JP3249495B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JP3249495B2 JP3249495B2 JP23723099A JP23723099A JP3249495B2 JP 3249495 B2 JP3249495 B2 JP 3249495B2 JP 23723099 A JP23723099 A JP 23723099A JP 23723099 A JP23723099 A JP 23723099A JP 3249495 B2 JP3249495 B2 JP 3249495B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は光ディスク装置に
関し、さらに詳しくは、光ディスクに予め形成されたフ
ァインクロックマークに同期して信号の記録および／ま
たは再生を行なう光ディスク装置に関する。
関し、さらに詳しくは、光ディスクに予め形成されたフ
ァインクロックマークに同期して信号の記録および／ま
たは再生を行なう光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＡＳ−ＭＯ（Advanced Storaged-Magnet
o Optics）のような光磁気ディスクには、信号の記録お
よび再生に必要な同期信号を得るために予めファインク
ロックマークが形成されている。ファインクロックマー
クは一般に、ランド中に等間隔で設けられたグルーブ状
の不連続領域やグルーブ中で等間隔に設けられたランド
状の不連続領域により形成される。
o Optics）のような光磁気ディスクには、信号の記録お
よび再生に必要な同期信号を得るために予めファインク
ロックマークが形成されている。ファインクロックマー
クは一般に、ランド中に等間隔で設けられたグルーブ状
の不連続領域やグルーブ中で等間隔に設けられたランド
状の不連続領域により形成される。
【０００３】光ディスク装置は、このようなファインク
ロックマークを検出してＰＬＬ（Phase Locked Loop ）
回路により同期信号を生成し、この同期信号に応答して
光磁気ディスクに信号を記録したり光磁気ディスクから
信号を再生したりする。
ロックマークを検出してＰＬＬ（Phase Locked Loop ）
回路により同期信号を生成し、この同期信号に応答して
光磁気ディスクに信号を記録したり光磁気ディスクから
信号を再生したりする。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光磁気
ディスク上に傷のような欠陥があると、光ディスク装置
はこの欠陥をファインクロックマークと誤って検出する
ことがある。そのため、ＰＬＬ回路の同期が外れ、正し
い同期信号を得ることができない。
ディスク上に傷のような欠陥があると、光ディスク装置
はこの欠陥をファインクロックマークと誤って検出する
ことがある。そのため、ＰＬＬ回路の同期が外れ、正し
い同期信号を得ることができない。
【０００５】この発明の目的は、ファインクロックマー
クを傷のような欠陥と区別して正しいファインクロック
マーク信号を得ることが可能な光ディスク装置を提供す
ることである。
クを傷のような欠陥と区別して正しいファインクロック
マーク信号を得ることが可能な光ディスク装置を提供す
ることである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明に従うと、光デ
ィスクに予め形成されたファインクロックマークに同期
して信号の記録および／または再生を行なう光ディスク
装置は、センサと、減算器と、加算器と、欠陥除去手段
とを備える。センサは、光ディスクのトラックに沿って
並ぶ第１および第２の領域を有し、光ディスクからの反
射光を各領域で検知する。減算器は、第１の領域からの
出力信号から第２の領域からの出力信号を減算すること
によりファインクロックマークを検出してファインクロ
ックマーク信号を生成する。加算器は、第１の領域から
の出力信号と第２の領域からの出力信号とを加算して和
信号を生成する。欠陥除去手段は、和信号のレベルが予
め定められたレベルよりも低いときファインクロックマ
ーク信号のレベルをゼロに設定する。
ィスクに予め形成されたファインクロックマークに同期
して信号の記録および／または再生を行なう光ディスク
装置は、センサと、減算器と、加算器と、欠陥除去手段
とを備える。センサは、光ディスクのトラックに沿って
並ぶ第１および第２の領域を有し、光ディスクからの反
射光を各領域で検知する。減算器は、第１の領域からの
出力信号から第２の領域からの出力信号を減算すること
によりファインクロックマークを検出してファインクロ
ックマーク信号を生成する。加算器は、第１の領域から
の出力信号と第２の領域からの出力信号とを加算して和
信号を生成する。欠陥除去手段は、和信号のレベルが予
め定められたレベルよりも低いときファインクロックマ
ーク信号のレベルをゼロに設定する。
【０００７】好ましくは、上記欠陥除去手段は、欠陥検
出手段と、設定手段とを含む。欠陥検出手段は、和信号
のレベルが予め定められたレベルよりも低いとき欠陥検
出信号を生成する。設定手段は、欠陥検出信号に応答し
てファインクロックマーク信号のレベルをゼロに設定す
る設定手段とを含む。
出手段と、設定手段とを含む。欠陥検出手段は、和信号
のレベルが予め定められたレベルよりも低いとき欠陥検
出信号を生成する。設定手段は、欠陥検出信号に応答し
てファインクロックマーク信号のレベルをゼロに設定す
る設定手段とを含む。
