JP3241991B2 - 距離計 - Google Patents
距離計Info
- Publication number
- JP3241991B2 JP3241991B2 JP02396296A JP2396296A JP3241991B2 JP 3241991 B2 JP3241991 B2 JP 3241991B2 JP 02396296 A JP02396296 A JP 02396296A JP 2396296 A JP2396296 A JP 2396296A JP 3241991 B2 JP3241991 B2 JP 3241991B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measured
- laser beam
- laser
- point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物に対する
光の照射および反射を利用した三角測量方式により被測
定物に対する距離を測定する距離計に関する。
光の照射および反射を利用した三角測量方式により被測
定物に対する距離を測定する距離計に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の距離計は、図６に示すように、
レーザ発生器９１から発生するレーザビーム９２を被測
定物９３に照射し、このレーザビームの被測定物９３か
らの反射光を受光レンズ９４を介して受光素子９５で受
光している。そして、同図の点線で示すように、被測定
物９３が移動すると、受光素子９５上の受光位置がずれ
ることになるが、このずれ量は、レーザ発生器９１から
のレーザビームの投光角度、受光素子９５の反射光の受
光角度および距離から一義的に計算することができる。
従って、このずれ量を受光素子から測定することによ
り、上記計算から距離を演算することができる。
レーザ発生器９１から発生するレーザビーム９２を被測
定物９３に照射し、このレーザビームの被測定物９３か
らの反射光を受光レンズ９４を介して受光素子９５で受
光している。そして、同図の点線で示すように、被測定
物９３が移動すると、受光素子９５上の受光位置がずれ
ることになるが、このずれ量は、レーザ発生器９１から
のレーザビームの投光角度、受光素子９５の反射光の受
光角度および距離から一義的に計算することができる。
従って、このずれ量を受光素子から測定することによ
り、上記計算から距離を演算することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した方法は定点型
距離測定法であり、被測定物上の一点のみの距離を測定
する場合には十分であるが、被測定物上の複数の箇所に
対する距離を測定するには不十分であり、このような場
合には、図７に示すように上述したレーザ発生器と受光
素子からなる検出器を９６，９７，・・・９８で示すよ
うに複数設け、この複数の検出器からのレーザビーム９
２を被測定物９３にそれぞれ照射し、この反射光を受光
して、被測定物上の複数の箇所に対する距離を測定した
り、または複数の検出器を設ける代わりに、１台の検出
器を被測定物に沿って移動させながら距離を測定するこ
とが必要であるため、装置構成が大きくなる上に、価格
も増大し、更に信頼性も低下するという問題がある。
距離測定法であり、被測定物上の一点のみの距離を測定
する場合には十分であるが、被測定物上の複数の箇所に
対する距離を測定するには不十分であり、このような場
合には、図７に示すように上述したレーザ発生器と受光
素子からなる検出器を９６，９７，・・・９８で示すよ
うに複数設け、この複数の検出器からのレーザビーム９
２を被測定物９３にそれぞれ照射し、この反射光を受光
して、被測定物上の複数の箇所に対する距離を測定した
り、または複数の検出器を設ける代わりに、１台の検出
器を被測定物に沿って移動させながら距離を測定するこ
とが必要であるため、装置構成が大きくなる上に、価格
も増大し、更に信頼性も低下するという問題がある。
【０００４】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、被測定物の複数の箇所に対す
る距離および寸法などを簡単な構成で測定することがで
きる距離計を提供することにある。
その目的とするところは、被測定物の複数の箇所に対す
る距離および寸法などを簡単な構成で測定することがで
きる距離計を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の本発明は、被測定物に対して第１の
点から光を投光し、この光が被測定物で反射されてくる
反射光を前記第１の点と異なる第２の点で受光すること
により三角測量方式を用いて被測定物に対する距離を測
定する距離計であって、レーザ光を発生するレーザ発生
手段と、該レーザ発生手段から発生するレーザ光を集光
