JP3348521B2 - 導電性被検査材の誘導加熱探傷装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、導電性被検査材の表面
を誘導加熱したときの表面温度の不均一性に基づいて表
面疵を探傷する誘導加熱探傷装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】導電性被検査材に電磁誘導により誘導電
流を発生させることによって導電性被検査材の表面を加
熱するとともにその導電性被検査材の表面温度を測定
し、その表面温度の不均一性に基づいて導電性被検査材
の表面疵を探傷する導電性被検査材の誘導加熱探傷装置
の一種に、導電性被検査材の表面に放射率均等化粉体を
塗布してから誘導加熱する形式のものがある。このよう
な探傷装置では、電磁誘導によって発生する渦電流が表
皮効果によって表面に集中させられると、導電性被検査
材の表面が渦電流損失などによって加熱されるが、表面
疵が存在する部分は他の部分よりも渦電流の流れが変化
させられてその部分の発熱量も変化するので、表面温度
が他の部分よりも局部的に変化した部分が表面疵として
判定されるようになっている。

【０００３】また、上記放射率均等化粉体は、カーボン
やチタンなどの粒子をアクリル樹脂或いはエポキシ樹脂
により絶縁被覆した微細な粒子である。導電性被検査材
の表面には、擦れ跡などのように反射率が高い部分が存
在するなどにより表面状態によって放射率が異なること
から、そのような放射率の差異によって表面温度が正確
に測定されなくなることを防止するため、上記のような
放射率均等化粉体が、上記表面温度測定に先立って導電
性被検査材の表面に予め塗布される。

【０００４】

【発明が解決すべき課題】しかしながら、上記従来の誘
導加熱探傷装置においては、導電性被検査材の表面に塗
布された放射率均等化粉体を積極的に除去する手段を備
えていないことから、熱処理を行う後工程が存在する
と、導電性被検査材の表面に付着した放射率均等化粉体
がその熱処理過程において意図しない浸炭が発生して導
電性被検査材の品質を低下させたり、或いは熱処理炉の
耐火煉瓦と反応してその耐久性を損なったり、更には、
放射率均等化粉体の廃棄に伴う環境上の問題があった。

【０００５】本発明は以上の事情を背景として為された
ものであり、その目的とするところは、誘導加熱探傷の
後に導電性被検査材の表面に塗布された放射率均等化粉
体を積極的に除去することができる誘導加熱探傷装置を
提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明の要旨とするところは、導電性被検査材の表面
に放射率均等化粉体を塗布し、電磁誘導により誘導電流
を発生させることによってその導電性被検査材の表面を
加熱し、その導電性被検査材の表面温度を測定し、その
表面温度の不均一性に基づいて導電性被検査材の表面疵
を探傷する導電性被検査材の誘導加熱探傷装置におい
て、長手状の導電性被検査材をその一端から通過させる
貫通穴を備えた箱状の本体と、その箱状の本体内に設け
られ、前記導電性被検査材の側面に向かい且つその側面
の幅方向に配列された複数本のノズルを有する噴射ガン
とを含み、前記表面温度が検出された導電性被検査材の
表面に付着する放射率均等化粉体を除去する粉体除去装
置を、設けたことにある。

【０００７】

【作用】このようにすれば、粉体除去装置により、表面
温度が検出された後の導電性被検査材の表面に付着する
放射率均等化粉体が除去される。また、導電性被検査材
の側面の幅方向に配列された複数本のノズルから圧縮気
体が噴射されるので、導電性被検査材の側面に付着した
放射率均等化粉体が効率よく除去される。

【０００８】

【発明の効果】したがって、誘導加熱探傷の後工程にお
いて熱処理が行われる場合でも、その熱処理工程におい
ては導電性被検査材の表面から放射率均等化粉体が除去
されていることから、導電性被検査材の表面に付着した
放射率均等化粉体がその熱処理過程において意図しない
浸炭が発生して導電性被検査材の品質を低下させたり、
或いは熱処理炉の耐火煉瓦と反応してその耐久性を損な
ったりすることが好適に解消される。更に、繰り返し放
射率均等化粉体を再使用することで、廃棄による環境へ
の問題も生じない。