【０００８】さらに好ましくは、上記欠陥検出手段は、
Ａ／Ｄ変換器と、ＤＳＰ（DigitalSignal Processor）
とを含む。Ａ／Ｄ変換器は、和信号をディジタル化す
る。ＤＳＰは、Ａ／Ｄ変換器から出力されるディジタル
和信号を受け、ディジタル和信号のレベルが予め定めら
れたレベルよりも低いとき欠陥検出信号を活性にし、他
方、ディジタル和信号のレベルが予め定められたレベル
よりも高いとき欠陥検出信号を非活性にする。
Ａ／Ｄ変換器と、ＤＳＰ（DigitalSignal Processor）
とを含む。Ａ／Ｄ変換器は、和信号をディジタル化す
る。ＤＳＰは、Ａ／Ｄ変換器から出力されるディジタル
和信号を受け、ディジタル和信号のレベルが予め定めら
れたレベルよりも低いとき欠陥検出信号を活性にし、他
方、ディジタル和信号のレベルが予め定められたレベル
よりも高いとき欠陥検出信号を非活性にする。
【０００９】さらに好ましくは、上記ＤＳＰは、比較手
段と、活性化手段と、非活性化手段とを含む。比較手段
は、ディジタル和信号を予め定められたレベルと比較す
る。活性化手段は、比較手段による比較結果に従って、
ディジタル和信号のレベルが予め定められたレベルより
も低いとき欠陥検出信号を活性にする。非活性化手段
は、比較手段による比較結果に従って、ディジタル和信
号のレベルが予め定められたレベルよりも高いとき欠陥
検出信号を非活性にする。
段と、活性化手段と、非活性化手段とを含む。比較手段
は、ディジタル和信号を予め定められたレベルと比較す
る。活性化手段は、比較手段による比較結果に従って、
ディジタル和信号のレベルが予め定められたレベルより
も低いとき欠陥検出信号を活性にする。非活性化手段
は、比較手段による比較結果に従って、ディジタル和信
号のレベルが予め定められたレベルよりも高いとき欠陥
検出信号を非活性にする。
【００１０】あるいは、上記欠陥検出手段は、和信号の
レベルを前記予め定められたレベルと比較して欠陥検出
信号を生成する比較器を含む。
レベルを前記予め定められたレベルと比較して欠陥検出
信号を生成する比較器を含む。
【００１１】上記光ディスク装置においては、減算器が
ファインクロックマークを検出してファインクロックマ
ーク信号を生成するが、傷のような欠陥も検出してしま
い、ファインクロックマーク信号にノイズが生じる。一
方、このような欠陥がある箇所では反射光が減少するた
め、加算器から出力される和信号のレベルが低下する。
この和信号のレベルが予め定められたレベルよりも低い
ときファインクロックマーク信号のレベルがゼロにされ
るので、ファインクロックマーク信号に生じた上記ノイ
ズは除去される。その結果、正しいファインクロックマ
ーク信号が得られる。
ファインクロックマークを検出してファインクロックマ
ーク信号を生成するが、傷のような欠陥も検出してしま
い、ファインクロックマーク信号にノイズが生じる。一
方、このような欠陥がある箇所では反射光が減少するた
め、加算器から出力される和信号のレベルが低下する。
この和信号のレベルが予め定められたレベルよりも低い
ときファインクロックマーク信号のレベルがゼロにされ
るので、ファインクロックマーク信号に生じた上記ノイ
ズは除去される。その結果、正しいファインクロックマ
ーク信号が得られる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相
当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相
当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
【００１３】［第１の実施の形態］図１を参照して、第
１の実施の形態による光ディスク装置は、ＡＳ−ＭＯの
ような光磁気ディスク１０にレーザ光を照射してその反
射光を検出する光ピックアップ１２と、光ピックアップ
１２から出力される各種信号を増幅するヘッドアンプ回
路１４と、ヘッドアンプ回路１４から出力される各種信
号を処理する信号処理回路１６とを備える。
１の実施の形態による光ディスク装置は、ＡＳ−ＭＯの
ような光磁気ディスク１０にレーザ光を照射してその反
射光を検出する光ピックアップ１２と、光ピックアップ
１２から出力される各種信号を増幅するヘッドアンプ回
路１４と、ヘッドアンプ回路１４から出力される各種信
号を処理する信号処理回路１６とを備える。
【００１４】光ピックアップ１２は、半導体レーザ（図
示せず）と、半導体レーザからのレーザ光を光磁気ディ
スク１０上に合焦する対物レンズ（図示せず）と、光磁
気ディスク１０からの反射光を検知する光センサ（図
２、３中の２０）とを含む。光ピックアップ１２自体は
周知のものであるから、その詳細な説明は省略する。
示せず）と、半導体レーザからのレーザ光を光磁気ディ
スク１０上に合焦する対物レンズ（図示せず）と、光磁
気ディスク１０からの反射光を検知する光センサ（図
２、３中の２０）とを含む。光ピックアップ１２自体は
周知のものであるから、その詳細な説明は省略する。
【００１５】光磁気ディスク１０には、図２（ａ）に示
されるようにランド１７およびグルーブ１８が形成され
ている。ランド１７およびグルーブ１８の両方に光磁気
記録膜が形成されており、ランド１７およびグルーブ１
８がこの光磁気ディスク１０のトラックを形成してい
る。このトラックは光磁気ディスク１０上にスパイラル
状または同心円状に形成されている。また、ランド１７
中にはファインクロックマーク１９としてグルーブ状の
不連続領域が等間隔で形成されており、グルーブ１８中
