JP3288836B2 - 電気抵抗測定方法および電気抵抗測定装置 - Google Patents
電気抵抗測定方法および電気抵抗測定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、接続部等の導体の抵抗
を、交流電流が流れる活線状態で測定できるようにした
電気抵抗測定方法に関するものである。
を、交流電流が流れる活線状態で測定できるようにした
電気抵抗測定方法に関するものである。
【０００２】また、上記電気抵抗測定方法を用いて導体
の抵抗を測定するための電気抵抗測定装置に関するもの
である。
の抵抗を測定するための電気抵抗測定装置に関するもの
である。
【０００３】
【従来の技術】導体の抵抗を測定する従来の方法の１つ
として、導体を停電状態として、抵抗測定すべき箇所の
両端に電流印加用端子と電圧測定用端子をそれぞれ設
け、測定箇所に所定直流電流を外部から印加し、この直
流電流による電圧降下を測定し、電流と電圧から抵抗値
を算出するものが知られている。
として、導体を停電状態として、抵抗測定すべき箇所の
両端に電流印加用端子と電圧測定用端子をそれぞれ設
け、測定箇所に所定直流電流を外部から印加し、この直
流電流による電圧降下を測定し、電流と電圧から抵抗値
を算出するものが知られている。
【０００４】また、活線状態のまま導体の抵抗を測定す
る方法としては、測定すべき箇所の両端に電圧測定用端
子を設け、導体に流れる交流電流をクランプメータ等で
測定し、導体に流れる交流電流による電圧降下を測定し
て抵抗値を算出するものがある。
る方法としては、測定すべき箇所の両端に電圧測定用端
子を設け、導体に流れる交流電流をクランプメータ等で
測定し、導体に流れる交流電流による電圧降下を測定し
て抵抗値を算出するものがある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の停電状
態として導体の抵抗を測定する方法にあっては、測定用
端子を導体に接続する部分の抵抗が測定結果に大きな影
響を与え、誤差が大きい。また、送電線路や変電所設備
等の高圧の裸導体を停電状態とすれば、電力供給等に対
する影響が極めて大きく、実際問題として容易には測定
することができない。そこで、送電線路の新規な装架や
交換等の際に用いることができるにすぎない。
態として導体の抵抗を測定する方法にあっては、測定用
端子を導体に接続する部分の抵抗が測定結果に大きな影
響を与え、誤差が大きい。また、送電線路や変電所設備
等の高圧の裸導体を停電状態とすれば、電力供給等に対
する影響が極めて大きく、実際問題として容易には測定
することができない。そこで、送電線路の新規な装架や
交換等の際に用いることができるにすぎない。
【０００６】また、上記した活線状態のまま導体の抵抗
を測定する方法にあっては、測定すべき抵抗による電圧
降下を正確に測定することができず、測定誤差が大き
い。これは、導体と電圧降下を測定するための回路によ
り１つの閉回路が形成され、この閉回路に導体を流れる
交流電流により導体の回りに生じる磁束によって誘導起
電力が生じ、この誘導起電力に電圧降下が加わった電圧
が測定されるためである。特に、導体の抵抗が小さけれ
ば誘導起電力に対して相対的に抵抗による電圧降下が小
さく、誤差も大きなものとなる。
を測定する方法にあっては、測定すべき抵抗による電圧
降下を正確に測定することができず、測定誤差が大き
い。これは、導体と電圧降下を測定するための回路によ
り１つの閉回路が形成され、この閉回路に導体を流れる
交流電流により導体の回りに生じる磁束によって誘導起
電力が生じ、この誘導起電力に電圧降下が加わった電圧
が測定されるためである。特に、導体の抵抗が小さけれ
ば誘導起電力に対して相対的に抵抗による電圧降下が小
さく、誤差も大きなものとなる。
【０００７】したがって、活線状態のままで、導体の抵
抗を正確に測定できる電気抵抗測定方法およびそのため
の装置が要望されていた。
抗を正確に測定できる電気抵抗測定方法およびそのため
の装置が要望されていた。
【０００８】本発明は、上記のごとき従来方法の事情に
鑑みてなされたもので、活線状熊のままで導体の抵抗を
正確に測定し得る電気抵抗測定方法および電気抵抗測定
装置を提供することを目的とする。
鑑みてなされたもので、活線状熊のままで導体の抵抗を
正確に測定し得る電気抵抗測定方法および電気抵抗測定
装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、本発明の電気抵抗測定方法は、矩形の閉回路を、
抵抗測定の対象となる導体と同一平面上で一辺を前記導
体と平行にして接近させ、前記閉回路の前記導体と平行
で近い側の第１の辺に第１抵抗と第１開閉スイッチを直
列に介装し、前記閉回路の前記導体と平行で遠い側の第
２の辺に前記第１抵抗と同じ値の第２抵抗と第２開閉ス
イッチを直列に介装し、前記第１の辺の両端を前記導体
の抵抗を測定すべき箇所の両端にそれぞれ接続線で接続
し、これらの接続線のすくなくとも一方に第３開閉スイ
