JP3357966B2

JP3357966B2 - レンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置

Info

Publication number: JP3357966B2
Application number: JP32115694A
Authority: JP
Inventors: 潤長谷川; 稔中西
Original assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Current assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date: 1994-12-01
Filing date: 1994-12-01
Publication date: 2002-12-16
Anticipated expiration: 2017-12-16
Also published as: JPH08159987A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は，透過型プロジエクショ
ンスクリーンに使用されるレンチキュラーレンズシート
の外観検査装置に関し、特に、レンチキュラーレンズシ
ートの欠陥検出をインラインで行う際の条件設定ができ
る自動検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】透過型プロジエクションスクリーン用の
レンチキュラーレンズシートは、アクリル樹脂、ポリカ
ーボネート樹脂等の透明樹脂からなり、押し出し成形に
より作製されているが、その製造過程においては、設計
形状とは異なる外観上の局部的変化、即ち樹脂内部の異
物、気泡、樹脂外部表面の汚れや傷等が発生する。これ
らの外観上の曲部的変化の殆どは、レンチキュラーレン
ズシートをスクリーンとして使用した場合、局部的に光
透過率（光透過量）を変化させ、均一性を損なうため、
外観欠陥として選別除去することが必要であった。スク
リーンとして使用した場合、大部分が曲部的に暗くなる
ためこれを黒欠陥と呼ぶ。図１０（ａ）はレンチキュラ
ーレンズシートの断面図であるが、ここにに示すように
レンチキュラーレンズシート１０００の樹脂内部の色々
な箇所に黒欠陥は発生する。例外的には局部的に明るく
なる場合もある。また、図１０に示すように、透過型の
プロジエクションスクリーン用のレンチキュラーレンズ
シート１０００は、一般に、スクリーンとして使用した
場合の光源側と出光面側にレンチキュラーレンズ１０１
０、１０１１を設け、且つ、スクリーンとして使用され
た場合、コントラストを上げ画像をシヤープにするため
に、出光面側のレンチキュラーレンズ１０１０間にブラ
ックストライプ１０３０と呼ばれる、遮光性のストライ
プ部を配設している。このブラックストライプと呼ばれ
る、遮光性のストライプ部は、レンチキュラーレンズシ
ートをアクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等にて押し
出し成形した後、引き続きロール間を通しながら遮光性
の膜部を印刷して作製しており、遮光性の膜部が作製さ
れる過程やその後において部分的に欠如または破損した
箇所（以後、白欠陥と呼ぶ）が発生する。この為、スク
リーンとして使用された場合には、外部からの反射光に
より、コントラストや画像のシヤープさを損なう原因と
なっており、その箇所を特定し修正するか、そのスクリ
ーンを選別除去しなければならず、この白欠陥部の箇所
を特定しておくことが必要であった。

【０００３】従来、レンチキュラーレンズシートの上記
欠陥を検出する外観検査方法としては、人間の目視によ
る方法が採られていた。しかしながら、近年、透過型プ
ロジエクションスクリーン用のレンチキュラーレンズシ
ートについては、益々、高品位化、多量産化が求められ
るようになってきており、従来の肉眼での検査について
は、人による差や、再現性に問題があるため、人手に代
わり、安定して欠陥を検出しコンパクトで安価な自動検
査装置が求められるようになってきた。又、量産対応と
しても自動化された装置による検査が求められてきた。
更に、自動検査装置の導入においては、レンチキュラー
レンズの製造に干渉することなく、自動検査に必要なパ
ラメータを設定できる、即ち、自動検査装置の条件を設
定できることが求められていた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】このように、益々、高
品位化、多量産化が求められる中、レンチキュラーレン
ズを透過または反射暗視野照明し、線状領域撮像手段に
よって撮影した画像に画像処理を施して試料の欠陥を製
造ライン（インライン）で検出する自動検査の実現が求
められるようになってきた。本発明は、このような状況
のもと、高品位化、多量産に対応できる、レンチキュラ
ーレンズを透過または反射暗視野照明し、線状領域撮像
手段によって撮影した画像に画像処理を施して試料の欠
陥を検出する自動検査装置において、レンチキュラーレ
ンズの製造品種変更時等必要な場合に、自動検査に必要
なパラメータを設定簡単にできる装置を提供しようとす
るものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明のレンチキュラー
レンズシートの欠陥検査装置は、少なくとも、レンチキ
ュラーレンズシートの移動方向に対して略直角方向の幅
を跨ぐ、レンチキュラーレンズシート面上の一直線上の
所定幅を、透過光ないし反射暗視野光にて撮像するため
の１個ないし複数の線状領域撮像手段と、レンチキュラ
ーレンズを撮像するための前記１個ないし複数の線状領
域撮像手段に対し、撮像の為の透過光照明およびまたは
反射暗視野照明を供給する照明手段と、線状領域撮像手
段により得られた画像データに基づき、欠陥の検出を行
う画像処理手段とを備えて、連続する板状のレンチキュ
ラーレンズシートを一定速度で移動させながら、透過光
ないし反射暗視野光により、該レンチキュラーレンズシ
ートの欠陥を検出する欠陥検査装置であって、前記線状
領域撮像手段と照明手段とは一体となって撮影手段を形
成しており、且つ、該撮影手段には、オフライン位置に
おいて、レンチキュラーレンズシートの移動方向にそっ
て動く、条件設定を行うためのサンプル搬送用のベルト
コンベアが設けられていることを特徴とするものであ
る。そして、上記において、撮影手段を製造ライン（イ
ンライン）とオフライン間で移動する移動手段を備えて
いることを特徴とするものである。また、上記における
ベルトコンベアは折り畳式であることを特徴とするもの
である。尚、レンチキュラーレンズシートの移動方向
は、レンチキュラーレンズの方向、即ち図１０図におけ
るブラックストライプ１０３０のストライプ方向であ
る。

