JP3325712B2 - 超音波探触子制御方法並びに超音波探触子及び超音波診断装置 - Google Patents

超音波探触子制御方法並びに超音波探触子及び超音波診断装置

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JP3325712B2 JP19556294A JP19556294A JP3325712B2 JP 3325712 B2 JP3325712 B2 JP 3325712B2 JP 19556294 A JP19556294 A JP 19556294A JP 19556294 A JP19556294 A JP 19556294A JP 3325712 B2 JP3325712 B2 JP 3325712B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は超音波診断装置に用いら
れる超音波探触子制御方法並びに超音波探触子及び超音
波診断装置に関し、特に、超音波探触子の部分的な温度
上昇にも対処可能な超音波探触子制御方法並びに部分的
な温度上昇に対処するための制御が可能な超音波探触子
及びこのような制御を行う超音波診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】画像診断装置の一種に、被検体に超音波
パルスを送波してそれに呼応したエコーパルスを受波
し、これら送受波パルスから被検体内部の画像を演算表
示するように構成された超音波診断装置がある。また、
パルスではなく連続波としての超音波を用いた超音波診
断装置もある。
【0003】ところで、このような超音波診断装置にお
いて、例えば、パルスドプラシステムにおける可探限界
を深めるために、送波用振動子から送波される超音波パ
ルスのパワーを大きくする傾向がある。
【0004】ところが、このように送波パワーを大きく
するのに従って超音波探触子の内部損失に由来する発熱
量も増大し、被検体と接触する超音波探触子の表面温度
も上昇することになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の超音波
探触子では、このような発熱に対して特別な配慮はなさ
れておらず、超音波探触子の表面温度が相当高く(例え
ば40℃以上)なることがある。このような超音波探触
子の過熱は、被検体の安全保護上からも好ましくない。
【0006】また、このような超音波探触子の過熱を防
止するために送波用振動子付近に温度センサを設け、温
度制御を行う超音波探触子が用いられることがある。図
4は温度制御を行う超音波探触子を用いた超音波診断装
置の構成を示す構成図である。この図4において、プロ
ーブ(超音波探触子)1は被検体に接するように用いら
れて超音波の送受信を行うもので、超音波の送受信を行
う振動子2,振動子2での超音波送受信の指向性を調整
するレンズ3,振動子2の温度を検出するセンサ4を有
している。
【0007】超音波診断装置10は超音波の送受信を行
って被検体の所望の部位の画像を得るためのもので、全
体を統括的に制御する制御部11,超音波の送波を制御
する送波コントローラ,振動子2に対して超音波信号を
送出する送信部13,センサ4からの検出結果を受けて
温度を検出する温度検出部14とを有している。尚、実
際の超音波診断装置では受信のための回路を有している
が、この説明では省略する。
【0008】このような超音波診断装置では超音波の送
波による振動子2の温度変化をセンサ4が検出し、この
検出結果から温度検出部14が温度信号を生成して送波
コントローラ12に供給する。送波コントローラ12は
温度信号を受けて超音波の送波パワーを調整し、振動子
2が所定の温度以上にならないように制御している。
【0009】このような温度制御を行っている場合、セ
ンサ4は振動子2の中央部分に密着する様に配置されて
いる。従って、実際には振動子2の中央部分の温度を検
出している。通常のBモードスキャンの場合は、振動子
2全体が一様に駆動されるので中央部分の温度検出で平
均的にみれば十分である。
【0010】ところが、送波のモードによっては、振動
子2の一部分を駆動することがある。図5は振動子2の
駆動の様子を示すタイムチャートである。図5(a)は
振動子2とセンサ4との位置関係を示しており、横軸は
振動子2の横幅を示し、中央の斜線部分がセンサ4の位
置を示している。図5(b)以降は振動子2のスキャン
の一例を示しており、ここではスキャン〜スキャン
を示した。ここで斜線部分が実際に送受信で駆動されて
いる振動子であり、全体のうちの特定の部分を使いなが
ら徐々に移動している。
【0011】このような場合、スキャン(図5
(d))以降でセンサ4の位置に近接している。従っ