してレーザビームを発生する集光手段と、前記第１の点
に配設され、前記集光手段からのレーザビームを被測定
物の任意の位置に任意の時間停止して照射するように制
御する照射制御手段と、前記第２の点に配設され、前記
レーザビームの被測定物からの反射光を受光する受光手
段と、前記受光手段で受光する反射光量に基づいて前記
照射制御手段の制御により被測定物に対してレーザビー
ムを照射する時間を可変する照射時間可変手段を有する
ことを要旨とする。
め、請求項１記載の本発明は、被測定物に対して第１の
点から光を投光し、この光が被測定物で反射されてくる
反射光を前記第１の点と異なる第２の点で受光すること
により三角測量方式を用いて被測定物に対する距離を測
定する距離計であって、レーザ光を発生するレーザ発生
手段と、該レーザ発生手段から発生するレーザ光を集光
してレーザビームを発生する集光手段と、前記第１の点
に配設され、前記集光手段からのレーザビームを被測定
物の任意の位置に任意の時間停止して照射するように制
御する照射制御手段と、前記第２の点に配設され、前記
レーザビームの被測定物からの反射光を受光する受光手
段と、前記受光手段で受光する反射光量に基づいて前記
照射制御手段の制御により被測定物に対してレーザビー
ムを照射する時間を可変する照射時間可変手段を有する
ことを要旨とする。
【０００６】請求項１記載の本発明にあっては、レーザ
発生手段から発生するレーザ光を集光したレーザビーム
を被測定物の任意の位置に任意の時間停止して照射する
ように制御しているため、被測定物上の照射位置を変え
ることにより、被測定物の広い範囲にわたる複数の箇所
の距離を簡単に測定することができる。
発生手段から発生するレーザ光を集光したレーザビーム
を被測定物の任意の位置に任意の時間停止して照射する
ように制御しているため、被測定物上の照射位置を変え
ることにより、被測定物の広い範囲にわたる複数の箇所
の距離を簡単に測定することができる。
【０００７】
【０００８】また、請求項１記載の本発明にあっては、
反射光量に基づいて被測定物に対してレーザビームを照
射する時間を可変しているため、反射光量が低い場合に
は照射時間を長くすることにより十分な反射光量を得る
ことができる。
反射光量に基づいて被測定物に対してレーザビームを照
射する時間を可変しているため、反射光量が低い場合に
は照射時間を長くすることにより十分な反射光量を得る
ことができる。
【０００９】
【００１０】
【００１１】請求項２記載の本発明は、被測定物に対し
て第１の点から光を投光し、この光が被測定物で反射さ
れてくる反射光を前記第１の点と異なる第２の点で受光
することにより三角測量方式を用いて被測定物に対する
距離を測定する距離計であって、レーザ光を発生するレ
ーザ発生手段と、該レーザ発生手段から発生するレーザ
光を集光してレーザビームを発生する集光手段と、前記
第１の点に配設され、前記集光手段からのレーザビーム
を被測定物の任意の位置に任意の時間停止して照射する
ように制御する照射制御手段と、前記第２の点に配設さ
れ、前記レーザビームの被測定物からの反射光を受光す
る受光手段と、前記照射制御手段からのレーザビームを
部分的に分路して取り出す分光手段と、該分光手段で取
り出された部分的レーザビームを受光する部分光受光手
段と、該部分光受光手段からの出力信号に基づいて前記
照射制御手段が照射するレーザビームの被測定物に対す
る角度を補正する角度補正手段とを有することを要旨と
する。
て第１の点から光を投光し、この光が被測定物で反射さ
れてくる反射光を前記第１の点と異なる第２の点で受光
することにより三角測量方式を用いて被測定物に対する
距離を測定する距離計であって、レーザ光を発生するレ
ーザ発生手段と、該レーザ発生手段から発生するレーザ
光を集光してレーザビームを発生する集光手段と、前記
第１の点に配設され、前記集光手段からのレーザビーム
を被測定物の任意の位置に任意の時間停止して照射する
ように制御する照射制御手段と、前記第２の点に配設さ
れ、前記レーザビームの被測定物からの反射光を受光す
る受光手段と、前記照射制御手段からのレーザビームを
部分的に分路して取り出す分光手段と、該分光手段で取
り出された部分的レーザビームを受光する部分光受光手
段と、該部分光受光手段からの出力信号に基づいて前記
照射制御手段が照射するレーザビームの被測定物に対す
る角度を補正する角度補正手段とを有することを要旨と
する。
【００１２】請求項２記載の本発明にあっては、被測定
物を照射するレーザビームを分路し取り出して受光し、
この受光信号に基づいてレーザビームの被測定物に対す
る角度を補正しているため、被測定物に対するレーザビ
ームの照射角度を適確に制御することができる。
物を照射するレーザビームを分路し取り出して受光し、
この受光信号に基づいてレーザビームの被測定物に対す
る角度を補正しているため、被測定物に対するレーザビ
