JP3330623B2

JP3330623B2 - 排気ガス浄化用触媒

Info

Publication number: JP3330623B2
Application number: JP33860391A
Authority: JP
Inventors: 明秀高見; 智士市川
Original assignee: Mazda Motor Corp
Current assignee: Mazda Motor Corp
Priority date: 1991-12-20
Filing date: 1991-12-20
Publication date: 2002-09-30
Anticipated expiration: 2017-09-30
Also published as: JPH05168862A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、排気ガス浄化用触媒に
関する。

【０００２】

【従来の技術】自動車の排気ガス浄化用触媒として、Ｃ
Ｏ（一酸化炭素）及びＨＣ（炭化水素）の酸化と、ＮＯ
ｘ（窒素酸化物）の還元とを同時に行なう三元触媒が一
般に知られている。この三元触媒は、例えばγ−アルミ
ナにＰｔ（白金）及びＲｈ（ロジウム）を担持させてな
るもので、エンジンの空燃比（Ａ／Ｆ）を理論空燃比１
４．７付近に制御したときに、高い浄化効率が得られ
る。

【０００３】これに対して、上記空燃比を高くしてエン
ジンの低燃費化を図りたいという要望がある。その場
合、排気ガスは酸素過剰の所謂リーン雰囲気となるた
め、上記三元触媒では、ＣＯやＨＣは酸化浄化すること
ができても、ＮＯｘの還元浄化ができなくなる。

【０００４】そこで、近年は、遷移金属をイオン交換担
持させてなるゼオライト触媒の研究が進められている。
このゼオライト触媒の場合、リーン雰囲気においても、
ＮＯｘを直接、あるいは共存する還元剤（例えば、Ｃ
Ｏ，ＨＣ等）により、Ｎ₂とＯ₂とに接触分解させること
ができる。また、特表平２−５００８２２号公報には、
Ｈ型ゼオライトにＦｅ，Ｃｕ等の遷移金属塩を担持せし
めてなる触媒が開示されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の如き
ゼオライトを用いる触媒は、これをコーディライト製の
ハニカム担体に担持せしめて使用することが多い。この
ような触媒は、比較的高い浄化能を有するものの、耐熱
性が低い、つまり高温での使用を行なうと、触媒活性が
低下するという問題がある。これに対して、実車におい
ては排気ガス温度が時に８００℃から９００℃に近い高
温になることがあるため、触媒の耐熱性を高めることが
重要な課題となる。

【０００６】上記従来の触媒の耐熱性が低い原因として
は、ゼオライトそのものの熱による構造破壊、活性種
（遷移金属）の熱劣化等が考えられるが、本発明の課題
は、上記活性種の熱劣化に対策して触媒の耐熱性の向上
を図ることにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段及びその作用】本発明者
は、このような課題に対し、鋭意研究に努めた結果、上
記活性種の熱劣化は、触媒材料単独の場合よりも、これ
を担体に担持せしめた状態で加速的に生ずることを見出
だしたものである。そして、その原因は上記活性種と担
体（コーディライトのＡｌ）とが高温において反応する
点にあり、この反応を阻止することで触媒の耐熱性が向
上するという知見を得たものである。

【０００８】すなわち、上記課題を解決する手段は、金
属含有シリケートにＣｕ、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅ及び
Ｍｎのうちから選択された１種又は２種以上が担持され
てなる触媒層がコーディライト製担体上に設けられてい
る排気ガス浄化用触媒であって、上記触媒層と上記担体
との間に、遷移金属を担持していないＨ型の金属含有シ
リケートによる下地層が設けられていることを特徴とす
るものである。

【０００９】上記手段においては、下地層が触媒層と担
体との直接触を妨げているから、触媒層の遷移金属であ
るＣｕ、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅ又はＭｎと担体のＡｌ
との反応が阻止されることになる。そして、このことに
より、Ｃｕ、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅ又はＭｎの劣化が
防止され、触媒の耐熱性が得られるものである。また、
この場合、下地層は、遷移金属を担持していない多孔質
の金属含有シリケートによって構成されているから、排
気ガスの触媒層での拡散性を高める上で有利に働く。

【００１０】ここで、上記触媒層について説明するに、
その金属含有シリケートは、上述のゼオライト（アルミ
ナシリケート）のようなミクロの細孔を有する結晶質多
孔体でなければならない。そして、この金属含有シリケ
ートとしては、上記ゼオライトに代えて、例えば、結晶
の骨格を形成する金属として、ＡｌとＦｅ、Ｃｅ、Ｍ
ｎ、Ｔｂ、Ｃｕ、Ｂなど他の金属とを組み合わせてなる
シリケートや、Ａｌを含まない非アルミノシリケートを
採用することもできる。

