ１３０
を介して撮像視野領域１５０を正面から撮像し、ＣＣＤ
ラインセンサカメラ１１０Ｂ、１１０Ｃは試料であるレ
ンチキュラーレンズシートの撮像視野領域１５０を直
接、左右からあおり撮影により撮像する。撮像視野領域
１５０は、レンチキュラーレンズシートの幅を跨ぐ、レ
ンチキュラーレンズシートの所定直線領域であり、レン
チキュラーレンズシートを移動させることにより、試料
（レンチキュラーレンズシート）全体を撮像する。尚、
図１中、ＣＣＤラインセンサカメラ１１０Ａ、１１０
Ｂ、１１０Ｃからでている各２本の線は、カメラがとる
視野を表している。
【０００９】フレネルレンズ１３０は試料１４０の幅方
向よりも長いものを使用する。又、フレネルレンズ１３
０およびＣＣＤラインセンサカメラ１１０Ａのレンズの
焦点距離は、ＣＣＤラインセンサカメラが試料１４０の
幅分だけ視野をとった時のＣＣＤラインセンサカメラ１
１０Ａからフレネルレンズ１３０までの距離が、フレネ
ルレンズ１３０の焦点距離よりも短かくならず、ほぼ等
しくなるように設定する。このように設定することによ
り、フレネルレンズ１３０に垂直に入射された光のみ
が、ＣＣＤラインセンサカメラ１１０Ａに入射されるこ
ととなり、撮像視野内の位置による光の強度にバラツキ
が少なくなり、結果として、ＣＣＤラインセンサカメラ
１１０Ａにより撮影像された画像データに関しては、撮
像視野内の位置による欠陥検出感度にバラツキの極めて
少ないものなる。
向よりも長いものを使用する。又、フレネルレンズ１３
０およびＣＣＤラインセンサカメラ１１０Ａのレンズの
焦点距離は、ＣＣＤラインセンサカメラが試料１４０の
幅分だけ視野をとった時のＣＣＤラインセンサカメラ１
１０Ａからフレネルレンズ１３０までの距離が、フレネ
ルレンズ１３０の焦点距離よりも短かくならず、ほぼ等
しくなるように設定する。このように設定することによ
り、フレネルレンズ１３０に垂直に入射された光のみ
が、ＣＣＤラインセンサカメラ１１０Ａに入射されるこ
ととなり、撮像視野内の位置による光の強度にバラツキ
が少なくなり、結果として、ＣＣＤラインセンサカメラ
１１０Ａにより撮影像された画像データに関しては、撮
像視野内の位置による欠陥検出感度にバラツキの極めて
少ないものなる。
【００１０】図１に示すように、ＣＣＤラインセンサカ
メラ１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｂから得られた画像信
号（撮像データ）は、画像処理部１７０により微分処理
が施され、所定のしきい値にてスライス処理されること
により欠陥が検出される。レンチキュラーレンズシート
１４０には図１０に示す位置に黒欠陥があるとすると、
欠陥Ａは試料の正面からは見えて斜めからは見えない欠
陥、欠陥Ｂは試料の斜めからは見えて正面からは見えな
い欠陥Ｃは試料の正面、斜めどちらかでも見える欠陥で
あり、欠陥Ａは正面から撮像するカメラ１１０Ａによ
り、欠陥Ｂは斜めからあおり撮像するカメラ１１０Ｂな
いし１１０Ｃにより、欠陥Ｃは、カメラ１１０Ａ、１１
０Ｂないし１１０Ｃにより撮像することができる。尚、
ここでは、あおり撮影とは、図６に示すように、結像部
（レンズ系）の画角の周辺部を利用して、撮像部の受像
面上に試料の像を結像させるものであり、通常の撮像と
は、あおり撮影でない撮像を言っている。透過型のプロ
ジエクションスクリーンとしては、スクリーンの表裏で
レンズ方向を直交するようにしたものや、フレネルレン
ズを入光側、レンチキュラーレンズを出光側としたもの
や、図１０に示すようなもの等、表裏形状に各種組合せ
が考えられるが、基本的に、透過型プロジエクションス
クリーンの出光面側にレンチキュラーレンズ（蒲鉾状凸
レンズ）配列を有するものであれば、本実施例装置にて
欠陥検出は可能である。又、レンチキュラーレンズシー
トの樹脂内部の欠陥は、外観上大部分が黒欠陥となる
為、黒欠陥のみが一般には透過型プロジエクションスク
リーン用の外観欠陥として検査され除去されている。し
かし、後述する欠陥検出（画像処理）には、撮像により
得られた信号を微分処理しており、基本的には曲部的に
明るくなる欠陥も検出可能であるが、この欠陥の場合
は、欠陥に対応した外観上の変化を即、判断できないこ
とが多い。
メラ１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｂから得られた画像信
