JP3351106B2

JP3351106B2 - 導電性被検査材の誘導加熱探傷装置

Info

Publication number: JP3351106B2
Application number: JP15253094A
Authority: JP
Inventors: 敏夫遠藤; 富一八木; 龍三山田; 信夫石川; 泰三矢野
Original assignee: Daido Steel Co Ltd
Current assignee: Daido Steel Co Ltd
Priority date: 1994-07-05
Filing date: 1994-07-05
Publication date: 2002-11-25
Anticipated expiration: 2017-11-25
Also published as: JPH0815194A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、導電性被検査材の表面
を誘導加熱したときの表面温度の不均一性に基づいて表
面疵を探傷する誘導加熱探傷装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】導電性被検査材に電磁誘導により誘導電
流を発生させることによって導電性被検査材の表面を加
熱するとともにその導電性被検査材の表面温度を測定
し、その表面温度の不均一性に基づいて導電性被検査材
の表面疵を探傷する導電性被検査材の誘導加熱探傷方法
或いは装置が知られている。このような探傷方法では、
電磁誘導によって発生する渦電流が表皮効果によって表
皮に集中させられると、導電性被検査材の表面が渦電流
損失などによって加熱されるが、表面疵が存在する部分
は他の部分よりも渦電流の流れが変化させられてその部
分の発熱量も変化するので、表面温度が他の部分よりも
局部的に変化した部分が表面疵として判定されるように
なっている。

【０００３】

【発明が解決すべき課題】しかし、前記従来の誘導加熱
探傷方法においては、加熱コイルを通過した導電性被検
査材の表面温度を測定するように放射温度計を配置する
のが一般的であったが、このような場合には、表面加熱
により発生した疵による温度の分布が熱伝導によって平
均化されてしまう過程で表面温度が測定されることか
ら、疵の検出精度が得られなかった。

【０００４】特に、ステンレス鋼、アルミニウム合金、
銅合金のような、渦電流浸透深さδが大きく且つ熱伝導
率が高い導電性被検査材では、表面加熱により発生した
疵による温度の分布が現れ難く、また現れたとしてもそ
の疵による温度分布が速やかに平均化され易いので、か
かる不都合が顕著となる。また、導電性被検査材の表面
状態が均一でない場合、たとえば擦れ跡などが存在する
とその部分の放射率が低下することから、カーボンやチ
タンなどの粒子をアクリル樹脂或いはエポキシ樹脂によ
り絶縁被覆した微細な放射率均等化粉体を塗布した後に
誘導加熱が行われるが、その放射率均等化粉体に含まれ
る絶縁被覆樹脂の溶融を回避するためには、精々８０乃
至１００℃程度までしか誘導加熱を行うことができない
ので、このような放射率均等化粉体を用いる場合でも、
比較的低い表面温度にしか誘導加熱され得ないので、上
記の不都合が顕著となる。

【０００５】本発明は以上の事情を背景として為された
ものであり、その目的とするところは、たとえ非磁性の
被検査材であっても、或いは放射率均等化粉体を用いる
ために加熱温度に制限がある場合でも、高い疵検出精度
が得られる誘導加熱探傷装置を提供することにある。

【０００６】

【０００７】

【０００８】

【０００９】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明の要旨とするところは、導電性被検査材に電磁
誘導により誘導電流を発生させ、その誘導電流によって
その導電性被検査材の表面を加熱し、その導電性被検査
材の表面温度を測定し、その表面温度の不均一性に基づ
いてその導電性被検査材の表面疵を探傷する導電性被検
査材の誘導加熱探傷装置であって、(a) 所定の速度で長
手方向に移動させられる長手状の導電性被検査材の側面
に近接して配置された誘導コイルと、(b) その誘導コイ
ルを高周波電流で駆動することにより前記導電性被検査
材の表面を加熱するコイル駆動装置と、(c) 前記誘導コ
イルの前記導電性被検査材の移動方向に平行な幅方向の
中間部分において厚み方向に貫通するように形成された
スリットと、(d) そのスリットを通して前記導電性被検
査材の表面表面温度を非接触にて測定する放射温度測定
装置とを、含むことにある。

