JP3259071B2 - レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置 - Google Patents

レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置

Info

Publication number
JP3259071B2
JP3259071B2 JP34472993A JP34472993A JP3259071B2 JP 3259071 B2 JP3259071 B2 JP 3259071B2 JP 34472993 A JP34472993 A JP 34472993A JP 34472993 A JP34472993 A JP 34472993A JP 3259071 B2 JP3259071 B2 JP 3259071B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lenticular lens
lens sheet
light
defect
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP34472993A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07181144A (ja
Inventor
潤 長谷川
元 宮下
稔 中西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP34472993A priority Critical patent/JP3259071B2/ja
Publication of JPH07181144A publication Critical patent/JPH07181144A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3259071B2 publication Critical patent/JP3259071B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,透過型プロジエクショ
ンスクリーンに使用されるレンチキュラーレンズシート
の外観検査装置に関し、特に、レンチキュラーレンズシ
ートのブラックストライプの白欠陥の検出がインライン
で可能な、コンパクトな自動検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】透過型プロジエクションスクリーン用の
レンチキュラーレンズシートは、図4に示すような、ス
クリーンとして使用した場合の光源側と出光面側にそれ
ぞれレンチキュラーレンズ7、7aを設けたもので、出
光面側のレンチキュラーレンズ7間にブラックストライ
プ8と呼ばれる、遮光性のストライプ部を配設した構成
のものが一般的であり、遮光性のストライプ部8は、ス
クリーンとして使用された場合、コントラストを上げ、
画像をシヤープにするためのものである。ところが、こ
のブラックストライプ8における、遮光性の膜部は、一
般的には、レンチキュラーレンズシート6をポリカーボ
ネート樹脂等にて押出成形した後、引き続きロール間を
通しながら印刷して作製しており、この遮光性の膜部が
作製される過程やその後において部分的に薄膜部が欠如
または破損した箇所(以後、白欠陥と言う。)が発生す
る。この為、スクリーンとして使用された場合には、外
部からの反射光により、コントラストや画像のシヤープ
さを損なう原因となっており、その箇所を特定し、修正
を施すか、そのスクリーンを選別除去しなければなら
ず、この白欠陥部の箇所を特定するための検査が必要で
あった。従来、この透過型プロジエクションスクリーン
用のレンチキュラーレンズシートの外観欠陥検査方法と
しては、適当な自動検査装置は無く、人間の目視による
方法が採られていた。しかしながら、近年、透過型プロ
ジエクションスクリーン用のレンチキュラーレンズシー
トについては、益々、高品位、多量産が求められるよう
になってきており、従来の肉眼での検査については、人
による差や、再現性に問題がある為、人手でない、自動
化された装置による検査が求められるようになってき
た。また、量産対応としても自動化された装置による検
査が求められるようになってきた。又、一連のレンチキ
ュラーレンズシート作製工程において、検査工程をイン
ライン化することも求められるようになってきた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような状況のも
と、透過型プロジエクションスクリーン用のレンチキュ
ラーレンズの量産に対応して、レンチキュラーレンズの
欠陥検出をコンパクトな自動外観検査装置にて一度に行
うことが求められていた。本発明は、レンチキュラーレ
ンズの自動外観検査装置に関するもので、詳しくは、透
過型プロジエクションスクリーン用のレンチキュラーレ
ンズシートのブラックストライプ部の白欠陥の検出がイ
ンラインで可能な、コンパクトな自動外観検査装置に関
する。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のレンチキュラー
レンズシートの欠陥検査装置は、少なくとも出光面側に
レンチキュラーレンズ配列を有し、該レンズ配列間に遮
光性の薄膜をストライプ状に設けたブラックストライプ
部を配設した透過型プロジエクションスクリーン用のレ
ンチキュラーレンズシートを、出光面側のレンチキュラ
ーレンズのレンズ方向に一定速度で移動させながら、反
射暗視野照明を用い、出光面側から線状領域撮像手段に
より撮像し、撮像により得られた信号を画像処理するこ
とにより、ブラックストライプ部の白欠陥を検出する自
動検査装置であって、出光面側のレンチキュラーレンズ
シートの正面から、レンチキュラーレンズシートの移動
方向に直交する方向の幅を跨ぐ、レンズ面上の一直線上
を所定幅を含み撮像し、レンチキュラーレンズシートが
移動することにより試料の所定領域を撮像する、1個な
いし複数の線状領域撮像手段と、各撮像手段に対応し
て、撮像手段の受像面上に欠陥からの光を結像させる1
個ないし複数からなる結像手段と、前記各線状領域撮像
手段に対して反射暗視野照明する照明手段と、各線状領
域撮像手段により撮像された画像信号を画像処理する画
像処理手段とを備えているものである。尚、ここでは、
暗視野照明とは、図1に示すように、照明光からの光の
方向が撮像手段からズレたもので、欠陥がない箇所にお
いては、光が撮像手段へは入射されず、欠陥がある箇所
においては、欠陥部からの散乱光ないし回折光が撮像手
段へ入射されるもので、これに対して、明視野照明とは
照明光からの光の方向が撮像手段と合ったもので、欠陥
がない箇所においては、所定の光量が撮像手段へ入射さ
れ、欠陥がある箇所においては、撮像手段への光量が所
定の量から変化するものをいっている。そして、ここで
は、レンチキュラーレンズシートとは図4に示すような
蒲鉾状の凸部(レンズ部)配列を有する、枚葉ないし連
続する透過型プロジエクションスクリーン用レンズシー
トを言い、レンズ方向とは、蒲鉾状の凸部の連なる方向
を言っている。図4の場合は、スクリーンとした場合の
出光面側と光源側との両方にレンチキュラーレンズ配列
を有するものである。又、レンチキュラーレンズシート
の移動方向に直交する方向の幅を跨ぐ、レンズ面上の一
直線が、必ずしもレンチキュラーレンズシートの移動方
向に直交する必要はない。
【0005】本発明の自動検査装置は、レンチキュラー
レンズシートをレンズ方向に一定速度で移動させながら
欠陥検査をする装置であり、線状領域撮像手段により、
レンチキュラーレンズシートの移動方向に直交する方向
の幅を跨ぐ、直線上を所定幅を含み撮像し、レンチキュ
ラーレンズシートが移動することにより、レンチキュラ
ーレンズシートの所定領域を撮像するものである。そし
て、線状領域撮像手段は1個ないし複数からなるもの
で、線状領域撮像手段は、この1個ないし複数の線状領
域撮像部の視野を合わせて、レンチキュラーレンズシー
トの移動方向に直交する方向の幅を跨ぐ、一直線上を所
定幅を含む撮像をしているものである。ここで、線状領
域撮像手段とはCCD素子等の画素素子からなるライン
センサー等の線状領域を撮像できるものである。結像手
段はレンズ系であり、各線状領域撮像手段に対応して配
設されており、欠陥からの光を線状領域撮像手段の受像
