JP3324009B2 - 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置 - Google Patents

回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置

Info

Publication number
JP3324009B2
JP3324009B2 JP17205393A JP17205393A JP3324009B2 JP 3324009 B2 JP3324009 B2 JP 3324009B2 JP 17205393 A JP17205393 A JP 17205393A JP 17205393 A JP17205393 A JP 17205393A JP 3324009 B2 JP3324009 B2 JP 3324009B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
unit
film
unnecessary film
unnecessary
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP17205393A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07135153A (ja
Inventor
三上豪一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP17205393A priority Critical patent/JP3324009B2/ja
Publication of JPH07135153A publication Critical patent/JPH07135153A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3324009B2 publication Critical patent/JP3324009B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,回転塗布によって形成
された膜の不要部分の除去をおこなうための装置に関す
るもので、LSI、超LSIなどの製造に用いられるフ
オトマスク用基板、フオトマスクやLCD基板等に対す
る塗布に係り、特に微細なパターンを高密度に形成する
際に用いられる位相シフトフオトマスク基板、位相シフ
トフオトマスクのSOGの塗布膜の不要膜除去に有効な
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、LSI、超LSIなどの製造
に用いられるフオトマスク用基板、フオトマスク、LC
D基板にたいする塗布膜においては、特に微細なパター
ンを高密度に形成する際に用いられる位相シフトフオト
マスク基板、位相シフトフオトマスクの塗布膜において
は、回転塗布によって形成された塗布膜は、基板が四角
形状のため、基板の周辺部や四辺端部で基板中央部に較
べ塗布膜厚が厚くなり、これらの厚膜化された部分は、
基板周辺部であるため、搬送、プロセス処理において部
分的に破壊され破片が飛散することがあり、その破片が
欠陥の一因となっていることが知られている。位相シフ
トフオトマスク作製におけるSOG膜の塗布の場合にお
いては、厚膜化された領域では、膜自身の応力で、膜自
身が破壊してしまい、基板外周部で生じた亀裂が基板の
中央部まで伸びることもあり、破壊により発生した破片
がその後のプロセス処理等で欠陥の一因となっているこ
とが知られている。特に、位相シフトフオトマスク作製
におけるSOG膜の場合には膜厚制御面でも公差±10
nm程度必要と、フオトレジストと比較すると精度が1
桁程度厳しいもので、できるだけ除去処理部からの影響
がでないことが必要とされているが、通常の溶剤、もし
くはエッチング液浸漬による除去法では、基板外周部の
処理部からの影響がでて膜厚に変化が生じてしまうた
め、厚膜化された部分を除去処理部以外の領域へ影響し
ないよう除去することが求められていた。この基板の厚
膜部を溶剤により浸漬して除去する方法は、四角形の基
板の場合、基板の各辺毎に溶剤に浸漬する必要があり、
浸漬後に浸漬部の洗浄乾燥工程も必要で、手間も時間も
かかるものであり、基板が四角形状であることの特殊性
もあり、回転しながら膜を除去する溶剤をかけることも
できず、人手の要らない、自動処理の装置としてはよい
ものがなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、位相シフト
マフクブランクスや位相シフトマスクで用いられるSO
Gのような高精度薄膜において、後続する工程で悪影響
をもたらす、回転塗布によって形成された膜の不要部分
を、自動的に、短時間に、不要膜部以外に影響を与える
ことなく除去できる装置を提供使用とするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような状
況のもと、回転塗布によって形成された膜の不要部分の
除去を自動的に、短時間に、不要膜部以外に影響を与え
ることなく除去できる装置を提供するものであり、本発
明の装置は、図1に記載のように、少なくとも、処理さ
れる塗布基板2を保持する基板保持部3と、基板保持部
3をX、Y、Z駆動するXYZ駆動部9と、基板保持部
3とXYZ駆動部9とを搬送する搬送部5と、不要膜を
除去するための除去治具4と、上記の基板保持部3、X
YZ駆動部9、搬送部5、除去治具4とを位置センサー
等で関連づけて制御する制御部6とからなるものであ
り、本発明の基板保持部3は処理される塗布基板2を基
板端で(四角基板の場合は基板の四隅にて)ヴァキュー
ムチャックにより保持し、XYZ駆動部9と一体で、搬
送部5により直線搬送され、不要膜を除去するための除
去治具4が位置する所定の位置まで移動されるものであ
る。処理用基板2は第一のカセット7にセットされ、基
板保持部3にローデイングされて、XYZ駆動部9と一
体で、搬送部5により膜を除去すべき所定の位置(除去
治具位置)へ直線搬送され、不要膜部を除去された後、
処理済みの基板を収納する第二のカセット8があるアン
ローデイング部まで直線搬送される。
【0005】本発明の装置の基板の不要膜部を除去する
ための治具は、図2、図3に記載のような処理される塗
布基板の外周の処理部の一部を覆い不要膜除去処理をお
こなう除去ヘッド部を有するもので、その除去ヘッド部
は、位置センサーにより位置管理されながら、ヘッド駆
動部により、塗布基板の辺に沿い移動させられ、不要膜
を処理基板2を静止した状態で除去するものである。不
要膜除去の基本原理は、図7の、溶剤供給ライン部16
, を減圧ライン部15, の空間内に設けてなる減圧ライ
ン端部(吸引口)15a, を基板2の厚膜化部14,
対して接近させ、減圧ライン部15, を減圧して溶剤供
給ライン部16, より溶剤を作用させて厚膜化部14,
を溶解し、溶解された厚膜化部14, を減圧ライン部1
, で吸引する方式と同じである。(以下、不要膜部を
溶剤分により溶解させ、減圧して除去する方式と言
う。)
【0006】本発明の図2、図3に記載の不要膜部を除
去するための治具は、上記の不要膜部を溶剤分により溶
解させ、減圧して除去する方式のもので、図3の場合に
は、除去ヘッド4aに、ドライポンプ10で減圧されて
溶解用溶液12が供給され、減圧ライン端部15aで不
要膜の溶解がおこなわれ、溶解された不要膜は、ドライ
ポンプ10で減圧吸引され、減圧ライン部15を通し、
溶解溶液トラップ部11へ除去される。溶剤供給ライン
部16を減圧ライン15の空間内に設けてなる減圧ライ
ン端部(吸引口)15aを基板2の厚膜化部14に対し
て接近させ、減圧ライン15を減圧して溶剤供給ライン