【００１０】

【作用】このようにすれば、コイル駆動装置が、誘導コ
イルを高周波電流で駆動することにより前記導電性被検
査材の表面を加熱すると、放射温度測定装置は、誘導コ
イルの前記導電性被検査材の移動方向に平行な幅方向の
中間部分において厚み方向に貫通するように形成された
スリットを通して、導電性被検査材の表面温度を非接触
にて測定することができる。

【００１１】

【発明の効果】長手状の導電性被検査材の表面であって
誘導コイルの電磁誘導により誘導加熱されている場所、
すなわち誘導コイルの幅方向の中間部分に対応する場所
の表面温度が放射温度測定装置にて測定されることか
ら、疵による温度分布が顕著に維持される期間内で検出
された温度信号ＳＴに基づいて疵判定が行われるので、
たとえ非磁性の被検査材であっても、或いは放射率均等
化粉体を用いるために加熱温度に制限がある場合でも、
高い疵検出精度が得られる。

【００１２】ここで、好適には、前記長手状の導電性被
検査材は断面矩形の角材であり、前記誘導コイルのスリ
ットは、前記長手状の導電性被検査材の４つの側面のう
ちの１つの側面の幅寸法よりも長く形成されたものであ
り、前記放射温度測定装置は、そのスリットを通して上
記導電性被検査材の１つの側面をその幅方向全体を温度
測定するものである。このようにすれば、１つの放射温
度測定装置によって導電性被検査材の１つの側面をその
幅方向全体が温度測定され得、また、コーナ部に対応し
た放射温度測定装置を設けることにより、導電性被検査
材の表面疵を漏れなく探傷できる利点がある。

【００１３】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。図１は、本発明の一実施例の誘導加熱探
傷装置を示す平面図である。図において、導電性被検査
材１０は、１辺が１０数センチ程度の矩形断面を有し且
つ１０メートル程度の長さを有する圧延されたビレット
であり、鋼などの磁性金属材、或いはステンレス鋼、ア
ルミニウム合金、銅合金などの非磁性金属材から成るも
のである。

【００１４】導電性被検査材１０は、図示しない搬送ロ
ーラや２つのピンチローラユニット１２および１４によ
って支持され且つ図示しない駆動装置によってそれらピ
ンチローラユニット１２および１４などが回転駆動され
ることにより、その断面の対角線が略垂直および水平と
なる状態でその長手方向に一定の速度で搬送され、その
搬送過程で粉体塗布装置１６、誘導コイル１８、粉体除
去装置２０を順次通過させられるようになっている。

【００１５】図２は、上記粉体塗布装置１６をその出口
側から見た斜視図である。粉体塗布装置１６には、導電
性被検査材１０を通過させるためにその断面より僅かに
大きい貫通穴２２が備えられており、高周波電源装置２
４には、その貫通穴２２から出た導電性被検査材１０を
通過させるためのその断面より僅かに大きな形状の貫通
穴２６を有する誘導コイル１８が立設されている。ま
た、ピンチローラユニット１４は、図示しない駆動装置
によって回転駆動される駆動ローラ２８と、この駆動ロ
ーラ２８に対向して導電性被検査材１０を押圧する押圧
ローラ３０とから構成されている。なお、前記ピンチロ
ーラユニット１２もこのピンチローラユニット１４と同
様に構成されている。また、粉体除去装置２０にも上記
粉体塗布装置１６と同様に貫通穴３２が備えられてい
る。