ームの照射角度を適確に制御することができる。
【００１３】
【００１４】
【００１５】
【００１６】
【００１７】
【００１８】
【００１９】
【００２０】
【００２１】
【００２２】
【００２３】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態について説明する。
の形態について説明する。
【００２４】図１は、本発明の一実施形態に係わる距離
計の構成を示す図である。同図に示す距離計は、被測定
物に対して第１の点から光を投光し、この光が被測定物
で反射されてくる反射光を第１の点と異なる第２の点で
受光することにより三角測量方式を用いて被測定物に対
する距離を測定するものであり、レーザ光を発生するレ
ーザ発生器１１を有し、該レーザ発生器１１からのレー
ザ光は投光レンズ１０でレーザビームとして集光され、
照射制御手段を構成している揺動ミラー９に照射され
る。
計の構成を示す図である。同図に示す距離計は、被測定
物に対して第１の点から光を投光し、この光が被測定物
で反射されてくる反射光を第１の点と異なる第２の点で
受光することにより三角測量方式を用いて被測定物に対
する距離を測定するものであり、レーザ光を発生するレ
ーザ発生器１１を有し、該レーザ発生器１１からのレー
ザ光は投光レンズ１０でレーザビームとして集光され、
照射制御手段を構成している揺動ミラー９に照射され
る。
【００２５】揺動ミラー９は、任意の角度で停止し得る
ように構成され、投光レンズ１０からのレーザビームを
符号１２で示すように被測定物３の任意の位置にレーザ
スポット１３として照射することができる。すなわち、
揺動ミラー９の角度を適宜調整することにより、揺動ミ
ラー９からのレーザビームを被測定物３上の複数の位置
にレーザスポット１３として例えば測定ピッチ１９で照
射することができる。
ように構成され、投光レンズ１０からのレーザビームを
符号１２で示すように被測定物３の任意の位置にレーザ
スポット１３として照射することができる。すなわち、
揺動ミラー９の角度を適宜調整することにより、揺動ミ
ラー９からのレーザビームを被測定物３上の複数の位置
にレーザスポット１３として例えば測定ピッチ１９で照
射することができる。
【００２６】被測定物３の複数の位置を照射したレーザ
ビーム１２は、被測定物でそれぞれ反射され、受光レン
ズ１４を介して受光手段を構成する例えばＣＣＤ，ＰＳ
Ｄなどからなる受光素子１５で受光される。
ビーム１２は、被測定物でそれぞれ反射され、受光レン
ズ１４を介して受光手段を構成する例えばＣＣＤ，ＰＳ
Ｄなどからなる受光素子１５で受光される。
【００２７】受光素子１５の受光信号は、アンプ１６を
介して距離演算器１７およびＡＧＣ制御部１８に供給さ
れ、距離演算器１７において距離が演算され、距離信号
として出力される。
介して距離演算器１７およびＡＧＣ制御部１８に供給さ
れ、距離演算器１７において距離が演算され、距離信号
として出力される。
【００２８】上述したように、揺動ミラー９の角度を適
宜調整することにより、揺動ミラー９からのレーザビー
ム１２は被測定物３の一端から他端に対して測定ピッチ
１９で順次照射され、このレーザビームの被測定物３か
らの反射光を受光レンズ１４を介して受光素子１５で受
光し、この受光信号をアンプ１６を介して距離演算器１
７に供給することにより、被測定物３の複数の位置に対
する距離をレーザ発生器１１、揺動ミラー９、受光素子
１５を含む比較的簡単な単一の投受光系で測定すること
ができる。
宜調整することにより、揺動ミラー９からのレーザビー
ム１２は被測定物３の一端から他端に対して測定ピッチ
１９で順次照射され、このレーザビームの被測定物３か
らの反射光を受光レンズ１４を介して受光素子１５で受
光し、この受光信号をアンプ１６を介して距離演算器１
７に供給することにより、被測定物３の複数の位置に対
する距離をレーザ発生器１１、揺動ミラー９、受光素子
１５を含む比較的簡単な単一の投受光系で測定すること
ができる。
【００２９】また、図１に示す距離計において、被測定
物３の表面の反射率が悪い場合には、受光素子１５は十
分な反射光量を得ることができないことがあるが、この
ような場合のために受光素子１５の出力をアンプ１６で
増幅した後、このアンプ１６の出力信号をＡＧＣ制御部
１８に供給し、該ＡＧＣ制御部１８でＡＧＣ信号を出力
する。そして、このＡＧＣ信号により例えばレーザ発生
器１１の出力を可変制御し、これにより被測定物３の表
面反射率が悪い場合でも十分な反射光量を得ることがで
きるように制御することができる。
物３の表面の反射率が悪い場合には、受光素子１５は十
分な反射光量を得ることができないことがあるが、この
ような場合のために受光素子１５の出力をアンプ１６で
増幅した後、このアンプ１６の出力信号をＡＧＣ制御部
１８に供給し、該ＡＧＣ制御部１８でＡＧＣ信号を出力
