JP3289263B2 - カード型回路モジュール - Google Patents

カード型回路モジュール

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JP3289263B2 JP17766596A JP17766596A JP3289263B2 JP 3289263 B2 JP3289263 B2 JP 3289263B2 JP 17766596 A JP17766596 A JP 17766596A JP 17766596 A JP17766596 A JP 17766596A JP 3289263 B2 JP3289263 B2 JP 3289263B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】ICメモリカードをはじめと
するカード型回路モジュールは、その携帯性、増設作業
の容易性等が着目されてメモリカード以外の用途に使用
されるに到っているが、この場合、カード型回路モジュ
ールの消費電力量が増加するために、効率的な冷却手段
が求められる。
【0002】なお、本明細書においてカード型回路モジ
ュールとは、米国PCMCIA(Personal C
omputer Memory Card Inter
national Association)あるいは
JEIDA(日本電子工業振興協会)の標準仕様に準拠
するクレジット・カード・サイズのICカード、および
これに類似するコンパクトサイズのカード状電子部品
(PCカード)を始めとして、回路素子を実装した実装
基板を硬質カバー、あるいはフレーム等の外郭構成部材
により密閉し、コネクタ等を介して他の回路モジュール
に接続して使用する回路モジュールをいい、プリント基
板等の実装基板上に回路素子を実装した外気開放型の回
路モジュールを含まない。
【0003】
【従来の技術】従来カード型回路モジュールは、図17
に示すように、半導体素子(発熱素子12)を実装した
実装基板11を硬質のカバー10によって覆って形成さ
れる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】一方、カード型回路モ
ジュール、特にPCカードは一般にポケットや鞄に入れ
て持ち運ばれることが多く、さらに装置本体への挿抜作
業は、カード型回路モジュールを指で挟んで行われるた
めに、所定の強度が要求され、このため、硬質カバー1
0には、通常ステンレス材等が多用される。
【0005】しかし、ステンレスをはじめとする硬質カ
バー10の素材は、一般的に熱伝導性が低いために放熱
効果が低いという欠点を有する。本発明は、以上の欠点
を解消すべくなされたもので、放熱性能に優れたカード
型回路モジュールを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によれば上記目的
は、硬質カバー10を備えたケース内1に実装基板11
を収納してなるカード型回路モジュールであって、前記
硬質カバー10の裏面全面には、実装基板11上の発熱
素子12による発熱を硬質カバー10全体に拡散する高
熱伝導層2が形成され、前記高熱伝導層2は、銅、ある
いはアルミニウムからなる箔を該硬質カバー10の裏面
全面に接着して形成され、かつ、前記発熱素子12と高
熱伝導層2の間には、柔軟な伝熱体4が介装されるカー
ド型回路モジュールを提供することにより達成される。
【0007】ここで、「高熱伝導」とは熱伝導率が少な
くともステンレス鋼等の硬質カバー10の素材よりも高
く、銅、あるいはアルミニウム等と同等であることをい
うもので、高熱伝導層2の形成は、硬質カバー10の裏
面全面に箔を接着したり、あるいは、アルミニウム、銅
等の高熱伝導材料薄膜層を成膜することにより形成可能
である。
【0008】ここで、「成膜」とは、予め別体で形成さ
れた膜を接着等の手段により貼着することに対応する概
念で、硬質カバー10の裏面全面に上記材料を溶射、転