【００１１】金属含有シリケートの結晶構造としては、
ペンタシル型が好適であり、また、Ａ型、Ｘ型、Ｙ型、
モルデナイト型も使用し得る。また、金属含有シリケー
トは、Ｎａ型その他のアルカリ金属型、アルカリ土類金
属型であってもよいが、耐熱性の観点からはＨ型が好適
である。

【００１２】すなわち、上述の活性種（Ｃｕ、Ｃｏ、Ｃ
ｒ、Ｎｉ、Ｆｅ又はＭｎ）の熱劣化は、上記担体との反
応によって生ずる他に、Ｎａ型の金属含有シリケートの
場合、その骨格を構成する金属（例えばＡｌ）が熱によ
って脱離し、それに伴って電荷補償用のＮａ⁺が移動す
ることによっても生ずる。つまり、上記Ｎａ⁺が活性サ
イトを攻撃し、この活性サイトの活性種が移動凝集を起
こすことによって触媒の活性の低下を招くことになる。
このような観点から、上記金属含有シリケートは、電荷
補償カチオンとして、アルカリ金属やアルカリ土類金属
ではなく、Ｈ⁺を用いることが好ましいものである。

【００１３】また、上記金属含有シリケートに担持せし
める活性種としては、Ｃｕが好適であるが、それ以外の
Ｃｏ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅ又はＭｎを用いることもでき
る。また、活性種の担持方法としては、イオン交換によ
る方法が好適であるが、活性種の塩を含浸によって担持
せしめる方法であってもよい。また、異なる２種以上の
活性種を組み合わせて使用することもできる。

【００１４】この場合、触媒層は単層でもよいが、多層
にすることもできる。例えば、最上層を活性種の担持量
が高い層とし、下層になるに従って段階的に活性種の担
持量が少なくしたような多層構造とすることができる。
もちろん、触媒層の最表面から最下面にわたっ活性種の
担持量が連続的に減少していくような単層構造にするこ
ともできる。

【００１５】さらに、上記金属含有シリケートには貴金
属を微量担持せしめることが好ましい。すなわち、排気
ガス中にＨＣが含まれているものにおいては、このＨＣ
の分解による炭素が触媒上に析出し、この炭素によって
遷移金属が被毒されるという問題があるが、これに対し
て、上記貴金属は上記析出炭素の燃焼を促し、上記被毒
を防止する。

【００１６】また、上記下地層を構成する金属含有シリ
ケートに関しては、上記触媒層の金属含有シリケートと
同じものを用いることができる。この場合も、電荷補償
カチオンとして、アルカリ金属やアルカリ土類金属を用
いると、その移動によって触媒層の活性種の劣化を招く
から、Ｈ型の金属含有シリケートを用いることが好まし
い。

【００１７】

【発明の効果】従って、本発明によれば、金属含有シリ
ケートにＣｕ、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅ又はＭｎが担持
されてなる触媒層とコーディライト製担体との間に、遷
移金属を担持していないＨ型の金属含有シリケートによ
る下地層を設けたから、活性種としての上記Ｃｕ、Ｃ
ｏ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｆｅ又はＭｎと上記担体との反応を上
記下地層によって防止して、触媒の耐熱性を高めること
ができる。また、上記触媒層がＣｕイオン交換ゼオライ
トによって構成され、上記下地層がＨ型ゼオライトによ
って構成された触媒の場合、耐熱性の点でさらに有利に
なるとともに、高い活性を得ることができる。また、上
記触媒層及び上記下地層各々の金属含有シリケートをＨ
型ゼオライトとすれば、耐熱性の点でさらに有利にな
る。

【００１８】

【実施例】以下、本発明の実施例を浄化テストに基づい
て説明する。

【００１９】＜テスト１＞ −実施例１− 図１に実施例１の触媒構造が示されている。同図におい
て、１は担体、２は触媒層、３は担体１と触媒層２との
間に設けられた下地層である。担体１はコーディライト
製であってハニカム構造（４００セル／inch²）に形成
されている。触媒層２はＣｕをイオン交換によって担持
せしめたゼオライトによって構成されている。このゼオ
ライトはＮａ型のＺＳＭ−５であって、ＳｉＯ₂／Ａｌ₂
Ｏ₃＝３０であり、また、Ｃｕイオン交換率は８０〜１
２０％である。下地層３はＳｉＯ₂／Ａｌ₂Ｏ₃＝７０の
Ｈ型ゼオライト（ＺＳＭ−５）によって構成されてい
る。