【０００６】

【作用】本発明のレンチキュラーレンズシートの欠陥検
査装置は、上記のような構成にすることにより、高品位
化、多量産に対応できる、レンチキュラーレンズを透過
または反射暗視野照明し、線状領域撮像手段によって撮
影した画像に画像処理を施して試料の欠陥を検出する自
動検査装置において、レンチキュラーレンズの製造品種
変更時等必要な場合に、自動検査に必要なパラメータの
設定を簡単にできるものとしている。そして、撮影手段
を製造ライン（インライン）とオフライン間で移動する
移動手段を備えていることにより、製造ライン（インラ
イン）からオフラインへ退避し、サンプルにより製品の
自動検査に必要なパラメータの設定をすることを可能と
している。又、（条件設定を行うためのサンプル搬送用
の）ベルトコンベアを折り畳式として、撮影手段に設け
ていることより、サンプル搬送による条件設定の作業か
ら製造ライン（インライン）での作業の切り替えを、早
かに、簡単にできるものとしている。

【０００７】

【実施例】本発明のレンチキュラーレンズシートの欠陥
検査装置の実施例を挙げ、以下、図に基づいて本発明を
説明する。先ず、本発明のレンチキュラーレンズシート
の欠陥検査装置の実施例１を挙げる。実施例１のレンチ
キュラーレンズシートの欠陥検査装置は、樹脂内部の異
物、気泡、樹脂外部表面の汚れや傷等に起因する欠陥
（黒欠陥）を検出するための欠陥検査装置であり、図１
は実施例１のレンチキュラーレンズシートの欠陥検査装
置の概略図で、図２（ａ）、図２（ｃ）は、条件設定用
のサンプルを搬送させるためのベルトコンベアの動作を
説明するための図で、図２（ｃ）は撮影装置を移動する
ための手段を説明するための図である。図１、図２中１
００はレンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置、１
１０は撮像手段、照明手段を一体として固定した撮影装
置で、１１１はベルトコンベア、１１２は位置決め用マ
ーク、１１３はレンチキュラーレンズシート通過用凹
部、１２０は画像処理部で、１３０は連続する板状のレ
ンチキュラーレンズシート、１４０はレール、１４１は
車輪である。１１０ａは、撮影手段１１０がインライン
の位置に置かれた状態を示し、１１０ｂはオフラインの
位置に退避して置かれた状態を示している。