【０００９】

【００１０】また、好適には、粉体除去装置の箱状の本
体内に接続されてその本体内の空気を吸引する集塵装置
がさらに含まれ、前記噴射ガンによる圧縮気体の噴射に
よって前記導電性被検査材から離れた放射率均等化粉体
がその集塵装置により回収される。このような乾式の集
塵装置により回収された放射率均等化粉体は、適当な再
生処理を必要に応じて適宜行うことにより、容易に再使
用され得る利点がある。

【００１１】また、好適には、上記集塵装置は、遠心力
によって放射率均等化粉体を分離する第１集塵機と、濾
布を通して吸引することにより放射率均等化粉体を分離
する第２集塵機と、それら第１集塵機および第２集塵機
を通して前記箱状の本体内の空気を吸引する吸引ブロア
とを備えて構成される。このようにすれば、第１集塵機
によって予め能率よく放射率均等化粉体が除去された
後、第２集塵機によって気体中の細かな放射率均等化粉
体が除去されるので、専ら第１集塵機によって捕捉され
た放射率均等化粉体を取り出すことにより、予め定めら
れた粒度分布の放射率均等化粉体を容易に再使用するこ
とができる。

【００１２】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。図１は、本発明の一実施例の誘導加熱探
傷装置を示す平面図である。図において、導電性被検査
材１０は、１辺が１０数センチ程度の矩形断面を有し且
つ１０メートル程度の長さを有する圧延されたビレット
であり、鋼などの磁性金属材、或いはステンレス鋼、ア
ルミニウム合金、銅合金などの非磁性金属材から成るも
のである。

【００１３】導電性被検査材１０は、図示しない搬送ロ
ーラや２つのピンチローラユニット１２および１４によ
って支持され且つ図示しない駆動装置によってそれらピ
ンチローラユニット１２および１４などが回転駆動され
ることにより、その断面の対角線が略垂直および水平と
なる状態でその長手方向に一定の速度で搬送され、その
搬送過程で粉体塗布装置１６、誘導コイル１８、粉体除
去装置２０を順次通過させられるようになっている。

【００１４】図２は、上記粉体塗布装置１６をその出口
側から見た斜視図である。粉体塗布装置１６には、導電
性被検査材１０を通過させるためにその断面より僅かに
大きい貫通穴２２が備えられており、高周波数電源装置
２４には、その貫通穴２２から出た導電性被検査材１０
を通過させるためのその断面より僅かに大きな形状の貫
通穴２６を有する誘導コイル１８が立設されている。ま
た、ピンチローラユニット１４は、図示しない駆動装置
によって回転駆動される駆動ローラ２８と、この駆動ロ
ーラ２８に対向し導電性被検査材１０を押圧する押圧ロ
ーラ３０とから構成されている。なお、前記ピンチロー
ラユニット１２もこのピンチローラユニット１４と同様
に構成されている。また、粉体除去装置２０にも上記粉
体塗布装置１６と同様に貫通穴３２が備えられている。

【００１５】上記粉体塗布装置１６は、たとえば図３に
示すように箱状の本体１７と、その本体１７内において
所定の距離を隔てた導電性被検査材１０の４つの側面に
向かって放射率均等化粉体３４をそれぞれ放出する４つ
の塗布ガン３６とを備えている。この塗布ガン３６は導
電性被検査材１０の各側面の幅方向の中心の真上におい
て一定の距離を隔てて位置させられている。また、この
塗布ガン３６は、図４に示すように、図示しないホッパ
に接続される粉体供給ポート３８と、圧縮空気が供給さ
れる圧縮空気接続ポート４０と、放射率均等化粉体３４
を吐出する吐出ポート４２と、１００ｋＶ程度の負の高
電圧を出力する高圧電源４４と電気的に接続されて吐出
ポート４２に設けられた静電電極４６とを備えており、
負に帯電した放射率均等化粉体３４を噴射するように構
成されている。導電性被検査材１０は、図示しない搬送
ローラや２つのピンチローラユニット１２および１４な
どを介して接地されているので、放射率均等化粉体３４
はクーロン力によって吸引され、静電塗装の原理にした
がって導電性被検査材１０の表面に均一に塗布される。
粉体塗布装置１６内で余った放射率均等化粉体３４はダ
クト４８を介して回収されるようになっている。