ッチを直列に介装し、前記第１と第２開閉スイッチを閉
じて、前記第３開閉スイッチを開いて前記第１または第
２抵抗の電圧降下を測定して第１測定電圧となし、前記
第１と第３開閉スイッチを閉じて、前記第２開閉スイッ
チを開いて前記第１抵抗の電圧降下を測定して第２測定
電圧となし、前記第２と第３開閉スイッチを閉じて、前
記第１開閉スイッチを開いて前記第２抵抗の電圧降下を
測定して第３測定電圧となし、前記第２と第３測定電圧
の差電圧と、前記第１測定電圧とから、前記導体の抵抗
が演算される。
めに、本発明の電気抵抗測定方法は、矩形の閉回路を、
抵抗測定の対象となる導体と同一平面上で一辺を前記導
体と平行にして接近させ、前記閉回路の前記導体と平行
で近い側の第１の辺に第１抵抗と第１開閉スイッチを直
列に介装し、前記閉回路の前記導体と平行で遠い側の第
２の辺に前記第１抵抗と同じ値の第２抵抗と第２開閉ス
イッチを直列に介装し、前記第１の辺の両端を前記導体
の抵抗を測定すべき箇所の両端にそれぞれ接続線で接続
し、これらの接続線のすくなくとも一方に第３開閉スイ
ッチを直列に介装し、前記第１と第２開閉スイッチを閉
じて、前記第３開閉スイッチを開いて前記第１または第
２抵抗の電圧降下を測定して第１測定電圧となし、前記
第１と第３開閉スイッチを閉じて、前記第２開閉スイッ
チを開いて前記第１抵抗の電圧降下を測定して第２測定
電圧となし、前記第２と第３開閉スイッチを閉じて、前
記第１開閉スイッチを開いて前記第２抵抗の電圧降下を
測定して第３測定電圧となし、前記第２と第３測定電圧
の差電圧と、前記第１測定電圧とから、前記導体の抵抗
が演算される。
【００１０】そして、前記第１の辺と前記導体の抵抗を
測定すべき箇所とこれらを接続する前記接続線で矩形閉
回路を形成し、前記第２と第３測定電圧の差電圧に代え
て、前記第２と第３測定電圧の比から前記導体と前記第
１の辺の間の距離を演算し、この距離と前記第１測定電
圧から前記導体に流れる交流電流の実効値を求め、この
交流電流の実効値と前記第２または第３測定電圧から前
記導体の抵抗を演算しても良い。
測定すべき箇所とこれらを接続する前記接続線で矩形閉
回路を形成し、前記第２と第３測定電圧の差電圧に代え
て、前記第２と第３測定電圧の比から前記導体と前記第
１の辺の間の距離を演算し、この距離と前記第１測定電
圧から前記導体に流れる交流電流の実効値を求め、この
交流電流の実効値と前記第２または第３測定電圧から前
記導体の抵抗を演算しても良い。
【００１１】また、本発明の電気抵抗測定装置は、抵抗
測定の対象となる導体に、同一平面上で一辺を前記導体
と平行にして接近させる矩形の閉回路と、前記閉回路の
前記導体と平行で近い側の第１の辺に直列に介装された
第１抵抗と第１開閉スイッチと、前記閉回路の前記導体
と平行で遠い側の第２の辺に直列に介装された前記第１
抵抗と同じ値の第２抵抗と第２開閉スイッチと、先端に
接触子を有し前記第１の辺の両端を前記導体の抵抗を測
定すべき箇所の両端にそれぞれ接続する接続線と、前記
接続線の一方に直列に介装された第３開閉スイッチと、
前記第１と第２と第３開閉スイッチを開閉制御するスイ
ッチ制御部と、前記第１と第２開閉スイッチを閉じて前
記第３開閉スイッチを開いて前記第１または第２抵抗の
電圧降下を第１測定電圧として測定し、前記第１と第３
開閉スイッチを閉じて前記第２開閉スイッチを開いて前
記第１抵抗の電圧降下を第２測定電圧として測定し、前
記第２と第３開閉スイッチを閉じて前記第１開閉スイッ
チを開いて前記第２抵抗の電圧降下を第３測定電圧とし
て測定する電圧測定部と、前記第２と第３測定電圧の差
電圧と前記第１測定電圧とから前記導体の抵抗を演算す
る演算処理部と、を備えて構成されている。
測定の対象となる導体に、同一平面上で一辺を前記導体
と平行にして接近させる矩形の閉回路と、前記閉回路の
前記導体と平行で近い側の第１の辺に直列に介装された
第１抵抗と第１開閉スイッチと、前記閉回路の前記導体
と平行で遠い側の第２の辺に直列に介装された前記第１
抵抗と同じ値の第２抵抗と第２開閉スイッチと、先端に
接触子を有し前記第１の辺の両端を前記導体の抵抗を測
定すべき箇所の両端にそれぞれ接続する接続線と、前記
接続線の一方に直列に介装された第３開閉スイッチと、
前記第１と第２と第３開閉スイッチを開閉制御するスイ
ッチ制御部と、前記第１と第２開閉スイッチを閉じて前
記第３開閉スイッチを開いて前記第１または第２抵抗の
電圧降下を第１測定電圧として測定し、前記第１と第３
開閉スイッチを閉じて前記第２開閉スイッチを開いて前
記第１抵抗の電圧降下を第２測定電圧として測定し、前
記第２と第３開閉スイッチを閉じて前記第１開閉スイッ
チを開いて前記第２抵抗の電圧降下を第３測定電圧とし
て測定する電圧測定部と、前記第２と第３測定電圧の差
電圧と前記第１測定電圧とから前記導体の抵抗を演算す
る演算処理部と、を備えて構成されている。
【００１２】そしてまた、装置を検出部とこれと離れた
中央処理部とに分け、前記演算処理部を前記中央処理部