号（撮像データ）は、画像処理部１７０により微分処理
が施され、所定のしきい値にてスライス処理されること
により欠陥が検出される。レンチキュラーレンズシート
１４０には図１０に示す位置に黒欠陥があるとすると、
欠陥Ａは試料の正面からは見えて斜めからは見えない欠
陥、欠陥Ｂは試料の斜めからは見えて正面からは見えな
い欠陥Ｃは試料の正面、斜めどちらかでも見える欠陥で
あり、欠陥Ａは正面から撮像するカメラ１１０Ａによ
り、欠陥Ｂは斜めからあおり撮像するカメラ１１０Ｂな
いし１１０Ｃにより、欠陥Ｃは、カメラ１１０Ａ、１１
０Ｂないし１１０Ｃにより撮像することができる。尚、
ここでは、あおり撮影とは、図６に示すように、結像部
（レンズ系）の画角の周辺部を利用して、撮像部の受像
面上に試料の像を結像させるものであり、通常の撮像と
は、あおり撮影でない撮像を言っている。透過型のプロ
ジエクションスクリーンとしては、スクリーンの表裏で
レンズ方向を直交するようにしたものや、フレネルレン
ズを入光側、レンチキュラーレンズを出光側としたもの
や、図１０に示すようなもの等、表裏形状に各種組合せ
が考えられるが、基本的に、透過型プロジエクションス
クリーンの出光面側にレンチキュラーレンズ（蒲鉾状凸
レンズ）配列を有するものであれば、本実施例装置にて
欠陥検出は可能である。又、レンチキュラーレンズシー
トの樹脂内部の欠陥は、外観上大部分が黒欠陥となる
為、黒欠陥のみが一般には透過型プロジエクションスク
リーン用の外観欠陥として検査され除去されている。し
かし、後述する欠陥検出（画像処理）には、撮像により
得られた信号を微分処理しており、基本的には曲部的に
明るくなる欠陥も検出可能であるが、この欠陥の場合
は、欠陥に対応した外観上の変化を即、判断できないこ
とが多い。
【００１１】次いで、図１における撮像によってえられ
た画像データを本実施例レンチキュラーレンズシートの
欠陥検査装置１００の画像処理部１２０にて欠陥を検出
する処理について簡単に説明しておく。図１に示す本実
施例における画像処理部１７０は、撮像により得られた
画像信号を一次微分処理ないし二次微分処理することに
より、信号の変化を得て欠陥を特定するものであるが、
ここでの微分処理は、要素配列を有するフイルターを用
いて、サンプリング毎に、積和演算して行うものであ
る。尚、ここでは、撮像手段から得られた、画像データ
Ｐ（Ｘij）と空間フイルターテーブルＷ（ｉ、ｊ）を用
い、Ｐ（Ｘij）とＷ（ｉ、ｊ）との積和演算を行うこと
をフイルタリング処理と言い、この処理に用いられるテ
ーブルＷ（ｉ、ｊ）をフイルターと言い、一般には微分
フイルターないし空間フイルターと呼ぶ。画素データの
Ｙ方向配列についての微分フイルターは、着目画素及び
その前後の画素の、積和演算の際の重みと、配列の方向
でもって、図３のように表わされる。例えば、画像デー
タＰ（Ｙn ）に対し、図３（ａ）のように（＋１、−
２、＋１）と空間フイルターテーブル（重みテーブル）
を設定することによりＹ方向について２画素分平滑処理
をした二次微分処理が行える。着目画素をＹn とした場
合、画像データＰ（Ｙn ）と空間フイルターテーブルと
の積和演算Ｓn は、（＋１）×Ｙn-1 ＋（−２）×Ｙn
＋（＋１）×Ｙn+1 となる。また、図３（ｂ）のように
（−１、＋１）に空間フイルターテーブル（重みテーブ
ル）を設定することにより一次微分処理が行える。
た画像データを本実施例レンチキュラーレンズシートの
欠陥検査装置１００の画像処理部１２０にて欠陥を検出
する処理について簡単に説明しておく。図１に示す本実
施例における画像処理部１７０は、撮像により得られた
画像信号を一次微分処理ないし二次微分処理することに
より、信号の変化を得て欠陥を特定するものであるが、
ここでの微分処理は、要素配列を有するフイルターを用
いて、サンプリング毎に、積和演算して行うものであ
る。尚、ここでは、撮像手段から得られた、画像データ
Ｐ（Ｘij）と空間フイルターテーブルＷ（ｉ、ｊ）を用
い、Ｐ（Ｘij）とＷ（ｉ、ｊ）との積和演算を行うこと
をフイルタリング処理と言い、この処理に用いられるテ
ーブルＷ（ｉ、ｊ）をフイルターと言い、一般には微分
フイルターないし空間フイルターと呼ぶ。画素データの
Ｙ方向配列についての微分フイルターは、着目画素及び
その前後の画素の、積和演算の際の重みと、配列の方向