写、蒸着、あるいはメッキすることにより薄膜層を形成
することを指し、膜材料には、アルミニウム、銅等が使
用可能である。成膜により形成された高熱伝導層2は、
硬質カバー10との密着性が接着による場合に比して良
好なために、硬質カバー10への熱伝導性を向上させる
ことができる上に、硬質カバー10の製造効率をも向上
させることができる。
【0009】なお、箔としては、アルミニウム箔、ある
いは銅箔が使用可能であり、箔の厚さを12μm〜35
μm程度とした場合には、硬質カバー10への密着性が
向上する。
【0010】したがって本発明において、発熱素子12
からの発熱は、先ず硬質カバー10裏面の高熱伝導層2
に伝熱される。高熱伝導層2に伝熱した熱は、速やかに
高熱伝導層2全体に広がった後、硬質カバー10全体に
拡散され、硬質カバー10表面から放熱される。
【0011】この結果、熱伝導率が悪いために、発熱素
子12に対応する部位のみがスポット的に温度上昇し、
該スポット部のみから放熱される従来例に比して、飛躍
的な放熱性能の向上が図られる。
【0012】また、硬質カバー10の表面にも高熱伝導
層2を形成する場合には、より熱吸収容量が向上するた
めに、放熱効果が向上する。さらに、高熱伝導層2の表
面に酸化防止膜2’を形成した場合には、高熱伝導層2
の酸化による熱伝導性の低下を防止することができる。
この場合、硬質カバー10の表面に銅メッキをして高熱
伝導層2を形成し、さらに、その上にニッケルメッキを
して酸化防止膜2’とした場合には、製造効率を飛躍的
に向上させることが可能になる上に、ニッケルメッキ層
は伝熱性に優れているために、高熱伝導層2との界面に
おける熱抵抗を減少させることが可能になる。
【0013】また、高熱伝導層2の表面を絶縁膜3で覆
うことにより、実装基板11上に搭載されるディスクリ
ート部品等との短絡が確実に防止され、信頼性をより向
上させることが可能になる。
【0014】絶縁膜3は、カード型回路モジュールの内
部空間側に形成されていれば足り、上記酸化防止膜2’
を兼ねることも可能である。絶縁膜3は高熱伝導層2へ
の伝熱を阻害しない程度の厚さに形成され、絶縁性を有
するシート体を高熱伝導層2の表面に貼着したり、ある
いは絶縁塗料を塗布することによっても形成可能であ
る。また、酸化防止膜2’がニッケルメッキ等、絶縁性
を有しない材料により形成される場合には、絶縁膜3は
酸化防止膜2’を覆うように別途形成される。
【0015】絶縁膜3の形成により、実装基板11上の
ディスクリート部品等との短絡が確実に防止される。ま
た、高熱伝導層2が硬質カバー10の全面に渡って形成
されることで、放熱効率の向上がもたらされる。
【0016】また、発熱素子12と高熱伝導層2の間に
柔軟な伝熱体4が介装されることで、発熱素子12から
の発熱は速やかに高熱伝導層2に伝達されるために、よ
り効率的な冷却が行われる。
【0017】ここで「柔軟な伝熱体4」とは、発熱素子
12の実装高さのばらつき等を吸収して発熱素子12が
高熱伝導層2に密着できる程度に高さ方向に弾性変形可
能な熱伝導性に優れたものをいい、伝熱コンパウンド、
伝熱シートの他に、伝熱シートと金属製プレートの積層
体の使用も可能である。
【0018】さらに、取扱性の優れたカード型回路モジ
ュールが参考例として提案される。すなわち、カード型
回路モジュールの外表面7は、低熱伝導性材料により形
成される接触防護体6により覆われる。
【0019】接触防護体6は、該接触防護体6の設置領
域からの放熱を確保した状態で、放熱面、すなわち、カ
ード型回路モジュールの外表面7への指触れを防止する
ために設けられるもので、少なくとも、「接触防護体6
の設置領域に、前記外表面7の露出部位を形成可能で、
かつ、指が前記露出部位の外表面7に直接接触すること
を禁止するように」設けられる必要がある。
【0020】「指が前記露出部位の外表面7に直接接触
することを禁止する」状態とは、図13に示すように、
