JP3243033B2 - 半導体集積回路及びその素子配置配線方法 - Google Patents
半導体集積回路及びその素子配置配線方法Info
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Description
置配線方法及び半導体集積回路に関し、特にディレイ調
整のために駆動能力の高いバッファゲ−トを自動挿入す
る技術及び前記バッファゲ−トから後段素子までの間の
配線の配線幅を自動拡張する技術に関する。
した従来の半導体集積回路の配置配線技術に関し、第1
の技術として特開昭62−39024号公報に開示され
ているように、素子の配置後にスタイナ−ツリ−法によ
りネットの配線長予測を行ってディレイ計算を行い、基
準値を超えた、すなわちMAX違反した素子間について
素子間のネットのうち配線が長くなってしまったネット
につながっている素子をインタラクティブに近づけて配
置し直すという技術がある。
1号公報に開示されているように、配線の長くなってし
まったネットに対して素子を移動させるのではなく、配
線長で中心の位置にバッファゲ−トを挿入することでデ
ィレイ基準を守らせる技術がある。
子を近づけて配置することにより素子間の配線長抵抗を
小さくしてディレイを小さくするというものである。ま
た、上記第2の技術は配線の長くなってしまったネット
に対して素子を移動させるのではなく、配線長で中心の
位置にバッファゲ−トを挿入することでバッファゲ−ト
挿入前よりもディレイを小さくするというものである。
回路ではチップ面積が広がっており、上記第1の技術の
ように素子を近づけて配置する配置考慮だけでは充分な
ディレイ対策を行うことができなくなってきている。
バッファゲ−トを挿入する場合は、上記第2の技術のよ
うに素子間の配線の配線長で中心の位置に挿入すること
によりMAX違反となったディレイの対策を最適に行う
ことができる。しかし、チップ面積が広がったことによ
り駆動能力の大きいバッファゲートを挿入する必要が生
じているが、このような回路無負荷ディレイが大きいバ
ッファゲ−ト(駆動能力が大きい)を挿入した場合は素
子間の配線の配線長で中心の位置に挿入したのではMA
X違反となったディレイをさらに大きくMAX違反させ
てしまうという問題点がある。
ァゲートを用いた場合でも、素子間の配置位置を変える
ことなく信号遅延時間(ディレイ)を基準値未満にする
ことができる半導体回路の素子配置配線方法及び半導体
集積回路を提供することである。
に、本発明は、基本的に前段素子よりも駆動能力の高い
バッファゲートを前段素子の位置と前段素子から後段素
子までの配線長の中心位置との間に挿入する。
入したバッファゲートから後段素子までの配線幅を前段
素子と後段素子との間の配線幅より広げて配線する。
にする。
(α:比例定数、r:単位長当りの抵抗、c:単位長当
りの負荷容量、l:配線長)で表される。ディレイは配
線長lの自乗に比例して大きくなるため、このディレイ
を小さくするために駆動能力の高いバッファゲートを挿
入する場合、バッファゲート挿入時のディレイと配線長
lとの特性から、前段素子側に挿入するとディレイは小
さくなる。また、バッファゲートから後段素子にかけて
配線幅を広げ、抵抗と容量の積を小さくすることによ
り、さらにディレイは小さくなる。
明する。
(a)に示すようにゲ−ト3,4を含む素子1と素子2
の間のディレイの和であり、D=d1+d2+d3で計算
することができる。また、図1(b)に示すようにゲ−
ト1段分のディレイはソ−スとなるゲ−ト3の駆動能
力、シンクとなるゲ−ト4の負荷容量、配線容量及びソ
−ス、シンク間の配線抵抗に依存して決まり、次式のよ
うに表現できる。
ィレイすなわちゲ−ト無負荷ディレイ、dL:ゲ−ト負
荷ディレイすなわちdCに対する負荷による増分、dW:
配線ディレイ) これらの成分別ディレイはネット構成(ソ−スゲ−ト、
ファンアウト等)が同じ場合、配線長に依存して増減す
る。
=α×(rl)×(cl)=α×r×c×l2(α:比
例定数、R:ソ−スシンク間の抵抗、C:ネットの負荷
容量、r:単位長当りの抵抗、c:単位長当りの負荷容
量、l:配線長)で表され、図2(a)に示すように配
線長の自乗(l2)に比例して増加する。
ィレイ(dCL)は配線長による負荷容量に対してある範
囲を超えるとほぼ一定の値となる。このことにより、図
3(a)バッファゲート挿入なしの通常配線幅のディレ