にはファインクロックマーク２１としてランド状の不連
続領域が等間隔で形成されている。
されるようにランド１７およびグルーブ１８が形成され
ている。ランド１７およびグルーブ１８の両方に光磁気
記録膜が形成されており、ランド１７およびグルーブ１
８がこの光磁気ディスク１０のトラックを形成してい
る。このトラックは光磁気ディスク１０上にスパイラル
状または同心円状に形成されている。また、ランド１７
中にはファインクロックマーク１９としてグルーブ状の
不連続領域が等間隔で形成されており、グルーブ１８中
にはファインクロックマーク２１としてランド状の不連
続領域が等間隔で形成されている。
【００１６】ランド１７およびグルーブ１８は光ピック
アップ１２からのレーザ光で走査される。光磁気ディス
ク１０からの反射光を検知する光センサ２０は４つの領
域２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ，２０Ｄに分割されている。
領域２０Ａおよび２０Ｂの後半分と領域２０Ｃおよび２
０Ｄの前半分とはランド１７またはグルーブ１８からな
るトラックに沿って並んでいる。すなわち、光磁気ディ
スク１０上に形成されたレーザスポットの前半分からの
反射光を受けるように領域２０Ｃおよび２０Ｄが配置さ
れ、レーザスポットの後半分からの反射光を受けるよう
に領域２０Ａおよび２０Ｂが配置されている。
アップ１２からのレーザ光で走査される。光磁気ディス
ク１０からの反射光を検知する光センサ２０は４つの領
域２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ，２０Ｄに分割されている。
領域２０Ａおよび２０Ｂの後半分と領域２０Ｃおよび２
０Ｄの前半分とはランド１７またはグルーブ１８からな
るトラックに沿って並んでいる。すなわち、光磁気ディ
スク１０上に形成されたレーザスポットの前半分からの
反射光を受けるように領域２０Ｃおよび２０Ｄが配置さ
れ、レーザスポットの後半分からの反射光を受けるよう
に領域２０Ａおよび２０Ｂが配置されている。
【００１７】図３を参照して、光ピックアップ１２はさ
らに、光センサ２０の領域２０Ａからの出力信号Ａと領
域２０Ｂからの出力信号Ｂとを加算する加算器２２と、
領域２０Ｃからの出力信号Ｃと領域２０Ｄからの出力信
号Ｄとを加算する加算器２４と、加算器２２から出力さ
れる和信号Ａ＋Ｂと加算器２４から出力される和信号Ｃ
＋Ｄとを加算する加算器２６と、加算器２２から出力さ
れる和信号Ａ＋Ｂから加算器２４から出力される和信号
Ｃ＋Ｄを減算する減算器２８とを含む。したがって、加
算器２６は和信号ＳＵＭ１（＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）を生成
し、減算器２８は差信号であるファインクロックマーク
信号ＦＣＭ１（＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ））を生成す
る。
らに、光センサ２０の領域２０Ａからの出力信号Ａと領
域２０Ｂからの出力信号Ｂとを加算する加算器２２と、
領域２０Ｃからの出力信号Ｃと領域２０Ｄからの出力信
号Ｄとを加算する加算器２４と、加算器２２から出力さ
れる和信号Ａ＋Ｂと加算器２４から出力される和信号Ｃ
＋Ｄとを加算する加算器２６と、加算器２２から出力さ
れる和信号Ａ＋Ｂから加算器２４から出力される和信号
Ｃ＋Ｄを減算する減算器２８とを含む。したがって、加
算器２６は和信号ＳＵＭ１（＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）を生成
し、減算器２８は差信号であるファインクロックマーク
信号ＦＣＭ１（＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ））を生成す
る。
【００１８】ここで、光センサ２０が前方および後方の
２つに分割されている場合は、加算器２６が前方の領域
からの出力信号と後方の領域からの出力信号とを加算し
て和信号ＳＵＭ１を生成し、減算器２８が後方の領域か
らの出力信号から前方の領域からの出力信号を減算する
ことによりファインクロックマーク１９，２１を検出し
てファインクロックマーク信号ＦＣＭ１を生成すればよ
い。
２つに分割されている場合は、加算器２６が前方の領域
からの出力信号と後方の領域からの出力信号とを加算し
て和信号ＳＵＭ１を生成し、減算器２８が後方の領域か
らの出力信号から前方の領域からの出力信号を減算する
ことによりファインクロックマーク１９，２１を検出し
てファインクロックマーク信号ＦＣＭ１を生成すればよ
い。
【００１９】図２（ｂ）に示されるように、ファインク
ロックマーク１９以外のランド１７またはファインクロ
ックマーク２１以外のグルーブ１８がレーザ光で走査さ
れている間は、加算器２２からの出力信号Ａ＋Ｂのレベ
ルは加算器２４からの出力信号Ｃ＋Ｄのレベルと等し
い。したがって、減算器２８から出力されるファインク
ロックマーク信号ＦＣＭ１のレベルはゼロになる。
ロックマーク１９以外のランド１７またはファインクロ
ックマーク２１以外のグルーブ１８がレーザ光で走査さ
れている間は、加算器２２からの出力信号Ａ＋Ｂのレベ
ルは加算器２４からの出力信号Ｃ＋Ｄのレベルと等し
い。したがって、減算器２８から出力されるファインク
ロックマーク信号ＦＣＭ１のレベルはゼロになる。
【００２０】レーザスポットの前半分がグルーブ１８中
のファインクロックマーク２１に差しかかると、ファイ
ンクロックマーク信号ＦＣＭ１のレベルはゼロよりも高