でもって、図３のように表わされる。例えば、画像デー
タＰ（Ｙn ）に対し、図３（ａ）のように（＋１、−
２、＋１）と空間フイルターテーブル（重みテーブル）
を設定することによりＹ方向について２画素分平滑処理
をした二次微分処理が行える。着目画素をＹn とした場
合、画像データＰ（Ｙn ）と空間フイルターテーブルと
の積和演算Ｓn は、（＋１）×Ｙn-1 ＋（−２）×Ｙn
＋（＋１）×Ｙn+1 となる。また、図３（ｂ）のように
（−１、＋１）に空間フイルターテーブル（重みテーブ
ル）を設定することにより一次微分処理が行える。
【００１２】本実施例におけるレンチキュラーレンズシ
ートの欠陥検査装置の画像処理部１７０は、各ＣＣＤラ
インセンサカメラ１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｃにより
得られた各画像データ（信号）について、以下の処理を
施したものである。図４は、１つのＣＣＤラインセンサ
カメラから得られる画像データ（信号）についての画像
処理を説明するための図である。図４における、二次微
分は、ＣＣＤラインセンサカメラによるサンプリングに
よって得られるラインデータに対し、ライン間で、同じ
位置の各画素データについて、空間フイルターテーブル
との積和演算を行うものであり、所定数の連続するサン
プリングにより得られるラインデータを蓄積しておき、
このラインデータ間で積和演算を行う。図４の場合は、
９ラインデータ間でこの処理を行うが、新たなラインデ
ータをサンプリングする毎に漸次古いラインデータを除
き、いつも９ラインデータでこの処理を行うものであ
り、図４（イ）ではＤijをｊ番目ラインデータにおける
ｉ番目の位置の画素データを表しており、Ｍ番目位置に
おける画素データをライン間で積和演算した場合、二次
微分処理、一次微分処理の結果はそれぞれ図４（ロ）、
図４（ハ）に示すようになる。このようにして得られ
た、二次微分処理の各演算結果ないし一次微分処理の各
演算結果について、更に、スライス処理を行ない所定の
しきい値を超えるものを欠陥を検出する。尚、ここで、
ラインデータとは、撮像手段（ＣＣＤラインセンサカメ
ラ）によりえられる、レンチキュラーレンズシートの移
動方向に略直交する方向の幅を跨ぐ、シート面上の一直
線上の所定幅を含む視野の１サンプリングにおける撮像
データのうち上記所定幅全域に相当するデータを言って
いる。
ートの欠陥検査装置の画像処理部１７０は、各ＣＣＤラ
インセンサカメラ１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｃにより
得られた各画像データ（信号）について、以下の処理を
施したものである。図４は、１つのＣＣＤラインセンサ
カメラから得られる画像データ（信号）についての画像
処理を説明するための図である。図４における、二次微
分は、ＣＣＤラインセンサカメラによるサンプリングに
よって得られるラインデータに対し、ライン間で、同じ
位置の各画素データについて、空間フイルターテーブル
との積和演算を行うものであり、所定数の連続するサン
プリングにより得られるラインデータを蓄積しておき、
このラインデータ間で積和演算を行う。図４の場合は、
９ラインデータ間でこの処理を行うが、新たなラインデ
ータをサンプリングする毎に漸次古いラインデータを除
き、いつも９ラインデータでこの処理を行うものであ
り、図４（イ）ではＤijをｊ番目ラインデータにおける
ｉ番目の位置の画素データを表しており、Ｍ番目位置に
おける画素データをライン間で積和演算した場合、二次
微分処理、一次微分処理の結果はそれぞれ図４（ロ）、
図４（ハ）に示すようになる。このようにして得られ
た、二次微分処理の各演算結果ないし一次微分処理の各
演算結果について、更に、スライス処理を行ない所定の
しきい値を超えるものを欠陥を検出する。尚、ここで、
ラインデータとは、撮像手段（ＣＣＤラインセンサカメ
ラ）によりえられる、レンチキュラーレンズシートの移
動方向に略直交する方向の幅を跨ぐ、シート面上の一直
線上の所定幅を含む視野の１サンプリングにおける撮像
データのうち上記所定幅全域に相当するデータを言って
いる。
【００１３】次いで、本発明のレンチキュラーレンズシ
ートの欠陥検査装置の実施例２を挙げる。実施例２のレ
ンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置は、図５に示
すブラックストライプ５３０と呼ばれる、遮光性のスト
ライプ部の遮光性の膜部の欠陥（白欠陥）を検出するた
めの欠陥検査装置である。図２は実施例２のレンチキュ
ラーレンズシートの欠陥検査装置の要部構成を示した概
略図で、図２（ａ）はレンチキュラーレンズシートの進
行方向から見た図で、図２（ｂ）はそのレンチキュラー
レンズシートの進行方向側面から見た図であるが、画像
処理部は省略してある。図２中、２１０Ａ、２１０Ｂは
ＣＣＤラインセンサカメラ（撮像手段）、２２０は光源
（照明手段）、２３０Ａ、２３０Ｂはフレネルレンズ
（光学的結像手段）、２２０はレンチキュラーレンズシ
ート（試料）、２５０、２５０Ａ、２５０Ｂは撮像視野
領域である。本実施例の装置は、光源２２０により反射
暗視野照明し、ＣＣＤラインセンサカメラ２１０Ａ、２
１０Ｂにより、それぞれフレネルレンズ２３０Ａ、２３
０Ｂを介して撮像するものである。図２に示すように、
２台のＣＣＤラインセンサカメラ２１０Ａ、２１０Ｂに
より、それぞれの撮像視野領域２５０Ａ、２５０Ｂを撮
像し、これらを併せた所望の撮像視野領域２５０全体を
撮像するもので、レンチキュラーレンズシート２２０が
移動することによりレンチキュラーレンズシート２２０
全体を撮像する。ＣＣＤラインセンサカメラ２１０Ａ、
２１０Ｂにより得られた画像データ（信号）は実施例と
同様にして、空間フイルタを用い、一次微分処理ないし
二次微分処理を行い、得られた結果について、更に、ス
ライス処理を行ない所定のしきい値を超えるものを欠陥
を検出する。尚、図２中、ＣＣＤラインセンサカメラ２
１０Ａ、２１０Ｂからでている２本の線は、カメラがと
る視野を表している。
ートの欠陥検査装置の実施例２を挙げる。実施例２のレ
ンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置は、図５に示
すブラックストライプ５３０と呼ばれる、遮光性のスト
ライプ部の遮光性の膜部の欠陥（白欠陥）を検出するた
めの欠陥検査装置である。図２は実施例２のレンチキュ
ラーレンズシートの欠陥検査装置の要部構成を示した概
略図で、図２（ａ）はレンチキュラーレンズシートの進
行方向から見た図で、図２（ｂ）はそのレンチキュラー
レンズシートの進行方向側面から見た図であるが、画像
処理部は省略してある。図２中、２１０Ａ、２１０Ｂは
ＣＣＤラインセンサカメラ（撮像手段）、２２０は光源
（照明手段）、２３０Ａ、２３０Ｂはフレネルレンズ
（光学的結像手段）、２２０はレンチキュラーレンズシ
ート（試料）、２５０、２５０Ａ、２５０Ｂは撮像視野
領域である。本実施例の装置は、光源２２０により反射
暗視野照明し、ＣＣＤラインセンサカメラ２１０Ａ、２
１０Ｂにより、それぞれフレネルレンズ２３０Ａ、２３
０Ｂを介して撮像するものである。図２に示すように、
２台のＣＣＤラインセンサカメラ２１０Ａ、２１０Ｂに
より、それぞれの撮像視野領域２５０Ａ、２５０Ｂを撮
像し、これらを併せた所望の撮像視野領域２５０全体を
撮像するもので、レンチキュラーレンズシート２２０が
移動することによりレンチキュラーレンズシート２２０
全体を撮像する。ＣＣＤラインセンサカメラ２１０Ａ、
２１０Ｂにより得られた画像データ（信号）は実施例と
同様にして、空間フイルタを用い、一次微分処理ないし
二次微分処理を行い、得られた結果について、更に、ス
ライス処理を行ない所定のしきい値を超えるものを欠陥
を検出する。尚、図２中、ＣＣＤラインセンサカメラ２
１０Ａ、２１０Ｂからでている２本の線は、カメラがと
る視野を表している。
【００１４】フレネルレンズ２３０Ａ、２３０Ｂは試料
の幅よりも長いものである。ＣＣＤラインセンサカメラ
２１０Ａ、２１０Ｂとフレネルレンズ２３０Ａ、２３０
Ｂは２台のカメラの視野が接するようにするため、フレ
ネルレンズの焦点距離よりも若干短かい距離だけ離れて
おり、フレネルレンズ２３０Ａ、２３０ＢおよびＣＣＤ
ラインセンサカメラ２１０Ａ、２１０Ｂのレンズの焦点
距離は実施例１の場合と同様に設定する。このように設
定することにより、フレネルレンズ２３０Ａ、２３０Ｂ
に垂直に入射された光のみが、ＣＣＤラインセンサカメ
ラ２１０Ａ、２１０Ｂに入射されることとなり、撮像視
野内の位置による光の強度にバラツキが少なくなり、結
