JP3336635B2 - 核磁気共鳴を用いた検査装置 - Google Patents
核磁気共鳴を用いた検査装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、核磁気共鳴を用いた検
査方法、及び検査装置に関し、とくに核磁気共鳴を用い
た拡散係数分布の計測時間を削減する計測方法に係る。
査方法、及び検査装置に関し、とくに核磁気共鳴を用い
た拡散係数分布の計測時間を削減する計測方法に係る。
【０００２】
【従来の技術】拡散とは分子のブラウン運動であり、拡
散係数Ｄは分子の動きやすさを表している。例えば４０
℃の純水では０．００２５平方ｍｍ／ｓ程度、生体中の
水では０．００２平方ｍｍ／ｓ程度である。一方、網目
状の微細構造を持つ毛細血管中の血流等も巨視的には疑
似拡散と考えられ、疑似拡散係数Ｄ’は真の拡散係数Ｄ
の１０倍程度の値を示す。核磁気共鳴を用いた拡散係数
の計測法の中には、これらを区別する手法も提案されて
いるが、両者の影響を含めた疑似的な拡散係数、ＡＤＣ
（アパラント デフュージョン コエフィシェント App
arent DiffusionCoeficients）も医学的な診断に有効で
ある。さて、核磁気共鳴信号の計測中に、このような拡
散現象によって核の位置が変動すれば、信号強度は減少
し、この減少項はｅｘｐ（−ｂ・ＡＤＣ）で表される。
ここで、ｂは傾斜磁場の印加量を表す傾斜磁場因子で、
イメージングのための傾斜磁場の影響を無視すれば、ｂ
∝γ2Ｇ2τ3で与えられる。Ｇは傾斜磁場強度、τは拡
散の起こりうる時間、γは磁気回転比である。図１に示
すような通常のイメージング方法を用いた場合、傾斜磁
場強度が弱いため、この拡散現象による核磁気共鳴信号
の減少量は非常にわずかであまり問題にならないが、図
２に示すように、リードアウト傾斜磁場方向に強い傾斜
磁場を印加すると、ｂが増大し信号減少量が増加する。
１８０°パルスの両側でこのような強い傾斜磁場を印加
すると、静止している部位では第１の傾斜磁場と第２の
傾斜磁場による影響を打消し合うが、動きの大きい部位
では打消し合わず、両方の傾斜磁場の影響を受けて、信
号が大きく減少する。
散係数Ｄは分子の動きやすさを表している。例えば４０
℃の純水では０．００２５平方ｍｍ／ｓ程度、生体中の
水では０．００２平方ｍｍ／ｓ程度である。一方、網目
状の微細構造を持つ毛細血管中の血流等も巨視的には疑
似拡散と考えられ、疑似拡散係数Ｄ’は真の拡散係数Ｄ
の１０倍程度の値を示す。核磁気共鳴を用いた拡散係数
の計測法の中には、これらを区別する手法も提案されて
いるが、両者の影響を含めた疑似的な拡散係数、ＡＤＣ
（アパラント デフュージョン コエフィシェント App
arent DiffusionCoeficients）も医学的な診断に有効で
ある。さて、核磁気共鳴信号の計測中に、このような拡
散現象によって核の位置が変動すれば、信号強度は減少
し、この減少項はｅｘｐ（−ｂ・ＡＤＣ）で表される。
ここで、ｂは傾斜磁場の印加量を表す傾斜磁場因子で、
イメージングのための傾斜磁場の影響を無視すれば、ｂ
∝γ2Ｇ2τ3で与えられる。Ｇは傾斜磁場強度、τは拡
散の起こりうる時間、γは磁気回転比である。図１に示
すような通常のイメージング方法を用いた場合、傾斜磁
場強度が弱いため、この拡散現象による核磁気共鳴信号
の減少量は非常にわずかであまり問題にならないが、図
２に示すように、リードアウト傾斜磁場方向に強い傾斜
磁場を印加すると、ｂが増大し信号減少量が増加する。
１８０°パルスの両側でこのような強い傾斜磁場を印加
すると、静止している部位では第１の傾斜磁場と第２の
傾斜磁場による影響を打消し合うが、動きの大きい部位
では打消し合わず、両方の傾斜磁場の影響を受けて、信
号が大きく減少する。
【０００３】従来、核磁気共鳴を用いてＡＤＣ分布、Ａ
ＤＣ（ｘ、ｙ、ｚ）を計測する場合には、デー．エル．
ビーハン（D.L.Bihan）等による「イントラボクセル
インコーヒレント モーションン イメイジング ユー
ジング スピン エコーズ（マグネチック レゾナンス
イン メデシン １９巻、２２１−２２７頁（１９９
９１））」（ "Intravoxel Incoherent Motion Imaging
Using Spin Echos"(Magnetic Resonance in Medicine
19,pp221-227(1991))）で述べられているように、図２
のイメージング方法で、傾斜磁場因子ｂを変えて複数の
画像Ｓ0（ｘ、ｙ、ｚ）、Ｓ1（ｘ、ｙ、ｚ）を計測し、
ＤＣ（ｘ、ｙ、ｚ）を計測する場合には、デー．エル．
ビーハン（D.L.Bihan）等による「イントラボクセル
インコーヒレント モーションン イメイジング ユー
ジング スピン エコーズ（マグネチック レゾナンス
イン メデシン １９巻、２２１−２２７頁（１９９
９１））」（ "Intravoxel Incoherent Motion Imaging
Using Spin Echos"(Magnetic Resonance in Medicine
19,pp221-227(1991))）で述べられているように、図２
のイメージング方法で、傾斜磁場因子ｂを変えて複数の
画像Ｓ0（ｘ、ｙ、ｚ）、Ｓ1（ｘ、ｙ、ｚ）を計測し、
【０００４】
【数１】 ADC(x,y,z)={log(S0(x,y,z)/S1(x,y,z))}/(b1-b0) （数１） より、ＡＤＣ（ｘ、ｙ、ｚ）を求めていた。ここで、ｂ
1、ｂ0はＳ0（ｘ、ｙ、ｚ）、Ｓ1（ｘ、ｙ、ｚ）におけ
る傾斜磁場因子ｂである。
1、ｂ0はＳ0（ｘ、ｙ、ｚ）、Ｓ1（ｘ、ｙ、ｚ）におけ
る傾斜磁場因子ｂである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術でＡＤＣ
（ｘ、ｙ、ｚ）を求める場合、拡散の起こりうる時間τ
を正確に制御するためには、拡散傾斜磁場以外のイメー
ジング用傾斜磁場による傾斜磁場因子ｂへの寄与はなる
べく小さい方が望ましい。しかし、拡散傾斜磁場Ｇｄの
強度には上限があるため、Ｇｄによる影響を大きくする
ためには印加時間を長くしなければならず、通常のイメ
ージングに比べて１枚の画像を計測する時間は長くな
る。また、上記従来技術ではｂの異なる画像を計測する
必要があるため、さらに計測時間が長くなるという問題
があった。本発明は、上記欠点に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、従来の技術における上述
の如き問題を解消し、ＡＤＣ分布の計測時間を短縮する
ことが可能な核磁気共鳴を用いた検査装置を提供するこ
とにある。
（ｘ、ｙ、ｚ）を求める場合、拡散の起こりうる時間τ
を正確に制御するためには、拡散傾斜磁場以外のイメー
ジング用傾斜磁場による傾斜磁場因子ｂへの寄与はなる
べく小さい方が望ましい。しかし、拡散傾斜磁場Ｇｄの
強度には上限があるため、Ｇｄによる影響を大きくする
ためには印加時間を長くしなければならず、通常のイメ
ージングに比べて１枚の画像を計測する時間は長くな
る。また、上記従来技術ではｂの異なる画像を計測する
必要があるため、さらに計測時間が長くなるという問題
があった。本発明は、上記欠点に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、従来の技術における上述
の如き問題を解消し、ＡＤＣ分布の計測時間を短縮する
ことが可能な核磁気共鳴を用いた検査装置を提供するこ
とにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、傾
斜磁場因子ｂの異なるグラディエントエコーとスピンエ
コー、あるいは２つのグラディエントエコーを１回の計
測において発生させ、上記２つのエコーから得られた画
像を用いてＡＤＣ分布を求めることにより、達成され
る。すなわち、静磁場と傾斜磁場および高周波磁場の各
発生手段と、前記傾斜磁場および前記高周波磁場の印加
を行なうために前記傾斜磁場および前記高周波磁場の発
生手段を制御するシーケンサと、検査対象からの核磁気
共鳴信号を検出する信号検出手段と、この信号検出手段
の検出信号の処理を行う計算機とを備えた核磁気共鳴を
用いた核磁気共鳴装置において、シーケンサによる制御
は、バイポーラー傾斜磁場パルスの影響が小さいかある
いは零である第１のエコーを計測する第１の制御と、バ
イポーラー傾斜磁場パルスの影響が上記第１のエコーよ
りも大きい第２のエコーを計測する第２の制御とを含む
ことを特徴とする。より具体的には、核磁気共鳴を用い
た検査装置では、シーケンサによる制御は、１回の計測
において、第１及び第２の高周波パルスの印加によりス
ピンエコーを発生させる第１の制御と、第２の高周波パ
ルスの印加によりグラディエントエコーを発生させる第
２の制御とから成り、第１の制御は、第１及び第２の高
周波パルスの間に第１のバイポーラー傾斜磁場パルスを
印加する制御と、第２の高周波パルスとスピンエコーの
計測時の間に第２のバイポーラー傾斜磁場パルスを印加
する制御とを含み、第２の制御は、第２の高周波パルス
とグラディエントエコーの計測時の間に第２のバイポー
ラー傾斜磁場パルスを印加する制御を含み、第２のバイ
ポーラー傾斜磁場パルスは傾斜磁場強度あるいはパルス
幅が零にも成り得ることを特徴とする。