イdは図3(b)に示すように初期値をdCL1 としてl
2に比例する形となる。
4及び図5に示す。
バッファゲ−ト6を素子1の位置に配置する。図4
(b)は、その特性グラフであり、回路負荷ディレイd
CL6 は素子1の回路負荷ディレイdCL1 よりも大きい
が、駆動能力が高いため特性グラフの傾きが小さい。こ
のため、配線長がlのところでは図3(b)に比べΔd
6だけディレイが小さいことを示している。大部分のバ
ッファゲ−トの特性は図4の通りである。
の高いバッファゲ−ト7を素子1の位置に配置する。図
5(b)は、その特性グラフであり、回路負荷ディレイ
dCL7 は素子1の回路負荷ディレイdCL1 よりも小さ
く、かつ、駆動能力が高いため特性グラフの傾きが小さ
い。このため、配線長がlのところでは図3(b)に比
べΔd7だけディレイが小さいことを示している。少数
であるが、図5(b)のような特性を持つバッファゲ−
トも存在する。
イを小さくすることが、可能である。図6(a)は、幅
広化配線の例として3倍幅配線を示したものであり、図
6(b)は、その要部拡大斜視図である。図6(c)
は、通常配線(1倍幅配線)の要部拡大斜視図である。
線に等しく、幅m3のみが1倍幅配線の幅m1の3倍にな
っている。この3倍幅配線の抵抗R3と1倍幅配線の抵
抗R1及び3倍幅配線の容量C3と1倍幅配線の容量C1
のそれぞれの関係は、R3=R1/3,C3<3C1とな
り、従って、R3C3<R1C1となる。ディレイは、前記
よりd=α×R×Cで表すことが可能なため、d3<d1
の関係に帰結する。
はそれに比例して小さくなる。それに対して容量は大き
くなる。しかし、抵抗が小さくなる割合に対し容量が大
きくなる割合が十分に小さく、抵抗と容量の積は1倍幅
配線のその積より小さく、3倍幅配線の方が1倍幅配線
のディレイよりも小さくなる。
回路負荷ディレイdCL1 は同じであるが、図3(b)よ
りも特性グラフの傾きが小さいため、配線長がlのとこ
ろでは図3(b)に比べΔdだけディレイが小さくなる
ことを示す。
挿入するか、配線を幅広化して特性グラフのl2の傾き
の小さい範囲を有効に利用することができれば素子間の
ディレイを下げることが可能であることが判る。
がlである素子1と素子2の間に何も挿入しない場合の
配線ディレイと配線を分割してバッファゲ−ト5を挿入
した場合、図8(b)の特性グラフの配線ディレイとの
差Δd5が正であれば、バッファゲ−ト5を挿入するこ
とにより、Δd5だけディレイを小さくできる。
間に駆動能力の高いバッファゲ−ト5を1段挿入したと
きの特性グラフで、図8の同じ距離lのディレイに比べ
Δd5だけディレイが小さくなった場合を示している。
囲を探してみる。図8において、バッファゲ−ト5を挿
入しないときの特性グラフをd=a(l−b)2+c、バ
ッファゲ−ト5を挿入したときのl1〜lの範囲の特性
グラフをd=a'(l−b')2+c' で近似する。このと
きΔd5は次式のように表される。
できるため、b=b'=0である。すなわちΔd5は次式
のようになる。
ら
中心の位置より前段素子寄りに挿入することが最も効率
が良いことが判る。
の回路負荷ディレイがほとんど同じであるためa=a'
すなわちk=1であり、
とが最も効率が良いことが判る。
うにバッファゲ−ト5を挿入することでディレイを下げ
ることが効果のある範囲は図9(b)に示すように素子
間の中心より前段素子寄りの範囲に限定されることが判
る。
ィレイを下げる効果が不充分である場合は、図10
(a)に示すように、バッファゲ−ト5から後段素子2
までの配線幅を広げて配線してディレイを下げることが
効果のある範囲についても、図7に示す配線幅広化の特
性グラフは図5(b)に示すバッファゲ−ト挿入の特性
グラフと基本的に変わらないため、図10(b)に示す
ように素子間の中心より前段素子寄りの範囲に限定され
ることが判る。
距離lはバッファゲ−ト挿入後のl1+l2と等しいが、
ディレイを下げるという意味ではl1+l2をlより短く
してもよい。また、図8のようにバッファゲ−ト5を挿
入した場合、その入力容量の影響で素子1のディレイが
見かけ上大きくなるケ−スもあるが、上記のバッファゲ
−ト挿入に関する効果的な特性は同じである。
段素子寄りにバッファゲ−トを挿入し、また、該処理だ
けではディレイを下げる効果が不充分である場合は前記
バッファゲ−トから後段素子の間の配線幅を広げて配線