面上に結像するものである。又、照明手段の光源として
は、ハロゲン光源等が挙げられるが、特にこれに限定は
されない。そして、本発明の自動検査装置は、反射暗視
野照明のみを用いており、検出感度の高いものとしてお
り、全体の構成をコンパクトなものとしている。
【0006】透過型プロジエクションスクリーンとして
は、スクリーンの表裏でレンズ方向が直交するようにし
たものや、フレネルレンズを入光側、レンチキュラーレ
ンズを出光側としたものや、図4のようなもの等、表裏
形状に各種組合せが考えられるが、最も一般的に使用さ
れている透過型プロジエクションスクリーン用としての
レンチキュラーレンズシートとしては、図4のように、
出光面側、照明側(光源側)ともに同じ方向にレンチキ
ュラーレンズ(蒲鉾状凸部レンズ)を有し、且つ、出光
面側のレンチキュラーレンズ(蒲鉾状凸部レンズ)配列
の間に遮光部(ブラックストライプ部)を設けたもので
ある。基本的に、透過型プロジエクションスクリーンの
出光面側のレンチキュラーレンズ(蒲鉾状凸部レンズ)
配列間に遮光性のカーボンブラック膜からなるブラック
ストライプを有するものは、本発明装置にて欠陥の検出
は可能である。欠陥検出は、反射暗視野照明による撮像
手段からの信号を処理するもので、欠陥部の箇所におい
て散乱ないし回折されることによる光量の変化を画像処
理し、欠陥を検出するものであり、撮像手段への信号
は、欠陥がない箇所では略一定(略0)で、欠陥がある
箇所においては、欠陥部からの散乱光ないし回折光が撮
像手段への信号となるものである。ここで、反射暗視野
照明による撮像を行うのは、図4のようなレンチキュラ
ーレンズシートは、設計自体が透過光を用いた場合に
は、ストライプが構成される部分への光量が極めて少な
くなるようにされている為、ストライプ部の白欠陥を検
出するために透過光量を大きくしなければならず、実用
的でないというのが第一の理由であり、反射暗視野照明
による検出の場合、明視野照明に比べS/Nが大である
ことが第二の理由であり、結局、反射暗視野照明による
方が明視野照明よりも検出の感度がよいことによる。
【0007】本発明の欠陥検査装置における画像処理部
は、撮像により得られた画像信号を一次微分処理ないし
二次微分処理することにより、信号の変化を得て欠陥を
特定するものである。この微分処理は、要素配列を有す
るフイルタを用いて、サンプリング毎に、加減乗除演算
して行うものであり、図3に示すように、順次得られた
ラインデータ毎に微分処理を行うものである。尚、ここ
では、撮像手段から得られた、画素データP(x、y)
と空間フイルターテーブルW(i、j)を用い、P
(x、y)とW(i、j)との積和演算を行うものをフ
イルタと言い、図2に示すような微分フイルタ(空間フ
イルタ)を用いる。図2(b)のように(−1、+1)
に空間フイルタテーブル(重みテーブル)を設定するこ
とで一次微分処理が行え、図2(a)のように(+1、
−2、+1)に空間フイルタテーブル(重みテーブル)
を設定することによりX方向2画素分平滑処理をした二
次微分処理が行なえる。着目画素Nの画素データをXn
とすると、画素方向についての二次微分処理の場合、画
素データと空間フイルターテープルとの積和演算S
n は、(+1)×Xn-1 +(−2)×Xn +(+1)×
n+1 となる。このようにして得られた、Sn (nは2
以上の整数)についてスライス処理を行ない欠陥を検出
する。図3における、二次微分は、サンプリングによっ
て得られるライン間で、同じ位置の各画素データについ
て、空間フイルタテーブルとの積和演算を行うもので、
所定数の連続するサンプリングにより得られるラインデ
ータを蓄積しておき、このラインデータ間で行う。図3
の場合は、9ラインデータ間でこの処理を行うが、新た
なラインデータをサンプリングする毎に漸次古いライン
データを除き、いつも9ラインデータでこの処理を行う
ものであり、図3(イ)ではDijをj番目ラインデータ
におけるi番目の位置の画素データを表しており、M番
目位置における画素データをライン間で積和演算した場
合、二次微分処理、一次微分処理はそれぞれ図3
(ロ)、図3(ハ)に示すようになる。尚、ここで、ラ
インデータとは、1個ないし複数個の線状領域撮像部に
よりえられる、レンチキュラーレンズシートの移動方向
に直交する方向の幅を跨ぐ、一直線上の所定幅を含む視
野の1サンプリングにおける撮像データのうち上記所定
幅全域に相当するデータを言っている。
【0008】
【作用】本発明のレンチキュラーレンズシートの欠陥検
査装置は、このような構成にすることにより、インライ
ンにて検査できる、コンパクトで量産にも対応できる外
観欠陥の自動検査装置の提供を可能としている。そし
て、本発明のレンチキュラーレンズシートの欠陥検査装
置は、シートの出光面側の、正面から撮像するもので、
反射暗視野照明を用いることにより、欠陥の検出感度を
高くするとともに、全体の構成を簡単な、コンパクトな
ものとしている。そして、撮像手段から得られた、画像
信号を処理する画像処理手段を設けており、レンチキュ
ラーレンズシートを移動させながらのインラインでの欠
陥検査を自動で行うことを可能としている。
【0009】
【実施例】本発明のレンチキュラーレンズ欠陥検査装置
の実施例1を以下、図にそって説明する。図1は実施例
1における装置概略図である。図4はここで使用される
レンチキュラーレンズシートの斜視図である。図1中、
1a、1bはCCDラインセンサカメラ、2は光源、3
はレンチキュラーレンズシート(試料)、4は画像処理
装置、5は各CCDラインセンサカメラの撮像視野であ
る。尚、図1においては、簡略の為、撮像手段と結像手
段(レンズ系)とが一体となったものとして、CCDラ
インセンサカメラ1a、1bを扱っている。検査試料で
あるレンチキュラーレンズシート3は連続帯状のもの
で、振動することなく、矢印の方向に一定速度で、図4
の出光面側を上にして移動する。CCDラインセンサカ
メラ1a、1bはそれぞれの視野が接するか、または重
なるように設置し、2台で試料の幅方向の一直線上の視
野5全体を撮像する。光源2は各CCDラインセンサカ
メラに対して、試料3を反射暗視野照明する。自動検査
を行う場合、一定速度で移動するレンチキュラーレンズ
3を光源2で照明しCCDラインセンサカメラ1a、1
bで撮像する。視野5はCCDラインセンサカメラ1
a、1bで撮像される視野で、レンチキュラーレンズシ
ート3が移動する方向にほぼ直交する、レンズ面上の一
直線上の所定幅を撮像するものである。撮像した画像信
号に画像処理として図3に示すライン間演算を行うこと
で、図2(a)、(b)に示したフイルタリングによる
二次微分、一次微分処理とおなじ効果を得、これを微分
処理と言っている。演算後、二次、または一次微分信号
のうち、所定のしきい値を越えるものを欠陥として検出
する。ここで、レンチキュラーレンズシートの反射暗視
野照明によって検出される欠陥は図4のようなもので、
図4中、7はスクリーンとして使用された場合の出光側
のレンチキュラーレンズで、9が白欠陥である。この欠
陥はブラックストライプ部の遮光性の膜の欠け等による
ものである。
【0010】
【発明の効果】上記のような構成にすることにより、本
発明は、透過型プロジエクションスクリーン用のレンチ
キュラーレンズシートの高品位化、多量産化に対応し
た、インラインにて検査ができる、コンパクトで安価な
ブラックストライプ部の白欠陥の自動検査装置の提供を
可能としている。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1における装置概略図
【図2】本発明の実施例における画像処理を説明するた
めの図
【図3】本発明の実施例における画像処理を説明するた
めの図
【図4】欠陥を示したレンチキュラーレンズシートの斜
視図
【符号の説明】
1a、1b CCDラインセンサカメラ 2 光源 3 レンチキュラーレンズシート 4 画像処理装置 5 撮像視野 6 レンチキュラーレンズシート 7 、7a レンチキュラーレンズ 8 ブラックストライプ 9 白欠陥
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−260585(JP,A) 特開 平1−237441(JP,A) 特開 平3−2857(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/84 - 21/958