斜磁場因子ｂの異なるグラディエントエコーとスピンエ
コー、あるいは２つのグラディエントエコーを１回の計
測において発生させ、上記２つのエコーから得られた画
像を用いてＡＤＣ分布を求めることにより、達成され
る。すなわち、静磁場と傾斜磁場および高周波磁場の各
発生手段と、前記傾斜磁場および前記高周波磁場の印加
を行なうために前記傾斜磁場および前記高周波磁場の発
生手段を制御するシーケンサと、検査対象からの核磁気
共鳴信号を検出する信号検出手段と、この信号検出手段
の検出信号の処理を行う計算機とを備えた核磁気共鳴を
用いた核磁気共鳴装置において、シーケンサによる制御
は、バイポーラー傾斜磁場パルスの影響が小さいかある
いは零である第１のエコーを計測する第１の制御と、バ
イポーラー傾斜磁場パルスの影響が上記第１のエコーよ
りも大きい第２のエコーを計測する第２の制御とを含む
ことを特徴とする。より具体的には、核磁気共鳴を用い
た検査装置では、シーケンサによる制御は、１回の計測
において、第１及び第２の高周波パルスの印加によりス
ピンエコーを発生させる第１の制御と、第２の高周波パ
ルスの印加によりグラディエントエコーを発生させる第
２の制御とから成り、第１の制御は、第１及び第２の高
周波パルスの間に第１のバイポーラー傾斜磁場パルスを
印加する制御と、第２の高周波パルスとスピンエコーの
計測時の間に第２のバイポーラー傾斜磁場パルスを印加
する制御とを含み、第２の制御は、第２の高周波パルス
とグラディエントエコーの計測時の間に第２のバイポー
ラー傾斜磁場パルスを印加する制御を含み、第２のバイ
ポーラー傾斜磁場パルスは傾斜磁場強度あるいはパルス
幅が零にも成り得ることを特徴とする。
【０００７】さらに、核磁気共鳴を用いた検査装置で
は、シーケンサによる制御は、１回の計測において、第
１の高周波パルスの印加によりグラディエントエコーを
発生させる第１の制御と、第１及び第２の高周波パルス
の印加によりスピンエコーを発生させる第２の制御とか
ら成り、第１の制御は、第１の高周波パルスとグラディ
エントエコーの計測時の間に第１のバイポーラー傾斜磁
場パルスを印加する制御を含み、第２の制御は、第１及
び第２の高周波パルスの間に第１のバイポーラー傾斜磁
場パルスを印加する制御と、第２の高周波パルスとスピ
ンエコーの計測時の間に第２のバイポーラー傾斜磁場パ
ルスを印加する制御とを含み、第１のバイポーラー傾斜
磁場パルスは傾斜磁場強度あるいはパルス幅が零にも成
り得ることを特徴とする。また、核磁気共鳴を用いた検
査装置では、シーケンサによる制御は、１回の計測にお
いて、第１の高周波パルスの印加により第１のグラディ
エントエコーを発生させる第１の制御と、第２の高周波
パルスの印加により第２のグラディエントエコーを発生
させる第２の制御とから成り、第１の制御は、第１の高
周波パルスと第１のグラディエントエコーの計測時の間
に第１のバイポーラー傾斜磁場パルスを印加する制御を
含み、第２の制御は、第２の高周波パルスと第２のグラ
ディエントエコーの計測時の間に第２のバイポーラー傾
斜磁場パルスを印加する制御を含み、第１のバイポーラ
ー傾斜磁場パルスあるいは第２のバイポーラー傾斜磁場
パルスは、傾斜磁場強度あるいはパルス幅が零にも成り
得ることを特徴とする。さらに、２枚の核磁気共鳴画像
を用いて拡散係数分布計測を行う核磁気共鳴を用いた検
査装置であり、拡散係数分布計測に先立って、２枚の核
磁気共鳴画像を得る核磁気共鳴を用いた検査装置であっ
て、エンコード傾斜磁場および拡散現象を強調する傾斜
磁場パルスを印加せずに得られる２つの信号の強度比を
用いて、２枚の核磁気共鳴画像における拡散現象を強調
する傾斜磁場パルス以外の要因による信号強度の差を補
正し、補正した２枚の核磁気共鳴画像を用いて拡散係数
分布を求めることを特徴とする。
は、シーケンサによる制御は、１回の計測において、第
１の高周波パルスの印加によりグラディエントエコーを
発生させる第１の制御と、第１及び第２の高周波パルス
の印加によりスピンエコーを発生させる第２の制御とか
ら成り、第１の制御は、第１の高周波パルスとグラディ
エントエコーの計測時の間に第１のバイポーラー傾斜磁
場パルスを印加する制御を含み、第２の制御は、第１及
び第２の高周波パルスの間に第１のバイポーラー傾斜磁
場パルスを印加する制御と、第２の高周波パルスとスピ
ンエコーの計測時の間に第２のバイポーラー傾斜磁場パ
ルスを印加する制御とを含み、第１のバイポーラー傾斜
磁場パルスは傾斜磁場強度あるいはパルス幅が零にも成
り得ることを特徴とする。また、核磁気共鳴を用いた検
査装置では、シーケンサによる制御は、１回の計測にお
いて、第１の高周波パルスの印加により第１のグラディ
エントエコーを発生させる第１の制御と、第２の高周波
パルスの印加により第２のグラディエントエコーを発生
させる第２の制御とから成り、第１の制御は、第１の高
周波パルスと第１のグラディエントエコーの計測時の間
に第１のバイポーラー傾斜磁場パルスを印加する制御を
含み、第２の制御は、第２の高周波パルスと第２のグラ
ディエントエコーの計測時の間に第２のバイポーラー傾
斜磁場パルスを印加する制御を含み、第１のバイポーラ
ー傾斜磁場パルスあるいは第２のバイポーラー傾斜磁場
パルスは、傾斜磁場強度あるいはパルス幅が零にも成り
得ることを特徴とする。さらに、２枚の核磁気共鳴画像
を用いて拡散係数分布計測を行う核磁気共鳴を用いた検
査装置であり、拡散係数分布計測に先立って、２枚の核
磁気共鳴画像を得る核磁気共鳴を用いた検査装置であっ
て、エンコード傾斜磁場および拡散現象を強調する傾斜
磁場パルスを印加せずに得られる２つの信号の強度比を
用いて、２枚の核磁気共鳴画像における拡散現象を強調
する傾斜磁場パルス以外の要因による信号強度の差を補
正し、補正した２枚の核磁気共鳴画像を用いて拡散係数
分布を求めることを特徴とする。
【０００８】
【作用】以下、本発明に係る核磁気共鳴を用いた検査方
法について、図３に示す計測法でＡＤＣ分布を求める場
合について説明する。図中のエコーＥ1、Ｅ2はそれぞ
れ、スピンエコー、および高周波パルス２によるグラデ
ィエントエコーである。静磁場の印加方向をＺとする
と、検査対象中の核磁化は初めＺ方向に向いている。ス
ライス傾斜磁場Ｇｓ1と共にＸ方向に第１の高周波パル
スを印加すると、Ｚ方向に直交する特定のスライス面Ｚ
＝Ｚ0近傍における核磁化の一部Ｍ1（核磁化−１）が励
起され、Ｙ方向成分が生じる。第１の高周波パルスのフ
リップ角αは９０°ではなく、励起後に核磁化の一部が
Ｚ軸上に残っていることが望ましい。上記励起された核
磁化Ｍ1はリードアウト傾斜磁場Ｇｒ1によって位相が分
散され、その後、傾斜磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2を印加すること
によって拡散現象による信号減衰が生じる。傾斜磁場Ｇ
ｄ1、Ｇｄ2はパルス幅、強度共に等しく、極性のみ反転
した傾斜磁場パルスで、静止部位ではこれらの影響は相
殺されるが、拡散の生じている部位ではＧｄ1、Ｇｄ2の
印加時に強度の異なる磁場を感じるため信号が減衰す
る。次に、スライス傾斜磁場Ｇｓ2と共に高周波パルス
２を印加することにより、上記励起された核磁化Ｍ1を
Ｘ軸の回りにβ回転させる。この結果、Ｙ軸の負の方向
に核磁化Ｍ3（核磁化−３）を生じる。この時、Ｚ軸上
に残っていた核磁化の一部Ｍ2（核磁化−２）が励起さ
れ、新しいＹ方向成分が生じる。その後、傾斜磁場Ｇｄ
3、Ｇｄ4を印加することにより、拡散現象による信号減
衰が生じる。Ｇｄ3、Ｇｄ4はパルス幅、強度共に等し
く、極性のみ反転した傾斜磁場パルスであるが、上記の
傾斜磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2と等しいものである必要は無い。
核磁化Ｍ3は傾斜磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2、Ｇｄ3、Ｇｄ4すべ
ての影響を受けるが、核磁化Ｍ2はＧｄ3、Ｇｄ4の影響
のみ受ける。その後、エンコード傾斜磁場Ｇｅ1を印加
することにより、核磁化Ｍ3、Ｍ2の位相を符号化する。
その後、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ2を印加することに
より、核磁化Ｍ3、Ｍ2の位相を分散する。傾斜磁場Ｇｒ
2は傾斜磁場Ｇｒ1とパルス幅、強度共に等しく、極性の
み反転した傾斜磁場パルスである。このパルス幅をｔ1
とする。次にリードアウト傾斜磁場の極性を反転し、Ｇ
ｒ3を印加する。傾斜磁場Ｇｒ3は傾斜磁場Ｇｒ1、Ｇｒ2
と強度が等しく、Ｇｒ1と同極性の傾斜磁場パルスであ
る。傾斜磁場Ｇｒ3印加開始後、Δｔを経過したところ
で、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ2により分散された核磁
化Ｍ2の位相が揃い、グラディエントエコーＥ2が発生す
る。さらに時間Δｔが経過すると、リードアウト傾斜磁
場Ｇｒ1、Ｇｒ2により分散された核磁化Ｍ3の位相が揃
い、スピンエコーＥ1が発生する。
法について、図３に示す計測法でＡＤＣ分布を求める場
合について説明する。図中のエコーＥ1、Ｅ2はそれぞ
れ、スピンエコー、および高周波パルス２によるグラデ