【００１６】また、上記粉体除去装置２０は、たとえば
図５に示すように箱状の本体２１と、その本体２１内に
おいて所定の距離を隔てた導電性被検査材１０の４つの
側面に向かって４kg/cm²程度の圧縮空気をそれぞれ放出
する４つの空気噴射ガン５０とを、備えている。この空
気噴射ガン５０は、導電性被検査材１０の側面に向かっ
て突き出すようにその側面の幅方向に配列された複数本
のノズル５２を備えており、そのノズル５２から噴射さ
れた圧縮空気によって、導電性被検査材１０の表面に静
電的に塗布された放射率均等化粉体３４が容易に除去さ
れるようになっている。除去された放射率均等化粉体３
４は、ダクト５４を介して回収されるようになってい
る。

【００１７】上記粉体塗布装置１６のダクト４８および
粉体除去装置２０のダクト５４は、図１に示すように、
集塵装置５６に接続されており、粉体塗布装置１６内に
おいて余った放射率均等化粉体３４や粉体除去装置２０
内において除去された放射率均等化粉体３４が集塵装置
５６において回収され、再使用され得るようになってい
る。

【００１８】すなわち、上記集塵装置５６は、上記ダク
ト４８および５４に接続された一次集塵機５８と、この
一次集塵機５８にダクト６０を介して接続された二次集
塵機６２と、それら一次集塵機５８および二次集塵機６
２を通して粉体塗布装置１６や粉体除去装置２０内の空
気を吸引する吸引ブロア６４とから構成されている。上
記一次集塵機５８は、吸入空気を逆テーパ状の空間内で
回転させることにより遠心力に従って放射率均等化粉体
３４を連続的に能率よく除去する形式のものである。ま
た、上記二次集塵機６２は、濾布を通して吸入空気を吸
引することにより空気中に混在する比較的微細な粒径の
放射率均等化粉体３４を除去する形式のものである。上
記一次集塵機５８および二次集塵機６２により回収され
た放射率均等化粉体３４は、定期的に取り出され、清浄
化処理された後に、再使用される。

【００１９】ここで、上記放射率均等化粉体３４は、カ
ーボン粒子、チタン粒子などの４０乃至１００μｍ程度
の粒径の粒子がエボキシ樹脂或いはアクリル樹脂などの
絶縁樹脂により被覆されたものである。カーボン粒子が
樹脂被覆されたものは黒色であり、チタン粒子が樹脂被
覆されたものは白色乃至灰色であるが、いずれも表面温
度に対応したエネルギ放射をすることにより、導電性被
検査材１０の表面状態に起因する赤外線放射率のばらつ
きを防止して均一化するとともに放射率を高める。上記
絶縁樹脂は、カーボン粒子、チタン粒子などを電気的に
絶縁するためのものであるが、比較的低い温度で軟化或
いは溶融開始するために、導電性被検査材１０の表面加
熱温度が最高でも１００℃程度以下に制限される。

【００２０】前記粉体塗布装置１６においては、矩形断
面の１辺が１５０mmである導電性被検査材１０を４０ｍ
／分程度の速度で搬送しながら、９０ｇ／分程度の放射
率均等化粉体３４が導電性被検査材１０の表面に塗布さ
れるように、各塗布ガン３６からの放射率均等化粉体３
４の吐出量が設定されている。このときの導電性被検査
材１０の表面における放射率均等化粉体３４の平均塗布
厚みは７μｍであるから、放射率均等化粉体３４の平均
粒径の１／６の厚みとなる。すなわち、放射率均等化粉
体３４は導電性被検査材１０の表面においてまばらに付
着している状態となるように設定されているのである。