【００１６】上記粉体塗布装置１６は、たとえば図３に
示すように箱状の本体１７と、その本体１７内において
所定の距離を隔てた導電性被検査材１０の４つの側面に
向かって粉体３４をそれぞれ放出する４つの塗布ガン３
６とを備えている。この塗布ガン３６は導電性被検査材
１０の各側面の幅方向の中心の真上において一定の距離
を隔てて位置させられている。また、この塗布ガン３６
は、図４に示すように、図示しないホッパに接続される
粉体供給ポート３８と、圧縮空気が供給される圧縮空気
接続ポート４０と、粉体３４を吐出する吐出ポート４２
と、１００ｋＶ程度の負の高電圧を出力する高圧電源４
４と電気的に接続されて吐出ポート４２に設けられた静
電電極４６とを備えており、負に帯電した粉体３４を噴
射するように構成されている。導電性被検査材１０は、
図示しない搬送ローラや２つのピンチローラユニット１
２および１４などを介して接地されているので、粉体３
４はクーロン力によって吸引され、静電塗装の原理にし
たがって導電性被検査材１０の表面に均一に吸着・塗布
される。粉体塗布装置１６内で余った粉体３４はダクト
４８を介して回収されるようになっている。

【００１７】また、上記粉体除去装置２０は、たとえば
図５に示すように箱状の本体２１と、その本体２１にお
いて所定の距離を隔てた導電性被検査材１０の４つの側
面に向かって４kg/cm²程度の圧縮空気をそれぞれ放出す
る４つの空気噴射ガン５０とを備えている。この空気噴
射ガン５０は、導電性被検査材１０の側面に向かって突
き出すようにその側面の幅方向に配列された複数本のノ
ズル５２を備えており、そのノズル５２から噴射された
圧縮空気によって、導電性被検査材１０の表面に静電的
に塗布された粉体３４が容易に除去されるようになって
いる。除去された粉体３４は、ダクト５４を介して回収
されるようになっている。

【００１８】上記粉体塗布装置１６のダクト４８および
粉体除去装置２０のダクト５４は、図１に示すように、
集塵装置５６に接続されており、粉体塗布装置１６内に
おいて余った粉体３４や粉体除去装置２０内において除
去された粉体３４が集塵装置５６において回収され、再
使用され得るようになっている。

【００１９】すなわち、上記集塵装置５６は、上記ダク
ト４８および５４に接続されたサイクロン式の一次集塵
機５８と、この一次集塵機５８にダクト６０を介して接
続されたフィルタ式の二次集塵機６２と、それら一次集
塵機５８および二次集塵機６２を通して粉体塗布装置１
６や粉体除去装置２０内の空気を吸引する吸引ブロア６
４とから構成されている。上記一次集塵機５８は、吸入
空気を逆テーパ状の空間内で回転させることにより遠心
力に従って粉体３４を連続的に能率よく除去する形式の
ものである。また、上記二次集塵機６２は、濾布を通し
て吸入空気を吸引することにより空気中に混在する比較
的微細な粒径の粉体３４を除去する形式のものである。
上記一次集塵機５８および二次集塵機６２により回収さ
れた粉体３４は、定期的に取り出され、清浄化処理され
た後に、再使用される。

【００２０】ここで、上記粉体３４は、カーボン粒子、
チタン粒子などの４０乃至１００μｍ程度の粒径の粒子
がエポキシ樹脂或いはアクリル樹脂などの絶縁樹脂によ
り被覆された放射率均等化粉体である。カーボン粒子が
樹脂被覆されたものは黒色であり、チタン粒子が樹脂被
覆されたものは白色乃至灰色であるが、いずれも表面温
度に対応したエネルギ放射をすることにより、導電性被
検査材１０の表面状態に起因する赤外線放射率のばらつ
きを防止して均一化するとともに放射率を高める。上記
絶縁樹脂は、カーボン粒子、チタン粒子などを電気的に
絶縁するためのものであるが、比較的低い温度で軟化或
いは溶融開始するために、導電性被検査材１０の表面加
熱温度が最高でも１００℃程度以下に制限される。

