JP3336728B2 - Auto handler for TAB - Google Patents

Auto handler for TAB

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JP3336728B2
JP3336728B2 JP05458194A JP5458194A JP3336728B2 JP 3336728 B2 JP3336728 B2 JP 3336728B2 JP 05458194 A JP05458194 A JP 05458194A JP 5458194 A JP5458194 A JP 5458194A JP 3336728 B2 JP3336728 B2 JP 3336728B2
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JP
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tab
sprocket
pulley
pusher
tab1
Prior art date
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光弘 古田
裕之 牧下
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安藤電気株式会社
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、TAB用オートハン
ドラについてのものである。TAB用オートハンドラは
ICテスタと接続してTABの電気的特性を測定し、分
類する。TABには、例えばLCD(液晶ディスプレ
イ)の駆動用ICがある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an auto handler for TAB. The TAB auto-handler is connected to an IC tester to measure and classify the electrical characteristics of the TAB. The TAB includes, for example, an IC for driving a liquid crystal display (LCD).

【0002】[0002]

【従来の技術】TAB用オートハンドラは、リールに巻
かれたTABを自動的に測定位置まで逐次搬送し、IC
テスタのテスト結果にもとづいて選別する装置である。
なお、リールに巻かれたTAB用ローラのテンション機
構は実願平2- 41356号明細書に記載されいる。また、T
ABと電極の精密位置決め機構は、実開昭64-34576号公
報、実開平1-163335号公報、実願平2-106251号明細書な
どに記載されている。
2. Description of the Related Art A TAB auto-handler automatically transports a TAB wound on a reel to a measurement position automatically and sequentially.
This is a device that sorts based on the test results of the tester.
The tension mechanism of the TAB roller wound on the reel is described in Japanese Patent Application No. 2-41356. Also, T
The precision positioning mechanism of AB and the electrode is described in Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 64-34576, Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 1-163335, Japanese Patent Application No. 2-106251, and the like.

【0003】次に、従来技術によるTAB用オートハン
ドラの構成を図8により説明する。図8の1はTAB、
2Aは供給リール、2Bは収容リール、4Cと4Dはプ
ーリ、5Cと5Dはテンションプーリ、6Cと6Dはガ
イド、7Aと7Bはスプロケット、8はテープクラン
プ、9と10はプッシャである。
Next, the configuration of a TAB auto-handler according to the prior art will be described with reference to FIG. 8 is TAB,
2A is a supply reel, 2B is a storage reel, 4C and 4D are pulleys, 5C and 5D are tension pulleys, 6C and 6D are guides, 7A and 7B are sprockets, 8 is a tape clamp, and 9 and 10 are pushers.

【0004】図8では、供給リール2Aに巻かれたTA
B1を収容リール2Bは巻き取る。プッシャ9の両翼に
はスプロケット7A・7Bが配置され、スプロケット7
Aとスプロケット7Bは同期回転してTAB1を走行さ
せる。プッシャ9の下面にはテープクランプ8が配置さ
れ、TAB1はプッシャ9とテープクランプ8間を走行
する。プッシャ10はプッシャ9を昇降させ、テープク
ランプ8とプッシャ9で保持されたTAB1をプッシャ
10は降下させ、前記TAB1をプローブカード12に
接触させて試験する。
In FIG. 8, a TA wound around a supply reel 2A is shown.
The storage reel 2B for winding B1 is taken up. On both wings of the pusher 9, sprockets 7A and 7B are arranged.
A and the sprocket 7B rotate in synchronization with each other to drive TAB1. The tape clamp 8 is arranged on the lower surface of the pusher 9, and the TAB 1 runs between the pusher 9 and the tape clamp 8. The pusher 10 raises and lowers the pusher 9, lowers the TAB 1 held by the tape clamp 8 and the pusher 9, and brings the TAB 1 into contact with the probe card 12 for testing.

【0005】図8のプローブカード12はプッシャ9と
対向する形で装置に保持される。プローブカード12と
アタッチメントユニット13は機械的または電気的に分
離可能接続される。ICテスタのテストヘッド14は上
部にアタッチメントユニット13を配置する。プローブ
カード12とアタッチメントユニット13間にはTAB
1を撮像する画像認識用のカメラ17が配置される。
[0005] The probe card 12 shown in FIG. 8 is held by the apparatus so as to face the pusher 9. The probe card 12 and the attachment unit 13 are mechanically or electrically detachably connected. The test unit 14 of the IC tester has the attachment unit 13 disposed on the upper part. TAB between probe card 12 and attachment unit 13
An image recognition camera 17 that captures the image 1 is arranged.

【0006】図8では、TAB1はスプロケット7A・
7Bが同期して回転することによりTABのピッチ分送
られ、供給リール2Aからテンションプーリ5C、スプ
ロケット7A・7B、テンションプーリ5D、収容リー
ル2Bの順に移動する。
In FIG. 8, TAB1 is a sprocket 7A
7B is rotated in synchronism and is fed by the pitch of TAB, and moves from the supply reel 2A to the tension pulley 5C, the sprockets 7A and 7B, the tension pulley 5D, and the storage reel 2B in this order.

【0007】プーリ4Cは供給リール2Aとテンション
プーリ5C間に配置され、プーリ4Dは収容リール2B
とテンションプーリ5D間に配置される。プーリ4C・
4DDは回転中心が固定され、円周面が転動してTAB
1を案内する。テンションプーリ5C・5Dは回転中心
が水平方向に自在に移動する。ガイド6Cはテンション
プーリ5Cとスプロケット7A間に配置され、ガイド6
Dはテンションプーリ5Dとスプロケット7B間に配置
される。ガイド6C・6DはTAB1を介在させ、スプ
ロケット7A・7Bと対向する形で配置されており、ガ
イド6C・6Dの上面は円弧状に形成され、TAB1を
案内する。
The pulley 4C is disposed between the supply reel 2A and the tension pulley 5C, and the pulley 4D is
And the tension pulley 5D. Pulley 4C
For 4DD, the center of rotation is fixed, the circumferential surface rolls, and TAB
Guide 1 The rotation centers of the tension pulleys 5C and 5D move freely in the horizontal direction. The guide 6C is disposed between the tension pulley 5C and the sprocket 7A.
D is arranged between the tension pulley 5D and the sprocket 7B. The guides 6C and 6D are arranged so as to face the sprockets 7A and 7B with the TAB1 interposed therebetween, and the upper surfaces of the guides 6C and 6D are formed in an arc shape to guide the TAB1.

【0008】図8では、TAB1の屈曲や波うちを防止
するためTAB1にある程度の張力をかける。すなわ
ち、テンションプーリ5Cは図8の左側に移動するする
力が付与されている。同様に、テンションプーリ5Dは
図8の右側に移動する力が付与されている。
In FIG. 8, a certain amount of tension is applied to TAB1 in order to prevent bending and waving of TAB1. That is, a force for moving the tension pulley 5C to the left side in FIG. 8 is applied. Similarly, a force for moving the tension pulley 5D to the right side in FIG. 8 is applied.

【0009】次に、テンションプーリ5C・5Dのテン
ション機構を図9により説明する。なお、図8のTAB
用オートハンドラは左右対称になっており、前述のテン
ション機構も構成は左右対称となっている。したがっ
て、図9ではテンションプーリ5Cの部分拡大図を例に
とって説明する。
Next, the tension mechanism of the tension pulleys 5C and 5D will be described with reference to FIG. The TAB shown in FIG.
The auto-handler is symmetrical, and the structure of the tension mechanism is symmetrical. Therefore, FIG. 9 is described by taking a partial enlarged view of the tension pulley 5C as an example.

【0010】図9では、スプロケット7Aにより送り出
されるTAB1の移動方向にプーリ52Cを配置し、プ
ーリ案内51Cで移動するテンションプーリ5Cの中心
軸にロープ53Cの一端を連結する。ロープ53Cはプ
ーリ52Cに掛けられ、ロープ53Cの他端に重り54
Cを吊るしている。重り54Cにかかる重力をロープ5
3Cとプーリ52Cを仲介してテンションプーリ5Cに
伝えることにより、テンションプーリ5Cはプーリ案内
51Cに沿い、左方に引かれる。図9では、テンション
プーリ5Cがどの位置にあっても重り54Cの重力によ
りTAB1は一定の張力が与えられる。
In FIG. 9, a pulley 52C is arranged in the moving direction of TAB1 sent out by a sprocket 7A, and one end of a rope 53C is connected to the center axis of a tension pulley 5C which is moved by a pulley guide 51C. The rope 53C is hung on a pulley 52C, and a weight 54 is attached to the other end of the rope 53C.
C is suspended. Use the rope 5
By transmitting the tension to the tension pulley 5C via the pulley 52C via the 3C and the pulley 52C, the tension pulley 5C is pulled to the left along the pulley guide 51C. In FIG. 9, a constant tension is applied to TAB1 by the gravity of the weight 54C regardless of the position of the tension pulley 5C.

【0011】次に、図9のテンション機構を採用したテ
ンションプーリ5Cの動作を図10から図12により説
明する。図10の55Cはテンションプーリ5Cに取り
付けられた検出板、56C〜58Cはセンサである。図
10では、テンションプーリ5Cが右方に移動すると、
検出板55Cがセンサ56Cで検出される。このとき、
供給リール2AはTAB1を送り出す方向にTAB1の
送り速度より速い速度で回転する。
Next, the operation of the tension pulley 5C employing the tension mechanism of FIG. 9 will be described with reference to FIGS. In FIG. 10, 55C is a detection plate attached to the tension pulley 5C, and 56C to 58C are sensors. In FIG. 10, when the tension pulley 5C moves to the right,
The detection plate 55C is detected by the sensor 56C. At this time,
The supply reel 2A rotates at a speed higher than the feed speed of TAB1 in the direction of feeding TAB1.

【0012】図11は、図10の状態からテンションプ
ーリ5Cが左方に移動している状態図である。図10の
状態から供給リール2Aが回転すると、テンションプー
リ5CはTAB1の送りに関係なく、左方向に移動す
る。
FIG. 11 is a diagram showing a state in which the tension pulley 5C has moved leftward from the state shown in FIG. When the supply reel 2A rotates from the state shown in FIG. 10, the tension pulley 5C moves leftward regardless of the feed of TAB1.

【0013】図12は、図11の状態からテンションプ
ーリ5Cがさらに左方に移動した状態図である。図11
の状態が続くと、テンションプーリ5Cは図12の位置
にくる。図12では、検出板55Cはセンサ57Cで検
出され、供給リール2AはTAB1の送りに関係なく停
止する。図12の状態からTAB1を送り出すことによ
り、テンションプーリ5Cは図10の状態になるまで右
方に移動する。
FIG. 12 is a view showing a state in which the tension pulley 5C has further moved leftward from the state shown in FIG. FIG.
Is continued, the tension pulley 5C comes to the position shown in FIG. In FIG. 12, the detection plate 55C is detected by the sensor 57C, and the supply reel 2A stops regardless of the feed of TAB1. By feeding TAB1 from the state of FIG. 12, the tension pulley 5C moves rightward until the state of FIG.

【0014】図10から図12に示されるように、テン
ションプーリ5Cは左右に移動するが、TAB1にかか
る張力は一定となる。なお、TAB1が切れた場合はテ
ンションプーリ5Cは左方に移動し、検出板55Cがセ
ンサ58Cで検出される。センサ58Cの検出で装置を
停止するので、TAB1を保護できる。
As shown in FIGS. 10 to 12, the tension pulley 5C moves left and right, but the tension applied to TAB1 is constant. When TAB1 is broken, the tension pulley 5C moves to the left, and the detection plate 55C is detected by the sensor 58C. Since the device is stopped by the detection of the sensor 58C, TAB1 can be protected.