カード型回路モジュールの装置本体への挿抜時に指でカ
ード型回路モジュールを挟んだ際に指とカード型回路モ
ジュールの外表面7との間に適宜の隙間δが形成され、
指がカード型回路モジュールに直接触れるのが規制され
た状態を指す。
【0021】また、接触防護体6は、高温部を指で直接
触れることを防止するために設けられるものであるか
ら、カード型回路モジュールの外表面7のうち、少なく
ともカードコネクタへの挿抜時に指が触れる高温の領域
に設ければ足りる。
【0022】さらに、接触防護体6は温度上昇したカー
ド型回路モジュールの外表面7を指で直接触れるのを防
止するためのものであるから、実装基板11上に発熱素
子12が片面実装されており、温度上昇面が片面のみで
ある場合には、当該温度上昇面のみに限って設ければ足
りる。
【0023】ここで「外表面」とはカード型回路モジュ
ールの表面部を指すもので、硬質カバー10により覆わ
れているものは硬質カバー10表面部を、表面部にヒー
トシンク5が装着されているものは、ヒートシンク5の
表面部も含まれる。
【0024】したがって、本参考例において、装置本体
からカード型回路モジュールを抜き取るときなどに、カ
ード型回路モジュールを指で挟んでも、カード型回路モ
ジュールの加熱面(外表面7)には直接触れることがな
いために、操作性を向上させることができる上に、カー
ド型回路モジュールの外表面7は網目間から外部に露出
状態となっているために、外表面7からの放熱効果も低
下することがない。
【0025】放熱性を確保しながら指の接触を防止する
接触防護体6は、例えば図15(a)に示すように、硬
質カバー10、あるいはヒートシンク5の上面に複数の
線状体を所定ピッチで配置する等、種々の手段により形
成することが可能であり、以下においてその例が示され
る。
【0026】すなわち、接触防護体6は、多数の網目を
有するメッシュ体として形成される。接触防護体6の網
目の大きさL、および接触防護体6のカード型回路モジ
ュールの外表面7からの突出高さHは、上記目的を勘案
して適宜決定可能であり、さらに、網目の形状も種々選
択可能であり、図12に示すような碁盤目状以外に、3
角形、6角形等が採用可能である。
【0027】接触防護体6をメッシュ体として形成する
ことにより、接触防護体6は連続した一体物となるため
に、カード型回路モジュールの外表面7への接着作業等
が容易になる上に、カード型回路モジュールの外表面7
への接合力を高めることが可能になるが、このほかに、
円錐形状を有して散点状に配置することも可能であり
(図15(b)、(c)参照)、この場合、各接触防護
体6間の間隔δ、および高さHは本参考例の目的に適応
するように適宜決定される。
【0028】カード型回路モジュールの外表面7上への
接触防護体6の形成は、予め別体で形成した接触防護体
6を接着することにより達成可能であるが、このほか
に、形成対象面に低熱伝導性材料を溶着しても形成可能
である。
【0029】形成対象面への溶着は、形成対象面上に型
を載置し、その空間に低熱伝導性材料としての合成樹脂
を流し込んだり、ディスペンダで所定の位置に模様を形
成したり、あるいは合成樹脂でメッシュ体を形成し、形
成対象面に溶着、接着することにより達成可能である。
【0030】さらに、形成対象面上への他の接触防護体
6の形成方法が提供される。すなわち、接触防護体6は
フレーム部60を有する網状体として形成され、ケース
1に着脱可能に装着される。
【0031】ケース1への接触防護体6の装着は、例え
ば図16に示すように、接触防護体6側に係止フック6
2を形成しておき、該係止フック62をケース1に弾発
的に係止することにより達成可能である。
【0032】この場合、接触防護体6を、網状体のグリ
ッドから形成対象面側に接触突起61を突設して形成す
ることが可能である。かかる構成においては、接触突起
61の先端のみが形成対象面に接触し、網状体は接触対
象面から浮いた状態で配置されるために、カード型回路