する。そして、このＡＧＣ信号により例えばレーザ発生
器１１の出力を可変制御し、これにより被測定物３の表
面反射率が悪い場合でも十分な反射光量を得ることがで
きるように制御することができる。
【００３０】なお、ＡＧＣ（自動利得制御）の方法とし
ては、上述したようにレーザ発生器１１の出力を可変制
御する他に、受光素子１５の蓄積時間を延長する方法
（レーザスポット停止時間を延長する方法）などもあ
る。
ては、上述したようにレーザ発生器１１の出力を可変制
御する他に、受光素子１５の蓄積時間を延長する方法
（レーザスポット停止時間を延長する方法）などもあ
る。
【００３１】また、図１の距離計において、揺動ミラー
９は任意の角度で停止できるように構成されているた
め、測定ピッチ１９を揺動ミラー９の角度によって一義
的に決めることができる。従って、揺動ミラー９の停止
時間を制御することにより、測定ピッチ１９を任意に決
定することができる。
９は任意の角度で停止できるように構成されているた
め、測定ピッチ１９を揺動ミラー９の角度によって一義
的に決めることができる。従って、揺動ミラー９の停止
時間を制御することにより、測定ピッチ１９を任意に決
定することができる。
【００３２】図２は、本発明の第２の実施形態に係わる
距離計の要部の構成を示す図である。同図に示す距離計
は、図１に示した距離計において揺動ミラー９からの投
光ビーム１２の途中にビームスプリッタ２０を設けて、
揺動ミラー９からの投光ビーム１２の一部を分路し、こ
の分路したリファレンス用投光ビーム２３をリファレン
ス用受光レンズ２１を介してリファレンス用受光素子２
２で受光し、これによりリファレンス用受光素子２２か
らリファレンス用信号を作成するように構成した点が異
なるのみで、その他の構成は図１に示すものと同じであ
る。
距離計の要部の構成を示す図である。同図に示す距離計
は、図１に示した距離計において揺動ミラー９からの投
光ビーム１２の途中にビームスプリッタ２０を設けて、
揺動ミラー９からの投光ビーム１２の一部を分路し、こ
の分路したリファレンス用投光ビーム２３をリファレン
ス用受光レンズ２１を介してリファレンス用受光素子２
２で受光し、これによりリファレンス用受光素子２２か
らリファレンス用信号を作成するように構成した点が異
なるのみで、その他の構成は図１に示すものと同じであ
る。
【００３３】このようにリファレンス用受光素子２２で
リファレンス用信号を作成し、この信号を基準とするこ
とにより、揺動ミラー９の角度補正を適確に行うことが
できる。
リファレンス用信号を作成し、この信号を基準とするこ
とにより、揺動ミラー９の角度補正を適確に行うことが
できる。
【００３４】すなわち、図１に示した距離計では、揺動
ミラー９の停止精度が距離精度を決定することになるの
で、距離精度の要求が厳しい場合、図２のようにビーム
スプリッタ２０、リファレンス用受光レンズ２１、リフ
ァレンス用受光素子２２を設けて、リファレンス用信号
を出力し、この信号に基づいて揺動ミラー９の角度を補
正することにより距離精度を高めることができる。
ミラー９の停止精度が距離精度を決定することになるの
で、距離精度の要求が厳しい場合、図２のようにビーム
スプリッタ２０、リファレンス用受光レンズ２１、リフ
ァレンス用受光素子２２を設けて、リファレンス用信号
を出力し、この信号に基づいて揺動ミラー９の角度を補
正することにより距離精度を高めることができる。
【００３５】図３は、本発明の第３の実施形態に係わる
距離計の構成を示す図である。同図に示す距離計は、被
測定物３の長手方向の一端に対応して第１の距離計手段
２４を設けるとともに、被測定物３の長手方向の他端に
対応して第２の距離計手段２５を設けるように構成した
ものである。また、第１および第２の距離計手段２４，
２５の間の距離は、図示のようにＬに設定されている。
なお、これらの第１および第２の距離計手段２４，２５
は、図１に示した距離計とほぼ同様に構成されているも
のである。
距離計の構成を示す図である。同図に示す距離計は、被
測定物３の長手方向の一端に対応して第１の距離計手段
２４を設けるとともに、被測定物３の長手方向の他端に
対応して第２の距離計手段２５を設けるように構成した
ものである。また、第１および第２の距離計手段２４，
２５の間の距離は、図示のようにＬに設定されている。
なお、これらの第１および第２の距離計手段２４，２５
は、図１に示した距離計とほぼ同様に構成されているも
のである。
【００３６】このように構成されるものにおいて、第１
の距離計手段２４は、被測定物３の一端に対する距離ｄ
１を測定することができ、また第２の距離計手段２５
は、被測定物３の他端の距離ｄ２を測定することができ
る。従って、第１および第２の距離計手段２４，２５の
間の距離Ｌから上述したように測定した被測定物３の両
端に対する距離ｄ１，ｄ２を減算すると、次式に示すよ