【００２０】なお、本明細書において、イオン交換率
は、金属含有シリケート（この場合はゼオライト）のイ
オン交換サイトに対する遷移金属（この場合はＣｕ）の
交換率であり、遷移金属を２価とし、金属含有シリケー
ト中に含まれる金属（この場合はＡｌ）量の１／２の遷
移金属担持量をイオン交換率１００％として計算したも
のである。

【００２１】（触媒の作成）Ｈ型ゼオライトを担体１にウォッシュコートによって１
０ｗｔ％担持させて下地層３を形成した後に、Ｃｕイオ
ン交換ゼオライトをウォッシュコートによって２０ｗｔ
％担持させて触媒層２を形成した。ウォッシュコートに
あたっては、各々材料を水和アルミナ（バインダー）１
０ｗｔ％と混合し、水を加えてスラリー液として行なっ
た。

【００２２】−実施例２− 実施例１のものと同様のＣｕイオン交換ゼオライト（但
し、ＳｉＯ₂／Ａｌ₂Ｏ₃＝７０）に７００℃×６時間の
前処理（熱処理）を施したものを用いて、図１と同様の
層構造の触媒を得た。

【００２３】−比較例１− 上記各実施例の如き下地層を設けずに、実施例１のもの
と同様のＣｕイオン交換ゼオライトを同様の担体にウォ
ッシュコートして、触媒を得た。

【００２４】−比較例２− 実施例１のものと同様のＣｕイオン交換ゼオライトに７
００℃×６時間の前処理（熱処理）を施したものを用い
て、比較例１のものと同様の下地層のない触媒を得た。

【００２５】−浄化テスト− 以上の如くして作成した各触媒を供試材として、次のテ
ストモードで初期浄化率（ＮＯｘ分解率）と、熱処理後
浄化率（ＮＯｘ分解率）を測定した。なお、この場合の
熱処理は７００℃×６時間とした。

【００２６】模擬排気ガス組成；ＮＯｘ：２０００ｐｐｍ，ＨＣ：５
５００ｐｐｍＣ，Ｏ₂：８％，ＣＯ：０．１５％，Ｈ₂：
６５０ｐｐｍ空間速度；２５０００ｈ^-1 結果は表１に示されている。

【００２７】

【表１】

【００２８】テスト結果によれば、初期浄化率について
は実施例と比較例との間での差異はほとんどない。ま
た、前処理を施したＣｕイオン交換ゼオライトを用いた
実施例２及び比較例２はこの前処理による活性種の熱劣
化の結果として、前処理を施していない実施例１及び比
較例１に比べて活性が低くなっている。

【００２９】一方、熱処理後の浄化率をみると、実施例
１，２ではいずれもＮＯｘ浄化率が比較例よりも高く、
初期浄化率と比べた場合の浄化率の低下が少ない。この
ことから、下地層（Ｈ型ゼオライト）の存在が耐熱性の
向上に寄与していることが裏付けられ、また、Ｃｕイオ
ン交換ゼオライト前処理（熱処理）を施した場合でも本
発明が有効であることがわかる。

【００３０】＜テスト２＞ −実施例３− 図２に本例の触媒構造が示されている。本例の触媒の場
合、担体１は実施例１のものと同じであるが、下地層５
はＳｉＯ₂／Ａｌ₂Ｏ₃＝３０のＨ型ゼオライト（ＺＳＭ
−５）によって構成されている。触媒層は上層６、中間
層７及び下層８の三層構造である。この上・中・下の各
層６〜８は、各々の金属含有シリケートはＨ型ゼオライ
ト（ＺＳＭ−５）であるが、遷移金属としてのＣｕのイ
オン交換率は上から順に１２０％、８０％、３０％とな
っている。本例の触媒の作成は実施例１に準じて行なっ
た。

【００３１】−比較例３− 比較例３として、上記実施例３と同じ触媒層構造を有し
且つ下地層のないものを作成した。

【００３２】−浄化テスト− 以上の如くして作成した各触媒を供試材として、次のテ
ストモードで初期浄化率（ＮＯｘ分解率）と、熱処理後
浄化率（ＮＯｘ分解率）を測定した。なお、この場合の
熱処理は７００℃×１０時間とした。