することでディレイを下げることにより、目的に合った
ディレイに調整することが可能である。
置配線処理で行うフロ−の一実施例を図11に示す。ま
ず、ステップ501の初期配置処理を実行し、全てのゲ
−トを配置する。次に1ネット単位に配線ネット情報を
読み込む(ステップ502)。続いて読み込んだ配線ネ
ット情報が終了したかを判断する(ステップ503)。
の読み込みが全て終了したならば、配線処理(ステップ
511)を行う。終了してなければ、読み込んだ配線ネ
ット情報がディレイ考慮を必要とする配線かどうかを判
定する(ステップ504)。
戻り、次の配線ネット情報を読み込む(ステップ50
2)。
1の配置結果に基づいて、例えばスタイナツリ−法など
により仮想配線長を計算し(ステップ505)、該配線
長により該配線ネットのディレイ計算を行い(ステップ
506)、該ディレイが制約違反であるかどうかを判定
する(ステップ507)。なお、上記で述べたディレイ
考慮を必要とする配線ネットとは、例えばクロック系の
配線ネットあるいはスキャン系の配線ネットなど厳密な
時間的タイミングを要求されるものが主として挙げられ
る。
にユニ−クなグル−プ番号を付加する、あるいは配線ネ
ット単位にフラグを付加するなどして判定すれば可能で
ある。
いては論理情報のファイルにバッファゲ−トを追加する
(ステップ508)。但し、物理的及び実装的に論理情
報を追加可能な場合のみでの論理追加となる。
に配置する(ステップ509)。この時のバッファゲ−
トの数及び場所に関しては前記で述べた特性に従い、デ
ィレイを守れる範囲で論理追加及び配置を行う。最後
に、該バッファゲ−トから後段素子までを幅広の配線で
配線する(ステップ510)。
られる。図12に本発明による一実施例を示す。
論理とは無関係の予備ゲ−トエリアを設定しておき、該
エリアには一般論理ゲ−トは配置禁止としておく。該エ
リアは例えば縦方向電源線の下などチップ上に均等に設
定しておくことが望ましいが、チップの特性上、例えば
ある領域に集中して素子を配置するなどの領域がある場
合、該領域内に特に多く設定しておくとよい。チップ上
で配置を行なった結果、例えば素子1と素子2の配線長
からディレイがMAX違反していることが判明した場
合、図13に示すように各々の素子のピンを頂点とする
矩形13内でピン−ピン間を結ぶ線分の中線11上、す
なわち素子1からと素子2からのマンハッタン距離が等
しい線分上より前段素子寄りに挿入範囲12があり、そ
の範囲12内の予備ゲ−トを探索する。
る。そこで、該予備ゲ−ト8にバッファゲ−トを挿入し
た場合の仮想配線長よりディレイを計算してディレイが
制約値を守っていることが確認できた場合、予備ゲ−ト
8を論理情報にフィ−ドバックして予備ゲ−ト8の位置
に実際にゲ−トを配置する。
めに既にあったセルを移動する必要がないので処理が容
易に行なえる特徴がある。
場合であったが、2個以上のバッファゲ−トを挿入した
場合でも、仮想配線長よりディレイを計算し、ディレイ
が最も小さくなるものを選ぶのが望ましい。更にディレ
イ違反ネットが多数あった場合には、既に使用している
予備ゲ−トでも許される範囲で他の予備ゲ−トと置き換
えるなどしてそこを使用するなどの最適化を行なうよう
にしてもよい。
ではディレイを下げる効果が不充分である場合は、配線
幅を図14(b)に示すように通常の配線幅の3倍幅配
線15、図14(c)に示すように通常の配線幅の5倍
幅配線16などの奇数倍に広げて配線する。既存の自動
配線プログラムは図14(a)に示すように通常の配線
幅すなわち1倍幅配線14で配線するように作成されて
いるため、奇数倍の配線幅だけであればまず中心線を配
線し、続いて幅を片側に1DA格子、2DA格子などと追加
考慮するだけで幅広配線を行なうことができる。
を用いれば、既存の自動配線プログラムを大幅に変更す
ることなく使用することが可能である。
中で行うことにより、論理設計者はディレイを考慮した
論理設計を行わなくても自動で論理へのフィ−ドバック
実装を行うことが可能となる。
駆動能力の高いバッファゲートを前段素子の位置と前段
素子から後段素子までの配線長の中心位置との間に挿入
するようにしたので、配線長によるディレイ違反に対し
て素子の配置位置を変えることなくディレイ調整が可能
である。よって、これらディレイ考慮を行う配置配線が
可能となることにより、高速動作可能なLSIを作成す