に設け、前記検出部と中央処理部にそれぞれ信号変換部
を設け、双方の信号変換部の間を光ファイバーケーブル
で接続して光により信号を伝達するように構成すること
もできる。
中央処理部とに分け、前記演算処理部を前記中央処理部
に設け、前記検出部と中央処理部にそれぞれ信号変換部
を設け、双方の信号変換部の間を光ファイバーケーブル
で接続して光により信号を伝達するように構成すること
もできる。
【００１３】
【作 用】請求項１および２記載の電気抵抗測定方法に
あっては、導体に流れる交流電流により生ずる誘導起電
力を用いて測定するものであり、活線状態のままで導体
の抵抗測定ができ、しかも従来方法のごとく誘導起電力
により測定誤差が生ずることがない。
あっては、導体に流れる交流電流により生ずる誘導起電
力を用いて測定するものであり、活線状態のままで導体
の抵抗測定ができ、しかも従来方法のごとく誘導起電力
により測定誤差が生ずることがない。
【００１４】また、請求項３記載の電気抵抗測定装置に
あっては、装置を検出部と中央処理部に分けて離してい
るので、中央処理部を導体から離して設けることによ
り、演算処理部が導体近くの磁界等による悪影響を受け
にくい。
あっては、装置を検出部と中央処理部に分けて離してい
るので、中央処理部を導体から離して設けることによ
り、演算処理部が導体近くの磁界等による悪影響を受け
にくい。
【００１５】そしてまた、請求項４記載の電気抵抗測定
装置にあっては、検出部と中央処理部との間を光信号で
伝達するので、信号経路において信号に電気的雑音が重
畳することがない。しかも、高圧充電部の電流測定にお
いて、検出部と中央処理部を充分に離し得るとともに電
気的に絶縁でき、安全に抵抗測定をなし得る。
装置にあっては、検出部と中央処理部との間を光信号で
伝達するので、信号経路において信号に電気的雑音が重
畳することがない。しかも、高圧充電部の電流測定にお
いて、検出部と中央処理部を充分に離し得るとともに電
気的に絶縁でき、安全に抵抗測定をなし得る。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の電気抵抗測定方法の一実施例
を図１および図２を参照して説明する。図１は、本発明
の電気抵抗測定方法の原理を説明する図であり、図２
は、測定方法の手順を示すフローチャートである。
を図１および図２を参照して説明する。図１は、本発明
の電気抵抗測定方法の原理を説明する図であり、図２
は、測定方法の手順を示すフローチャートである。
【００１７】まず、図１により原理を説明する。抵抗測
定の対象となる導体１０と同一平面上に、矩形の閉回路
１２を一辺を導体１０に平行として接近配設される。閉
回路１２の導体１０に近い側の第１の辺には、第１抵抗
Ｒ１と第１開閉スイッチｓｗ１が直列に介装される。ま
た、閉回路１２の導体１０に遠い側の第２の辺には、第
２抵抗Ｒ２と第２開閉スイッチｓｗ２が直列に介装され
る。さらに、第１の辺の両端が、導体１０の抵抗を測定
すべき箇所の両端に接続線１４，１４によりそれぞれ接
続される。接続線１４，１４の一方に第３開閉スイッチ
ｓｗ３が直列に介装される。なお、導体１０と閉回路１
２の第１の辺および接続線１４，１４で矩形の閉回路が
構成されることが望ましい。ここで、閉回路１２の第１
と第２抵抗Ｒ１，Ｒ２の抵抗値は同じで既知数である。
また、導体１０の測定すべき箇所の抵抗Ｒ０とそこを流
れる交流電流ｉおよび導体１０と閉回路１２の間の距離
ｒは未知数である。
定の対象となる導体１０と同一平面上に、矩形の閉回路
１２を一辺を導体１０に平行として接近配設される。閉
回路１２の導体１０に近い側の第１の辺には、第１抵抗
Ｒ１と第１開閉スイッチｓｗ１が直列に介装される。ま
た、閉回路１２の導体１０に遠い側の第２の辺には、第
２抵抗Ｒ２と第２開閉スイッチｓｗ２が直列に介装され
る。さらに、第１の辺の両端が、導体１０の抵抗を測定
すべき箇所の両端に接続線１４，１４によりそれぞれ接
続される。接続線１４，１４の一方に第３開閉スイッチ
ｓｗ３が直列に介装される。なお、導体１０と閉回路１
２の第１の辺および接続線１４，１４で矩形の閉回路が
構成されることが望ましい。ここで、閉回路１２の第１
と第２抵抗Ｒ１，Ｒ２の抵抗値は同じで既知数である。
また、導体１０の測定すべき箇所の抵抗Ｒ０とそこを流
れる交流電流ｉおよび導体１０と閉回路１２の間の距離
ｒは未知数である。
【００１８】そこで、まず第１と第２開閉スイッチｓｗ
１，ｓｗ２を閉じて、第３開閉スイッチｓｗ３を開く。
すると、導体１０に流れる交流電流ｉにより生ずる磁束
が、閉回路１２に鎖交して、閉回路１２に誘導起電力を
生じさせる。
１，ｓｗ２を閉じて、第３開閉スイッチｓｗ３を開く。
すると、導体１０に流れる交流電流ｉにより生ずる磁束
が、閉回路１２に鎖交して、閉回路１２に誘導起電力を
生じさせる。
【００１９】この誘導起電力により第２抵抗Ｒ２に生ず
る電圧降下Ｖ２は数１と示される。
る電圧降下Ｖ２は数１と示される。
【数１】 さらに、Ｒ１＝Ｒ２であるから、数１は数２と示され
る。
る。
