JP3318268B2 - 検査装置用受けピン及び受けピンを備えた検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板検査等に
用いる検査装置における接触ピンの基端部に対して接触
させるための検査装置用受けピン及び該受けピンを備え
た検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図２には、回路基板検査等に用いる検査
装置（テストヘッド）の一般的な構成が示されている。
図２において、検査装置は、被検査物Ａに対して接触さ
せるための先端部１ａを有する接触ピン（プローブ）１
と、この接触ピン１の基端部１ｂに対して接触させるた
めの受けピン３’とを備えている。この受けピン３’
は、接触ピン１と所定の検査手段（図示せず）との間を
電気的に接続するためのものである。なお、検査装置
は、これらの受けピン３’及び接触ピン１を保持すると
共に、被検査物Ａに対して相対的に離接可能となったブ
ロック部４を備えている。

【０００３】図３に示すように、上記接触ピン１の先端
部１ａおよび基端部１ｂは、共に円錐形状をなしてい
る。また、接触ピン１は、その先端部１ａおよび基端部
１ｂを含む一対のプランジャー１１,１２が、内蔵した
コイルばね１５によって互いに反対方向に弾発された構
造を有している。

【０００４】また、図４に示す従来の受けピン３’は、
金属チューブ５’を備え、この金属チューブ５’の基端
部５ａ側にはワイヤ６が挿入固着され、同じく先端部５
ｃには金メッキ済みの端子部材７が挿入固着されてい
る。そして、この受けピンワイヤ３’における端子部材
７の平らな先端面に対して、接触ピン１の基端部１ｂの
尖端が弾性的に点接触するようになっている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
受けピンを備えた検査装置には、以下のような問題点が
ある。すなわち、上記受けピン３’は、金属チューブ
５’に対してワイヤ６の他に端子部材７が挿入固着され
た構造を有しているので、電気的かつ機械的な接続部分
が比較的多くなっている。このため、受けピン３’にお
ける通電性能が安定しにくいという問題がある。

【０００６】一方、このような受けピン３’における通
電性能を安定させるために、特に金属チューブ５’と端
子部材７との接続部に、カシメ等による固着手段に加え
てレーザー溶接を行うことも行われている。しかし、一
般に金属チューブ５’と端子部材７の材質が、それぞれ
洋銀と黄銅であるため、安定したレーザー溶接が困難で
ある。

【０００７】本発明は、このような点を考慮してなされ
たものであり、受けピンにおける電気的かつ機械的な接
続部分を減らし、受けピンの通電性能をより安定させる
ことができるような、検査装置用受けピン及び受けピン
を備えた検査装置検査装を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】第１の手段は、検査装置
における接触ピンの基端部に対して接触させるための検
査装置用受けピンであって、前記接触ピンの基端部に対
応した先端部を有する金属チューブと、この金属チュー
ブの基端部側に挿入固着されたワイヤとを備え、前記金
属チューブの先端部は、前記接触ピンの基端部を受け入
れて当該基端部の外周面を内周に接触させる開口を有し
た先細形状をなすことを特徴とする検査装置用受けピン
である。

【０００９】この第１の手段によれば、金属チューブの
先端部開口に接触ピンの基端部が受け入れられる形で、
接触ピンの基端部と金属チューブとの直接的な接触がな
される。従って、金属チューブの先端部側に端子部材を
挿着する場合に比べ、受けピンにおける電気的かつ機械
的な接続部分を減らすことができる。

【００１０】第２の手段は、第１の手段において、前記
金属チューブを、地金金属層の内面に金の被覆層を形成
したクラッドチューブとしたものである。

【００１１】第３の手段は、被検査物に対して接触させ
るための先端部と、横断面が円形の先細形状をなした基
端部とを有する接触ピンと、この接触ピンの基端部に対
して接触させるための受けピンと、これらの受けピン及
び接触ピンを保持すると共に、被検査物に対して相対的
に離接可能となったブロック部とを備え、前記受けピン
は、前記接触ピンの基端部に対応した先端部を有する金
属チューブと、この金属チューブの基端部側に挿入固着
されたワイヤとを含み、前記金属チューブの先端部は、
前記接触ピンの基端部を受け入れて当該基端部の外周面
を内周に線接触させる円形開口を有した先細形状をなす
ことを特徴とする検査装置である。

【００１２】この第３の手段によれば、受けピンを構成
する金属チューブの先端部開口に接触ピンの基端部が受
け入れられる形で、接触ピンの基端部と受けピンの金属
チューブとの直接的な接触がなされる。従って、金属チ
ューブの先端部側に端子部材を挿着する場合に比べ、受
けピンにおける電気的かつ機械的な接続部分を減らすこ
とができる。

【００１３】また、受けピンを構成する金属チューブの
先端部開口と接触ピンの基端部とが、円周状に線接触す
るので、従来の点接触の場合に比べて、受けピンと接触
ピンとの接触部分の摩耗を低減させると共に、該接触部
分における通電性能をより安定させることができる。

【００１４】

【発明の実施の形態】次に、図面を参照して本発明の一
実施形態について説明する。図１は本発明による受けピ
ンを備えた検査装置の実施の形態を示す図である。な
お、図１に示す本発明の実施の形態において、図２及び
図３に示す一般的な検査装置と同一の構成部分には同一
符号を付すと共に、適宜、図２及び図３を参照して説明
する。

【００１５】まず、図２において検査装置は、被検査物
Ａに対して接触させるための先端部１ａを有する接触ピ
ン（プローブ）１と、この接触ピン１の基端部１ｂに対
して接触させるための受けピン３とを備えている。この
受けピン３は、接触ピン１と所定の検査手段（図示せ
ず）との間を電気的に接続するためのものである。