【0015】図13は、図9のテンション機構を採用し
たテンションプーリ5Dの近傍の構成図である。図13
では、テンションプーリ5Dが右方に移動すると、検出
板55Dがセンサ57Dで検出される。このとき、収容
リール2BはTAB1を卷き取る方向にTAB1の送り
速度より速い速度で回転を始める。図13の状態から、
収容リール2Bが回転すると、テンションプーリ5Dは
TAB1の送りに関係なく、左方向に移動する。テンシ
ョンプーリ5Dが移動して、検出板55Dがセンサ56
Dで検出されると、収容リール2BはTAB1の送りに
関係なく停止する。次に、TAB1を送り出すことによ
り、テンションプーリ5Dは図13の状態になるまで右
方に移動する。なお、TAB1が切れた場合はテンショ
ンプーリ5Dは左方に移動し、検出板55Dがセンサ5
8Dで検出される。センサ58Dの検出で装置は停止す
る。
FIG. 13 is a view showing the configuration in the vicinity of a tension pulley 5D employing the tension mechanism of FIG. FIG.
Then, when the tension pulley 5D moves rightward, the detection plate 55D is detected by the sensor 57D. At this time, the storage reel 2B starts rotating at a speed higher than the feed speed of TAB1 in the direction of winding TAB1. From the state of FIG.
When the storage reel 2B rotates, the tension pulley 5D moves leftward regardless of the feed of TAB1. When the tension pulley 5D moves, the detection plate 55D
When detected at D, the storage reel 2B stops regardless of the feed of TAB1. Next, by sending out TAB1, the tension pulley 5D moves rightward until the state of FIG. When the TAB 1 is broken, the tension pulley 5D moves to the left, and the detection plate 55D
8D. The device stops upon detection of the sensor 58D.

【0016】図8に戻り、動作を説明する。スプロケッ
ト7A・7Bで位置決めされたTAB1は、テープクラ
ンプ8とプッシャ9により固定される。次に、プッシャ
10はテープクランプ8とプッシャ9を一体にしてTA
B1を下降させ、TAB1をプローブカード12のプロ
ーブ12Aに接触させる。TAB1がプローブ12Aに
接触した状態で、カメラ17はTAB1の画像データを
取り込み、TAB1の位置の補正量を算出する。画像デ
ータを取り込み後、TAB1を一度上昇し、TAB1の
位置を補正後、TAB1を再下降する。次に、TAB1
がプローブ12Aに接触した状態で、ICテスタ側にオ
ートハンドラからテストスタート要求信号を送る。テス
トが終了するとプッシャ9・10は上昇し、スプロケッ
ト7A・7Bが回転して次のTAB1が送られる。
Returning to FIG. 8, the operation will be described. The TAB 1 positioned by the sprockets 7A and 7B is fixed by a tape clamp 8 and a pusher 9. Next, the pusher 10 integrates the tape clamp 8 and the pusher 9 to form a TA.
B1 is lowered, and TAB1 is brought into contact with the probe 12A of the probe card 12. With TAB1 in contact with the probe 12A, the camera 17 takes in the image data of TAB1 and calculates the correction amount of the position of TAB1. After taking in the image data, TAB1 is raised once, the position of TAB1 is corrected, and TAB1 is lowered again. Next, TAB1
Sends a test start request signal from the auto handler to the IC tester side in a state of contacting the probe 12A. When the test is completed, the pushers 9 and 10 are raised, and the sprockets 7A and 7B rotate to send the next TAB1.

【0017】図8では、スプロケット7A・7Bが反時
計方向に同期して回転することにより、TAB1は図8
の左側から右側に送られていく。図8では、TAB1に
無理な力が加わらないようにしているので、プッシャ9
が降下前にはTAB1はたわんでいる。TAB1のたわ
みをとって測定するため、図8では、スプロケット7B
の回転を停止し、スプロケット7Aを時計方法に逆回転
する。
In FIG. 8, the sprockets 7A and 7B rotate synchronously in a counterclockwise direction, so that TAB 1
From left to right. In FIG. 8, since excessive force is not applied to the TAB 1, the pusher 9
Before the descent, TAB1 warped. In order to measure the deflection of TAB1, the sprocket 7B is used in FIG.
Is stopped, and the sprocket 7A is reversely rotated clockwise.

【0018】前述のTAB測定時のたわみ取り機構は、
この出願人が実願平1-131293号で開示している。このた
わみ取り機構をオートハンドラに採用することにより、
TAB1のテストパッドとプローブカード12のプロー
ブ12Aは±60μmの位置合わせ精度が確保される。T
AB1を±60μm以上の高精度でプローブ12Aと位置
合わせするためには、後述するアライメント機能が必要
となる。
The mechanism for removing deflection during the above-described TAB measurement is as follows.
This applicant discloses in Japanese Utility Model Application No. 1-131293. By adopting this deflection removal mechanism in the auto handler,
The positioning accuracy of ± 60 μm is secured between the test pad of the TAB 1 and the probe 12A of the probe card 12. T
In order to align AB1 with probe 12A with high accuracy of ± 60 μm or more, an alignment function described later is required.

【0019】次に、TAB1とプローブ12Aの位置決
め方法を説明する。図14はTAB1を部分拡大したパ
ターン図であり、パターン図の一隅に位置決め用の基準
マーク1Aがある。中央部にはICチップ1Bが実装さ
れ、ICチップ1Bの両側にはICチップ1Bとパター
ンで接続するテストパッド1Cが配置される。TAB1
は、図14のパターン図が等間隔で連続して形成されて
おり、図14のパターンの単位をデバイスと呼ぶことと
する。
Next, a method of positioning the TAB 1 and the probe 12A will be described. FIG. 14 is a pattern diagram in which TAB1 is partially enlarged, and a reference mark 1A for positioning is provided at one corner of the pattern diagram. An IC chip 1B is mounted at the center, and test pads 1C connected to the IC chip 1B in a pattern are arranged on both sides of the IC chip 1B. TAB1
In FIG. 14, the pattern diagram in FIG. 14 is formed continuously at equal intervals, and the unit of the pattern in FIG. 14 is called a device.

【0020】図14に示されるTAB1は、装置が稼動
する前に予め位置決め調整される。この位置決め調整を
初期設定と呼称することとする。初期設定後、装置が稼
動するとTAB1は自動的に位置調整される。この自動
調整をアライメント機能と呼ぶこととする。
The position of TAB1 shown in FIG. 14 is adjusted in advance before the apparatus is operated. This positioning adjustment is called initial setting. After the initial setting, when the apparatus is operated, the position of TAB1 is automatically adjusted. This automatic adjustment is called an alignment function.

【0021】次に、TAB1の初期設定の手順を図15
により説明する。図15は図8の要部拡大断面図であ
る。図15の7Cと7Dはそれぞれスプロケット7A・
7Bに転動してTAB1を案内するローラである。ま
た、17Aはカメラ17に接続される画像処理装置であ
り、17Bはカメラ17に接続され、カメラ17の撮像
を表示するテレビモニタである。なお、図15に示され
るそれぞれの可動部はボタンまたはスイッチの切り換え
により個別に操作できる。
Next, the procedure for initial setting of TAB1 is shown in FIG.
This will be described below. FIG. 15 is an enlarged sectional view of a main part of FIG. 15C and 7D are sprockets 7A and 7D, respectively.
The roller which rolls to 7B and guides TAB1. 17A is an image processing device connected to the camera 17, and 17B is a television monitor connected to the camera 17 and displaying an image captured by the camera 17. The movable parts shown in FIG. 15 can be individually operated by switching buttons or switches.

【0022】図15では、テープクランプ8とプッシャ
9でTAB1を固定する。次に、プッシャ10でTAB
1を下降し、TAB1をプローブ12Aに接触させる。
次に、カメラ17を移動してテストパッド1Cとプロー
ブ12Aとの接触状態をテレビモニタ17Bで確認す
る。テレビモニタ17Bで確認しながら、プローブ12
Aの接触端がテストパッド1Cの中央に位置するように
プローブカード12を微小移動またはスプロケット7A
・7Bを微少回転し、位置補正する。なお、TAB1を
移動する場合は、プローブ12Aを損傷しないようTA
B1を上昇させておく。
In FIG. 15, the TAB 1 is fixed by the tape clamp 8 and the pusher 9. Next, TAB with pusher 10
1 to bring TAB1 into contact with the probe 12A.
Next, the camera 17 is moved to check the contact state between the test pad 1C and the probe 12A on the television monitor 17B. While checking on the TV monitor 17B, the probe 12
The probe card 12 is slightly moved or the sprocket 7A is moved so that the contact end of the probe card A is located at the center of the test pad 1C.
・ Slightly rotate 7B to correct the position. When the TAB1 is moved, the TAB1 is moved so as not to damage the probe 12A.
B1 is raised.

【0023】テストパッド1Cとプローブ12Aの位置
合わせが完了すると、次に、カメラ17で基準マーク1
Aを撮像し、撮像データを基準撮像データとして装置に
記憶する。この基準撮像データがTAB1とプローブカ
ード12が接触する位置の基準となり、初期設定が完了
する。
When the alignment between the test pad 1C and the probe 12A is completed, the reference mark 1
A is imaged, and the image data is stored in the device as reference image data. The reference image data serves as a reference for the position where the TAB 1 and the probe card 12 come into contact, and the initial setting is completed.

【0024】次に、アライメント機能を実現する構成を
図16と図17により説明する。図16はプッシャ9・
10の拡大斜視図であり、図17は図16の断面図であ
る。図16の9Aと10Aはモータであり、図17の1
6AはXテーブル、16BはYテーブル、16Xと16
Yはモータである。
Next, a configuration for realizing the alignment function will be described with reference to FIGS. FIG. 16 shows the pusher 9.
FIG. 17 is an enlarged perspective view of FIG. 10, and FIG. 17 is a sectional view of FIG. In FIG. 16, 9A and 10A are motors, and 1A in FIG.
6A is an X table, 16B is a Y table, 16X and 16
Y is a motor.

【0025】図16では、モータ7Eはスプロケット7
Aを回転し、モータ7Fはスプロケット7Bを回転す
る。スプロケット7Aはアーム7Gで保持され、アーム
7Gはブロック9Bの第1の側面に取り付けられる。ス
プロケット7Bはアーム7Hで保持され、アーム7Hは
ブロック9Bの第1の側面と反対側の第2の側面に取り
付けられる。
In FIG. 16, the motor 7E is connected to the sprocket 7
A rotates, and the motor 7F rotates the sprocket 7B. The sprocket 7A is held by an arm 7G, and the arm 7G is attached to the first side surface of the block 9B. The sprocket 7B is held by an arm 7H, and the arm 7H is attached to a second side of the block 9B opposite to the first side.

【0026】図17では、モータ9Aはブロック9Bの
上面に取り付けられ、モータ9Aの回転軸はボールねじ
9Dに連結し、ボールねじ9Dはプッシャ9に保持され
るボールナットと結合する。モータ9Aが回転すると、
プッシャ9はガイド9Cに案内されて昇降する。
In FIG. 17, the motor 9A is mounted on the upper surface of the block 9B, the rotating shaft of the motor 9A is connected to a ball screw 9D, and the ball screw 9D is connected to a ball nut held by the pusher 9. When the motor 9A rotates,
The pusher 9 moves up and down guided by the guide 9C.

【0027】モータ10AはXテーブル16Aの前段上
面に取り付けられ、モータ10Aの回転軸はボールねじ
10Dに連結し、ボールねじ10Dはブロック9Bに保
持されるボールナットと結合する。モータ10Aが回転
すると、ブロック9Bはガイド10Cに案内されて昇降
する。すなわち、プッシャ10は、スプロケット7A・
7Bとテープクランプ8とプッシャ9を一体にして昇降
する。図17ではモータ10AでTAB1の昇降位置を
粗調整し、モータ9Aでプッシャ9によるTAB1の昇
降位置を微調整している。
The motor 10A is mounted on the upper surface of the front stage of the X table 16A. The rotation shaft of the motor 10A is connected to a ball screw 10D, and the ball screw 10D is connected to a ball nut held by a block 9B. When the motor 10A rotates, the block 9B moves up and down guided by the guide 10C. That is, the pusher 10 has a sprocket 7A
7B, the tape clamp 8 and the pusher 9 are moved up and down integrally. In FIG. 17, the elevation position of TAB1 is roughly adjusted by the motor 10A, and the elevation position of TAB1 by the pusher 9 is finely adjusted by the motor 9A.