【００３３】模擬排気ガス組成；ＮＯｘ：１０００ｐｐｍ，ＨＣ：２
５００ｐｐｍＣ，Ｏ₂：８％空間速度；２５０００ｈ^-1 結果は図３に示されている。

【００３４】初期浄化率に関しては、実施例３と比較例
３との間に差は見られなかった。しかし、熱処理後のＮ
Ｏｘ浄化率に関しては、実施例３のものが比較例３より
も高いという結果となり、特に４５０℃以上の高温域に
おいて実施例のものが倍以上に高い値を示した。以上の
結果から、触媒層の遷移金属担持量を下層に行くに従っ
て単に少なくしただけでは、耐熱性の向上は図れず、遷
移金属を担持していない金属含有シリケートによる下地
層の存在が耐熱性の向上に有効であることがわかる。

【００３５】＜テスト３＞ −実施例４− 本例の触媒構造は図４に示されている。本例の触媒の場
合、担体１及び下地層３は実施例１のものと同じである
が、触媒層は下三層６，７，８が実施例３のものと同じ
であり、その上に実施例１のものと同様のＮａ型ＺＳＭ
−５（ＳｉＯ₂／Ａｌ₂Ｏ₃＝３０）にＣｕをイオン交換
率１４０％でもって担持せしめた最上層９を有する。そ
して、この実施例４の供試材として、触媒担持量を変え
た（上記触媒層の各層の厚さを変えた）ものをそれぞれ
準備した。

【００３６】−比較例４− 比較例４の供試材として、上記実施例４と同じ触媒層構
造を有し且つ下地層のないもの（触媒担持量が各々異な
るもの）を作成した。

【００３７】−浄化テスト− 以上の如くして作成した各触媒供試材につき、次のテス
トモードで初期浄化率（ＮＯｘ分解率）と、熱処理後浄
化率（ＮＯｘ分解率）を測定した。なお、この場合の熱
処理は７００℃×６時間とした。

【００３８】模擬排気ガス組成；ＮＯ：２５００ｐｐｍ，ＨＣ：２５
００ｐｐｍＣ，Ｏ₂：２％，ＣＯ：０．１８％，Ｈ₂：５
００ｐｐｍ空間速度；５５０００ｈ^-1 結果は図５に示されている。

【００３９】初期浄化率に関しては、実施例４と比較例
４との間に差は見られなかった。しかし、熱処理後のＮ
Ｏｘ浄化率に関しては、実施例４のものが比較例４より
も触媒担持量の多少に拘らず高いという結果となった。

【００４０】（テスト４〜テスト８）次に表２に基づいてテスト４〜８について説明する。ま
ず、表２の各欄の記号等の意味は次の通りである。

【００４１】触媒層の構成の欄当欄のコンマを介して横並びに記載した各記号は触媒材
料を表わすものであり、左側に記載のものが上層に位置
し、右側に記載のものが下層に位置することを意味す
る。

【００４２】「Ｃｕ／Ｚ」Ｎａ型ゼオライトＺＳＭ−５にＣｕをイオン交換率１０
０％で担持せしめたもの「Ｈ−Ｃｕ／Ｚ（７０）」Ｈ型ゼオライトＺＳＭ−５にＣｕをイオン交換率７０％
で担持せしめたもの「Ｈ−Ｃｕ／Ｚ（１２０）」Ｈ型ゼオライトＺＳＭ−５にＣｕをイオン交換率１２０
％で担持せしめたもの「同（８０）」Ｈ型ゼオライトＺＳＭ−５にＣｕをイオン交換率８０％
で担持せしめたもの「同（３０）」Ｈ型ゼオライトＺＳＭ−５にＣｕをイオン交換率３０％
で担持せしめたもの触媒担持量の値（ｇ）；担体容積１リットル当たりの触
媒量下地層の欄「Ｈ／Ｚ（７０）」ケイバン比７０のＨ型ゼオライト「Ｈ／Ｚ（１２０）」ケイバン比１２０のＨ型ゼオライト以上の通りである。

【００４３】

【表２】

【００４４】＜テスト４＞触媒層を２層構造とした実施例５，６と比較例５とにつ
き、浄化テストを行なった。その結果、下地層を有する
実施例５は、下地層がない比較例５に比べてＮＯｘ浄化
率が倍以上も高かった。また、実施例６は熱処理温度を
高くしたものであるが、それでも比較例５よりも高いＮ
Ｏｘ浄化率を示した。この結果から、下地層は耐熱性の
向上に寄与することが裏付けられる。