【００２１】前記粉体塗布装置１６においては、矩形断
面の１辺が１５０mmである導電性被検査材１０を４０ｍ
／分程度の速度で搬送しながら、９０ｇ／分程度の粉体
３４が導電性被検査材１０の表面に塗布されるように、
各塗布ガン３６からの粉体３４の吐出量が設定されてい
る。このときの導電性被検査材１０の表面における粉体
３４の平均塗布厚みは７μｍであるから、粉体３４の平
均粒径の１／６の厚みとなる。すなわち、粉体３４は導
電性被検査材１０の表面においてまばらに付着している
状態となるように設定されているのである。

【００２２】上記粉体３４の塗布厚みが大きくなり過ぎ
て相互に積み重なる状態となると、導電性被検査材１０
の表面から最も外側の粉体３４までの熱伝導が低下して
導電性被検査材１０の温度に対応したエネルギの赤外線
放射ができなくなる。また、粉体３４の塗布厚みが小さ
くなり過ぎると、粉体３４の塗布効果すなわち導電性被
検査材１０の表面において相互の擦れ跡のように光沢が
あるために放射率が低い部分に起因して温度が低く検出
される場所の放射率を高めて放射率を均一化するととも
に全体の放射率を高めるという効果が得られなくなる。
このような意味から、粉体３４の塗布量は、その平均粒
径の１／１５乃至１／３の厚みとされることが望まし
い。

【００２３】図６および図７に示すように、前記誘導コ
イル１８は、導電性被検査材１０の断面形状よりも僅か
に大きい貫通穴２６を形成するように２０乃至４０ｍｍ
程度の幅寸法の銅などの帯状金属部材が環状に曲成され
た環状部７０と、その帯状金属部材の両端部がセラミッ
ク製或いは樹脂製の絶縁板７２を介して相互に固定され
た直線部７４とから構成されている。上記帯状金属部材
の誘導コイル１８の長手方向に平行な幅方向の中央部に
は、たとえば５乃至１０ｍｍ程度の幅寸法のスリット７
６が厚み方向に貫通して環状部７０の全周に対応する長
さで形成されている。このため、図８に示すように、図
示しないフレームにより支持された２台の放射温度測定
装置７８ａ、７８ｂにより、スリット７６を通して導電
性被検査材１０の１対の側面の温度が測定されるととも
に、同様に図示しないフレームにより支持された２台の
放射温度測定装置７８ｃ、７８ｄにより、スリット７６
を通して導電性被検査材１０の２つのコーナ部の表面温
度が測定されるようになっている。

【００２４】上記放射温度測定装置７８ａ、７８ｂ、７
８ｃ、７８ｄは、導電性被検査材１０の表面から放射さ
れる赤外線を図示しない一次元方向に多数の検出素子が
検出面に配列された赤外線検出センサのその検出面に集
光し、導電性被検査材１０の長手方向に直角な方向にた
とえば２００Ｈｚ程度の周波数で走査される測定点の表
面温度を測定するものである。図９の (a)は、上記放射
温度測定装置７８ａ、７８ｂによりスリット７６を通し
て検出された導電性被検査材１０の側面の幅方向の温度
分布に対応する温度検出信号ＳＴを示している。なお、
図６に示すように、上記誘導コイル１８は、その長手方
向に連通する冷却液通路８０を内部に備えた中空構造と
なっており、高周波駆動電流によって発生する熱を冷却
するようになっている。

【００２５】導電性被検査材１０の表面疵を探傷するこ
とを目的として、高周波電源装置２４からは、１００ｋ
Ｈｚ程度の周波数の高周波駆動電流が上記誘導コイル１
８に供給される。これにより、導電性被検査材１０が磁
性金属材料であれば渦電流損失などによって表面から５
０μｍ程度まで加熱され、非磁性金属材料であれば渦電
流損失によって表面から１．５ｍｍ程度まで加熱され
る。すなわち、導電性被検査材１０の表面における渦電
流をＩ₀、周波数をｆ、透磁率をμ、導電率をσとする
と、導電性被検査材１０内に発生する渦電流Ｉは、数式
１に示すように、表面からの距離ｘに関連して減衰し、
数式１の指数部が−１となるｘの値（浸透深さ）をδｍ
ｍとすると、数式２により表される。このように、表皮
効果によって渦電流Ｉが表層に集中することにより、導
電性被検査材１０の表面が加熱されるのである。