【数２】 ここでＩは交流電流ｉの実効値であり、μ０は真空透磁
率であり、ｆは交流電流ｉの周波数である。
率であり、ｆは交流電流ｉの周波数である。
【００２０】次に、第１と第３開閉スイッチｓｗ１，ｓ
ｗ３を閉じて、第２開閉スイッチｓｗ２を開く。する
と、導体１０と閉回路１２の第１の辺および接続線１
４，１４で形成される閉回路に、導体１０に流れる交流
電流ｉによる磁束が鎖交して誘導起電力が生ずる。
ｗ３を閉じて、第２開閉スイッチｓｗ２を開く。する
と、導体１０と閉回路１２の第１の辺および接続線１
４，１４で形成される閉回路に、導体１０に流れる交流
電流ｉによる磁束が鎖交して誘導起電力が生ずる。
【００２１】この誘導起電力により、第１抵抗Ｒ１に生
ずる電圧降下ｖ１′は、導体１０の抵抗Ｒ０が第１抵抗
Ｒ１に比べて充分に小さいとすれば、数３と示される。
ずる電圧降下ｖ１′は、導体１０の抵抗Ｒ０が第１抵抗
Ｒ１に比べて充分に小さいとすれば、数３と示される。
【数３】 ここでは、導体１０の抵抗Ｒ０が第１抵抗Ｒ１に比べて
充分に小さいので、導体１０を流れる交流電流ｉが第１
抵抗Ｒ１に分流する電流値も充分に小さいものとする。
充分に小さいので、導体１０を流れる交流電流ｉが第１
抵抗Ｒ１に分流する電流値も充分に小さいものとする。
【００２２】さらに、第２と第３開閉スイッチｓｗ２，
ｓｗ３を閉じて、第１開閉スイッチｓｗ１を開く。同様
にして生ずる誘導起電力による第２抵抗Ｒ２の電圧降下
ｖ２′は、数４と示される。
ｓｗ３を閉じて、第１開閉スイッチｓｗ１を開く。同様
にして生ずる誘導起電力による第２抵抗Ｒ２の電圧降下
ｖ２′は、数４と示される。
【数４】
【００２３】そこで、Ｒ１＝Ｒ２としてｖ２′とｖ１′
の差を演算すると、数５と示される。
の差を演算すると、数５と示される。
【数５】 この数５と数２とから数６が求められ、これを変形して
数７となる。
数７となる。
【数６】
【数７】 数７において、Ｒ１は既知数であり、ｖ２，ｖ２′，ｖ
１′を測定して代入することで導体１０の抵抗Ｒ０の値
が演算できる。
１′を測定して代入することで導体１０の抵抗Ｒ０の値
が演算できる。
【００２４】上記原理に基づいて、図２のごとき手順で
電気抵抗測定がなされる。まず、マイクロコンピュータ
等の演算処理部に予め、各演算式および第１と第２抵抗
Ｒ１，Ｒ２の抵抗値が設定される（ステップ）。そし
て、第１と第２開閉スイッチｓｗ１，ｓｗ２を閉じて、
第３開閉スイッチｓｗ３を開いて第２抵抗Ｒ２の電圧降
下ｖ２を測定して第１測定電圧を記憶する（ステップ
）。また、第１と第３開閉スイッチｓｗ１，ｓｗ３を
閉じて、第２開閉スイッチｓｗ２を開いて第１抵抗Ｒ１
の電圧降下ｖ１′を測定して第２測定電圧を記憶する
（ステップ）。さらに、第２と第３開閉スイッチｓｗ
２，ｓｗ３を閉じて、第１開閉スイッチｓｗ１を開いて
第２抵抗Ｒ２の電圧降下ｖ２′を測定して第３測定電圧
を記憶する（ステップ）。そして、第３と第２測定電
圧ｖ２′，ｖ１′の差を演算し（ステップ）、さらに
この差（ｖ２′−ｖ１′）と第１測定電圧ｖ２および第
１抵抗Ｒ１の抵抗値から数７により導体１０の抵抗Ｒ０
の抵抗値を演算する（ステップ）。最後に演算された
導体１０の抵抗値を表示部で適宜に表示する（ステップ
）。上記測定手順において、ステップ，，は、
いずれが先であっても良い。
電気抵抗測定がなされる。まず、マイクロコンピュータ
等の演算処理部に予め、各演算式および第１と第２抵抗
Ｒ１，Ｒ２の抵抗値が設定される（ステップ）。そし
て、第１と第２開閉スイッチｓｗ１，ｓｗ２を閉じて、
第３開閉スイッチｓｗ３を開いて第２抵抗Ｒ２の電圧降
下ｖ２を測定して第１測定電圧を記憶する（ステップ
）。また、第１と第３開閉スイッチｓｗ１，ｓｗ３を
閉じて、第２開閉スイッチｓｗ２を開いて第１抵抗Ｒ１
の電圧降下ｖ１′を測定して第２測定電圧を記憶する
（ステップ）。さらに、第２と第３開閉スイッチｓｗ
２，ｓｗ３を閉じて、第１開閉スイッチｓｗ１を開いて
第２抵抗Ｒ２の電圧降下ｖ２′を測定して第３測定電圧
を記憶する（ステップ）。そして、第３と第２測定電
圧ｖ２′，ｖ１′の差を演算し（ステップ）、さらに
この差（ｖ２′−ｖ１′）と第１測定電圧ｖ２および第
１抵抗Ｒ１の抵抗値から数７により導体１０の抵抗Ｒ０
の抵抗値を演算する（ステップ）。最後に演算された
導体１０の抵抗値を表示部で適宜に表示する（ステップ
）。上記測定手順において、ステップ，，は、
いずれが先であっても良い。
【００２５】次に、本発明の電気抵抗測定方法におい
て、別の演算方法について説明する。数３と数４とか
ら、ｖ２′，ｖ１′の比は、数８と示される。
て、別の演算方法について説明する。数３と数４とか
ら、ｖ２′，ｖ１′の比は、数８と示される。
【数８】 ここで、閉回路１２の寸法ｌ１，ｌ２が既知数であれ
ば、ｖ２′，ｖ１′は第３と第２測定電圧から定まり、
外挿法等によって導体１０と閉回路１２の間の距離ｒが
求まる。さらに、この距離ｒを、数２に代入すれば、ｖ
２は第１測定電圧から定まるので、導体１０に流れる交