【００４５】＜テスト５＞触媒層を３層構造とした実施例７，８と比較例６とにつ
き、浄化テストを行なった。実施例６と実施例７とを比
較した場合、後者は触媒層が３層構造になっている点
（最下層としてＣｕイオン交換率３０％のＨ型ゼオライ
トを有する点）のみが前者と相違するものであるが、Ｎ
Ｏｘ浄化率は後者、つまり実施例７の方が高いという結
果を示した。これは、実施例７の場合、Ｃｕ量が多い上
層と担体との反応をＣｕ量が少ない最下層が阻止する効
を奏したためと考える。

【００４６】実施例８と比較例６とは下地層の有無で相
違するが、この関係は実施例５と比較例５との関係と同
じであり、そのため、ＮＯｘ浄化率についても同様の差
を生じている。

【００４７】＜テスト６＞触媒層を３層構造とした実施例９と比較例７とにつき、
テストガス組成を実施例８及び比較例６の場合とは変え
て浄化テストを行なった。その結果、ＮＯｘ浄化率の差
については、実施例８及び比較例６の場合と同様の傾向
を示した。従って、排気ガスの組成が変わっても、下地
層は耐熱性に寄与すると言える。

【００４８】＜テスト７＞触媒層を４層構造にした実施例１０につき、浄化テスト
を行なった。この実施例１０は、触媒層の構成が実施例
９と異なるものであるが、ＮＯｘ浄化率は実施例９の場
合よりも高い値を示した。このような結果は、実施例６
と実施例７との間でも同様に見られるものであるが、こ
れらの結果から、触媒層の遷移金属担持量を上層から下
層にいくに従って段階的ないしは連続的に減少せしめる
ことが耐熱性の向上に有効である、と言える。

【００４９】＜テスト８＞触媒層を三層構造として下地層のケイバン比や触媒担持
量を変えた実施例１１〜４及び比較例８につき、浄化テ
ストを行なった。この場合、実施例１１と実施例１２と
は、互いに触媒層の構成を同じとし下地層のケイバン比
を変えたものであるが、下地層のケイバン比が低い実施
例１１の方がＮＯｘ浄化率は高い。従って、下地層のケ
イバン比は７０の方が良いと言える。もちろん、上記実
施例１１及び実施例１２は、下地層のない比較例８より
もＮＯｘ浄化率が高い値を示している。また、実施例１
１，１３，１４を比べると、これらは触媒担持量が互い
に異なるものであるが、触媒担持量が少ないものはやは
りＮＯｘ浄化率も低くなっている。但し、触媒担持量が
最も少ない実施例１４でも、その倍以上の触媒担持量を
有する比較例８よりもＮＯｘ浄化率が高い。これは下地
層の存在によるものである。

【００５０】＜触媒層の金属含有シリケートにおけるＨ
型とＮａ型との比較考察＞Ｎａ⁺量が０．３０ｗｔ％のＣｕイオン交換ゼオライト
（Ｎａ型）とＮａ⁺量が０．００８ｗｔ％のＣｕイオン
交換ゼオライト（Ｈ型）とを準備し、浄化テストに供し
た。上記Ｃｕイオン交換率は１２０％である。

【００５１】上記Ｎａ型の作成にあたっては、水ガラ
ス、硫酸アルミニウム、塩化ナトリウム及び臭化テトラ
プロピルアンモニウム（ＴＰＡＢ）の各所定量を水に溶
解して混合し、ＮａＯＨ水溶液によってｐＨを１０〜１
３に調整した後、オートクレーブを用いた水熱合成によ
りＮａ型ＺＳＭ−５粉末を得た。そして、この粉末を乾
燥、焼成（５５０℃×３時間）した後、その粉末に次の
条件でＣｕイオン交換処理を施してＮａ型を得た。

【００５２】硝酸銅水溶液０．０５モル／ｌ粉末処理量１０ｇ／ｌ水溶液温度５０℃ 保持時間２４時間一方、上記Ｈ型については、上記Ｎａ型ＺＳＭ−５粉末
を０．０５モル／ｌの硝酸アンモニウム水溶液中に入
れ、加熱撹拌（５０℃×５時間）を行なうことにより、
ＮＨ₄型とし、これを乾燥（１２０℃×３時間）した
後、これに上記Ｃｕイオン交換処理を施して得た。上記
硝酸アンモニウム水溶液の濃度は０．００５〜０．１モ
ル／ｌ程度であることが好ましく、Ｎａ⁺の残量は０．
０１ｗｔ％以下とすることが好ましい。

【００５３】浄化テストとしては、初期活性テストと、
熱処理後（６５０℃×６時間）の活性テストとを行なっ
た。各々のテスト条件は、Ａ／Ｆ＝２２、ＳＶ＝２５０
００ｈ^-1である。結果は図６に示されている。

【００５４】Ｎａ型は熱処理後の活性が初期活性に比べ
て大きく低下している（２０〜３０％の低下が見られ
る）のに対し、Ｈ型では熱処理後でも触媒の活性の低下
がほとんど見られない。このことから、触媒層の金属含
有シリケートとしては、Ｎａ型よりもＨ型が耐熱性の点
で良いことがわかる。

【００５５】＜炭素被毒対策について＞排気ガス中にＨＣの分解によって炭素が触媒上に析出
し、これによって遷移金属が被毒されるという問題に対
しては、触媒層に貴金属を微量担持せしめることが好ま
しい。すなわち、Ｃｕイオン交換ゼオライト（Ｎａ型Ｚ
ＳＭ−５）触媒に対し、Ｒｕをイオン交換法によって各
々所定量担持せしめた各供試材につき、次の模擬排気ガ
スを用いて浄化耐久テストを行なった。

【００５６】模擬排気ガス組成；ＮＯ：１０００ｐｐｍ，Ｃ₃Ｈ₆：１
０００ｐｐｍ，Ｏ₂：１０％各供試材のＲｕ担持量（Ｃｕに対する重量％）は表３に
示されている。また、テスト結果（排気ガスの浄化を所
定時間行なった後の浄化テストの結果）は図７に示され
ている。

【００５７】

【表３】

【００５８】図７によれば、Ｒｕ担持量０．０５〜０．
５ｗｔ％の供試材では、高い触媒活性を示している。こ
れはＨＣの分解によって生成する炭素の燃焼がＲｕによ
って促進され、該炭素が除去されるためと認められる。
これに対し、上記範囲よりも少量、多量のいずれにおい
ても触媒活性が低い。少量ではＲｕによる炭素の燃焼除
去効果が十分に得られないためであり、また、多量では
ＨＣの燃焼が進み過ぎて、ＮＯｘの還元性が損なわれる
ためであると認められる。従って、以上の結果から、微
量のＲｕを触媒層に担持せしめることが炭素による被毒
問題の解消として有効であることがわかる。なお、上記
Ｒｕなど貴金属の担持にあたっては、貴金属塩の水溶液
の含浸による方法を採用してもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例１の触媒構造を示す断面図

【図２】実施例３の触媒構造を示す断面図

【図３】テスト２（浄化テスト）の結果を示すグラフ図

【図４】実施例４の触媒構造を示す断面図

【図５】テスト３（浄化テスト）Ｋ結果を示すグラフ図

【図６】Ｎａ型ゼオライトとＨ型ゼオライトとの触媒活
性を比較したグラフ図

【図７】貴金属の担持量が異なる各触媒についての活性
を比較したグラフ図

【符号の説明】

１担体２触媒層３，５下地層

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献特開平５−49933（ＪＰ，Ａ) 特開平１−135540（ＪＰ，Ａ) 特開平４−267951（ＪＰ，Ａ) 特開平２−126941（ＪＰ，Ａ) 触媒，触媒学会，1991年８月10日, Ｖｏｌ．33，Ｎｏ．５，ｐ．320−327 (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) B01D 53/94 B01J 21/00 - 38/74

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】金属含有シリケートにＣｕ、Ｃｏ、Ｃｒ、
Ｎｉ、Ｆｅ及びＭｎのうちから選択された１種又は２種
以上が担持されてなる触媒層がコーディライト製担体上
に設けられている排気ガス浄化用触媒であって、上記触媒層と上記担体との間に、遷移金属を担持してい
ないＨ型の金属含有シリケートによる下地層が設けられ
ていることを特徴とする排気ガス浄化用触媒。
【請求項２】上記触媒層は、Ｃｕがイオン交換によって
担持されてなるゼオライトによって構成され、上記下地
層はＨ型ゼオライトによって構成されている請求項１に
記載の排気ガス浄化用触媒。
【請求項３】上記触媒層及び上記下地層各々の金属含有
シリケートは、Ｈ型ゼオライトである請求項１に記載の
排気ガス浄化用触媒。