ィエントエコーである。静磁場の印加方向をＺとする
と、検査対象中の核磁化は初めＺ方向に向いている。ス
ライス傾斜磁場Ｇｓ1と共にＸ方向に第１の高周波パル
スを印加すると、Ｚ方向に直交する特定のスライス面Ｚ
＝Ｚ0近傍における核磁化の一部Ｍ1（核磁化−１）が励
起され、Ｙ方向成分が生じる。第１の高周波パルスのフ
リップ角αは９０°ではなく、励起後に核磁化の一部が
Ｚ軸上に残っていることが望ましい。上記励起された核
磁化Ｍ1はリードアウト傾斜磁場Ｇｒ1によって位相が分
散され、その後、傾斜磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2を印加すること
によって拡散現象による信号減衰が生じる。傾斜磁場Ｇ
ｄ1、Ｇｄ2はパルス幅、強度共に等しく、極性のみ反転
した傾斜磁場パルスで、静止部位ではこれらの影響は相
殺されるが、拡散の生じている部位ではＧｄ1、Ｇｄ2の
印加時に強度の異なる磁場を感じるため信号が減衰す
る。次に、スライス傾斜磁場Ｇｓ2と共に高周波パルス
２を印加することにより、上記励起された核磁化Ｍ1を
Ｘ軸の回りにβ回転させる。この結果、Ｙ軸の負の方向
に核磁化Ｍ3（核磁化−３）を生じる。この時、Ｚ軸上
に残っていた核磁化の一部Ｍ2（核磁化−２）が励起さ
れ、新しいＹ方向成分が生じる。その後、傾斜磁場Ｇｄ
3、Ｇｄ4を印加することにより、拡散現象による信号減
衰が生じる。Ｇｄ3、Ｇｄ4はパルス幅、強度共に等し
く、極性のみ反転した傾斜磁場パルスであるが、上記の
傾斜磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2と等しいものである必要は無い。
核磁化Ｍ3は傾斜磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2、Ｇｄ3、Ｇｄ4すべ
ての影響を受けるが、核磁化Ｍ2はＧｄ3、Ｇｄ4の影響
のみ受ける。その後、エンコード傾斜磁場Ｇｅ1を印加
することにより、核磁化Ｍ3、Ｍ2の位相を符号化する。
その後、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ2を印加することに
より、核磁化Ｍ3、Ｍ2の位相を分散する。傾斜磁場Ｇｒ
2は傾斜磁場Ｇｒ1とパルス幅、強度共に等しく、極性の
み反転した傾斜磁場パルスである。このパルス幅をｔ1
とする。次にリードアウト傾斜磁場の極性を反転し、Ｇ
ｒ3を印加する。傾斜磁場Ｇｒ3は傾斜磁場Ｇｒ1、Ｇｒ2
と強度が等しく、Ｇｒ1と同極性の傾斜磁場パルスであ
る。傾斜磁場Ｇｒ3印加開始後、Δｔを経過したところ
で、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ2により分散された核磁
化Ｍ2の位相が揃い、グラディエントエコーＥ2が発生す
る。さらに時間Δｔが経過すると、リードアウト傾斜磁
場Ｇｒ1、Ｇｒ2により分散された核磁化Ｍ3の位相が揃
い、スピンエコーＥ1が発生する。
【０００９】縦緩和時間Ｔ1、静磁場不均一、ケミカル
シフト等の影響を無視すると、２つのエコーＥ1、Ｅ2か
ら得られる画像Ｓ1、Ｓ2は次のように表される。
シフト等の影響を無視すると、２つのエコーＥ1、Ｅ2か
ら得られる画像Ｓ1、Ｓ2は次のように表される。
【００１０】
【数２】 S1=ρ・exp(-b1・ADC(x,y,z)) （数２）
【００１１】
【数３】 S2=ρ・exp(-b2・ADC(x,y,z)) （数３） ここで、ρはスピン密度、ｂ1、ｂ2はそれぞれ、傾斜磁
場Ｇｄ1、Ｇｄ2、Ｇｄ3、Ｇｄ4による傾斜磁場因子、お
よび傾斜磁場Ｇｄ3、Ｇｄ4による傾斜磁場因子である。
数２、数３より、見かけの拡散係数分布ＡＤＣ（ｘ、
ｙ、ｚ）は次式により求められる。
場Ｇｄ1、Ｇｄ2、Ｇｄ3、Ｇｄ4による傾斜磁場因子、お
よび傾斜磁場Ｇｄ3、Ｇｄ4による傾斜磁場因子である。
数２、数３より、見かけの拡散係数分布ＡＤＣ（ｘ、
ｙ、ｚ）は次式により求められる。
【００１２】
【数４】 ADC(x,y,z)={log(S1/S2)}/(b2-b1) （数４） さて、信号強度は緩和時間や静磁場不均一等によっても
減衰する。また、フリップ角の違いも信号強度に影響す
るので、上記のように２枚の画像を用いて拡散係数分布
を求める場合には、これらの影響が等しくなるように計
測条件を設定することが望ましい。しかし、このような
計測条件の設定が不可能であれば、フリップ角や緩和時
間、静磁場不均一等による信号量の差を補正する必要が
ある。そこで、上記計測方法においてエンコード傾斜磁
場およびバイポーラー傾斜磁場を印加せずにグラディエ
ントエコーｅ1およびスピンエコーｅ2を計測し、数４の
右辺を｛ｌｏｇ（Ｓ1・ｅ2／Ｓ2／ｅ1）｝／（ｂ2−
ｂ1）で置き換えることにより、上記フリップ角や緩和
時間、静磁場不均一等による信号減衰量の差を補正する
ことができる。上記に述べたとおり、本発明に依れば１
回の計測で見かけの拡散係数分布を得ることができる。
減衰する。また、フリップ角の違いも信号強度に影響す
るので、上記のように２枚の画像を用いて拡散係数分布
を求める場合には、これらの影響が等しくなるように計
測条件を設定することが望ましい。しかし、このような
計測条件の設定が不可能であれば、フリップ角や緩和時
間、静磁場不均一等による信号量の差を補正する必要が
ある。そこで、上記計測方法においてエンコード傾斜磁
場およびバイポーラー傾斜磁場を印加せずにグラディエ
ントエコーｅ1およびスピンエコーｅ2を計測し、数４の
右辺を｛ｌｏｇ（Ｓ1・ｅ2／Ｓ2／ｅ1）｝／（ｂ2−
ｂ1）で置き換えることにより、上記フリップ角や緩和
時間、静磁場不均一等による信号減衰量の差を補正する
ことができる。上記に述べたとおり、本発明に依れば１
回の計測で見かけの拡散係数分布を得ることができる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図４は核磁気共鳴を用いた検査装置の一例を示す
構成図である。図４において、１は静磁場を発生するコ
イル、２は傾斜磁場を発生するコイル、３は検査対象で
あり、この検査対象はコイル１、２内に配置される。シ
ーケンサ４は傾斜磁場電源５、高周波発振器６に命令を
送り、傾斜磁場および高周波磁場を印加する。高周波磁
場は、高周波変調器７、高周波増幅器８を経て高周波送
信器９により、検査対象３に印加される。検査対象から
発生した信号は受信器１０によって受波され、増幅器１
１、位相検波器１２、ＡＤ変換器１３を通ってＣＰＵ１
４に送られ、ここで信号処理が行われた後、表示装置１
５に表示される。必要に応じて、記憶媒体１６に信号や
測定条件を記憶させることもできる。さて、図３は本発
明の一実施例を示す計測法である。また、図５、図６、
図７は図３の計測法を実行した場合の核磁化の振る舞い
を表している。以下、図３、図５、図６、図７を用いて
時系列的に本発明の実施例を説明する。図３中のエコー
Ｅ1、Ｅ2はそれぞれ、スピンエコー、および高周波パル
ス２によるグラディエントエコーである。以下の説明で
は、静磁場の印加方向をＺ、高周波パルスの印加方向を
Ｘとする。
する。図４は核磁気共鳴を用いた検査装置の一例を示す
構成図である。図４において、１は静磁場を発生するコ
イル、２は傾斜磁場を発生するコイル、３は検査対象で
あり、この検査対象はコイル１、２内に配置される。シ
ーケンサ４は傾斜磁場電源５、高周波発振器６に命令を
送り、傾斜磁場および高周波磁場を印加する。高周波磁
場は、高周波変調器７、高周波増幅器８を経て高周波送
信器９により、検査対象３に印加される。検査対象から
発生した信号は受信器１０によって受波され、増幅器１
１、位相検波器１２、ＡＤ変換器１３を通ってＣＰＵ１
４に送られ、ここで信号処理が行われた後、表示装置１
５に表示される。必要に応じて、記憶媒体１６に信号や
測定条件を記憶させることもできる。さて、図３は本発
明の一実施例を示す計測法である。また、図５、図６、
図７は図３の計測法を実行した場合の核磁化の振る舞い
を表している。以下、図３、図５、図６、図７を用いて
時系列的に本発明の実施例を説明する。図３中のエコー
Ｅ1、Ｅ2はそれぞれ、スピンエコー、および高周波パル
ス２によるグラディエントエコーである。以下の説明で
は、静磁場の印加方向をＺ、高周波パルスの印加方向を
Ｘとする。
【００１４】（時刻ｔ0）（図５（ａ））：検査対象中
の核磁化Ｍ0は初めＺ方向に向いている 。（時刻ｔ1）（図５（ｂ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ1
と共に高周波パルス１を印加すると、Ｚ方向に直交する
特定のスライス面Ｚ＝Ｚ0近傍における核磁化の一部Ｍ1
（核磁化−１）が励起され、Ｙ方向成分が生じる。 （時刻ｔ2）（図５（ｃ））：核磁化Ｍ1はリードアウト
傾斜磁場Ｇｒ1によって位相が分散される。 （時刻ｔ3）（図５（ｄ））：パルス幅と強度の絶対値
の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧｄ
1、Ｇｄ2を印加する。静止部位ではＧｄ1、Ｇｄ2の影響
は相殺されるが、拡散の生じている部位ではＧｄ1、Ｇ
ｄ2の印加時に強度の異なる磁場を感じるため信号が減