うに被測定物３の長さＲを演算することができる。
の距離計手段２４は、被測定物３の一端に対する距離ｄ
１を測定することができ、また第２の距離計手段２５
は、被測定物３の他端の距離ｄ２を測定することができ
る。従って、第１および第２の距離計手段２４，２５の
間の距離Ｌから上述したように測定した被測定物３の両
端に対する距離ｄ１，ｄ２を減算すると、次式に示すよ
うに被測定物３の長さＲを演算することができる。
【００３７】Ｒ＝Ｌ−ｄ１−ｄ２ なお、図３では、被測定物３の長さを演算したが、同様
な方法を被測定物３の幅および厚さに対して実施するこ
とにより、被測定物３の幅および厚さを算出することが
できる。
な方法を被測定物３の幅および厚さに対して実施するこ
とにより、被測定物３の幅および厚さを算出することが
できる。
【００３８】図４は、本発明の第４の実施形態を示す図
である。同図に示す実施形態は、被測定物３が傾いてい
る場合の傾き角θを算出するものであり、レーザ発生器
１１からのレーザ光を投光レンズ１０で集光し、揺動ミ
ラー９を介して投光ビーム１２として被測定物３の一辺
の複数の測定点２６，２７，・・・２８，２９を照射す
る。これらの測定点からの反射光を受光レンズ１４を介
して受光素子１５で受光することにより、各測定点の距
離を算出する。
である。同図に示す実施形態は、被測定物３が傾いてい
る場合の傾き角θを算出するものであり、レーザ発生器
１１からのレーザ光を投光レンズ１０で集光し、揺動ミ
ラー９を介して投光ビーム１２として被測定物３の一辺
の複数の測定点２６，２７，・・・２８，２９を照射す
る。これらの測定点からの反射光を受光レンズ１４を介
して受光素子１５で受光することにより、各測定点の距
離を算出する。
【００３９】そして、このように算出された距離から各
測定点の位置を求め、この各測定点のうち少なくとも２
点を結ぶ直線から被測定物３の傾き角θを求めることが
できる。また、これは、各測定点の測定値から最小自乗
法で直線を求め、この直線から傾き角θを算出すること
もできる。
測定点の位置を求め、この各測定点のうち少なくとも２
点を結ぶ直線から被測定物３の傾き角θを求めることが
できる。また、これは、各測定点の測定値から最小自乗
法で直線を求め、この直線から傾き角θを算出すること
もできる。
【００４０】図５は、本発明の第５の実施形態を示す図
である。同図に示す距離計は、被測定物３が傾いている
場合、図３で説明したように算出した被測定物の長さ、
幅、厚さ等の測定値が真の値よりも大きくなってしまう
ので、これを図４で求めた被測定物の傾き角θにより補
正しようとするものである。
である。同図に示す距離計は、被測定物３が傾いている
場合、図３で説明したように算出した被測定物の長さ、
幅、厚さ等の測定値が真の値よりも大きくなってしまう
ので、これを図４で求めた被測定物の傾き角θにより補
正しようとするものである。
【００４１】すなわち、被測定物３が図５に示すように
傾いている場合には、図３で説明したように被測定物３
の長さを測定すると、この測定値は傾いている場合の被
測定物３の長さＲｍになり、この長さＲｍは次式のよう
になる。
傾いている場合には、図３で説明したように被測定物３
の長さを測定すると、この測定値は傾いている場合の被
測定物３の長さＲｍになり、この長さＲｍは次式のよう
になる。
【００４２】Ｒｍ＝Ｌ−ｄ１−ｄ２ 従って、被測定物３の傾き角θから被測定物３の真の長
さＲｍｃは次式のように算出することができる。
さＲｍｃは次式のように算出することができる。
【００４３】Ｒｍｃ＝Ｒｍ×ｃｏｓθ なお、この傾き角θは、図４のように算出することもで
きるし、また図５に示すように被測定物３の一辺上の２
点に対して図示のようにＬd1，Ｌw1，Ｗcdを定義する
と、これらの値から次のように算出することができる。
きるし、また図５に示すように被測定物３の一辺上の２
点に対して図示のようにＬd1，Ｌw1，Ｗcdを定義する
と、これらの値から次のように算出することができる。
【００４４】θ＝ｔａｎ-1｛（Ｌw1−Ｌd1）／Ｗcd）｝ 上述した長さと同様に被測定物の幅、厚さに対しても同
様な角度補正を行うことにより真の幅、厚さを算出する
ことができる。
様な角度補正を行うことにより真の幅、厚さを算出する
ことができる。
【００４５】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の本
発明によれば、レーザ発生手段から発生するレーザ光を
集光したレーザビームを被測定物の任意の位置に任意の
時間停止して照射するように制御しているので、被測定
物上の照射位置を変えることにより、被測定物の広い範
囲にわたる複数の箇所の距離を簡単に測定することがで
き、従来のような複数の検出部が不要となるとともに、
また従来のように検出部を移動させることも不要とな
り、経済化および小型化を図ることができる。