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも出光面側にレンチキュラーレ
    ンズ配列を有し、該レンズ配列間に遮光性の薄膜をスト
    ライプ状に設けたブラックストライプ部を配設した透過
    型プロジエクションスクリーン用のレンチキュラーレン
    ズシートを、出光面側のレンチキュラーレンズのレンズ
    方向に一定速度で移動させながら、反射暗視野照明を用
    い、出光面側から線状領域撮像手段により撮像し、撮像
    により得られた信号を画像処理することにより、ブラッ
    クストライプ部の白欠陥を検出する自動検査装置であっ
    て、出光面側のレンチキュラーレンズシートの正面か
    ら、レンチキュラーレンズシートの移動方向に直交する
    方向の幅を跨ぐ、レンズ面上の一直線上を所定幅を含み
    撮像し、レンチキュラーレンズシートが移動することに
    より試料の所定領域を撮像する、1個ないし複数の線状
    領域撮像手段と、各撮像手段に対応して、撮像手段の受
    像面上に欠陥からの光を結像させる1個ないし複数から
    なる結像手段と、前記各線状領域撮像手段に対して反射
    暗視野照明する照明手段と、各線状領域撮像手段により
    撮像された画像信号を画像処理する画像処理手段とを備
    えていることを特徴とするレンチキュラーレンズシート
    の欠陥検査装置。
JP34472993A 1993-12-21 1993-12-21 レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置 Expired - Fee Related JP3259071B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34472993A JP3259071B2 (ja) 1993-12-21 1993-12-21 レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34472993A JP3259071B2 (ja) 1993-12-21 1993-12-21 レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07181144A JPH07181144A (ja) 1995-07-21
JP3259071B2 true JP3259071B2 (ja) 2002-02-18