【０００８】本実施例レンチキュラーレンズシートの欠
陥検査装置１００は、図１に示すように、製造ライン
（インライン）にて検査する際には、レンチキュラーレ
ンズシート１３０を撮影装置１１０のレンチキュラーレ
ンズシート通過用凹部１１３に一定の速度で通過させ、
通過時に撮影装置１１０にてレンチキュラーレンズシー
ト１３０の所定領域を撮影し、画像信号（データ）を得
て、得られた画像信号（データ）を画像処理部１２０で
処理し、欠陥検出を行うものであり、製造品種の変更等
により、製造ライン（インライン）からオフラインに撮
影装置１１０を退避させ、欠陥サンプルにより製品の自
動検査に必要なパラメータの設定をすることができる装
置である。撮影装置１１０は、図１に示すレール１４０
を介して、製造ラインとオフラインとの間を移動するこ
とができるもので、図２（ｃ）に示すようにレール上を
撮影装置１１０に設けた車輪１４１にて移動する。撮影
装置１１０に設けられたベルトコンベア１１１は、図２
（ａ）に示すように、使用時には、条件設定用の欠陥サ
ンプルを移動させるため（イ）の状態にするが、製造ラ
インにて製品を検査する場合等、使用する必要がない時
には（ロ）の状態に折り畳んでおく。撮影装置１１０を
図１の１１０ｂの製造ラインから離れたオフラインに退
避させた状態で、通常はサンプルにより製品の自動検査
に必要なパラメータの設定をする。

【０００９】撮影装置１１０に設けられたベルトコンベ
ア１１１に、欠陥サンプルを載せ自動検査の条件設定を
する方法を以下簡単に説明する。先ず、欠陥サンプル
（図示していない）の欠陥部が撮影装置１１０に内蔵さ
れた撮像手段（ここではＣＣＤラインセンサカメラ）の
視野の中央に搬送されるように、図２（ｂ）に示す位置
決め用マーク１１２に合わせて、ハ側のベルトコンベア
１１１上に置く。尚、ベルトコンベア１１１上の矢印
は、ベルトの回転方向を示している。次いで、ベルトコ
ンベア１１１を回転させ、欠陥サンプルの搬送を開始す
ると、欠陥サンプルはハ側からニ側に向かって動き出
す。欠陥サンプルがＣＣＤラインセンサカメラの視野に
到達するまでは、カメラは撮影装置１１０に内蔵された
直接光源を像影しているので、図６（ａ）のように視野
全域で飽和した状態になっているが、欠陥サンプルがカ
メラ視野に到達した時点で、図６（ｂ）のような波形に
なるため、この波形変化を認識し画像処理を開始する。
尚、図６（ｂ）はＣＣＤラインセンサカメラが８ビット
２５６階調（０階調〜２５５階調）で撮像する場合を示
したものである。この後、欠陥サンプルがカメラの視野
からはずれた時点で画像処理を終了する。図５は欠陥サ
ンプルに対する画像処理を行う画像処理系装置のブロッ
ク図であり５０１はＣＣＤラインセンサカメラ、５０２
は画像処理装置、５０３はモニタであるが、条件設定に
おいて欠陥サンプルの搬送および画像処理が終了する
と、モニタ５０３にデフオルトのしきい値による２値化
画像が出力される。装置はしきい値を再設定すると２値
化画像がしきい値に合わせて再出力させることができる
ので、ノイズ等による擬似欠陥がなく欠陥のみを単独抽
出できるしきい値を求め、自動検査に用いるしきい値と
して保存する。カメラ視野の他の点はシエーデイングに
よるカメラ撮像信号の輝度分布に比例するように設定す
る。また、欠陥サンプルとしては、後述する各種の黒欠
陥サンプル、白欠陥サンプルを用意して、それぞれの欠
陥に対して、それらを検出できるカメラ毎に条件を設定
する。