流電流ｉの実効値Ｉが求まる。そこで、この実効値Ｉを
数３または数４に代入することで、導体１０の抵抗Ｒ０
の抵抗値が演算できる。
ば、ｖ２′，ｖ１′は第３と第２測定電圧から定まり、
外挿法等によって導体１０と閉回路１２の間の距離ｒが
求まる。さらに、この距離ｒを、数２に代入すれば、ｖ
２は第１測定電圧から定まるので、導体１０に流れる交
流電流ｉの実効値Ｉが求まる。そこで、この実効値Ｉを
数３または数４に代入することで、導体１０の抵抗Ｒ０
の抵抗値が演算できる。
【００２６】かかる本発明の電気抵抗測定方法にあって
は、送電線路や変電所設備の高圧の裸等の導体１０の接
続部等の測定すべき箇所の抵抗値を、活線状態で測定す
ることができる。しかも、導体１０に流れる誘導起電力
を用いており、従来の測定方法のごとく誘導起電力によ
る誤差がなく、精度の良い測定が可能である。また、送
電線等にあっては、測定すべき１回線が停電状熊であっ
ても、他回線が運転中であれば、かなりの大きな誘導電
流が一般的に流れており、この誘導電流を用いて測定が
可能である。さらに、閉回路１２の第１の辺が導体１０
に平行となるように接近させてこの第１の辺の両端を導
体１０の抵抗を測定すべき箇所の両端に接続すれば良
く、導体１０への接続操作が簡単であって作業性に優
れ、遠隔操作棒等を用いても容易に測定することができ
実用上その効果が著しい。また、電気抵抗の測定と同時
に、導体１０を流れる交流電流ｉの実効値Ｉの測定も可
能である。
は、送電線路や変電所設備の高圧の裸等の導体１０の接
続部等の測定すべき箇所の抵抗値を、活線状態で測定す
ることができる。しかも、導体１０に流れる誘導起電力
を用いており、従来の測定方法のごとく誘導起電力によ
る誤差がなく、精度の良い測定が可能である。また、送
電線等にあっては、測定すべき１回線が停電状熊であっ
ても、他回線が運転中であれば、かなりの大きな誘導電
流が一般的に流れており、この誘導電流を用いて測定が
可能である。さらに、閉回路１２の第１の辺が導体１０
に平行となるように接近させてこの第１の辺の両端を導
体１０の抵抗を測定すべき箇所の両端に接続すれば良
く、導体１０への接続操作が簡単であって作業性に優
れ、遠隔操作棒等を用いても容易に測定することができ
実用上その効果が著しい。また、電気抵抗の測定と同時
に、導体１０を流れる交流電流ｉの実効値Ｉの測定も可
能である。
【００２７】さらに、上記電気抵抗測定方法の実施に用
いる電気抵抗測定装置につき、図３を参照して説明す
る。図３は、本発明の電気抵抗測定装置の一実施例のブ
ロック回路図である。
いる電気抵抗測定装置につき、図３を参照して説明す
る。図３は、本発明の電気抵抗測定装置の一実施例のブ
ロック回路図である。
【００２８】図３において、矩形の閉回路１２が、導体
１０と同一平面上で、導体１０に近い側の第１の辺を平
行にして検出部２０に配設される。そして、この検出部
２０から導体１０の抵抗が測定される箇所の両端に接続
し得る接触子２２，２２が突設され、これらの接触子２
２，２２が閉回路１２の第１の辺の両端に接続線１４，
１４でそれぞれ接続される。接触子２２，２２の導体１
０への接続により、導体１０と閉回路１２の第１の辺と
接続線１４，１４により閉回路１２と同一平面上に矩形
の別の閉回路が形成される。そして、閉回路１２の第１
の辺と導体１０から遠い側の第２の辺および一方の接続
線１４は途中で切断され、ツイストペアまたは同軸ケー
ブル等を介して、それぞれスイッチ部２４に接続され
る。このスイッチ部２４の動作により、閉回路１２の第
１の辺の切断部の間は、開放または第１抵抗Ｒ１が介装
され、第２の辺の切断部の間は、開放または第１抵抗Ｒ
１と同じ抵抗値の第２抵抗Ｒ２が介装され、接続線１４
の切断部の間は、開放または短絡される。スイッチ部２
４は、スイッチ制御部２６により切り換え制御され、ス
イッチ部２４の動作状態に応じて電圧測定部２８で第１
または第２抵抗Ｒ１，Ｒ２の電圧降下が測定される。電
圧測定部２８から測定電圧に応じた電気信号が信号変換
部３０に与えられて光信号に変換され、光ファイバーケ
ーブル４０に出力される。また、光ファイバーケーブル
４０から信号変換部３０に与えられるスイッチ制御信号
としての光信号が、電気信号に変換されてスイッチ制御
部２６に与えられる。閉回路１２と接続線１４，１４と
接触子２２，２２とスイッチ部２４と第１と第２抵抗Ｒ
１，Ｒ２とスイッチ制御部２６と電圧測定部２８および
信号変換部３０を含んで、検出部２０が構成される。
１０と同一平面上で、導体１０に近い側の第１の辺を平
行にして検出部２０に配設される。そして、この検出部
２０から導体１０の抵抗が測定される箇所の両端に接続
し得る接触子２２，２２が突設され、これらの接触子２
２，２２が閉回路１２の第１の辺の両端に接続線１４，
１４でそれぞれ接続される。接触子２２，２２の導体１
０への接続により、導体１０と閉回路１２の第１の辺と
接続線１４，１４により閉回路１２と同一平面上に矩形
の別の閉回路が形成される。そして、閉回路１２の第１