衰する。 （時刻ｔ4）（図６（ｅ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ2と
共に高周波パルス２を印加することにより、上記励起さ
れた核磁化Ｍ1をＸ軸の回りにβ回転させる。この結
果、Ｙ軸上の負の方向に核磁化Ｍ3（核磁化−３）を生
じる。この時、Ｚ軸上に残っていた核磁化の一部Ｍ
2（核磁化−２）が励起され、新しいＹ方向成分が生じ
る。 （時刻ｔ5）（図６（ｆ））：パルス幅と強度の絶対値
の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧｄ
3、Ｇｄ4を印加する。核磁化Ｍ3は傾斜磁場Ｇｄ1、Ｇｄ
2、Ｇｄ3、Ｇｄ4すべての影響を受けるが、核磁化Ｍ2は
Ｇｄ3、Ｇｄ4の影響のみ受ける。 （時刻ｔ6）（図６（ｇ））：エンコード傾斜磁場Ｇｅ1
を印加することにより、核磁化Ｍ3、Ｍ2の位相を符号化
する。
の核磁化Ｍ0は初めＺ方向に向いている 。（時刻ｔ1）（図５（ｂ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ1
と共に高周波パルス１を印加すると、Ｚ方向に直交する
特定のスライス面Ｚ＝Ｚ0近傍における核磁化の一部Ｍ1
（核磁化−１）が励起され、Ｙ方向成分が生じる。 （時刻ｔ2）（図５（ｃ））：核磁化Ｍ1はリードアウト
傾斜磁場Ｇｒ1によって位相が分散される。 （時刻ｔ3）（図５（ｄ））：パルス幅と強度の絶対値
の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧｄ
1、Ｇｄ2を印加する。静止部位ではＧｄ1、Ｇｄ2の影響
は相殺されるが、拡散の生じている部位ではＧｄ1、Ｇ
ｄ2の印加時に強度の異なる磁場を感じるため信号が減
衰する。 （時刻ｔ4）（図６（ｅ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ2と
共に高周波パルス２を印加することにより、上記励起さ
れた核磁化Ｍ1をＸ軸の回りにβ回転させる。この結
果、Ｙ軸上の負の方向に核磁化Ｍ3（核磁化−３）を生
じる。この時、Ｚ軸上に残っていた核磁化の一部Ｍ
2（核磁化−２）が励起され、新しいＹ方向成分が生じ
る。 （時刻ｔ5）（図６（ｆ））：パルス幅と強度の絶対値
の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧｄ
3、Ｇｄ4を印加する。核磁化Ｍ3は傾斜磁場Ｇｄ1、Ｇｄ
2、Ｇｄ3、Ｇｄ4すべての影響を受けるが、核磁化Ｍ2は
Ｇｄ3、Ｇｄ4の影響のみ受ける。 （時刻ｔ6）（図６（ｇ））：エンコード傾斜磁場Ｇｅ1
を印加することにより、核磁化Ｍ3、Ｍ2の位相を符号化
する。
【００１５】（時刻ｔ7）（図６（ｈ））リードアウト
傾斜磁場Ｇｒ2を印加することにより、核磁化Ｍ3、Ｍ2
の位相を分散する。傾斜磁場Ｇｒ2は傾斜磁場Ｇｒ1とパ
ルス幅、強度共に等しく、極性のみ反転した傾斜磁場パ
ルスである。このパルス幅をΔｔとする。 （時刻ｔ8）（図７（ｉ））：リードアウト傾斜磁場の
極性を反転し、Ｇｒ3を印加する。傾斜磁場Ｇｒ3は傾斜
磁場Ｇｒ1、Ｇｒ2と強度が等しく、Ｇｒ1と同極性の傾
斜磁場パルスである。 （時刻ｔ9）（図７（ｊ））：傾斜磁場Ｇｒ3印加開始
後、Δｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場Ｇ
ｒ2により分散された核磁化Ｍ2の位相が揃い、グラディ
エントエコーＥ2が発生する。 （時刻ｔ10）（図７（ｋ））：さらに時間Δｔが経過す
ると、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ1、Ｇｒ2により分散さ
れた核磁化Ｍ3の位相が揃い、スピンエコーＥ1が発生す
る。
傾斜磁場Ｇｒ2を印加することにより、核磁化Ｍ3、Ｍ2
の位相を分散する。傾斜磁場Ｇｒ2は傾斜磁場Ｇｒ1とパ
ルス幅、強度共に等しく、極性のみ反転した傾斜磁場パ
ルスである。このパルス幅をΔｔとする。 （時刻ｔ8）（図７（ｉ））：リードアウト傾斜磁場の
極性を反転し、Ｇｒ3を印加する。傾斜磁場Ｇｒ3は傾斜
磁場Ｇｒ1、Ｇｒ2と強度が等しく、Ｇｒ1と同極性の傾
斜磁場パルスである。 （時刻ｔ9）（図７（ｊ））：傾斜磁場Ｇｒ3印加開始
後、Δｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場Ｇ
ｒ2により分散された核磁化Ｍ2の位相が揃い、グラディ
エントエコーＥ2が発生する。 （時刻ｔ10）（図７（ｋ））：さらに時間Δｔが経過す
ると、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ1、Ｇｒ2により分散さ
れた核磁化Ｍ3の位相が揃い、スピンエコーＥ1が発生す
る。
【００１６】縦緩和時間Ｔ1、静磁場不均一、ケミカル
シフト等の影響を無視すると、２つのエコーＥ1、Ｅ2か
ら得られる画像Ｓ1、Ｓ2は次のように表される。
シフト等の影響を無視すると、２つのエコーＥ1、Ｅ2か
ら得られる画像Ｓ1、Ｓ2は次のように表される。
【００１７】
【数５】 S1=ρ・exp(-b1・ADC(x,y,z)) （数５）
【００１８】
【数６】 S2=ρ・exp(-b2・ADC(x,y,z)) （数６） ここで、ρはスピン密度、ｂ1、ｂ2はそれぞれ、傾斜磁
場Ｇｄ1、Ｇｄ2、Ｇｄ3、Ｇｄ4による傾斜磁場因子、お
よび傾斜磁場Ｇｄ3、Ｇｄ4による傾斜磁場因子である。
数５、数６より、見かけの拡散係数分布ＡＤＣ（ｘ、
ｙ、ｚ）は次式により求められる。
場Ｇｄ1、Ｇｄ2、Ｇｄ3、Ｇｄ4による傾斜磁場因子、お
よび傾斜磁場Ｇｄ3、Ｇｄ4による傾斜磁場因子である。
数５、数６より、見かけの拡散係数分布ＡＤＣ（ｘ、
ｙ、ｚ）は次式により求められる。
【００１９】
【数７】 ADC(x,y,z)={log(S1/S2)}/(b2-b1) （数７） 傾斜磁場因子は、イメージングに用いる傾斜磁場の影響
が十分小さければ、拡散係数強調用の傾斜磁場の印加時
間の３乗と傾斜磁場強度の２乗に比例する。従って、Ｇ
ｄ3、Ｇｄ4がＧｄ1、Ｇｄ2と等しければ、
が十分小さければ、拡散係数強調用の傾斜磁場の印加時
間の３乗と傾斜磁場強度の２乗に比例する。従って、Ｇ
ｄ3、Ｇｄ4がＧｄ1、Ｇｄ2と等しければ、
【００２０】
【数８】 b1＝8・b2 （数８） となる。これは、傾斜磁場因子の選び方の一例であっ
て、Ｇｄ3、Ｇｄ4はＧｄ1、Ｇｄ2と必ずしも等しい必要
は無い。ただし、Ｇｄ1、Ｇｄ2のパルス幅と傾斜磁場強
度の積は０であってはならない。逆にＧｄ3、Ｇｄ4のパ
ルス幅と傾斜磁場強度の積は０であっても構わない。す
なわち、b1≠b2であればよい。核磁化Ｍ1が０とならな
いためには、高周波パルス１のフリップ角αは０°ある
いは１８０°の倍数であってはならない。また核磁化Ｍ
2が０とならないためには、高周波パルス１の印加後に
核磁化の一部がＺ軸上に残っていることが望ましいの
で、高周波パルス１のフリップ角αが９０°の倍数でな
いことと、高周波パルス２のフリップ角βが０°あるい
は１８０°の倍数でないことが必要である。以上述べた
とおり、図３に示す本発明の一実施例によれば、通常の
計測の半分の計測時間で見かけの拡散係数分布の計測が
可能である。さて、図８は本発明の他の一実施例を示す
計測法である。また、図９、図１０、図１１は図８の計
測法を実行した場合の核磁化の振る舞いを表している。
以下、図６、図９、図１０、図１１を用いて時系列的に
本発明の実施例を説明する。図８中のエコーＥ1、Ｅ2は
それぞれ、高周波パルス１によるグラディエントエコ
ー、およびスピンエコーである。以下の説明では、静磁
場の印加方向をＺ、高周波パルスの印加方向をＸとす
る。また、この例では、Ｚ軸に垂直なスライス面の画像
を計測する場合について述べる。
て、Ｇｄ3、Ｇｄ4はＧｄ1、Ｇｄ2と必ずしも等しい必要
は無い。ただし、Ｇｄ1、Ｇｄ2のパルス幅と傾斜磁場強
度の積は０であってはならない。逆にＧｄ3、Ｇｄ4のパ
ルス幅と傾斜磁場強度の積は０であっても構わない。す
なわち、b1≠b2であればよい。核磁化Ｍ1が０とならな
いためには、高周波パルス１のフリップ角αは０°ある
いは１８０°の倍数であってはならない。また核磁化Ｍ
2が０とならないためには、高周波パルス１の印加後に
核磁化の一部がＺ軸上に残っていることが望ましいの
で、高周波パルス１のフリップ角αが９０°の倍数でな
いことと、高周波パルス２のフリップ角βが０°あるい
は１８０°の倍数でないことが必要である。以上述べた
とおり、図３に示す本発明の一実施例によれば、通常の
計測の半分の計測時間で見かけの拡散係数分布の計測が
可能である。さて、図８は本発明の他の一実施例を示す
計測法である。また、図９、図１０、図１１は図８の計
測法を実行した場合の核磁化の振る舞いを表している。
以下、図６、図９、図１０、図１１を用いて時系列的に
本発明の実施例を説明する。図８中のエコーＥ1、Ｅ2は
それぞれ、高周波パルス１によるグラディエントエコ
ー、およびスピンエコーである。以下の説明では、静磁
場の印加方向をＺ、高周波パルスの印加方向をＸとす
る。また、この例では、Ｚ軸に垂直なスライス面の画像
を計測する場合について述べる。
【００２１】（時刻ｔ0）（図９（ａ））：検査対象中