【００２１】上記放射率均等化粉体３４の塗布厚みが大
きくなり過ぎて相互に積み重なる状態となると、導電性
被検査材１０の表面から最も外側の放射率均等化粉体３
４までの熱伝導が低下して導電性被検査材１０の温度に
対応したエネルギの赤外線放射ができなくなる。また、
放射率均等化粉体３４の塗布厚みが小さくなり過ぎる
と、放射率均等化粉体３４の塗布効果すなわち導電性被
検査材１０の表面において相互の擦れ跡のように光沢が
あるために放射率が低い部分に起因して温度が低く検出
される場所の放射率を高めて放射率を均一化するととも
に全体の放射率を高めるという効果が得られなくなる。
このような意味から、放射率均等化粉体３４の塗布量
は、その平均粒径の１／１５乃至１／３の厚みとされる
ことが望ましい。

【００２２】図６および図７に示すように、前記誘導コ
イル１８は、導電性被検査材１０の断面形状よりも僅か
に大きい貫通穴２６を形成するように２０乃至４０ｍｍ
程度の幅寸法の銅などの帯状金属部材が環状に曲成され
た環状部７０と、その帯状金属部材の両端部がセラミッ
ク製或いは樹脂製の絶縁板７２を介して相互に固定され
た直線部７４とから構成されている。上記帯状金属部材
の誘導コイル１８の長手方向に平行な幅方向の中央部に
は、たとえば５乃至１０ｍｍ程度の幅寸法のスリット７
６が厚み方向に貫通して環状部７０の全周に対応する長
さで形成されている。このため、図８に示すように、図
示しないフレームにより支持された２台の放射温度測定
装置７８ａ、７８ｂにより、スリット７６を通して導電
性被検査材１０の１対の側面の温度が測定されるととも
に、同様に図示しないフレームにより支持された２台の
放射温度測定装置７８ｃ、７８ｄにより、スリット７６
を通して導電性被検査材１０の２つのコーナ部の表面温
度が測定されるようになっている。上記放射温度測定装
置７８ａ〜７８ｄにより導電性被検査材１０の上半分の
側面が測定されるが、残りの側面は導電性被検査材１０
を１８０°回転し、再搬送して探傷する。もちろん、導
電性被検査材１０を一度で全側面が測定できるように放
射温度測定装置を設けてもよい。

【００２３】上記放射温度測定装置７８ａ、７８ｂ、７
８ｃ、７８ｄは、導電性被検査材１０の表面から放射さ
れる赤外線を図示しない一次元方向に多数の検出素子が
検出面に配列された赤外線検出センサのその検出面に集
光し、導電性被検査材１０の長手方向に直角な方向にた
とえば２００Ｈｚ程度の周波数で走査される測定点の表
面温度を測定するものである。図９の上段は、上記放射
温度測定装置７８ａ、７８ｂによりスリット７６を通し
て検出された導電性被検査材１０の側面の幅方向の温度
分布に対応する温度検出信号ＳＴを示している。なお、
図６に示すように、上記誘導コイル１８は、その長手方
向に連通する冷却液通路８０を内部に備えており、高周
波駆動電流によって発生する熱を冷却するようになって
いる。

【００２４】導電性被検査材１０の表面疵を探傷するこ
とを目的として、高周波電源装置２４からは、１００ｋ
Ｈｚ程度の周波数の高周波駆動電流が上記誘導コイル１
８に供給される。これにより、導電性被検査材１０が磁
性金属材料であれば渦電流損失などによって表面から５
０μｍ程度まで加熱され、非磁性金属材料であれば渦電
流損失によって表面から１．５ｍｍ程度まで加熱され
る。すなわち、導電性被検査材１０の表面における渦電
流をＩ₀ 、周波数をｆ、透磁率をμ、導電率をσとする
と、導電性被検査材１０内に発生する渦電流Ｉは、数式
１に示すように、表面からの距離ｘに関連して減衰し、
数式１の指数部が−１となるｘの値（浸透深さ）をδｍ
ｍとすると、数式２により表される。このように、表皮
効果によって渦電流Ｉが表層に集中することにより、導
電性被検査材１０の表面が加熱されるのである。

【００２５】

【数１】

【００２６】

【数２】

【００２７】図１の探傷制御装置６６は、ＣＰＵ、ＲＯ
Ｍ、ＲＡＭなどを有するよく知られたマイクロコンピュ
ータを備えており、ＲＯＭに予め記憶されたプログラム
に従って入力信号を処理することにより、放射温度測定
装置７８ａ、７８ｂ、７８ｃ、７８ｄから出力される温
度検出信号ＳＴに基づいて導電性被検査材１０の表面
疵、たとえばビレットの長手方向に伸びる線状疵、曲線
状の小さな割れであるヘゲ疵、コーナ部のコーナ割れな
どを判定し、疵位置を出力するとともに、導電性被検査
材１０の表面の疵位置をインクで表示する図示しない疵
マーカを作動させる。

【００２８】図１０は、上記探傷制御装置６６の演算制
御作動の要部、すなわち導電性被検査材１０の走行中に
おける疵検出作動を説明するフローチャートである。

【００２９】先ず、図示しない起動操作が行われること
により、導電性被検査材１０が図１の矢印方向へ一定の
速度で搬送されると同時に、粉体塗布装置１６が作動さ
せられて放射率均等化粉体３４が導電性被検査材１０の
側面に塗布され、誘導コイル１８に高周波電流が供給さ
れ、粉体除去装置２０において放射率均等化粉体３４が
除去される。このとき、上記誘導コイル１８により、導
電性被検査材１０の表面が常温よりも２０乃至５０℃程
度加熱される。

【００３０】この状態において、図のステップＳＳ１で
は、放射温度測定装置７８ａ、７８ｂ、７８ｃ、７８ｄ
から出力される温度検出信号ＳＴの１単位である１走査
分の信号が入力されたか否かが判断される。図９の上段
は、導電性被検査材１０の所定の側面における１走査分
の温度検出信号ＳＴを例示している。このステップＳＳ
１の判断が否定された場合は１走査分の信号が入力され
るまで待機させられるが、肯定された場合は、ステップ
ＳＳ２の平均処理以下が実行される。上記放射温度測定
装置７８ａ、７８ｂ、７８ｃ、７８ｄにおいて電気的に
決められる温度測定点の走査周期に同期して、上記ステ
ップＳＳ２以下の処理が実行されることになる。上記ス
テップＳＳ１は温度検出信号読込工程或いは温度検出信
号読込手段に対応している。

【００３１】ステップＳＳ２では、入力された温度検出
信号ＳＴの平均値が、よく知られた適当な区間内におけ
る移動平均演算処理、或いは適当な遮断周波数を有する
ローパスアクティブフィルタ演算処理などが実行される
ことにより、平均温度信号ＳＴ_AVに変換される。この平
均温度信号ＳＴ_AVは疵が存在しない場所の表面温度とし
て取り扱われるものであり、図９の上から２段目はその
平均温度信号ＳＴ_AVを例示している。このステップＳＳ
２は、平均処理工程或いは平均処理手段に対応してい
る。

【００３２】続くステップＳＳ３では、前記温度検出信
号ＳＴから上記平均温度信号ＳＴ_AVを差し引く差分演算
が実行されることにより、導電性被検査材１０の表面に
おける局部的な温度変化量を示す温度変化量信号すなわ
ち疵信号ＳΔＴ（ＳＴ−ＳＴ _AV）が算出される。図９の
上から３段目はこの疵信号ＳΔＴを例示している。この
ステップＳＳ３は、温度変化量算出工程或いは温度変化
量算出手段に対応している。

【００３３】次いで、ステップＳＳ４では、疵判定を容
易とするために、疵信号ＳΔＴの絶対値｜ＳΔＴ｜が算
出される。図９の下段はこの疵信号ＳΔＴの絶対値｜Ｓ
ΔＴ｜を例示している。このステップＳＳ４は、絶対値
算出工程或いは絶対値算出手段に対応している。

【００３４】そして、ステップＳＳ５では、上記疵信号
ＳΔＴの絶対値｜ＳΔＴ｜が予め設定された判断基準値
Ｔｈを超えるか否かが判断される。この判断基準値Ｔｈ
は、導電性被検査材１０の表面疵を判定するために予め
実験的に求められた値であり、たとえば２℃程度の値が
採用される。このステップＳＳ５は、疵判定工程或いは
疵判定手段に対応している。

【００３５】上記ステップＳＳ５の判断が否定された場
合は、本ルーチンが終了させられてステップＳＳ１以下
が再び実行されるが、肯定された場合は、ステップＳＳ
６において疵判定信号が図示しない疵マーカ等へ出力さ
れると同時に疵位置が記憶されてから、本ルーチンが終
了させられる。

【００３６】上述のように、本実施例によれば、粉体除
去装置２０により、表面温度が検出された後の導電性被
検査材１０の表面に付着する放射率均等化粉体３４が除
去されるので、誘導加熱探傷の後工程において熱処理が
行われる場合でも、その熱処理工程においては導電性被
検査材１０の表面から放射率均等化粉体３４が除去され
ている。したがって、本実施例によれば、導電性被検査
材１０の表面に付着した放射率均等化粉体３４がその熱
処理過程において意図しない浸炭が発生して導電性被検
査材の品質を低下させたり、或いは熱処理炉の耐火煉瓦
と反応してその耐久性を損なったりすることが好適に解
消される。

【００３７】また、本実施例によれば、粉体除去装置２
０は、長手状の導電性被検査材１０をその一端から通過
させる貫通穴３２を備えた箱状の本体２１と、その箱状
の本体２１内に設けられ、導電性被検査材１０の側面に
向かい且つその側面の幅方向に配列された複数本のノズ
ル５２を有する空気噴射ガン５０とを、含んで構成され
る。このようにすれば、導電性被検査材１０の側面の幅
方向に配列された複数本のノズル５２から圧縮気体が噴
射されるので、導電性被検査材１０の側面に付着した放
射率均等化粉体３４が効率よく除去される。

【００３８】また、本実施例では、粉体除去装置２０の
箱状の本体２１内に接続されてその本体２１内の空気を
吸引する集塵装置５６がさらに含まれ、前記噴射ガン５
０による圧縮気体の噴射によって導電性被検査材１０か
ら離れた放射率均等化粉体３４がその集塵装置５６によ
り回収される。このような乾式の集塵装置５６により回
収された放射率均等化粉体３４は、適当な再生処理を必
要に応じて適宜行うことにより、容易に再使用され得る
利点がある。

【００３９】また、本実施例では、上記集塵装置５６
は、遠心力によって粉体を分離する一次集塵機５８と、
濾布を通して吸引することにより粉体を分離する二次集
塵機６２と、それら一次集塵機５８および二次集塵機６
２を通して前記箱状の本体２１内の空気を吸引する吸引
ブロア６４とを備えて構成される。このようにすれば、
一次集塵機５８によって予め能率よく放射率均等化粉体
３４が除去された後、二次集塵機６２によって気体中の
細かな放射率均等化粉体３４が除去されるので、専ら一
次集塵機５８によって捕捉された放射率均等化粉体３４
を取り出すことにより、予め定められた粒度分布の放射
率均等化粉体３４を容易に再使用することができる。

【００４０】以上、本発明の一実施例を図面に基づいて
説明したが、本発明はその他の態様においても適用され
る。

【００４１】たとえば、前述の実施例の導電性被検査材
１０は断面矩形であったが、断面円形であってもよい
し、長手状でなくてもよい。

【００４２】また、前述の実施例の放射率均等化粉体３
４は、カーボン粒子或いはチタン粒子が樹脂により絶縁
被覆されたものであったが、放射率が比較的高い物質の
粒子であれば他の粒子が用いられてもよい。

【００４３】また、前述の実施例の粉体除去装置２０で
は、空気噴射ガン５０から導電性被検査材１０の各側面
へ圧縮空気が噴射されることにより放射率均等化粉体３
４が除去されていたが、液体を噴射する噴射ガンを用い
ることにより放射率均等化粉体３４が除去されるように
してもよいのである。

【００４４】なお、上述したのはあくまでも本発明の一
実施例であり、本発明はその主旨を逸脱しない範囲にお
いて種々変更が加えられ得るものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の誘導加熱探傷装置を示す平
面図である。

【図２】図１の粉体塗布装置および誘導コイルを示す斜
視図である。

【図３】図１の粉体塗布装置の内部構造を説明する図で
ある。

【図４】図１の粉体塗布装置内の塗布ガンおよびその粉
体塗布作動を説明する図である。

【図５】図１の粉体除去装置の内部構造を説明する図で
ある。

【図６】図１の誘導コイルの要部の一部を切り欠いて示
す拡大正面図である。

【図７】図６の側面図である。

【図８】図１の誘導加熱探傷装置に備えられた放射温度
測定装置を示す図である。

【図９】図８の放射温度測定装置から得られた温度検出
信号波形、および図１０の作動により信号処理された波
形をそれぞれ示す図である。

【図１０】図１の誘導加熱探傷装置に備えられた探傷制
御装置の作動を説明するフローチャートである。

【符号の説明】

１０：導電性被検査材 ２０：粉体除去装置 ２１：本体 ３２：貫通穴 ５０：空気噴射ガン ５２：ノズル ５６：集塵装置 ５８：一次集塵機 ６２：二次集塵機 ６４：吸引ブロア

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 矢野 泰三 愛知県名古屋市南区泉楽通４−３−２ (56)参考文献 特開 平２−298846（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−57135（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01N 25/72

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 導電性被検査材の表面に放射率均等化粉
   体を塗布し、電磁誘導により誘導電流を発生させること
   によって該導電性被検査材の表面を加熱し、該導電性被
   検査材の表面温度を測定し、該表面温度の不均一性に基
   づいて該導電性被検査材の表面疵を探傷する導電性被検
   査材の誘導加熱探傷装置において、長手状の導電性被検査材をその一端から通過させる貫通
   穴を備えた箱状の本体と、該箱状の本体内に設けられ、
   前記導電性被検査材の側面に向かい且つ該側面の幅方向
   に配列された複数本のノズルを有する噴射ガンとを含
   み、 前記表面温度が検出された導電性被検査材の表面に
   付着する放射率均等化粉体を除去する粉体除去装置を、
   設けたことを特徴とする導電性被検査材の誘導加熱探傷
   装置。
2. 【請求項２】 前記箱状の本体内に接続されて該本体内
   の空気を吸引する集塵装置を含み、前記噴射ガンによる
   圧縮気体の噴射によって前記導電性被検査材から離れた
   放射率均等化粉体を該集塵装置により回収するものであ
   る請求項１の導電性被検査材の誘導加熱探傷装置。
3. 【請求項３】 前記集塵装置は、遠心力によって前記放
   射率均等化粉体を分離する第１集塵機と、濾布を通して
   吸引することにより放射率均等化粉体を分離する第２集
   塵機と、該第１集塵機および第２集塵機を通して前記箱
   状の本体内の空気を吸引する吸引ブロアとを備えたもの
   である請求項２の導電性被検査材の誘導加熱探傷装置。