果として撮像視野内の位置による欠陥検出感度にバラツ
キの極めて少ないものとしている。
の幅よりも長いものである。ＣＣＤラインセンサカメラ
２１０Ａ、２１０Ｂとフレネルレンズ２３０Ａ、２３０
Ｂは２台のカメラの視野が接するようにするため、フレ
ネルレンズの焦点距離よりも若干短かい距離だけ離れて
おり、フレネルレンズ２３０Ａ、２３０ＢおよびＣＣＤ
ラインセンサカメラ２１０Ａ、２１０Ｂのレンズの焦点
距離は実施例１の場合と同様に設定する。このように設
定することにより、フレネルレンズ２３０Ａ、２３０Ｂ
に垂直に入射された光のみが、ＣＣＤラインセンサカメ
ラ２１０Ａ、２１０Ｂに入射されることとなり、撮像視
野内の位置による光の強度にバラツキが少なくなり、結
果として撮像視野内の位置による欠陥検出感度にバラツ
キの極めて少ないものとしている。
【００１５】上記、実施例１においては、試料（レンチ
キュラーレンズシート）の画像データ（信号）をえるの
に必要な所定領域を、１つのＣＣＤラインセンサカメラ
にて撮像し、画像データを得ているが、検査する試料
（レンチキュラーレンズシート）が大きい場合には、複
数のＣＣＤラインセンサカメラにて分割して撮像し、あ
わせて前記必要な所定領域の画像データ（信号）を得て
も良い。また、上記実施例１と実施例２の装置を一つに
した構成で、レンチキュラーレンズシート樹脂内部の欠
陥とブラックストライプ部の遮光性の膜の欠陥を一つの
撮影装置により、検出することも可能である。
キュラーレンズシート）の画像データ（信号）をえるの
に必要な所定領域を、１つのＣＣＤラインセンサカメラ
にて撮像し、画像データを得ているが、検査する試料
（レンチキュラーレンズシート）が大きい場合には、複
数のＣＣＤラインセンサカメラにて分割して撮像し、あ
わせて前記必要な所定領域の画像データ（信号）を得て
も良い。また、上記実施例１と実施例２の装置を一つに
した構成で、レンチキュラーレンズシート樹脂内部の欠
陥とブラックストライプ部の遮光性の膜の欠陥を一つの
撮影装置により、検出することも可能である。
【００１６】
【発明の効果】本発明は、上記のように、レンチキュラ
ーレンズを透過または反射暗視野照明し、線状領域撮像
手段によって撮影した画像データに画像処理を施して試
料の欠陥を検出する自動検査装置において、高品位化、
多量産に対応でき、試料の撮像視野領域内のどの位置に
対しても均一な検出感度を得ることができる撮像手段を
有する装置の提供を可能にしている。
ーレンズを透過または反射暗視野照明し、線状領域撮像
手段によって撮影した画像データに画像処理を施して試
料の欠陥を検出する自動検査装置において、高品位化、
多量産に対応でき、試料の撮像視野領域内のどの位置に
対しても均一な検出感度を得ることができる撮像手段を
有する装置の提供を可能にしている。
【図１】実施例１のレンチキュラーレンズシートの欠陥
検出装置の概略図
検出装置の概略図
【図２】実施例２のレンチキュラーレンズシートの欠陥
検出装置の概略図
検出装置の概略図
【図３】空間フイルタを示した図
【図４】実施例における画像処理を説明するための図
【図５】レンチキュラーレンズシートの欠陥を示した図
【図６】あおり撮影による撮像を説明するための図
１１０Ａ、１１０Ｂ、１１０Ｃ ＣＣＤラインセン
サカメラ １２０ 光源 １３０ フレネルレンズ １４０ レンチキュラーレ
ンズシート １５０ 撮像視野領域 １７０ 画像処理部 ２１０Ａ、２１０Ｂ ＣＣＤラインセン
サカメラ ２２０ 光源 ２３０Ａ、２３０Ｂ フレネルレンズ ２４０ レンチキュラーレ
ンズシート ２５０、２５０Ａ、２５０Ｂ 撮像視野領域 ２７０ 画像処理部 ５００ レンチキュラーレ
ンズシート ５１０、５１１ レンチキュラーレ
ンズ部 ５３０ ブラックストライ
プ
サカメラ １２０ 光源 １３０ フレネルレンズ １４０ レンチキュラーレ
ンズシート １５０ 撮像視野領域 １７０ 画像処理部 ２１０Ａ、２１０Ｂ ＣＣＤラインセン
サカメラ ２２０ 光源 ２３０Ａ、２３０Ｂ フレネルレンズ ２４０ レンチキュラーレ
ンズシート ２５０、２５０Ａ、２５０Ｂ 撮像視野領域 ２７０ 画像処理部 ５００ レンチキュラーレ
ンズシート ５１０、５１１ レンチキュラーレ
ンズ部 ５３０ ブラックストライ