【００２６】

【数１】

【００２７】

【数２】

【００２８】図１の探傷制御装置６６は、ＣＰＵ、ＲＯ
Ｍ、ＲＡＭなどを有するよく知られたマイクロコンピュ
ータを備えており、ＲＯＭに予め記憶されたプログラム
に従って入力信号を処理することにより、放射温度測定
装置７８ａ、７８ｂ、７８ｃ、７８ｄから出力される温
度検出信号ＳＴに基づいて導電性被検査材１０の表面
疵、たとえばビレットの長手方向に伸びる線状疵、曲線
状の小さな割れであるヘゲ疵、コーナ部のコーナ割れな
どを判定し、疵位置を出力するとともに、導電性被検査
材１０の表面の疵位置をインクで表示する図示しない疵
マーカを作動させる。

【００２９】図１０は、上記探傷制御装置６６の演算制
御作動の要部、すなわち導電性被検査材１０の走行中に
おける疵検出作動を説明するフローチャートである。

【００３０】先ず、図示しない起動操作が行われること
により、導電性被検査材１０が図１の矢印方向へ一定の
速度で搬送されると同時に、粉体塗布装置１６が作動さ
せられて粉体３４が導電性被検査材１０の側面に吸着・
塗布され、誘導コイル１８に高周波電流が供給され、粉
体除去装置２０において粉体が除去される。このとき、
上記誘導コイル１８により、導電性被検査材１０の表面
が常温よりも２０乃至５０℃程度加熱される。

【００３１】この状態において、図１０のステップＳＳ
１では、放射温度測定装置７８ａ、７８ｂ、７８ｃ、７
８ｄから出力される温度検出信号ＳＴの１単位である１
走査分の信号が入力されたか否かが判断される。図９の
(a) 段は、導電性被検査材１０の所定の側面における１
走査分の温度検出信号ＳＴを例示している。このステッ
プＳＳ１の判断が否定された場合は１走査分の信号が入
力されるまで待機させられるが、肯定された場合は、ス
テップＳＳ２の平均処理以下が実行される。上記放射温
度測定装置７８ａ、７８ｂ、７８ｃ、７８ｄにおいて電
気的に決められる温度測定点の走査周期に同期して、上
記ステップＳＳ２以下の処理が実行されることになる。
上記ステップＳＳ１は温度検出信号読込工程或いは温度
検出信号読込手段に対応している。

【００３２】ステップＳＳ２では、入力された温度検出
信号ＳＴの平均値が、よく知られた適当な区間内におけ
る移動平均演算処理、或いは適当な遮断周波数を有する
ローパスアクティブフィルタ演算処理などが実行される
ことにより、平均温度信号ＳＴ_AVに変換される。この平
均温度信号ＳＴ_AVは疵が存在しない場所の表面温度とし
て取り扱われるものであり、図９の(b) はその平均温度
信号ＳＴ_AVを例示している。このステップＳＳ２は、平
均処理工程或いは平均処理手段に対応している。

【００３３】続くステップＳＳ３では、前記温度検出信
号ＳＴから上記平均温度信号ＳＴ_AVを差し引く差分演算
が実行されることにより、導電性被検査材１０の表面に
おける局部的な温度変化量を示す温度変化量信号すなわ
ち疵信号ＳΔＴ（ＳＴ−ＳＴ _AV）が算出される。図９の
(c) はこの疵信号ＳΔＴを例示している。このステップ
ＳＳ３は、温度変化量算出工程或いは温度変化量算出手
段に対応している。