くなる。続いて、レーザスポットの前半分がファインク
ロックマーク２１を超えると、ファインクロックマーク
信号ＦＣＭ１のレベルはゼロよりも低くなる。これは、
ファインクロックマーク２１からの反射光が減少するか
らである。レーザスポットがランド１７中のファインク
ロックマーク１９を通過するときも同様にファインクロ
ックマーク信号ＦＣＭ１が生成される。
のファインクロックマーク２１に差しかかると、ファイ
ンクロックマーク信号ＦＣＭ１のレベルはゼロよりも高
くなる。続いて、レーザスポットの前半分がファインク
ロックマーク２１を超えると、ファインクロックマーク
信号ＦＣＭ１のレベルはゼロよりも低くなる。これは、
ファインクロックマーク２１からの反射光が減少するか
らである。レーザスポットがランド１７中のファインク
ロックマーク１９を通過するときも同様にファインクロ
ックマーク信号ＦＣＭ１が生成される。
【００２１】再び図１を参照して、ヘッドアンプ回路１
４は、光ピックアップ１２から出力される和信号ＳＵＭ
１を増幅する増幅器３０と、光ピックアップ１２から出
力されるファインクロックマーク信号ＦＣＭ１を増幅す
る増幅器３２と、信号処理回路１６から出力される欠陥
検出信号／ＤＥＦＥＣＴがＨ（論理ハイ）レベル（非活
性状態）のとき増幅器３２からのファインクロックマー
ク信号ＦＣＭ２をそのまま通過させ、欠陥検出信号／Ｄ
ＥＦＥＣＴがＬ（論理ロー）レベル（活性状態）のとき
ファインクロックマーク信号ＦＣＭ２のレベルをゼロに
するゲート回路３４とを含む。
４は、光ピックアップ１２から出力される和信号ＳＵＭ
１を増幅する増幅器３０と、光ピックアップ１２から出
力されるファインクロックマーク信号ＦＣＭ１を増幅す
る増幅器３２と、信号処理回路１６から出力される欠陥
検出信号／ＤＥＦＥＣＴがＨ（論理ハイ）レベル（非活
性状態）のとき増幅器３２からのファインクロックマー
ク信号ＦＣＭ２をそのまま通過させ、欠陥検出信号／Ｄ
ＥＦＥＣＴがＬ（論理ロー）レベル（活性状態）のとき
ファインクロックマーク信号ＦＣＭ２のレベルをゼロに
するゲート回路３４とを含む。
【００２２】信号処理回路１６は、増幅器３０から出力
される和信号ＳＵＭ２のレベルが予め定められたレベル
（しきい値）よりも低いとき欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣ
Ｔを生成する欠陥検出回路３６を含む。この欠陥検出回
路３６は、より具体的には、和信号ＳＵＭ２をディジタ
ル化するＡ／Ｄ変換器３８と、Ａ／Ｄ変換器３８から出
力されたディジタル和信号ＳＵＭ３を受け、ディジタル
和信号ＳＵＭ３のレベルが予め定められたレベルよりも
低いとき欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴを活性にしかつデ
ィジタル和信号ＳＵＭ３のレベルが予め定められたレベ
ルよりも高いとき欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴを非活性
にするＤＳＰ４０とを含む。
される和信号ＳＵＭ２のレベルが予め定められたレベル
（しきい値）よりも低いとき欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣ
Ｔを生成する欠陥検出回路３６を含む。この欠陥検出回
路３６は、より具体的には、和信号ＳＵＭ２をディジタ
ル化するＡ／Ｄ変換器３８と、Ａ／Ｄ変換器３８から出
力されたディジタル和信号ＳＵＭ３を受け、ディジタル
和信号ＳＵＭ３のレベルが予め定められたレベルよりも
低いとき欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴを活性にしかつデ
ィジタル和信号ＳＵＭ３のレベルが予め定められたレベ
ルよりも高いとき欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴを非活性
にするＤＳＰ４０とを含む。
【００２３】ＤＳＰ４０は、図４に示されるプログラム
に従って動作する。すなわち、光ピックアップ１２で
は、レーザ光を光磁気ディスク１０上に合焦させるため
に対物レンズのフォーカスサーボ制御が行なわれる。ス
テップＳ１では、そのために必要な制御パラメータが計
算される。光ピックアップ１２ではまた、レーザ光がト
ラックから外れないようにトラッキングサーボ制御が行
なわれる。ステップＳ２では、そのために必要な制御パ
ラメータが計算される。また、光ピックアップ１２を所
望のトラックまで迅速に移動させるためにスレッドサー
ボ制御が行なわれる。ステップＳ３では、そのために必
要な制御パラメータが計算される。また、光磁気ディス
ク１０を所定速度で回転させるためにスピンドルサーボ
制御が行なわれる。ステップＳ４では、そのために必要
な制御パラメータが計算される。そして、ステップＳ５
では、光磁気ディスク１０上の傷のような欠陥を検出す
るために、和信号ＳＵＭ２のレベルが予め定められたレ
ベルよりも低いとき欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴが生成
される。ＤＳＰ４０はこのようなルーチンＳ１〜Ｓ５を
繰返し行なうが、スレッドサーボ制御のための計算ステ
ップＳ３およびスピンドルサーボ制御のための計算ステ
ップＳ４は、１６回に１回だけ行なう。なお、欠陥を検
出するためのルーチンＳ５は後に詳しく説明する。
に従って動作する。すなわち、光ピックアップ１２で
は、レーザ光を光磁気ディスク１０上に合焦させるため
に対物レンズのフォーカスサーボ制御が行なわれる。ス