【００１０】本実施例レンチキュラーレンズシートの欠
陥検査装置１００の、欠陥検出の機能構成のみを示した
全体の概略構成は、図３に示されるようになっており、
撮影手段１１０は、レンチキュラーレンズシート通過用
凹部１１３の上側に、図３に示す撮像手段としてのＣＣ
Ｄラインセンサカメラ３００ａ、３００ｂ、３００ｃを
設け、レンチキュラーレンズシート通過用凹部１１１の
下側に、図３に示す照明手段としての線状の光源３１０
を設けている。ＣＣＤラインセンサカメラ３００ａは撮
像視野３４０を正面から撮像し、ＣＣＤラインセンサカ
メラ３００ｂ、３００ｃは撮像視野３４０を正面をそれ
ぞれ図で左右からあおり撮影する。光源３１０は各ＣＣ
Ｄラインセンサカメラに対して試料であるレンチキュラ
ーレンズシート３３０を透過明視野照明する。図３中
で、各ＣＣＤラインセンサカメラから出ている２本の線
は各カメラがとる視野を表している。レンチキュラーレ
ンズシート３３０には図１０（ａ）に示す位置に黒欠陥
があるとすると、欠陥Ａは試料の正面からは見えて斜め
からは見えない欠陥、欠陥Ｂは試料の斜めからは見えて
正面からは見えない欠陥Ｃは試料の正面、斜めどちらか
でも見える欠陥であり、欠陥Ａは正面から撮像するカメ
ラ３００ａにより、欠陥Ｂは斜めからあおり撮像するカ
メラ３００ｂないし３００ｃにより、欠陥Ｃは、カメラ
３００ａ、３００ｂないし３００ｃにより撮像すること
ができる。尚、ここでは、あおり撮影とは、図１１に示
すように、結像部（レンズ系）の画角の周辺部を利用し
て、撮像部の受像面上に試料の像を結像させるものであ
り、通常の撮像とは、あおり撮影でない撮像を言ってい
る。透過型のプロジエクションスクリーンとしては、ス
クリーンの表裏でレンズ方向を直交するうよにしたもの
や、フレネルレンズを入光側、レンチキュラーレンズを
出光側としたものや、図１０に示すようなもの等、表裏
形状に各種組合せが考えられるが、基本的に、透過型プ
ロジエクションスクリーンの出光面側にレンチキュラー
レンズ（蒲鉾状凸レンズ）配列を有するものであれば、
本実施例装置にて欠陥検出は可能である。又、レンチキ
ュラーレンズシートの場合、外観上の欠陥は大部分が黒
欠陥となる為、黒欠陥のみが、一般には透過型プロジエ
クションスクリーン用の外観欠陥として検査され除去さ
れている。しかし、後述する欠陥検出（画像処理）に
は、撮像により得られた信号を微分処理しており、基本
的には曲部的に明るくなる欠陥も検出可能であるが、こ
の欠陥の場合は、欠陥に対応した外観上の変化を即、判
断できないことが多い。

【００１１】撮影手段１００としては図３に示す構造の
他に、図４に示すミラーを用いた構造のものでも良い。
図４に示す構造のものは、撮影手段１１０をより小さく
コンパクトなものとするため、ミラーを用いた場合で、
図４は、撮像手段としてのＣＣＤラインセンサカメラ４
００ａ、４００ｂ、４００ｃと光源４１０と、ミラー４
２０ａ、４２０ｂ、４２０ｃと撮像視野４３０との位置
関係のみを示した図である。このようにすることによ
り、広い範囲の撮像視野４３０を得るのに、装置全体を
大きくしないで済む。図４において、ＣＣＤラインセン
サカメラ４００ａは撮像視野４３０を正面から撮像し、
ＣＣＤラインセンサカメラ４００ｂ、４００ｃは撮像視
野４３０を左右からあおり撮像する。図４の場合も、図
３と同様に、図１０（ａ）に示す欠陥Ａ、欠陥Ｂ、欠陥
Ｃのすべてを撮像することができる。

【００１２】次いで、図３ないし図４における撮像によ
ってえられた画像データを本実施例レンチキュラーレン
ズシートの欠陥検査装置１００の画像処理部１２０にて
欠陥を検出する処理について簡単に説明しておく。図１
に示す本実施例における画像処理部１２０は、撮像によ
り得られた画像信号を一次微分処理ないし二次微分処理
することにより、信号の変化を得て欠陥を特定するもの
であるが、ここでの微分処理は、要素配列を有するフイ
ルターを用いて、サンプリング毎に、積和演算して行う
ものである。尚、ここでは、撮像手段から得られた、画
像データＰ（Ｘ_ij）と空間フイルターテーブルＷ（ｉ、
ｊ）を用い、Ｐ（Ｘ_ij）とＷ（ｉ、ｊ）との積和演算を
行うことをフイルタリング処理と言い、この処理に用い
られるテーブルＷ（ｉ、ｊ）をフイルターと言い、一般
には微分フイルターないし空間フイルターと呼ぶ。画素
データのＹ方向配列についての微分フイルターは、着目
画素及びその前後の画素の、積和演算の際の重みと、配
列の方向でもって、図７のように表わされる。例えば、
画像データＰ（Ｙ_n）に対し、図７（ａ）のように（＋
１、−２、＋１）と空間フイルターテーブル（重みテー
ブル）を設定することによりＹ方向について２画素分平
滑処理をした二次微分処理が行える。着目画素をＹ_nと
した場合、画像データＰ（Ｙ_n）と空間フイルターテー
ブルとの積和演算Ｓ_nは、（＋１）×Ｙ_n-1＋（−２）
×Ｙ_n＋（＋１）×Ｙ_n+1となる。また、図７（ｂ）の
ように（−１、＋１）に空間フイルターテーブル（重み
テーブル）を設定することにより一次微分処理が行え
る。