プ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−260585（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−307645（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−189606（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−25041（ＪＰ，Ａ) 実開 平４−69759（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/89 G01N 21/892 G06T 1/00 400 G06T 1/00 420
Claims (3)
- 【請求項１】 少なくとも、レンチキュラーレンズの方
向に連続する板状のレンチキュラーレンズシートを、レ
ンチキュラーレンズの方向に一定の速度で移動させなが
ら、透過光ないし反射暗視野光により欠陥を検出する欠
陥検査装置であって、レンチキュラーレンズシートの幅
を跨ぐ、該レンチキュラーレンズシートの所定直線領域
を、光学的結像手段を介して、透過光およびまたは反射
暗視野照明にて撮像するための１個ないし複数の線状領
域撮像手段と、レンチキュラーレンズを撮像するための
前記１個ないし複数の線状領域撮像手段に対し、撮像の
為の透過光照明を供給する照明手段と、線状領域撮像手
段により得られた画像データに基づき、欠陥の検出を行
う画像処理手段とを備えており、且つ、前記光学的結像
手段は、レンチキュラーレンズシートからの垂直入射光
のみを線状領域撮像手段へ入射させることを特徴とする
レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の光学的結像手段がフレネ
ルレンズであることを特徴とするレンチキュラーレンズ
シートの欠陥検査装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の光学的結像手段が凸レン
ズであることを特徴とするレンチキュラーレンズシート
の欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32398994A JP3357967B2 (ja) | 1994-12-02 | 1994-12-02 | レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32398994A JP3357967B2 (ja) | 1994-12-02 | 1994-12-02 | レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08159988A JPH08159988A (ja) | 1996-06-21 |
| JP3357967B2 true JP3357967B2 (ja) | 2002-12-16 |
Family
ID=18160887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32398994A Expired - Fee Related JP3357967B2 (ja) | 1994-12-02 | 1994-12-02 | レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3357967B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014066663A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-17 | Dainippon Printing Co Ltd | 外観検査システム、外観検査方法 |
-
1994
- 1994-12-02 JP JP32398994A patent/JP3357967B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08159988A (ja) | 1996-06-21 |
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|---|---|---|---|
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