テップＳ１では、そのために必要な制御パラメータが計
算される。光ピックアップ１２ではまた、レーザ光がト
ラックから外れないようにトラッキングサーボ制御が行
なわれる。ステップＳ２では、そのために必要な制御パ
ラメータが計算される。また、光ピックアップ１２を所
望のトラックまで迅速に移動させるためにスレッドサー
ボ制御が行なわれる。ステップＳ３では、そのために必
要な制御パラメータが計算される。また、光磁気ディス
ク１０を所定速度で回転させるためにスピンドルサーボ
制御が行なわれる。ステップＳ４では、そのために必要
な制御パラメータが計算される。そして、ステップＳ５
では、光磁気ディスク１０上の傷のような欠陥を検出す
るために、和信号ＳＵＭ２のレベルが予め定められたレ
ベルよりも低いとき欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴが生成
される。ＤＳＰ４０はこのようなルーチンＳ１〜Ｓ５を
繰返し行なうが、スレッドサーボ制御のための計算ステ
ップＳ３およびスピンドルサーボ制御のための計算ステ
ップＳ４は、１６回に１回だけ行なう。なお、欠陥を検
出するためのルーチンＳ５は後に詳しく説明する。
【００２４】再び図１を参照して、信号処理回路１６は
さらに、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ３に応答し
て光ピックアップ１２により光磁気ディスク１０から信
号を読出すリードチャネル回路４２と、リードチャネル
回路４２により読出された信号を復調して誤り訂正を行
なったり記録信号を変調したりするＯＤＣ（OpticalDis
k Controller ）回路４４と、ＯＤＣ回路４４からの再
生信号を出力したり記録信号を入力したりするインタフ
ェース（Ｉ／Ｆ）回路４６とを含む。リードチャネル回
路４２は、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ３に応答
して、信号の記録および再生に用いられる同期信号を生
成するＰＬＬ回路（図示せず）を含む。
さらに、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ３に応答し
て光ピックアップ１２により光磁気ディスク１０から信
号を読出すリードチャネル回路４２と、リードチャネル
回路４２により読出された信号を復調して誤り訂正を行
なったり記録信号を変調したりするＯＤＣ（OpticalDis
k Controller ）回路４４と、ＯＤＣ回路４４からの再
生信号を出力したり記録信号を入力したりするインタフ
ェース（Ｉ／Ｆ）回路４６とを含む。リードチャネル回
路４２は、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ３に応答
して、信号の記録および再生に用いられる同期信号を生
成するＰＬＬ回路（図示せず）を含む。
【００２５】次に、このような光ディスク装置によりフ
ァインクロックマーク１９，２１を傷のような欠陥と区
別するための動作について説明する。
ァインクロックマーク１９，２１を傷のような欠陥と区
別するための動作について説明する。
【００２６】光ピックアップ１２から光磁気ディスク１
０に照射されたレーザ光がファインクロックマーク１
９，２１を通過すると、図２（ｂ）に示されるようなフ
ァインクロックマーク信号ＦＣＭ１が生成される。この
ファインクロックマーク信号ＦＣＭ１は増幅器３２によ
り増幅され、図５に示されるようなファインクロックマ
ーク信号ＦＣＭ２が生成される。ファインクロックマー
ク１９，２１は等間隔で形成されているため、ファイン
クロックマーク信号ＦＣＭ２は本来なら周期的に生成さ
れるべきものである。しかしながら、光磁気ディスク１
０上に傷のような欠陥があるとファインクロックマーク
信号と同じような波形を有するノイズ４８がファインク
ロックマーク信号ＦＣＭ２中に混入してしまう。
０に照射されたレーザ光がファインクロックマーク１
９，２１を通過すると、図２（ｂ）に示されるようなフ
ァインクロックマーク信号ＦＣＭ１が生成される。この
ファインクロックマーク信号ＦＣＭ１は増幅器３２によ
り増幅され、図５に示されるようなファインクロックマ
ーク信号ＦＣＭ２が生成される。ファインクロックマー
ク１９，２１は等間隔で形成されているため、ファイン
クロックマーク信号ＦＣＭ２は本来なら周期的に生成さ
れるべきものである。しかしながら、光磁気ディスク１
０上に傷のような欠陥があるとファインクロックマーク
信号と同じような波形を有するノイズ４８がファインク
ロックマーク信号ＦＣＭ２中に混入してしまう。
【００２７】一方、レーザ光が欠陥を通過するとき、和
信号ＳＵＭ２のレベルは大幅に低下する。これは、欠陥
のある箇所では乱反射が起こり、反射光が大幅に減少す
るためである。これに対し、ファインクロックマーク１
９，２１の表面は滑らかであるから、レーザ光がファイ
ンクロックマーク１９，２１を通過するとき和信号ＳＵ
Ｍ２のレベルはわずかに低下するが、大幅に低下するこ
とはない。このように、レーザ光が傷のような欠陥を通
過したときの和信号ＳＵＭ２のレベルは、ファインクロ
ックマーク１９，２１を通過したときのものより１．５
〜４倍ほど大きく低下する。
信号ＳＵＭ２のレベルは大幅に低下する。これは、欠陥
のある箇所では乱反射が起こり、反射光が大幅に減少す
るためである。これに対し、ファインクロックマーク１
９，２１の表面は滑らかであるから、レーザ光がファイ
ンクロックマーク１９，２１を通過するとき和信号ＳＵ