16により溶剤を作用させて厚膜化部14を溶解し、溶
解された厚膜化部14を減圧ライン15で吸引する。本
発明は、この不要膜除去治具部4について、そのヘッド
部を、位置センサーにより位置管理しながら、ヘッド駆
動部により、塗布基板の辺に沿い移動させ、不要膜を除
去するものであり、処理基板2を静止した状態で除去し
てしまうものである。そのヘッドの形状も、辺方向の移
動にあわせ、辺に対抗して、接することができるよう図
2、図3に記載のようになっている。図3において、真
空排気部17の排気はハネ防止のための排気部で、減圧
端部を処理される基板の外周の処理部内側に設けてあ
る。
【0007】そして、本発明の装置は、処理の自動化の
ため、上記の構成に加え、処理基板のための基板を用意
して収納しておく第一のカセット部7と、カセット部か
ら基板保持部へ該基板をセットするための基板ローデイ
ング部と、不要膜を除去した後に、処理済み基板を収納
する第二カセット部8と基板保持部3から第二カセット
部8へ基板をアンロードするアンロード部とを設けてい
る。この基板ローデイング部と、アンロード部について
は、従来より、フオトマスク処理、ウエハ処理等で行わ
れている方式で、基板を複数枚収納したカセット下にヴ
ァキュームチャック基板保持部を位置させ、カセットを
上下させ、所定の位置にてヴァキュームチャック基板保
持部へ基板をローデイング、または、所定の位置にてヴ
ァキュームチャック基板保持部からカセットにアンロー
デイングさせるものでよい。
【0008】
【作用】本発明の装置においては、 (1)基板の不要膜部を除去するための治具が、処理さ
れる塗布基板の外周の処理部の一部覆う、除去ヘッド
と、溶液トラップがドライポンプを介して配管された溶
剤供給配管部と、真空排気部と、除去された不要部の溶
解溶液のトラップ部とからなり、その除去ヘット部は、
ヘッド駆動部により移動させ、処理基板〜を静止した状
態で除去してしまうものであり、その除去は正確に確実
にでき、基板の膜除去部以外の領域への影響のないもの
としている。そして、ヘッド数を増やせば、4辺同時除
去も可能で、処理時間を短かくできる。又、搬送系を短
かくすることができ、装置のコンパクト化が可能として
いる。 (2)又、処理基板は、ヴァキュームチャック基板保持
部により保持され、基板保持部は、X、Y、Z駆動でき
るため、基板に対する位置管理、除去治具に対する位置
管理、基板のロード、アンロードに対する位置管理が有
効にできる。 (3)又、基板保持部、XYZ駆動部が一体となって搬
送部により、直線搬送されるだけで、基板のローデイン
グ位置、除去すべき所定の位置(除去治具位置)、アン
ロード位置へ移動でき、装置自体が簡単でコンパクトな
ものとなりえる。等の作用を奏するものである。
【0009】
【実施例1】本発明の実施例を以下、図5にそって説明
する。図5は本発明の装置の実施例のイメージ図で図1
の装置を上側からみたもので、装置機能の概略を図示し
たものであり、本装置により、位相シフトフオトマスク
用の基板にシフターとしてのSOG膜を塗布、乾燥した
基板の場合の不要膜の除去をおこなった。図5におい
て、SOG膜塗布処理基板2をテフロンからなる第一カ
セット7にセットし、基板保持部3をローデングの所定
の位置に合わせ、ローダー部より基板2を基板保持部3
の所定位置に搭載した。処理基板2を搭載した基板保持
部3は、搬送部により直線搬送され、除去治具のある処
理位置に移動した後、除去ヘッド4aを処理基板2の外
周の不要膜に対抗接するように、位置センサーにより制
御し、所定の位置にセットし、た状態で、減圧ライン部
(吸引口)を減圧した状態で、溶剤供給ラインにより溶
剤を不要膜に作用させて不要な厚膜化部を溶解し、溶解
された厚膜化部を減圧ラインで吸引しながら、除去ヘッ
ド部を位置センサーの位置管理し、除去すべき基板の辺
に沿いヘッド駆動部(モータ)により移動させ、四角基
板の対抗する2辺の除去を行った。次いで、この基板を
回転部へ移動し90°回転した後、未だ除去されていな
い対抗する2辺の不要膜除去を同じようにして行った。
基板の4辺の不要膜除去後、処理基板2をアンロード位
置迄移動し、所定の位置にセットした後、基板を第二の
カセットへ収納した。尚、基板、基板保持部、除去治
具、搬送部、カセットのローデイング部、アンローデイ
ング部の制御はセンサー等により関連づけて制御部で行
っているものである。処理の結果としては、処理基板2
の外端部全周わたり、極めてきれいに除去されており、
処理基板2の不要膜以外の領域への影響もみられず、品
質的には良好であった。位相シフトマスクを作製した後
においてもSOG部に亀裂はみられず良好であった。
又、時間的にも数十秒で1枚の基板の処理が可能で、短
時間処理ができた。カセットへの処理基板の数を増すこ
とによりカセット収納枚数の連続処理は可能であり、カ
セット毎の取替を考慮した場合には、他のプロセスとの
インラインでの連続処理も可能となる。本実施例で用い
た、除去治具のヘッド部詳細は、図4に記載のようなも
のであり、ヘッド部は位置センサーでその位置管理され
ながら、ヘッド駆動部により、処理基板の辺方向に移動
させられるものである。これにより、基板外周全位置で
の膜除去を確実にするものにしている。尚、ここでの減
圧は大気−600mmHg程度で、ヘッドは約1mm以
下程度にわずかに浮いた状態で基板と接しながら、使用
するのが好ましかった。
【0010】
【発明の効果】上記のような構成にすることにより、 (1)本発明の装置よれば、従来の手間も時間もかか
り、品質面でも安定的でない浸漬法と異なり、自動化さ
れた除去が可能で品質的にも安定したものとなる。 (2)又、本発明の膜除去装置は、その除去ヘッドを数
ケ同時に使用することにより、短時間処理も可能とな
り、搬送系も短かくでき装置全体をコンパク化できるも
のである。 (3)又、本発明の装置は、基板保持部と基板保持部を
X、Y、Z駆動するXYZ駆動部とが一体となってお
り、基板のローデイング、アンローデイング、除去処理
の位置決め等がスムーズにおこなわれるものとなる。等
の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の装置の実施例を示す図
【図2】本発明装置での不要膜除去治具ヘッド部の拡大
【図3】本発明装置の不要膜除去治具概要及び除去ヘッ
ド断面図
【図4】本発明装置の不要膜除去治具ヘッド部の位置セ
ンサー及び駆動部図
【図5】本発明の装置のイメージ図
【図6】本実施例の処理時おける、基板保持部、駆動
部、搬送部を示す拡大図
【図7】本発明の装置の不要膜除去治具の原理を説明す
るための図
【符号の説明】
1 不要膜除去装置 2 未処理基板 2, 処理基板 3 基板保持部 3, ヴァキュームチャック部 4 除去治具 4a 除去治具の除去ヘッド 4b 除去治具の除去ヘッド支持部 5 搬送部 6 制御部(パネル) 7 第一カセット 8 第二カセット 9 XYZ駆動部 10 ドライポンプ 11 溶解溶液トラップ部 12 溶解用溶液 13 平坦部 14 14, 厚膜化部 15 15, 減圧ライン部 15a 15a, 減圧ライン部端部(吸引口) 16 16, 溶剤供給ライン部 16a 16a, 溶剤供給ライン端部 17 真空排気 18 表面位置センサー(高さ方向位置セ
ンサー) 19 基板端部位置センサー 20 ヘット駆動部(モータ) 21 基板回転部
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/304 643 H01L 21/30 577 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027 B05C 9/12 B05C 13/02 G03F 1/08 G03F 7/16 H01L 21/304

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転塗布により塗布した基板の周辺部の
    不要膜を除去する処理を行う装置であって、少なくと
    も、処理される塗布基板を保持する基板保持部と、基板
    保持部をX、Y、Z駆動するXYZ駆動部と、基板保持
    部とXYZ駆動部とを搬送する搬送部と、不要膜を除去
    するための除去治具と、上記の基板保持部、XYZ駆動
    部、搬送部、除去治具とを位置センサー等で関連づけて
    制御する制御部とからなり、基板保持部は処理される塗
    布基板を基板端の四隅にてヴァキュームチャックにより
    保持し、XYZ駆動部と一体で、搬送部により直線搬送
    され、不要膜を除去するための除去治具が位置する所定
    の位置まで移動されるものであり、該不要膜を除去する
    ための除去治具は、不要膜部を溶剤分により溶解させ、
    減圧して除去する方式のもので、処理される塗布基板の
    外周の処理部の一部を覆い処理をおこなう除去ヘッド部
    を有し、除去ヘッド部は、その、不要膜を溶剤分により
    溶解させ、減圧して除去するための吸引口である、溶剤
    供給ライン部を減圧ライン部の空間内に設けてなる減圧
    ライン端部(吸引口)を基板の厚膜化部に対して接近さ
    せ、処理される塗布基板の基板内側にのみ配するもので
    あり、位置センサーにより位置管理されながら、ヘッド
    駆動部により塗布基板の辺に沿い移動し、不要膜を除去
    するものであることを特徴とする不要膜除去装置。
  2. 【請求項2】 請求項1の不要膜を除去するための除去
    治具において、除去ヘッドが、溶剤分のハネ防止用の、
    排気手段を介して減圧される、減圧端部を、処理される
    塗布基板の外周の処理部の基板内側に設けたことを特徴
    とする不要膜除去装置。
  3. 【請求項3】 請求項1ないし2において、処理される
    基板の膜材質がSOG膜であることを特徴とする不要膜
    除去装置。
JP17205393A 1993-06-21 1993-06-21 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置 Expired - Lifetime JP3324009B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17205393A JP3324009B2 (ja) 1993-06-21 1993-06-21 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17205393A JP3324009B2 (ja) 1993-06-21 1993-06-21 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07135153A JPH07135153A (ja) 1995-05-23
JP3324009B2 true JP3324009B2 (ja) 2002-09-17

Family

ID=15934665

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17205393A Expired - Lifetime JP3324009B2 (ja) 1993-06-21 1993-06-21 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3324009B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100398601B1 (ko) * 2001-07-07 2003-09-26 주식회사 이강테크 복층유리용 간봉 접착액 도포장치
KR20080083400A (ko) * 2007-03-12 2008-09-18 김태우 휴대폰 케이스용 지그 자동수거 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07135153A (ja) 1995-05-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4447325B2 (ja) 半導体ウェーハの分割方法
JP3455458B2 (ja) 塗布、現像装置及び塗布現像処理における基板再生システム
JP2919925B2 (ja) 処理装置
TWI386976B (zh) 塗布顯影裝置及塗布顯影裝置之操作方法與記憶媒體
JP2000235949A (ja) 塗布現像処理装置及び塗布現像処理方法
JP3232575B2 (ja) 半導体処理装置
JP3324009B2 (ja) 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置
JP3324008B2 (ja) 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置
JP3324006B2 (ja) 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置
JP3948930B2 (ja) 薄膜形成装置および薄膜形成方法
JP3353119B2 (ja) 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置
JPH0557736B2 (ja)
JP2001230185A (ja) 現像処理方法及び現像処理装置
JP3324011B2 (ja) 回転塗布によって形成された塗布基板の不要膜除去装置
JP2001005191A (ja) 現像処理方法および現像処理装置
JPH07171478A (ja) 基板処理装置
JP3322630B2 (ja) 回転処理装置
TWI833460B (zh) 基板處理裝置及基板處理方法
JP2002151404A (ja) 周縁除去装置及び処理装置
JPH07235581A (ja) 処理装置及び搬送方法
JP2001332606A (ja) 半導体装置の製造装置および製造方法
JP2001319870A (ja) 液処理方法
JPH01227451A (ja) 処理装置
JP3884170B2 (ja) 基板処理装置
JPH06302585A (ja) 基板ウェット処理方法および装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020514

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080705

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090705

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090705

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100705

Year of fee payment: 8