て、プローブ1の振動子2の温度上昇,過熱状態等を検
出して、温度制御を行うことが可能である。しかし、そ
れ以前(図5(a),(b))ではセンサ4が離れた位
置で振動子2の駆動が行なわれており、温度上昇や過熱
が発生したとしても温度勾配が生じ検出することができ
ない。従って、振動子2の過熱により被検体に悪影響を
与える恐れがある。
【0012】また、振動子2の全体を用いたスキャンで
あっても、振動子2の温度が一様になっているとは限ら
ず、部分的,局所的な過熱が発生する可能性もある。本
発明は上記問題を解決するためになされたもので、第1
の目的は、超音波探触子の表面温度を正確に検出し、そ
の温度を制御することが可能な超音波探触子制御方法を
実現することである。第2の目的は、表面温度の検出,
制御を的確に行うことが可能な超音波探触子を実現する
ことである。第3の目的は、超音波探触子の表面温度を
正確に検出し、その温度を制御することが可能な超音波
診断装置を実現することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決する第
1の手段は、超音波探触子内の超音波振動子の一部分を
選択的に駆動する際の駆動信号を参照し、超音波振動子
の駆動されている部位の温度を検出し、検出された温度
を用いて超音波振動子を駆動する電力を調整して超音波
振動子の温度を制御することを特徴とする超音波探触子
制御方法である。
【0014】前記の課題を解決する第2の手段は、複数
の素子から構成され、それぞれの素子から超音波の送信
を行う超音波振動子と、この超音波振動子上の複数の箇
所の温度を検出する検出手段と、超音波振動子の駆動さ
れている素子に近い部位の検出手段の検出結果を選択的
に通過させる選択スイッチと、を備えたことを特徴とす
る超音波探触子である。
【0015】前記の課題を解決する第3の手段は、複数
の素子から構成され、それぞれの素子から超音波の送信
を行う超音波振動子と、この超音波振動子上であって複
数の箇所に配置され、それぞれの箇所の温度を検出する
センサと、いずれかのセンサの検出結果を選択的に通過
させる選択スイッチと、超音波振動子の一部分を選択的
に駆動する際の駆動信号を受け、超音波振動子の駆動さ
れている素子に近い部位のセンサの検出結果を選択的に
通過させるよう前記選択スイッチを切り替える切り替え
制御部と、を備えたことを特徴とする超音波探触子であ
る。
【0016】前記の課題を解決する第4の手段は、超音
波振動子の駆動されている素子に近い部位の温度検出結
果を選択的に出力可能な超音波探触子と共に用いられ、
超音波探触子から出力された温度検出結果の複数の値か
ら最大値を検出し保持する温度検出部と、温度検出部で
保持された検出結果の最大値を用いて超音波の送波パワ
ーを調整する制御部とを備えたことを特徴とする超音波
診断装置である。
【0017】
【作用】課題を解決する第1の手段である超音波探触子
制御方法では、超音波探触子内の超音波振動子の一部分
を選択的に駆動する際の駆動信号が参照されて、超音波
振動子の駆動されている部位の温度が検出される。そし
て、検出された温度によって超音波振動子を駆動する電
力が調整されて超音波振動子の温度が制御される。
【0018】課題を解決する第2の手段である超音波探
触子では、複数の素子から構成された超音波振動子の駆
動されている素子に近い部位のセンサの検出結果が選択
的に出力される。
【0019】課題を解決する第3の手段である超音波探
触子では、超音波振動子の駆動されている素子に近い部
位のセンサの検出結果を選択的に通過させるよう切り替
え制御部により選択スイッチが切り替えられ、超音波振
動子の駆動されている素子に近い部位のセンサの検出結
果が選択的に出力される。
【0020】課題を解決する第4の手段である超音波診
断装置では、超音波探触子から出力された温度検出結果
の複数の値から最大値が検出され保持される。そして、
保持された温度の最大値によって超音波振動子を駆動す
る電力が調整され、超音波振動子の温度が制御される。
【0021】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図1は本発明の一実施例の超音波探触子及
び超音波診断装置の全体の概略構成を示す構成図、図2
及び図3は本発明の一実施例の超音波探触子制御方法の
手順を示すフローチャートである。
【0022】まず、図1を用いて超音波探触子及びこの
超音波探触子を用いた超音波診断装置の構成を説明す
る。この図1において、プローブ21は被検体に接する
ように用いられて超音波の送受信を行う超音波探触子を
構成するもので、超音波の送受信を行う振動子22,振
動子22での超音波送受信の指向性を調整するレンズ2
3,振動子22の温度を検出する複数の検出手段を構成
するセンサ24(この図1では24a〜24e),セン
サ24a〜24eの検出結果を選択的に通過させる選択
スイッチ25,選択スイッチ25の選択状態を制御する
切り替え制御部26とを有している。
【0023】超音波診断装置30は超音波の送受信を行
って被検体の所望の部位の画像を得るためのもので、全
体を統括的に制御する制御部31,超音波の送波を制御
する送波コントローラ32,振動子22に対して超音波
信号を送出する送信部33,センサ24からの検出結果
を受けて温度を検出する温度検出部34とを有してい
る。尚、温度検出部34は超音波診断装置30内でなく
とも、プローブ21内に存在していても構わない。
【0024】また、実際の超音波診断装置では受信のた
めの回路を備えているが、この実施例の説明では省略す
る。このように構成された本実施例の超音波探触子の動
作及び制御方法は以下の通りである。
【0025】制御部31は所望のスキャンにより超音波
の送波を行うため、送波コントローラ32に対してスキ
ャンのためのスキャン制御信号(若しくは振動子選択信
号)を供給している。これにより、送波コントローラ3
2は送信部33に対して送信制御信号を送出し、送信部
33は振動子22が超音波を送波するための駆動信号を
プローブ21に対して供給する。このような駆動信号を
受けたプローブ21の振動子22は所定のスキャンによ
り超音波を発生する。
【0026】これ同時に制御部31からスキャン制御信
号を受けた切替制御部26はスキャンにより駆動される
振動子22に応じて温度センサ24a〜24eの検出出
力が出力されるように選択スイッチ25を切り替えるた
めの切り替え制御信号を発生する(図2ステップ)。
【0027】この切り替え制御信号により選択スイッチ
25は切り替えられ(図2ステップ)、スキャンによ
り駆動される振動子22に応じて温度センサ24a〜2
4eの検出出力が温度検出部34に対して出力される。
例えば、振動子22の全体が一様にスキャンで用いられ
ている場合には、そのスキャンに合わせて選択スイッチ
25を切り替えるようにする。また、一部の範囲(部
位)の振動子22が用いられて送波が行なわれる場合に
は、その送波が行なわれる範囲の振動子22の検出出力
を選択するように切り替えを行う。
【0028】また、この図1では振動子22は1組であ
るが、複数組の振動子を1プローブ内に有する場合は、
振動子選択信号等を用いて複数組の振動子にそれぞれ取
り付けられた温度センサの出力を選択的に用いるように
すれば良い。
【0029】温度検出部34は温度センサからの検出出
力を用いて振動子22の各部の温度データを生成して温
度制御を行う(図2ステップ)。図3は温度制御の処
理の一例を示すフローチャートである。まず、選択スイ
ッチ25を通過した温度センサからの検出出力を用いて
温度データを生成する(図3ステップ)。そして、こ
の温度データを前回(選択スイッチ25の切り替え状態
が現在と異なる直前の切り替え状態にあった時点)の温
度データと比較し(図3ステップ)、いずれか大きい
データを温度検出部34内のレジスタ等(図示せず)に
セットする(図3ステップ,ステップ)。この比較
は予め定めた一定期間若しくは振動子22の全素子毎に
クリアし、その範囲内で最大値を求めるようにして行
う。従って、振動子22の各素子の最高温度データがセ
ットされる。
【0030】そして、温度検出部34はこのセットされ
た温度データを各部に供給する(図3ステップ)。例
えば、温度検出部34は制御部31に温度データを供給
し、必要に応じて制御部31がこの温度データを表示部
等に表示する。また、温度検出部34はセットされた温
度データを送波コントローラ32に供給し、後述するよ
うに送波コントローラ32は温度データを参照して送波
パワーを増減させる等の送波制御を実行する。
【0031】このような温度検出部34による温度検出
により得られた温度データを用いて、送波コントローラ
32は超音波の送波パワーを調整(増減)する等により
振動子22の温度が所定の温度になるような制御(温度
制御)を行う(図2ステップ)。
【0032】以上説明したように、振動子22に対して
複数の温度センサを用意し、実際に送波に用いられる部
位の温度データを用いて送波パワーの制御が可能になる
ために、振動子の部分的,局所的な温度の変化であって
も正確な検出ができる。従って、被検体に対しても振動
子の温度上昇による悪影響を及ぼすことがなくなる。
【0033】すなわち、超音波探触子内の超音波振動子
の一部分を選択的に駆動する際の駆動信号を参照し、超
音波振動子の駆動されている部位の温度を検出し、検出
された温度を用いて超音波振動子を駆動する電力を調整
して超音波振動子の温度を制御することを特徴とする超
音波探触子制御方法によれば、超音波探触子内の超音波
振動子の一部分を選択的に駆動する際の駆動信号が参照
されて、超音波振動子の駆動されている部位の温度が検
出される。そして、検出された温度によって超音波振動
子を駆動する電力が調整されて超音波振動子の温度が制
御される。従って、超音波探触子の表面温度を正確に検
出し、その温度を制御することが可能な超音波探触子制
御方法が実現される。
【0034】また、複数の素子から構成され、それぞれ
の素子から超音波の送信を行う超音波振動子と、この超
音波振動子上の複数の箇所の温度を検出するセンサと、
超音波振動子の駆動されている素子に近い部位のセンサ
の検出結果を選択的に通過させる選択スイッチと、を備
えたことを特徴とする超音波探触子によれば、複数の素
子から構成された超音波振動子の駆動されている素子に
近い部位のセンサの検出結果が選択的に出力される。こ
の出力された検出結果によって温度制御されることで超
音波振動子の温度が的確に制御される。従って、表面温
度の検出,制御を的確に行うことが可能な超音波探触子
が実現される。
【0035】そして、複数の素子から構成され、それぞ
れの素子から超音波の送信を行う超音波振動子と、この
超音波振動子上であって複数の箇所に配置され、それぞ
れの箇所の温度を検出するセンサと、いずれかのセンサ
の検出結果を選択的に通過させる選択スイッチと、超音
波振動子の一部分を選択的に駆動する際の駆動信号を受
け、超音波振動子の駆動されている素子に近い部位のセ
ンサの検出結果を選択的に通過させるよう前記選択スイ
ッチを切り替える切り替え制御部と、を備えたことを特
徴とする超音波探触子によれば、超音波振動子の駆動さ
れている素子に近い部位のセンサの検出結果を選択的に
通過させるよう切り替え制御部により選択スイッチが切
り替えられ、超音波振動子の駆動されている素子に近い
部位のセンサの検出結果が選択的に出力される。従っ
て、選択的に出力される検出結果によって温度制御され
ることで超音波振動子の温度が的確に制御される。従っ
て、表面温度の検出,制御を的確に行うことが可能な超
音波探触子が実現される。
【0036】更に、超音波振動子の駆動されている素子
に近い部位の温度検出結果を選択的に出力可能な超音波
探触子と共に用いられ、超音波探触子から出力された温
度検出結果の複数の値から最大値を検出し保持する温度
検出部と、温度検出部で保持された検出結果の最大値を
用いて超音波の送波パワーを調整する制御部とを備えた
ことをことを特徴とする超音波診断装置によれば、超音
波探触子から出力された温度検出結果の複数の値から最
大値が検出され保持される。そして、保持された温度の
最大値によって超音波振動子を駆動する電力が調整さ
れ、超音波振動子の温度が制御される。従って、超音波
探触子の表面温度を正確に検出し、その温度を制御する
ことが可能な超音波診断装置が実現できる。
【0037】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明の超音
波探触子制御方法では、超音波探触子内の超音波振動子
の一部分を選択的に駆動する際に、超音波振動子の駆動
されている部位の温度を検出し、検出された温度を用い
て超音波振動子を駆動する電力を調整するようにしてい
るので、超音波探触子の表面温度を正確に検出し、その
温度を制御することが可能になる。
【0038】また、本発明の超音波探触子では、超音波
振動子上の複数の箇所の温度を検出し、超音波振動子の
駆動されている素子に近い部位の検出結果を選択的に通
過させているようにしているので、表面温度の検出,制
御を的確に行うことが可能になる。
【0039】また、本発明の超音波探触子では、超音波
振動子上の複数の箇所にセンサを配置し、いずれかのセ
ンサの検出結果を超音波振動子の一部分を選択的に駆動
する際の駆動信号を参照して選択的に通過させるように
しているので、表面温度の検出,制御を的確に行うこと
が可能な超音波探触子を実現できる。
【0040】そして、本発明の超音波診断装置では、超
音波探触子から選択的に出力される温度データの最大値
を検出し保持して超音波振動子の駆動電力を調整するよ
うにしているので、超音波探触子の表面温度を正確に検
出し、その温度を制御することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の装置の構成を示す構成図で
ある。
【図2】本発明の一実施例の制御方法のフローチャート
である。
【図3】本発明の一実施例の制御方法の要部の一例を示
すフローチャートである。
【図4】従来の装置の一例を示す構成図である。
【図5】従来の装置における処理タイミングの一例を示
すタイムチャートである。
【符号の説明】
21 プローブ 22 振動子 23 レンズ 24a〜24e センサ 25 選択スイッチ 26 切替制御部 30 超音波診断装置 31 制御部 32 送波コントローラ 33 送信部 34 温度検出部

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 超音波振動子上の複数の箇所の温度を検
    出する検出手段を備えており、超音波探触子内の超音波
    振動子の一部分を選択的に駆動する際に、前記検出手段
    を用いて超音波振動子の駆動されている部位に近い箇所
    の温度を選択して検出し、 検出された温度を用いて超音波振動子を駆動する電力を
    調整して超音波振動子の温度を制御することを特徴とす
    る超音波振動子制御方法。
  2. 【請求項2】 複数の素子から構成され、それぞれの素
    子から超音波の送信を行う超音波振動子と、 この超音波振動子上の複数の箇所の温度を検出する検出
    手段と、 超音波振動子の駆動されている素子に近い部位の検出手
    段の検出結果を選択的に通過させる選択スイッチと、 を備えたことを特徴とする超音波探触子。
  3. 【請求項3】 複数の素子から構成され、それぞれの素
    子から超音波の送信を行う超音波振動子と、 この超音波振動子上であって複数の箇所に配置され、そ
    れぞれの箇所の温度を検出するセンサと、 いずれかのセンサの検出結果を選択的に通過させる選択
    スイッチと、 超音波振動子の一部分を選択的に駆動する際の駆動信号
    を受け、超音波振動子の駆動されている素子に近い部位
    のセンサの検出結果を選択的に通過させるよう前記選択
    スイッチを切り替える切り替え制御部と、 を備えたことを特徴とする超音波探触子。
  4. 【請求項4】 超音波振動子の駆動されている素子に近
    い部位の温度検出結果を選択的に出力可能な超音波探触
    子と共に用いられ、 超音波探触子から出力された温度検出結果の複数の値か
    ら最大値を検出し保持する温度検出部と、 温度検出部で保持された検出結果の最大値を用いて超音
    波の送波パワーを調整する制御部とを備えたことを特徴
    とする超音波診断装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9168019B2 (en) 2009-06-24 2015-10-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Ultrasonic diagnostic device

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4860844B2 (ja) * 2001-08-10 2012-01-25 日立アロカメディカル株式会社 超音波診断装置
JP4558354B2 (ja) * 2004-03-12 2010-10-06 パナソニック株式会社 超音波診断装置
JP5099681B2 (ja) * 2007-06-29 2012-12-19 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 超音波探触子、超音波診断装置および超音波探触子の表面温度推定方法
JP5895659B2 (ja) * 2012-03-30 2016-03-30 セイコーエプソン株式会社 超音波測定装置、電子機器及び診断装置
WO2014061806A1 (ja) 2012-10-19 2014-04-24 株式会社東芝 超音波診断装置及び超音波探触子
CN104414681A (zh) * 2013-09-10 2015-03-18 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 超声连续波多普勒成像系统
JP7187350B2 (ja) * 2019-02-26 2022-12-12 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 超音波プローブ及び超音波診断装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9168019B2 (en) 2009-06-24 2015-10-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Ultrasonic diagnostic device

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