Ｍ２のレベルはわずかに低下するが、大幅に低下するこ
とはない。このように、レーザ光が傷のような欠陥を通
過したときの和信号ＳＵＭ２のレベルは、ファインクロ
ックマーク１９，２１を通過したときのものより１．５
〜４倍ほど大きく低下する。
【００２８】続いて、図４中の欠陥検出ルーチンＳ５の
詳細を示す図６を参照して、ステップＳ５１で、Ａ／Ｄ
変換器３８から出力されたディジタル和信号ＳＵＭ３が
ＤＳＰ４０に入力される。
詳細を示す図６を参照して、ステップＳ５１で、Ａ／Ｄ
変換器３８から出力されたディジタル和信号ＳＵＭ３が
ＤＳＰ４０に入力される。
【００２９】続いてステップＳ５２で、ＤＳＰ４０は和
信号ＳＵＭ３のレベルを所定のしきい値と比較する。こ
のしきい値は、レーザ光がファインクロックマーク１
９，２１を通過したときに生成される和信号ＳＵＭ２の
最小ピークレベルよりも低く、かつレーザ光が欠陥を通
過したときに生成される和信号ＳＵＭ２の最小ピークレ
ベルよりも高く設定される。
信号ＳＵＭ３のレベルを所定のしきい値と比較する。こ
のしきい値は、レーザ光がファインクロックマーク１
９，２１を通過したときに生成される和信号ＳＵＭ２の
最小ピークレベルよりも低く、かつレーザ光が欠陥を通
過したときに生成される和信号ＳＵＭ２の最小ピークレ
ベルよりも高く設定される。
【００３０】上記比較の結果、和信号ＳＵＭ２のレベル
が所定のしきい値よりも低くなると、ステップＳ５３で
ＤＳＰ４０は欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴをＬレベルに
活性化する。他方、和信号ＳＵＭ２のレベルが所定のし
きい値よりも高い間はＤＳＰ４０は欠陥検出信号／ＤＥ
ＦＥＣＴをＨレベルの非活性状態に維持する。
が所定のしきい値よりも低くなると、ステップＳ５３で
ＤＳＰ４０は欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴをＬレベルに
活性化する。他方、和信号ＳＵＭ２のレベルが所定のし
きい値よりも高い間はＤＳＰ４０は欠陥検出信号／ＤＥ
ＦＥＣＴをＨレベルの非活性状態に維持する。
【００３１】この欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴはゲート
回路３４に与えられる。欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴが
Ｈレベルのとき増幅器３２からのファインクロックマー
ク信号ＦＣＭ２はゲート回路３４をそのまま通過し、フ
ァインクロックマーク信号ＦＣＭ２と同じファインクロ
ックマーク信号ＦＣＭ３が得られる。他方、欠陥検出信
号／ＤＥＦＥＣＴがＬレベルのとき増幅器３２からのフ
ァインクロックマーク信号ＦＣＭ２はゲート回路３４に
より遮断され、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ３の
レベルがゼロにされる。すなわち、ここでは、ゲート回
路３４が欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴに応答してファイ
ンクロックマーク信号ＦＣＭ２，３のレベルをゼロに設
定することにより、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ
２に混入した欠陥に伴うノイズ４８を除去している。
回路３４に与えられる。欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴが
Ｈレベルのとき増幅器３２からのファインクロックマー
ク信号ＦＣＭ２はゲート回路３４をそのまま通過し、フ
ァインクロックマーク信号ＦＣＭ２と同じファインクロ
ックマーク信号ＦＣＭ３が得られる。他方、欠陥検出信
号／ＤＥＦＥＣＴがＬレベルのとき増幅器３２からのフ
ァインクロックマーク信号ＦＣＭ２はゲート回路３４に
より遮断され、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ３の
レベルがゼロにされる。すなわち、ここでは、ゲート回
路３４が欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴに応答してファイ
ンクロックマーク信号ＦＣＭ２，３のレベルをゼロに設
定することにより、ファインクロックマーク信号ＦＣＭ
２に混入した欠陥に伴うノイズ４８を除去している。
【００３２】以上のようにこの第１の実施の形態によれ
ば、欠陥検出回路３６およびゲート回路３４が和信号Ｓ
ＵＭ２のレベルが予め定められたレベルよりも低いとき
ファインクロックマーク信号ＦＣＭ２，３のレベルをゼ
ロに設定しているため、傷のような欠陥をファインクロ
ックマーク１９，２１と誤って検出したために生じたノ
イズ４８を除去し、ファインクロックマーク１９，２１
だけを検出した正しいファインクロックマーク信号ＦＣ
Ｍ３を生成することができる。その結果、リードチャネ
ル回路４２に含まれるＰＬＬ回路の同期が外れることは
なく、ファインクロックマーク１９，２１に同期した信
号の記録および再生を確実に行なうことができる。
ば、欠陥検出回路３６およびゲート回路３４が和信号Ｓ
ＵＭ２のレベルが予め定められたレベルよりも低いとき
ファインクロックマーク信号ＦＣＭ２，３のレベルをゼ
ロに設定しているため、傷のような欠陥をファインクロ
ックマーク１９，２１と誤って検出したために生じたノ
イズ４８を除去し、ファインクロックマーク１９，２１
だけを検出した正しいファインクロックマーク信号ＦＣ
Ｍ３を生成することができる。その結果、リードチャネ
ル回路４２に含まれるＰＬＬ回路の同期が外れることは
なく、ファインクロックマーク１９，２１に同期した信
号の記録および再生を確実に行なうことができる。
【００３３】［第２の実施の形態］図７を参照して、第
２の実施の形態による光ディスク装置では、増幅器３０
から出力される和信号ＳＵＭ２のレベルを所定のしきい
値と比較して欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴを生成する比
較器５０が設けられている。ここでは、信号処理回路１
６は図１に示されるようなＡ／Ｄ変換器３８を備えてお
らず、また、ＤＳＰ４０は図４に示されるような欠陥検
出ルーチンＳ５を備えていない。
２の実施の形態による光ディスク装置では、増幅器３０
から出力される和信号ＳＵＭ２のレベルを所定のしきい
値と比較して欠陥検出信号／ＤＥＦＥＣＴを生成する比
較器５０が設けられている。ここでは、信号処理回路１
６は図１に示されるようなＡ／Ｄ変換器３８を備えてお
らず、また、ＤＳＰ４０は図４に示されるような欠陥検
出ルーチンＳ５を備えていない。
【００３４】この光ディスク装置も図５のタイミングチ
ャートで示されるように動作し、比較器５０およびゲー
ト回路３４が和信号ＳＵＭ２のレベルが予め定められた
レベルよりも低いときファインクロックマーク信号ＦＣ
Ｍ２，３のレベルをゼロにし、これにより傷のような欠
陥をファインクロックマーク１９，２１と誤って検出し
たために生じたノイズ４８を除去し、正しいファインク
ロックマーク信号ＦＣＭ３を生成することができる。
ャートで示されるように動作し、比較器５０およびゲー
ト回路３４が和信号ＳＵＭ２のレベルが予め定められた
レベルよりも低いときファインクロックマーク信号ＦＣ
Ｍ２，３のレベルをゼロにし、これにより傷のような欠
陥をファインクロックマーク１９，２１と誤って検出し
たために生じたノイズ４８を除去し、正しいファインク
ロックマーク信号ＦＣＭ３を生成することができる。
【００３５】上記から明らかなように、和信号ＳＵＭ２
のレベルが予め定められたレベルよりも低いとき欠陥検
出信号／ＤＥＦＥＣＴを生成する欠陥検出回路は、第１
の実施の形態のようにソフトウェアにより構成されてい
てもよく、また、第２の実施の形態のようにハードウェ
アにより構成されていてもよい。
のレベルが予め定められたレベルよりも低いとき欠陥検
出信号／ＤＥＦＥＣＴを生成する欠陥検出回路は、第１
の実施の形態のようにソフトウェアにより構成されてい
てもよく、また、第２の実施の形態のようにハードウェ
アにより構成されていてもよい。
【００３６】今回開示された実施の形態はすべての点で
例示であって制限的なものではないと考えられるべきで
ある。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求
の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味お
よび範囲内でのすべての変更が含まれることが意図され
る。
例示であって制限的なものではないと考えられるべきで
ある。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求
の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味お
よび範囲内でのすべての変更が含まれることが意図され
る。
【００３７】
【発明の効果】この発明によれば、加算器から出力され
る和信号のレベルが予め定められたレベルよりも低いと
き減算器から出力されるファインクロックマーク信号の
レベルをゼロにしているため、ファインクロックマーク
を傷のような欠陥と区別して正しいファインクロックマ
ーク信号を生成することができる。
る和信号のレベルが予め定められたレベルよりも低いと
き減算器から出力されるファインクロックマーク信号の
レベルをゼロにしているため、ファインクロックマーク
を傷のような欠陥と区別して正しいファインクロックマ
ーク信号を生成することができる。
【図１】 この発明の第１の実施の形態による光ディス
ク装置の構成を示すブロック図である。
ク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】 （ａ）は光磁気ディスクの構造を部分的に示
す平面図であり、（ｂ）は（ａ）中のファインクロック
マークを検出したときに生成されるファインクロックマ
ーク信号を示す波形図である。
す平面図であり、（ｂ）は（ａ）中のファインクロック
マークを検出したときに生成されるファインクロックマ
ーク信号を示す波形図である。
【図３】 図１中の光ピックアップにおいてファインク
ロックマーク信号および和信号を生成するための回路を
示す回路図である。
ロックマーク信号および和信号を生成するための回路を
示す回路図である。
【図４】 図１中のＤＳＰを動作させるためのプログラ
ムを示すフローチャートである。
ムを示すフローチャートである。
【図５】 図１に示された光ディスク装置の動作を示す
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
【図６】 図４中の欠陥検出ルーチンの詳細を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図７】 この発明の第２の実施の形態による光ディス
ク装置の構成を示すブロック図である。
ク装置の構成を示すブロック図である。
１０ 光磁気ディスク、１２ 光ピックアップ、１９，
２１ ファインクロックマーク、２２，２４，２６ 加
算器、２８ 減算器、３４ ゲート回路、３６欠陥検出
回路、３８ Ａ／Ｄ変換器、４０ ＤＳＰ、２０ 光セ
ンサ。
２１ ファインクロックマーク、２２，２４，２６ 加
算器、２８ 減算器、３４ ゲート回路、３６欠陥検出
回路、３８ Ａ／Ｄ変換器、４０ ＤＳＰ、２０ 光セ
ンサ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 11/105
Claims (5)
- 【請求項１】 光ディスクに予め形成されたファインク
ロックマークに同期して信号の記録および／または再生
を行なう光ディスク装置であって、 前記光ディスクのトラックに沿って並ぶ第１および第２
の領域を有しかつ前記光ディスクからの反射光を前記各
領域で検知するセンサと、 前記第１の領域からの出力信号から前記第２の領域から
の出力信号を減算することにより前記ファインクロック
マークを検出してファインクロックマーク信号を生成す
る減算器と、 前記第１の領域からの出力信号と前記第２の領域からの
出力信号とを加算して和信号を生成する加算器と、 前記和信号のレベルが予め定められたレベルよりも低い
とき前記ファインクロックマーク信号のレベルをゼロに
設定する欠陥除去手段とを備える、光ディスク装置。 - 【請求項２】 前記欠陥除去手段は、 前記和信号のレベルが前記予め定められたレベルよりも
低いとき欠陥検出信号を生成する欠陥検出手段と、 前記欠陥検出信号に応答して前記ファインクロックマー
ク信号のレベルをゼロに設定する設定手段とを含む、請
求項１に記載の光ディスク装置。 - 【請求項３】 前記欠陥検出手段は、 前記和信号をディジタル化するＡ／Ｄ変換器と、 前記Ａ／Ｄ変換器から出力されるディジタル和信号を受
け、前記ディジタル和信号のレベルが予め定められたレ
ベルよりも低いとき前記欠陥検出信号を活性にしかつ前
記ディジタル和信号のレベルが前記予め定められたレベ
ルよりも高いとき前記欠陥検出信号を非活性にするＤＳ
Ｐとを含む、請求項２に記載の光ディスク装置。 - 【請求項４】 前記ＤＳＰは、 前記ディジタル和信号のレベルを前記予め定められたレ
ベルと比較する比較手段と、 前記比較手段による比較結果に従って、前記ディジタル
和信号のレベルが前記予め定められたレベルよりも低い
とき前記欠陥検出信号を活性にする活性化手段と、 前記比較手段による比較結果に従って、前記ディジタル
和信号のレベルが前記予め定められたレベルよりも高い
とき前記欠陥検出信号を非活性にする非活性化手段とを
含む、請求項３に記載の光ディスク装置。 - 【請求項５】 前記欠陥検出手段は、 前記和信号のレベルを前記予め定められたレベルと比較
して前記欠陥検出信号を生成する比較器を含む、請求項
２に記載の光ディスク装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23723099A JP3249495B2 (ja) | 1999-08-24 | 1999-08-24 | 光ディスク装置 |
| US09/642,886 US6891787B1 (en) | 1999-08-24 | 2000-08-22 | Apparatus for recording/reproducing signal on/from optical disk |
| EP00118304A EP1079374A3 (en) | 1999-08-24 | 2000-08-23 | Apparatus for recording/reproducing signal on/from optical disk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23723099A JP3249495B2 (ja) | 1999-08-24 | 1999-08-24 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001067665A JP2001067665A (ja) | 2001-03-16 |
| JP3249495B2 true JP3249495B2 (ja) | 2002-01-21 |
Family
ID=17012322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23723099A Expired - Fee Related JP3249495B2 (ja) | 1999-08-24 | 1999-08-24 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3249495B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001332027A (ja) | 2000-05-19 | 2001-11-30 | Sanyo Electric Co Ltd | ディスク再生装置 |
-
1999
- 1999-08-24 JP JP23723099A patent/JP3249495B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001067665A (ja) | 2001-03-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20011023 |
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