【００３４】次いで、ステップＳＳ４では、疵判定を容
易とするために、疵信号ＳΔＴの絶対値｜ＳΔＴ｜が算
出される。図９の(d) はこの疵信号ＳΔＴの絶対値｜Ｓ
ΔＴ｜を例示している。このステップＳＳ４は、絶対値
算出工程或いは絶対値算出手段に対応している。

【００３５】そして、ステップＳＳ５では、上記疵信号
ＳΔＴの絶対値｜ＳΔＴ｜が予め設定された判断基準値
Ｔｈを超えるか否かが判断される。この判断基準値Ｔｈ
は、導電性被検査材１０の表面疵を判定するために予め
実験的に求められた値であり、たとえば２℃程度の値が
採用される。このステップＳＳ５は、疵判定工程或いは
疵判定手段に対応している。

【００３６】上記ステップＳＳ５の判断が否定された場
合は、本ルーチンが終了させられてステップＳＳ１以下
が再び実行されるが、肯定された場合は、ステップＳＳ
６において疵判定信号が図示しない疵マーカ等へ出力さ
れると同時に疵位置が記憶されてから、本ルーチンが終
了させられる。

【００３７】上述のように、本実施例によれば、コイル
駆動装置として機能する高周波電源装置２４が、誘導コ
イル１８を１００ｋＨｚ程度の高周波電流で駆動するこ
とにより導電性被検査材１０の表面を加熱すると、この
ような加熱工程においては、放射温度測定装置７８ａ、
７８ｂ、７８ｃ、７８ｄにより、誘導コイル１８の導電
性被検査材１０の移動方向に平行な幅方向の中間部分に
おいて厚み方向に貫通するように形成されたスリット７
６を通して、導電性被検査材１０の表面温度が測定され
る。すなわち、この温度測定工程においては、導電性被
検査材１０の表面であって誘導コイル１８の電磁誘導に
より誘導加熱されている場所自体の表面温度が測定され
る。このように、導電性被検査材１０の表面であって誘
導コイル１８の電磁誘導により誘導加熱されている場
所、すなわち誘導コイル１８直下の場所の表面温度が測
定されることから、疵による温度分布が顕著に維持され
る期間内で検出された温度検出信号ＳＴに基づいて疵判
定が行われるので、たとえ浸透深さδが大きく疵による
温度分布が現れ難い非磁性金属でも、疵の検出精度が充
分に得られる。因に、誘導コイル１８を通過した後で
は、疵による温度の分布が熱伝導によって平均化されて
しまうのである。

【００３８】また、本実施例によれば、スリット７６
は、誘導コイル１８の環状部７０の全周にわたって形成
されている結果、導電性被検査材１０の４つの側面のう
ちの１つの側面の幅寸法よりも充分に長く形成されてい
るので、放射温度測定装置７８ａ、７８ｂは、そのスリ
ット７６を通して導電性被検査材１０の側面の幅方向全
体を温度測定でき、放射温度測定装置７８ｃ、７８ｄは
導電性被検査材１０のコーナ部をスリット７６を通して
温度測定できる。但し、本実施例では、導電性被検査材
１０の上半分の側面を一度に測定するため、残りの側面
は導電性被検査材１０を１８０°回転させて再度搬送さ
せられる。もちろん、一度に全側面を測定するように放
射温度測定装置７８を設置してもよい。

【００３９】以上、本発明の一実施例を図面に基づいて
説明したが、本発明はその他の態様においても適用され
る。

【００４０】

【００４１】また、前述の実施例のスリット７６は、誘
導コイル１８の環状部７０の全周にわたって形成されて
いたが、半周であってもよいし、導電性被検査材１０の
矩形断面の１辺に対応する長さであってもよい。

【００４２】また、前述の実施例のスリット７６は、誘
導コイル１８の幅方向中央部に形成されていたが、幅方
向中央部から導電性被検査材１０の搬送方向側へ偏った
位置に形成されてもよい。

【００４３】また、前述の実施例の誘導コイル１８は、
環状に曲成された１周分の帯状金属部材により構成され
たものであったが、電線が複数回巻き回されて構成され
たものでもよい。

【００４４】また、前述の実施例の粉体塗布装置１６に
おいて、塗布ガン３６は導電性被検査材１０の各側面の
幅方向の中心の真上において一定の距離を隔てて位置さ
せられていたが、この位置は、導電性被検査材１０の断
面形状の大きさが変更されるに伴って自動的に変更され
るようにしてもよい。

【００４５】また、前述の実施例では、疵信号の絶対値
｜ＳΔＴ｜の大きさが判断基準値Ｔｈを超えたことを以
て疵と判定されていたが、その疵信号の絶対値｜ＳΔＴ
｜の大きさが判断基準値Ｔｈを超えた点が複数回の走査
毎に同じ幅方向位置において連続して存在することを以
て疵と判定するようにしてもよい。

【００４６】また、前述の実施例において、導電性被検
査材１０の存在が検出されている間だけ、高周波駆動電
流が誘導コイル１８に供給され、或いは塗布ガン３６に
より粉体３４が塗布されるようにしてもよい。

【００４７】また、前述の実施例の導電性被検査材１０
は断面矩形であったが、円形断面でもよい。

【００４８】なお、上述したのはあくまでも本発明の一
実施例であり、本発明はその主旨を逸脱しない範囲にお
いて種々変更が加えられ得るものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の誘導加熱探傷装置を示す平
面図である。

【図２】図１の粉体塗布装置および誘導コイルを示す斜
視図である。

【図３】図１の粉体塗布装置の内部構造を説明する図で
ある。

【図４】図１の粉体塗布装置内の塗布ガンおよびその粉
体塗布作動を説明する図である。

【図５】図１の粉体除去装置の内部構造を説明する図で
ある。

【図６】図１の誘導コイルの要部の一部を切り欠いて示
す拡大正面図である。

【図７】図６の側面図である。

【図８】図１の誘導加熱探傷装置に備えられた放射温度
測定装置を示す図である。

【図９】図８の放射温度測定装置から得られた温度検出
信号波形、および図１０の作動により信号処理された波
形をそれぞれ示す図である。

【図１０】図１の誘導加熱探傷装置に備えられた探傷制
御装置の作動を説明するフローチャートである。

【符号の説明】

１０：導電性被検査材１８：誘導コイル２４：高周波電源装置（コイル駆動装置）７６：スリット７８：放射温度測定装置

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者矢野泰三愛知県名古屋市南区泉楽通４−３−２ (56)参考文献特開平２−298846（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01N 25/72

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】導電性被検査材に電磁誘導により誘導電
流を発生させ、該誘導電流によって該導電性被検査材の
表面を加熱し、該導電性被検査材の表面温度を測定し、
該表面温度の不均一性に基づいて該導電性被検査材の表
面疵を探傷する導電性被検査材の誘導加熱探傷装置であ
って、所定の速度で長手方向に移動させられる長手状の導電性
被検査材の側面に近接して配置された誘導コイルと、該誘導コイルを高周波電流で駆動することにより前記導
電性被検査材の表面を加熱するコイル駆動装置と、前記誘導コイルの前記導電性被検査材の移動方向に平行
な幅方向の中間部分において厚み方向に貫通するように
形成されたスリットと、該スリットを通して前記導電性被検査材の表面温度を非
接触にて測定する放射温度測定装置とを含むことを特徴
とする導電性被検査材の誘導加熱探傷装置。
【請求項２】前記長手状の導電性被検査材は断面矩形
の角材であり、前記誘導コイルのスリットは、前記長手
状の導電性被検査材の４つの側面のうちの１つの側面の
幅寸法よりも長く形成されたものであり、前記放射温度
測定装置は、該スリットを通して前記導電性被検査材の
１つの側面をその幅方向全体を温度測定するものである
請求項１の導電性被検査材の誘導加熱探傷装置。