の核磁化Ｍ0は初めＺ方向に向いている 。（時刻ｔ1）（図９（ｂ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ1
と共に高周波パルス１を印加すると、Ｚ方向に直交する
特定のスライス面Ｚ＝Ｚ0近傍における核磁化の一部Ｍ1
（核磁化−１）が励起され、Ｙ方向成分が生じる。 （時刻ｔ2）（図９（ｃ））：エンコード傾斜磁場Ｇｅ1
を印加することにより、核磁化Ｍ1の位相を符号化す
る。 （時刻ｔ3）（図９（ｄ））：パルス幅と強度の絶対値
の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧｄ
1、Ｇｄ2を印加する。静止部位ではＧｄ1、Ｇｄ2の影響
は相殺されるが、拡散の生じている部位ではＧｄ1、Ｇ
ｄ2の印加時に強度の異なる磁場を感じるため信号が減
衰する。 （時刻ｔ4）（図１０（ｅ））：核磁化Ｍ1はリードアウ
ト傾斜磁場Ｇｒ1によって位相が分散される。このパル
ス幅をΔｔとする。 （時刻ｔ5）（図１０（ｆ））：Ｇｒ1の極性を反転して
リードアウト傾斜磁場Ｇｒ2を印加する。Ｇｒ1とＧｒ2
の強度は等しいものとする。 （時刻ｔ6）（図１０（ｇ））：Ｇｒ2の印加開始後、Δ
ｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ1に
より分散された核磁化Ｍ1の位相が揃い、グラディエン
トエコーＥ1が発生する。 （時刻ｔ7）（図１０（ｈ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ2
と共に高周波パルス２を印加することにより、核磁化Ｍ
1をＸ軸の回りにβ回転させる。この時、核磁化Ｍ1のう
ちＸＹ平面上に倒れた成分を核磁化Ｍ4（核磁化−４）
とする。
の核磁化Ｍ0は初めＺ方向に向いている 。（時刻ｔ1）（図９（ｂ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ1
と共に高周波パルス１を印加すると、Ｚ方向に直交する
特定のスライス面Ｚ＝Ｚ0近傍における核磁化の一部Ｍ1
（核磁化−１）が励起され、Ｙ方向成分が生じる。 （時刻ｔ2）（図９（ｃ））：エンコード傾斜磁場Ｇｅ1
を印加することにより、核磁化Ｍ1の位相を符号化す
る。 （時刻ｔ3）（図９（ｄ））：パルス幅と強度の絶対値
の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧｄ
1、Ｇｄ2を印加する。静止部位ではＧｄ1、Ｇｄ2の影響
は相殺されるが、拡散の生じている部位ではＧｄ1、Ｇ
ｄ2の印加時に強度の異なる磁場を感じるため信号が減
衰する。 （時刻ｔ4）（図１０（ｅ））：核磁化Ｍ1はリードアウ
ト傾斜磁場Ｇｒ1によって位相が分散される。このパル
ス幅をΔｔとする。 （時刻ｔ5）（図１０（ｆ））：Ｇｒ1の極性を反転して
リードアウト傾斜磁場Ｇｒ2を印加する。Ｇｒ1とＧｒ2
の強度は等しいものとする。 （時刻ｔ6）（図１０（ｇ））：Ｇｒ2の印加開始後、Δ
ｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ1に
より分散された核磁化Ｍ1の位相が揃い、グラディエン
トエコーＥ1が発生する。 （時刻ｔ7）（図１０（ｈ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ2
と共に高周波パルス２を印加することにより、核磁化Ｍ
1をＸ軸の回りにβ回転させる。この時、核磁化Ｍ1のう
ちＸＹ平面上に倒れた成分を核磁化Ｍ4（核磁化−４）
とする。
【００２２】（時刻ｔ8）（図１１（ｉ））：パルス幅
と強度の絶対値の積が等しく、極性反転した２つの傾斜
磁場パルスＧｄ3、Ｇｄ4を印加する。核磁化Ｍ4は傾斜
磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2の影響を受けるが、核磁化Ｍ1はＧ
ｄ1、Ｇｄ2、Ｇｄ3、Ｇｄ4すべての影響を受ける。 （時刻ｔ9）（図１１（ｊ））：リードアウト傾斜磁場
Ｇｒ3を印加する。Ｇｒ2とＧｒ3は強度が等しいものと
する。 （時刻ｔ10）（図１１（ｋ））：傾斜磁場Ｇｒ3印加開
始後、Δｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場
Ｇｒ2により分散された核磁化Ｍ4の位相が揃い、スピン
エコーＥ2が発生する。 グラディエントエコーＥ1、及びスピンエコーＥ2を用い
てＡＤＣ（ｘ、ｙ、ｚ）を求める方法は、上述の手法と
同様である。ただし、傾斜磁場因子ｂ1、ｂ2の選び方は
多少異なり、Ｇｄ1、Ｇｄ2のパルス幅と傾斜磁場強度の
積は０であってはならない。Ｇｄ3、Ｇｄ4のパルス幅と
傾斜磁場強度の積は０であっても構わない。すなわち、
b1≠b2であれば良い。核磁化Ｍ1が０とならないために
は、高周波パルス１のフリップ角αは０°あるいは１８
０°の倍数であってはならない。高周波パルス１のフリ
ップ角αが９０°の奇数倍の時、核磁化Ｍ1は最大とな
る。また核磁化Ｍ4が０とならないためには、高周波パ
ルス２のフリップ角βは９０°の奇数倍であってはなら
ない。高周波パルス１のフリップ角αが９０°の奇数倍
で、高周波パルス２のフリップ角αが１８０°の奇数倍
の時、核磁化Ｍ4は最大となる。以上述べたとおり、図
８に示す本発明の他の実施例によれば、通常の計測の半
分の計測時間で見かけの拡散係数分布の計測が可能であ
る。さて、図１２は本発明の他の一実施例を示す計測法
である。また、図１３、図１４、図１５、図１６は図１
２の計測法を実行した場合の核磁化の振る舞いを表して
いる。以下、図１２、図１３、図１４、図１５、図１６
を用いて時系列的に本発明の実施例を説明する。
と強度の絶対値の積が等しく、極性反転した２つの傾斜
磁場パルスＧｄ3、Ｇｄ4を印加する。核磁化Ｍ4は傾斜
磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2の影響を受けるが、核磁化Ｍ1はＧ
ｄ1、Ｇｄ2、Ｇｄ3、Ｇｄ4すべての影響を受ける。 （時刻ｔ9）（図１１（ｊ））：リードアウト傾斜磁場
Ｇｒ3を印加する。Ｇｒ2とＧｒ3は強度が等しいものと
する。 （時刻ｔ10）（図１１（ｋ））：傾斜磁場Ｇｒ3印加開
始後、Δｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場
Ｇｒ2により分散された核磁化Ｍ4の位相が揃い、スピン
エコーＥ2が発生する。 グラディエントエコーＥ1、及びスピンエコーＥ2を用い
てＡＤＣ（ｘ、ｙ、ｚ）を求める方法は、上述の手法と
同様である。ただし、傾斜磁場因子ｂ1、ｂ2の選び方は
多少異なり、Ｇｄ1、Ｇｄ2のパルス幅と傾斜磁場強度の
積は０であってはならない。Ｇｄ3、Ｇｄ4のパルス幅と
傾斜磁場強度の積は０であっても構わない。すなわち、
b1≠b2であれば良い。核磁化Ｍ1が０とならないために
は、高周波パルス１のフリップ角αは０°あるいは１８
０°の倍数であってはならない。高周波パルス１のフリ
ップ角αが９０°の奇数倍の時、核磁化Ｍ1は最大とな
る。また核磁化Ｍ4が０とならないためには、高周波パ
ルス２のフリップ角βは９０°の奇数倍であってはなら
ない。高周波パルス１のフリップ角αが９０°の奇数倍
で、高周波パルス２のフリップ角αが１８０°の奇数倍
の時、核磁化Ｍ4は最大となる。以上述べたとおり、図
８に示す本発明の他の実施例によれば、通常の計測の半
分の計測時間で見かけの拡散係数分布の計測が可能であ
る。さて、図１２は本発明の他の一実施例を示す計測法
である。また、図１３、図１４、図１５、図１６は図１
２の計測法を実行した場合の核磁化の振る舞いを表して
いる。以下、図１２、図１３、図１４、図１５、図１６
を用いて時系列的に本発明の実施例を説明する。
【００２３】図１２中のエコーＥ1、Ｅ2はそれぞれ、高
周波パルス１によるグラディエントエコー、および高周
波パルス２によるグラディエントエコーである。以下の
説明では、静磁場の印加方向をＺ、高周波パルスの印加
方向をＸとする。また、この例では、Ｚ軸に垂直なスラ
イス面の画像を計測する場合について述べる。 （時刻ｔ0）（図１３（ａ））：検査対象中の核磁化Ｍ0
は初めＺ方向に向いている。 （時刻ｔ1）（図１３（ｂ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ1
と共に高周波パルス１を印加すると、Ｚ方向に直交する
特定のスライス面Ｚ＝Ｚ0近傍における核磁化の一部Ｍ1
（核磁化−１）が励起され、Ｙ方向成分が生じる。 （時刻ｔ2）（図１３（ｃ））：エンコード傾斜磁場Ｇ
ｅ1を印加することにより、核磁化Ｍ1の位相を符号化す
る。 （時刻ｔ3）（図１３（ｄ））：パルス幅と強度の絶対
値の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧ
ｄ1、Ｇｄ2を印加する。静止部位ではＧｄ1、Ｇｄ2の影
響は相殺されるが、拡散の生じている部位ではＧｄ1、
Ｇｄ2の印加時に強度の異なる磁場を感じるため信号が
減衰する。 （時刻ｔ4）（図１４（ｅ））：核磁化Ｍ1はリードアウ
ト傾斜磁場Ｇｒ1によって位相が分散される。このパル
ス幅をΔｔとする。 （時刻ｔ5）（図１４（ｆ））：Ｇｒ1の極性を反転して
リードアウト傾斜磁場Ｇｒ2を印加する。Ｇｒ1とＧｒ2