モジュールの外表面7に直接触れる面積が減少すること
から放熱有効面積が増加するという効果がある。
【0033】
【発明の実施の形態】図1、2に本発明をPCカードに
適用した実施の形態を示す。図において11は複数の半
導体素子(発熱素子12)を搭載した実装基板、13は
図示しない装置本体のコネクタにプラグイン接続するた
めのコネクタ、10は硬質カバーである。
【0034】硬質カバー10は、表裏面に配置されて実
装基板11を覆い、フレーム等の他の外郭構成部材と協
働して実装基板11を密閉状に収容するケース1を構成
している。この硬質カバー10は、持ち運び、あるいは
図示しない装置本体への挿抜時における変形を防止する
ために、ステンレス薄板により形成される。
【0035】2は高熱伝導層であり、アルミニウム、銅
等の高熱伝導性材料をメッキ等の手段で硬質カバー10
裏面全面に成膜して形成されるが、これ以外に、12μ
m〜35μm程度の厚さの銅箔を硬質カバー10の裏面
全面に接着して形成することもできる。
【0036】2’は高熱伝導層2の酸化を防止するため
の酸化防止膜であり、高熱伝導層2の表面にニッケルメ
ッキを施して形成される。実装基板11上に多数の高背
のディスクリート部品等が実装されており、該ディスク
リート部品と硬質カバー10との短絡のおそれがある場
合には、酸化防止膜2’の裏面に絶縁シートを高熱伝導
層2上に接着して絶縁膜3が形成される(図2(b)参
照)。絶縁シートは伝熱性の優れた材料により形成する
のが望ましいが、熱伝達を阻害しない程度に可及的に薄
く形成するならば、伝熱性に劣る材料の使用も可能であ
る。また、絶縁膜3は、高熱伝導層2上に絶縁塗料を塗
布することによっても形成できる。なお、絶縁膜3は酸
化防止膜2’を兼ねることも可能であり、この場合は、
酸化防止膜2’を別途設ける必要はない。
【0037】発熱素子12からの発熱を速やかに高熱伝
導層2に伝達するために、発熱素子12と硬質カバー1
0との間には柔軟な伝熱体4が介装される。伝熱体4に
は図2(a)に示すように、伝熱シート体40を使用し
たり、図3に示すように、ヒートシンクとなる金属板材
41の裏面に伝熱シート体40を貼着した複層体を使用
することができる。なお、図3において42は伝熱体4
を硬質カバー10に固定するための接着層を示す。
【0038】したがってこの実施の形態において、先
ず、硬質カバー10の裏面であって、冷却ターゲットと
なる発熱素子12に対応する位置に伝熱体4を接合して
おき、硬質カバー10により実装基板11を覆うと、伝
熱体4はやや縦方向に弾性変形しながら発熱素子12の
ヒートシンク5面に圧接し、発熱素子12と高熱伝導層
2との間に良好な熱パスが形成される。
【0039】なお、以上においては硬質カバー10側に
伝熱体を固定した場合を示したが、発熱素子12側に
固定しておくことも可能である。また、以上の説明にお
いては、高熱伝導層2は硬質カバー10の裏面全面、正
確には発熱素子12に対峙する面のみに形成する場合を
示したが、図2(c)に示すように、硬質カバー10の
表裏面全面に形成することも可能である。この場合、硬
質カバー10の表層面には絶縁膜3を形成する必要はな
く、酸化防止膜2’のみが形成される。
【0040】図4、5に参考例を示す。なお、以下の説
明において、上述した実施の形態と同一の構成要素は図
中に同一の符号を付して説明を省略する。
【0041】本参考例において硬質カバー10上にはヒ
ートシンク5が搭載される。ヒートシンク5はアルミニ
ウム等、伝熱性の良好な材料により形成されており、矩
形の放熱部51と、放熱部51の裏面中央に突出する矩
形の接触部50とからなる。
【0042】接触部50は、図4においてハッチングを
施して示されるターゲットとなる発熱素子12の面積よ
りやや面積に形成されており、その端面には柔軟な伝熱
体4が固定される。
【0043】一方、硬質カバー10には、図5に示すよ
うに、上記ヒートシンク5の接触部50が挿入可能な貫
通口14が開設されており、ヒートシンク5は接触部5
0を上記貫通口14に挿通させた後、裏面をネジ止め、
あるいはリベット止めして硬質カバー10に固定され
る。なお、図4(c)において16はヒートシンク5を
硬質カバー10に固定するためのビス、図5において1
5は硬質カバー10に穿孔されるネジ挿通孔を示す。
【0044】ヒートシンク5の固定方法は、ネジ、ある
いはリベットを使用する以外に、溶接によるのも可能で
あり、この場合、図6に示すように、ヒートシンク5上
面にスポット溶接の電極が挿入する電極収納孔52を開
設しておくのが望ましい。
【0045】さらに、ヒートシンク5は硬質カバー10
に対して着脱自在に装着することも可能であり、その一
例を図7ないし図9に示す。この変形例において、硬質
カバー10には、図8に詳細を示すように、該硬質カバ
ー10の中心線C上にほぼ位置する位置決め孔17と、
中心線C上に中心が位置し、該中心線に対して角度θだ
け傾いた貫通口14とが開設される。
【0046】一方、ヒートシンク5には、図9に示すよ
うに、側面にガイド溝50aが切り込まれた接触部50
と、位置決め孔17に挿通可能な位置決めボス50bと
が中心線上に突設される。ガイド溝は、図9(c)に示
すように、接触部50の断面中心に対して点対称形状を
有しており、その壁面は、接触部50の断面中心を中心
とする円弧部53と、稜線に対してθだけ傾いた直線部
54とからなる。また、ガイド溝50aの底壁面は、側
方から見た際に、図9(b)に示すように、中心に行く
にしたがって幅狭となるように、湾曲面とされており、
その頂部におけるガイド溝の幅wが硬質カバー10の板
厚よりやや小さくされている。
【0047】したがってこの変形例において、接触部5
0を貫通口14に挿通させた状態では、位置決めボス5
0bが硬質カバー10に乗り上がった状態にあり、この
状態からヒートシンク5を図9(a)において矢印方向
に回転させると、貫通口14の辺縁が接触部50のガイ
ド溝50a内に入り込んで回転を許容する。回転操作時
には、位置決めボス50bは硬質カバー10の表面を押
し付けた状態であり、やがてヒートシンク5が図7に示
す位置まで回転されると、位置決めボス50bが位置決
め孔17内に嵌合して位置決めされる。
【0048】この状態において、ガイド溝50a内に硬
質カバー10が進入し、かつ、位置決めボス50bが位
置決め孔17に嵌合しているために、ヒートシンク5は
硬質カバー10上に強固に固定されることとなる。
【0049】図10、11に他の変形例を示す。この変
形例において、ヒートシンク5には側方に押圧片55が
突設された接触部50と、位置決めボス50bが設けら
れる。押圧片55は、位置決めボス50b側に行くにし
たがって厚さが薄くなるキー断面形状を有しており、厚
さが一番厚い部位における押圧片55と放熱部51裏面
との間隔wは硬質カバー10の板厚よりやや小さくされ
ている。
【0050】一方、硬質カバー10には、上記接触部5
0が挿入可能な貫通口14と、位置決め孔17とが開設
される。また、貫通口14と位置決め孔17との間隔
は、接触部50と位置決めボス50bとの間隔よりやや
長くされている。
【0051】したがってこの変形例において、接触部5
0を貫通口14に挿通させた後、ヒートシンク5を図1
0において矢印方向に移動させると、貫通口14の周縁
の肉質部は押圧片55と放熱部51の裏面との隙間に収
納され、ヒートシンク5の移動を許容し、位置決めボス
50bが位置決め孔17に嵌合した状態で固定される。
【0052】なお、本参考例において、硬質カバー10
はステンレス薄板等により形成されるが、本発明の実施
の形態において採用された硬質カバー10の変形、すな
わち、図2に示すように、表裏面全面、あるいは裏面全
面に高熱伝導層2を形成したり、高熱伝導2を酸化防止
膜2’、絶縁膜3で覆う構成はそのまま採用可能であ
る。
【0053】図12に本発明の第2の参考例を示す。こ
参考例において、硬質カバー10の上面にはメッシュ
状の接触防護体6が固定される。接触防護体6は、AB
S樹脂等の合成樹脂材を成型した碁盤目のメッシュ体で
あり、各網目のグリッドからは接触突起61が突設さ
れ、該接触突起61の先端を硬質カバー10の外表面7
に接着することにより、硬質カバー10上に固定され
る。接着は、接触防護体6に接触する部位以外が接着剤
層により覆われることなく、放熱面として外方に完全に
露出した状態とするために、接触突起61側に接着剤を
供給して行うのが望ましい。
【0054】接触防護体6の網目の大きさL、および硬
質カバー10からの突出高さHは、上述したように、指
で接触防護体6を押し付けた際に、指が硬質カバー10
に触れない程度とされるが、接触防護体6の材料として
ゴムのような軟質材を使用する場合には、指での押しつ
けによる接触防護体6の変形を考慮して、硬質材料で形
成するよりも突出高さHを高くしたり、あるいは網目L
を細かくする必要がある。
【0055】なお、図示の例は、実装基板11上に両面
実装される半導体素子のうち、上部に実装される半導体
素子の中に発熱素子12が含まれており、ケース1の上
半分の温度上昇が高い場合を想定した参考例を示すもの
であるが、上下の硬質カバー10がともに温度上昇する
場合には、接触防護体6は表裏の硬質カバー10、10
に装着される。
【0056】また、接触防護体6の形成部位も、硬質カ
バー10の全面に形成する以外に、硬質カバー10の一
部にのみ形成することも可能であり、この場合、カード
型回路モジュールを装置本体から引き抜く際に指により
挟む領域、例えば、図14に示すように、カード型回路
モジュールの引き抜き側の半分の領域に形成するのが望
ましい。
【0057】さらに、図示しないが、図4に示すよう
に、ヒートシンク5を硬質カバー10から露出させるよ
うな場合には、該ヒートシンク5の上面を接触防護体6
で覆うことも可能であり、以下に示す変形はヒートシン
ク5上面への形成に全て適用可能である。
【0058】なお、接触突起61による接着のみでは接
着強度が弱い場合には、接触突起61を取り去り、接触
防護体6全体を硬質カバー10上に接着することももち
ろん可能である。
【0059】図15に接触防護体6の変形例を示す。図
15(a)に示す接触防護体6は所定高さを有して直線
状に形成されており、硬質カバー10上に並設される。
また、図15(b)、(c)に示す変形例において、接
触防護体6は先端に球面を備えたコーン形状に形成さ
れ、硬質カバー10上に散点状に配置される。接触防護
体6の間隔L、および高さH等は、上述したように、指
で押さえた際に指が硬質カバー10に触れないように設
定される。
【0060】これら接触防護体6が一体化されない場合
には、各々の接触防護体6を個別に硬質カバー10上に
接着するのは手間がかかるために、接触防護体6は硬質
カバー10上に直接形成するのが望ましく、この場合、
硬質カバー10の上に型をおいて樹脂を流し込む方法、
ディスペンダで所定の形状に模様を形成する方法が採用
可能である。
【0061】図16に接触防護体6の装着方法の変形を
示す。この変形例において、接触防護体6は最外周にフ
レーム部60を有する網状体として形成され、フレーム
部60には係止フック62が形成され、網状体の各グリ
ッドには接触突起61が突設されている。
【0062】一方、硬質カバー10の側壁部には、上記
係止フックが弾発的に係止可能な凹部が形成されてお
り、接触防護体6をカード型回路モジュールに被せるだ
けで接触防護体6の装着が完了するようにされる。
【0063】なお、図12ないし図16に示した参考例
においては、ケース1内の構造、特に、発熱素子12と
硬質カバー10との熱的な接続の構造は示されていない
が、この部位に、図1、図2で示した構造を適用するこ
とはもちろん可能であり、さらに、ケース内に絶縁性の
ある伝熱体を充填する等、他の伝熱構造を採用すること
も可能である。
【0064】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、カード型回路モジュールの冷却効果を飛躍的
に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を示す図で、(a)は平面図、(b)は
側面図である。
【図2】図1の要部断面図で、(a)は発熱素子との接
触状態を示す図、(b)は絶縁膜を設けた硬質カバーを
示す図、(c)は表裏両面に高熱伝導層を形成した硬質
カバーを示す図である。
【図3】伝熱体の変形例を示す断面図である。
【図4】参考例を示す図で、(a)は平面図、(b)は
側面図、(c)は(a)のC-C線断面図である。
【図5】硬質カバーを示す図で、(a)は裏面図、
(b)は側面図である。
【図6】図4の変形例を示す図で、(a)は平面図、
(b)は側面図である。
【図7】図4の他の変形例を示す図で、(a)は裏面
図、(b)は側面図である。
【図8】硬質カバーを示す図で、(a)は平面図、
(b)は側面図である。
【図9】ヒートシンクを示す図で、(a)は裏面図、
(b)は拡大側面図、(c)は(b)のC-C線断面図
である。
【図10】図7の変形例を示す図で、(a)は裏面図、
(b)は側面図である。
【図11】ヒートシンクを示す図で、(a)は裏面図、
(b)は側面図である。
【図12】本発明の第2の参考例を示す図で、(a)は
平面図、(b)は側面図である。
【図13】接触防護体の作用を示す図である。
【図14】図12の変形例を示す図である。
【図15】図12の他の変形例を示す図で、(a)は平
面図、(b)はさらに他の変形例を示す平面図、(c)
は(b)の拡大側面図である。
【図16】図12のさらに他の変形例を示す図で、
(a)は平面図、(b)は側面図、(c)は(b)の要
部拡大図である。
【図17】従来例を示す図で、(a)は平面図、(b)
は側面図である。
【符号の説明】
1 ケース 10 硬質カバー 11 実装基板 12 発熱素子 2 高熱伝導層 2’ 酸化防止膜 3 絶縁膜 4 伝熱体 6 接触防護体 60 フレーム部 61 接触突起 7 外表面
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−74699(JP,A) 特開 平3−182397(JP,A) 特開 平9−55459(JP,A) 実開 平4−7175(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06K 19/07 - 19/077

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】硬質カバーを備えたケース内に実装基板を
    収納してなるカード型回路モジュールであって、 前記硬質カバーの裏面全面には、実装基板上の発熱素子
    による発熱を硬質カバー全体に拡散する高熱伝導層が形
    成され、前記高熱伝導層は、銅、あるいはアルミニウムからなる
    箔を該硬質カバーの裏面全面に接着して形成され、 かつ、前記発熱素子と高熱伝導層の間には、柔軟な伝熱
    体が介装されるカード型回路モジュール。
  2. 【請求項2】硬質カバーを備えたケース内に実装基板を
    収納してなるカード型回路モジュールであって、 前記硬質カバーの裏面全面には、実装基板上の発熱素子
    による発熱を硬質カバー全体に拡散する高熱伝導層が形
    成され、前記高熱伝導層は、銅、あるいはアルミニウム薄膜層を
    該硬質カバーの裏面全面に成膜して形成され、 かつ、前記発熱素子と高熱伝導層の間には、柔軟な伝熱
    体が介装されるカード型回路モジュール。
  3. 【請求項3】前記高熱伝導層は、絶縁膜により覆われる
    請求項1または2記載のカード型回路モジュール。
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