ることが可能となる。
係図である。
係図である。
係図である。
る。
る。
長の関係図である。
ある。
る。
ャートである。
る。
件を説明する説明図である。
ゲ−ト、8…予備ゲ−ト、9…セル列、10…チップ、
11…中線、12…挿入範囲、13…矩形、14…1倍
幅配線の配線パタ−ン、15…3倍幅配線の配線パタ−
ン、16…5倍幅配線の配線パタ−ン
Claims (6)
- 【請求項1】 素子間の信号遅延時間が基準値を超える
素子間にバッファゲートを挿入して信号遅延時間を調整
する半導体集積回路の素子配置配線方法において、前記
バッファゲートとして前段素子よりも駆動能力の高いバ
ッファゲートを挿入する場合は、前段素子の位置と前段
素子から後段素子までの配線長の中心位置との間に挿入
することを特徴とする半導体集積回路の素子配置配線方
法。 - 【請求項2】 前記前段素子と後段素子との間に挿入し
たバッファゲートから後段素子までの配線幅を前段素子
と後段素子との間の配線幅より広げて配線することを特
徴とする請求項1記載の半導体集積回路の素子配置配線
方法。 - 【請求項3】 広げる配線幅は通常配線幅の奇数倍にす
ることを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路の素
子配置配線方法。 - 【請求項4】 素子間の信号遅延時間が基準値を超える
素子間に信号遅延時間を調整するバッファゲートを挿入
して成る半導体集積回路において、前段素子よりも駆動
能力の高いバッファゲートは前段素子の位置と前段素子
から後段素子までの配線長の中心位置との間に挿入した
ことを特徴とする半導体集積回路。 - 【請求項5】 前記前段素子と後段素子との間に挿入し
たバッファゲートから後段素子までの配線幅は前段素子
と後段素子との間の配線幅より広いことを特徴とする請
求項4記載の半導体集積回路。 - 【請求項6】 広げる配線幅は通常配線幅の奇数倍にな
っていることを特徴とする請求項5記載の半導体集積回
路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03098593A JP3243033B2 (ja) | 1993-02-19 | 1993-02-19 | 半導体集積回路及びその素子配置配線方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03098593A JP3243033B2 (ja) | 1993-02-19 | 1993-02-19 | 半導体集積回路及びその素子配置配線方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06243199A JPH06243199A (ja) | 1994-09-02 |
JP3243033B2 true JP3243033B2 (ja) | 2002-01-07 |
Family
ID=12318927
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03098593A Expired - Lifetime JP3243033B2 (ja) | 1993-02-19 | 1993-02-19 | 半導体集積回路及びその素子配置配線方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3243033B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10163330A (ja) * | 1996-12-03 | 1998-06-19 | Nec Corp | レイアウト考慮遅延最適化装置および方法 |
JP4515544B2 (ja) * | 1998-09-25 | 2010-08-04 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路の配線条件処理方法 |
-
1993
- 1993-02-19 JP JP03098593A patent/JP3243033B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06243199A (ja) | 1994-09-02 |
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