発明によれば、レーザ発生手段から発生するレーザ光を
集光したレーザビームを被測定物の任意の位置に任意の
時間停止して照射するように制御しているので、被測定
物上の照射位置を変えることにより、被測定物の広い範
囲にわたる複数の箇所の距離を簡単に測定することがで
き、従来のような複数の検出部が不要となるとともに、
また従来のように検出部を移動させることも不要とな
り、経済化および小型化を図ることができる。
【００４６】また、請求項１記載の本発明によれば、反
射光量に基づいて被測定物に対してレーザビームを照射
する時間を可変しているので、例えば反射光量が低い場
合には照射時間を長くすることにより十分な反射光量を
得ることができ、被測定物の距離を適確に測定すること
ができる。
射光量に基づいて被測定物に対してレーザビームを照射
する時間を可変しているので、例えば反射光量が低い場
合には照射時間を長くすることにより十分な反射光量を
得ることができ、被測定物の距離を適確に測定すること
ができる。
【００４７】
【００４８】更に、請求項２記載の本発明によれば、被
測定物を照射するレーザビームを分路し取り出して受光
し、この受光信号に基づいてレーザビームの被測定物に
対する角度を補正しているので、被測定物に対するレー
ザビームの照射角度を適確に制御することができ、高い
精度で距離を測定することができる。
測定物を照射するレーザビームを分路し取り出して受光
し、この受光信号に基づいてレーザビームの被測定物に
対する角度を補正しているので、被測定物に対するレー
ザビームの照射角度を適確に制御することができ、高い
精度で距離を測定することができる。
【００４９】
【００５０】
【００５１】
【００５２】
【００５３】
【図１】本発明の一実施形態に係わる距離計の構成を示
す図である。
す図である。
【図２】本発明の第２の実施形態に係わる距離計の要部
の構成を示す図である。
の構成を示す図である。
【図３】本発明の第３の実施形態に係わる距離計の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図４】本発明の第４の実施形態を示す図である。
【図５】本発明の第５の実施形態を示す図である。
【図６】従来の距離計の構成を示す図である。
【図７】被測定物の複数の箇所を測定する従来の方法を
示す図である。
示す図である。
３ 被測定物 ９ 揺動ミラー １０ 投光レンズ １１ レーザ発生器 １４ 受光レンズ １５ 受光素子 １７ 距離演算器 １８ ＡＧＣ制御部 ２０ ビームスプリッタ ２１ リファレンス用受光レンズ ２２ リファレンス用受光素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01C 3/00 - 3/32 G02B 26/10
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定物に対して第１の点から光を投光
し、この光が被測定物で反射されてくる反射光を前記第
１の点と異なる第２の点で受光することにより三角測量
方式を用いて被測定物に対する距離を測定する距離計で
あって、 レーザ光を発生するレーザ発生手段と、 該レーザ発生手段から発生するレーザ光を集光してレー
ザビームを発生する集光手段と、 前記第１の点に配設され、前記集光手段からのレーザビ
ームを被測定物の任意の位置に任意の時間停止して照射
するように制御する照射制御手段と、 前記第２の点に配設され、前記レーザビームの被測定物
からの反射光を受光する受光手段と、 前記受光手段で受光する反射光量に基づいて前記照射制
御手段の制御により被測定物に対してレーザビームを照
射する時間を可変する照射時間可変手段を有することを
特徴とする距離計。 - 【請求項２】 被測定物に対して第１の点から光を投光
し、この光が被測定物で反射されてくる反射光を前記第
１の点と異なる第２の点で受光することにより三角測量
方式を用いて被測定物に対する距離を測定する距離計で
あって、 レーザ光を発生するレーザ発生手段と、 該レーザ発生手段から発生するレーザ光を集光してレー
ザビームを発生する集光手段と、 前記第１の点に配設され、前記集光手段からのレーザビ
ームを被測定物の任意の位置に任意の時間停止して照射
するように制御する照射制御手段と、 前記第２の点に配設され、前記レーザビームの被測定物
からの反射光を受光する受光手段と、 前記照射制御手段からのレーザビームを部分的に分路し
て取り出す分光手段と、 該分光手段で取り出された部分的レーザビームを受光す
る部分光受光手段と、 該部分光受光手段からの出力信号に基づいて前記照射制
御手段が照射するレーザビームの被測定物に対する角度
を補正する角度補正手段とを有することを特徴とする距