の辺と導体１０から遠い側の第２の辺および一方の接続
線１４は途中で切断され、ツイストペアまたは同軸ケー
ブル等を介して、それぞれスイッチ部２４に接続され
る。このスイッチ部２４の動作により、閉回路１２の第
１の辺の切断部の間は、開放または第１抵抗Ｒ１が介装
され、第２の辺の切断部の間は、開放または第１抵抗Ｒ
１と同じ抵抗値の第２抵抗Ｒ２が介装され、接続線１４
の切断部の間は、開放または短絡される。スイッチ部２
４は、スイッチ制御部２６により切り換え制御され、ス
イッチ部２４の動作状態に応じて電圧測定部２８で第１
または第２抵抗Ｒ１，Ｒ２の電圧降下が測定される。電
圧測定部２８から測定電圧に応じた電気信号が信号変換
部３０に与えられて光信号に変換され、光ファイバーケ
ーブル４０に出力される。また、光ファイバーケーブル
４０から信号変換部３０に与えられるスイッチ制御信号
としての光信号が、電気信号に変換されてスイッチ制御
部２６に与えられる。閉回路１２と接続線１４，１４と
接触子２２，２２とスイッチ部２４と第１と第２抵抗Ｒ
１，Ｒ２とスイッチ制御部２６と電圧測定部２８および
信号変換部３０を含んで、検出部２０が構成される。
【００２９】また、検出部２０から分けて離して設けら
れる中央処理部５０には、光ファイバーケーブル４０に
接続される信号変換部５２が設けられ、検出部２０から
の測定電圧に応じた光信号が電気信号に再変換されて演
算処理部５４に与えられる。また、制御部５６からスイ
ッチ制御信号としての電気信号が信号変換部５２に与え
られて、光信号に変換されて光ファイバーケーブル４０
に与えられて検出部２０に出力される。マイクロコンピ
ュータ等を用いた演算処理部５４には、上述の電気抵抗
測定方法を実施するのに必要な演算式およびデータが予
め設定されており、測定電圧が与えられると適宜に導体
１０の抵抗Ｒ０を演算し、これが適宜に表示部５８で表
示されるとともに記憶部６０に記憶される。信号変換部
５２と演算処理部５４と制御部５６と表示部５８および
記憶部６０を含んで、中央処理部５０が構成される。
れる中央処理部５０には、光ファイバーケーブル４０に
接続される信号変換部５２が設けられ、検出部２０から
の測定電圧に応じた光信号が電気信号に再変換されて演
算処理部５４に与えられる。また、制御部５６からスイ
ッチ制御信号としての電気信号が信号変換部５２に与え
られて、光信号に変換されて光ファイバーケーブル４０
に与えられて検出部２０に出力される。マイクロコンピ
ュータ等を用いた演算処理部５４には、上述の電気抵抗
測定方法を実施するのに必要な演算式およびデータが予
め設定されており、測定電圧が与えられると適宜に導体
１０の抵抗Ｒ０を演算し、これが適宜に表示部５８で表
示されるとともに記憶部６０に記憶される。信号変換部
５２と演算処理部５４と制御部５６と表示部５８および
記憶部６０を含んで、中央処理部５０が構成される。
【００３０】検出部２０と中央処理部５０に、それぞれ
駆動用の電源（図示せず）が内蔵されている。また、検
出部２０にあっては磁束と鎖交するようにコイルを設
け、このコイルに生ずる誘導起電力を駆動電源として利
用しても良い。
駆動用の電源（図示せず）が内蔵されている。また、検
出部２０にあっては磁束と鎖交するようにコイルを設
け、このコイルに生ずる誘導起電力を駆動電源として利
用しても良い。
【００３１】かかる構成にあっては、導体１０に生じる
磁界に晒される検出部２０と、測定電圧を演算処理する
中央処理部５０を分けて離して設けることで、中央処理
部５０に対する磁界の影響が少なく、演算処理において
誤動作する虞がなく、測定精度の向上に寄与し得る。そ
して、検出部２０と中央処理部５０との間を、光ファイ
バーケーブル４０を介装して光信号で伝達するので、こ
の信号の伝達経路で電気的雑音が重畳されることがな
く、測定精度を向上させ得る。しかも、検出部２０と中
央処理部５０を分けることで、遠隔操作棒等を用いる場
合に、遠隔操作棒の先端に装置全体より軽量な検出部２
０を設ければ良く、それだけ操作性に優れたものとな
る。また、検出部２０と中央処理部５０を充分に離すと
ともに電気的に絶縁でき、安全に抵抗測定をなし得る。
磁界に晒される検出部２０と、測定電圧を演算処理する
中央処理部５０を分けて離して設けることで、中央処理
部５０に対する磁界の影響が少なく、演算処理において
誤動作する虞がなく、測定精度の向上に寄与し得る。そ
して、検出部２０と中央処理部５０との間を、光ファイ
バーケーブル４０を介装して光信号で伝達するので、こ
の信号の伝達経路で電気的雑音が重畳されることがな
く、測定精度を向上させ得る。しかも、検出部２０と中
央処理部５０を分けることで、遠隔操作棒等を用いる場
合に、遠隔操作棒の先端に装置全体より軽量な検出部２
０を設ければ良く、それだけ操作性に優れたものとな
る。また、検出部２０と中央処理部５０を充分に離すと
ともに電気的に絶縁でき、安全に抵抗測定をなし得る。
【００３２】なお、上記電気抵抗測定方法において、第
３と第２測定電圧ｖ２′，ｖ１′の差（ｖ２′−
ｖ１′）を用いる演算方法にあっては、導体１０と閉回
路１２の第１の辺および接続線１４，１４で形成する閉
回路は、矩形でなくても良い。また、実施例では、閉回
路１２と導体１０を接続する接続線１４，１４の一方に
第３開閉スイッチｓｗ３を直列に介装したが、双方に連
動する開閉スイッチをそれぞれ直列に介装しても良いこ
とは勿論である。
３と第２測定電圧ｖ２′，ｖ１′の差（ｖ２′−
ｖ１′）を用いる演算方法にあっては、導体１０と閉回
路１２の第１の辺および接続線１４，１４で形成する閉
回路は、矩形でなくても良い。また、実施例では、閉回
路１２と導体１０を接続する接続線１４，１４の一方に
第３開閉スイッチｓｗ３を直列に介装したが、双方に連
動する開閉スイッチをそれぞれ直列に介装しても良いこ
とは勿論である。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したところから明らかなよう
に、請求項１および２記載の本発明の電気抵抗測定方法
にあっては、いずれも抵抗測定の対象となる導体を活線
状態のままで測定を行なうことができる。しかも、導線
に流れる交流電流による誘導起電力等のために測定に誤
りを生ずることがない。また、導体に対して一側方から
接続させれば良く、操作が簡単であって、遠隔操作棒等
による作業に好適である。
に、請求項１および２記載の本発明の電気抵抗測定方法
にあっては、いずれも抵抗測定の対象となる導体を活線
状態のままで測定を行なうことができる。しかも、導線
に流れる交流電流による誘導起電力等のために測定に誤
りを生ずることがない。また、導体に対して一側方から
接続させれば良く、操作が簡単であって、遠隔操作棒等
による作業に好適である。
【００３４】また、請求項３記載の本発明の電気抵抗測
定装置にあっては、検出部と中央処理部を分けること
で、中央処理部を導体に生ずる磁界の影響のない位置に
配設することができ、それだけ演算処理に雑音が混入し
て誤った演算がなされる虞がなく、測定結果の信頼性が
高いものとなる。また、装置全体に比べて検出部が軽量
となり、遠隔操作棒等による操作が容易となる。
定装置にあっては、検出部と中央処理部を分けること
で、中央処理部を導体に生ずる磁界の影響のない位置に
配設することができ、それだけ演算処理に雑音が混入し
て誤った演算がなされる虞がなく、測定結果の信頼性が
高いものとなる。また、装置全体に比べて検出部が軽量
となり、遠隔操作棒等による操作が容易となる。
【００３５】そしてまた、請求項４記載の電気抵抗測定
装置にあっては、検出部と中央処理部との間を光信号で
伝達するので、伝達経路で信号に電気的雑音が重畳され
ることがなく、測定結果の精度が高いものとなる。しか
も、中央処理部を検出部から充分に離すとともに電気的
に絶縁でき、安全に抵抗測定を行なうことができる。
装置にあっては、検出部と中央処理部との間を光信号で
伝達するので、伝達経路で信号に電気的雑音が重畳され
ることがなく、測定結果の精度が高いものとなる。しか
も、中央処理部を検出部から充分に離すとともに電気的
に絶縁でき、安全に抵抗測定を行なうことができる。
【図１】本発明の電気抵抗測定方法の原理を説明する図
である。
である。
【図２】測定方法の手順を示すフローチャートである。
【図３】本発明の電気抵抗測定装置の一実施例のブロッ
ク回路図である。
ク回路図である。
１０ 導体 １２ 閉回路 １４ 接続線 ２０ 検出部 ２２ 接触子 ２４ スイッチ部 ２６ スイッチ制御部 ２８ 電圧測定部 ３０，５２ 信号変換部 ４０ 光ファイバーケーブル ５０ 中央処理部 ５４ 演算処理部 ５６ 制御部 ５８ 表示部
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−182760（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−249158（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−159449（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−5682（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 27/02 G01R 27/16 G01R 19/00 G01R 15/14
Claims (4)
- 【請求項１】 矩形の閉回路を、抵抗測定の対象となる
導体と同一平面上で一辺を前記導体と平行にして接近さ
せ、前記閉回路の前記導体と平行で近い側の第１の辺に
第１抵抗と第１開閉スイッチを直列に介装し、前記閉回
路の前記導体と平行で遠い側の第２の辺に前記第１抵抗
と同じ値の第２抵抗と第２開閉スイッチを直列に介装
し、前記第１の辺の両端を前記導体の抵抗を測定すべき
箇所の両端にそれぞれ接続線で接続し、これらの接続線
のすくなくとも一方に第３開閉スイッチを直列に介装
し、 前記第１と第２開閉スイッチを閉じて、前記第３開閉ス
イッチを開いて前記第１または第２抵抗の電圧降下を測
定して第１測定電圧となし、前記第１と第３開閉スイッ
チを閉じて、前記第２開閉スイッチを開いて前記第１抵
抗の電圧降下を測定して第２測定電圧となし、前記第２
と第３開閉スイッチを閉じて、前記第１開閉スイッチを
開いて前記第２抵抗の電圧降下を測定して第３測定電圧
となし、前記第２と第３測定電圧の差電圧と、前記第１
測定電圧とから、前記導体の抵抗を演算することを特徴
とした電気抵抗測定方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の電気抵抗測定方法におい
て、前記第１の辺と前記導体の抵抗を測定すべき箇所と
これらを接続する前記接続線で矩形閉回路を形成し、前
記第２と第３測定電圧の差電圧に代えて、前記第２と第
３測定電圧の比から前記導体と前記第１の辺の間の距離
を演算し、この距離と前記第１測定電圧から前記導体に
流れる交流電流の実効値を求め、この交流電流の実効値
と前記第２または第３測定電圧から前記導体の抵抗を演
算することを特徴とした電気抵抗測定方法。 - 【請求項３】 抵抗測定の対象となる導体に、同一平面
上で一辺を前記導体と平行にして接近させる矩形の閉回
路と、前記閉回路の前記導体と平行で近い側の第１の辺
に直列に介装された第１抵抗と第１開閉スイッチと、前
記閉回路の前記導体と平行で遠い側の第２の辺に直列に
介装された前記第１抵抗と同じ値の第２抵抗と第２開閉
スイッチと、先端に接触子を有し前記第１の辺の両端を
前記導体の抵抗を測定すべき箇所の両端にそれぞれ接続
する接続線と、前記接続線の一方に直列に介装された第
３開閉スイッチと、前記第１と第２と第３開閉スイッチ
を開閉制御するスイッチ制御部と、前記第１と第２開閉
スイッチを閉じて前記第３開閉スイッチを開いて前記第
１または第２抵抗の電圧降下を第１測定電圧として測定
し、前記第１と第３開閉スイッチを閉じて前記第２開閉
スイッチを開いて前記第１抵抗の電圧降下を第２測定電
圧として測定し、前記第２と第３開閉スイッチを閉じて
前記第１開閉スイッチを開いて前記第２抵抗の電圧降下
を第３測定電圧として測定する電圧測定部と、前記第２
と第３測定電圧の差電圧と前記第１測定電圧とから前記
導体の抵抗を演算する演算処理部と、を備えて構成する
ことを特徴とした電気抵抗測定装置。 - 【請求項４】 請求項３記載の電気抵抗測定装置におい
て、装置を検出部とこれと離れた中央処理部とに分け、
前記演算処理部を前記中央処理部に設け、前記検出部と
中央処理部にそれぞれ信号変換部を設け、双方の信号変
換部の間を光ファイバーケーブルで接続して光により信
号を伝達するように構成したことを特徴とした電気抵抗
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33949393A JP3288836B2 (ja) | 1993-12-03 | 1993-12-03 | 電気抵抗測定方法および電気抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33949393A JP3288836B2 (ja) | 1993-12-03 | 1993-12-03 | 電気抵抗測定方法および電気抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07159461A JPH07159461A (ja) | 1995-06-23 |
| JP3288836B2 true JP3288836B2 (ja) | 2002-06-04 |
Family
ID=18327992
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33949393A Expired - Fee Related JP3288836B2 (ja) | 1993-12-03 | 1993-12-03 | 電気抵抗測定方法および電気抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3288836B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7358717B2 (en) * | 2006-05-08 | 2008-04-15 | Tektronix, Inc. | Input by-pass circuit for a current probe |
| WO2014046028A1 (ja) * | 2012-09-18 | 2014-03-27 | 日産自動車株式会社 | 積層電池の内部抵抗測定回路 |
-
1993
- 1993-12-03 JP JP33949393A patent/JP3288836B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07159461A (ja) | 1995-06-23 |
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