【００１３】本実施例にレンチキュラーレンズシートの
欠陥検査装置１００の画像処理部１２０は、撮影装置１
１０の各ＣＣＤラインセンサカメラ２００ａ、２００
ｂ、２００ｃにより得られた各画像データ（信号）につ
いて、以下の処理を施したものである。図８は、１つの
ＣＣＤラインセンサカメラから得られる画像データ（信
号）についての画像処理を説明するための図である。図
８における、二次微分は、ＣＣＤラインセンサカメラに
よるサンプリングによって得られるラインデータに対
し、ライン間で、同じ位置の各画素データについて、空
間フイルターテーブルとの積和演算を行うものであり、
所定数の連続するサンプリングにより得られるラインデ
ータを蓄積しておき、このラインデータ間で積和演算を
行う。図８の場合は、９ラインデータ間でこの処理を行
うが、新たなラインデータをサンプリングする毎に漸次
古いラインデータを除き、いつも９ラインデータでこの
処理を行うものであり、図８（イ）ではＤ_ijをｊ番目ラ
インデータにおけるｉ番目の位置の画素データを表して
おり、Ｍ番目位置における画素データをライン間で積和
演算した場合、二次微分処理、一次微分処理の結果はそ
れぞれ図８（ロ）、図８（ハ）に示すようになる。この
ようにして得られた、二次微分処理の各演算結果ないし
一次微分処理の各演算結果について、更に、スライス処
理を行ない所定のしきい値を超えるものを欠陥を検出す
る。尚、ここで、ラインデータとは、撮像手段（ＣＣＤ
ラインセンサカメラ）によりえられる、レンチキュラー
レンズシートの移動方向に略直交する方向の幅を跨ぐ、
シート面上の一直線上の所定幅を含む視野の１サンプリ
ングにおける撮像データのうち上記所定幅全域に相当す
るデータを言っている。

【００１４】次いで、本発明のレンチキュラーレンズシ
ートの欠陥検査装置の実施例２を挙げる。実施例２のレ
ンチキュラーレンズシートの欠陥検査装置は、図１０に
示すブラックストライプ１０３０と呼ばれる、遮光性の
ストライプ部の遮光性の膜部の欠陥（白欠陥）を検出す
るための欠陥検査装置であり、外観は図１に示す実施例
１のものと同じであるが、欠陥検出の機能構成の全体の
概略構成は、図９に示されるようになっており、撮影手
段は、レンチキュラーレンズシート通過用凹部１１３の
上側に、図９に示す撮像手段としてのＣＣＤラインセン
サカメラ９１０と照明手段としての線状の光源９２０を
設けている。本実施例おいても、実施例１と同様に、製
造ライン（インライン）にて検査する際には、レンチキ
ュラーレンズシートを一定の速度で通過させ、通過時
に、ＣＣＤラインセンサカメラ９１０レンチキュラーレ
ンズシート９４０の所定領域を撮影し、画像信号（デー
タ）を得て、得られた画像信号（データ）を画像処理部
９３０で処理し、欠陥検出を行うものである。撮像手段
はＣＣＤラインセンサカメラ９１０が１台だけで試料
（レンチキュラーレンズシート）９４０の幅方向の一直
線上の撮像視野９５０全体を撮影する。光源９２０はＣ
ＣＤラインセンサカメラ９１０に対して試料（レンチキ
ュラーレンズシート）９４０を反射暗視野照明する。Ｃ
ＣＤラインセンサカメラ９１０により得られた画像デー
タ（信号）は実施例と同様にして、空間フイルタを用
い、一次微分処理ないし二次微分処理を行い、得られた
結果について、更に、スライス処理を行ない所定のしき
い値を超えるものを欠陥を検出する。尚、図９中、ＣＣ
Ｄラインセンサカメラ９１０からでている２本の線は、
カメラがとる視野を表している。