【００１６】また、検査装置は、これらの受けピン３及
び接触ピン１を保持すると共に、被検査物Ａに対して相
対的に離接可能となったブロック部４を備えている。こ
の場合、ブロック部４は、接触ピン先端板４０、接触ピ
ン中間板４１、スペーサ４２及び接触ピン後端板４３を
順次積層締結してなる接触ピンブロック部４Ａと、受け
ピン先端板４４、スペーサ４５及び受けピン後端板４６
を順次積層締結してなる受けピンブロック部４Ｂとから
なっている。

【００１７】次に、図３に示すように、上記接触ピン１
の先端部１ａおよび基端部１ｂは、共に円錐形状をなし
ている。また、接触ピン１は、管状本体１０と、この管
状本体１０の両端部１０ａ,１０ｂにそれぞれ軸線方向
へ摺動自在に取付けられた一対のプランジャー１１,１
２とを有している。そして、これらのプランジャー１１
および１２の先端側に、それぞれ上記先端部１ａおよび
基端部１ｂが形成されている。また、接触ピン１の管状
本体１０内には、一対のプランジャー１１,１２同士を
互いに反対方向に弾発するためのコイルばね１５が設け
られている。

【００１８】次に、図１(ａ)に示すように、本実施形態
の受けピン３は、接触ピン１の基端部１ｂに対応した先
端部５ｂを有する金属チューブ５を備えている。この金
属チューブ５の基端部５ａ側にはワイヤ６が挿入され、
カシメ等によって金属チューブ５に固着されている。

【００１９】また、図１（ｂ）に示すように、金属チュ
ーブ５の先端部５ｂは、接触ピン１の基端部１ｂを受け
入れられる大きさの円形開口５４を有した先細（絞り）
形状をなしている。そして、金属チューブ５の先端部開
口５４の内周に対して、接触ピン基端部１ｂの外周面が
弾性的に当接するようになっている。

【００２０】この場合、金属チューブ５を、洋銀などの
地金金属層５０の内面に金の被覆層５２を形成したクラ
ッドチューブとし、先端部開口５４における金の被覆層
５２が接触ピン１の基端部１ｂに接触するような構成が
好ましい。

【００２１】次に、このような構成よりなる本実施形態
の作用効果について説明する。本実施形態によれば、受
けピン３を構成する金属チューブ５の先端部開口５４に
接触ピン１の基端部１ｂが受け入れられる形で、接触ピ
ン１の基端部１ｂと受けピン３の金属チューブ５との直
接的な接触がなされる。従って、金属チューブ５の先端
部５ｂ側に従来のような端子部材を挿着する場合に比
べ、受けピン３における電気的かつ機械的な接続部分を
減らし、受けピン３の通電性能をより安定させることが
できる。また、従来のように受けピン３にレーザー溶接
を施す必要もなくなる。

【００２２】また、受けピン３を構成する金属チューブ
５の先端部開口５４と接触ピン１の基端部１ｂとが、円
周状に線接触するので、従来の点接触の場合に比べて、
受けピン３と接触ピン１との接触部分の摩耗を低減させ
ると共に、該接触部分における通電性能をより安定させ
ることができる。

【００２３】なお、本実施形態において、接触ピン１の
他端部１ｂが円錐形状をなす場合について説明したが、
接触ピン１の他端部１ｂは、横断面が円形の先細形状で
あれば、他の形状（例えば半楕球形状）をなしていても
よい。

【００２４】

【発明の効果】本発明によれば、金属チューブの先端部
側に端子部材を挿着する場合に比べ、受けピンにおける
電気的かつ機械的な接続部分を減らし、受けピンにおけ
る通電性能をより安定させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】(ａ)は、本発明による受けピンを備えた検査装
置の一実施形態における受けピンと接触ピンとを、受け
ピンの縦断面において示す図、（ｂ）は、(ａ)の要部拡
大図。

【図２】本発明が適用される一般的な検査装置の要部縦
断面図。

【図３】図２に示す検査装置における接触ピンの縦断面
図。

【図４】従来の受けピンを備えた検査装置における、受
けピンと接触ピンとを、受けピンの縦断面において示す
図

【符号の説明】

１ 接触ピン １ａ 先端部 １ｂ 基端部 ３,３’ 受けピン ４ ブロック部 ５,５’ 金属チューブ ５ａ 基端部 ５ｂ,５ｃ 先端部 ５０ 地金金属層 ５２ 金の被覆層 ６ ワイヤ

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】検査装置における接触ピンの基端部に対し
   て接触させるための検査装置用受けピンであって、 前記接触ピンの基端部に対応した先端部を有する金属チ
   ューブと、 この金属チューブの基端部側に挿入固着されたワイヤと
   を備え、 前記金属チューブの先端部は、前記接触ピンの基端部を
   受け入れて当該基端部の外周面を内周に接触させる開口
   を有した先細形状をなすことを特徴とする検査装置用受
   けピン。
2. 【請求項２】前記金属チューブは、地金金属層の内面に
   金の被覆層を形成したクラッドチューブであることを特
   徴とする請求項１記載の検査装置用受けピン。
3. 【請求項３】被検査物に対して接触させるための先端部
   と、横断面が円形の先細形状をなした基端部とを有する
   接触ピンと、 この接触ピンの基端部に対して接触させるための受けピ
   ンと、 これらの受けピン及び接触ピンを保持すると共に、被検
   査物に対して相対的に離接可能となったブロック部とを
   備え、 前記受けピンは、前記接触ピンの基端部に対応した先端
   部を有する金属チューブと、この金属チューブの基端部
   側に挿入固着されたワイヤとを含み、前記金属チューブ
   の先端部は、前記接触ピンの基端部を受け入れて当該基
   端部の外周面を内周に線接触させる円形開口を有した先
   細形状をなすことを特徴とする検査装置。