【0028】次に、XYステージ16の構成を説明す
る。XYステージ16はXテーブルとYテーブルで構成
される。Xテーブル16Aの後段にはモータ16Xが連
結される。モータ16Xが回転すると、Xテーブル16
AはTAB1の走行方向と平行に微小移動する。すなわ
ち、モータ16XはTAB1とスプロケット7A・7B
とプッシャ9・10を一体にしてX方向に移動する。モ
ータ16Xが取り付けられるYテーブル16Bの下段は
モータ16Yが連結される。モータ16Yが回転する
と、Yテーブル16BはTAB1の走行方向と直交する
方向と平行に微小移動する。すなわち、モータ16Yは
TAB1をY方向に移動させる。
Next, the configuration of the XY stage 16 will be described. The XY stage 16 includes an X table and a Y table. The motor 16X is connected to the rear stage of the X table 16A. When the motor 16X rotates, the X table 16
A slightly moves in parallel with the running direction of TAB1. That is, the motor 16X is composed of the TAB1 and the sprockets 7A and 7B.
And the pushers 9 and 10 are moved together in the X direction. The motor 16Y is connected to the lower stage of the Y table 16B to which the motor 16X is attached. When the motor 16Y rotates, the Y table 16B minutely moves parallel to a direction orthogonal to the traveling direction of the TAB1. That is, the motor 16Y moves TAB1 in the Y direction.

【0029】次に、アライメント機能を説明する。装置
が稼動すると、カメラ17は基準マーク1Aを撮像し、
初期設定で記憶された基準撮像データと比較する。次
に、前記比較値から補正値を演算し、補正値分XYステ
ージ16を移動すると、TABのテストパッド1Cとプ
ローブ12Aが位置合わせできる。このアライメント機
能を採用することにより、TAB1とプローブカード1
2を±10μm以内の高精度で位置合わせできる。
Next, the alignment function will be described. When the apparatus operates, the camera 17 captures an image of the reference mark 1A,
A comparison is made with the reference imaging data stored in the initial setting. Next, a correction value is calculated from the comparison value, and by moving the XY stage 16 by the correction value, the TAB test pad 1C and the probe 12A can be aligned. By adopting this alignment function, TAB1 and probe card 1
2 can be positioned with high accuracy within ± 10 μm.

【0030】図14におけるTAB1のテープ幅Wは、
例えば、35mm、48mm、70mmと複数種類ある。図8におけ
るTAB用オートハンドラでは、機械的にも電気的にも
複数種類のTABに対応できるようになっている。図8
では、スプロケット7A・7Bとスプロケットガイド7
C・7Dとガイド6C・6Dおよびテープクランプ8は
テープ幅Wに対応して交換する。一方、プーリ4C・4
Dとテンションプーリ5C・5Dはテープ幅Wがかわっ
ても交換しないで共用できる。図18はこのような共用
プーリであるプーリ4Cの一例を示している。図18で
はテープ幅Wに対応して、TABの案内面である回転軸
の外径に段差を設けてある。プーリ4C・4Dとテンシ
ョンプーリ5C・5Dは図18に示されるような構造に
なっているのでテープ幅の変更時は交換の必要がない。
The tape width W of TAB1 in FIG.
For example, there are a plurality of types such as 35 mm, 48 mm, and 70 mm. The TAB auto-handler in FIG. 8 can handle a plurality of types of TAB both mechanically and electrically. FIG.
Then, sprockets 7A and 7B and sprocket guide 7
The C · 7D, the guides 6C · 6D, and the tape clamp 8 are exchanged according to the tape width W. On the other hand, pulley 4C
D and the tension pulleys 5C and 5D can be shared without replacement even if the tape width W is changed. FIG. 18 shows an example of such a shared pulley 4C. In FIG. 18, a step is provided in the outer diameter of the rotary shaft, which is the guide surface of the TAB, corresponding to the tape width W. Since the pulleys 4C and 4D and the tension pulleys 5C and 5D are structured as shown in FIG. 18, there is no need to change them when the tape width is changed.

【0031】図8の検出器群19・20は、TAB1上
のICチップ1Bの有無などの情報を読み取るためのも
のである。図8では、検出器群19は3つの検出器で構
成され、スプロケット7Aの前段に配置される。検出器
群20は3つの検出器で構成され、パンチユニット11
の後段に配置される。なお、検出器群19と検出器群2
0は同様の構成である。
The detector groups 19 and 20 in FIG. 8 are for reading information such as the presence or absence of the IC chip 1B on the TAB 1. In FIG. 8, the detector group 19 is composed of three detectors, and is arranged in front of the sprocket 7A. The detector group 20 is composed of three detectors, and the punch unit 11
Is arranged at the subsequent stage. The detector group 19 and the detector group 2
0 has the same configuration.

【0032】図19は検出器群20の1検出器の構成図
である。検出体20Aはコの字状に形成され、検出体2
0Aの先端部の第1の端部には投光器20Bが取り付け
られ、第1の端部と反対面の第2の端部には投光器20
Bの光出力を受光する受光器2Cが取り付けられる。
FIG. 19 is a configuration diagram of one of the detector groups 20. The detection body 20A is formed in a U-shape, and the detection body 2A
A light emitter 20B is attached to a first end of the leading end of the light emitting device 0A, and a light emitter 20B is attached to a second end opposite to the first end.
A light receiver 2C for receiving the light output of B is attached.

【0033】図19では、検出体20Aの溝にTAB1
が走行し、TABを検出する。検出体20Aは移動体2
0Dに保持され、TAB1の走行方向に対して横切る形
で前後進できる。移動体20Dは検出体20AをTAB
1の走行方向と平行に移動し保持できる。検出器群19
・20の検出器はすべて図19に示された構成であり、
装置の稼動に先立ち、TABの検出位置が調整される。
In FIG. 19, the TAB1
Travels and detects TAB. The detection body 20A is the moving body 2
It is held at 0D, and can move back and forth in a direction crossing the running direction of TAB1. Moving object 20D detects object 20A with TAB
1 can be moved and held in parallel to the traveling direction. Detector group 19
All 20 detectors have the configuration shown in FIG.
Prior to the operation of the device, the detection position of TAB is adjusted.

【0034】図20はTAB1上の検出器群20の配置
図である。図20では、検出器K1は検出光がテストパ
ッド1Cを遮光する位置に移動調整される。検出器K2
は検出光がICチップ1Bを遮光する位置に移動調整さ
れる。検出器K3は検出光がパンチ穴1Dを遮光する位
置に移動調整される。
FIG. 20 is an arrangement diagram of the detector group 20 on the TAB1. In FIG. 20, the detector K1 is moved and adjusted to a position where the detection light shields the test pad 1C. Detector K2
Is adjusted to move to a position where the detection light shields the IC chip 1B. The detector K3 is moved and adjusted to a position where the detection light shields the punch hole 1D.

【0035】図20では、検出器K1は検出光の有無で
TAB1がリーダテープか被測定TABかを確認する。
検出器K2は検出光の有無でICチップ1Bの有無を確
認し、TAB1の測定の可否を判断する。検出器K3は
検出光の有無でパンチ穴1Dの有無を確認し、TAB1
が測定分類済みかを判断する。図20では、前述の機能
をはたしており、TABのテープ幅Wも複数種類あるの
で、図19の機構で検出器が位置調整される。なお、図
19と図20は特願平5-254806号明細書に記載の図5と
図6と技術的に同じものである。
In FIG. 20, the detector K1 checks whether TAB1 is a leader tape or a measured TAB based on the presence or absence of detection light.
The detector K2 confirms the presence or absence of the IC chip 1B based on the presence or absence of the detection light, and determines whether or not the measurement of the TAB1 is possible. The detector K3 confirms the presence or absence of the punch hole 1D by the presence or absence of the detection light,
Is determined whether the measurement has been classified. In FIG. 20, since the above-described function is performed and there are a plurality of types of TAB tape widths W, the position of the detector is adjusted by the mechanism shown in FIG. 19 and 20 are technically the same as FIGS. 5 and 6 described in Japanese Patent Application No. 5-254806.

【0036】なお、図20に示されるTAB上のパンチ
穴1DはTABの様々な検査工程の関係で、パンチ穴1
DがあけられたTABを再試験する場合や、試験終了後
に良品・不良品の識別穴としてパンチユニット11でパ
ンチ穴1Dを設ける場合など様々である。さらに、パン
チユニット11はパンチ穴をあける場合と不良品と判定
されたTABのICチップ1Bを打ち抜く場合がある。
The punched hole 1D on the TAB shown in FIG. 20 is different from the punched hole 1D due to various inspection processes of the TAB.
There are various cases, such as a case where the TAB with D is retested and a case where a punch hole 1D is provided in the punch unit 11 as a discrimination hole between a good product and a bad product after the test. Furthermore, the punch unit 11 may punch holes or punch out the TAB IC chip 1B determined to be defective.

【0037】図21は前述に記載されたように様々なT
ABの種類や打抜方法に対応したパンチユニット11の
外観図である。図21では駆動源11Aとフレーム11
Bとベース11Cを第1のユニットとし、パンチ11D
とパンチガイド11Eとパンチホルダ11Fとパンチダ
イ11Gを第2のユニットとしているので、第1のユニ
ットに第2のユニットを交換すれば前記の色々な対応が
可能となる。なお、図21は実願平04-26012号明細書の
図3と同じものである。
FIG. 21 illustrates various T as described above.
It is an external view of the punch unit 11 corresponding to AB type and the punching method. In FIG. 21, the drive source 11A and the frame 11
B and the base 11C as the first unit, and the punch 11D
And the punch guide 11E, the punch holder 11F, and the punch die 11G are used as the second unit. Therefore, if the second unit is replaced with the first unit, the above-described various measures can be taken. FIG. 21 is the same as FIG. 3 of Japanese Patent Application No. 04-26012.

【0038】次に、図8の動作を図22のフローチャー
トにより説明する。図22のステップ201では、スプ
ロケット7A・7Bは同期回転して1デバイス分TAB
1を送る。ステップ202では、プッシャ9を下降し、
TAB1をテープクランプ8に挟み固定する。ステップ
203では、プッシャ10を下降し、TAB1をプロー
ブカード12との接触位置まで下降させる。このとき、
前述のたわみ取り機構によりTAB1は±60μmの精度
で位置決めされる。
Next, the operation of FIG. 8 will be described with reference to the flowchart of FIG. At step 201 in FIG. 22, the sprockets 7A and 7B are rotated synchronously to make one device TAB.
Send 1 In step 202, the pusher 9 is lowered,
TAB 1 is sandwiched between tape clamps 8 and fixed. In step 203, the pusher 10 is lowered, and the TAB 1 is lowered to a position where the TAB 1 contacts the probe card 12. At this time,
The TAB 1 is positioned with an accuracy of ± 60 μm by the above-described deflection removing mechanism.

【0039】ステップ204では、カメラ17で基準マ
ーク1Aを取り込み、XYステージ16の補正値を計算
する。ステップ205では、プッシャ10を上昇する。
ステップ206では前記補正値にもとづきXテーブル1
6Aを微小移動する。ステップ207では前記補正値に
もとづきYテーブル16Bを微小移動する。
In step 204, the reference mark 1A is captured by the camera 17, and the correction value of the XY stage 16 is calculated. In step 205, the pusher 10 is raised.
In step 206, the X table 1 based on the correction value
6A is slightly moved. In step 207, the Y table 16B is slightly moved based on the correction value.

【0040】ステップ208では、プッシャ10を下降
し、TAB1をプローブカード12に接触させる。ステ
ップ209では、TAB1を測定する。ステップ210
では、プッシャ10を上昇し、TAB1とプローブカー
ド12との接触を解除する。ステップ211ではプッシ
ャ9を上昇し、TAB1をテープクランプ8から解除す
る。ステップ212では、パンチユニット11を駆動
し、検出器群20でTAB1を読み込み、1インデック
スが終了する。
In step 208, the pusher 10 is lowered to bring the TAB 1 into contact with the probe card 12. In step 209, TAB1 is measured. Step 210
Then, the pusher 10 is raised to release the contact between the TAB 1 and the probe card 12. In step 211, the pusher 9 is raised to release the TAB 1 from the tape clamp 8. In step 212, the punch unit 11 is driven, TAB1 is read by the detector group 20, and one index is completed.

【0041】図23は、図22のフローチャートをタイ
ムチャートで示したものである。図23アでスプロケッ
ト7A・7Bが同期回転終了すると、図23イで、プッ
シャ9が下降する。プッシャ9が下降停止すると、図2
3ウで、プッシャ10が下降する。プッシャ10が下降
停止すると、図23エで、TAB1の画像を読み込み、
補正値を算出する。前記演算が完了すると、次に、図2
3ウでプッシャ10が上昇完了すると、図23オでXテ
ーブル16Aが移動する。図23オでXテーブル16A
が移動完了すると、図23カでYテーブル16Bが移動
する。
FIG. 23 is a time chart showing the flowchart of FIG. When the sprockets 7A and 7B complete the synchronous rotation in FIG. 23A, the pusher 9 descends in FIG. When the pusher 9 descends and stops, FIG.
At 3C, the pusher 10 descends. When the pusher 10 stops descending, the image of TAB1 is read in FIG.
Calculate the correction value. When the calculation is completed, FIG.
When the pusher 10 is completely lifted by 3C, the X table 16A moves in FIG. 23E, X table 16A
Is completed, the Y table 16B moves in FIG.

【0042】図23カでYテーブル16Bが移動完了す
ると、図23ウでプッシャ10が上昇する。プッシャ1
0が上昇完了すると、ICテスタ側にオートハンドラか
らテストスタート要求信号を送る。図23キで測定が終
了すると、図23ウでプッシャ10が上昇する。プッシ
ャ10が上昇完了すると、図23イでプッシャ9が上昇
する。プッシャ9が上昇完了する、図23クでパンチユ
ニット11が駆動し、検出器群20でTAB1を確認す
る。図23アでTAB1が確認されると、スプロケット
7A・7Bが回転して次のTAB1が送るよう指令され
る。図23アで、スプロケット7A・7Bが駆動開始し
て次に駆動開始するまでの時間TINDEXがこの装置の1
インデックス時間となる。
When the movement of the Y table 16B is completed in FIG. 23, the pusher 10 is raised in FIG. Pusher 1
When the rise of 0 is completed, a test start request signal is sent from the auto handler to the IC tester side. When the measurement is completed in FIG. 23, the pusher 10 is raised in FIG. When the pusher 10 is completely lifted, the pusher 9 is raised in FIG. When the pusher 9 is completely lifted, the punch unit 11 is driven in FIG. 23C, and the detector group 20 confirms TAB1. When TAB1 is confirmed in FIG. 23A, the sprockets 7A and 7B are rotated and instructed to send the next TAB1. In FIG. 23A, the time TINDEX from the start of driving of the sprockets 7A and 7B to the start of the next driving is set to 1 in this apparatus.
This is the index time.

【0043】[0043]

【発明が解決しようとする課題】図24はパンチユニッ
ト11を中心とした部分構成図である。図24アの状態
から、プッシャ9・10がTAB1を下降させると、テ
ンションプーリ5Dは左方に移動して図24イの状態に
なる。図24イの状態では、パンチユニット11、検出
器群20の位置で、TAB1は数ミリ移動している。図
24アの状態では、パンチ穴の位置精度とデバイスの検
出が補償できない。したがって、従来技術では、測定終
了後にプッシャ9・10を上昇させた状態でパンチユニ
ット11を駆動または、検出器群20でデバイスを検出
する。このため、図23に示されるインデックス時間T
INDEXは約4sec程度要するという問題がある。ま
た、図23に示されるように、Xテーブル16AとYテ
ーブル16Bおよび、プッシャ9とプッシャ10を個別
に駆動制御していることがインデックス時間が長くする
要因となっている。
FIG. 24 is a partial structural view mainly showing the punch unit 11. As shown in FIG. When the pushers 9 and 10 lower the TAB 1 from the state shown in FIG. 24A, the tension pulley 5D moves to the left and enters the state shown in FIG. In the state shown in FIG. 24A, TAB1 has moved several millimeters at the positions of the punch unit 11 and the detector group 20. In the state of FIG. 24A, the position accuracy of the punched hole and the detection of the device cannot be compensated. Therefore, in the prior art, the punch unit 11 is driven or the devices are detected by the detector group 20 with the pushers 9 and 10 raised after the measurement is completed. Therefore, the index time T shown in FIG.
INDEX has a problem that it takes about 4 seconds. Further, as shown in FIG. 23, the drive control of the X table 16A and the Y table 16B and the pusher 9 and the pusher 10 individually causes a longer index time.

【0044】インデックス時間を短くするため、スプロ
ケット7A・7Bの回転速度を速くすると、図10に示
されるテンション機構では、供給リール2Aの回転速度
をスプロケット7A・7Bの送り速度より速くしなけれ
ばならない。しかし、テンションプーリ5Cの追従能力
にも限界があるので、TAB1に衝撃を与えることにな
る。この事情は収容リール2B側も同様であり、インデ
ックス時間を短くするためのテンション機構が要求され
る。
If the rotation speed of the sprockets 7A and 7B is increased to shorten the index time, the rotation speed of the supply reel 2A must be faster than the feed speed of the sprockets 7A and 7B in the tension mechanism shown in FIG. . However, there is a limit to the follow-up ability of the tension pulley 5C, so that the TAB 1 is impacted. The situation is the same on the storage reel 2B side, and a tension mechanism for shortening the index time is required.

【0045】また、図8では、TAB1のテープ幅変更
時には、スプロケット7A・7B、スプロケットガイド
7C・7D、ガイド6C・6D、テープクランプ8を交
換する。テンションプーリ5C・5Dとプーリ4C・4
Dは図18に示されるように交換は不要であるが、TA
B1の幅により走行高さが変わる。このため、図24と
同様な事情で、パンチ穴の位置精度とデバイスの検出が
安定しないという問題がある。
In FIG. 8, when changing the tape width of the TAB 1, the sprockets 7A and 7B, the sprocket guides 7C and 7D, the guides 6C and 6D, and the tape clamp 8 are exchanged. Tension pulley 5C / 5D and pulley 4C / 4
D does not need to be replaced as shown in FIG.
The running height changes depending on the width of B1. Therefore, under the same circumstances as in FIG. 24, there is a problem that the position accuracy of the punched holes and the detection of the device are not stable.

【0046】第1の発明は、TABを測定中にTABに
パンチ穴をあける構成のTAB用オートハンドラを提供
することを目的とする。第2と第3の発明は第1の発明
において、インデック時間を短くする方法を提供する。
第4と第5の発明は第1の発明において、TABに衝撃
力を与えない卷き取り機構を提供する。第6から第9の
発明は、第1の発明において、TABのテープ幅の切換
容易な案内構造の提供を目的とする。
A first object of the present invention is to provide a TAB auto-handler in which a punch hole is formed in a TAB while measuring the TAB. The second and third inventions provide a method for shortening an index time in the first invention.
The fourth and fifth inventions provide the winding mechanism according to the first invention, which does not give an impact force to the TAB. The sixth to ninth inventions are based on the first invention and provide an easy-to-switch guide structure of the TAB tape width.

【0047】[0047]

【課題を解決するための手段】これらの目的を達成する
ため、第1の発明は、供給リール2Aに巻かれたTAB
1を収容リール2Bは巻き取り、スプロケット7Aとス
プロケット7Bは同期回転してTAB1を走行し、スプ
ロケット7Aとスプロケット7Bの間にテープクランプ
8とプッシャ9を配置し、テープクランプ8とプッシャ
9で保持されたTAB1をプッシャ10は降下させ、前
記TAB1をプローブカード12に接触させて試験する
TAB用オートハンドラにおいて、供給リール2Aが送
り出すTAB1をプッシャ9側に走行するスプロケット
3Aと、収容リール2B側にTAB1を走行するスプロ
ケット3Bと、スプロケット3Aとスプロケット7A間
に介在し、回転中心を固定するプーリ4Aと、スプロケ
ット7Bとスプロケット3B間に介在し、回転中心を固
定するプーリ4Bと、プーリ4Aとスプロケット7A間
に配置し、TAB1を上昇方向に押圧するテンションプ
ーリ6Aと、スプロケット7Bとプーリ4B間に配置
し、TAB1を上昇方向に押圧するテンションプーリ6
Bと、プーリ4Aとテンションプーリ6A間に配置し、
回転中心を固定し、TAB1を案内するガイド5Aと、
テンションプーリ6Bとプーリ4B間に配置し、回転中
心を固定し、TAB1を案内するガイド5Bと、ガイド
5Bとプーリ4B間に配置し、試験結果によりTAB1
にパンチ穴をあけるパンチユニット11とを備え、スプ
ロケット3Bの回転を保持し、TAB1を測定中にパン
チ穴をあける。
To achieve these objects, a first invention is to provide a TAB wound on a supply reel 2A.
1 is wound on the reel 2B, the sprocket 7A and the sprocket 7B rotate synchronously and run on the TAB1, and the tape clamp 8 and the pusher 9 are arranged between the sprocket 7A and the sprocket 7B, and are held by the tape clamp 8 and the pusher 9. In the TAB auto-handler for testing the TAB 1 by bringing the TAB 1 down into contact with the probe card 12 and testing the TAB 1, the TAB 1 sent out by the supply reel 2 A is moved to the pusher 9 side by the sprocket 3 A and the storage reel 2 B side. A sprocket 3B running on the TAB1, a pulley 4A interposed between the sprocket 3A and the sprocket 7A and fixing the rotation center, a pulley 4B interposed between the sprocket 7B and the sprocket 3B and fixing the rotation center, and the pulley 4A and the sprocket Placed between 7A, TAB A tension pulley 6A to press the rising direction, the tension pulley 6 is arranged between the sprockets 7B and the pulley 4B, pressed against the upward direction TAB1
B, placed between the pulley 4A and the tension pulley 6A,
A guide 5A that fixes the rotation center and guides TAB1;
The guide 5B is disposed between the tension pulley 6B and the pulley 4B, the rotation center is fixed, and the TAB 1 is guided. The guide 5B is disposed between the guide 5B and the pulley 4B.
And a punch unit 11 for forming a punched hole, while keeping the rotation of the sprocket 3B, and forming a punched hole while measuring TAB1.

【0048】第2の発明は、スプロケット7Aと、スプ
ロケット7Bと、テープクランプ8と、プッシャ9と、
プッシャ10を一体にしてXYステージ16上に配置
し、Xテーブル16AはXYステージ16上のTAB1
を走行方向に微小移動し、Yテーブル16BはXYステ
ージ16上のTAB1を走行方向と直交する方向に微小
移動し、画像処理用のカメラ15でTAB1の基準マー
ク1Aを参照し、XYステージ16に保持されたTAB
1の位置を補正するとき、Xテーブル16AとYテーブ
ル16Bは同時に移動開始する。
The second invention is a sprocket 7A, a sprocket 7B, a tape clamp 8, a pusher 9,
The pusher 10 is disposed integrally on the XY stage 16, and the X table 16 A is provided on the TAB 1 on the XY stage 16.
Is slightly moved in the traveling direction, the Y table 16B is slightly moved TAB1 on the XY stage 16 in a direction perpendicular to the traveling direction, and the camera 15 for image processing refers to the reference mark 1A of TAB1 and moves the XY stage 16 TAB retained
When correcting the position of 1, the X table 16A and the Y table 16B start moving at the same time.

【0049】第3の発明は、プッシャ9とプッシャ10
は同時に降下開始または同時に上昇開始する。
The third invention comprises a pusher 9 and a pusher 10
Starts to descend at the same time or starts to rise at the same time.

【0050】第4の発明は、供給リール2Aの下方外側
にスプロケット3Aを配置し、傾斜ガイド21は供給リ
ール2Aから自重で垂下するTAB1を案内し、センサ
23とセンサ24は傾斜ガイド21とスプロケット3A
間で垂下するTAB1の有無を検出し、センサ23とセ
ンサ24がTAB1を検出しないときは供給リール2A
はTAB1を送り出し、センサ23とセンサ24がTA
B1を検出したときは供給リール2Aは回転を停止す
る。
According to a fourth aspect of the present invention, a sprocket 3A is disposed below and outside the supply reel 2A, the inclined guide 21 guides the TAB 1 hanging from the supply reel 2A by its own weight, and the sensors 23 and 24 are composed of the inclined guide 21 and the sprocket. 3A
The presence / absence of the TAB1 hanging between the supply reels is detected, and when the sensors 23 and 24 do not detect the TAB1, the supply reel 2A
Sends TAB1, and the sensors 23 and 24
When B1 is detected, the supply reel 2A stops rotating.

【0051】第5の発明は、収容リール2Bの下方外側
にスプロケット3Bを配置し、傾斜ガイド22は収容リ
ール2Bから自重で垂下するTAB1を案内し、センサ
25とセンサ26は傾斜ガイド22とスプロケット3B
間で垂下するTAB1の有無を検出し、センサ25とセ
ンサ26がTAB1を検出しないときは収容リール2B
は回転を停止し、センサ25とセンサ26がTAB1を
検出したときは収容リール2BはTAB1を巻き取る。
According to a fifth aspect of the present invention, a sprocket 3B is arranged below and outside the storage reel 2B, the inclined guide 22 guides the TAB 1 hanging from the storage reel 2B by its own weight, and the sensors 25 and 26 are connected to the inclined guide 22 and the sprocket. 3B
The presence / absence of the TAB1 hanging between the two reels is detected, and when the sensor 25 and the sensor 26 do not detect the TAB1,
Stops rotating, and when the sensors 25 and 26 detect TAB1, the storage reel 2B winds up TAB1.

【0052】第6の発明は、スプロケット3Aは段付き
スプロケット31と段付きスプロケット32と回転軸3
3で構成し、スプロケット3Bは段付きスプロケット3
4と段付きスプロケット35と回転軸36で構成し、回
転軸33と回転軸36に幅の違うTABに対応する複数
の溝Vを円周に形成し、段付きスプロケット31と段付
きスプロケット32と段付きスプロケット34と段付き
スプロケット35の段部に溝Vに入る球Bを設け、球B
を押圧する圧縮コイルばねSを前記段部に内蔵し、幅の
違うTABに対応する。
According to a sixth aspect of the present invention, a sprocket 3A includes a stepped sprocket 31, a stepped sprocket 32,
3 and the sprocket 3B is a stepped sprocket 3
4 and a stepped sprocket 35 and a rotating shaft 36, a plurality of grooves V corresponding to TABs having different widths are formed in the rotating shaft 33 and the rotating shaft 36 around the circumference, and a stepped sprocket 31 and a stepped sprocket 32 are formed. The stepped sprocket 34 and the stepped sprocket 35 are provided with spheres B which enter the grooves V at the steps,
A compression coil spring S that presses the spring is built in the step portion, and corresponds to a TAB having a different width.

【0053】第7の発明は、プーリ4Aは段付きプーリ
41と段付きプーリ42と回転軸43で構成し、プーリ
4Bは段付きプーリ44と段付きプーリ45と回転軸4
6で構成し、回転軸43と回転軸46に幅の違うTAB
に対応する複数の溝Vを円周に形成し、段付きプーリ4
1と段付きプーリ42と段付きプーリ44と段付きプー
リ45の段部に溝Vに入る球Bを設け、球Bを押圧する
圧縮コイルばねSを前記段部に内蔵し、段付きプーリ4
1の段部と段付きプーリ42の段部を対向して配置し、
段付きプーリ44の段部と段付きプーリ45の段部を対
向して配置し、前記段部で幅の違うTABを案内する。
According to a seventh aspect of the present invention, the pulley 4A comprises a stepped pulley 41, a stepped pulley 42 and a rotating shaft 43, and the pulley 4B comprises a stepped pulley 44, a stepped pulley 45 and a rotating shaft 4
6 with different widths on the rotating shaft 43 and the rotating shaft 46.
Are formed on the circumference to correspond to the stepped pulley 4.
1, a stepped pulley 42, a stepped pulley 44, and a stepped pulley 45 are provided with spheres B which enter the grooves V in the stepped portions, and a compression coil spring S for pressing the balls B is built in the stepped portions.
The first step and the step of the stepped pulley 42 are arranged facing each other,
The step of the stepped pulley 44 and the step of the stepped pulley 45 are arranged to face each other, and TABs having different widths are guided by the step.

【0054】第8の発明は、ガイド5Aは段付きガイド
51と段付きガイド52と回転軸53で構成し、ガイド
5Bは段付きガイド54と段付きガイド55と回転軸5
6で構成し、回転軸53と回転軸56に幅の違うTAB
に対応する複数の溝Vを円周に形成し、段付きガイド5
1と段付きガイド52と段付きガイド54と段付きガイ
ド55の段部に溝Vに入る球Bを設け、球Bを押圧する
圧縮コイルばねSを前記段部に内蔵し、段付きガイド5
1の段部と段付きガイド52の段部を対向して配置し、
段付きガイド54の段部と段付きガイド55の段部を対
向して配置し、前記段部で幅の違うTABを案内する。
According to an eighth aspect of the present invention, the guide 5A comprises a stepped guide 51, a stepped guide 52, and a rotating shaft 53, and the guide 5B comprises a stepped guide 54, a stepped guide 55, and a rotating shaft 5.
6 with different widths on the rotating shaft 53 and the rotating shaft 56.
A plurality of grooves V corresponding to the stepped guide 5
1, a stepped guide 52, a stepped guide 54, and a stepped guide 55 are provided with spheres B that enter the grooves V, and a compression coil spring S that presses the spheres B is built in the stepped parts.
The first step and the step of the step guide 52 are arranged facing each other,
The step of the step guide 54 and the step of the step guide 55 are arranged to face each other, and the step guides TABs having different widths.

【0055】第9の発明は、テンションプーリ6Aは段
付き円弧ブロック61と段付き円弧ブロック62と揺動
板63で構成し、テンションプーリ6Bは段付き円弧ブ
ロック64と段付き円弧ブロック65と揺動板66で構
成し、揺動板63と揺動板66に幅の違うTABに対応
する複数の穴Hをあけ、段付き円弧ブロック61と段付
き円弧ブロック62と段付き円弧ブロック64と段付き
円弧ブロック65の底面に穴Hに入るピンPを突出し、
段付き円弧ブロック61の円弧段部と段付き円弧ブロッ
ク62の円弧段部を対向して配置し、段付き円弧ブロッ
ク64の円弧段部と段付き円弧ブロック65の円弧段部
を対向して配置し、前記円弧段部で幅の違うTABを案
内する。
According to a ninth aspect of the present invention, the tension pulley 6A includes a stepped arc block 61, a stepped arc block 62, and a swing plate 63, and the tension pulley 6B includes a stepped arc block 64, a stepped arc block 65, and a swinging plate. A plurality of holes H corresponding to TABs having different widths are formed in the oscillating plate 63 and the oscillating plate 66, and a stepped arc block 61, a stepped arc block 62, a stepped arc block 64, and a step are formed. The pin P that enters the hole H is projected from the bottom surface of the attached arc block 65,
The arc step of the stepped arc block 61 and the arc step of the stepped arc block 62 are arranged facing each other, and the arc step of the stepped arc block 64 and the arc step of the stepped arc block 65 are arranged facing each other. Then, TABs having different widths are guided at the arc-shaped steps.

【0056】[0056]

【作用】第1の発明の構成によれば、TAB1を同期回
転するスプロケット7A・7Bの両翼には、回転中心を
固定するガイド5A・5Bが配置される。ガイド5A・
5Bの両翼にはTAB1の走行を平行にし、回転中心を
固定するプーリ4A・4Bが配置される。プーリ4A・
4Bの両翼にはTAB1をピッチ送りするスプロケット
3A・3Bが配置される。プッシャ9・10とスプロケ
ット7A・7Bが一体になってTAB1を昇降すると
き、スプロケット3Bは回転を停止しているので、TA
B1がプッシャ9・10側に走行しない。したがって、
プッシャ9・10の動作にかからわらずパンチユニット
11が駆動でき、パンチユニット11の駆動後のTAB
1の状態も安定して検出できる。
According to the structure of the first aspect of the present invention, the guides 5A and 5B for fixing the center of rotation are arranged on both wings of the sprockets 7A and 7B that rotate the TAB 1 synchronously. Guide 5A
On both wings of 5B, pulleys 4A and 4B for parallelizing the running of TAB1 and fixing the center of rotation are arranged. Pulley 4A
Sprockets 3A and 3B for feeding TAB1 at pitches are arranged on both wings of 4B. When the pushers 9 and 10 and the sprockets 7A and 7B are integrally moved up and down the TAB 1, the rotation of the sprocket 3B is stopped.
B1 does not travel to the pushers 9 and 10. Therefore,
The punch unit 11 can be driven irrespective of the operation of the pushers 9 and 10.
The state of 1 can be stably detected.

【0057】第2の発明では、TAB1を走行方向に微
小移動補正するXテーブル16AとTAB1を走行方向
と直交する方向に微小移動補正するYテーブル16Bは
同時に移動開始するので、従来の制御方法よりインデッ
クス時間を短縮できる。
In the second invention, the X table 16A for correcting the small movement of the TAB1 in the running direction and the Y table 16B for correcting the small movement of the TAB1 in the direction perpendicular to the running direction start moving at the same time. Index time can be reduced.

【0058】第3の発明では、第1のプッシャ9と第2
のプッシャ10は同時に降下開始または同時に上昇開始
するので、従来の制御方法よりインデックス時間を短縮
できる。
In the third invention, the first pusher 9 and the second pusher 9
The pusher 10 starts lowering at the same time or starts raising at the same time, so that the indexing time can be reduced as compared with the conventional control method.

【0059】第4の発明では、供給リール2Aは常時余
裕をもってスプロケット3AにTAB1を供給するの
で、スプロケット7A・7Bのインデックス送り速度を
速くできる。また、TABは自重で落下するため、衝撃
力が加わることはない。
In the fourth aspect, the supply reel 2A always supplies TAB1 to the sprocket 3A with a margin, so that the index feed speed of the sprockets 7A and 7B can be increased. Also, since the TAB falls under its own weight, no impact force is applied.

【0060】第5の発明では、収容リール2Bは常時余
裕をもってスプロケット3Bから送られるTAB1を収
容するので、スプロケット7A・7Bのインデックス送
り速度を速くできる。また、TABは自重で落下するた
め、衝撃力が加わることはない。
In the fifth aspect of the present invention, since the storage reel 2B always accommodates the TAB 1 sent from the sprocket 3B with a margin, the index feed speed of the sprockets 7A and 7B can be increased. Also, since the TAB falls under its own weight, no impact force is applied.

【0061】第6から第8の発明では、TAB1のテー
プ幅に対応して回転軸の円周に複数の溝Vを形成し、駆
動輪または案内輪は回転軸上の保持位置を前記溝Vに押
圧すことにより規制され、相対向する駆動輪または案内
輪の位置を容易に変える。
In the sixth to eighth inventions, a plurality of grooves V are formed on the circumference of the rotary shaft corresponding to the tape width of the TAB1, and the driving wheels or the guide wheels change the holding position on the rotary shaft to the groove V. To easily change the position of the opposing drive wheels or guide wheels.

【0062】第9の発明では、揺動板には幅の違うTA
Bに対応する複数の穴Hがあけられ、段付き円弧ブロッ
クに穴HにはいるピンPを形成し、相対向する段付き円
弧ブロックの間隔を揺動板上で容易に変えられる。
In the ninth invention, the swing plate has a different width TA.
A plurality of holes H corresponding to B are formed, and a pin P is formed in the hole H in the stepped arc block, so that the interval between the opposing stepped arc blocks can be easily changed on the rocking plate.

【0063】[0063]

【実施例】次に、この発明によるTAB用オートハンド
ラの構成を図1の実施例により説明する。図1の3Aと
3Bはスプロケット、4Aと4Bはプーリ、5Aと5B
はガイド、6Aと6Bはテンションプーリ、15Aと1
5Bは画像処理用のカメラ、その他は図8と同じもので
ある。
Next, the configuration of a TAB auto-handler according to the present invention will be described with reference to the embodiment of FIG. In FIG. 1, 3A and 3B are sprockets, 4A and 4B are pulleys, 5A and 5B.
Is a guide, 6A and 6B are tension pulleys, 15A and 1
5B is a camera for image processing, and others are the same as those in FIG.

【0064】図1では、スプロケット3Aは、供給リー
ル2Aが送り出すTAB1をプッシャ9側に走行させ
る。スプロケット3Bは、収容リール2B側にTAB1
を走行させる。プーリ4Aは回転中心を固定し、スプロ
ケット3Aとスプロケット7A間に介在して配置され
る。プーリ4Bは回転中心を固定し、スプロケット7B
とスプロケット3B間に介在して配置される。
In FIG. 1, the sprocket 3A causes the TAB 1 sent out by the supply reel 2A to travel toward the pusher 9 side. The sprocket 3B has a TAB1 on the storage reel 2B side.
To run. The pulley 4A fixes the center of rotation and is disposed between the sprocket 3A and the sprocket 7A. The pulley 4B fixes the center of rotation, and the sprocket 7B
And a sprocket 3B.

【0065】テンションプーリ6Aは、プーリ4Aとス
プロケット7A間に配置され、TAB1を上昇方向に押
圧する。テンションプーリ6Bは、スプロケット7Bと
プーリ4B間に配置され、TAB1を上昇方向に押圧す
る。ガイド5Aは回転中心を固定し、プーリ4Aとテン
ションプーリ6A間に配置され、TAB1を案内する。
ガイド5Bは回転中心を固定し、テンションプーリ6B
とプーリ4B間に配置され、TAB1を案内する。パン
チユニット11はガイド5Bとプーリ4B間に配置され
る。
The tension pulley 6A is arranged between the pulley 4A and the sprocket 7A, and presses the TAB 1 in the upward direction. The tension pulley 6B is disposed between the sprocket 7B and the pulley 4B, and presses the TAB 1 in the ascending direction. The guide 5A fixes the center of rotation, is disposed between the pulley 4A and the tension pulley 6A, and guides the TAB1.
The guide 5B fixes the center of rotation, and the tension pulley 6B
And the pulley 4B to guide the TAB1. The punch unit 11 is disposed between the guide 5B and the pulley 4B.

【0066】図1の21と22は傾斜ガイドであり、2
3〜26は光反射型のセンサである。図1では、供給リ
ール2Aの下方外側にスプロケット3Aが配置され、傾
斜ガイド21は供給リール2Aから自重で垂下するTA
B1を案内する形で配置される。センサ23とセンサ2
4は傾斜ガイド21とスプロケット3A間で垂下するT
AB1の有無を検出する。収容リール2Bの下方外側に
スプロケット3Bが配置され、傾斜ガイド22は収容リ
ール2Bから自重で垂下するTAB1を案内する形で配
置される。センサ25とセンサ26は傾斜ガイド22と
スプロケット3B間で垂下するTAB1の有無を検出す
る。
Reference numerals 21 and 22 in FIG.
3 to 26 are light reflection type sensors. In FIG. 1, the sprocket 3A is disposed below and outside the supply reel 2A, and the inclined guide 21 has a TA that hangs from the supply reel 2A by its own weight.
It is arranged to guide B1. Sensor 23 and sensor 2
Reference numeral 4 denotes a T hanging between the inclined guide 21 and the sprocket 3A.
The presence or absence of AB1 is detected. The sprocket 3B is disposed below and outside the storage reel 2B, and the inclined guide 22 is disposed so as to guide the TAB 1 hanging from the storage reel 2B by its own weight. The sensors 25 and 26 detect the presence or absence of the TAB 1 hanging between the inclined guide 22 and the sprocket 3B.

【0067】カメラ15Aはプーリ4Aとガイド5A間
に配置され、カメラ15Bはパンチユニット11とプー
リ4B間に配置される。カメラ15Aとカメラ15Bは
画像処理装置15Cに接続する。カメラ15Aは測定前
のTAB1を撮像し、撮像データを画像処理装置15C
に送出する。カメラ15BはTAB1を撮像し、カメラ
15Aによる画像データと比較照合またはパンチユニッ
ト11の打ち抜き指令と比較照合する。カメラ15A・
15Bは図8の検出器群19・20を画像処理に置き換
えたものである。
The camera 15A is arranged between the pulley 4A and the guide 5A, and the camera 15B is arranged between the punch unit 11 and the pulley 4B. The cameras 15A and 15B are connected to an image processing device 15C. The camera 15A captures an image of TAB1 before measurement, and transfers the captured data to the image processing device 15C.
To send to. The camera 15B captures an image of TAB1 and compares and matches the image data from the camera 15A with the punching command of the punch unit 11. Camera 15A
15B is obtained by replacing the detector groups 19 and 20 in FIG. 8 with image processing.

【0068】カメラ15はテストヘッド14の下方に配
置され、テストヘッド14の中央中空穴を通して、TA
B1の画像を認識する。カメラ15は画像処理装置15
Cと接続され、TAB1の接触位置を補正演算する。
The camera 15 is disposed below the test head 14 and passes through the central hollow hole of the test head
The image of B1 is recognized. The camera 15 is an image processing device 15
It is connected to C and corrects the contact position of TAB1.

【0069】次に、図1のセンサ23〜26の作用を説
明する。センサ23とセンサ24がTAB1を検出しな
いときは供給リール2Aは回転してTAB1を送り出
す。センサ23とセンサ24がTAB1を検出したとき
は、供給リール2Aは回転を停止し、スプロケット3A
は回転してTAB1を送る。センサ25とセンサ26が
TAB1を検出しないときは、収容リール2Bは回転を
停止し、スプロケット3Bは回転してTAB1を送る。
センサ25とセンサ26がTAB1を検出したときは、
スプロケット3Bは回転を停止し、収容リール2BはT
AB1を巻き取る。このように、図1ではTAB1を常
時余裕をもって供給、収容する。
Next, the operation of the sensors 23 to 26 in FIG. 1 will be described. When the sensors 23 and 24 do not detect TAB1, the supply reel 2A rotates and sends out TAB1. When the sensors 23 and 24 detect TAB1, the supply reel 2A stops rotating and the sprocket 3A
Rotates and sends TAB1. When the sensors 25 and 26 do not detect TAB1, the storage reel 2B stops rotating, and the sprocket 3B rotates and sends TAB1.
When the sensors 25 and 26 detect TAB1,
The sprocket 3B stops rotating, and the storage reel 2B
Wind up AB1. Thus, in FIG. 1, TAB1 is always supplied and accommodated with a margin.

【0070】次に、図1の動作を図2のフローチャート
により説明する。図2のステップ101では、スプロケ
ット7A・7Bは同期回転するとともにスプロケット3
A・3Bが回転して1デバイス分TAB1を送る。ステ
ップ102では、プッシャ9・10は同時に駆動し、T
AB1をテープクランプ8に挟み固定するとともにTA
B1をプローブカード12との接触位置まで下降させ
る。このとき、たわみ取り機構によりTAB1は±60μ
mの精度で位置決めされる。
Next, the operation of FIG. 1 will be described with reference to the flowchart of FIG. In step 101 of FIG. 2, the sprockets 7A and 7B
A · 3B rotates and sends TAB1 for one device. In step 102, the pushers 9 and 10 are driven simultaneously,
AB1 is clamped between the tape clamps 8 and fixed.
B1 is lowered to the position where it contacts the probe card 12. At this time, TAB1 is ± 60μ by the deflection removing mechanism.
Positioning with an accuracy of m.

【0071】ステップ103では、カメラ15で基準マ
ーク1Aを取り込み、XYステージ16の補正値を計算
する。ステップ104では、プッシャ10を上昇する。
ステップ105では前記補正値にもとづきXテーブル1
6AとYテーブル16Bを同時に微小移動する。
In step 103, the reference mark 1A is captured by the camera 15 and the correction value of the XY stage 16 is calculated. In step 104, the pusher 10 is raised.
In step 105, based on the correction value, the X table 1
6A and Y-table 16B are simultaneously micro-moved.

【0072】ステップ106では、プッシャ10を下降
し、TAB1をプローブカード12に接触させる。ステ
ップ107では、ICテスタにテストスタート要求信号
が送出され、TAB1を測定する。同時にパンチユニッ
ト11を駆動し、カメラ15A・15BでTAB1の画
像を読み込み、画像データを比較する。
In step 106, the pusher 10 is lowered to bring the TAB 1 into contact with the probe card 12. In step 107, a test start request signal is sent to the IC tester, and TAB1 is measured. At the same time, the punch unit 11 is driven, the images of TAB1 are read by the cameras 15A and 15B, and the image data is compared.

【0073】ステップ107で測定が終了すると、ステ
ップ108ではプッシャ9・10を同時に上昇開始し、
TAB1とプローブカード12との接触を解除するとと
もにTAB1をテープクランプ8から解除し、1インデ
ックスが終了する。
When the measurement is completed in step 107, the pushers 9 and 10 are simultaneously started to rise in step 108,
The contact between the TAB 1 and the probe card 12 is released, and at the same time, the TAB 1 is released from the tape clamp 8, and one index is completed.

【0074】図3は、図2のフローチャートをタイムチ
ャートで示したものである。図3アでスプロケット7A
・7Bおよびスプロケット3A・3BがTAB1を1イ
ンデック分走行終了すと、図3イ・ウでプッシャ9・1
0が同時に下降開始する。図3エで、TAB1の画像を
読み込み、補正値を算出する。前記演算が完了すると、
次に、図3ウでプッシャ10が上昇する。
FIG. 3 is a time chart showing the flowchart of FIG. 3A with sprocket 7A
When the 7B and the sprockets 3A and 3B complete the TAB1 by one index, the pushers 9.1 and 9.1 in FIG.
0 starts falling at the same time. In FIG. 3D, the image of TAB1 is read, and the correction value is calculated. When the calculation is completed,
Next, the pusher 10 is raised in FIG.

【0075】プッシャ10が上昇完了すると、図3オ・
カで示されるようにXテーブル16AとYテーブル16
Bが同時に移動する。図3ウでプッシャ10が下降完了
すると、図3キで測定が開始されると同時に、図3クで
パンチユニット11が駆動し、カメラ15A・15Bで
TAB1を確認する。
When the ascent of the pusher 10 is completed, FIG.
X table 16A and Y table 16
B moves at the same time. When the pusher 10 is completely lowered in FIG. 3C, the measurement is started in FIG. 3K, and at the same time, the punch unit 11 is driven in FIG. 3C, and TAB1 is confirmed by the cameras 15A and 15B.

【0076】図3キで測定が終了すると、図3イ・ウで
プッシャ9・10が同時に上昇開始する。プッシャ9・
10が上昇完了すると、図3アで、次のTAB1が送る
よう指令される。図3では、プッシャ9・10が同時に
駆動開始している。また、Xテーブル16AとYテーブ
ル16Bも同時に駆動開始する。測定開始動作とパンチ
駆動動作と、TAB1の画像読込みを並列して開始して
いるので、インデックスタイムTINDEXが短縮する。
When the measurement is completed in FIG. 3G, the pushers 9 and 10 start rising at the same time in FIG. Pusher 9
When the ascent of 10 is completed, the next TAB1 is commanded in FIG. 3A. In FIG. 3, the pushers 9 and 10 start driving at the same time. Further, the X table 16A and the Y table 16B also start driving at the same time. Since the measurement start operation, the punch driving operation, and the image reading of TAB1 are started in parallel, the index time TINDEX is reduced.

【0077】次に、この発明によるTABのテープ幅の
切換容易な案内構造を説明する。図4アはスプロケット
3Aの側面図、図4イはスプロケット3Bの側面図であ
る。図3では、スプロケット3Aは段付きスプロケット
31と段付きスプロケット32と回転軸33で構成され
る。同様にスプロケット3Bは段付きスプロケット34
と段付きスプロケット35と回転軸36で構成される。
回転軸33と回転軸36には幅の違うTABに対応する
3の溝Vが円周に形成される。段付きスプロケット31
と段付きスプロケット32と段付きスプロケット34と
段付きスプロケット35の段部に溝Vに入る球Bを設
け、球Bを押圧する圧縮コイルばねSを前記段部に内蔵
する。図4では、幅の違うTABに対応するため、相対
向する段付きスプロケットの間隔W1 を回転軸上で容易
に切り換えることができる。
Next, a guide structure for easily switching the TAB tape width according to the present invention will be described. 4A is a side view of the sprocket 3A, and FIG. 4A is a side view of the sprocket 3B. In FIG. 3, the sprocket 3A includes a stepped sprocket 31, a stepped sprocket 32, and a rotating shaft 33. Similarly, the sprocket 3B is a stepped sprocket 34.
And a stepped sprocket 35 and a rotating shaft 36.
Three grooves V corresponding to TABs having different widths are formed on the rotation shaft 33 and the rotation shaft 36 on the circumference. Stepped sprocket 31
The stepped sprocket 32, the stepped sprocket 34, and the stepped sprocket 35 are provided with spheres B which enter the grooves V at the steps, and a compression coil spring S for pressing the balls B is built in the steps. In FIG. 4, in order to cope with TABs having different widths, the interval W1 between the stepped sprockets facing each other can be easily switched on the rotating shaft.

【0078】図5アはプーリ4Aの側面図、図5イはプ
ーリ4Bの側面図である。図4では、プーリ4Aは段付
きプーリ41と段付きプーリ42と回転軸43で構成さ
れる。プーリ4Bは段付きプーリ44と段付きプーリ4
5と回転軸46で構成される。回転軸43と回転軸46
に幅の違うTABに対応する複数の溝Vを円周に形成す
る段付きプーリ41と段付きプーリ42と段付きプーリ
44と段付きプーリ45の段部に溝Vに入る球Bを設
け、球Bを押圧する圧縮コイルばねSを前記段部に内蔵
する。図5では段付きプーリ41の段部と段付きプーリ
42の段部を対向して配置し、段付きプーリ44の段部
と段付きプーリ45の段部を対向して配置し、前記段部
で幅の違うTABを案内する。すなわち、図5の間隔W
2 は回転軸上で容易に切り換えることができる。
FIG. 5A is a side view of the pulley 4A, and FIG. 5A is a side view of the pulley 4B. In FIG. 4, the pulley 4A includes a stepped pulley 41, a stepped pulley 42, and a rotating shaft 43. Pulley 4B includes stepped pulley 44 and stepped pulley 4
5 and a rotating shaft 46. Rotating shaft 43 and rotating shaft 46
A plurality of grooves V corresponding to TABs having different widths are formed on the circumference. A stepped pulley 41, a stepped pulley 42, a stepped pulley 44, and a stepped pulley 45 are provided with a ball B which enters the groove V at the stepped portion. A compression coil spring S for pressing the ball B is built in the step. In FIG. 5, the step of the stepped pulley 41 and the step of the stepped pulley 42 are arranged to face each other, and the step of the stepped pulley 44 and the step of the stepped pulley 45 are arranged to face each other. To guide TABs with different widths. That is, the interval W in FIG.
2 can be easily switched on the rotating shaft.

【0079】図6アはガイド5Aの側面図、図6イはガ
イド5Bの側面図である。図6では、ガイド5Aは段付
きガイド51と段付きガイド52と回転軸53で構成さ
れる。ガイド5Bは段付きガイド54と段付きガイド5
5と回転軸56で構成される。回転軸53と回転軸56
に幅の違うTABに対応する複数の溝Vを円周に形成す
る。段付きガイド51と段付きガイド52と段付きガイ
ド54と段付きガイド55の段部に溝Vに入る球Bを設
け、球Bを押圧する圧縮コイルばねSを前記段部に内蔵
する。段付きガイド51の段部と段付きガイド52の段
部を対向して配置し、段付きガイド54の段部と段付き
ガイド55の段部を対向して配置し、TAB1のテープ
幅をW3 を変えることにより、幅の違うTABを案内す
る。
FIG. 6A is a side view of the guide 5A, and FIG. 6A is a side view of the guide 5B. In FIG. 6, the guide 5A includes a stepped guide 51, a stepped guide 52, and a rotating shaft 53. The guide 5B includes the step guide 54 and the step guide 5.
5 and a rotating shaft 56. Rotating shaft 53 and rotating shaft 56
A plurality of grooves V corresponding to TABs having different widths are formed on the circumference. The stepped guide 51, the stepped guide 52, the stepped guide 54, and the stepped guide 55 are provided with spheres B which enter the grooves V at the steps, and a compression coil spring S for pressing the balls B is built in the steps. The step of the stepped guide 51 and the step of the stepped guide 52 are arranged to face each other, the step of the stepped guide 54 and the step of the stepped guide 55 are arranged to face each other, and the tape width of the TAB1 is set to W3. To guide TABs with different widths.

【0080】図7はテンションプーリ6Bの詳細図であ
る。テンションプーリ6Aとテンションプーリ6Bは図
1において、線対称に配置されるので、図7ではテンシ
ョンプーリ6Aの詳細図は省略する。なお、図7におい
て、括弧内の符号はテンションプーリ6Aの構成品を示
している
FIG. 7 is a detailed view of the tension pulley 6B. Since the tension pulley 6A and the tension pulley 6B are arranged in line symmetry in FIG. 1, a detailed view of the tension pulley 6A is omitted in FIG. In FIG. 7, reference numerals in parentheses indicate components of the tension pulley 6A.

【0081】図7アは正面図、図7イは側面図、図7ウ
は平面図である。図7では、テンションプーリ6Bは段
付き円弧ブロック64と段付き円弧ブロック65と揺動
板66で構成される。揺動板66には幅の違うTABに
対応する複数の穴Hがあけられる。円弧ブロック64と
段付き円弧ブロック65の底面には穴Hに入るピンPが
突出する。段付き円弧ブロック64の円弧段部と段付き
円弧ブロック65の円弧段部を対向して配置し、TAB
1の幅Wに対応して段付き円弧ブロック64・65間の
幅W4 を簡単に変えることができる。
FIG. 7A is a front view, FIG. 7A is a side view, and FIG. 7C is a plan view. In FIG. 7, the tension pulley 6B includes a stepped arc block 64, a stepped arc block 65, and a swing plate 66. A plurality of holes H corresponding to TABs having different widths are formed in the swing plate 66. Pins P that enter holes H protrude from the bottom surfaces of the arc block 64 and the stepped arc block 65. The arc step of the stepped arc block 64 and the arc step of the stepped arc block 65 are arranged to face each other, and TAB
The width W4 between the stepped arc blocks 64 and 65 can be easily changed corresponding to the width W of 1.

【0082】図7では、揺動板66は回転軸心66Aを
中心に揺動する。回転軸心66Aの縁端にはワイヤーロ
ープ67の一端が連結される。ワイヤーロープ67はプ
ーリ68に掛けられ、ワイヤーロープ67の他端に重り
69を吊るしている。重り69にかかる重力でTAB1
は常に上昇方向に一定の力で押圧される。
In FIG. 7, the swing plate 66 swings about the rotation axis 66A. One end of a wire rope 67 is connected to the edge of the rotation axis 66A. The wire rope 67 is hung on a pulley 68 and a weight 69 is suspended from the other end of the wire rope 67. TAB1 with gravity on weight 69
Is always pressed in a rising direction with a constant force.

【0083】テンションプーリ6Aは段付き円弧ブロッ
ク61と段付き円弧ブロック62と揺動板63で構成さ
れる。揺動板63には幅の違うTABに対応する複数の
穴Hがあけられる。円弧ブロック61と段付き円弧ブロ
ック62の底面には穴Hに入るピンPが突出する。段付
き円弧ブロック61の円弧段部と段付き円弧ブロック6
2の円弧段部を対向して配置し、TAB1の幅Wに対応
して段付き円弧ブロック61・62間の幅W4 を簡単に
変えることができる。
The tension pulley 6A includes a stepped arc block 61, a stepped arc block 62, and a swing plate 63. A plurality of holes H corresponding to TABs having different widths are formed in the rocking plate 63. Pins P that enter the holes H protrude from the bottom surfaces of the arc block 61 and the stepped arc block 62. Stepped arc block 61 and stepped arc block 6
The two arc-shaped steps are arranged to face each other, and the width W4 between the stepped arc blocks 61 and 62 can be easily changed corresponding to the width W of the TAB1.

【0084】揺動板63は回転軸心63Aを中心に揺動
する。回転軸心63Aの縁端にはワイヤーロープ67の
一端が連結される。ワイヤーロープ67はプーリ68に
掛けられ、ワイヤーロープ67の他端に重り69を吊る
している。重り69にかかる重力でTAB1は常に上昇
方向に一定の力で押圧される。
The swing plate 63 swings about the rotation axis 63A. One end of a wire rope 67 is connected to the edge of the rotation axis 63A. The wire rope 67 is hung on a pulley 68 and a weight 69 is suspended from the other end of the wire rope 67. The TAB 1 is constantly pressed in the ascending direction by a constant force due to the gravity acting on the weight 69.

【0085】[0085]

【発明の効果】第1の発明は、TABを同期回転する第
1のスプロケットと第2のスプロケットの両翼に、回転
中心を固定する第1のガイドと第2のガイドを配置す
る。第1のガイドと第2のガイドの両翼にはTABの走
行を平行にし、回転中心を固定する第1のプーリと第2
のプーリを配置する。第1のプーリと第2のプーリの両
翼にはTABをピッチ送りする第3のスプロケットと第
4のスプロケットを配置する。第1のプッシャと第2の
プッシャと第1のスプロケットと第2のスプロケットス
プロケットが一体になってTABを昇降するとき、第4
のスプロケットは回転を停止しているので、TABがプ
ッシャ側に走行しない。したがって、プッシャの動作に
かからわらずパンチユニットが駆動でき、パンチユニッ
トの駆動中にTABの状態も安定して検出できる。
According to the first invention, the first guide and the second guide for fixing the center of rotation are arranged on both wings of the first sprocket and the second sprocket which rotate the TAB synchronously. A first pulley and a second pulley for fixing the center of rotation are provided on both wings of the first guide and the second guide so that the running of the TAB is parallel.
Of the pulley. On both wings of the first pulley and the second pulley, a third sprocket and a fourth sprocket for feeding TAB at a pitch are arranged. When the first pusher, the second pusher, the first sprocket, and the second sprocket are integrally moved up and down the TAB,
TAB does not run to the pusher side because the sprocket has stopped rotating. Therefore, the punch unit can be driven irrespective of the operation of the pusher, and the TAB state can be stably detected while the punch unit is being driven.

【0086】第2の発明は、TABを走行方向に微小移
動補正するXテーブルと、TABを走行方向と直交する
方向に微小移動補正するYテーブルを同時に移動開始す
るので、従来の制御方法よりインデックス時間を短縮で
きる。
In the second invention, the X-table for finely correcting TAB in the running direction and the Y-table for finely correcting TAB in the direction perpendicular to the running direction are simultaneously started to move. You can save time.

【0087】第3の発明は、TABを昇降する第1のプ
ッシャと第2のプッシャは同時に降下開始または同時に
上昇開始するので、従来の制御方法よりインデックス時
間を短縮できる。
According to the third aspect of the present invention, the first pusher and the second pusher that move up and down the TAB start lowering or start raising at the same time, so that the index time can be reduced as compared with the conventional control method.

【0088】第4の発明は、供給リールは常時余裕をも
って第3のスプロケットにTABを供給するので、第1
のスプロケットと第2のスプロケットのインデックス送
り速度を速くできる。また、TABは自重で落下するた
め、衝撃力が加わることはない。
According to the fourth aspect of the present invention, the supply reel always supplies TAB to the third sprocket with a margin.
The index feed speed of the first sprocket and the second sprocket can be increased. Also, since the TAB falls under its own weight, no impact force is applied.

【0089】第5の発明は、収容リールは常時余裕をも
って第4のスプロケットから送られるTABを収容する
ので、第1のスプロケットと第2のスプロケットのイン
デックス送り速度を速くできる。また、TABは自重で
落下するため、衝撃力が加わることはない。
According to the fifth aspect of the present invention, since the storage reel always stores the TAB sent from the fourth sprocket with a margin, the index feed speed of the first sprocket and the second sprocket can be increased. Also, since the TAB falls under its own weight, no impact force is applied.

【0090】第6から第8の発明では、TABのテープ
幅に対応して回転軸の円周に複数の溝Vを形成し、駆動
輪または案内輪は回転軸上の保持位置を前記溝Vに押圧
すことにより規制され、相対向する駆動輪または案内輪
の位置を容易に変えることができる。
In the sixth to eighth inventions, a plurality of grooves V are formed on the circumference of the rotating shaft corresponding to the tape width of the TAB, and the driving wheels or the guide wheels are set to the holding positions on the rotating shaft by the grooves V. The position of the opposing drive wheel or guide wheel can be easily changed.

【0091】第9の発明は、揺動板には幅の違うTAB
に対応する複数の穴があけられ、段付き円弧ブロックに
穴にはいるピンを形成し、相対向する段付き円弧ブロッ
クの間隔を揺動板上で容易変えられる。また、第1のテ
ンションプーリと第2のテンションプーリは定圧でTA
Bを押し上げる。
In the ninth invention, the swing plate has a TAB having a different width.
Are formed in the stepped arc block, and a pin is formed in the hole in the stepped arc block, so that the interval between the opposing stepped arc blocks can be easily changed on the rocking plate. In addition, the first tension pulley and the second tension pulley
Push B up.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明によるTAB用オートハンドラの構成
図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a TAB auto handler according to the present invention.

【図2】図1の動作を説明するフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart illustrating the operation of FIG.

【図3】図2のタイムチャートである。FIG. 3 is a time chart of FIG. 2;

【図4】図1のスプロケット3A・3Bの側面図であ
る。
FIG. 4 is a side view of the sprockets 3A and 3B of FIG.

【図5】図1のプーリ4A・4Bの側面図である。FIG. 5 is a side view of the pulleys 4A and 4B of FIG.

【図6】図1のガイド5A・5Bの側面図である。FIG. 6 is a side view of the guides 5A and 5B of FIG.

【図7】テンションプーリ6Bの詳細図である。FIG. 7 is a detailed view of a tension pulley 6B.

【図8】従来技術によるTAB用オートハンドラの構成
図である。
FIG. 8 is a configuration diagram of a TAB auto handler according to the related art.

【図9】図8のテンションプーリ5Cの部分拡大図であ
る。
9 is a partially enlarged view of a tension pulley 5C of FIG.

【図10】図9の状態変化図である。FIG. 10 is a state change diagram of FIG. 9;

【図11】図10の状態変化図である。FIG. 11 is a state change diagram of FIG.

【図12】図11の状態変化図である。FIG. 12 is a state change diagram of FIG. 11;

【図13】図9のテンションプーリ5Dの近傍の構成図
である。
FIG. 13 is a configuration diagram near a tension pulley 5D of FIG. 9;

【図14】TAB1の部分拡大図であるFIG. 14 is a partially enlarged view of TAB1.

【図15】図8の要部拡大断面図である。FIG. 15 is an enlarged sectional view of a main part of FIG.

【図16】プッシャ9・10の拡大斜視図である。FIG. 16 is an enlarged perspective view of pushers 9 and 10;

【図17】図16の断面図である。FIG. 17 is a sectional view of FIG. 16;

【図18】共用プーリであるプーリ4Cの一例を示した
図である。
FIG. 18 is a diagram illustrating an example of a pulley 4C that is a shared pulley.

【図19】検出器群20の1検出器の構成図である。FIG. 19 is a configuration diagram of one detector of the detector group 20.

【図20】TAB1上の検出器群20の配置図である。FIG. 20 is a layout diagram of the detector group 20 on the TAB1.

【図21】パンチユニット11の外観図である。21 is an external view of the punch unit 11. FIG.

【図22】図8の動作を説明するフローチャートであ
る。
FIG. 22 is a flowchart illustrating the operation of FIG.

【図23】図22のタイムチャートである。FIG. 23 is a time chart of FIG. 22.

【図24】パンチユニット11を中心とした部分構成図
である。
FIG. 24 is a partial configuration diagram centering on the punch unit 11;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 TAB 1A 基準マーク 2A 供給リール 2B 収容リール 3A スプロケット 3B スプロケット 4A プーリ 4B プーリ 5A ガイド 5B ガイド 6A テンションプーリ 6B テンションプーリ 7A プーリ 7B プーリ 8 テープクランプ 9 プッシャ 10 プッシャ 11 パンチユニット 12 プローブカード 13 アタッチメントユニット 14 テストヘッド 15 カメラ 16 XYステージ 16A Xテーブル 16B Yテーブル 21 傾斜ガイド 22 傾斜ガイド 23 センサ 24 センサ 25 センサ 26 センサ 31 段付きスプロケット 32 段付きスプロケット 33 回転軸 34 段付きスプロケット 35 段付きスプロケット 36 回転軸 41 段付きプーリ 42 段付きプーリ 43 回転軸 44 段付きプーリ 45 段付きプーリ 46 回転軸 51 段付きガイド 52 段付きガイド 53 回転軸 54 段付きガイド 55 段付きガイド 56 回転軸 61 段付き円弧ブロック 62 段付き円弧ブロック 63 揺動板 64 段付き円弧ブロック 65 段付き円弧ブロック 66 揺動板 B 球 H 穴 P ピン S 圧縮コイルばね V 溝 Reference Signs List 1 TAB 1A Reference mark 2A Supply reel 2B Storage reel 3A Sprocket 3B Sprocket 4A Pulley 4B Pulley 5A Guide 5B Guide 6A Tension pulley 6B Tension pulley 7A Pulley 7B Pulley 8 Tape clamp 9 Pusher 10 Pusher 11 Punch unit 12 Punch unit Test head 15 Camera 16 XY stage 16A X table 16B Y table 21 Tilt guide 22 Tilt guide 23 Sensor 24 Sensor 25 Sensor 26 Sensor 31 Stepped sprocket 32 Stepped sprocket 33 Rotary shaft 34 Stepped sprocket 35 Stepped sprocket 36 Rotating shaft 41 Stepped pulley 42 Stepped pulley 43 Rotary shaft 44 Stepped pulley 45 Stepped pulley 46 Rotary axis 51 Stepped guide 52 Stepped guide 53 Rotary axis 54 Stepped guide 55 Stepped guide 56 Rotary axis 61 Stepped arc block 62 Stepped arc block 63 Rocking plate 64 Stepped arc block 65 Stepped arc block 66 Rocking Moving plate B Sphere H hole P Pin S Compression coil spring V groove

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−282831(JP,A) 実開 平5−77940(JP,U) 実開 昭64−34576(JP,U) 実開 平4−105541(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/26 H01L 21/66 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-1-282831 (JP, A) JP-A 5-77940 (JP, U) JP-A 64-34576 (JP, U) JP-A 4-34576 105541 (JP, U) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G01R 31/26 H01L 21/66

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 供給リール(2A)に巻かれたTAB(1) を
収容リール(2B)は巻き取り、第1のスプロケット(7A)と
第2のスプロケット(7B)は同期回転してTAB(1) を走
行し、第1のスプロケット(7A)と第2のスプロケット(7
B)の間にテープクランプ(8) と第1のプッシャ(9) を配
置し、テープクランプ(8) と第1のプッシャ(9) で保持
されたTAB(1) を第2のプッシャ(10)は降下させ、前
記TAB(1) をプローブカード(12)に接触させて試験す
るTAB用オートハンドラにおいて、 供給リール(2A)が送り出すTAB(1) を第1のプッシャ
(9) 側に走行する第3のスプロケット(3A)と、 収容リール(2B)側にTAB(1) を走行する第4のスプロ
ケット(3B)と、 第3のスプロケット(3A)と第1のスプロケット(7A)間に
介在し、回転中心を固定する第1のプーリ(4A)と、 第2のスプロケット(7B)と第4のスプロケット(3B)間に
介在し、回転中心を固定する第2のプーリ(4B)と、 第1のプーリ(4A)と第1のスプロケット(7A)間に配置
し、TAB(1) を上昇方向に押圧する第1のテンション
プーリ(6A)と、 第2のスプロケット(7B)と第2のプーリ(4B)間に配置
し、TAB(1) を上昇方向に押圧する第2のテンション
プーリ(6B)と、 第1のプーリ(4A)と第1のテンションプーリ(6A)間に配
置し、回転中心を固定し、TAB(1) を案内する第1の
ガイド(5A)と、 第2のテンションプーリ(6B)と第2のプーリ(4B)間に配
置し、回転中心を固定し、TAB(1) を案内する第2の
ガイド(5B)と、 第2のガイド(5B)と第2のプーリ(4B)間に配置し、試験
結果によりTAB(1)にパンチ穴をあけるパンチユニッ
ト(11)とを備え、第1のプッシャ(9)と第2のプッシャ(10)とを同時に降
下開始または同時に上昇開始させると共に、 第4のスプ
ロケット(3B)が回転を停止したTAB(1) の測定中にパ
ンチ穴をあけることを特徴とするTAB用オートハンド
ラ。
1. A reel (2B) for winding a TAB (1) wound on a supply reel (2A) is wound up, and a first sprocket (7A) and a second sprocket (7B) are rotated synchronously to form a TAB (1). 1), the first sprocket (7A) and the second sprocket (7
B), a tape clamp (8) and a first pusher (9) are arranged, and TAB (1) held by the tape clamp (8) and the first pusher (9) is moved to a second pusher (10). ) Is lowered, and in the TAB auto handler for testing by bringing the TAB (1) into contact with the probe card (12), the TAB (1) sent out by the supply reel (2A) is pushed by the first pusher.
(9) The third sprocket (3A) running on the side, the fourth sprocket (3B) running on the TAB (1) on the storage reel (2B) side, the third sprocket (3A) and the first A first pulley (4A) interposed between the sprockets (7A) and fixing the rotation center, and a second pulley interposed between the second sprocket (7B) and the fourth sprocket (3B) and fixing the rotation center A first tension pulley (6A) disposed between the first pulley (4A) and the first sprocket (7A) to press the TAB (1) in an ascending direction; A second tension pulley (6B) disposed between the sprocket (7B) and the second pulley (4B) and pressing the TAB (1) in an ascending direction; a first pulley (4A) and a first tension pulley (6A), the center of rotation is fixed, and the first guide (5A) for guiding the TAB (1) and the second tension pulley (6B) and the second pulley (4B) are arranged. , Times The center is fixed and a second guide (5B) for guiding the TAB (1) is arranged between the second guide (5B) and the second pulley (4B). A punch unit (11) for making holes , and simultaneously lowering the first pusher (9) and the second pusher (10).
An auto handler for TAB, characterized in that the lower sprocket is started at the same time as the lower sprocket, and a punch hole is made during the measurement of the TAB (1) in which the fourth sprocket (3B) stops rotating.
【請求項2】 第1のスプロケット(7A)と、第2のスプ
ロケット(7B)と、テープクランプ(8) と、第1のプッシ
ャ(9) と、第2のプッシャ(10)を一体にしてXYステー
ジ(16)上に配置し、Xテーブル(16A) はXYステージ(1
6)上のTAB(1) を走行方向に微小移動し、Yテーブル
(16B) はXYステージ(16)上のTAB(1) を走行方向と
直交する方向に微小移動し、画像処理用のカメラ(15)
でTAB(1) の基準マーク(1A)を参照し、XYステージ
(16)に保持されたTAB(1)の位置を補正するとき、X
テーブル(16A) とYテーブル(16B) は同時に移動開始す
ることを特徴とする請求項1記載のTAB用オートハン
ドラ。
2. A first sprocket (7A), a second sprocket (7B), a tape clamp (8), a first pusher (9), and a second pusher (10). The X table (16A) is placed on the XY stage (16) and the XY stage (1
6) Move the upper TAB (1) slightly in the running direction
(16B) moves the TAB (1) on the XY stage (16) minutely in the direction perpendicular to the running direction, and moves the camera (15) for image processing.
Refer to the reference mark (1A) of TAB (1) with XY stage
When correcting the position of TAB (1) held in (16), X
2. The TAB auto handler according to claim 1, wherein the table (16A) and the Y table (16B) start moving at the same time.
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