の強度は等しいものとする。 （時刻ｔ6）（図１４（ｇ））：Ｇｒ2の印加開始後、Δ
ｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ1に
より分散された核磁化Ｍ1の位相が揃い、グラディエン
トエコーＥ1が発生する。
周波パルス１によるグラディエントエコー、および高周
波パルス２によるグラディエントエコーである。以下の
説明では、静磁場の印加方向をＺ、高周波パルスの印加
方向をＸとする。また、この例では、Ｚ軸に垂直なスラ
イス面の画像を計測する場合について述べる。 （時刻ｔ0）（図１３（ａ））：検査対象中の核磁化Ｍ0
は初めＺ方向に向いている。 （時刻ｔ1）（図１３（ｂ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ1
と共に高周波パルス１を印加すると、Ｚ方向に直交する
特定のスライス面Ｚ＝Ｚ0近傍における核磁化の一部Ｍ1
（核磁化−１）が励起され、Ｙ方向成分が生じる。 （時刻ｔ2）（図１３（ｃ））：エンコード傾斜磁場Ｇ
ｅ1を印加することにより、核磁化Ｍ1の位相を符号化す
る。 （時刻ｔ3）（図１３（ｄ））：パルス幅と強度の絶対
値の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧ
ｄ1、Ｇｄ2を印加する。静止部位ではＧｄ1、Ｇｄ2の影
響は相殺されるが、拡散の生じている部位ではＧｄ1、
Ｇｄ2の印加時に強度の異なる磁場を感じるため信号が
減衰する。 （時刻ｔ4）（図１４（ｅ））：核磁化Ｍ1はリードアウ
ト傾斜磁場Ｇｒ1によって位相が分散される。このパル
ス幅をΔｔとする。 （時刻ｔ5）（図１４（ｆ））：Ｇｒ1の極性を反転して
リードアウト傾斜磁場Ｇｒ2を印加する。Ｇｒ1とＧｒ2
の強度は等しいものとする。 （時刻ｔ6）（図１４（ｇ））：Ｇｒ2の印加開始後、Δ
ｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場Ｇｒ1に
より分散された核磁化Ｍ1の位相が揃い、グラディエン
トエコーＥ1が発生する。
【００２４】（時刻ｔ7）（図１４（ｈ））：ディフェ
ーズ用の傾斜磁場Ｇｅ2、Ｇｒ3を印加して、核磁化Ｍ1
を飽和する。 （時刻ｔ8）（図１５（ｉ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ2
と共に高周波パルス２を印加することにより、Ｚ軸上に
残っていた核磁化の一部Ｍ5（核磁化−５）が励起さ
れ、新しくＹ方向成分が生じる。 （時刻ｔ9）（図１５（ｊ））：エンコード傾斜磁場Ｇ
ｅ3を印加することにより、核磁化Ｍ5の位相を符号化す
る。 （時刻ｔ10）（図１５（ｋ））：パルス幅と強度の絶対
値の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧ
ｄ3、Ｇｄ4を印加する。Ｇｄ3、Ｇｄ4は上記の傾斜磁場
Ｇｄ1、Ｇｄ2と等しくてはならない。核磁化Ｍ1は傾斜
磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2影響を受けるが、核磁化Ｍ5はＧｄ3、
Ｇｄ4の影響を受ける。 （時刻ｔ11）（図１５（ｌ））：リードアウト傾斜磁場
Ｇｒ4を印加することにより、核磁化Ｍ5の位相を分散す
る。このパルス幅をΔｔとする。 （時刻ｔ12）（図１６（ｍ））：リードアウト傾斜磁場
の極性を反転しリードアウト傾斜磁場Ｇｒ5を印加す
る。Ｇｒ5とＧｒ4は強度が等しいものとする。 （時刻ｔ13）（図１６（ｎ））：傾斜磁場Ｇｒ5印加開
始後、Δｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場
Ｇｒ4により分散された核磁化Ｍ5の位相が揃い、グラデ
ィエントエコーＥ2が発生する。 ２つのグラディエントエコーＥ1、Ｅ2を用いてＡＤＣ
（ｘ、ｙ、ｚ）を求める方法は、上述の手法と同様であ
る。ただし、傾斜磁場因子ｂ1、ｂ2の選び方は多少異な
り、Ｇｄ3、Ｇｄ4はＧｄ1、Ｇｄ2と等しくてはならな
い。Ｇｄ1、Ｇｄ2のパルス幅と傾斜磁場強度の積は０で
あっても構わない。Ｇｄ3、Ｇｄ4のパルス幅と傾斜磁場
強度の積も０であっても構わないが、Ｇｄ1、Ｇｄ2、Ｇ
ｄ3、Ｇｄ4のすべてに対して、パルス幅と傾斜磁場強度
の積が０であってはならない。すなわち、b1≠b2であれ
ばよい。
ーズ用の傾斜磁場Ｇｅ2、Ｇｒ3を印加して、核磁化Ｍ1
を飽和する。 （時刻ｔ8）（図１５（ｉ））：スライス傾斜磁場Ｇｓ2
と共に高周波パルス２を印加することにより、Ｚ軸上に
残っていた核磁化の一部Ｍ5（核磁化−５）が励起さ
れ、新しくＹ方向成分が生じる。 （時刻ｔ9）（図１５（ｊ））：エンコード傾斜磁場Ｇ
ｅ3を印加することにより、核磁化Ｍ5の位相を符号化す
る。 （時刻ｔ10）（図１５（ｋ））：パルス幅と強度の絶対
値の積が等しく、極性反転した２つの傾斜磁場パルスＧ
ｄ3、Ｇｄ4を印加する。Ｇｄ3、Ｇｄ4は上記の傾斜磁場
Ｇｄ1、Ｇｄ2と等しくてはならない。核磁化Ｍ1は傾斜
磁場Ｇｄ1、Ｇｄ2影響を受けるが、核磁化Ｍ5はＧｄ3、
Ｇｄ4の影響を受ける。 （時刻ｔ11）（図１５（ｌ））：リードアウト傾斜磁場
Ｇｒ4を印加することにより、核磁化Ｍ5の位相を分散す
る。このパルス幅をΔｔとする。 （時刻ｔ12）（図１６（ｍ））：リードアウト傾斜磁場
の極性を反転しリードアウト傾斜磁場Ｇｒ5を印加す
る。Ｇｒ5とＧｒ4は強度が等しいものとする。 （時刻ｔ13）（図１６（ｎ））：傾斜磁場Ｇｒ5印加開
始後、Δｔを経過したところで、リードアウト傾斜磁場
Ｇｒ4により分散された核磁化Ｍ5の位相が揃い、グラデ
ィエントエコーＥ2が発生する。 ２つのグラディエントエコーＥ1、Ｅ2を用いてＡＤＣ
（ｘ、ｙ、ｚ）を求める方法は、上述の手法と同様であ
る。ただし、傾斜磁場因子ｂ1、ｂ2の選び方は多少異な
り、Ｇｄ3、Ｇｄ4はＧｄ1、Ｇｄ2と等しくてはならな
い。Ｇｄ1、Ｇｄ2のパルス幅と傾斜磁場強度の積は０で
あっても構わない。Ｇｄ3、Ｇｄ4のパルス幅と傾斜磁場
強度の積も０であっても構わないが、Ｇｄ1、Ｇｄ2、Ｇ
ｄ3、Ｇｄ4のすべてに対して、パルス幅と傾斜磁場強度
の積が０であってはならない。すなわち、b1≠b2であれ
ばよい。
【００２５】核磁化Ｍ1が０とならないためには、高周
波パルス１のフリップ角αは０°あるいは１８０°の倍
数であってはならない。また核磁化Ｍ5が０とならない
ためには、高周波パルス２のフリップ角βが０°あるい
は１８０°の倍数であってはならない。高周波パルス１
のフリップ角αが９０°の奇数倍の時、核磁化Ｍ1は最
大となるが、この時Ｚ軸上に核磁化が残らず、核磁化Ｍ
2はほぼ０となってしまうので、高周波パルス１のフリ
ップ角αは９０°の奇数倍であってはならない。高周波
パルス２のフリップ角βが９０°の時、核磁化Ｍ2は最
大となる。さて、傾斜磁場因子が大きければグラディエ
ントエコーの強度も小さくなり、Ｓ／Ｎが悪くなる。従
って、グラディエントエコーＥ1、Ｅ2のうちで、傾斜磁
場因子が大きい方のエコー計測時には高周波パルスのフ
リップ角を９０°に近い値とする。傾斜磁場因子が小さ
い方のエコー計測時には高周波パルスのフリップ角は小
さくても構わない。上記実施例では、時刻ｔ7でディフ
ェーズ用の傾斜磁場を印加して核磁化Ｍ1を飽和させて
いるが、これは核磁化Ｍ2の計測時に核磁化Ｍ1の影響が
残らないようにするためである。ここで、この目的を達
成する他の方法を述べる。高周波パルスの送信位相およ
び受信の位相を制御しながら収集した信号を積算するこ
とにより、高周波パルスの不完全性等により生じるアー
チファクトを除去する手法が知られている。これに関し
ては、ジー．ボーデンハウゼン（G.Bodenhausen）等に
よるエバリュエイション オブ ニュー ブロードバン
ド デカップリング シーケンス（ジャーナル オブ
マグネチック レゾナンス ５３巻、３１３−３４０頁
（１９７７））（ "Evaluation of New Broadband Deco
upling Sequence"(Journal of Magnetic Resonance, 5
3, pp313-340(1977))）に述べられている。この手法
は、上記目的の達成にも応用できる。上記実施例におい
て、少なくとも４回の積算を行うものとする。４回以上
積算する場合には、積算回数を４の倍数にすることが望
ましい。ここでは、グラディエントエコーＥ1計測時の
高周波パルスの送信位相および受信の位相は０°で固定
とし、グラディエントエコーＥ2の計測時に位相制御を
行う場合について説明する。また、送信位相および受信
位相は同位相とし、これをθとする。この時の位相制御
方法の例を下記に示す。
波パルス１のフリップ角αは０°あるいは１８０°の倍
数であってはならない。また核磁化Ｍ5が０とならない
ためには、高周波パルス２のフリップ角βが０°あるい
は１８０°の倍数であってはならない。高周波パルス１
のフリップ角αが９０°の奇数倍の時、核磁化Ｍ1は最
大となるが、この時Ｚ軸上に核磁化が残らず、核磁化Ｍ
2はほぼ０となってしまうので、高周波パルス１のフリ
ップ角αは９０°の奇数倍であってはならない。高周波
パルス２のフリップ角βが９０°の時、核磁化Ｍ2は最
大となる。さて、傾斜磁場因子が大きければグラディエ