【００１５】上記、実施例１、実施例２においては、試
料（レンチキュラーレンズシート）の画像データ（信
号）をえるのに必要な所定領域を、１つのＣＣＤライン
センサカメラにて撮像し、画像データを得ているが、検
査する試料（レンチキュラーレンズシート）が大きい場
合には、複数のＣＣＤラインセンサカメラにて分割して
撮像し、あわせて前記必要な所定領域の画像データ（信
号）を得ても良い。また、上記実施例１と実施例２の装
置を一つにした構成で、レンチキュラーレンズシート樹
脂内部の欠陥とブラックストライプ部の遮光性の膜の欠
陥を一つの撮影装置により、検出することも可能であ
る。

【００１６】

【発明の効果】本発明は、上記のように、高品位化、多
量産に対応できる、レンチキュラーレンズを透過または
反射暗視野照明し、線状領域撮像手段によって撮影した
画像に画像処理を施して試料の欠陥を検出する自動検査
装置において、レンチキュラーレンズの製造品種変更時
等必要な場合には、自動検査に必要なパラメータの設定
を簡単にできる装置の提供を可能にしている。そしてま
た、必要に応じ、製造ライン（インライン）からオフラ
インへ退避すし、自動検査に必要なパラメータを設定が
できる、コンパクトなレンチキュラーレンズートの欠陥
検査装置の提供を可能としている。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例のレンチキュラーレンズシートの欠陥検
出装置の概略図

【図２】ベルトコンベアの動作等を説明するための図

【図３】実施例１レンチキュラーレンズシートの欠陥検
出装置の欠陥検出の機能構成図

【図４】実施例１レンチキュラーレンズシートの欠陥検
出装置の欠陥検出の機能構成の変形例図

【図５】欠陥サンプルに対する画像処理を行う画像処理
系装置のブロック図

【図６】自動検査に必要なパラメータを設定を説明する
ための図

【図７】空間フイルタを示した図

【図８】実施例における画像処理を説明するための図

【図９】実施例２レンチキュラーレンズシートの欠陥検
出装置の欠陥検出の機能構成図

【図１０】レンチキュラーレンズシートの欠陥を示した
図

【図１１】あおり撮影による撮像を説明するための図

【符号の説明】

１００レンチキュラーレンズシートの欠
陥検出装置１１０撮影装置１１１ベルトコンベア１１２位置決め用マーク１１３レンチキュラーレンズシート通過
用凹部１２０画像処理部１３０レンチキュラーレンズシート１４０レール１４１車輪３００ａ、３００ｂ、３００ｃＣＣＤラインセンサ
カメラ３１０光源３２０画像処理部３３０レンチキュラーレン
ズシート３４０撮像視野４００ａ、４００ｂ、４００ｃＣＣＤラインセンサ
カメラ４１０光源４２０ａ、４２０ｂ、４２０ｃミラー４３０撮像視野９１０ＣＣＤラインセンサ
カメラ９２０光源９３０画像処理部９４０レンチキュラーレン
ズシート９５０撮像視野１０００レンチキュラーレン
ズシート１０１０、１０１１レンチキュラーレン
ズ１０３０ブラックストライプ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01N 21/88 - 21/892

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】少なくとも、レンチキュラーレンズシー
トの移動方向に対して略直角方向の幅を跨ぐ、レンチキ
ュラーレンズシート面上の一直線上の所定幅を、透過光
ないし反射暗視野光にて撮像するための１個ないし複数
の線状領域撮像手段と、レンチキュラーレンズを撮像す
るための前記１個ないし複数の線状領域撮像手段に対
し、撮像の為の透過光照明およびまたは反射暗視野照明
を供給する照明手段と、線状領域撮像手段により得られ
た画像データに基づき、欠陥の検出を行う画像処理手段
とを備えて、連続する板状のレンチキュラーレンズシー
トを一定速度で移動させながら、透過光ないし反射暗視
野光により、該レンチキュラーレンズシートの欠陥を検
出する欠陥検査装置であって、前記線状領域撮像手段と
照明手段とは一体となって撮影手段を形成しており、且
つ、該撮影手段には、オフライン位置において、レンチ
キュラーレンズシートの移動方向にそって動く、条件設
定を行うためのサンプル搬送用のベルトコンベアが設け
られていることを特徴とするレンチキュラーレンズシー
トの欠陥検査装置。
【請求項２】請求項１において、撮影手段を製造ライ
ン（インライン）とオフライン間で移動する移動手段を
備えていることを特徴とするレンチキュラーレンズシー
トの欠陥検査装置。
【請求項３】請求項１ないし２におけるベルトコンベ
アは折り畳式であることを特徴とするレンチキュラーレ
ンズシートの欠陥検査装置。