Family

ID=18371527

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34472993A Expired - Fee Related JP3259071B2 (ja) 1993-12-21 1993-12-21 レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3259071B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103630544B (zh) * 2013-11-07 2016-09-14 江苏大学 一种视觉在线检测系统

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07181144A (ja) 1995-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3668294B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JP4511978B2 (ja) 表面疵検査装置
JP2008026060A (ja) 絶縁皮膜被覆帯状体の疵検査装置
JPS61256237A (ja) 周期性パタ−ンの欠陥検査方法
JPH11311510A (ja) 微小凹凸の検査方法および検査装置
JP3259071B2 (ja) レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置
JP3357968B2 (ja) レンチキュラーレンズシートの欠陥検査方法
JP2792517B2 (ja) 試料の検査方法
JPH11248643A (ja) 透明フィルムの異物検査装置
JP3314253B2 (ja) ビューファインダー用カラーフイルターの検査装置
JP3357966B2 (ja) レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置
JP3259070B2 (ja) レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置
JP3324018B2 (ja) レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置
JP3357967B2 (ja) レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置
JP3390931B2 (ja) 着色パターンの欠陥検査方法
JPH10115514A (ja) 表面平滑性の検査方法及びその装置
JP3202089B2 (ja) 周期性パターンの表面欠陥検査方法
JP3507171B2 (ja) レンチキュラーレンズシートの欠陥検査方法
JP2911619B2 (ja) 周期性パターンの表面欠陥検査方法および装置
JP2790284B2 (ja) 周期性パターンの検査方法
JP3243703B2 (ja) ビューファインダー用カラーフイルターの欠陥検出方法
JP3984367B2 (ja) 表面欠陥の検査方法および検査装置
JP3314251B2 (ja) 欠陥検査方法
JPH08178864A (ja) レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置
JPH1172313A (ja) 板材の歪み検査装置及びその方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20011023

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees