JPH085588A - 導電性被検査材の誘導加熱探傷装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 疵の形状に拘わらず、疵判定の信頼性が得ら
れる誘導加熱探傷装置を提供する。 【構成】 表面温度変化量算出手段８１により、放射温
度測定装置７８ａ乃至７８ｄから出力された温度検出信
号ＳＴに基づいて、導電性被検査材１０の表面の局部的
な温度変化量信号ＳΔＴが算出されると、疵判定手段８
３は、温度変化量信号の絶対値｜ＳΔＴ｜が予め設定さ
れた判断基準値Ｔｈを超えたか否かに基づいて疵判定を
行う。したがって、導電性被検査材１０の局部的表面に
おいて表面温度の負の変化量に基づいて判定できなかっ
た疵であっても、表面温度の正の変化量に基づいて疵判
定を行うことができるので、疵の形状に拘わらず疵が検
出されて、疵判定の信頼性が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、導電性被検査材の表面
を誘導加熱したときの表面温度の不均一性に基づいて表
面疵を探傷する誘導加熱探傷装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】導電性被検査材に電磁誘導により誘導電
流を発生させることによって導電性被検査材の表面を加
熱するとともにその導電性被検査材の表面温度を測定
し、その表面温度の不均一性に基づいて導電性被検査材
の表面疵を探傷する導電性被検査材の誘導加熱探傷装置
が提案されている。このような探傷装置では、電磁誘導
によって発生する渦電流が表皮効果によって表面に集中
させられると、導電性被検査材の表面が渦電流損失など
によって加熱されるが、表面疵が存在する部分は他の部
分よりも渦電流の流れが変化させられてその部分の発熱
量も変化するので、表面温度が他の部分よりも局部的に
変化した部分が表面疵として判定されるようになってい
る。

【０００３】ところで、従来の誘導加熱探傷装置は、導
電性被検査材の表面において渦電流が表面疵により阻害
されると、その表面疵の部分の表面温度が局部的に低く
なるという前提で構成されていることから、表面温度の
変化量が所定の判断基準値よりも低くなった場所を疵で
あると判定する疵判定手段が設けられていた（特開平２
−２９８８４６号）。

【０００４】

【発明が解決すべき課題】しかしながら、上記導電性被
検査材の表面疵には、ビレットの長手方向に伸びる線状
疵、曲線状の小さなヘゲ疵、コーナ部分において幅方向
に発生するコーナ疵などの種々のものがあるが、疵の形
状によっては従来の誘導加熱探傷装置の疵判定により検
出できず、疵判定の信頼性が得られない場合があった。

【０００５】本発明者等は、上記の事情を背景として種
々研究を重ねた結果、導電性被検査材の表面に切れ込む
溝の開口端縁の近傍が誘導加熱時において僅かに温度が
高くなる性質（エッジ効果）がある一方、たとえば導電
性被検査材の表面の切れ込みが傾斜している形状であっ
てその切れ込みを覆うように一方の開口端縁が突き出す
部分を有する疵では、その庇のように突き出す部分の表
面温度が上記の性質によって局部的に高くなると同時
に、局部的に温度が低くなる部分は上記突き出す部分の
下側に位置して検出し難くなるという事実、更には、径
が２〜３mmφ程度の穴状の疵については、穴底部分では
温度が低く穴の縁部分では温度が高くなるという事実を
も見出した。本発明はこのような知見に基づいて為され
たものである。

【０００６】すなわち、本発明の目的とするところは、
疵の形状に拘わらず、疵判定の信頼性が得られる誘導加
熱探傷装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明の要旨とするところは、電磁誘導により誘導電
流を発生させることによって導電性被検査材の表面を加
熱し、その導電性被検査材の表面温度を測定し、その表
面温度の不均一性に基づいて導電性被検査材の表面疵を
探傷する導電性被検査材の誘導加熱探傷装置であって、
(a)前記導電性被検査材の表面温度を検出し、その表面
温度を表す温度信号を出力する放射温度測定装置と、
(b)その放射温度測定装置により測定された前記導電性
被検査材の表面温度に基づいて、その導電性被検査材の
表面の局部的な温度変化量を算出する表面温度変化量算
出手段と、 (c)その表面温度変化量算出手段により算出
された局部的な表面温度変化の負の変化量が予め設定さ
れた第１判断基準値を超えたことを以て疵判定を行うと
共に、その局部的な表面温度変化の正の変化量が予め設
定された第２判断基準値を超えたことを以て疵判定を行
う疵判定手段とを、含むことにある。

【０００８】

【作用】このようにすれば、表面温度変化量算出手段に
より、放射温度測定装置により測定された前記導電性被
検査材の表面温度に基づいて、導電性被検査材の表面の
局部的な温度変化量が算出されると、疵判定手段は、そ
の表面温度変化量算出手段により算出された局部的な表
面温度変化の負の変化量が予め設定された第１判断基準
値を超えたことを以て疵判定を行うと共に、その局部的
な表面温度変化の正の変化量が予め設定された第２判断
基準値を超えたことを以て疵判定を行う。

【０００９】

【発明の効果】したがって、本発明によれば、上記疵判
定手段により、導電性被検査材の局部的表面において表
面温度の負の変化量に基づいて判定できなかった疵であ
っても、表面温度の正の変化量に基づいて疵判定を行う
ことができるので、疵の形状に拘わらず疵が検出され
て、疵判定の信頼性が得られる。

【００１０】ここで、好適には、前記表面温度変化量算
出手段により算出された局部的な表面温度変化量の絶対
値を算出する絶対値算出手段をさらに備え、前記疵判定
手段は、その絶対値算出手段により算出された局部的な
表面温度変化の絶対値が共通の判断基準値を超えたこと
を以て疵判定を行うように構成される。このようにすれ
ば、共通の判断基準値を用いて１回の判定が行われるだ
けでよいので、判定アルゴリズムが簡単となる利点があ
る。

【００１１】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。図１は、本発明の一実施例の誘導加熱探
傷装置を示す平面図である。図において、導電性被検査
材１０は、１辺が１０数センチ程度の矩形断面を有し且
つ１０メートル程度の長さを有する圧延されたビレット
であり、鋼などの磁性金属材、或いはステンレス鋼、ア
ルミニウム合金、銅合金などの非磁性金属材から成るも
のである。

【００１２】導電性被検査材１０は、図示しない搬送ロ
ーラや２つのピンチローラユニット１２および１４によ
って支持され且つ図示しない駆動装置によってそれらピ
ンチローラユニット１２および１４などが回転駆動され
ることにより、その断面の対角線が略垂直および水平と
なる状態でその長手方向に一定の速度で搬送され、その
搬送過程で粉体塗布装置１６、誘導コイル１８、粉体除
去装置２０を順次通過させられるようになっている。

【００１３】図２は、上記粉体塗布装置１６をその出口
側から見た斜視図である。粉体塗布装置１６には、導電
性被検査材１０を通過させるためにその断面より僅かに
大きい貫通穴２２が備えられており、高周波数電源装置
２４には、その貫通穴２２から出た導電性被検査材１０
を通過させるためのその断面より僅かに大きな形状の貫
通穴２６を有する誘導コイル１８が立設されている。ま
た、ピンチローラユニット１４は、図示しない駆動装置
によって回転駆動される駆動ローラ２８と、この駆動ロ
ーラ２８に対して導電性被検査材１０を押圧する押圧ロ
ーラ３０とから構成されている。なお、前記ピンチロー
ラユニット１２もこのピンチローラユニット１４と同様
に構成されている。また、粉体除去装置２０にも上記粉
体塗布装置１６と同様に貫通穴３２が備えられている。

【００１４】上記粉体塗布装置１６は、たとえば図３に
示すように箱状の本体１７と、その本体１７内において
所定の距離を隔てた導電性被検査材１０の４つの側面に
向かって放射率均等化粉体３４をそれぞれ放出する４つ
の塗布ガン３６とを備えている。この塗布ガン３６は導
電性被検査材１０の各側面の幅方向の中心の真上におい
て一定の距離を隔てて位置させられている。また、この
塗布ガン３６は、図４に示すように、図示しないホッパ
に接続される粉体供給ポート３８と、圧縮空気が供給さ
れる圧縮空気接続ポート４０と、放射率均等化粉体３４
を吐出する吐出ポート４２と、１００ｋＶ程度の負の高
電圧を出力する高圧電源４４と電気的に接続されて吐出
ポート４２に設けられた静電電極４６とを備えており、
負に帯電した放射率均等化粉体３４を噴射するように構
成されている。導電性被検査材１０は、図示しない搬送
ローラや２つのピンチローラユニット１２および１４な
どを介して接地されているので、放射率均等化粉体３４
はクーロン力によって吸引され、静電塗装の原理にした
がって導電性被検査材１０の表面に均一に塗布される。
粉体塗布装置１６内で余った放射率均等化粉体３４はダ
クト４８を介して回収されるようになっている。

【００１５】また、上記粉体除去装置２０は、たとえば
図５に示すように箱状の本体２１と、その本体２１内に
おいて所定の距離を隔てた導電性被検査材１０の４つの
側面に向かって４kg/cm²程度の圧縮空気をそれぞれ放出
する４つの空気噴射ガン５０とを、備えている。この空
気噴射ガン５０は、導電性被検査材１０の側面に向かっ
て突き出すようにその側面の幅方向に配列された複数本
のノズル５２を備えており、そのノズル５２から噴射さ
れた圧縮空気によって、導電性被検査材１０の表面に静
電的に塗布された放射率均等化粉体３４が容易に除去さ
れるようになっている。除去された放射率均等化粉体３
４は、ダクト５４を介して回収されるようになってい
る。

【００１６】上記粉体塗布装置１６のダクト４８および
粉体除去装置２０のダクト５４は、図１に示すように、
集塵装置５６に接続されており、粉体塗布装置１６内に
おいて余った放射率均等化粉体３４や粉体除去装置２０
内において除去された放射率均等化粉体３４が集塵装置
５６において回収され、再使用され得るようになってい
る。

【００１７】すなわち、上記集塵装置５６は、上記ダク
ト４８および５４に接続された一次集塵機５８と、この
一次集塵機５８にダクト６０を介して接続された二次集
塵機６２と、それら一次集塵機５８および二次集塵機６
２を通して粉体塗布装置１６や粉体除去装置２０内の空
気を吸引する吸引ブロア６４とから構成されている。上
記一次集塵機５８は、吸入空気を逆テーパ状の空間内で
回転させることにより遠心力に従って放射率均等化粉体
３４を連続的に能率よく除去する形式のものである。ま
た、上記二次集塵機６２は、濾布を通して吸入空気を吸
引することにより空気中に混在する比較的微細な粒径の
放射率均等化粉体３４を除去する形式のものである。上
記一次集塵機５８および二次集塵機６２により回収され
た放射率均等化粉体３４は、定期的に取り出され、清浄
化処理された後に、再使用される。

【００１８】ここで、上記放射率均等化粉体３４は、カ
ーボン粒子、チタン粒子などの４０乃至１００μｍ程度
の粒径の粒子がエボキシ樹脂或いはアクリル樹脂などの
絶縁樹脂により被覆されたものである。カーボン粒子が
樹脂被覆されたものは黒色であり、チタン粒子が樹脂被
覆されたものは白色乃至灰色であるが、いずれも表面温
度に対応したエネルギ放射をすることにより、導電性被
検査材１０の表面状態に起因する赤外線放射率のばらつ
きを防止して均一化するとともに放射率を高める。上記
絶縁樹脂は、カーボン粒子、チタン粒子などを電気的に
絶縁するためのものであるが、比較的低い温度で軟化或
いは溶融開始するために、導電性被検査材１０の表面加
熱温度が最高でも１００℃程度以下に制限される。

【００１９】前記粉体塗布装置１６においては、矩形断
面の１辺が１５０mmである導電性被検査材１０を４０ｍ
／分程度の速度で搬送しながら、９０ｇ／分程度の放射
率均等化粉体３４が導電性被検査材１０の表面に塗布さ
れるように、各塗布ガン３６からの放射率均等化粉体３
４の吐出量が設定されている。このときの導電性被検査
材１０の表面における放射率均等化粉体３４の平均塗布
厚みは７μｍであるから、放射率均等化粉体３４の平均
粒径の１／６の厚みとなる。すなわち、放射率均等化粉
体３４は導電性被検査材１０の表面においてまばらに付
着している状態となるように設定されているのである。

【００２０】上記放射率均等化粉体３４の塗布厚みが大
きくなり過ぎて相互に積み重なる状態となると、導電性
被検査材１０の表面から最も外側の放射率均等化粉体３
４までの熱伝導が低下して導電性被検査材１０の温度に
対応したエネルギの赤外線放射ができなくなる。また、
放射率均等化粉体３４の塗布厚みが小さくなり過ぎる
と、放射率均等化粉体３４の塗布効果すなわち導電性被
検査材１０の表面において相互の擦れ跡のように光沢が
あるために放射率が低い部分に起因して温度が低く検出
される場所の放射率を高めて放射率を均一化するととも
に全体の放射率を高めるという効果が得られなくなる。
このような意味から、放射率均等化粉体３４の塗布量
は、その平均粒径の１／１５乃至１／３０の厚みとされ
ることが望ましい。

【００２１】図６および図７に示すように、前記誘導コ
イル１８は、導電性被検査材１０の断面形状よりも僅か
に大きい貫通穴２６を形成するように２０乃至４０ｍｍ
程度の幅寸法の銅などの帯状金属部材が環状に曲成され
た環状部７０と、その帯状金属部材の両端部がセラミッ
ク製或いは樹脂製の絶縁板７２を介して相互に固定され
た直線部７４とから構成されている。上記帯状金属部材
の誘導コイル１８の長手方向に平行な幅方向の中央部に
は、たとえば５乃至１０ｍｍ程度の幅寸法のスリット７
６が厚み方向に貫通して環状部７０の全周に対応する長
さで形成されている。このため、図８に示すように、図
示しないフレームにより支持された２台の放射温度測定
装置７８ａ、７８ｂにより、スリット７６を通して導電
性被検査材１０の１対の側面の温度が測定されるととも
に、同様に図示しないフレームにより支持された２台の
放射温度測定装置７８ｃ、７８ｄにより、スリット７６
を通して導電性被検査材１０の２つのコーナ部の表面温
度が測定されるようになっている。上記放射温度測定装
置７８ａ〜７８ｄにより導電性被検査材１０の上半分の
側面が同時に測定されるが、残りの側面は導電性被検査
材１０を１８０°回転し再搬送して測定する。もちろ
ん、全側面を一度に測定できるように放射温度測定装置
を所定数設けてもよい。

【００２２】上記放射温度測定装置７８ａ、７８ｂ、７
８ｃ、７８ｄは、導電性被検査材１０の表面から放射さ
れる赤外線を図示しない一次元方向に多数の検出素子が
検出面に配列された赤外線検出センサのその検出面に集
光し、導電性被検査材１０の長手方向に直角な方向にた
とえば２００Ｈｚ程度の周波数で走査される測定点の表
面温度を測定するものである。図９の上段は、上記放射
温度測定装置７８ａ、７８ｂによりスリット７６を通し
て検出された導電性被検査材１０の側面の幅方向の温度
分布に対応する温度検出信号ＳＴを示している。なお、
図６に示すように、上記誘導コイル１８は、その長手方
向に連通する冷却液通路７９を内部に備えており、高周
波駆動電流によって発生する熱を冷却するようになって
いる。

【００２３】導電性被検査材１０の表面疵を探傷するこ
とを目的として、高周波電源装置２４からは、１００ｋ
Ｈｚ程度の周波数の高周波駆動電流が上記誘導コイル１
８に供給される。これにより、導電性被検査材１０が磁
性金属材料であれば渦電流損失などによって表面から５
０μｍ程度まで加熱され、非磁性金属材料であれば渦電
流損失によって表面から１．５ｍｍ程度まで加熱され
る。すなわち、導電性被検査材１０の表面における渦電
流をＩ₀ 、周波数をｆ、透磁率をμ、導電率をσとする
と、導電性被検査材１０内に発生する渦電流Ｉは、数式
１に示すように、表面からの距離ｘに関連して減衰し、
数式１の指数部が−１となるｘの値（浸透深さ）をδｍ
ｍとすると、数式２により表される。このように、表皮
効果によって渦電流Ｉが表層に集中することにより、導
電性被検査材１０の表面が加熱されるのである。

【００２４】

【数１】

【００２５】

【数２】

【００２６】図１の探傷制御装置６６は、ＣＰＵ、ＲＯ
Ｍ、ＲＡＭなどを有するよく知られたマイクロコンピュ
ータを備えており、ＲＯＭに予め記憶されたプログラム
に従って入力信号を処理することにより、放射温度測定
装置７８ａ、７８ｂ、７８ｃ、７８ｄから出力される温
度検出信号ＳＴに基づいて導電性被検査材１０の表面
疵、たとえばビレットの長手方向に伸びる線状疵、曲線
状の小さな割れであるヘゲ疵、コーナ部のコーナ割れな
どを判定し、疵位置を出力するとともに、導電性被検査
材１０の表面の疵位置をインクで表示する図示しない疵
マーカを作動させる。

【００２７】図１０は、上記探傷制御装置６６の制御機
能の要部を示す機能ブロック線図である。図において、
平均処理手段８０では、放射温度測定装置７８ａ〜７８
ｄにより測定された導電性被検査材１０の表面温度を表
す温度検出信号ＳＴが平均化され、平均温度信号ＳＴ_AV
が出力される。表面温度変化量算出手段８１では、放射
温度測定装置７８ａ〜７８ｄにより測定された導電性被
検査材１０の表面温度を表す温度検出信号ＳＴから平均
温度信号ＳＴ_AVが差し引かれることにより導電性被検査
材１０の表面の局部的な温度変化量が算出され、その温
度変化量を表す温度変化量信号ＳΔＴが出力される。絶
対値算出手段８２では、表面温度変化量算出手段８１に
より算出された局部的な表面温度変化量の絶対値｜ＳΔ
Ｔ｜が算出される。疵判定手段８３では、上記表面温度
変化量算出手段８１により算出された局部的な表面温度
変化或いはその絶対値に基づいて、表面温度変化の負の
変化量が予め設定された第１判断基準値を超えたことを
以て疵判定を行うと共に、その局部的な表面温度変化の
正の変化量が予め設定された第２判断基準値を超えたこ
とを以て疵判定が行われる。

【００２８】図１１は、上記探傷制御装置６６の演算制
御作動の要部、すなわち導電性被検査材１０の走行中に
おける疵検出作動を説明するフローチャートである。

【００２９】先ず、図示しない起動操作が行われること
により、導電性被検査材１０が図１の矢印方向へ一定の
速度で搬送されると同時に、粉体塗布装置１６が作動さ
せられて放射率均等化粉体３４が導電性被検査材１０の
側面に塗布され、誘導コイル１８に高周波電流が供給さ
れ、粉体除去装置２０において放射率均等化粉体３４が
除去される。このとき、上記誘導コイル１８により、導
電性被検査材１０の表面が常温よりも２０乃至５０℃程
度加熱される。

【００３０】この状態において、図１１のステップＳＳ
１では、放射温度測定装置７８ａ、７８ｂ、７８ｃ、７
８ｄから出力される温度検出信号ＳＴの１単位である１
走査分の信号が入力されたか否かが判断される。図９の
上段は、導電性被検査材１０の所定の側面における１走
査分の温度検出信号ＳＴを例示している。このステップ
ＳＳ１の判断が否定された場合は１走査分の信号が入力
されるまで待機させられるが、肯定された場合は、ステ
ップＳＳ２の平均処理以下が実行される。上記放射温度
測定装置７８ａ、７８ｂ、７８ｃ、７８ｄにおいて電気
的に決められる温度測定点の走査周期に同期して、上記
ステップＳＳ２以下の処理が実行されることになる。

【００３１】ステップＳＳ２では、入力された温度検出
信号ＳＴの平均値が、よく知られた適当な区間内におけ
る移動平均演算処理、或いは適当な遮断周波数を有する
ローパスアクティブフィルタ演算処理などが実行される
ことにより、平均温度信号ＳＴ_AVに変換される。この平
均温度信号ＳＴ_AVは疵が存在しない場所の表面温度とし
て取り扱われるものであり、図９の上から２段目はその
平均温度信号ＳＴ_AVを例示している。このステップＳＳ
２は前記平均処理手段８０に対応している。

【００３２】続くステップＳＳ３では、前記温度検出信
号ＳＴから上記平均温度信号ＳＴ_AVを差し引く差分演算
が実行されることにより、導電性被検査材１０の表面に
おける局部的な温度変化量を示す温度変化量信号すなわ
ち疵信号ＳΔＴ（ＳＴ−ＳＴ _AV）が算出される。図９の
上から３段目はこの疵信号ＳΔＴを例示している。この
ステップＳＳ３は前記表面温度変化量算出手段８１に対
応している。

【００３３】次いで、ステップＳＳ４では、疵判定を容
易とするために、疵信号ＳΔＴの絶対値｜ＳΔＴ｜が算
出される。図９の下段はこの疵信号ＳΔＴの絶対値｜Ｓ
ΔＴ｜を例示している。このステップＳＳ４は前記絶対
値算出手段８２に対応している。

【００３４】そして、ステップＳＳ５では、上記疵信号
ＳΔＴの絶対値｜ＳΔＴ｜が予め設定された判断基準値
Ｔｈを超えるか否かが判断される。この判断基準値Ｔｈ
は、導電性被検査材１０の表面疵を判定するために予め
実験的に求められた値であり、たとえば２℃程度の値が
採用される。このステップＳＳ５は前記疵判定手段８３
に対応している。

【００３５】上記ステップＳＳ５の判断が否定された場
合は、本ルーチンが終了させられてステップＳＳ１以下
が再び実行されるが、肯定された場合は、ステップＳＳ
６において疵判定信号が図示しない疵マーカ等へ出力さ
れると同時に疵位置が記憶されてから、本ルーチンが終
了させられる。

【００３６】上述のように、本実施例によれば、表面温
度変化量算出手段８１に対応するステップＳＳ３によ
り、放射温度測定装置７８ａ乃至７８ｄから出力された
温度検出信号ＳＴに基づいて、導電性被検査材１０の表
面の局部的な温度変化量信号ＳΔＴが算出されると、疵
判定手段８３に対応するステップＳＳ５は、温度変化量
信号の絶対値｜ＳΔＴ｜が予め設定された判断基準値Ｔ
ｈを超えたか否かに基づいて疵判定を行う。すなわち、
ステップＳＳ５は、温度変化量信号ＳΔＴの負の値（負
の変化量）が予め設定された判断基準値Ｔｈ（第１判断
基準値）を超えたことを以て疵判定を行うと共に、温度
変化量信号ＳΔＴの正の値（正の変化量）が予め設定さ
れた判断基準値Ｔｈ（第２判断基準値）を超えたことを
以て疵判定を行う。したがって、本実施例によれば、導
電性被検査材１０の局部的表面において表面温度の負の
変化量に基づいて判定できなかった疵であっても、表面
温度の正の変化量に基づいて疵判定を行うことができる
ので、疵の形状に拘わらず疵が検出されて、疵判定の信
頼性が得られる。

【００３７】図１２は導電性被検査材１０のコーナ部に
発生するコーナ疵８４を示し、図１３は導電性被検査材
１０の横断面の対角線に沿った縦断面において上記コー
ナ疵８４を示している。このようなコーナ疵８４は、導
電性被検査材１０の表面の切れ込み８５が傾斜している
形状であってその切れ込み８５を覆うように一方の開口
端縁が突き出す部分８６を有するので、その庇のように
突き出す部分８６の表面温度がエッジ効果によって局部
的に高くなると同時に、切れ込み８５近傍の局部的に温
度が低くなる部分８７は上記突き出す部分８６の下側に
位置しているために、表面温度の負の変化量に基づく判
定では検出できなかったが、本実施例によれば、表面温
度の正の変化量に基づく判定も行われるので、上記のよ
うなコーナ疵８４も判定できるようになり、疵判定の信
頼性が高められたのである。

【００３８】また、本実施例によれば、局部的な表面温
度変化の絶対値｜ＳΔＴ｜を算出する絶対値算出手段８
２がさらに備えられており、疵判定手段８３に対応する
ステップＳＳ５では、その絶対値算出手段８２により算
出された局部的な表面温度変化の絶対値｜ＳΔＴ｜が共
通の判断基準値Ｔｈを超えたことを以て疵判定を行うよ
うに構成される。このようにすれば、共通の判断基準値
Ｔｈを用いて１回の判定が行われるだけでよいので、判
定アルゴリズムが簡単となる利点がある。

【００３９】図１４は本発明の他の実施例における探傷
制御装置６６の制御作動の要部を説明するフローチャー
トであって、図１１と相違する部分を示している。図の
ステップＳＳ５−１では、導電性被検査材１０の表面に
おける温度変化量を表す温度変化量信号ＳΔＴが予め設
定された第１判断基準値−Ｔｈ₁ を下まわったか否か、
すなわち負の変化量が第１判断基準値Ｔｈ₁ を超えたか
否かが判断される。この判断が肯定された場合は、ステ
ップＳＳ６において疵判定が出力されるが、否定された
場合は、ステップＳＳ５−２において温度変化量信号Ｓ
ΔＴが予め設定された第２判断基準値＋Ｔｈ₂ を上まわ
ったか否か、すなわち正の変化量が第２判断基準値Ｔｈ
₂ を超えたか否かが判断される。この判断が肯定された
場合は、ステップＳＳ６において疵判定が出力される
が、否定された場合は、本ルーチンが終了させられる。
本実施例では、上記ステップＳＳ５−１およびＳＳ５−
２が疵判定手段８３に対応している。

【００４０】本実施例においても、前述の実施例と同様
の効果が得られるとともに、第１判断基準値Ｔｈ₁ およ
び第２判断基準値Ｔｈ₂ を、負の温度変化量および正の
温度変化量の性質に対応して相互に異なる値に設定する
ことができる利点がある。

【００４１】以上、本発明の一実施例を図面に基づいて
説明したが、本発明はその他の態様においても適用され
る。

【００４２】たとえば、前述の実施例の導電性被検査材
１０は断面矩形であったが、断面円形であってもよい
し、長手状でなくてもよい。

【００４３】また、前述の実施例の放射率均等化粉体３
４は、カーボン粒子或いはチタン粒子が樹脂により絶縁
被覆されたものであったが、放射率が比較的高い物質の
粒子であれば他の粒子が用いられてもよいし、放射率均
等化粉体３４が用いられなくても一応の本発明の効果が
得られる。

【００４４】なお、上述したのはあくまでも本発明の一
実施例であり、本発明はその主旨を逸脱しない範囲にお
いて種々変更が加えられ得るものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の誘導加熱探傷装置を示す平
面図である。

【図２】図１の粉体塗布装置および誘導コイルを示す斜
視図である。

【図３】図１の粉体塗布装置の内部構造を説明する図で
ある。

【図４】図１の粉体塗布装置内の塗布ガンおよびその粉
体塗布作動を説明する図である。

【図５】図１の粉体除去装置の内部構造を説明する図で
ある。

【図６】図１の誘導コイルの要部の一部を切り欠いて示
す拡大正面図である。

【図７】図６の側面図である。

【図８】図１の誘導加熱探傷装置に備えられた放射温度
測定装置を示す図である。

【図９】図８の放射温度測定装置から得られた温度検出
信号波形、および図１０の作動により信号処理された波
形をそれぞれ示す図である。

【図１０】図１の誘導加熱探傷装置に備えられた探傷制
御装置の制御機能を説明する機能ブロック線図である。

【図１１】図１の誘導加熱探傷装置に備えられた探傷制
御装置の作動の要部を説明するフローチャートである。

【図１２】導電性被検査材に発生するコーナ疵の一例を
示す斜視図である。

【図１３】図１２のコーナ疵を示す、導電性被検査材の
横断面の対角線に沿った縦断面図である。

【図１４】本発明の他の実施例の探傷制御装置の作動を
説明するフローチャートの要部である。

【符号の説明】

１０：導電性被検査材 ７８ａ〜７８ｄ：放射温度測定装置 ステップＳＳ３：表面温度変化量算出手段 ステップＳＳ４：絶対値算出手段 ステップＳＳ５，ＳＳ５−１，ＳＳ５−２：疵判定手段

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電磁誘導により誘導電流を発生させるこ
   とによって導電性被検査材の表面を加熱し、該導電性被
   検査材の表面温度を測定し、該表面温度の不均一性に基
   づいて該導電性被検査材の表面疵を探傷する導電性被検
   査材の誘導加熱探傷装置であって、 前記導電性被検査材の表面温度を検出し、該表面温度を
   表す温度信号を出力する放射温度測定装置と、 該放射温度測定装置により測定された前記導電性被検査
   材の表面温度に基づいて、該導電性被検査材の表面の局
   部的な温度変化量を算出する表面温度変化量算出手段
   と、 該表面温度変化量算出手段により算出された局部的な表
   面温度変化の負の変化量が予め設定された第１判断基準
   値を超えたことを以て疵判定を行うと共に、該局部的な
   表面温度変化の正の変化量が予め設定された第２判断基
   準値を超えたことを以て疵判定を行う疵判定手段とを含
   むことを特徴とする導電性被検査材の誘導加熱探傷装
   置。
2. 【請求項２】 前記表面温度変化量算出手段により算出
   された局部的な表面温度変化量の絶対値を算出する絶対
   値算出手段をさらに備え、前記疵判定手段は、該絶対値
   算出手段により算出された局部的な表面温度変化の絶対
   値が共通の判断基準値を超えたことを以て疵判定を行う
   ものである請求項１の導電性被検査材の誘導加熱探傷装
   置。