ントエコーの強度も小さくなり、Ｓ／Ｎが悪くなる。従
って、グラディエントエコーＥ1、Ｅ2のうちで、傾斜磁
場因子が大きい方のエコー計測時には高周波パルスのフ
リップ角を９０°に近い値とする。傾斜磁場因子が小さ
い方のエコー計測時には高周波パルスのフリップ角は小
さくても構わない。上記実施例では、時刻ｔ7でディフ
ェーズ用の傾斜磁場を印加して核磁化Ｍ1を飽和させて
いるが、これは核磁化Ｍ2の計測時に核磁化Ｍ1の影響が
残らないようにするためである。ここで、この目的を達
成する他の方法を述べる。高周波パルスの送信位相およ
び受信の位相を制御しながら収集した信号を積算するこ
とにより、高周波パルスの不完全性等により生じるアー
チファクトを除去する手法が知られている。これに関し
ては、ジー．ボーデンハウゼン（G.Bodenhausen）等に
よるエバリュエイション オブ ニュー ブロードバン
ド デカップリング シーケンス（ジャーナル オブ
マグネチック レゾナンス ５３巻、３１３−３４０頁
（１９７７））（ "Evaluation of New Broadband Deco
upling Sequence"(Journal of Magnetic Resonance, 5
3, pp313-340(1977))）に述べられている。この手法
は、上記目的の達成にも応用できる。上記実施例におい
て、少なくとも４回の積算を行うものとする。４回以上
積算する場合には、積算回数を４の倍数にすることが望
ましい。ここでは、グラディエントエコーＥ1計測時の
高周波パルスの送信位相および受信の位相は０°で固定
とし、グラディエントエコーＥ2の計測時に位相制御を
行う場合について説明する。また、送信位相および受信
位相は同位相とし、これをθとする。この時の位相制御
方法の例を下記に示す。
【００２６】積算回数が４ｎ＋１（ｎ＝０、１、２
…）の時、θ＝０° 積算回数が４ｎ＋２（ｎ＝０、１、２…）の時、θ＝
９０° 積算回数が４ｎ＋３（ｎ＝０、１、２…）の時、θ＝
１８０° 積算回数が４ｎ＋４（ｎ＝０、１、２…）の時、θ＝
２７０° ０°をＹ軸、９０°をＸ軸に対応させると、核磁化Ｍ2
の計測信号に混入する核磁化Ｍ1の成分は、ではＹ成
分Ｍｙ、ではＸ成分Ｍｘ、では−Ｍｙ、では−Ｍ
ｘとなり、これらを加算すれば核磁化Ｍ5には影響を与
えずに核磁化Ｍ1の成分を除去することができる。以上
述べたとおり、図１２に示す本発明の他の実施例によれ
ば、通常の計測の半分の計測時間で見かけの拡散係数分
布の計測が可能である。さて、数５および数６では拡散
傾斜磁場の影響による信号減衰のみを考えているが、実
際には緩和時間や静磁場不均一等によっても信号強度は
減衰する。また、フリップ角の違いも信号強度に影響す
るので、２枚の画像を用いて拡散係数分布を求める場合
には、これらの影響が等しくなるように計測条件を設定
することが望ましい。しかし、以上述べてきた３通りの
実施例では、異なるフリップ角の高周波パルスにより生
じる２つのエコーを用いており、また緩和時間、静磁場
不均一等の影響を等しくすることは困難である。従っ
て、拡散計数分布を求める前に、拡散傾斜磁場以外の要
因による信号量の差を補正する必要がある。そこで、上
記実施例の各計測方法において拡散傾斜磁場の強度を０
として信号計測を行う。上記計測で得られる２つの信号
は、拡散傾斜磁場以外の要因による強度比を有するの
で、この強度比を用いれば上記補正が可能である。上記
補正用信号を計測する場合、エンコード傾斜磁場を印加
して画像化する必要は無く、各エコーピークの値がわか
れば良い。数７の２つの画像Ｓ1、Ｓ2に対応する２つの
エコーピークを上記方法で計測し、それぞれｅ1および
ｅ2とすると、上記拡散傾斜磁場以外の要因による信号
量の差の補正は、数７の代わりに数９を用いることによ
り達成される。
…）の時、θ＝０° 積算回数が４ｎ＋２（ｎ＝０、１、２…）の時、θ＝
９０° 積算回数が４ｎ＋３（ｎ＝０、１、２…）の時、θ＝
１８０° 積算回数が４ｎ＋４（ｎ＝０、１、２…）の時、θ＝
２７０° ０°をＹ軸、９０°をＸ軸に対応させると、核磁化Ｍ2
の計測信号に混入する核磁化Ｍ1の成分は、ではＹ成
分Ｍｙ、ではＸ成分Ｍｘ、では−Ｍｙ、では−Ｍ
ｘとなり、これらを加算すれば核磁化Ｍ5には影響を与
えずに核磁化Ｍ1の成分を除去することができる。以上
述べたとおり、図１２に示す本発明の他の実施例によれ
ば、通常の計測の半分の計測時間で見かけの拡散係数分
布の計測が可能である。さて、数５および数６では拡散
傾斜磁場の影響による信号減衰のみを考えているが、実
際には緩和時間や静磁場不均一等によっても信号強度は
減衰する。また、フリップ角の違いも信号強度に影響す
るので、２枚の画像を用いて拡散係数分布を求める場合
には、これらの影響が等しくなるように計測条件を設定
することが望ましい。しかし、以上述べてきた３通りの
実施例では、異なるフリップ角の高周波パルスにより生
じる２つのエコーを用いており、また緩和時間、静磁場
不均一等の影響を等しくすることは困難である。従っ
て、拡散計数分布を求める前に、拡散傾斜磁場以外の要
因による信号量の差を補正する必要がある。そこで、上
記実施例の各計測方法において拡散傾斜磁場の強度を０
として信号計測を行う。上記計測で得られる２つの信号
は、拡散傾斜磁場以外の要因による強度比を有するの
で、この強度比を用いれば上記補正が可能である。上記
補正用信号を計測する場合、エンコード傾斜磁場を印加
して画像化する必要は無く、各エコーピークの値がわか
れば良い。数７の２つの画像Ｓ1、Ｓ2に対応する２つの
エコーピークを上記方法で計測し、それぞれｅ1および
ｅ2とすると、上記拡散傾斜磁場以外の要因による信号
量の差の補正は、数７の代わりに数９を用いることによ
り達成される。
【００２７】
【数９】 ADC(x,y,z)={log(S1・e2/S2/e1)}/(b2-b1) （数９） 上述したように、上記補正用信号は画像化する必要は無
く、画像計測前に行う調整用プリスキャンの中でエコー
ピークを計測すれば良いので、補正に要する時間はほと
んど無視できる。
く、画像計測前に行う調整用プリスキャンの中でエコー
ピークを計測すれば良いので、補正に要する時間はほと
んど無視できる。
【００２８】
【発明の効果】以上、詳細に説明したとおり、本発明に
よれば、傾斜磁場因子ｂの異なるグラディエントエコー
とスピンエコー、あるいは２つのグラディエントエコー
を１回の計測において発生させ、上記２つのエコーから
得られた画像を用いてＡＤＣ分布を求めるので従来法の
半分の時間で見かけの拡散係数分布を計測することが可
能である。
よれば、傾斜磁場因子ｂの異なるグラディエントエコー
とスピンエコー、あるいは２つのグラディエントエコー
を１回の計測において発生させ、上記２つのエコーから
得られた画像を用いてＡＤＣ分布を求めるので従来法の
半分の時間で見かけの拡散係数分布を計測することが可
能である。
【図１】核磁気共鳴を用いたイメージング法の例を示す
図。
図。
【図２】従来法による見かけの拡散係数分布の計測法を
示す図。
示す図。
【図３】本発明の実施例を示す見かけの拡散係数分布の
計測法を示す図。
計測法を示す図。
【図４】本発明の実施例で使用する核磁気共鳴を用いた
検査装置の構成図。
検査装置の構成図。
【図５】本発明の実施例による核磁化の振る舞いを示す
図。
図。
【図６】本発明の実施例による核磁化の振る舞いを示す
図。
図。
【図７】本発明の実施例による核磁化の振る舞いを示す
図。
図。
【図８】本発明の他の実施例を示す見かけの拡散係数分
布の計測法を示す図。
布の計測法を示す図。
【図９】本発明の他の実施例による核磁化の振る舞いを
示す図。
示す図。
【図１０】本発明の他の実施例による核磁化の振る舞い
を示す図。
を示す図。
【図１１】本発明の他の実施例による核磁化の振る舞い
を示す図。
を示す図。
【図１２】本発明の他の実施例を示す見かけの拡散係数
分布の計測法を示す図。
分布の計測法を示す図。
【図１３】本発明の他の実施例による核磁化の振る舞い
を示す図。
を示す図。
【図１４】本発明の他の実施例による核磁化の振る舞い
を示す図。
を示す図。
【図１５】本発明の他の実施例による核磁化の振る舞い
を示す図。
を示す図。
【図１６】本発明の他の実施例による核磁化の振る舞い
を示す図。
を示す図。
１…静磁場発生コイル、２…傾斜磁場発生コイル、３…
検査対象、４…シーケンサ、５…傾斜磁場電源、６…高
周波発振器、７…高周波変調器、８…高周波増幅器、９
…高周波送信器、１０…受信器、１１…増幅器、１２…
位相検波器、１３…ＡＤ変換器、１４…ＣＰＵ、１５…
表示装置、１６…記憶媒体。
検査対象、４…シーケンサ、５…傾斜磁場電源、６…高
周波発振器、７…高周波変調器、８…高周波増幅器、９
…高周波送信器、１０…受信器、１１…増幅器、１２…
位相検波器、１３…ＡＤ変換器、１４…ＣＰＵ、１５…