離計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02396296A JP3241991B2 (ja) | 1996-02-09 | 1996-02-09 | 距離計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02396296A JP3241991B2 (ja) | 1996-02-09 | 1996-02-09 | 距離計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09218010A JPH09218010A (ja) | 1997-08-19 |
| JP3241991B2 true JP3241991B2 (ja) | 2001-12-25 |
Family
ID=12125183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02396296A Expired - Fee Related JP3241991B2 (ja) | 1996-02-09 | 1996-02-09 | 距離計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3241991B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111417834B (zh) * | 2017-12-27 | 2022-07-12 | 中国涂料株式会社 | 测量装置及测量方法 |
-
1996
- 1996-02-09 JP JP02396296A patent/JP3241991B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09218010A (ja) | 1997-08-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5392110A (en) | Method and device for measuring height of object whose surface has irregular reflectance | |
| JP3146538B2 (ja) | 非接触高さ計測装置 | |
| US4473750A (en) | Three-dimensional shape measuring device | |
| JP2004212059A (ja) | 測距装置 | |
| JP2651093B2 (ja) | 形状検出方法およびその装置 | |
| FR2685954A1 (fr) | Procede, ensemble et appareil de mesure des angles caracteristiques des roues d'un vehicule. | |
| JP4996043B2 (ja) | 光波距離測定方法及び光波距離測定装置 | |
| JPH0674968B2 (ja) | 光学式測定装置 | |
| JP2839784B2 (ja) | 形状測定用光源装置 | |
| JP3241991B2 (ja) | 距離計 | |
| JPH0479522B2 (ja) | ||
| JP2000258130A (ja) | 光学式厚み計及び光学式距離計 | |
| JP3491464B2 (ja) | レーザビーム拡がり角測定装置 | |
| JP2765291B2 (ja) | レーザレーダ装置 | |
| JP3751610B2 (ja) | 変位測定装置 | |
| JPS6053804A (ja) | 厚み測定装置 | |
| JP3323963B2 (ja) | 計測装置 | |
| JPH06109435A (ja) | 表面変位計 | |
| JP2969466B2 (ja) | スペックル測長計のモニタ装置 | |
| JP2004053525A (ja) | 集光レーザ光束測定方法および装置 | |
| JPH05272969A (ja) | 測距装置 | |
| JPH11304469A (ja) | 距離計 | |
| JP3977511B2 (ja) | 投受光装置 | |
| JPH05312536A (ja) | 三次元形状測定装置 | |
| JPH05240624A (ja) | 光学的測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081019 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081019 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091019 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101019 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |