JP3270554B2 - 計測機器 - Google Patents
計測機器Info
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- JP3270554B2 JP3270554B2 JP35749392A JP35749392A JP3270554B2 JP 3270554 B2 JP3270554 B2 JP 3270554B2 JP 35749392 A JP35749392 A JP 35749392A JP 35749392 A JP35749392 A JP 35749392A JP 3270554 B2 JP3270554 B2 JP 3270554B2
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- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
ス駆動される磁気センサ部により検出する計測機器に関
する。
動作時には、そのオン・オフにより磁気センサ部のパル
ス出力レベルがHIGHとLOW交互に切り換わり、オ
ンからオフ、又はオフからオンになるときには中間レベ
ルとなる。
動される磁気センサ部からのパルス出力信号を波形整形
回路部へ直接入力し、その波形整形出力信号を演算処理
部へ送って演算していたため、次のような問題点があっ
た。
部のパルス出力が中間レベルとなったとき、回転磁気信
号が停止状態となると、特に周囲温度が高温時におい
て、磁気センサ部のパルス出力が、HIGHでもLOW
でもない不安定な中間レベル域で上下に変動し、つまり
波形整形回路部の不確定領域を上下することにより、図
2(6)に示すように回転磁気信号が停止時であって
も、波形整形回路部から回転磁気信号とは異なる誤信号
が出力され、演算結果に誤差が生ずることがあった。
停止時に、磁気センサ部のパルス出力が、HIGHでも
LOWでもない不安定な中間レベル域で上下に変動した
としても、そのときは波形整形回路部に誤信号出力が入
ることを抑制し、高温時にも正確な演算結果が得られる
ようにすることにある。
は、図1の例示の如く、回転磁気信号を検出する磁気セ
ンサ部2と、回転磁気信号の動作時には周期が短く、停
止時には周期が長くなるパルスを発生し、そのパルスで
前記磁気センサ部2を駆動する可変周期パルス発生部1
と、該可変周期パルス発生部1からのパルスを電源と
し、前記磁気センサ部2の出力レベルに応じて、比較の
ための基準電圧の高低の閾値を切り換えるヒステリシス
回路部3と、可変周期パルス発生部1からのパルスを電
源とし、前記磁気センサ部2からの出力信号を前記基準
電圧と比較するコンパレータ回路部4と、該コンパレー
タ回路部4の出力信号を波形整形するとともにその出力
信号をヒステリシス回路部3へフィードバックする波形
整形回路部5と、その波形整形出力信号を演算する演算
処理部6とで構成される。
を参照して説明する。可変周期パルス発生部1からの同
図(1)に示すパルスによって磁気センサ部2が駆動さ
れ、回転磁気信号を検出する。そして、該磁気センサ部
2が、同図(2)に示すように回転磁気信号のレベルに
応じたパルス出力信号を可変周期パルス発生部1のパル
スに同期して出力する。図では、磁気センサ部2のパル
ス出力が中間レベルとなったとき、回転磁気信号が停止
状態となり、停止中は、磁気センサ部2のパルス出力
が、HIGHでもLOWでもない不安定な中間レベル域
で上下に変動している状態を表している。
の出力レベルに応じて、同図(3)に示すようにコンパ
レータ回路部4に対する基準電圧の高低の閾値を切り換
え、センサ出力が一定のレベルよりHIGHレベルにな
ったときは基準電圧の閾値をLOW、LOWレベルにな
ったときは閾値をHIGHとする。そして、コンパレー
タ回路部4の出力は、同図(4)のように中間レベルの
ないHIGHレベルかLOWレベルかのいずれかに2分
され、波形整形回路部5からの出力は回転磁気信号の動
作時にはHIGHとLOWが反転し、回転磁気信号の停
止時には、磁気センサ部2のパルス出力の中間レベル域
での上下変動に関係なく、LOWまたはHIGHのまま
とする。
る。図1に示すように、この計測機器は、可変周期パル
ス発生部1と磁気センサ部2とヒステリシス回路部3と
コンパレータ回路部4と波形整形回路部5と演算処理部
6とで構成される。
示すように回転磁気信号の動作時には周期が短く、停止
時には周期が長くなるパルスを発生する。このパルス
は、磁気センサ部2とヒステリシス回路部3とコンパレ
ータ回路部4に供給される。
1からのパルスを電源として駆動して回転磁気信号を検
出し、図2(2)に示すように回転磁気信号のレベルに
応じたパルス出力信号を可変周期パルス発生部1のパル
スに同期して出力する。このパルス出力信号は、回転磁
気信号の動作時には、そのオン・オフによりレベルがH
IGHとLOW交互に切り換わり、オンからオフ、又は
オフからオンになるときには中間レベルとなる。しか
し、回転磁気信号の停止時には、HIGHでもLOWで
もない不安定な中間レベル域で上下に変動することがあ
る。図では、磁気センサ部2のパルス出力が中間レベル
となったとき、回転磁気信号が停止状態となったため、
回転磁気信号の停止中に、磁気センサ部2のパルス出力
が、HIGHでもLOWでもない不安定な中間レベル域
で上下に変動している状態を表している。
発生部1からのパルスを電源として、磁気センサ部2の
出力レベルに応じてコンパレータ回路部4で比較するた
めの基準電圧の高低の閾値を切り換える。すなわち、図
2(3)に示すように、磁気センサ部2の出力レベルが
一定のレベルよりHIGHレベルになったときは基準電
圧の閾値をLOW、LOWレベルになったときは閾値を
HIGHとする。しかし、回転磁気信号の停止状態とな
ったとき、閾値がHIGHであればそのままHIGHを
維持する。
発生部1からのパルスを電源とし、磁気センサ部2から
の図2(2)に示すパルス出力信号をヒステリシス回路
部3からの同図(3)に示す基準電圧と比較する。
出力信号がHIGHになると、その後の磁気センサ部2
からのパルス出力信号がヒステリシス回路部3からのパ
ルス出力のLOWレベルより低くならないと、次のコン
パレータ回路部4のパルス出力はLOWにはならない。
同様に、一度磁気センサ部2からのパルス出力信号がL
OWになると、その後の磁気センサ部2からのパルス出
力信号がヒステリシス回路部3からのパルス出力のHI
GHレベルより高くならないと、次のコンパレータ回路
部4のパルス出力はHIGHにはならない。このことに
より、コンパレータ回路部4のパルス出力は、同図
(4)のように中間レベルのないHIGHレベルかLO
Wレベルかのいずれかに2分され、回転磁気信号の動作
時には、磁気センサ部2からのパルス出力信号がHIG
Hであればコンパレータ回路部4のパルス出力もHIG
H、磁気センサ部2からのパルス出力信号がLOWであ
ればコンパレータ回路部4のパルス出力もLOWとな
る。しかし、回転磁気信号の停止時にはLOWだけとな
る。
4において上記のようにHIGHレベルかLOWレベル
かのいずれかに2分されたパルスを入力されるため、同
図(5)に示すように該波形整形回路部5からの波形整
形出力は、回転磁気信号の動作時にはHIGHとLOW
が反転する2値信号となるが、回転磁気信号の停止時に
は、磁気センサ部2のパルス出力の中間レベル域での上
下変動に関係なく、LOWのままとなる。従って、演算
処理部6は回転磁気信号の数にのみ応じた正確な演算結
果を示す。なお、波形整形回路部5の出力はヒシテリシ
ス回路部3へフィードバックされる。
ルス出力信号を波形整形回路部の前段において、中間レ
ベルのないHIGHレベルかLOWレベルかのいずれか
に2分し、回転磁気信号の動作時にはHIGHとLOW
が反転するが、回転磁気信号の停止時には、磁気センサ
部のパルス出力の中間レベル域での上下変動に関係な
く、LOWまたはHIGHのままとなるようにしたの
で、波形整形回路部に誤信号出力が入ることを抑制し、
高温時にも正確な演算結果を得ることができる。
ク図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 回転磁気信号をパルス駆動される磁気セ
ンサ部により検出する計測機器において、前記回転磁気
信号の動作時には周期が短く、停止時には周期が長くな
るパルスを発生し、そのパルスで前記磁気センサ部を駆
動する可変周期パルス発生部と、該可変周期パルス発生
部からのパルスを電源とし、前記磁気センサ部の出力レ
ベルに応じて、比較のための基準電圧の高低の閾値を切
り換えるヒステリシス回路部と、前記可変周期パルス発
生部からのパルスを電源とし、前記磁気センサ部からの
出力信号を前記基準電圧と比較するコンパレータ回路部
と、該コンパレータ回路部の出力信号を波形整形すると
ともにその出力信号を前記ヒステリシス回路部へフィー
ドバックする波形整形回路部と、その波形整形出力信号
を演算する演算処理部とを備えたことを特徴とする、計
測機器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35749392A JP3270554B2 (ja) | 1992-12-24 | 1992-12-24 | 計測機器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35749392A JP3270554B2 (ja) | 1992-12-24 | 1992-12-24 | 計測機器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06194187A JPH06194187A (ja) | 1994-07-15 |
JP3270554B2 true JP3270554B2 (ja) | 2002-04-02 |
Family
ID=18454410
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35749392A Expired - Fee Related JP3270554B2 (ja) | 1992-12-24 | 1992-12-24 | 計測機器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3270554B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8089270B2 (en) * | 2009-03-10 | 2012-01-03 | Allegro Microsystems, Inc. | Magnetic field detector having a variable threshold |
-
1992
- 1992-12-24 JP JP35749392A patent/JP3270554B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06194187A (ja) | 1994-07-15 |
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