表示装置、１６…記憶媒体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−135340（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−149251（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−169（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−47014（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−314426（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) A61B 5/055 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (4)
- 【請求項１】静磁場と傾斜磁場および高周波磁場の各発
生手段と、前記傾斜磁場および前記高周波磁場の印加を
行なうために前記傾斜磁場および前記高周波磁場の発生
手段を制御するシーケンサと、前記静磁場内に置かれた
検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検出手段
と、該信号検出手段による検出信号の処理を行う計算機
とを備えた、核磁気共鳴を用いた核磁気共鳴装置におい
て、前記シーケンサによる制御は、１回の計測におい
て、第１及び第２の高周波パルスの印加によりスピンエ
コーを発生させる第１の制御と、前記第２の高周波パル
スの印加によりグラディエントエコーを発生させる第２
の制御とからなり、前記第１の制御は、前記第１及び第
２の高周波パルスの間に、パルス幅と強度の絶対値の積
が等しく極性が反転する２つの傾斜磁場パルスからなる
第１のバイポーラー傾斜磁場パルスを印加する制御と、
前記第２の高周波パルスと前記スピンエコーの計測時の
間に、パルス幅と強度の絶対値の積が等しく極性が反転
する２つの傾斜磁場パルスからなり、前記強度又は前記
パルス幅が零にもなり得る第２のバイポーラー傾斜磁場
パルスを印加する制御とを含み、前記第２の制御は、前
記第２の高周波パルスと前記グラディエントエコーの計
測時の間に前記第２のバイポーラー傾斜磁場パルスを印
加する制御を含み、前記計算機は、前記スピンエコーか
ら第１の画像を、前記グラディエントエコーから第２の
画像をそれぞれ求め、前記第１および第２の画像から前
記検査対象の見かけの拡散係数分布を求めることを特徴
とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項２】静磁場と傾斜磁場および高周波磁場の各発
生手段と、前記傾斜磁場および前記高周波磁場の印加を
行なうために前記傾斜磁場および前記高周波磁場の発生
手段を制御するシーケンサと、前記静磁場内に置かれた
検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検出手段
と、該信号検出手段による検出信号の処理を行う計算機
とを備えた、核磁気共鳴を用いた核磁気共鳴装置におい
て、前記シーケンサによる制御は、第１の高周波パルス
の印加によりグラディエントエコーを発生させる第１の
制御と、前記第１の高周波パルスおよび第２の高周波パ
ルスの印加によ りスピンエコーを発生させる第２の制御
とからなり、前記第１の制御は、前記第１の高周波パル
スと前記グラディエントエコーの計測時の間に、パルス
幅と強度の絶対値の積が等しく極性が反転する２つの傾
斜磁場パルスからなり、前記強度又は前記パルス幅が零
にもなり得る第１のバイポーラー傾斜磁場パルスを印加
する制御を含み、前記第２の制御は、前記第１及び第２
の高周波パルスの間に第１のバイポーラー傾斜磁場パル
スを印加する制御と、前記第２の高周波パルスと前記ス
ピンエコーの計測時の間に、パルス幅と強度の絶対値の
積が等しく極性が反転する２つの傾斜磁場パルスからな
る第２のバイポーラー傾斜磁場パルスを印加する制御と
を含み、前記計算機は、前記グラディエントエコーから
第１の画像を、前記スピンエコーから第２の画像をそれ
ぞれ求め、前記第１および第２の画像から前記検査対象
の見かけの拡散係数分布を求めることを特徴とする核磁
気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項３】静磁場と傾斜磁場および高周波磁場の各発
生手段と、前記傾斜磁場および前記高周波磁場の印加を
行なうために前記傾斜磁場および前記高周波磁場の発生
手段を制御するシーケンサと、前記静磁場内に置かれた
検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検出手段
と、該信号検出手段による検出信号の処理を行う計算機
とを備えた、核磁気共鳴を用いた核磁気共鳴装置におい
て、前記シーケンサによる制御は、第１の高周波パルス
の印加により第１のグラディエントエコーを発生させる
第１の制御と、第２の高周波パルスの印加により第２の
グラディエントエコーを発生させる第２の制御とからな
り、前記第１の制御は、前記第１の高周波パルスと前記
第１のグラディエントエコーの計測時の間に、パルス幅
と強度の絶対値の積が等しく極性が反転する２つの傾斜
磁場パルスからなる第１のバイポーラー傾斜磁場パルス
を印加する制御を含み、前記第２の制御は、前記第２の
高周波パルスと前記第２のグラディエントエコーの計測
時の間に、パルス幅と強度の絶対値の積が等しく極性が
反転する２つの傾斜磁場パルスからなる第２のバイポー
ラー傾斜磁場パルスを印加する制御を含み、前記計算機
は、前記第１のグラディエントエコーから第１の画像
を、前記第２のグラディエントエコーから第２の画像を
それぞれ求め、前記第１および第２の画像から前記検査
対象の見かけの 拡散係数分布を求め、前記第１のバイポ
ーラー傾斜磁場パルスあるいは前記第２のバイポーラー
傾斜磁場パルスの前記強度又は前記パルス幅が零にもな
り得ることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。 - 【請求項４】静磁場と傾斜磁場および高周波磁場の各発
生手段と、前記傾斜磁場および前記高周波磁場の印加を
行なうために前記傾斜磁場および前記高周波磁場の発生
手段を制御するシーケンサと、前記静磁場内に置かれた
検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検出手段
と、該信号検出手段による検出信号の処理を行う計算機
とを備えた、核磁気共鳴を用いた検査装置において、前
記シーケンサによる制御は、前記傾斜磁場の印加量を表
す傾斜磁場因子が異なるグラディエントエコーとスピン
エコーを１回の計測において発生させる制御、あるい
は、前記傾斜磁場因子が異なる第１および第２のグラデ
ィエントエコーを１回の計測において発生させる制御を
含み、前記計算機は、前記グラディエントエコーと前記
スピンエコーから２枚の画像を求め、あるいは、第１お
よび第２のグラディエントエコーから２枚の画像を求
め、前記２枚の画像を用いて、前記検査対象の見かけの
拡散係数分布を求めることを特徴とする核磁気共鳴を用
いた検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21007292A JP3336635B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21007292A JP3336635B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0654816A JPH0654816A (ja) | 1994-03-01 |
| JP3336635B2 true JP3336635B2 (ja) | 2002-10-21 |
Family
ID=16583360
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21007292A Expired - Fee Related JP3336635B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3336635B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE0702063L (sv) | 2007-05-31 | 2009-01-13 | Colloidal Resource Ab | Metod, system, datoravläsbart medium och användning för magnetisk resonanstomografi |
| CN104095635B (zh) * | 2014-07-28 | 2016-07-20 | 上海理工大学 | 一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法 |
| JP6721489B2 (ja) | 2016-11-14 | 2020-07-15 | 株式会社日立製作所 | 磁気共鳴イメージング装置及び計算画像生成方法 |
-
1992
- 1992-08-06 JP JP21007292A patent/JP3336635B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0654816A (ja) | 1994-03-01 |
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